JP2002043525A - 半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の回路ブロック搭載方法 - Google Patents
半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の回路ブロック搭載方法Info
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Abstract
分を全域に亘って低減する。 【解決手段】 マイクロコンピュータ1を構成する複数
の回路ブロック4乃至6の電源入力端子4V乃至6Vと
グランド配線3との間に、夫々バイパスコンデンサ7乃
至9を配置する。そして、回路ブロック4乃至6を、半
導体基板上で、夫々の電源入力端子4V乃至6Vにおい
て観測されるノイズレベルが小さいものから順に、共通
の電源供給端子Vddの近傍側より配置する。
Description
々独立の電源入力端子を有する複数の回路ブロックが搭
載され、これら複数の回路ブロックに対して共通の電源
供給端子より電源供給される半導体集積回路装置及びそ
の半導体集積回路装置の回路ブロック搭載方法に関す
る。
クロコンピュータ(マイコン)においては、半導体基板
上にCPU,ROM,RAM,A/Dコンバータ等の複
数の回路ブロックが配置されて構成されている。例え
ば、CPUは、極めて多くのトランジスタによって構成
されており、これらのトランジスタがクロック信号に同
期してスイッチングを繰り返すことで発生する貫通電流
量も多くなる。また、ROM,RAMなどでは内部にデ
コーダバッファとして形成される大型のトランジスタを
備えており、そのトランジスタがスイッチングを繰り返
すとやはり貫通電流量が増加する。
する貫通電流によって電源やグランドのバウンス(電位
の変動)が生じ、これが電源ノイズとなってマイコンの
電源供給端子などから外部に伝搬する。その結果、プリ
ント基板上の電源配線パターン等から不要輻射ノイズが
発生するようになる。そこで、以上のようなマイコンが
搭載されるプリント基板上においては、不要輻射ノイズ
の発生レベルを低減するための対策が必要となる。
流れるため、発生する不要輻射ノイズの周波数成分は広
範囲に渡り、例えばプリント基板(PCB)の場合は数
10MHz〜数100MHz程度である。一般に、プリ
ント基板上でのノイズ対策として、マイコンの電源端子
にバイパスコンデンサを配置することがよく行われる
が、コンデンサは寄生インダクタンスを有しており、ノ
イズの高周波数成分に対するインピーダンスが上昇する
ためコンデンサによる対策が困難となる。従って、ノイ
ズの高周波数成分を抑えるためにより有効な対策を行う
には、異なるアプローチが必要である。
あり、その目的は、電源ノイズの周波数成分を全域に亘
って低減することができる半導体集積回路装置、及びそ
の半導体集積回路装置の回路ブロック搭載方法を提供す
ることにある。
積回路装置によれば、複数の回路ブロックの各電源入力
端子とグランドとの間に夫々バイパスコンデンサを配置
する。即ち、半導体集積回路装置として例えばマイクロ
コンピュータをプリント基板上に搭載する場合には、そ
の電源供給端子(Vddなど)にバイパスコンデンサを外
付けすることで、マイコン内部の動作によってプリント
基板上の電源配線パターン上に伝搬しようとする電源ノ
イズを低減することが一般に行われる。
スコンデンサの実際の等価回路は、キャパシタンス成分
のみならず、前述のようにインダクタンス成分や抵抗成
分をも含んでおり、高周波領域においてはインダクタン
ス成分が支配的となるためインピーダンスが上昇する。
その結果、外付けのバイパスコンデンサでは、電源ノイ
ズを十分に吸収することができなくなってしまう。
ロックの電源入力端子とグランドとの間に夫々バイパス
コンデンサを配置することで、インダクタンス成分が小
さくなり、高周波領域におけるインピーダンスの上昇を
防止して電源ノイズの吸収を十分に行うことができるよ
うになる。また、各回路ブロックの動作状態に応じて夫
々適切となる容量のコンデンサを配置することができる
ので、電源ノイズの吸収をより効率的に行うことができ
る。
導体基板上で、夫々の電源入力端子において発生するノ
イズレベルが小さいものから順に、共通の電源供給端子
の近傍側より配置する。即ち、電源入力端子において発
生するノイズレベルが大きい回路ブロックほど電源供給
端子からの距離が長くなり、その間の配線インピーダン
スはより大きくなる。
パスコンデンサが有しているインダクタンス成分をLC
とし、2つの回路ブロックの電源入力端子間に存在する
配線インピーダンスのインダクタンスをLP とすると、
LP >>LC となることにより、電源入力端子において
発生したノイズはバイパスコンデンサを介した経路によ
って回路ブロック側に帰還されるので、電源供給端子側
に伝搬することが阻止される。
あるが、電源供給端子からより遠くに配置されている回
路ブロックについては、電源ノイズが配線インピーダン
スによって抑圧しきれずその一部が次段の回路ブロック
側(電源供給端子の近傍側)に伝搬したとしても、次段
の回路ブロックにおいても配線インピーダンスが同様に
作用し、バイパスコンデンサにより同様に形成されてい
る帰還経路によりノイズを回収して電源供給端子側への
伝搬を阻止することができる。
ことによって、バイパスコンデンサによる電源ノイズの
帰還作用が高められることになり、電源供給端子から半
導体集積回路装置の外部に伝搬しようとする電源ノイズ
の高周波成分を効果的に抑圧して不要輻射ノイズを低減
することができる。そして、当該半導体集積回路装置が
搭載されるプリント基板上における不要輻射対策をより
容易に行うことができるようになる。
図面を参照して説明する。図1は、マイクロコンピュー
タ(半導体集積回路装置)1内部における各回路ブロッ
クの配置(レイアウト)の一例を示すものである。マイ
コン1は、外部端子として共通の電源供給端子Vddと共
通のグランド端子Gndとを備えている。これらの電源供
給端子Vdd,グランド端子Gndには、夫々電源配線2,
グランド配線3が接続されている。
間には、3つの回路ブロック4,5,6が接続されてお
り、回路ブロック4は電源供給端子Vdd及びグランド端
子Gndの近傍に配置され、回路ブロック6は電源供給端
子Vdd及びグランド端子Gndから最も遠くなるように配
置されている。
機能毎に半導体回路によって形成された機能ブロックで
ある。回路ブロック4は、例えば、アナログ制御ロジッ
クの機能を有するブロックであり、回路ブロック5は、
例えば、シリアル通信,またはタイマ,またはI/O制
御ロジックなどの機能を含んで構成されている。そし
て、回路ブロック6は、例えば、CPU,またはRO
M,またはRAMなどの機能を含んで構成されている。
おける、電源配線2とグランド配線3との間には、バイ
パスコンデンサ7,8,9が接続されている。また、電
源供給端子Vddと回路ブロック4の電源入力端子4Vと
の間、及びグランド端子Gndと回路ブロック4のグラン
ド端子4Gとの間には、配線2,3のインピーダンスZ
1,Z1Gが存在している。同様に、回路ブロック4,
5の電源入力端子4V,5Vの間、同グランド端子4
G,5Gの間には、インピーダンスZ2,Z2Gが存在
し、回路ブロック5,6の電源入力端子5V,6Vの
間、同グランド端子5G,6Gの間には、インピーダン
スZ3,Z3Gが存在している。
は図示しないが、電源配線2,グランド配線3がアルミ
ニュウムなどで形成されている場合に、ポリシリコンを
コンデンサ電極として、それらのコンデンサ電極間に酸
化膜を介することで構成されている。
照して説明する。図1に示した回路ブロック4乃至6の
レイアウトは、各回路ブロック4乃至6の電源入力端子
4V乃至6Vについてシミュレーションにより発生する
ことが予測される(或いは、実際に観測される)電源ノ
イズのレベルに基づいている。
ロック4はアナログ制御ロジックでなど構成されている
ため、動作速度や動作頻度が比較的低く電源ノイズレベ
ルが最も低いと考えられるので、電源供給端子Vddの最
も近傍に配置している。一方、回路ブロック6は、CP
UやROM,RAMなどのように動作速度が高速で動作
頻度も最も高いことから電源ノイズレベルが最も高いと
考えられる。従って、回路ブロック6は電源供給端子V
ddから最も遠い位置に配置している。また、回路ブロッ
ク5は、シリアルやI/Oなどで構成されており、電源
ノイズレベルは両者の中間程度であると考えられるた
め、回路ブロック4,6の間に配置している。
の等価回路を示すものである。電源(1)〜(3)は、
回路ブロック4乃至6の電源入力端子4V乃至6Vにお
いて観測される電源ノイズを表すものであり、インダク
タンスL1〜L3及びL1G〜L3Gは、インピーダン
スZ1〜Z3及びZ1G〜Z3Gに含まれているインダ
クタンス成分を表している。また、LC1〜LC3は、バイ
パスコンデンサ7〜9に含まれているインダクタンス成
分である。
ロック6は、電源供給端子Vddから最も遠い位置に配置
されているため、電源供給端子Vddと電源入力端子6V
との間には、インダクタンスL1〜L3が直列に介在す
ることになり、電源入力端子6V側からみた高周波イン
ピーダンスは高くなっている。
ノイズ(電源(3))は、L3>>LC3となることで、
バイパスコンデンサ9(C3)を介した経路R3によっ
て回路ブロック6側に帰還される。また、電源ノイズ
が、インダクタンスL3によって抑圧しきれずその一部
が次段の回路ブロック5側に伝搬したとしても、インダ
クタンスL2が同様に作用し、回路ブロック5において
もバイパスコンデンサ8(C2)による帰還経路R2が
形成されているので、その帰還経路R2によって電源供
給端子Vdd側への伝搬は阻止される。
の最も近傍に配置されているが、電源ノイズ(電源
(1))のレベルが最も低いため、発生した電源ノイズ
は、インダクタンスL1のみでも十分に帰還経路R1に
よって帰還させることができる。尚、各回路ブロック4
乃至6のグランド端子4G乃至6Gには、グランド側の
ノイズが電源ノイズと同様に発生するが、それらのグラ
ンドノイズに対してはインダクタンスL1G〜L3Gが
同様に作用することによって、マイコン1のグランド端
子Gndより外部に伝搬しようとするノイズも抑圧され
る。
1を構成する複数の回路ブロック4乃至6の電源入力端
子4V乃至6Vとグランド配線3との間に夫々バイパス
コンデンサ7乃至9を配置した。従って、コンデンサ7
乃至9に等価回路的に含まれるインダクタンス成分が小
さくなり、高周波領域におけるインピーダンスの上昇を
防止して電源ノイズの吸収を十分に行うことができるよ
うになる。また、各回路ブロック4乃至6の動作状態に
応じて夫々適切となる容量のコンデンサ7乃至9を配置
することができるので、電源ノイズの吸収をより効率的
に行うことが可能となる。
基板上で、夫々の電源入力端子4V乃至6Vにおいて観
測されるノイズレベルが小さいものから順に、共通の電
源供給端子Vddの近傍側より配置したので、回路ブロッ
ク6より発生した比較的大きなレベルの電源ノイズが帰
還経路R3によっては回収し切れず、その一部が回路ブ
ロック5側に伝搬しても、インダクタンスL2によって
ノイズの伝搬を阻止し、帰還経路R2によって回収する
ことができる。
る電源ノイズの帰還作用が高められ、マイコン1の内部
で発生した電源ノイズが電源供給端子Vdd側から外部に
伝搬するのを阻止することができる。そして、高周波ノ
イズを効果的に抑圧して不要輻射ノイズを低減すること
が可能となり、マイコン1が搭載されるプリント基板上
における不要輻射対策をより容易に行うことができるよ
うになる。
源配線2,3をなすアルミニュウム電極とは異なるポリ
シリコン電極で構成したので、コンデンサ7乃至9のキ
ャパシタンスが分布定数的に分散されてしまうことを防
止し、キャパシタンスを集中定数的に配置することがで
きるので、バイパスコンデンサ7乃至9の電源ノイズ低
減作用をより有効に発揮させることができる。
にのみ限定されるものではなく、次のような変形または
拡張が可能である。回路ブロックは、2つまたは4つ以
上でも良い。電源供給端子が1つのものに限らず、電源
供給端子が複数存在し、内部に多数存在する回路ブロッ
クを適当にグルーピングして夫々のグループに電源を供
給する構成についても、同様に適用すれば良い。マイコ
ン1に限ることなく、半導体基板上に複数の回路ブロッ
クが存在する集積回路装置であれば適用が可能である。
の一実施例であり、マイクロコンピュータ内部における
各回路ブロックの配置例を示す図
価回路を示す図
4,5,6は回路ブロック、4V,5V,6Vは電源入
力端子、7,8,9はバイパスコンデンサ、Vddは電源
供給端子を示す。
Claims (2)
- 【請求項1】 半導体基板に、夫々独立の電源入力端子
を有する複数の回路ブロックが搭載され、これら複数の
回路ブロックに対して共通の電源供給端子より電源が供
給される半導体集積回路装置において、 前記複数の回路ブロックは、各電源入力端子とグランド
との間に夫々バイパスコンデンサが配置されていると共
に、前記半導体基板上で、夫々の電源入力端子において
発生するノイズレベルが小さいものから順に、前記電源
供給端子の近傍側より配置されていることを特徴とする
半導体集積回路装置。 - 【請求項2】 半導体基板に、夫々独立の電源入力端子
を有する複数の回路ブロックが搭載され、これら複数の
回路ブロックに対して共通の電源供給端子より電源が供
給されると共に、各電源入力端子とグランドとの間に夫
々バイパスコンデンサが配置される半導体集積回路装置
の回路ブロック搭載方法において、 前記複数の回路ブロックを、前記半導体基板上で、夫々
の電源入力端子において発生するノイズレベルが小さい
ものから順に、前記電源供給端子の近傍側より配置する
ことを特徴とする半導体集積回路装置の回路ブロック搭
載方法。
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