JP2005203635A - 基板処理装置及び基板処理方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 第1の受け渡しステージの基板を、最も早く処理を行なうことができる処理ブロックに搬送することにより、トータルの処理時間を短縮すること。
【解決手段】 基板処理装置は、基板キャリアCに対してウエハWの受け渡しを行う第1の搬送手段22と、複数の処理ブロックB3〜B5と、第1の搬送手段22との間で第1の受け渡しステージ24を介してウエハWの受け渡しを行い、処理ブロックB3〜B5に対してウエハWの搬送を行う第2の搬送手段23と、を備えている。この装置では、処理ブロックB3〜B5からのウエハWの処理情報に基づいて、ウエハWが存在しないか又は当該処理ブロック内の最終のウエハWが最終工程を最も早く終了する処理ブロックが決定され、この処理ブロックに前記第2の搬送手段23より第1の受け渡しステージ24のウエハWが搬送されるので、処理ブロックへのウエハWの搬送をスムーズに行うことができる。
【選択図】 図1
Description
このキャリアブロックに隣接して設けられ、横方向に伸びる直線状の搬送路に沿って基板を搬送する第2の搬送手段と、
前記第1の搬送手段と第2の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第1の受け渡しステージと、
基板に対して所定の処理を行なうための複数の処理ユニットと、これら処理ユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージとを備えると共に、各々前記搬送路に沿って配列されるように装置本体に対して設けられ、
処理ブロック単位で基板に対して一連の基板処理を行なう複数の処理ブロックと、
これら処理ブロックの各々において基板に対して所定のレシピに基づいて所定の処理が行なわれるように、前記第3の搬送手段及び各処理ユニットの動作を制御すると共に、当該処理ブロック内の基板の処理情報を出力する処理ブロック制御部と、
基板が第1の受け渡しステージから第2の搬送手段に受け渡されるまでに、処理ブロック制御部からの基板の処理情報に基づいて、基板が存在しないか又は当該処理ブロック内の最終の基板が最終工程を最も早く終了する処理ブロックを決定し、この処理ブロックに前記第1の受け渡しステージの基板を搬送するように第2の搬送手段を制御する手段と、を備えたことを特徴とする。
第1の搬送手段が基板キャリア内の基板を第1の受け渡しステージに搬送する工程と、第2の搬送手段が第1の受け渡しステージの基板を受け取るまでに、各処理ブロックの基板の処理情報に基づいて、基板が存在しないか又は当該処理ブロック内の最終の基板が最終工程を最も早く終了する処理ブロックを決定する工程と、次いで第2の搬送手段が前記第1の受け渡しステージに載置された基板を受け取り、当該基板を前記決定された処理ブロックに搬送する工程と、を含むことを特徴とする基板処理方法が実施される。
さらにこの例では、ウエハの処理レシピや搬送レシピの作成の簡易化を図ることができる。つまり従来の装置は、既述のようにウエハの処理レシピには、処理フローと共に、その際に使用される処理ユニット自体も指定される。これに対し、本発明の手法では、システム制御部81で管理するウエハWの処理レシピには処理フローだけが指定されており、使用される処理ユニットについては第2の搬送手段23が第1の受け渡しステージ24上のウエハWを受け取るまでに決定すればよいので、処理レシピに使用する処理ユニットを指定する必要がなく、その分処理レシピや搬送レシピの作成が容易になる。
B2 搬送ブロック
B3 第1の処理ブロック
B4 第2の処理ブロック
B5 第3の処理ブロック
B6 インターフェイス部
B7 露光装置
C 基板キャリア
22 第1の搬送手段
23 第2の搬送手段
24 第1の受け渡しステージ
31 第3の搬送手段
32 塗布ユニット
33 現像ユニット
81 システム制御部
82A〜82C 処理ブロック制御部
83 搬送ブロック制御部
Claims (17)
- 複数枚の基板が収納された基板キャリアが搬入出されるキャリア載置部と、このキャリア載置部に載置された基板キャリアに対して基板の受け渡しを行う第1の搬送手段と、を含むキャリアブロックと、
このキャリアブロックに隣接して設けられ、横方向に伸びる直線状の搬送路に沿って基板を搬送する第2の搬送手段と、
前記第1の搬送手段と第2の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第1の受け渡しステージと、
基板に対して所定の処理を行なうための複数の処理ユニットと、これら処理ユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージとを備えると共に、各々前記搬送路に沿って配列されるように装置本体に対して設けられ、
処理ブロック単位で基板に対して一連の基板処理を行なう複数の処理ブロックと、
これら処理ブロックの各々において基板に対して所定のレシピに基づいて所定の処理が行なわれるように、前記第3の搬送手段及び各処理ユニットの動作を制御すると共に、当該処理ブロック内の基板の処理情報を出力する処理ブロック制御部と、
基板が第1の受け渡しステージから第2の搬送手段に受け渡されるまでに、処理ブロック制御部からの基板の処理情報に基づいて、基板が存在しないか又は当該処理ブロック内の最終の基板が最終工程を最も早く終了する処理ブロックを決定し、この処理ブロックに前記第1の受け渡しステージの基板を搬送するように第2の搬送手段を制御する手段と、を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 前記第2の搬送手段を制御する手段は、基板の種別に応じて割り当てられた基板のロットについて、そのロットの先頭の基板が第1の受け渡しステージから第2の搬送手段に受け渡されるまでに、処理ブロック制御部からの基板の処理情報に基づいて、基板が存在しないか又は当該処理ブロック内で行われている先の基板のロットの最終の基板が最終工程を最も早く終了する処理ブロックを決定し、この処理ブロックに前記第1の受け渡しステージの後続のロットの先頭の基板を搬送するように第2の搬送手段を制御することを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
- 前記搬送路におけるキャリアブロックが接続された側の反対側には、露光装置が接続されるインターフェイス部が接続されることを特徴とする請求項1又は2記載の基板処理装置。
- 前記搬送路における処理ブロックが接続された側の反対側には、露光装置が接続されるインターフェイス部が接続されることを特徴とする請求項1又は2記載の基板処理装置。
- 前記処理ブロックは、レジスト液を基板に塗布するための塗布ユニットと、露光後の基板に対して現像処理を行うための現像ユニットと、基板を加熱するための加熱ユニットと、これらユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージと、を含み、各処理ブロック単位で基板に対してレジスト液の塗布及び/又は露光後の現像処理を行うことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理ブロックは、複数個の塗布ユニットと、複数個の現像ユニットと、複数個の加熱ユニットと、を含み、前記処理ブロック制御部は、基板の処理レシピに基づいて、処理を行う塗布ユニットと現像ユニットと加熱ユニットとを選択する機能をさらに備えることを特徴とする請求項5記載の基板処理装置。
- 各処理ブロックは、基板に対して薬液により処理を行う液処理ユニットと、基板を加熱するための加熱ユニットと、これらユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージと、を含み、各処理ブロック単位で基板に対して一連の処理を行うことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理ブロックは、複数個の液処理ユニットと、複数個の加熱ユニットと、を含み、前記処理ブロック制御部は、基板の処理レシピに基づいて、処理を行う液処理ユニットと加熱ユニットとを選択する機能をさらに備えることを特徴とする請求項7記載の基板処理装置。
- 前記液処理ユニットは、塗布膜を形成する処理であることを特徴とする請求項7又は8記載の基板処理装置。
- 前記液処理ユニットは、絶縁膜の前駆物質を含む薬液を基板に塗布するものである請求項7又は8記載の基板処理装置。
- 前記複数の処理ブロックは、平面的な大きさが同じに形成されていることを特徴とする請求項1ないし10のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記第2の搬送手段は、複数の処理ブロックの並びに沿って伸びる搬送ブロックに設けられ、各処理ブロックは搬送ブロックに対して着脱できるように構成されていることを特徴とする請求項1ないし11のいずれかに記載の基板処理装置。
- 複数枚の基板が収納された基板キャリアに対して基板の受け渡しを行う第1の搬送手段と、この第1の搬送手段に対して第1の受け渡しステージを介して基板の受け渡しを行う第2の搬送手段と、基板に対して所定の処理を行なうための複数の処理ユニットと、これら処理ユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージとを含む複数の処理ブロックと、を備え、前記基板キャリア内の基板に対して前記処理ブロックにおいて処理ブロック単位で一連の基板処理を行なう基板処理方法において、
第1の搬送手段が基板キャリア内の基板を第1の受け渡しステージに搬送する工程と、
第2の搬送手段が第1の受け渡しステージの基板を受け取るまでに、各処理ブロックの基板の処理情報に基づいて、基板が存在しないか又は当該処理ブロック内の最終の基板が最終工程を最も早く終了する処理ブロックを決定する工程と、
次いで第2の搬送手段が前記第1の受け渡しステージに載置された基板を受け取り、当該基板を前記決定された処理ブロックに搬送する工程と、を含むことを特徴とする基板処理方法。 - 前記処理ブロックは、レジスト液を基板に塗布するための塗布ユニットと、露光後の基板に対して現像処理を行うための現像ユニットと、基板を加熱するための加熱ユニットと、これらユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージと、を含み、各処理ブロック単位で基板に対してレジスト液の塗布及び/又は露光後の現像処理を行うことを特徴とする請求項13記載の基板処理方法。
- 前記処理ブロックは、複数個の塗布ユニットと、複数個の現像ユニットと、複数個の加熱ユニットと、を含み、前記第1の受け渡しステージに載置された基板が搬送される処理ブロックが決定されると、この処理ブロックでは、前記基板の処理を行う塗布ユニットと現像ユニットと加熱ユニットとが選択され、各処理ブロック単位で基板に対してレジスト液の塗布及び/又は露光後の現像処理を行うことを特徴とする請求項14記載の基板処理方法。
- 各処理ブロックは、基板に対して薬液により処理を行う液処理ユニットと、基板を加熱するための加熱ユニットと、これらユニットの間で基板を搬送する第3の搬送手段と、前記第2の搬送手段と第3の搬送手段との間で基板の受け渡しを行うための第2の受け渡しステージと、を含み、各処理ブロック単位で基板に対して一連の処理を行うことを特徴とする請求項13記載の基板処理方法。
- 前記処理ブロックは、複数個の液処理ユニットと、複数個の加熱ユニットと、を含み、前記第1の受け渡しステージに載置された基板が搬送される処理ブロックが決定されると、この処理ブロックでは、前記基板の処理を行う液処理ユニットと加熱ユニットとが選択され、各処理ブロック単位で基板に対して所定の基板処理を行うことを特徴とする請求項16記載の基板処理方法。
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