JP2008167171A - 圧電振動片の製造方法、圧電振動片および圧電デバイス - Google Patents

圧電振動片の製造方法、圧電振動片および圧電デバイス Download PDF

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Abstract

【課題】 圧電振動片(20)の振動腕の断面が正確な矩形形状に形成する圧電振動片の製造方法を提供する。
【解決手段】 圧電振動片を製造する製造方法は、エッチング異方性を有する平板の圧電材料を準備する工程(S112)と、この圧電材料の両面に耐蝕膜を形成する工程(S112)と、この耐蝕膜の両面にフォトレジストを塗布する第一塗布工程(S114)と、圧電材料の片面のみに圧電振動片のパターンを露光する第一露光工程(S116)と、この第一露光工程後にフォトレジストを現像し、片面にのみ現れた耐蝕膜を除去する(S118)工程と、耐蝕膜を除去して現われた圧電材料をエッチングする第一エッチング工程(S126)と、を備える。
【選択図】図4

Description

本発明は、圧電振動片の形状の製造方法に関し、詳細には圧電振動片の外形パターンの側面を正確な形状にする圧電振動片を製造する製造方法、この製造方法によって製造された圧電振動片および圧電デバイスに関する。
従来、時計や家電製品、各種情報・通信機器やOA機器等の民生・産業用電子機器には、その電子回路のクロック源として圧電振動子、圧電振動片とICチップとを同一パッケージ内に封止した発振器やリアルタイムクロックモジュール等の圧電デバイスが広く使用されている。また、船舶・航空機・自動車等の姿勢制御や航行制御、ビデオカメラ等の手振れ防止・検出等における回転角速度センサとして、圧電振動ジャイロが広く利用され、3次元立体マウス等の回転方向センサにも応用されている。
特に最近、これら圧電デバイスは、それを搭載する電子機器の小型化・薄型化に伴い、より一層の小型化・薄型化が要求されている。また、低いCI(クリスタルインピーダンス)値を確保して、高品質で安定性に優れた圧電デバイスが要求されている。CI値を低く保持するために、たとえば振動腕構造を有する音叉型圧電振動片が開発されている。このような音叉型圧電振動片は、たとえば特許文献1に記載されたものが知られている。
この音叉型圧電振動片は、たとえば水晶のような圧電単結晶材料からなるウエハを、フォトリソグラフィ技術によって露光した後、水晶用エッチング液に浸す。このウェットエッチングすることにより、音叉型の圧電振動片の外形を加工している。具体的には、水晶ウエハの両面に耐蝕膜を形成しかつその上にフォトレジストを塗布・乾燥させてレジスト膜を形成する。そして、レジスト膜上に音叉型の圧電振動片の外形に対応する同一の形状パターンを有するフォトマスクを配置し、水晶ウエハの両面を露光・現像する。
図8(a)は、音叉型圧電振動片200の斜視図であり、(b)は矢印方向からみた振動腕210の断面である。水晶ウエハの両面に同一の形状パターンを露光する際には、マイクロスコープなどを用いて、水晶ウエハの両面とも同一の形状パターンが位置ずれしないよう露光しなければならない。同一の形状パターンの位置ずれがなければ、(b)の点線で示すように、振動腕210は、X1軸を対象な断面形状となる。しかし、この音叉型水晶振動片200は非常に小さなものであり、位置合わせが難しい。フォトマスクが距離ΔXだけずれてしまうとX1軸に対象でない実線の断面形状となってしまう。この非対称の断面形状であると、振動腕210が、励振時に全体としてZ方向にねじりモーメントを受け、Z方向に変位を生じながらX方向に屈曲振動することになる。この結果、振動が漏れて歪みエネルギの損失を生じたり、振動特性が不安定になったりする。これを防ぐために、特許文献2のような露光方法も提案されている。特許文献2では、一旦、片面を露光して、その片面の金属層をエッチングした後に、そのエッチングされた金属層をマスクとして使用する発明である。
特開2003−258331号公報 特開2005−012767号公報
特許文献2の発明では、フォトマスクの位置合わせの作業が不要となり、位置ずれも生じない。しかし、露光光が水晶ウエハを通過して裏面のフォトレジスト層にまで十分に届かず、露光を十分に行うことができない。
本発明の目的は、簡易な工程で、圧電振動片の側面部の断面が正確な矩形形状にし、且つ、表面と裏面との外形形状が一致する圧電振動片の製造方法を提供することである。
本発明の第1の観点の圧電振動片を製造する製造方法は、上記目的を達成するために、エッチング異方性を有する平板の圧電材料を準備する工程と、この圧電材料の両面に耐蝕膜を形成する工程と、この耐蝕膜の両面にフォトレジストを塗布する第一塗布工程と、圧電材料の片面のみに圧電振動片のパターンを露光する第一露光工程と、この第一露光工程後にフォトレジストを現像し、片面にのみ現れた耐蝕膜を除去する工程と、耐蝕膜を除去して現われた圧電材料をエッチングする第一エッチング工程と、を備える。
この構成によれば、片側のみに圧電振動片のパターンを露光した状態で、エッチングを行う。このため、両面の圧電振動片のパターンが位置ずれするということがないし、表面から裏面のフォトレジストに露光することがないので、露光光の不足という問題もない。
本発明の第2の観点によれば、圧電振動片のパターンは、少なくも二本の振動腕を有する音叉型の圧電振動片のパターンであり、耐蝕膜を除去した後に、新たにフォトレジストを塗布する第二塗布工程と、振動腕に溝部のパターンを露光する第二露光工程と、この第二露光工程後にフォトレジストを現像する工程と、溝部に対応する耐蝕膜を除去して現われた圧電材料をエッチングする第二エッチング工程と、を備え、第一エッチング工程は、第二露光工程後に行う。
このような構成によると、CI値を下げる溝部を振動腕に形成した音叉型の圧電振動片を形成する際にも、本発明は適用することができる。振動腕は位置ずれなく露光され、エッチングがなされる。このため、振動腕は、励振時にX方向にのみ屈曲振動することになる。
本発明の第3の観点によれば、ウェットエッチング後にドライエッチングを行う。
圧電材料が水晶で圧電振動片が音叉型である場合、振動腕の長手方向、幅方向および厚み方向をそれぞれ水晶のY軸方向、X軸方向およびZ軸方向に対応させて配向する。そして、ウェットエッチングを行う。水晶は+X方向のエッチングレートが高いのでウェットエッチングだと、振動腕の断面形状が非対称になる。このため、ウェットエッチングに続いてドライエッチングで異方性の箇所をエッチングする。このようにして、エッチング形状の精度が上がる。
さらに、エッチング表面の仕上がり粗さもコントロールすることができる。このため、その振動腕におけるバランスを良好に確保することができる。
本発明の第4の観点によれば、第一エッチング工程は、ウェットエッチングであり、このウェットエッチングの後に圧電振動片の側面部に対してレーザー加工を行う。
耐蝕膜およびレジスト膜が圧電材料の少なくとも一面に形成されている。この状態の圧電材料に対してレーザー光が照射されることになる。圧電材料の側面部の一部を除去する際に、誤って圧電材料の一面にレーザー光が照射されても、耐蝕膜およびレジスト膜が存在するために、直ちに圧電材料までレーザー光が到達しない。このため、その圧電振動片が不良品になるおそれが少なくなる。エッチング異方性を有する圧電材料から圧電振動片の外形をウェットエッチングで加工すると、圧電振動片の断面形状は非対称となり側面部の一部が突き出た形状となる。しかし、側面部の一部をレーザー光で除去することによって、かかる断面形状の非対称を解消または改善することができる。したがって、振動の漏れによる歪みエネルギの損失を防止して、安定した屈曲運動を繰り返すことが可能になる。また、ウェットエッチングを行わず直接レーザー光で圧電振動片の外形を加工することも考えられるが、その方法だと、非常に時間がかかることになる。一方、第4の観点の圧電振動片を製造する製造方法は、断面が非対称の側面部のみをレーザー光で加工するため生産性が高い。
本発明の第5の観点の圧電振動片を製造する製造方法は、第5の観点において、レーザー加工の工程は、圧電振動片に保護マスクを配置してからレーザー光を照射する。
耐蝕膜およびレジスト膜が圧電材料の表面から除去された状態で、誤って圧電材料の表面にレーザー光が照射されると、圧電振動片は不良品となってしまう。この構成によれば、圧電振動片に保護マスクを配置することで直ちに不良品となることはない。また、耐蝕膜およびレジスト膜が圧電材料の表面に存在している場合であっても、保護マスクを配置すれば、誤ってレーザー光が照射された場合に確実に圧電振動片を保護できる。
本発明の第6の観点の圧電振動片を製造する製造方法は、レーザー光は、フェムト秒レーザーを含む。
フェムト秒レーザーは、多光子吸収プロセスにより、熱を介在せずに精密な加工を実現することができるため、数ミリメートル以下の大きさである圧電振動片の加工には最適である。
本発明の第7の観点の圧電振動片を製造する製造方法は、第二エッチング工程は、ウェットエッチングまたはドライエッチングである。
CI値を下げるための溝部も、エッチング異方性の影響があるが両面からエッチングされるため、振動に与える影響は少ない。このためウェットエッチングでも、安定した振動特性を発揮する圧電振動片を製造することができる。
本発明のその他の観点によれば、上述した観点の製造方法により製造された圧電振動片またはさらにパッケージングした圧電デバイスは、振動の漏れによる歪みエネルギの損失を防止して安定した屈曲運動を繰り返す圧電振動片または圧電デバイスとして、高品質なものとなる。
本発明の製造方法によれば、圧電振動片の側面部を正確な形状にすることができる。フォトマスクの両面の位置合わせをする必要がなく、また、圧電振動片の外形形状を形成するためのエッチングの際には、エッチングで異方性による断面の非対称性を小さくできる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。
<音叉型水晶振動片20の構成>
図1(a)は、音叉型水晶振動片20の全体構成を示した平面図であり、(b)は、音叉型水晶振動片20の一本の振動腕21のB−B断面図である。音叉型水晶振動片20の母材は、Z板に加工された水晶単結晶ウエハ10で形成されている。小型で必要な性能を得るために、図1(a)に示すように、音叉型水晶振動片20は、基部29と、この基部29の一端部から図1において上方に向けて、二股に別れて平行に延びる一対の振動腕21を備えている。一対の振動腕21の根元26は、テーパー部を設けることによって、周囲温度の変化に起因する共振周波数の変動やバラツキを抑えている。根元26のテーパー部の形状はU字形状でもV字形状などでよい。以下、本実施形態では一対の振動腕21を備えた音叉型水晶振動片20で説明するが、3本または4本の振動腕21を備えた音叉型水晶振動片20であってもよい。
音叉型水晶振動片20は、たとえば32.768kHzで信号を発信する振動片で、極めて小型の振動片となっており、全体の長さが1.7mm程度、幅0.5mm程度である。音叉型水晶振動片20の振動腕21の表裏両面には、溝部27が形成されている。一本の振動腕21の表面に2つの溝部27が形成されており、振動腕21の裏面側にも同様に2つの溝部27が形成されている。つまり、一対の振動腕21には4箇所の溝部27が形成される。溝部27の深さは、水晶単結晶ウエハ10の厚さの約35〜45%であり、表裏両面に溝部27があるため、図1(b)に示すように、溝部27の断面は、略H型に形成されている。溝部27は、CI値の上昇を抑えるために設けられている。
音叉型水晶振動片20の基部29は、その全体が略板状に形成されている。振動腕21に対する基部29の長さは、約36%となっている。音叉型水晶振動片20の基部29の一端で且つ一対の振動腕21の根元には、連結部28が2箇所設けられている。連結部28は、水晶単結晶ウエハ10から、図1に示す音叉形状をフォトリソグラフィおよびウェットエッチングで形成する際に、水晶単結晶ウエハ10と音叉型水晶振動片20とを連結する部分である。
音叉型水晶振動片20の振動腕21および基部29には、第一電極パターン23と第二電極パターン25とが形成されている。第一電極パターン23と第二電極パターン25とはともに、150オングストローム〜5000オングストロームのクロム(Cr)層の上に100オングストローム〜5000オングストロームの金(Au)層が形成された構成になっている。すなわち、第一層と第二層とを合わせると、250オングストローム〜10000オングストロームの電極パターンの厚さになる。また、クロム(Cr)層の代わりに、タングステン(W)層、ニッケル(Ni)層、ニッケルタングステン層またはチタン(Ti)層を使用してもよく、また金(Au)層の代わりに、銀(Ag)層を使用してもよい。また、一層からなる場合もあり、このときは、たとえばアルミ(Al)層、銅(Cu)層またはケイ素(Si)層が用いられる。
音叉型水晶振動片20の基部29には、図1(a)に示すように、第一基部電極23aと第二基部電極25aとが形成され、腕部21の溝部27には、第一溝電極23d,第二溝電極25dがそれぞれ形成される。また、図1(b)に示すように、(a)の左側の腕部21の両側面には、第二側面電極25cが形成されている。図示しない右側の腕部21の両側面には、第一側面電極23cが形成されている。
<水晶振動子50の構成>
本実施形態の水晶振動子50について、図面を参照して説明する。図2は、本発明の実施形態にかかる水晶振動子50の概略図を示している。図2(a)は全体斜視図であり、図2(b)は断面図であり、図2(c)は金属蓋体71を取り外した上面図である。
表面実装型の水晶振動子50は、絶縁性のセラミックパッケージ51と水晶振動子50のパッケージを覆う金属蓋体71とからなる。金属蓋体71は、コバール(鉄(Fe)/ニッケル(Ni)/コバルト(Co)合金)製である。セラミックパッケージ51は、アルミナを主原料とするセラミック粉末およびバインダ等を含むスラリーを用いたグリーンシートからプレス抜きされた底面用セラミック層51a、壁用セラミック層51bおよび台座用底面用セラミック層51cからなる。パッケージを構成するセラミックパッケージ51の材料として、アルミナを主原料とするセラミック粉末の代わりにガラスセラミックを使用したり、無収縮ガラスセラミック基板を用いたりしてもよい。図2(b)から理解されるように、これら複数のセラミック層51a〜51cから構成されたパッケージは、キャビティ58を形成し、このキャビティ58内に、図1で説明した音叉型水晶振動片20を実装する。
基部29の配線パターンは、導電性接着剤31と導通接続する接着領域を有している。音叉型水晶振動片20は、底面用セラミック層51aと水平になるように導電性接着剤31で接着されて、所定の振動を発生する。台座用セラミック層51cの上面の一部には、音叉型水晶振動片20の接着領域と導通を取る配線層81が形成されている。セラミックパッケージ51の下面に形成された少なくとも2つの端子電極82は、不図示のプリント基板に表面実装された際の外部端子である。また、内部配線83は配線層81、端子電極82を接続する電気的導通部である。壁用セラミック層51bの上端にはメタライズ層があり、金属蓋体71の接合のために、メタライズ層上に形成された低温金属ろう材からなる封止材57が形成されている。壁用セラミック層51bと金属蓋体71は、封止材57を介して溶着されている。
<単結晶水晶ウエハの構成>
図3は、音叉型水晶振動片のパターンの露光が終了し、現像が終わった状態の単結晶水晶ウエハを示している。図3(a)は、本実施形態に用いる円形の単結晶水晶ウエハ10の構成を示す一方の面の斜視図であり、(b)は他方の面の斜視図である。
この円形の単結晶水晶ウエハ10は、たとえば厚さ0.1mmの人工水晶からなり、円形の単結晶水晶ウエハ10の直径は3インチまたは4インチである。さらに、円形の単結晶水晶ウエハ10の軸方向が特定できるように、図3(a)に示すように、単結晶水晶ウエハ10の周縁部の一部には、水晶の結晶方向を特定するオリエンテーションフラット10cが形成されている。
図3の円形の単結晶水晶ウエハ10には、露光(フォトリソグラフィ)工程およびウェットエッチング工程を経て、数千個の音叉型水晶振動片20が形成される。工程管理およびウエハ強度との関係で、複数の窓部18が設けられ、その窓部に数十から数百の音叉型水晶振動片20が形成されている。図3のオリエンテーションフラット10cと、各窓部18の位置および各音叉型水晶振動片20との位置が定義付けられている。したがって、露光工程または後述するレーザー加工においても、オリエンテーションフラット10cが位置決めの基準となる。
図3に示すように、音叉型水晶振動片のパターンの露光が終了した状態であっても、単結晶水晶ウエハ10の表面10aのみが露光され、裏面10bは露光されていない。したがって、音叉型水晶振動片の外形形状は、片面からエッチングされることになる。
<音叉型水晶振動デバイスの製造工程>
図4および図5は、音叉型水晶振動片20の外形および溝部を形成するためのフローチャートである。各図の右側に、音叉型水晶振動片20の振動腕21となる付近の単結晶水晶ウエハ10の断面を示す。図6は、電極パターンの形成およびパッケージングのためのフローチャートである。
<<音叉型水晶振動片の外形および溝部の形成の工程>>
図4のステップS112では、まず、単結晶水晶ウエハ10を用意する。そして、単結晶水晶ウエハ10の全面に、耐蝕膜32をスパッタリングもしくは蒸着などの手法により形成する。圧電材料としての単結晶水晶ウエハ10を使用する場合に、金(Au)や銀(Ag)等を直接成膜することは困難なため、下地としてクロム(Cr)やチタン(Ti)等を使用する。つまり、この実施形態では、耐蝕膜32としてクロム層の上に金層を重ねた金属膜を使用する。たとえば、クロム層の厚みは500オングストローム、金層の厚みも1000オングストローム程度とする。この状態の単結晶水晶ウエハ10を、図4(a)に示す。
ステップS114では、クロム層および金層が形成された単結晶水晶ウエハ10に、フォトレジスト層36を全面にスピンコートなどの手法で均一に塗布する。フォトレジスト層36としては、たとえば、ノボラック樹脂によるポジフォトレジストを使用できる。この状態の単結晶水晶ウエハ10を、図4(b)に示す。
次に、ステップS116では、露光装置を用いて、フォトマスクに描かれた音叉型水晶振動片20の外形パターンをフォトレジスト層36が塗布された単結晶水晶ウエハ10に露光する。露光されたフォトレジスト42は、ステップS118で、現像され除去される。ステップS116では、片面にしか露光されない。この状態の単結晶水晶ウエハ10を、図4(c)に示す。
従来は、片面露光装置を使って単結晶水晶ウエハ10の片側ずつ露光して両面露光したり、両面露光装置を使って一度に単結晶水晶ウエハ10の両面を露光したりする。片面露光装置では、単結晶水晶ウエハ10を裏返したりするために、音叉型水晶振動片20の外形パターンが両面で一致しない場合がある。両面露光装置を用いた場合であっても、2枚のフォトマスクを互いに位置合わせする際に位置ずれが生じてしまう。本実施形態では、片面しか露光しないため両面で音叉型水晶振動片20の外形パターンの位置合わせをする必要がない。
ステップS118では、単結晶水晶ウエハ10のフォトレジスト層36を現像して、感光したフォトレジスト層42を除去する。さらに、フォトレジスト層36から露出した金層を、たとえばヨウ素とヨウ化カリウムの水溶液を用いて、金層をエッチングする。次いで、金層が除去されて露出したクロム層を、たとえば硝酸第二セリウムアンモニウムと酢酸との水溶液でエッチングする。水溶液の濃度、温度および水溶液に浸している時間を調整して余分な箇所が侵食されないようにする。これで耐蝕膜32を除去することができる。こうすることで、図4(d)に示すように、単結晶水晶ウエハ10の片面のみに、音叉型水晶振動片20の外形パターンの水晶材料10が現われる。この状態が、図3(a)に示した単結晶水晶ウエハ10の表面であり、図3(b)がその裏面である。
ステップS120では、残ったフォトレジスト36が除去され、その後新たなフォトレジスト36’が、スピンコートまたはスプレーで塗布される。この状態の単結晶水晶ウエハ10を、図4(e)に示す。
次に、図5のステップS122では、音叉型水晶振動片20の振動腕21に溝部27を形成するため、溝部27のパターンを振動腕21のフォトレジスト層36’を露光する。この状態の単結晶水晶ウエハ10を、図5(f)に示す。
ステップS124では、露光されたフォトレジスト42’が現像され除去される。ただし、図5(g)に示すように、この時点では耐蝕膜32まではエッチングで除去しない。この状態では、図4(d)に示したように、ステップS124で単結晶水晶ウエハ10の片面の耐蝕膜32が除去されており、再び、音叉型水晶振動片20の外形パターンの水晶材料10が現われる。また、溝部27に関しては露光されたフォトレジスト42’が除去されるが、耐蝕膜32が残っている。
ステップS126では、フォトレジスト層36’および耐蝕膜32から露出した水晶材料10を、音叉型水晶振動片20の外形になるように最初にウェットエッチングを行う。ウェットエッチングを行うと、単結晶水晶ウエハ10のエッチング異方性のために、+X方向にエッチングされ易いため、図1(b)で示した理想的な矩形ではなく、図8(b)で示すように側面部の一部が+X方向に突き出た六角形状または五角形状になってしまう。また、本発明では片面からのみエッチングをするため、エッチング異方性の影響を大きく受ける。そのため、ウェットエッチング後にドライエッチングを行い、突き出た部分をエッチングする。このようにドライエッチングを行うことで、断面形状の精度を上がる。
さらに、エッチング表面の仕上がり粗さもコントロールすることができる。ドライエッチング後には、単結晶水晶ウエハ10が図5(h)に示した状態にする。
ドライエッチング法には、RIE(リアクティブ・イオン・エッチング)やイオンビームエッチングなどがあり、本発明では両方のドライエッチングを適用することができる。たとえば、RIEであれば、単結晶水晶ウエハ10をRIE装置の真空容器内に入れて真空とする。真空に排気した後、反応性ガス(CF4ガス、SF3ガス、CHF3ガスなど)を導入して、電極間に約15MHzの周波数の高電圧を印加する。そして、反応性ガスプラズマが発生して、単結晶水晶ウエハ10のドライエッチングを行なうことができる。
ステップS128では、溝部27の耐蝕膜32をエッチングで除去する。耐蝕膜32の金層を、たとえばヨウ素とヨウ化カリウムの水溶液を用いてエッチングする。次いで、金層が除去されて露出したクロム層を、たとえば硝酸第二セリウムアンモニウムと酢酸との水溶液でエッチングする。耐蝕膜32をエッチングした後の単結晶水晶ウエハ10は、図5(i)に示した状態である。
次いで、ステップS130では、溝部27のウェットエッチングを行う。すなわち、フッ酸溶液をエッチング液として、フォトレジスト層36’および耐蝕膜32から露出した水晶材料10を、溝部27の外形になるようにウェットエッチングを行う。図5(j)に示すように、溝部27が貫通孔にならないように途中でエッチングを終了するハーフエッチングを行う。なお、上述したドライエッチングを用いて溝部27のエッチングを行っても良い。
続いて、ステップS132で残ったフォトレジスト層36’
および耐蝕膜32を除去する。これらの工程を経て、図5(k)に示すように、音叉型水晶振動片20に溝部27が正確な位置に形成される。
<<電極の形成の工程>>
ステップS134では、音叉型水晶振動片20を純水で洗浄し、音叉型水晶振動片20の全面に駆動電極としての励振電極などを形成するための金属膜を蒸着またはスパッタリング等の手法により形成する。
ステップS136では、スプレーを使って全面にフォトレジストを塗布する。溝部27などが形成されているため、溝部27にも均一にフォトレジストを塗布する。
ステップS138では、電極パターンと対応したフォトマスクを用意して、電極パターンをフォトレジスト層が塗布された水晶単結晶ウエハ10を露光する。電極パターンは音叉型水晶振動片20の両面に形成する必要があるため、音叉型水晶振動片20の両面を露光する。
ステップS140では、フォトレジスト層を現像後、感光したフォトレジスト層を除去する。残るフォトレジストは電極パターンと対応したフォトレジスト層になる。さらに電極となる金属膜のエッチングを行う。すなわち、電極パターンと対応したフォトレジスト層から露出した金層をたとえば、ヨウ素とヨウ化カリウムの水溶液でエッチングし、次にクロム層をたとえば硝酸第2セリウムアンモニウムと酢酸との水溶液でエッチングする。
続いて、ステップS142で、残ったフォトレジストを除去する。これらの工程を経て、音叉型水晶振動片20に励振電極などが正確な位置および電極幅で形成される。
<<周波数調整およびパッケージングの工程>>
これまでの工程により、電極パターン23、電極パターン25および溝部27が形成された音叉型水晶振動片20が得られた。
そこで、ステップS144では、セラミック製のパッケージ51に音叉型水晶振動片20を導電性接着剤31で接着する。具体的には、音叉型水晶振動片20の基部29を、配線層81に塗布した導電性接着剤31の上に載置して、導電性接着剤31を仮硬化させる。次に、硬化炉で導電性接着剤31を本硬化することにより音叉型水晶振動片20を端子電極82に対して接合する。
ステップS146では、さらに、音叉型水晶振動片20の振動腕21の先端にレーザー光を照射して、振動腕21の錘金属層の一部を蒸散・昇華させ、質量削減方式による周波数調整を行う。
次に、ステップS148で、真空チャンバ内などに音叉型水晶振動片20を収容したパッケージ51を移し、蓋体71を封止材57により接合する。
続いてステップS150で、最後に圧電振動デバイス50の駆動特性などの検査を行い、圧電振動デバイス50を完成させる。
<<音叉型水晶振動片の外形の形成の別の工程>>
図5のステップS126では、ドライエッチングを行ったが、ドライエッチングは一般にエッチング速度がウェットエッチングに比べて十分の一以下の速度である。そのため、ウェットエッチングを利用しつつ、振動腕21の側面部が表面または裏面に対して垂直になるようにレーザー加工を行う工程を使用しても良い。
図7(a)は、図5のステップS126に代えて、レーザー加工するフローチャートである。(b)は、本発明の音叉型水晶振動片20の振動腕21の側面部を、レーザー光LLを用いて除去(蒸散・昇華)する装置構成を示す概略図である。
ステップS126’では、フッ酸溶液をエッチング液として、フォトレジスト層36’および耐蝕膜32から露出した水晶材料10を、溝部27の外形になるようにウェットエッチングを行う。ウェットエッチングではエッチング異方性により、振動腕21の側面において、表面または裏面に対して垂直に形成されていない。
ステップS127では、フェムト秒レーザー光LLで、振動腕21の側面の水晶材料が表面または裏面に対して垂直になるようにレーザー加工を行う。なお、振動に寄与するのは振動腕21だけであるので、基部29に対してはレーザー加工を行う必要は無い。これらの工程は、ウェットエッチングを行わないでレーザー加工するよりも、生産性が高く、歩留まり良く、低コストで製造することができる。
<<レーザー加工装置の構成>>
次に、レ−ザー加工について説明する。
図7(b)は、本発明の音叉型水晶振動片20の振動腕21の側面部を、レーザー光LLを用いて除去(蒸散・昇華)する装置構成を示す概略図である。
ウェットエッチングを行った後も、図3に示すように、ウエット何千もの音叉型水晶振動片20が連結部28で単結晶水晶ウエハ10に接続されている。そのような単結晶水晶ウエハ10は、ステージ124に真空吸着またはメカニカルクランプでしっかりと載置される。ステージ124は、ステージ124をXY方向に移動させるモータ125などを制御する制御回路111に接続されている。制御回路111から信号を受け取るレーザー駆動回路120は、チタンサファイアレーザーを使ったフェムト秒レーザー照射部122に接続されている。レーザー照射部122は、760nm波長のレーザー光LLを10KHzから40KHzのパルスで照射する。制御回路111から信号を受け取るXY駆動回路130は、レーザー光LLの光路に配置されるX光学ミラー131とY光学ミラー133とを駆動する。X光学ミラー131をX軸方向に移動させることにより、レーザー光LLが音叉型水晶振動片20を照射するX軸方向の位置を変化する。Y光学ミラー133をY軸方向に移動させることにより、レーザー光LLが音叉型水晶振動片20を照射するY軸方向の位置が変化する。
X光学ミラー131およびY光学ミラー133でレーザー光LLの光路をしきい値、たとえば10mm、以上の距離させることはできない。この場合に、制御回路111でモータ125を制御してステージ124を移動させる。しきい値より短い距離の場合にはX光学ミラー131とY光学ミラー133でレーザー光LLの光路を変化させて対応する。レーザー光LLを走査するように音叉型水晶振動片20の除去する側面部をレーザートリミングすることができる。一つ一つの音叉型水晶振動片20に対しては、ステージ124を移動させることなくレーザー光LLを高速に走査することができるので、生産性を高めることができる。
フェムト秒レーザー照射部122を使用するため、音叉型水晶振動片20の除去される微小な部分に熱を溜めることなく加工できるので、レーザー光LLにより音叉型水晶振動片20に損傷を与えてその特性を変えてしまうことがない。振動腕21が励振時にねじりモーメントを受けないように、X方向のみに屈曲振動すれば歪みエネルギの損失を生じたりすることがない。
なお、フェムト秒レーザー照射部122からのレーザー光LLが、振動腕21の側面部ではなく、誤って上面に照射されて音叉型水晶振動片20が不良品となってしまうことがないように、保護マスク135を必要に応じて配置してもよい。
また、フェムト秒レーザー以外に、炭酸ガスレーザーまたはグリーンレ−ザーなどを使用することも可能である。
以上、本発明の好適実施例について詳細に説明したが、当業者に明らかなように、本発明はその技術的範囲内において上記各実施例に様々な変更・変形を加えて実施することができる。たとえば、本発明の音叉型圧電振動片は、水晶以外にニオブ酸リチウム等の様々な圧電単結晶材料を用いることができる。
本実施形態では、図3で示した単結晶水晶ウエハ10で説明してきたが、2枚の単結晶ウエハを接合した接合ウエハであってもよい。ジャイロなどに使用される接合水晶ウエハは、Z軸方向に切断された、第一水晶ウエハと第二水晶ウエハとからなる。第一水晶ウエハと第二水晶ウエハとは直接接合、具体的には耐熱性が優れたシロキサン接合(Si−O−Si)によって接合している。このシロキサン接合は、第一水晶ウエハと第二水晶ウエハとの両方の単結晶面を清浄な状態にしてその面同士を貼り合わせ、その後約500°Cのアニールを行うことによって単結晶が行われる。このような接合水晶ウエハに対しても本発明は適用できる。
また、水晶振動子50ではなく、振動発振器に使用する音叉型水晶振動片にも適用できる。つまり、図2と同様のパッケージ内に、音叉型水晶振動片20とともに、その駆動回路等を構成するICを搭載することにより、圧電発振器やリアルタイムクロックのような圧電デバイスを構成することができる。
(a)は、音叉型水晶振動片20の拡大斜視図である。(b)は、(a)のB−B断面図である。 (a)は実施形態にかかる水晶振動子50の全体斜視図であり、(b)は断面図であり、(c)は金属蓋体71を取り外した上面図である。 現像が終わった状態の結像水晶ウエハを示した図である。(a)は円形の単結晶水晶ウエハ10の表面斜視図であり、(b)は裏面斜視図である。 音叉型水晶振動片20の外形および溝部を形成するためのフローチャートである。 音叉型水晶振動片20の外形および溝部を形成するためのフローチャートである。 電極パターンの形成およびパッケージングのためのフローチャートである。 (a)は、図5のステップS126に代えて、レーザー加工するフローチャートである。(b)は、本発明の音叉型水晶振動片20の振動腕21の側面部を、レーザー光LLを用いて除去(蒸散・昇華)する装置構成を示す概略図である。 (a)は、水晶単結晶ウエハをウェットエッチングした後の圧電振動片200の斜視図である。(b)は(a)に示した矢印方向からみた振動腕210の断面である。
符号の説明
10 …… 単結晶水晶ウエハ
20,200 …… 音叉型の圧電振動片、
21,210 …… 振動腕
29 …… 基部
32 …… 耐蝕膜
36,36’ …… フォトレジスト層
42,42’ …… 露光されたフォトレジスト層
50 …… 圧電デバイス
71 …… 蓋体
111 …… 制御回路
120 …… レーザー駆動回路
122 …… フェムト秒レーザー照射部
130 …… XY駆動回路
131 …… X光学ミラー
133 …… Y光学ミラー
135 …… 保護マスク
LL …… レーザー光

Claims (9)

  1. 所定形状の圧電振動片を製造する製造方法において、
    エッチング異方性を有する平板の圧電材料を準備する工程と、
    この圧電材料の両面に耐蝕膜を形成する工程と、
    この耐蝕膜の両面にフォトレジストを塗布する第一塗布工程と、
    前記圧電材料の片面のみに前記圧電振動片のパターンを露光する第一露光工程と、
    この第一露光工程後に前記フォトレジストを現像し、前記片面にのみ現れた前記耐蝕膜を除去する工程と、
    前記耐蝕膜を除去して現われた圧電材料をエッチングする第一エッチング工程と
    を備えることを特徴とする圧電振動片の製造方法。
  2. 前記圧電振動片のパターンは、少なくも二本の振動腕を有する音叉型の圧電振動片のパターンであり、
    前記耐蝕膜を除去した後に、新たにフォトレジストを塗布する第二塗布工程と、
    前記振動腕に溝部のパターンを露光する第二露光工程と、
    この第二露光工程後に前記フォトレジストを現像する工程と、
    前記溝部に対応する耐蝕膜を除去して現われた圧電材料をエッチングする第二エッチング工程と、を備え、
    前記第一エッチング工程は、第二露光工程後に行うことを特徴とする請求項1に記載の圧電振動片の製造方法。
  3. 前記第一エッチング工程は、ウェットエッチング後にドライエッチングを行うことを特徴とする請求項1ないし請求項2のいずれか一項に記載の圧電振動片の製造方法。
  4. 前記第一エッチング工程は、ウェットエッチングであり、このウェットエッチングの後に前記圧電振動片の側面部に対してレーザー加工を行うことを特徴とする請求項1ないし請求項2のいずれか一項に記載の圧電振動片の製造方法。
  5. 前記レーザー加工の工程は、前記圧電振動片に保護マスクを配置してから前記レーザー光を照射することを特徴とする請求項4に記載の圧電振動片の製造方法。
  6. 前記レーザー光は、フェムト秒レーザーを含むことを特徴とする請求項5または請求項5に記載の圧電振動片の製造方法。
  7. 前記第二エッチング工程は、ウェットエッチングまたはドライエッチングであることを特徴とする請求項2に記載の圧電振動片の製造方法。
  8. 請求項1ないし請求項7のいずれか一項に記載の圧電振動片の製造方法により製造された圧電振動片。
  9. 請求項8に記載の圧電振動片と、
    この圧電振動片を内部に固定支持して封止するパッケージと
    を備えることを特徴とする圧電デバイス。
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