DE4118804C2 - Serienzugriff-Speicheranordnung - Google Patents
Serienzugriff-SpeicheranordnungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Serienzugriff-Speicheranordnung nach dem
Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Mit zunehmender Arbeitsgeschwindigkeit und verringerten Kosten für MOS-Randomspeicher-
oder RAM-Anordnung werden diese in zunehmendem Maße
bei der Herstellung von digitalen Geräten verwendet. Die Kosten für die
Speicherung pro Bit unter Verwendung von MOS-RAMs haben sich mit der
Erhöhung der Bitzahl pro Zahl von Speicherzellen verringert. Mit der in neuerer
Zeit erreichten Verbesserung der Leistungsfähigkeit von digitalen Geräten hat
sich ein dringender Bedarf nach einer Erhöhung der Datenzugriffsgeschwindigkeit
für solche MOS-RAMs ergeben.
Um diesem Bedarf zu genügen, sind derzeit erhältliche dynamische RAMs
(DRAMs) zusätzlich zum normalen Zugriffsmodus mit einem Hochgeschwindigkeits-Zugriffsmodus,
wie Seitenmodus, Nibblemodus oder Statikspaltenmodus
ausgestattet. Auf dem Gebiet der digitalen Bildverarbeitungs- oder
Rechnersysteme, die ausgelegt sind zur Verbesserung des Datenaustausches mit
externen Speichereinheiten unter Verwendung eines Cachespeichers, besteht
auch ein großer Bedarf nach der Realisierung eines sog. "Serienzugriff"-Modus.
In diesem wird zu einer angewählten Zeile von Speicherzellen reihenweise
ein Zugriff hergestellt, und die Zugriffsergebnisse
werden in einer festen Reihenfolge ausgegeben.
Von den herkömmlicherweise vorgesehenen Moden
ist jedoch keiner zufriedenstellend.
Diese Moden vermögen nämlich nicht dem derzeitigen Bedarf
nach einem Datenzugriff mit hoher Geschwindigkeit bei
hochentwickelten digitalen Geräten zu genügen, was auf
den im folgenden angegebenen Gründen beruht.
Im herkömmlichen Seitenmodus kann zu den einer angewählten
Zeilenleitung zugeordneten Speicherzellen eines
DRAMs ein Serien- oder Reihenzugriff hergestellt
werden. Durch externe Eingabe von Reihenadressen
wird der Serienzugriff zu der angewählten Zeile von
Speicherzellen ermöglicht. Die Verbesserung der Serienzugriffsgeschwindigkeit
ist jedoch immer noch begrenzt;
sie hängt von der Notwendigkeit ab, einzelne Spaltenadressen
jedesmal entsprechend dem Potentialkippen
eines Spaltenadreß-Abtastsignals () extern
abzurufen. Dies stellt ein für im
Seitenmodus arbeitende DRAMs schwer zu überwindendes
Hindernis dar.
In einem sog. Nibblemodus erfolgt der
Reihendatenzugriff, wie Auslese- und Einschreiboperationen,
an einer angewählten Spalte in Abhängigkeit vom
Kippen des Signals . Der Nibblemodus ähnelt dem
Seitenmodus insofern, als die Zugriffsoperation
nur durch das Kippen des Signals gesteuert wird;
er ist dem Seitenmodus jedoch bezüglich der Zugriffsgeschwindigkeit
überlegen. Dies ist deshalb der Fall, weil
es im Nibblemodus nicht nötig ist, die Spaltenadresse für
jede Bitzugriffsoperation nach dem zweiten Zyklus des
Signals abzurufen.
Der Nibblemodus krankt aber an der Beschränkung der Zahl
der Bits oder Speicherzellen, die auf einmal für einen
Zugriff bezeichnet werden können. Die Beschränkung der
zugreifbaren Bitdatenzahl beruht auf den folgenden
Umständen: Im Nibblemodus werden mehrere Bitdateneinheiten
im ersten Kippzyklus des
Signals gleichzeitig zu einem Datenverriegelungsregister
übertragen. In Abhängigkeit von den folgenden
Kippvorgängen des Signals werden zweckmäßige
Einheiten der verriegelten Bitdateneinheiten willkürlich
gewählt und sequentiell zu einer Ausgangs- oder
Ausgabestelle übertragen. Hierbei bestimmt die Zahl der
im Datenverriegelungsregister vorgesehenen Register die
Zahl der zugreifbaren Bits. Die Zahl der
Register kann aufgrund der beschränkten Fläche auf dem
Chipsubstrat des DRAMs
nicht beliebig vergrößert werden;
diese Zahl ist auf etwa vier Bits gesetzt. Die Beschränkung
der Höchstzahl der zugreifbaren Bitdaten beeinträchtigt
erheblich den obengenannten Vorzug des
Nibblemodus.
Es wurde bereits versucht, den Nibblemodus auf eine
Reihenzugriffsoperation anzuwenden, um einen
Hochgeschwindigkeits-Serienzugriff zu erreichen. In diesem
Fall wird nach dem Übertragen mehrerer Dateneinheiten, die
in einer Spalte von Speicherzellen gespeichert sind, zu
einem Datenverriegelungsregister durch Aktivieren einer
Spaltenadreßwählleitung die Leseoperation im
Datenverriegelungsregister gestartet. Die Zahl der
angewählten Zellen wird als "Bitlänge" bezeichnet; sie
entspricht der Höchstzahl zugreifbarer Datenbits im
Nibblemodus.
Für die Durchführung des Serienzugriffs ist typischerweise
ein Spaltenadreßzähler auf dem DRAM-Chip montiert.
Der Spaltenadreßzähler erhöht die interne
Adresse sequentiell. Dabei ist es nötig, für spezifische
Zyklen des Signals (4n+1 -Zyklen, wenn die zugreifbare
Bitzahl gleich 4 ist, mit n=1, 2, . . .)
jedesmal ein Leseaktiviersignal QSE im Datenverriegelungsregister
zu aktivieren. Dies bedeutet, daß sich die
Zugriffszeit verlängert, bevor 4n+1
-Zyklen ablaufen. Die verzögerte
Lesezeit ist doppelt so lang oder länger als die gewöhnliche
Lesezeit. Die Verzögerung der Lesezeit tritt
unvermeidbar in einem spezifischen Zeitintervall auf;
dies stellt einen Engpaß bei der Verbesserung der Gesamtzugriffsgeschwindigkeit
von DRAMs dar.
Aus der Zeitschrift IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 24 No. 4, August
1989, Seiten 900-904, ist eine "Nibble-Page"-Architektur für DRAMs hoher
Dichte bekannt, welche aus einer Kombination eines Nibblemodus mit einem
Pagemodus besteht. Für eine beschleunigte Spaltenauswahl wird hier eine
"Column Address Prefetch" bzw. Spalten-Adreß-Vorabruf-Technik angewandt.
Bei dieser Technik ist es aber notwendig, eine speziell gestaltete Speicherzellenkonfiguration
vorzusehen, nämlich eine "multiple-bank"-Speicherzellenanordnung,
bei der ein Feld von Speicherzellen in zwei "banks" unterteilt ist.
Eine derartige Speicherzellenanordnung mit zwei "banks" benötigt aber
zwangsweise getrennte Spaltendecodierer A, B, die "Zellenbanks" A und B
zuzuordnen sind, um einen unabhängigen Betrieb voneinander zu gewährleisten.
Mit anderen Worten, mit diesem beschriebenen DRAM kann ein Serienzugriff
nur unter Verwendung eines "Doppel-Decodier-Schemas" erreicht werden, bei
dem zwei getrennte Spaltendecodierer notwendig sind. Dadurch steigt aber die
Anzahl der erforderlichen Schaltungskomponenten in unerwünschter Weise auf
der ohnehin begrenzten Oberfläche eines Chipsubstrates an, so daß die
Integrationsdichte der Speicheranordnung insgesamt herabgesetzt wird.
Schließlich ist in der US 4 618 947 eine "look-ahead"-Schaltungsanordnung
beschrieben, die zum Einleiten des Aufbaus für einen seriellen Modus, bevor die
Steuerungen für diesen Modus erfaßt werden, verwendet wird.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Serienzugriff-Speicheranordnung
zu schaffen, die bei beliebigen DRAMs einsetzbar ist und einen
schnellen Serienzugriff zu Speicherzellen erlaubt.
Diese Aufgabe wird bei einer Serienzugriff-Speicheranordnung nach dem
Oberbegriff des Patentanspruches 1 erfindungsgemäß durch die in dessen
kennzeichnendem Teil enthaltenen Merkmale gelöst.
Damit wird auch eine
dynamische MOS-Speicheranordnung mit ausgezeichneter Integrationsdichte
und Serienzugriffsgeschwindigkeit ermöglicht. Diese MOS-Speicheranordnung
hat ein Array von in Zeilen und Spalten angeordneten Speicherzellen. Mit den
Zeilen von Speicherzellen ist ein Zeilendecodierer zum Wählen oder Anwählen
einer der Zeilen von Speicherzellen in Abhängigkeit von einem ihm extern
zugespeisten Zeilenadreßsignal verbunden. Mit Spalten von Speicherzellen ist
ein Spaltendecodierer zum Bezeichnen einer bestimmten Spalte in Abhängigkeit
von einem ihm extern zugespeisten Eingabe-Spaltenadreßsignal verbunden.
Beim Aktivieren der bestimmten Spalte aktiviert der Spaltendecodierer eine Spalte
neben der bestimmten Spalte, bevor die betreffende Spaltenadresse tatsächlich
eingeht.
Im folgenden sind bevorzugte Ausführungsformen der
Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es
zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild zur Darstellung des inneren
Schaltungsaufbaus einer MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung
gemäß der Erfindung,
Fig. 2 ein Schaltbild des wesentlichen Schaltungsaufbaus
des Hauptteils bei der Speicheranordnung gemäß Fig. 1,
Fig. 3 ein Schaltbild des inneren Schaltungsaufbaus
eines Spaltendecodierers gemäß Fig. 2,
Fig. 4 ein Zeitsteuerdiagramm der Impulsfolgen
für den Betrieb der Ausführungsform
nach den Fig. 1 bis 3,
Fig. 5 und 6 Schaltbilder von Abwandlungen des
Spaltendecodierers gemäß Fig. 3,
Fig. 7 ein Blockschaltbild des inneren Schaltungsaufbaus
einer MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung gemäß der
Erfindung,
Fig. 8 ein Schaltbild des wesentlichen Schaltungsaufbaus
des Hauptteils bei der Speicheranordnung gemäß Fig. 7,
Fig. 9 ein Schaltbild des inneren Schaltungsaufbaus
eines Zeilendecodierers und eines Reserve-Zeilendecodierers
gemäß Fig. 8,
Fig. 10 ein Zeitsteuerdiagramm von Impulsfolgen für die
Zugriffsoperation bei der Redundanz-Spaltenwahl
bei der Ausführungsform gemäß den Fig. 7 bis 9,
Fig. 11 ein Schaltbild des inneren Aufbaus eines
Spaltenwählkreises gemäß Fig. 9,
Fig. 12 ein Zeitsteuerdiagramm der Impulsfolgen bei der
Schaltung nach Fig. 11,
Fig. 13 ein Schaltbild des Aufbaus eines empfehlenswerten
Komparators zum Erzeugen von Vergleichssignalen
und in Fig. 11,
Fig. 14 ein Schaltbild des inneren Aufbaus einer Subtrahierstufe
nach Fig. 7,
Fig. 15 ein Blockschaltbild des Schaltungsaufbaus des
wesentlichen Teils einer MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung
gemäß einer anderen
Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 16 ein Blockschaltbild des Schaltungsaufbaus des
wesentlichen Teils einer MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung
gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 17A und 17B Zeitsteuerdiagramme von Impulsfolgen für
den Betrieb der Ausführungsform gemäß Fig. 16,
Fig. 18 ein Schaltbild des inneren Schaltungsaufbaus
eines Zeilendecodierers gemäß Fig. 16,
Fig. 19 ein Zeitsteuerdiagramm von Impulsfolgen für die
Anordnung nach Fig. 16,
Fig. 20 und 22 Schaltbilder von Ausführungsformen eines
Datenausgabeteils beim DRAM gemäß Fig. 16,
Fig. 21 und 23 Zeitsteuerdiagramme der Impulsfolgen bei
den Ausführungsformen gemäß den Fig. 20 und 22,
Fig. 24 ein Schaltbild einer Schaltungsanordnung für die
Erzeugung eines Ausgangs-Freigabesignals zur
Verwendung beim DRAM gemäß Fig. 16,
Fig. 25 das entsprechende Zeitsteuerdiagramm für die
Schaltung nach Fig. 24,
Fig. 26 ein Schaltbild des Schaltungsaufbaus eines
Ausgangs-Freigabe/Einschreibsignalgenerators, der
bei einem DRAM mit einem exklusiven Steuerstift
für eine "Auslese-Modifiziereinschreib"-Operation
verwendet wird, und
Fig. 27 ein Zeitsteuerdiagramm von Impulsfolgen bei der
Schaltung nach Fig. 26.
In Fig. 1 ist eine MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung
gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
allgemein mit 10 bezeichnet. Die Speicheranordnung 10
umfaßt auf ihrem Chip-Substrat einen Speicherzellenarrayteil
12, der ein Array von dynamischen
Speicherzellen aufweist, welche in Zeilen und Spalten
angeordnet sind. Diese Speicherzellen sind parallelen
Datenübertragungsleitungen und parallelen Steuerleitungen,
welche die Datenübertragungsleitungen unter
Isolierung kreuzen, zugeordnet. Je eine Speicherzelle
befindet sich an jedem Kreuzungspunkt der einander
kreuzenden Leitungen. Die Datenübertragungsleitungen
werden als "Bitleitungen", die Steuerleitungen als
"Wortleitungen" bezeichnet. Jede Speicherzelle enthält
einen Speicherkondensator und eine Datenübertragungs-Umschaltvorrichtung.
Letztere kann ein als "Speicherzellentransistor"
bezeichneter Metalloxidhalbleiter-
Feldeffekttransistor (MOSFET) sein.
Ein Zeilenadreßpuffer 14 und ein Spaltenadreßpuffer 16 sind
an Adreßbiteingänge A0, A1, A2, . . . An angeschlossen. Mit
einer Zeilenadreß-Abtasteingangsklemme ist ein
Taktgenerator 18 zur Erzeugung eines Taktsignals für die
Ansteuerung des Zeilenadreßpuffers 14 verbunden. Mit
einer Spaltenadreß-Abtasteingangsklemme ist ein
Taktgenerator 20 zum Erzeugen eines Taktsignals für die
Ansteuerung des Spaltenadreßpuffers 16 verbunden. Der
Ausgang des Zeilenadreßpuffers 14 ist über einen
Zeilendecodierer 22 an das Speicherzellenarray 12 angeschlossen.
Der Ausgang des Spaltenadreßpuffers 16 ist
über einen Spaltendecodierer 23 mit dem Speicherzellenarray
12 verbunden. Die Decodierer 22, 24 decodieren
Adreßbits Ai (i=0, 1, 2, . . . n), die in den Puffern 14
bzw. 16 abgerufen werden. Ein Leseverstärkerkreis
26 enthält eine Leseverstärkereinheit und eine
Eingabe/Ausgabegattereinheit (beide an sich bekannt) zur
Ausführung einer Leseoperation von im Speicherzellenarray
12 gespeicherten Daten.
Ein interner bzw. Eingabepuffer 28 und ein Ausgabepuffer
30 sind an den Leseverstärkerkreis 26 angeschlossen. Die
Eingänge der Puffer 28 und 30 sind mit dem Ausgang eines
UND-Glieds 32 verbunden. Das UND-Glied 32 weist einen
Einschreibfreigabesignaleingang und Spaltenadreßabtasteingang
auf. Der Eingabepuffer 28 kann ein
Verriegelungskreis sein, welcher die ihm zugespeisten
Daten zwischenspeichert. Der
Ausgabepuffer 30 ist ein Verriegelungskreis zum Zwischenspeichern
von Ausgabedaten. Ein Substratspannungsgenerator
32 legt eine regulierte konstante Gleichspannung
an das Chipsubstrat an. Ein Auffrischzählerkreis 34
spricht auf das Signal an und führt eine Selbstauffrischoperation
an den Zeilen und Spalten der Speicherzellen
im Speicherzellenarray 12 durch.
Die beschriebene Anordnung 10 kennzeichnet sich weiterhin
dadurch, daß sie einen Reihenadreßzähler 36 aufweist,
der Reihenadressen längs Spalten im
Speicherzellenarray 12 generiert. Der
Zähler 36 ist so angeordnet, daß er einfach seinen
Zählstand in Synchronismus mit den Potentialkippvorgängen
des Signals hochzählt oder erhöht. Das Ausgangssignal
des Zählers 36 wird dem Spaltenadreßpuffer 16 zugespeist.
Wahlweise kann der Zähler 36 sein Ausgangssignal unmittelbar
- nicht über den Puffer 16 - dem Spaltendecodierer
24 zuspeisen.
Fig. 2 veranschaulicht in einem detaillierten Schaltbild
den Aufbau des Speicherzellenarrays 12, des Spaltendecodierers
24 und des Leseverstärkerkreises 26, wobei
aus Gründen der vereinfachten Darstellung lediglich
Speicherzellen MC längs einer Wortleitung WL im
Zellenarray 12 dargestellt sind. Eine vorgewählte Zahl
von Bitleitungen BL, überkreuzt oder schneidet die
Wortleitung WL. Die Speicherzellen sind an den einzelnen
Schnittpunkten angeordnet. Für jedes Paar von Bitleitungen
BLi, ist je ein Leseverstärkerkreis 40
vorgesehen. Jeder Leseverstärkerkreis 40 ist über
Übertragungsgatter 42 mit einem entsprechenden
Paar DQi, von Ein/Ausgabe- bzw.
I/O-Datenleitungspaaren 44 verbunden. Jedes Übertragungsgatter
42 enthält zwei Schalt-MOS-Transistoren,
deren Gateelektroden zusammengeschaltet sind.
Insbesondere ist der Leseverstärkerkreis 40 in mehrere
Blöcke unterteilt, von denen jeder 4 Leseverstärker
enthält. Die Zahl der I/O-Datenleitungspaare 44 entspricht
derjenigen der Leseverstärker; dies bedeutet,
daß 4 Paare von I/O-Datenleitungselementen DQ0, ; DQ1,
; DQ2, und DQ3, vorgesehen sind. Der
Spaltendecodierer 24 generiert Spaltenwählsignale CSLn-1,
CSLn, CSLn+1, CSLn+2, . . . Jedes dieser Signale wird zu
zwei Übertragungsgattern 42 zugeführt, die zwei benachbarten
Leseverstärkern zugeordnet sind. In Abhängigkeit
davon schalten zwei benachbarte Übertragungsgatter
42 an einer angewählten Spaltenadresse und der folgenden
Spaltenadresse gleichzeitig durch. In zwei benachbarten
Speicherzellen auf der Wortleitung WLi gespeicherte
binäre Information wird gleichzeitig auf den entsprechenden
beiden Paaren von I/O-Datenleitungssegmenten DQ,
entwickelt. Infolgedessen können zwei Bitleitungspaare
BL, - d. h. ein Paar mit einer Speicherzelle an der
Ziel-Spaltenadresse und das andere Paar mit einer Speicherzelle
an der folgenden Spaltenadresse - gemeinsam mit
den betreffenden I/O-Datenleitungen verbunden werden.
Die 4 Paare von I/O-Datenleitungen 44 sind jeweils mit 4
in Reihe geschalteten Datenverriegelungsregistern 46a,
46b, 46c und 46d verbunden. Jedes Datenverriegelungsregister
46 dient zum Zwischenspeichern oder Verriegeln
einer gelesenen Datenspannung
auf einem betreffenden Paar der I/O-Datenleitungen. Die
Ausgänge der Register 46 sind jeweils an die Eingänge
eines Multiplexers 48 angeschlossen, welcher die Verriegelungseingänge
sequentiell in einer festen Reihenfolge
wählt und ausgibt. Das Ausgangssignal des Multiplexers 48
wird über einen Datenpuffer 50 zu einem externen Ausgang
Dout überführt.
Der Spaltendecodierer 24 kann den Aufbau gemäß Fig. 3
aufweisen. In der Ausgangsstufe eines Adreßdecodierteils
60, der herkömmlicherweise verwendete NAND-Glieder G1,
G2, G3, G4 . . . mit mehreren Eingängen aufweist, sind
zusätzlich 2-Eingang-NAND-Glieder SG1, SG2, SG3, SG4 . . .
vorgesehen. Diese NAND-Glieder SG mit 2 Eingängen
stellen einen Spaltenwähltreiberteil 62 dar. Die Eingänge
der Adreßdecodier-Glieder G sind mit Spaltenadreßleitungen
64 verbunden. Die Ausgänge der Glieder SG sind mit
Spaltenadreßwählausgängen CSL verbunden. Jedes Glied SG
weist einen ersten, mit dem Ausgang eines entsprechenden
Adreßdecodier-Glieds G verbundenen Eingang und einen
zweiten Eingang auf, der mit dem Ausgang eines anderen,
benachbart angeordneten Adreßdecodier-Glieds G entsprechend
der vorherigen Spaltenadresse verbunden ist.
Beispielsweise ist der erste Eingang des Wähltreiber-
Glieds SG2 mit dem Ausgang des Adreßdecodier-Glieds G2
verbunden, während sein zweiter Eingang über eine Signalleitung
LA1 mit dem Ausgang des Glieds G1 verbunden
ist, dessen Spaltenadresse derjenigen des Glieds G2 um 1
vorhergeht. Die Signalleitung LA für jedes Glied SG ist
im folgenden als "Vorgriffssignalleitung" bezeichnet. In
Fig. 3 sind die Vorgriffssignalleitungen LA lediglich zur
besseren Verdeutlichung durch dicke Leitungen dargestellt.
Die beschriebene Ausführungsform arbeitet wie folgt:
Zunächst ist die Arbeitsweise des Spaltendecodierers 24 erläutert. Im Adreßdecodiererteil 60 fällt ein entsprechender oder zweckmäßiger Ausgang des NAND-Glieds G potentialmäßig auf einen niedrigen Pegel (Pegel L) in Abhängigkeit von einer ihm zugespeisten Spaltenadresse ab, wodurch eine Spaltenwählleitung CSL angewählt wird. Es sei angenommen, daß der Ausgang bzw. das Ausgangssignal des Glieds G1 auf den Pegel L übergeht. Das Ausgangssignal des niedrigen Pelgels L wird dem ersten Eingang des Treiber-Glieds SG1 zugespeist. Außerdem wird es über die Vorgriffssignalleitung LA auch dem zweiten Eingang des benachbarten Treiber-Glieds SG2 zugespeist. Die Ausgänge der beiden benachbarten Treiber-Glieder SG1, SG2 gehen potentialmäßig auf einen hohen Pegel (Pegel H) über. Demzufolge werden zwei bestimmte Spaltenwählleitungen angewählt und aktiviert, nämlich eine Spaltenwählleitung CSLn-1 entsprechend der Eingabe-Spaltenadresse und die nächste Spaltenwählleitung CSLn entsprechend einer Spaltenadresse, die unmittelbar nach der vorhergehenden Adresse ankommt.
Zunächst ist die Arbeitsweise des Spaltendecodierers 24 erläutert. Im Adreßdecodiererteil 60 fällt ein entsprechender oder zweckmäßiger Ausgang des NAND-Glieds G potentialmäßig auf einen niedrigen Pegel (Pegel L) in Abhängigkeit von einer ihm zugespeisten Spaltenadresse ab, wodurch eine Spaltenwählleitung CSL angewählt wird. Es sei angenommen, daß der Ausgang bzw. das Ausgangssignal des Glieds G1 auf den Pegel L übergeht. Das Ausgangssignal des niedrigen Pelgels L wird dem ersten Eingang des Treiber-Glieds SG1 zugespeist. Außerdem wird es über die Vorgriffssignalleitung LA auch dem zweiten Eingang des benachbarten Treiber-Glieds SG2 zugespeist. Die Ausgänge der beiden benachbarten Treiber-Glieder SG1, SG2 gehen potentialmäßig auf einen hohen Pegel (Pegel H) über. Demzufolge werden zwei bestimmte Spaltenwählleitungen angewählt und aktiviert, nämlich eine Spaltenwählleitung CSLn-1 entsprechend der Eingabe-Spaltenadresse und die nächste Spaltenwählleitung CSLn entsprechend einer Spaltenadresse, die unmittelbar nach der vorhergehenden Adresse ankommt.
Wenn eine nächste Spaltenadresse dem Teil 60 zugeliefert
wird, steigt der Ausgang des Glieds G1 vom Pegel L wieder
auf den Pegel H an, während der Ausgang des Glieds G2 auf
den Pegel L abfällt. Der Ausgang des Glieds SG1 kehrt auf
den Pegel L zurück, wodurch die Spaltenwählleitung CSLn-1
deaktiviert wird. Das der empfangenen
Spaltenadresse entsprechende Treiber-Glied SG2 weist an
seinem ersten Eingang den Pegel L und an seinem zweiten
Eingang den Pegel H auf, so daß das Ausgangssignal des
Pegels H erhalten bleibt. Eine Spannung des Pegels L wird
an den zweiten Eingang des dritten Glieds SG3 über die
Vorgriffssignalleitung LA2 angelegt. Das
Ausgangssignal des Glieds SG3 befindet sich auf dem Pegel
H, wodurch die Spaltenwählleitung CSLn+1 in Richtung auf
den Pegel H aktiviert wird. Ähnliche Gatter- oder Torschaltoperationen
werden wiederholt für die restlichen
Glieder SG4 usw. in der Weise durchgeführt, daß bei
Empfang jeder Spaltenadresse immer zwei benachbarte
Spaltenwählleitungen CSL gleichzeitig auf den Pegel H
übergehen, wodurch die beiden Leitungen im Vorgriff auf
die Ankunft ihrer entsprechenden Spaltenadresse potentialmäßig
aktiviert werden.
Der DRAM 10 führt seine Ausleseoperation in einem nachstehend
zu erläuternden Reihenzugriffsmodus durch. Wenn
gemäß Fig. 4 das Zeilenadreßabtastsignal auf den
niedrigen Pegel L abfällt, tritt der DRAM 10 in einen
aktiven Zyklus ein, in welchem er eine Zeilenadresse
abruft. Im ersten Zyklus bzw. in der ersten Periode der
Kippvorgänge des Signals wird die Spaltenwählleitung
CSL0, die durch die eingegebene Spaltenadresse bestimmt
ist, angewählt und aktiviert. Gleichzeitig wird die der
Leitung CSL0 benachbarte Spaltenwählleitung CSL1, entsprechend
der nächsten folgenden Spaltenadresse, angewählt
und aktiviert. Die Speicherdatenbits werden aus 4
Speicherzellen unter den längs einer Wortleitung WLi
angeordneten Speicherzellen ausgelesen. Dies ist ohne
weiteres verständlich, wenn die beiden angewählten
Spaltenwählleitungen als Leitungen CSLn-1, CSLn in Fig. 2
betrachtet werden.
Die 4 Speicherdatenbits werden durch betreffende der
Leseverstärker 40 gelesen und jeweils auf 4 Paaren der
I/O-Leitungen 44 DQ0, ; DQ1, ; DQ2, ; DQ3,
über 4 Übertragungsgatter 42, die durchgeschaltet worden
sind, entwickelt. Die Auslesedatenbits werden zu den
Datenverriegelungsregistern 46a bis 46d übertragen und in
diesen zu einem Zeitpunkt A1 (vgl. Fig. 4) verriegelt, zu
dem ein Leseaktiviersignal QSE auf den hohen Pegel H
ansteigt. Die verriegelten 4 Datenbits werden sequentiell
von der Ausgangsklemme Dout in Synchronismus mit den
Kippvorgängen des Signals unter der Steuerung
des Multiplexers 48 ausgelesen.
Wenn der zweite Zyklus von endet, erhöht der Reihenadreßzähler
36 gemäß Fig. 1 die Eingabespaltenadresse um
1. Dies stellt eine Inkrementierung
einer Spaltenadresse dar. Zu diesem Zeitpunkt befindet
sich die interne Spaltenadresse des DRAMs 10 im Zustand
zum Anwählen der Spaltenwählleitung CSL1. Diese Spaltenwählleitung
CSL1 ist jedoch, wie erwähnt, bereits durch
die "Vorgriffs"-Funktion des Spaltendecodierers 24
angewählt worden. Daher beträgt die zum Aktivieren dieser
Spaltenwählleitung nötige Zeit praktisch Null.
Die zuerst aktivierte Spaltenwählleitung CSL0 wird
deaktiviert, wenn die Spaltenwählleitung CSL2 angewählt
wird. Damit werden zwei neue Speicherdatenbits in die
I/O-Leitungen 44 eingeführt bzw. diesen aufgeschaltet und
zu zwei betreffenden Registern 46a, 46b übertragen. Die
Datenbits werden dort zu einem Zeitpunkt A2 (vgl. Fig. 4)
verriegelt, zu dem das Signal QSE wieder auf den hohen
Pegel H übergeht. Auf ähnliche Weise werden die restlichen
Spaltenwählleitungen CSL in jeweils jedem zweiten
Zyklus von entsprechend jeder Inkrementierung der
internen Spaltenadresse im DRAM 10 neu angewählt. Mit 2
angewählten Spaltenwählleitungen CSL kann somit eine
Hochgeschwindigkeits-Seriendatenauslesung durchgeführt
werden.
Mit dieser Anordnung ist es möglich, eine Verzögerung der
Zugriffszeit, die beim herkömmlichen Anwählen
der internen Spaltenadresse auftritt, wie dies in der
Beschreibungseinleitung erläutert worden ist, praktisch
vollständig auszuschalten. Hierdurch wird die Reihenzugriffsgeschwindigkeit
erhöht. Theoretisch
kann die Technik der "Verbesserung der Zugriffsgeschwindigkeit"
auch auf den Auslese/Einschreibzyklus angewandt
werden, wodurch den Halbleiterherstellern bedeutsame
Vorzüge geboten werden.
In einem Fall, in welchem die Erfindung als spezifische
Speicheranordnung exklusiv für digitale Bildverarbeitung eingesetzt
wird, kann die Spaltendecodiereranordnung nach Fig. 3
auf die in Fig. 5 gezeigte Weise abgewandelt werden.
Ein Spaltendecodierer 70 gemäß Fig. 5 kennzeichnet sich
dadurch, daß er zusätzlich eine "Zeigerfunktion" aufweist,
wie sie auf dem Gebiet der Bildverarbeitung an
sich bekannt ist. Die Zeigerfunktion kann als
"Positionssuch"-Funktion betrachtet werden, die es
ermöglicht, ein gewünschtes Adreßbit in Abhängigkeit von
einer Spaltenadresse zu bezeichnen und einen Reihenzugriff
an dem bezeichneten Adreßbit einsetzen zu lassen.
Eine solche Funktion ist für einen Bildspeicher von
Bedeutung, um die Horizontal-Punktdrehung
auf einem Anzeigebildschirm zu beschleunigen.
Der Spaltendecodierer 70 gemäß Fig. 5 unterscheidet sich
vom Decodierer 24 nach Fig. 3 in folgenden Punkten: Eine
Ausgangsleitung eines Adreßdecodiererteils 60 für
die letzte Spaltenwählleitung CSL2n dient auch als
Vorgriffssignalleitung LA für die erste Spaltenwählleitung
CSL0. Bei einer solchen Vorgriffsleitungsanordnung
führt das Anwählen der Spaltenwählleitung CSL2n automatisch
zum Anwählen der Leitung CSL0. Die Zeigerfunktion
kann somit ohne unnötigen Aufwand an extra Schaltkreisen
erzielt werden.
Fig. 6 veranschaulicht eine andere Spaltendecodiereranordnung
74 mit der Zeigerfunktion, wobei sich der
Decodierer 74 durch seine Funktion zum Ändern der
physikalischen Zugriffsordnung der Spaltenwählleitungen
CSL auszeichnet. Erste Leitungen LA1 und zweite Leitungen
LA2 sind als Vorgriffssignalleitungen LA vorgesehen. Die
ersten Vorgriffssignalleitungen LA1 sind Abwärtsleitungen
für Adreßbezeichnung, während die zweiten Vorgriffssignalleitungen
LA2 Aufwärts-Adreßbezeichnungsleitungen
sind. Jede Leitung LA1 dient zum gegenseitigen Verbinden
der Eingänge derjenigen Zweieingang-NAND-Glieder SG, die
abwechselnd im Spaltenwähltreiberteil 62 angeordnet sind,
z. B. der Glieder SG0, SG1, zwischen denen das Glied SG2n
angeordnet ist. Jede Leitung LA2 dient zum gemeinsamen
Verbinden der Eingänge von zwei
der restlichen Glieder, wie SG2n, SG2n-1, zwischen denen
das Glied SG1 angeordnet ist. Mit anderen Worten: die
Spaltenwählleitung CSL2n ist zwischen den ersten und
zweiten Spaltenwählleitungen CSL0, CSL1 angeordnet; die
Leitung CSL1 verläuft zwischen der Leitung CSL2n und der
vorhergehenden Spaltenwählleitung CSL2n-1. Die gleiche
"abwechselnde" Leitungsanordnung wiederholt sich im
Spaltendecodierer.
Die abwechselnde Anordnung der Spaltenwählleitungen CSL
läßt sich auch wie folgt darstellen: Spaltenwählleitungen
CSL0, CSL1, . . ., die 1-Bit-Inkrementen von der physikalisch
niedrigsten Adresse entsprechen, sowie Spaltenwählleitungen
CSL2n-1, CSL2n, . . ., welche 1-Bit-
Dekrementen von der physikalisch höchsten Adresse
entsprechen, sind einander abwechselnd und linear angeordnet.
Bei dieser Ausgestaltung besitzen die Vorgriffsleitungen
LA1, LA2 jeweils gleiche, kurze Länge. Eine
deutlich lange Leitung, wie die Leitung LA gemäß Fig. 5
tritt dabei nicht auf. Damit kann die Verzögerung in der
Vorgriffsoperation minimiert werden, so daß eine Einschränkung
des Betriebsspielraums im DRAM verhindert
wird.
Fig. 7 veranschaulicht eine dynamische MOS-Serienzugriff-Speicheranordnung
80 gemäß einer zweiten
Ausführungsform der Erfindung, wobei die Anordnung 80 ein
Speicherzellenarray 82 aufweist. Letzteres enthält neben
den Spaltenwählleitungen CSL spezifische
Spaltenwählleitungen, die Redundanzspalten zum Ersetzen
einer beschädigten Spalte zugeordnet sind. Diese zusätzlichen
Spaltenwählleitungen werden als "Reservespaltenwählleitungen"
bezeichnet. Wenn bei dieser Ausführungsform
im Array 82 eine beschädigte Spalte vorhanden ist,
wird im Inneren des Chips eine der Adresse der beschädigten
Spalte um 1 vorhergehende Adresse generiert,
wodurch eine kontinuierliche Hochgeschwindigkeits-
Reihenzugriffsoperation auch in einer Speicheranordnung
mit den Redundanzspalten ermöglicht wird. Zum Generieren
einer solchen Adresse kann eine Subtrahierstufe verwendet
werden. Durch Ausführung der erwähnten Vorgriffsoperation
bezüglich der Reservespaltenwählleitungen in einem
Reservespaltendecodierer unter Verwendung der Ausgangs-
oder Ausgabeadreßdaten der Subtrahierstufe kann eine der
beschädigten Spalte entsprechende Reservespaltenwählleitung
potentialmäßig aktiviert werden, bevor die beschädigte
Spalte tatsächlich angewählt wird. Hierdurch kann
eine Zeitvergeudung vermieden werden, wenn sich die
Spaltenadresse ändert.
Die Anordnung nach Fig. 7 ähnelt derjenigen nach Fig. 1,
wobei jedoch das Speicherzellenarray 12 durch das
Speicherzellenarray 82 mit Redundanzspalten ersetzt ist.
Für das Ansteuern dieser Redundanzspalten ist zusätzlich
zu einem Hauptspaltendecodierer 84 ein Reservespaltendecodierer
84a vorgesehen. Der Spaltenadreßpuffer 16
ist mit dem Reservedecodierer 84a über einen Spaltenwählerkreis
86 verbunden, der einen Reservespaltenwähler 86a
zum Anwählen einer geeigneten Redundanzspalte im
Speicherzellenarray 82 aufweist. Eine Redundanzspalten-
Schmelzsicherung 88 ist mit dem Spaltenwähler 86
über ein Sicherungsdatenregister 90 verbunden, welches
das die Adresse einer etwaigen beschädigten Spalte
angebende Sicherungsdatenausgangssignal hält. Der Ausgang
des Registers 90 ist auch mit einem Subtrahierkreis 92
verbunden, der an seinem Ausgang über das Sicherungsdatenregister
94 mit dem Reservespaltenwähler 86a verbunden
ist. Letzterer spricht auf den Registerausgang sowie den
Spaltenadreßpuffer 16 an. Dem Glied bzw. Generator 32 und
dem Leseverstärker 26 ist ein Eingabe/Ausgabepuffer 96
zugeordnet, dessen Funktion ähnlich ist wie diejenige der
Puffer 28, 30 gemäß Fig. 1.
Die Ausgangsdaten vom Register 90, welche die beschädigte
Spaltenadresse angeben, werden der Subtrahierstufe 92
zugespeist. Letztere führt sodann eine Subtraktion an den
empfangenen oder eingegangenen Daten durch, um das
Register 94 mit den resultierenden Daten zu speisen, die
eine der betreffenden Adresse um 1 vorhergehende
Adresse angeben. Das Register 94 hält oder speichert die
Daten. Das Register 94 sendet sein Ausgangssignal zum
Reservespaltenwähler 86a, so daß die Vorgriffsoperation
nicht nur an den Hauptspaltenwählleitungen CSL, sondern
auch an der oder den Reservespaltenwählleitungen
durchgeführt werden kann. Wenn die Adresse im
Sicherungsdatenregister 94 mit dem die interne Adresse
des Chips angebenden Ausgangssignal des Reihenzählers 86
übereinstimmt, wird eine entsprechende
Reservespaltenwählleitung aktiviert,
so daß die Vorgriffsoperation praktisch auf die vorstehend
beschriebene Weise ausgeführt werden kann.
Der Reservespaltendecodierer 84a und eine ihm zugeordnete
Schaltungsanordnung sind in Fig. 8 im einzelnen dargestellt.
Die Ausgänge des Reservespaltendecodierers 84a
sind über entsprechende Reservespaltenwählleitungen
SCSL0, SCSL1 mit einer Anzahl von Paaren von Bitleitungen
verbunden, welche entsprechende Reservespalten bilden.
Der Schaltungsaufbau ist der gleiche wie derjenige nach
Fig. 2 unter Verwendung der Spaltenwählleitungen CSL.
Wenn eine der Reservespaltenwählleitungen SCSL angewählt
ist, schalten zwei benachbarte Übertragungsgatter 42a
durch, so daß die beiden zugeordneten Reservespalten mit
den betreffenden Paaren der I/O-Leitungen 44 DQ0, ;
DQ1, ; ; DQ3, verbunden werden. In Fig. 8
sind MR die redundanten Speicherzellen in den Redundanzspalten
bezeichnet.
Der interne Schaltungsaufbau von Haupt- und Reservespaltendecodierer
84, 84a ist in Fig. 9 dargestellt. Der
Hauptspaltendecodierer 84 ähnelt dem Spaltendecodierer 24
gemäß Fig. 3 insofern, als er ein Array
von Mehreingang-NAND-Gliedern G und ein Array
von Zweieingang-NAND-Gliedern SG aufweist.
Dick ausgezogene Linien repräsentieren Vorgriffsleitungen
, . . . Der
Decodierer 84 enthält in seinem
Treiberteil Wähltreibereinheiten SD1, SD2, SD3, SD4, . . .,
die jeweils mit den Ausgängen der NAND-Glieder SG verbunden
sind. Diese Einheiten sind über Signalleitungen
100, 102 mit dem Spaltenwähler 86 verbunden. Jede Einheit
SDi enthält einen Inverter, ein Zweieingang-NAND-Glied
und einen weiteren Inverter, wie dargestellt. Der Ausgang
jeder Einheit SDi ist mit einer entsprechenden Spaltenwählleitung
CSL verbunden. Der Spaltenwähler 86 liefert
ein Ausgangssignal EVEND zur Leitung 100, während der
Reservespaltenwähler 86a ein Ausgangssignal ODDD zur
Leitung 102 liefert. Die Einheiten SD sind abwechselnd
mit den Leitungen 100, 102 verbunden, so daß einer der
Eingänge des Inverters der ersten Stufe in jeder Einheit
SD abwechselnd mit den Leitungen 100 oder 102 verbunden
ist.
Der Reservespaltendecodierer 84a enthält in seinem
Decodiererteil ein Array von Invertern
11, 12. Die Inverter 11, 12 sind jeweils mit den
ersten Eingängen von NAND-Gliedern SSG1, SSG2 mit 2
Eingängen verbunden. Die ersten und zweiten Eingänge der
NAND-Glieder SSG1, SSG2 sind gemäß Fig. 12 kreuzgekoppelt.
Dick ausgezogene Linien stehen für die Vorgriffsleitungen
und . Die Ausgänge der NAND-Glieder
SSG1, SSG2 sind jeweils mit Reservewähltreibereinheiten
SSD1, SSD2 verbunden. Jede Einheit SSD weist eine
Reihenschaltung aus einem Zweieingang-NAND-Glied und
einem Inverter auf. Der Ausgang jeder Einheit SSD ist mit
einer entsprechenden Reservespaltenwählleitung
SCSL0 oder SCSL1 verbunden. Die Einheit
SSD1 ist mit der EVEND-Leitung 100 am einen Eingang ihres
NAND-Glieds verbunden. Die Einheit SSD2 ist mit der
ODDD-Leitung 102 am einen Eingang ihres NAND-Glieds
verbunden.
Die Haupt- und Reservespaltendecodierer 84, 84a arbeiten
in Abhängigkeit nicht nur von Spaltenadreßbits Y0,
Y1, . . ., Ym, sondern auch von den Ausgängen EVEND und ODDD
der Wähler 86, 86a. Zum Zwecke der Erläuterung sei
angenommen, daß zwei eine beschädigte Spalte enthaltende
Spalten durch Reservespalten ersetzt werden sollen. Das
anfänglich auf dem niedrigen Pegel L befindliche Signal
EVEND steigt auf den hohen Pegel H an, wenn eine
Spaltenwählleitung CSL in einer geradzahligen Position
durch eine Reservespalte SCSL0 ersetzt wird. Andererseits
geht das Signal ODDD auf den Pegel H über, wenn eine
Spaltenwählleitung CSL in einer ungeradzahligen Position
durch eine Reservespaltenwählleitung SCSL1 ersetzt wird.
In Abhängigkeit von den Signalen EVEND und ODDD bestimmt
der Treiberteil der Decodierer 84, 84a, ob ein spezifisches
Ausgangssignal vom Hauptspaltendecodierer 84 zu
einer betreffenden Spaltenwählleitung CSL geschickt wird
oder ob ein geeignetes Ausgangssignal vom Reservespaltendecodierer
84a einer der Reservespaltenwählleitungen
SCSL0 oder SCSL1 zugeliefert wird.
Ein wichtiges Merkmal der Decodierer 84, 84a ist nachstehend
erläutert. Die Signale EVEND, ODDD vom
Spaltenwähl/Reservespaltenwählkreis 86, 86a werden nicht
dem Adreßdecodiererteil, sondern dem Treiberteil eingespeist,
der nahe der Verbindungsknotenpunkte mit den
Spaltenwählleitungen CSL und Reservespaltenwählleitungen
SCSL angeordnet ist. Auch wenn bei dieser Anordnung die
Reservespalte angewählt ist, kann ein Wählsignal für die
beschädigte Spalte zwangsweise in den "ungewählten"
Zustand gebracht werden, während ein Vorgriffssignal im
Spaltendecodierer aktiv bleibt. Demzufolge kann in einem
Reservespaltenwählzyklus eine im nächsten Zyklus zu
wählende Spaltenwählleitung im voraus in den "angewählten"
Zustand gebracht werden, und zwar
auf dieselbe Weise wie beim Wählen einer normalen Spalte,
durch Verwendung eines Vorgriffssignals , das im
Adreßdecodiererteil einer beschädigten Spalte generiert
wird.
Die Hauptspaltenwähloperation des DRAMs 80 ist die
gleiche wie bei der vorher beschriebenen Ausführungsform
(DRAM 10) gemäß den Fig. 1 bis 4. Die Operation einer
"Vorauswahl" von Redundanzspalten mittels des
erfindungsgemäßen Vorgriffsmerkmals
ist nachstehend beschrieben.
Bezüglich des Zeitsteuerdiagramms von Fig. 10 sei aus
Gründen der Erläuterung angenommen, daß zwei beschädigte
Spalten CSLn und CSLn+1 durch Reservespaltenwählleitungen
SCSL0 bzw. SCSL1 ersetzt werden. Dabei werden zwei
Zellendatenbits durch eine Spaltenwählleitung CSL oder
Reservespaltenwählleitungen SCSL gewählt. Im fünften und
sechsten Zyklus des Signals wird ein mit der Reservespaltenwählleitung
SCSL0 verbundenes Bit gewählt oder
angewählt; im siebten und achten Zyklus des Signals
wird ein mit der Reservespaltenwählleitung SCSL1 verbundenes
Redundanzbit gewählt.
Im ersten Zyklus des Signals werden eine Spaltenwählleitung
CSLn-2, die durch eine externe Spaltenadresse
bestimmt ist, und eine Spaltenwählleitung CSLn-1 potentialmäßig
gemeinsam aktiviert. Die
Spaltenwählleitung CSLn-1 wird durch eine Adresse bestimmt,
welche der Adresse für den vorliegenden Zyklus um
1 vorhergeht. Als Ergebnis werden 4 Datenbits zu den
Datenverriegelungsregistern 46 übertragen, um in diesen
verriegelt zu werden. Mit dem Ende des zweiten Zyklus des
Signals erhöht der auf dem Chip des DRAMs 80 montierte
Spaltenadreßzähler seine interne Adresse. Gemäß
Fig. 10 wird die niedrigste Spaltenadresse Y0
inkrementiert, so daß sie sich von L auf H ändert. Das
Ausgangssignal der Subtrahierstufe 92, d. h. eine im
Sicherungsdatenregister 94 gehaltene Adresse, ist daher
einer internen Adresse angepaßt bzw. stimmt mit dieser
überein. Dies bedeutet, daß die im Register 90 gehaltene
Adresse für die beschädigte Spalte bei der nächsten
Inkrementierung des Spaltenadreßzählers größenmäßig mit
der internen Adresse identisch wird. Zu diesem Zeitpunkt
ändert sich nur die EVEND-Leitung 100 unter den Leitungen
100, 102 vom Pegel L auf den Pegel H, um die Vorgriffsbehandlung
auf der Reservespaltenwählleitung SCSL0 einzuleiten.
Am Ende des vierten Zyklus von inkrementiert der
Spaltenadreßzähler wiederum seinen Zählstand um 1. Die
Größe des Registers 90 stimmt dabei mit der internen
Adresse überein. Die ODDD-Leitung 102 steigt nun auf den
hohen Pegel H an. Die Reservespaltenwählleitung SCSL1
wird ebenfalls der "Vorgriffsbehandlung"
unterworfen. Am Ende des sechsten Zyklus von
erhöht der Spaltenadreßzähler wiederum seinen Zählstand
um 1, worauf die Leitung EVEND vom hohen Pegel H auf
den niedrigen Pegel L übergeht. Die Reservespaltenwählleitung
SCSL0 ist dabei ungewählt; gleichzeitig wird die
Spaltenwählleitung CSLn+2 der "Vorgriffsbehandlung"
unterworfen. Wenn der Spaltenadreßzähler am Ende des
achten Zyklus von seinen Zählstand um 1 erhöht, fällt
auch die Leitung ODDD auf den Pegel L ab. Die Reservespaltenwählleitung
SCSL1 ist dabei ungewählt. Die
Spaltenwählleitung CSLn+3 wird dann der Vorgriffsbehandlung
unterworfen. Hierdurch wird ein Zyklus des Wählens
der Reservespaltenwählleitungen abgeschlossen. Anschließend
wird die Vorgriffsbehandlung im Hauptspaltendecodierer
84 wiederholt auf die vorher beschriebene Weise
durchgeführt.
Die Spaltenwähl/Reservespaltenwählkreise 86, 86a können
auf die in Fig. 11 gezeigte Weise angeordnet sein. Dabei
ist ein Inverter 104 mit einem Eingang für die Adresse Y0
des niedrigsten Pegels verbunden. Ein anderer Inverter
106 ist an einen -Signaleingang angeschlossen. Das
Signal stellt das Vergleichsergebnis zwischen der
Speichergröße des Registers 90 und einer augenblicklichen
oder gültigen internen Adresse dar; es befindet sich
normalerweise auf dem Pegel H und es fällt nur dann auf
den Pegel L ab, wenn ein beliebiges Paar von Adressen,
ausschließlich der Adresse Y0, miteinander identisch
sind. Der Ausgang des Inverters 104 ist über einen
Inverter 108 mit dem einen Eingang eines NAND-Glieds 110
verbunden. Der andere Eingang des NAND-Glieds 110 ist mit
einem -Signaleingang verbunden. Das Signal gibt
das Vergleichsergebnis zwischen der Speichergröße des
Registers 92 und einer augenblicklichen internen Adresse
an; es befindet sich normalerweise auf dem Pegel H und
fällt nur dann auf den Pegel L ab, wenn zwei beliebige
Adressen, ausschließlich der Adresse Y0 miteinander
identisch sind. Ein anderes NAND-Glied 112 ist mit dem
ersten Eingang an den Ausgang des Inverters 104 und mit
dem zweiten Eingang an den Eingang angeschlossen.
Die Ausgänge der NAND-Glieder 110, 112 sind an ein
NAND-Glied 114 angeschlossen, dessen Ausgang mit einem
Inverter 116 verbunden ist. Das Signal ODDD erscheint am
Ausgang des Inverters 106, während das Signal EVEND am
Ausgang des Inverters 116 erscheint.
Wie aus dem Zeitsteuerdiagramm von Fig. 12 hervorgeht,
besitzt das Signal ODDD die entgegengesetzte Phase zu
. Das Signal EVEND befindet sich normalerweise auf
dem Pegel L; es geht nur dann auf den Pegel H über, wenn
die folgenden Bedingungen erfüllt sind:
Unter Verwendung eines solchen Signals können auch die
Reservespaltenwählleitungen SCSL mit der
"Vorgriffs"-Funktion versehen werden.
Fig. 13 zeigt einen für die Erzeugung der Vergleichssignale
und geeigneten Komparatorkreis 120. Die
Übereinstimmung/Nichtübereinstimmung zwischen den Sicherungsdaten
und der internen Adresse kann durch Verwendung
einer Anzahl von Phantom-ODER-Verknüpfungskreisen mit
jeweils zwei Transistorreihenschaltungen realisiert
werden, von denen jede aus NMOS-Transistoren mit
Gateelektroden besteht, an welche jeweils die betreffenden
Signale angelegt werden. Genauer gesagt, nur dann,
wenn jede Sicherungsdateneinheit mit einer
augenblicklichen internen Adresse übereinstimmt bzw.
dieser angepaßt ist, befinden sich und auf dem
Pegel L. PMOS-Transistoren T1, T2, die an ihren
Gateelektroden ein Torschalt- oder Gatesignal abnehmen,
wirken als Aufladevorrichtungen zum Aufladen von
Schaltungsknotenpunkten N1, N2. PMOS-Transistoren T3, T4
steuern die Potentiale an Knotenpunkten N1, N2, um damit
zu verhindern, daß diese Knotenpunkte zu irgend einem
Zeitpunkt elektrisch potentialfrei
werden.
Die Subtrahierstufe 92 gemäß Fig. 7 kann die Ausgestaltung
gemäß Fig. 14 aufweisen, wobei die Subtrahierstufe
92 ein exklusives ODER-Glied 130 und ein NOR-Glied 132
aufweist, deren Eingänge jeweils mit CFSi- und CCi-
Signaleingängen verbunden sind. Die Ausgänge dieser
Glieder sind mit Invertern 134 bzw. 136 verbunden. CFSi
ist ein Signal, das elektrisch eine Adresse repräsentiert,
die augenblicklich in einem Sicherungsdatenregister
90 gehalten wird, wobei i=0, 1, 2, . . ., m. CCi ist
ein Übertragsignal, und CC0 entspricht Vss. Eine Adresse
CFPi, die um 1 von der Adresse CFSi subtrahiert ist, wird
erzeugt und zum Sicherungsdatenregister 94 übertragen.
Durch Anwendung der gewünschten Zahl von Schaltungsanordnungen
nach Fig. 14 kann ein Subtrahierkreis mit einer
beliebigen Bitlänge realisiert werden.
In Fig. 15 ist noch ein anderer DRAM 140 dargestellt, der
demjenigen nach Fig. 7 ähnlich ist, wobei die Subtrahierstufe
92 durch eine Redundanz-Spaltenschmelzsicherung
142 ersetzt ist, welche dem Register 94 exklusiv
zugeordnet ist und welche eine äquivalente Subtraktionsoperation
wie die Subtrahierstufe 92 durchführt, indem
sie eine geeignete der Schmelzsicherungskomponenten
abschaltet, so daß eine spezifische Adresse
zum Register 94 übertragen wird; die spezifische Adresse
ist nach Dekrementierung um 1 kleiner als die Adresse
einer beschädigten Spalte.
In Fig. 16 ist noch ein anderer DRAM 200 dargestellt, der
eine spezifische "Überlappungs"- oder
"Verschachtelungs"-Technik für Bitdatenübertragung auf
Ein/Ausgabe- bzw. I/O-Leitungen anwendet. Der DRAM 200
ist von den vorher beschriebenen DRAMs 10, 80 und 140 bezüglich
seines internen Hauptaufbaus mit dem Speicherzellenarray
12, den Zeilen- und Spaltenadreßpuffern 14 und 16,
den RAS- und CAS-Taktgeneratoren 18 und 20 sowie den den
Bitleitungen BL zugeordneten Leseverstärkern 40 ähnlich.
Adreßbiteingänge A0, A1, . . ., An sind ebenfalls an einen
Reihenadreßzähler 202, ein 4-Bit-Schieberegister 204 und
einen Adreßübergangsdetektorkreis 206 angeschlossen. Der
Zähler 202 führt eine Reihenzähloperation zum Erzeugen
einer Reihe von Spaltenadressen unter der Steuerung einer
mit ihm verbundenen Adreßzählsteuereinheit 208 durch. Die
Steuereinheit 208 steuert den Zähler 202 so, daß jede
Reihen-Spaltenadresse jedesmal dann erzeugt wird, wenn
zwei Kippvorgänge im Signal stattfinden. In
einem Einschreibzyklus wird der Zähler 202 durch die
Steuereinheit 208 veranlaßt, sein Zählstandergebnis,
welches die aktualisierte Wahl der Spaltenwählleitungen
CSL repräsentiert, zu halten, bis eine Einschreiboperation
endet. Das Schieberegister 204 decodiert die
unteren 2 Bits einer Spaltenadresse, um eine von 4
Datenwählleitungen DSL0, DSL1, DSL2, DSL3 zu wählen.
Die Ausgänge eines Spaltendecodierers 210 sind über
Spaltenwählleitungen CSL0, CSL1, CSL2, CSL3, . . . mit an
ihren Gateelektroden gekoppelten MOS-
Feldeffekttransistor- bzw. FET-Paaren Q1-Q8, . . ., die als
die Übertragungsgatter 42 wirken, verbunden. Die FETs Q1,
Q2 sind mit ihren Gateelektroden gemeinsam mit einer
Spaltenwählleitung CSL0 verbunden. Die Gateelektroden der
FETs Q3, Q4 sind gemeinsam an die Spaltenwählleitung CSL1
angeschlossen. Den Übertragungsgatter-FETs 42 sind vier
I/O-Leitungen DQ0, DQ1, DQ2, DQ3 zugeordnet, so daß
jeweils 2 benachbarte, gategekoppelte Übertragungsgatter,
d. h. jeweils 4 FETs Q1, Qi+1, Qi+2, Qi+3, sequentiell mit
den I/O-Leitungen verbunden sind. Beispielsweise sind die
FETs Q1-Q4 an ihren stromführenden Elektroden mit
I/O-Leitungen DQ0, DQ1, DQ2 bzw. DQ3 verbunden. Sehr
wesentlich ist, daß die I/O-Leitungen DQ in zwei Gruppen
212a, 212b unterteilt sind; eine erste Gruppe A besteht
aus geradzahligen Leitungssegmenten, während die zweite
Gruppe B aus ungeradzahligen Leitungssegmenten besteht.
Bei dieser Ausführungsform sind die FETs Q1, Q2 des
ersten Übertragungsgatters mit Leitungen DQ0, DQ1 verbunden;
die FETs Q3, Q4 des zweiten Übertragungsgatters
sind an die Leitungen DQ2, DQ3 angeschlossen. Das gleiche
gilt für die restlichen Übertragungsgatter-FETs
Q5-Q8, . . . Die erste I/O-Gruppe bildet ein "Übertragungssystem
A", die zweite Gruppe ein "Übertragungssystem
B".
An den ersten Enden der I/O-Leitungen DQ sind Rücksetzkreise
214 angeordnet, um erstere erforderlichenfalls auf
das anfängliche Potential rückzusetzen. Die I/O-Leitungen
DQ weisen zweite Enden auf, die an einen Datenausgabeteil
215 über MOSFET-Transistoren Q10-Q13, welche ein Übertragungsgatter
216 bilden, angeschlossen sind, so daß die
Übertragungsleitungen des Systems A (I/O-A-Leitungen)
212a über MOSFETs Q10, Q12 an den Ausgabeteil und die
Übertragungsleitungen des Systems B (I/O-B-Leitungen)
212b an diesen über die MOSFETs Q11, Q13 angeschlossen
sind. Der Ausgabeteil enthält zwei I/O-Leseverstärker
218a, 218b, die jeweils mit den I/O-A-
bzw. I/O-B-Leitungen 212a bzw. 212b verbunden sind. Die
Ausgänge von Verstärkern 218a, 218b sind mit dem
Ausgabepuffer 30 über zwei Ausgangs- oder
Ausgabedatenverriegelungskreise 220a, 220b verbunden. Die
Reihenschaltung (215a) aus Verstärker 218a und Verriegelungsglied
220a dient als Datenübertragungskreis des
Systems A; die Reihenschaltung (215b) aus den Bauteilen
218b, 220b wirkt als Datenübertragungskreis des Systems
B. Die Gateelektroden der FETs Q10-Q13 sind mit einem
Datenübertragungs-Steuerkreis 222 verbunden. Mit dem
Datenübertragungskreis 215a des Systems A ist ein
I/O-A-Steuerkreis 224a zur Belieferung des ersteren mit
einem Übertragungsimpulssignal ATDa verbunden. Auf
ähnliche Weise beschickt ein I/O-B-Steuerkreis 224b den
Datenübertragungskreis 215b des Systems B mit einem
Übertragungsimpulssignal ATDb. Die Steuereinheiten 224a,
224b steuern die Datenübertragung auf den genannten
Leitungen 212a, 212b (DQ) in Abhängigkeit von den Ausgangssignalen
eines 4-Bit-Schieberegisters 204 und eines
Detektors 206.
Die I/O-Leitungen DQ0-DQ3 sind auch an den Eingabepuffer
28 über die betreffende Zahl von 4 MOSFETs Q14-Q17 und
die gleiche Zahl von Verriegelungskreisen 226 angeschlossen.
Die FETs Q14-Q17 wirken als Eingangsstufen-
Übertragungsgatterteil 228 für den DRAM 200.
Eingabedatenbits Din werden sequentiell durch
Verriegelungsglieder 226 verriegelt und dann über die
FETs Q14-Q17 auf I/O-A- und -B-Leitungen 212a bzw. 212b
entwickelt. Gewünschtenfalls können diese Verriegelungsglieder
226 durch zwei Verriegelungsglieder ersetzt
werden, von denen das eine mit den I/O-A-Leitungssegmenten
212a, das andere mit den I/O-B-Leitungssegmenten
121b zusammengeschaltet ist.
Der Spaltendecodierer 210 arbeitet in Abhängigkeit vom
Spaltenadreßeingang, der eine j-te (j=1, 2, . . ., n)
Spaltenwählleitung CSLj bezeichnet. Unter Verwendung der
vorher erwähnten Vorgriffsfunktion aktiviert der
Decodierer 210 die Spaltenwählleitung CSLj und ihre
benachbarte Spaltenwählleitung CSLj+1 gleichzeitig
potentialmäßig. Da jede der Spaltenwählleitungen CSL
über Übertragungsgatter 42 mit zwei benachbarten Bitleitungen
BLi und BLi+1 verbunden ist, werden dabei vier
Bitleitungen BL, welche den vier aufeinanderfolgenden
Spalten entsprechen, tatsächlich mit den I/O-Leitungen
DQ0, DQ1, DQ2, DQ3 verbunden. Die FETs Q10-Q13 des
Übertragungsgatters 216 werden wie folgt angesteuert: Die
FETs Q10, Q11 schalten zuerst durch; die FETs Q11 und Q12
schalten anschließend durch; die FETs Q12 und Q13
schalten durch, während zuletzt die FETs Q13 und Q10
durchschalten. Die Datenbits in erstem und zweitem
Verriegelungsglied 220a bzw. 220b werden über den Ausgabepuffer
30 zum Datenausgang Dout übertragen, von welchem
sie abwechselnd weitergeleitet werden.
Der DRAM 200 arbeitet auf die im folgenden beschriebene
Weise. Die zugeordnete Impulsfolge ist in
den Fig. 17A und Fig. 17B dargestellt. Zum Zwecke der Erläuterung
sei angenommen, daß der DRAM 200 sequentiell eine
Auslese-, eine Einschreib-, eine Auslese-, eine Auslesemodifiziereinschreib-
und eine Ausleseoperation in der
angegebenen Reihenfolge während eines der aktiven Zyklen
des Signals durchführt. In den genannten
Zeitsteuerdiagrammen stehen hinzugefügte, in Kreise
gesetzte Zahlen 0, 1, 2, . . ., 10 für Wählzyklen der Bitleitungen
BL.
Zunächst wird eine Zeilenadresse an der abfallenden
Flanke eines extern zugespeisten Zeilenadreßabtastsignals
abgerufen, so daß eine angewählte Wortleitung WL
aktiviert werden kann. Speicherzellendaten für diese
Zeile werden auf die Bitleitung BL ausgelesen und vor dem
Verriegeln durch den Bitleitungs-Leseverstärker 40
verstärkt. Nach erfolgtem Zeilenadreßabruf wird eine
Spaltenadresse abgerufen. Vor dem Spaltenadreßabruf
werden jedoch die Spaltenwählleitungen CSLr für die gleiche
Spaltenadresse wie die Zeilenadresse und die nächste
Spaltenwählleitung CSLr+1 gleichzeitig aktiviert. Die
über die Leitung CSLr gewählten Bitleitungsdaten werden
über die Daten-Ein/Ausgabe- bzw. I/O-Leitungen DQ zu
Ausgabedatenverriegelungskreisen 220 über die ersten und
zweiten Datenübertragungskreise 215a, 215b übertragen.
Die obige Operation entspricht der "Vorphase" zum selektiven,
nacheinander erfolgenden Aktivieren der Spaltenwählleitungen
CSL durch das anschließende Kippen
des Signals .
Wenn der Adreßeingang von der Zeilenadresse auf die
Spaltenadresse umgeschaltet wird, werden zwei durch diese
Adresse angewählte Spaltenwählleitungen gleichzeitig
aktiviert. Es sei angenommen, daß die Spaltenwählleitung
CSL0 und die nächste Spaltenwählleitung CSL1 gleichzeitig
aktiviert werden. Zu diesem Zeitpunkt sind die vorher
angewählten Spaltenwählleitungen CSLr und CSLr+1
deaktiviert. Der Adreßübergangsdetektor 206 detektiert
einen solchen Adreßübergang; die Steuereinheiten
224a und 224b erzeugen Datenübertragungsimpulse
ATDa bzw. ATDb. Mit diesen Impulsen als Triggersignale
werden die Daten auf den beiden mittels der Spaltenwählleitung
CSL0 angewählten Bitleitungen gleichzeitig über
die Datenverriegelungskreise 220a, 220b durch die Datenübertragungskreise
215a, 215b von System A bzw. B übertragen
(vgl. 240-2, 241-2, 244-2, 245-2 in Fig. 17B). Das
Ausgangssignal des Schieberegisters 204 befindet sich im
Zustand zum Wählen der Datenwählleitung DSL0, und die FETs
Q10, Q11 im Wählgatter 216 werden durch die
Steuereinheit 222 durchgeschaltet, während die Datenübertragungsimpulse
ATDa, ATDb den Pegel H halten, bis
die Potentialänderung der Spaltenwählleitung CSL abgeschlossen
ist.
Es sei darauf hingewiesen, daß die obige Operation für
den Fall gilt, in welchem die Eingangs- oder Eingabespaltenadresse
das untere Bit der zwei durch CSL0 oder
das System A gewählten Bits, ausgedrückt als Adresse,
wählt. Wenn andererseits die Eingangsspaltenadresse das
obere Bit (System B) der Spaltenwählleitung CSL0 wählt,
werden das obere Bit der beiden durch die
Spaltenwählleitung CSL0 gewählten Bits und das untere Bit
der beiden durch die nächste Spaltenwählleitung CSL1
gewählten Bits gleichzeitig zu den Ausgabedatenverriegelungskreisen
übertragen. Da das Umschalten des Adreßeingangs
zur Spaltenadresse gemäß Fig. 17A in bezug auf den
Anstieg der Wortleitung WL langsam erfolgt, werden die
Spaltenadreßdaten vorübergehend übertragen. Eine Beschleunigung
des Zeittakts der Adreßumschaltung ermöglicht
es, daß allein die Spaltenadreßdaten von Anfang an
übertragen werden. Wenn weiterhin vor dem Anstieg von
erneut eine Adreßumschaltung durchgeführt wird, wird die
durch die neue Adresse angewählte Spaltenwählleitung CSL
aktiviert, so daß die Zweibit-Leitungsdaten erneut
übertragen werden. Die obige Operation entspricht im
wesentlichen derjenigen eines üblichen, im gewöhnlichen
Schnellseitenmodus arbeitenden DRAMs.
Wenn das Signal , wie durch 230-1 in Fig. 17A angegeben,
abfällt, werden die Eingabeadreßdaten
als "obere Spaltenadresse" im Reihenadreßzähler 202 und
im Schieberegister 204 verriegelt. Die in den Datenverriegelungskreisen
220a, 220b befindlichen Daten können
zum Ausgang Dout übermittelt werden. Der logische Zustand
des untersten Adreßbits (A0) bestimmt, welche Daten
ausgegeben werden sollen, die einen im Verriegelungsglied
220a oder die anderen im Verriegelungsglied 220b. Wenn A0
gleich L ist, werden die Daten des Systems A ausgegeben;
anderenfalls (A0=H) werden die Daten des Systems B
ausgegeben. Die Fig. 17A und 17B veranschaulichen lediglich
aus Erläuterungsgründen den Fall A0=L. Wenn ,
wie durch 230-2 in Fig. 17A gezeigt, ansteigt, wird das
Wählsignal des Schieberegisters 204 geändert, um die
bezeichnete Datenwählleitung DSL0 auf DSL1 umzuschalten.
Im Übertragungsgatterteil 216 geht der FET Q10 des
Systems A in den Sperrzustand. Wahlweise kann der FET Q12
des gleichen Systems (A) durchschalten. Der FET Q11 des
Systems B bleibt durchgeschaltet. Hierbei werden die
Daten der Bitleitung BL2, die bereits durch den vorhergehenden
Übertragungsimpuls ATDa aktivierte Spaltenwählleitung
CSL1 gewählt sind, über die I/O-Leitung DQ2 und
die Datenleitung RDa (vgl. 244-1, 244-3 in Fig. 17B) zum
Verriegelungsglied 220a übertragen. Der beim Anstieg von
generierte Datenübertragungsimpuls ATDa kann eine
schmälere Breite als der vorhergehende Impuls ATDa
besitzen, der durch den vor dem Abruf der Spaltenadresse
auftretenden Adreßübergang erzeugt wird. Dies ist deshalb
der Fall, weil die Spaltenwählleitung CSL bereits um
einen Zyklus früher aktiviert worden ist.
Wenn potentialmäßig abfällt (230-3 in Fig. 17A), wird
die Dateneinheit auf der Bitleitung BL1, die bereits zum
Datenverriegelungsglied 220b übertragen worden ist,
ausgegeben. Wenn ansteigt (230-4 in Fig. 17A),
schaltet das Schieberegister 204 die Datenwählleitung
DSL1 auf die nächste Datenwählleitung DSL2 um und gibt
diese frei. Die Daten auf der Bitleitung BL3 werden zum
Verriegelungsglied 220b über Leitungen DQ3, RDb
übertragen (243-1, 245-3 in Fig. 17B). Zu diesem
Zeitpunkt wird der Inhalt des Adreßzählers 202
inkrementiert, um die angewählte Spaltenwählleitung CSL
zu ändern. Beispielsweise fällt die Spaltenwählleitung
CSL0 im Potential ab, während die Spaltenwählleitung
CSL2 ansteigt. Während der Potentialänderungen hält die
Spaltenwählleitung CSL1 ihren aktivierten Zustand bei.
Anschließend wird eine ähnliche Operation in Abhängigkeit
von den Kippwirkungen von wiederholt. Mittels dieser
Operation ändert das Schieberegister 204 die Datenwählleitung
DSL einmal in jedem -Zyklus, um sequentiell
vier I/O-Leitungen DQ zu wählen, so daß Daten auf der mit
der angewählten Leitung DQ verbundenen Bitleitung abwechselnd
über die Ausgabedatenleitungen RDa bzw. RDb zum
Ausgabedatenverriegelungsglied 220a bzw. 220b übertragen
werden. Unter Beachtung einer Spaltenwählleitung CSL
bleibt der "Wähl"-Zustand dieser Leitung CSL für vier
-Zyklen, und er überlappt die angrenzende Spaltenwählleitung
CSL für zwei -Zyklen.
Bei der obigen Operation beginnt in Abhängigkeit von den
aufeinanderfolgenden Kippvorgängen des Signals
die Spaltenwählleitung CSL, welche während des Wählzyklus
dieser Bitleitung die eine Bitleitung BL mit der
I/O-Leitung DQ verbindet, zu einem speziellen oder
spezifischen Zeitpunkt anzusteigen, der drei Zyklen vor
dem Anstieg von beim System A liegt; im System B
liegt dieser Zeitpunkt vier Zyklen vor diesem Punkt. Die
Datenübertragung zum Ausgabeteil beginnt zu einem Zeitpunkt,
der zwei Zyklen vorher liegt. Im
folgenden sei der Wählzyklus (4) zum Wählen z. B. der
Bitleitung BL4 betrachtet. Die Spaltenwählleitung CSL2
wird um drei Zyklen vor dem Potentialanstieg von
aktiviert; zwei Zyklen davor wird der Datenübertragungsimpuls
ATDa aktiviert. In diesem Wählzyklus reicht es
daher aus, die im Ausgabedatenverriegelungskreis gehaltenen
Daten auszugeben. Als Ergebnis werden Auslesedaten
für die Systeme A und B kontinuierlich am Ausgang Dout
ausgegeben, wodurch eine schnelle Reihenzugriffsoperation
gewährleistet wird. Da außerdem die Auslesedaten mittels
des Datenübertragungskreises 215a des Systems A und des
Datenübertragungskreises 215b des Systems B abwechselnd
übertragen werden, ist eine Datenübertragung in der
Hälfte der Periode möglich, die
bei der herkömmlichen Anordnung des Einzelübertragungssystemtyps
erforderlich ist.
In einer Einschreibperiode des DRAMs 200 tritt der
-Zyklus in einen Einschreibzyklus ein, indem das
Einschreibfreigabesignal zu einem Abfall auf den Pegel
L gebracht wird, bevor auf den Pegel L abfällt, und
zwar auf ähnliche Weise wie bei üblichen DRAMs. Wie durch
232-1 in Fig. 17A angedeutet, fällt das Signal vor dem
Abfall (230-6) des -Zyklus (5) ab; =L bleibt bis
zum -Zyklus (7) erhalten, so daß ein kontinuierliches
Einschreiben oder Einlesen ausgeführt wird. Obgleich der
-Zyklus (5) ein Wählzyklus für Bitleitung BL5 ist,
sind die Daten auf den Bitleitungen BL5, BL6 in der oben
beschriebenen Ausleseoperation bis zur Aktivierung des
-Zyklus (4) (230-5) bereits zu den betreffenden
Verriegelungsgliedern 220b, 220a übertragen
worden. Der Abfall von in diesem Zyklus (5) bewirkt
die Einschreiboperation; damit werden Eingabedaten
in den Chip mittels des Eingabepuffers 28 abgerufen
und im Verriegelungsglied 226-1 im Eingabedatenverriegelungskreis
226 verriegelt.
Wenn der FET Q16 durch ein Gattersteuersignal
WGT1 im Übertragungsgatterteil 228 durchgeschaltet wird,
werden die verriegelten Daten zur I/O-Leitung DQ1 übertragen
(246-1 in Fig. 17B). Die Daten werden auf der
Bitleitung BL5 über den FET Q6 geführt,
angewählt durch die Spaltenwählleitung CSL2. Der Ausgang
des Puffers 30 befindet sich in einem Hochimpedanzzustand.
Wenn das Signal ansteigt (230-7), wird die
Operation des Adreßzählers 202 durch die Steuereinheit
208 angehalten, bis die Dateneinschreibung in diesem
Zyklus abgeschlossen ist, und zwar im Gegensatz zum
obigen Auslesezyklus, in welchem das Inkrementieren oder
Hochzählen des Inhalts bzw. Zählstands des Adreßzählers
202 unmittelbar die Spaltenwählleitung CSL zu ändern
beginnt. Es ist darauf hinzuweisen, daß in diesem
Einschreibzyklus ebenfalls das Schieberegister 204
unmittelbar am Anstieg von angesteuert wird, um die
Auslesedatenübertragung wie im Zyklus (7) auszuführen
(243-2, 245-5 in Fig. 17B).
In den nächsten -Einschreibzyklen (6) und (7) werden
ebenfalls Einschreibdaten sequentiell in den Verriegelungskreisen
226-2, 226-3 verriegelt. Die FETs Q15, Q17
des Übertragungsgatters 228 werden durchgeschaltet, so
daß Einschreibdaten auf den Bitleitungen BL6, BL7 über
die betreffenden I/O-Leitungen DQ2, DQ3 gesandt werden
(247-1, 248-1 in Fig. 17B). Auf diese Weise können die
aufeinanderfolgenden Einschreiboperationen durch Verwendung
von vier oder zwei Eingabeverriegelungskreisen 226
aufeinander "überlappt" werden, wodurch das Einschreiben
von Reihendaten in einem kürzeren Zyklus bzw. einer
kürzeren Zeitspanne gewährleistet
wird.
Während der obigen Einschreiboperation sind Datenbits auf
den in den Wählzyklen (8) und (9) erhaltenen oder ermittelten
Bitleitungen beim Anstieg von zu den Ausgabedatenverriegelungskreisen
220 übertragen worden. Gemäß
Fig. 17A ist es daher möglich, die Daten unmittelbar dann
auszugeben, wenn sich der -Zyklus (8) im Auslesezyklus
( =H) befindet.
Im nächsten -Zyklus (9) wird eine "Auslesemodifiziereinschreib"-
Operation durchgeführt, indem später als
die abfallende Flanke von (230-8) zum Abfallen
gebracht wird (232-2). In diesem Zyklus werden Daten im
Verriegelungskreis 220b, der die Datenübertragung bereits
beendet hat, in Abhängigkeit vom Abfall von (232-8)
ausgegeben. Während abfällt (232-2), werden sodann
Daten auf der zugeordneten Bitleitung über die
I/O-Leitung DQ1 vom Eingabedatenverriegelungskreis 226-1
(246-2 in Fig. 17B) zugesandt. Die Daten werden auch
während dieser Einschreiboperation gehalten bzw.
zwischengespeichert.
Wenn bei der beschriebenen Ausführungsform eine Dateneingabe/
ausgabeoperation in bezug auf eine bestimmte
Spalte in einem Reihenzugriffsmodus durchgeführt wird,
wird die spezielle, dieser Spalte
zugeordnete Spaltenwählleitung CSL durch den
Spaltendecodierer 210 so angesteuert, daß sie zumindest drei
Zyklen vor dem Zeitpunkt, zu dem ein entsprechender
Wählzyklus für die spezielle Spalte eingeleitet wird,
zwangsweise potentialmäßig zu einem Anstieg gebracht
wird. Die spezielle Spaltenwählleitung wird auch veranlaßt,
ihren "Wähl"-Zustand zu halten, bis die betreffende
Ausleseoperation oder Einschreiboperation tatsächlich
abgeschlossen ist. Die Übertragung von auf einem Dateneingabe/
ausgabeleitungssegment entsprechend der betreffenden
Spalte ausgelesenen Daten wird mindestens zwei
Zyklen vor Beginn des Wählzyklus für die obige Spalte
zwangsweise eingeleitet. Zwei kontinuierliche oder
fortlaufende Spalten von Datenbits werden durch ersten
und zweiten Datenübertragungsgatterteil 215a bzw. 215b
abwechselnd ausgelesen. Eine Einschreiboperation wird so
gesteuert, daß sie in dem genauen Wählzyklus für die
genannte Spalte einsetzt.
Mit dieser Anordnung können die Spaltenwählleitungen, die
gleichzeitig zwei entsprechende Spalten von Bitleitungsdaten
anwählen, vor dem eigentlichen Wählzyklus
durch den Spaltendecodierer 210 aktiviert werden, so
daß die beiden aufeinanderfolgenden Spaltenwählleitungen
praktisch gleichzeitig angewählt werden. Zur Erleichterung
dieses Vorgangs enthält der DRAM 200 vier Daten-
I/O-Leitungen DQ. In einem Auslesemodus der Reihenzugriffsoperation
werden vier aufeinanderfolgende Spalten
von Bitleitungsdatenbits, die durch die beiden Spaltenwählleitungen
gewählt worden sind, auf die vier
Daten-I/O-Leitungen verteilt; diese Datenbits können
abwechselnd und fortlaufend durch die Datenübertragungsteile
215a, 215b der beiden Systeme A und B ausgelesen
werden. Die gleichen Ausführungen gelten auch für einen
Einschreibmodus. Durch die Anwendung einer solchen
"Verschachtelungs"-Technik kann ein schneller fortlaufender
Reihenzugriff in Spaltenrichtung mit einem
beliebigen Punkt als Startadresse in
bezug auf die gesamten Speicherzellen, die durch eine
Wortleitung angewählt worden sind, ohne Verwendung eines
Datenregisters großer Abmessungen gewährleistet werden,
um damit die Auslese-, Einschreib- und Auslese-
Modifiziereinschreiboperationen zu realisieren.
Fig. 18 veranschaulicht den Schaltungsaufbau des
Spaltendecodierers 210, und Fig. 19 ist das zugeordnete
Zeitsteuerdiagramm. Eine Anzahl von mehrere Eingänge
aufweisenden UND-Gliedern 250-1, 250-2, 250-3, . . . sind zum
Decodieren der Spaltenadresse vorgesehen. Die UND-Glieder
250 weisen Ausgangsknotenpunkte N auf, die jeweils mit
den ersten Eingängen von ODER-Gliedern 258-1, 258-2,
258-3, . . . mit jeweils drei Eingängen verbunden sind. Jedes
ODER-Glied 258 ist an seinem zweiten Eingang mit dem
ersten Eingang des ODER-Glieds in der vorgeschalteten
Stufe verbunden. Beispielsweise ist der zweite Eingang
des ODER-Glieds 258-2 mit dem ersten Eingang des ODER-
Glieds 258-1 verbunden. Die ODER-Glieder 258 sind jeweils
mit UND-Gliedern 260 versehen. Jedes ODER-Glied 260 weist
einen mit einer Steuersignalleitung (SERL) 262 verbundenen
ersten Eingang, einen über eine Laufzeit- oder
Verzögerungsschaltung 264, die als Rauschunterdrücker
dient mit dem Ausgang des Mehreingang-UND-Glieds 250
verbundenen zweiten Eingang und einen mit dem dritten
Eingang des zugeordneten Dreieingang-ODER-Glieds 258
verbundenen Ausgang auf. Die Ausgänge der ODER-Glieder
258 sind jeweils an Spaltenwählleitungen CSL angeschlossen.
In Abhängigkeit von einer Eingangs- oder Eingabespaltenadresse
geht einer der Ausgangsknotenpunkte Nj
(j=1, 2, . . ., n) der UND-Glieder 250 auf den hohen
Pegel H über. Diese Potentialänderung des Knotenpunktes
Nj hat eine gleichzeitige Aktivierung des ODER-Glieds
258-2 und seines nachgeschalteten ODER-Glieds 258-3 zur
Folge.
Der Spaltendecodierer 210 gemäß Fig. 18 arbeitet auf die
im folgenden beschriebene Weise. Gemäß Fig. 19 erhöht
sich die Spaltenadresse ACj um 1 für zwei Kippvorgänge
(zwei Zyklen) des Signals . In Synchronismus mit
dieser Spaltenadreßinkrementierung ändern sich die
Ausgangsknotenpunkte Nj-1, Nj, Nj+1, . . . in der angegebenen
Reihenfolge auf den Pegel H. Da beispielsweise die
Spaltenwählleitung CSLj durch die ODER-Operation der
Knotenpunkte Nj-1 und Nj aktiviert wird, bleibt die
Spaltenadresse von j-1 bis j auf dem Pegel H. Zum Zeitpunkt
des Übergangs von j auf j-1 kann jedoch Kontaktstörsignal
auftreten. Die Phase des
Signals am Knotenpunkt Nj-1 wird durch die Verzögerungsschaltung
264-2 verzögert, so daß dieses Signal das
Signal am Knotenpunkt Nj teilweise überlappt und damit
das Auftreten eines solchen Störsignals verhindert wird.
Das den UND-Gliedern 260 einzuspeisende Steuersignal SERL
nimmt im Reihenzugriffsmodus den Pegel H, in den anderen
Operationen den Pegel L an. Im Reihenzugriffsmodus
arbeitet daher die Verzögerungsschaltung 264 auf oben
beschriebene Weise, um das Auftreten von Kontaktstörsignalen
zu verhindern. Da das Signal SERL in den anderen
Moden auf dem Pegel L bleibt, wird der Knotenpunkt Nj′
durch das UND-Glied 260-2 auf den Pegel L gebracht, so
daß das ODER-Glied 258-2 durch die Verzögerungsschaltung
264-2 nicht beeinflußt wird. Mit anderen Worten: die
Spaltenwählleitung CSLj wird durch die Spannungssignale
an den Knotenpunkten Nj, Nj-1 unmittelbar angesteuert.
Dies ist deshalb der Fall, weil in den anderen, vom
Reihenzugriffsmodus verschiedenen Moden die Adreßumschaltung
nicht notwendigerweise an aufeinanderfolgenden
Adressen vorgenommen wird, und eine Mehrfachwahl von
Spaltenwählleitungen, einschließlich einer unnötigen
Spaltenwählleitung, stattfindet, wenn die Verzögerungsschaltung
264 aktiv bleibt.
Wenn sich beispielsweise die Spaltenadresse von ACn auf
ACm ändert, werden die Spaltenwählleitungen von den
Leitungen CSLn, CSLn+1 auf die Leitungen CSLm, CSLm+1
umgeschaltet. Da das Rücksetzen des Knotenpunkts
Nn+1′ mit dem Steuersignal SERL=H verzögert
wird, findet die Mehrfachwahl der Spaltenwählleitungen
CSLn+1 und CSLm (oder CSLm+1) statt, was ein Problem im
Betrieb der Schaltung aufwirft. Dieses Steuersignal SERL
wird beispielsweise so angesteuert, daß es zum Voraufladezeitpunkt
den Pegel L besitzt, nach einer vorbestimmten
Verzögerungszeit τ von der ersten abfallenden Flanke des
Signals den Pegel H erreicht und den Pegel H in
Abhängigkeit vom folgenden Kippen des Signals beibehält.
Fig. 20 veranschaulicht beispielhaft den Innenaufbau des
Datenausgabekreises gemäß Fig. 16, nämlich der Ausgabedatenverriegelungskreise
220a, 220b und des Ausgabepuffers
30 in den Datenübertragungskreisen 215a, 215b. Der
Datenverriegelungskreis 220a des Systems A umfaßt Verriegelungskreise
270-1, 270-2, die in einem Paar von
Datenausgabeleitungen RDa, vorgesehen sind, welche an
die beiden Ausgangsknotenpunkte des I/O-Leseverstärkers
218a angeschlossen sind. Der Datenverriegelungskreis 220b
des Systems B umfaßt ebenfalls zwei Verriegelungskreise
270-3, 270-4. Der Ausgabepufferkreis 30 enthält einen
Ausgabe-FET Q50 vom P-Kanal-Typ, einen Ausgabe-FET Q51
vom N-Kanal-Typ, einen P-Kanal-Rücksetz-FET Q52 und einen
N-Kanal-Rücksetz-FET Q53, die sämtlich den Systemen A und
B gemeinsam sind.
Fig. 21 veranschaulicht das zugeordnete Wellenformdiagramm
des Datenausgabeteils gemäß Fig. 20. Komplementäre
Daten für das System A und komplementäre Daten für das
System B werden jeweils in Datenverriegelungskreisen 220a
bzw. 220b durch jeweilige Einstellung von Verriegelungssignalen
und auf den Pegel H abgerufen.
Diese Daten werden dahin durch jeweilige Einstellung der
Verriegelungssignale , auf dem Pegel L
verriegelt. Durch abwechselnde Einstellung der Signale
ENBLa, ENBLb auf den Pegel H werden die verriegelten
Datenbits durch FETs Q50, Q51 in der bezeichneten Reihenfolge
sequentiell ausgegeben. Gemäß Fig. 21 wird ein
Rücksetzsignal RESET auf den Pegel H gesetzt, wenn eine
Systemumschaltung zwischen den Systemen A
und B stattfindet, wodurch die FETs Q50, Q51 zum Sperren
gebracht werden, um die nächste Datenausgabe abzuwarten.
Hierdurch können der Eindringstrom reduziert und ein
schnelles Umschalten der Ausgabedaten sichergestellt
werden.
Eine weitere Anordnung des Datenausgabeteils ist in Fig. 22
dargestellt, in welcher der Ausgabepuffer 30 getrennt
für die Systeme A und B vorgesehen ist. Insbesondere ist
das System A mit einem P-Kanal-Ausgabe-FET Q60, einem
N-Kanal-Ausgabe FET Q61 sowie Rücksetz-FETs Q64, Q65, die
jeweils mit den Gateelektroden der FETs Q60, Q61 verbunden
sind, versehen. Das System B umfaßt einen P-Kanal-
Ausgabe-FET Q62, einen N-Kanal-Ausgabe FET Q63 sowie
Rücksetz-FETs Q66, Q67, die jeweils mit den
Gateelektroden der FETs Q62, Q63 verbunden sind.
Die zugeordneten Impulsfolgen für die Schaltung gemäß
Fig. 22 sind in Fig. 23 dargestellt. Da bei dieser
Schaltungsanordnung für den Ausgabeteil zwei identische
Schaltkreise bereitgestellt und ihre Steuertakte durch
die gleichen Schaltkreise erzeugt werden
können, läßt sich der Ausgabeteil einfach durch Verwendung
einer gewöhnlichen Schaltungsanordnung ohne Reihenzugriffsfunktion
realisieren. Da außerdem das Rücksetzsignal
nicht die Impulsform gemäß Fig. 21 aufzuweisen
braucht, wird ein schnelleres Datenumschalten gewährleistet.
Fig. 24 veranschaulicht beispielhaft eine Schaltung zum
Erzeugen des Ausgabefreigabesignals ENBL gemäß der
Erfindung. In Fig. 24 steht "E-WRITE" für ein Ausgabesperrsignal,
das in einem frühen Einschreibmodus den Pegel H
besitzt. Die das Signal ENBL erzeugende Schaltung umfaßt
ein NOR-Glied 280, welches die Signale E-WRITE und
abnimmt, ein UND-Glied 282, dessen eine Eingangsklemme
mit dem Ausgabeknotenpunkt ND1 des NOR-Glieds 280 verbunden
ist, eine zwischen dem Knotenpunkt ND1 und der
anderen Eingangsklemme des UND-Glied 282 angeordnete
Verzögerungsschaltung 284 sowie ein ODER-Glied 286. Die
Verzögerungsschaltung 284 ist vorgesehen
zum Verzögern der Erzeugung des Freigabesignals ENBL in
Abhängigkeit von der abfallenden Flanke des
Signals zwecks Verhinderung einer Störung oder
Fehlfunktion der Erzeugungsschaltung. Das ODER-Glied 286
dient zum Sperren der Verzögerungsschaltung
284 in einem Reihenzugriffsmodus.
Fig. 25 veranschaulicht die zugeordneten Impulsfolgen
des Freigabesignal-Generatorkreises gemäß
Fig. 24. In einem Auslesemodus gilt E-WRITE=L, so daß
am Ausgangsknotenpunkt ND1 des ODER-Glieds
280 ein phaseninvertiertes Signal von erscheint. Wenn
das über das UND-Glied 282 erhaltene Freigabesignal ENBL
den Pegel H aufweist, ist der Ausgabedatenverriegelungskreis
mit dem Ausgabepuffer-FET verbunden, so daß Daten
ausgegeben werden. Es sei angenommen, daß der Eingabezeitpunkt
der Spaltenadresse dicht an der
ersten abfallenden Flanke (288 in Fig. 25) des Signals
und die Adreßaufstellzeit Tacs dicht bei 0 liegen.
Wenn das Freigabesignal ENBL in Abhängigkeit vom Abfall
des Signals ansteigt, werden vor dem Übergang der
Spaltenadresse vorübergehend fehlerhafte Daten ausgegeben
(290 in Fig. 25), worauf die echten Daten ausgelesen
werden (292 in Fig. 25). Eine solche Funktion verändert
drastisch die Ausgabedaten unter Erzeugung eines großen
Störsignals, das andere Schaltkreise zu einer Fehlfunktion
bringen kann. Zur Verhinderung eines solchen Falls,
ist die Verzögerungsschaltung 284 vorgesehen; sie erreicht
eine UND-Verknüpfung des Signals am Knotenpunkt
ND1 und des die Verzögerungsschaltung 284 durchlaufenden
Signals, um dabei die Erzeugung des Freigabesignals ENBL
in Abhängigkeit vom Abfall des Signals um τ zu verzögern.
Im Reihenzyklus nach 2 Zyklen des Signals CAS
werden die Daten mit dem Anstieg des Signals (294 in
Fig. 25) umgeschaltet, wobei neue Daten bereits im
Ausgabeverriegelungskreis verriegelt worden sind, wenn
das Signal das nächstemal abfällt (296 in Fig. 25).
Es wird damit unnötig, eine Verzögerung zwischen diesen
Signalen und ENBL vorzusehen. Im Reihenmodus steigt
daher das Steuersignal SERL an, um die Verzögerungsschaltung
284 zu deaktivieren; das Freigabesignal ENBL
steigt in Synchronismus mit dem Abfall des Signals
an, wodurch ein schneller Zugriff gewährleistet wird.
Obgleich beispielsweise das Signal als
Synchrontakt eines Reihenzyklus benutzt wird, kann ebenso
ein anderes Taktsignal benutzt werden. Obgleich weiterhin
die "Auslese-Modifiziereinschreibung" durch Verzögerung
des Abfalls des Einschreibfreigabesignals in Abhängigkeit
vom Abfall des Signals gemäß dieser Ausführungsform
ausgeführt wird, kann ein anderer Steuerstift
als Auslese-Modifiziereinschreibfreigabesignal benutzt
bzw. mit diesem belegt werden.
Fig. 26 veranschaulicht am Beispiel einer Steuerschaltung
300 zur Erzeugung des Ausgabe-Freigabesignals ENBL und
des Einschreibsignals WRITE, wobei die DRAM-Packung einen
exklusiven Stift aufweist, der zum
Steuern der Auslese-Modifiziereinschreiboperation benutzt
wird. Zum Erfassen des Abfalls des Signals und der
Ausgabe des Ausgabe-Freigabesignals ENBL, wenn das
Einschreibfreigabesignal den Pegel H besitzt, ist ein
Flip-Flop 302 vorgesehen, das die Signale und über
Inverter 304 bzw. 306 abnimmt. Ein Ausgang des Flip-Flops
302 bildet über den Inverter 308 eine Ausgangsklemme für
das Ausgabe-Freigabesignal ENBL. Mit ist ein
Eingangssignal bezeichnet, das von dem für die
Auslese-Modifiziereinschreiboperation hinzugefügten
exklusiven Stift kommt. Weiterhin sind ein NOR-Glied 310
für eine NOR-Verknüpfung der Signale und sowie ein
NOR-Glied 312 für eine NOR-Verknüpfung der Signale
und in der Weise vorgesehen, daß die Ausgangssignale
der NOR-Glieder 310 und 312 über ein ODER-Glied 314 als
Signal WRITE ausgegeben werden.
Fig. 27 ist ein Zeitsteuerdiagramm zur Verdeutlichung der
Arbeitsweise dieser Steuerschaltung. Je nach der Reihenfolge
oder Größe des abfallenden Signals und
des Einschreibfreigabesignals wählt das Flip-Flop 302
entweder den "Einschreib"- oder den "Auslese-
Modifiziereinschreib"-Modus, wie dies nachstehend noch
näher erläutert werden wird. Wenn das Signal abfällt,
während und auf dem Pegel H bleiben (Zyklus 1),
erfaßt das Flip-Flop 302 diesen Zustand, und es setzt das
Freigabesignal ENBL auf den Pegel H, um damit den Auslesemodus
einzustellen. Wenn das Signal vor dem Signal
abfällt, während das Signal auf dem Pegel H
bleibt, bleibt das Signal ENBL auf dem Pegel L, wobei
keine Daten ausgegeben werden. Als Ergebnis geht das
Ausgangssignal des NOR-Glieds 312 auf den Pegel H, so daß
das Einschreibsignal WRITE zum Einstellen des Einschreibmodus
zum Anstieg gebracht wird ( -Zyklus (2)).
Wenn das Signal nach dem Signal abfällt, steigt
das Signal ENBL so an, daß Daten ausgegeben werden. Das
Abfallen des Signals WE bringt außerdem das Ausgangssignal
des NOR-Glieds 310 auf den Pegel H, wodurch das
Einschreibsignal WRITE auf den Pegel H gesetzt wird, so
daß die Einschreiboperation in paralleler Weise durchgeführt
wird ( -Zyklus (3)). Wie bereits in Verbindung
mit den vorherigen Ausführungsformen beschrieben, ist
diese Operation der durch das Signal gesteuerte
Auslese-Modifiziereinschreibvorgang. Wenn das Steuersignal
vom exklusiven Stift anstelle des Signals
zum Abfall gebracht wird, setzt das Abfallen des Signals
sowohl das Freigabesignal ENBL als auch das Einschreibsignal
WRITE auf den Pegel H, wodurch ebenfalls
der Auslese-Modifiziereinschreibmodus gesetzt wird,
welcher parallele Datenausgabe und Dateneinschreibung
zuläßt ( -Zyklus (4)).
Da die Einschreiboperation im Auslese-Modifiziereinschreibmodus,
wie im -Zyklus (4), durch den Abfall des
Signals eingeleitet wird, ist die Dauer des
Einschreibsignals WRITE, das in der gleichen -
Zyklusperiode auf dem Pegel H liegt, länger als diejenige
im -Zyklus (3). Mit anderen Worten: gemäß Fig. 27 gilt
T4<T3. Der den exklusiven Stift einbeziehende Auslese-
Modifiziereinschreibmodus bietet einen größeren
Betriebsspielraum als im Falle des gleichen Modus bei der
vorher beschriebenen Ausführungsform.
Die Erfindung ist auch auf verschiedene andere, von DRAMs
verschiedene Arten von Speicheranordnungen, wie SRAMs
oder PROMs, anwendbar. Weiterhin können die beschriebenen
Systeme A und B in eine größere Zahl von Systemen unterteilt
werden, z. B. in 4, 8 usw. Systeme.
Claims (15)
1. Serienzugriff-Speicheranordnung (10, 80, 140, 200),
umfassend:
- - ein Array von in Zeilen und Spalten angeordneten Speicherzellen (MC),
- - einen mit den Zeilen der Speicherzellen (MC) verbundenen Zeilendecodierer (22) zum Anwählen einer der Zeilen der Speicherzellen (MC) in Abhängigkeit von einem extern zugespeisten Zeilenadreßsignal und
- - einen durch Spaltenwählleitungen (CSLO, CSL1,
. . ., CSLn-1, CSLn, CSLn+1, CSLn+2) mit den Spalten
der Speicherzellen (MC) verbundenen Spaltendecodierer
(24, 70, 74) zum seriellen Decodieren
von Spalten in einer vorbestimmten Reihenfolge
durch Bezeichnen einer bestimmten Spalte, die gerade
in Abhängigkeit von einem extern zugespeisten
Eingangs-Spaltenadreßsignal gewählt ist,
dadurch gekennzeichnet, daß - - der Spaltendecodierer eine Spaltenaktiviereinheit
(SG) aufweist, um
- - potentialmäßig eine Spaltenwählleitung (CSLn-1) entsprechend der gewählten Spalte in einem Lesezyklus einer Serie von Lesezyklen, die durch ein externes Spaltenadreßabtastsignal () festgelegt sind, das sich potentialmäßig abwechselnd zwischen einem ersten und einem zweiten Pegel ändert, zu aktivieren und um
- - gleichzeitig eine andere, hierzu benachbarte Spaltenwählleitung (CSLn) während des einen Lesezyklus zu aktivieren oder vorzuaktivieren, so daß die Aktivierung dieser anderen Spaltenwählleitung (CSLn) abgeschlossen werden kann, bevor das Spaltenadreßabtastsignal () in einen nachfolgenden Lesezyklus eintritt.
2. Speicheranordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch einen mit dem Spaltendecodierer (24, 70, 74)
verbundenen Adreßzähler (36) zum Einleiten eines
Zählvorgangs in Abhängigkeit von einem Spaltenadreßabtastsignal
() und zum Generieren interner Spaltenadressen
in einer vorbestimmten Reihenfolge synchron
mit dem Spaltenadreßabtastsignal ().
3. Speicheranordnung nach Anspruch 2, gekennzeichnet
durch eine Verriegelungseinrichtung (46, 48) zum
Zwischenspeichern von Informationsbits, die in denjenigen
Speicherzellen (MC) der einen Zeile der
Zeilen von Speicherzellen gespeichert sind, welche
der gewählten Spaltenwählleitung (CSLn-1) und der
der anderen Spaltenwählleitung (CSLn) zugeordnet
sind, und zum selektiven Ausgeben einwandfreier Informationsbits
in einem entsprechenden Lesezyklus
der seriellen Leseoperation.
4. Speicheranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verriegelungseinrichtung (46, 48)
auf den Adreßzähler (36) anspricht und die darin gehaltenen
Informationsbits in Abhängigkeit von den
internen Spaltenadressen in Reihe ausgibt.
5. Speicheranordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Spaltenwählleitungen (CSL0, CSL1,
. . ., CSLn-1, CSLn, CSLn+1, CSLn+2) an ersten Enden
mit Ausgängen des Spaltendecodierers (24) und an
zweiten Enden mit einer Anzahl benachbarter Spalten
verbunden sind, so daß in mindestens vier benachbarten
Speicherzellen gespeicherte Informationsbits
gleichzeitig zu der Verriegelungseinrichtung (46,
48) übertragen werden.
6. Speicheranordnung (80, 140) nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch in Reservespalten angeordnete redundante
Speicherzellen, wobei der Spaltendecodierer
(84, 84a, 86, 86a, 88, 90, 92, 94, 142) mit Spalten
der Speicherzellen und den Reservespalten verbunden
ist.
7. Speicheranordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Spaltendecodierer aufweist:
eine Reservespaltenwählereinrichtung (86a, 92, 142) zum Bezeichnen einer einwandfreien Spalte, welche eine beschädigte Spalte ersetzt, unter den Reservespalten und
eine mit der Reservespaltenwählereinheit verbundene Reservespaltendecodiereinrichtung (84a) zum potentialmäßigen Aktivieren der einwandfreien Spalte, bevor eine entsprechende Adresse dafür extern zugespeist wird.
eine Reservespaltenwählereinrichtung (86a, 92, 142) zum Bezeichnen einer einwandfreien Spalte, welche eine beschädigte Spalte ersetzt, unter den Reservespalten und
eine mit der Reservespaltenwählereinheit verbundene Reservespaltendecodiereinrichtung (84a) zum potentialmäßigen Aktivieren der einwandfreien Spalte, bevor eine entsprechende Adresse dafür extern zugespeist wird.
8. Speicheranordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Reservespaltendecodiereinrichtung
aufweist:
eine Einheit (88, 90) zum Halten einer Adresse der beschädigten Spalte und eine Subtrahiereinheit (92, 142) zum Berechnen einer Adresse, welche derjenigen der beschädigten Spalte um 1 vorhergeht, und zum Halten dieser Adresse darin.
eine Einheit (88, 90) zum Halten einer Adresse der beschädigten Spalte und eine Subtrahiereinheit (92, 142) zum Berechnen einer Adresse, welche derjenigen der beschädigten Spalte um 1 vorhergeht, und zum Halten dieser Adresse darin.
9. Speicheranordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch
mit den Spalten der Speicherzellen verbundene Leseverstärker (40) zum Generieren von Lese-Datensignalen, wobei die Spaltenwählleitungen (CSL) mit jedem Paar der Leseverstärker verbunden sind, um gleichzeitig eine erste Zahl von benachbarten Spalten (BL0, BL1) anzuwählen, und
eine mit den Leseverstärkern (40) verbundene Datenübertragungsleitungseinheit (212) zum Weiterleiten der Ausgangssignale der Leseverstärker, wobei:
die Datenübertragungsleitungseinheit eine zweite Zahl von Leitungssegmenten mit einer ersten Gruppe von Leitungssegmenten (212a, DQ0, DQ2), welche abwechselnden Spalten der Speicherzellen zugeordnet sind, und einer zweiten Gruppe von Leitungssegmenten (212b, DQ1, DQ3), die dem Rest der Spalten der Speicherzellen zugeordnet sind, umfaßt, wobei jede der ersten und zweiten Gruppen von Leitungssegmenten die erste Zahl von parallelen Leitungssegmenten aufweist.
mit den Spalten der Speicherzellen verbundene Leseverstärker (40) zum Generieren von Lese-Datensignalen, wobei die Spaltenwählleitungen (CSL) mit jedem Paar der Leseverstärker verbunden sind, um gleichzeitig eine erste Zahl von benachbarten Spalten (BL0, BL1) anzuwählen, und
eine mit den Leseverstärkern (40) verbundene Datenübertragungsleitungseinheit (212) zum Weiterleiten der Ausgangssignale der Leseverstärker, wobei:
die Datenübertragungsleitungseinheit eine zweite Zahl von Leitungssegmenten mit einer ersten Gruppe von Leitungssegmenten (212a, DQ0, DQ2), welche abwechselnden Spalten der Speicherzellen zugeordnet sind, und einer zweiten Gruppe von Leitungssegmenten (212b, DQ1, DQ3), die dem Rest der Spalten der Speicherzellen zugeordnet sind, umfaßt, wobei jede der ersten und zweiten Gruppen von Leitungssegmenten die erste Zahl von parallelen Leitungssegmenten aufweist.
10. Speicheranordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß der Spaltendecodierer (210) Ausgangssignale
von zwei benachbarten Paaren von Leseverstärkern
(40) sich gleichzeitig auf der zweiten
Zahl von Leitungssegmenten entwickeln läßt.
11. Speicheranordnung nach Anspruch 10, gekennzeichnet
durch eine mit der Datenübertragungsleitung (212)
verbundene Ausgabeeinheit (30, 215, 216, 218) zum
abwechselnden Wählen der Lesedatensignale auf der
ersten Gruppe von Leitungssegmenten (212a) und derjenigen
auf der zweiten Gruppe von Leitungssegmenten
(212b) und zum reihenweisen und externen Weiterleiten
der zweiten Zahl von gewählten Datensignalen.
12. Speicheranordnung nach Anspruch 11, gekennzeichnet
durch ein zwischen den Leseverstärkern (40) und den
Spaltenwählleitungen (CSL) angeordnetes erstes Übertragungsgatter
(42), das auf die Wahl einer Spaltenwählleitung
(CSL0) anspricht und zwei benachbarte
Leseverstärker zur gleichzeitigen Verbindung mit
entsprechenden Datenübertragungsleitungssegmenten
(DQ0, DQ1) einer (212a) der ersten und zweiten Gruppe
von Leitungssegmenten veranlaßt.
13. Speicheranordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausgabeeinheit ein mit der Datenübertragungsleitungseinheit
(212) verbundenes zweites
Übertragungsgatter (216) zum abwechselnden Wählen
von Datensignalen, die auf der ersten Gruppe
von Leitungssegmenten (212a) auftreten, zum abwechselnden
Wählen von Datensignalen, die auf der zweiten
Gruppe von Leitungssegmenten (212b) auftreten,
und zum abwechselnden Wählen der gewählten Datensignale
auf den ersten und zweiten Gruppen von Leitungssegmenten
(212a, 212b) aufweist.
14. Speicheranordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausgabeeinheit eine mit dem zweiten
Übertragungsgatter (216) verbundene Datenverriegelungseinheit
(215) zum Zwischenspeichern der
gewählten Datensignale darin und zum sequentiellen
Ausgeben der gewählten Datensignale in einer vorbestimmten
Reihenfolge innerhalb einer begrenzten
Zeitspanne aufweist.
15. Speicheranordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß die Datenverriegelungseinheit einen
mit der ersten Gruppe von Leitungssegmenten (212a)
verbundenen ersten Verriegelungskreis (220a) und
einen mit der zweiten Gruppe von Leitungssegmenten
(212b) verbundenen zweiten Verriegelungskreis
(220b) aufweist.
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