CN100350783C - 图像读取装置、基准部件异物检测方法 - Google Patents

Abstract

检测对于基准部件的灰尘、污物的附着。图像读取装置具有：从搬送原稿的搬送路径的一侧照射原稿的LED52、接收从原稿反射的的反射光的行感应器(54)、夹持搬送路径相对行感应器(54)配置的白基准带(64)。获取由LED52照射光的强度为100%的情况下行感应器(54)中读取白基准带(64)获取的100%的脱落数据SHD100，与由LED52照射光的强度为50%的情况下行感应器(54)中读取白基准带(64)获取的50%的脱落数据SHD50的差分，将该差分比预先设定的阈值低的部位(像素)判定为灰尘附着的部位(像素)。

Description

图像读取装置、基准部件异物检测方法

技术领域

本发明涉及读取原稿上的图像的装置，较详细地是涉及具有用来进行脱落补偿的基准部件的图像读取装置。

背景技术

以往，复印机或传真机等的读取装置，作为计算机的输入扫描，使用自动地读取原稿的图像信息的图像读取装置。在该种图像读取装置中，使用向与原稿的搬送路径正交的方向上延伸设置的光源，将光照射在原稿上，将从所照射的原稿上反射的反射光接收到图像感受器上，读取原稿上的图像。

由此的图像读取装置中，根据与原稿的搬送路径正交的方向的位置，从光源照射的光量是参差不齐的，而且，在经由时产生所谓的光源光量的变动的样态。产生由此的光量变动后，例如中间色彩图像读取一样形成的原稿的情况下，所输出图像信号具有对应于光源的光量的参差不齐的不均一性。

这里，将向与原稿的搬送路径正交的方向延伸的白色部件(白基准部件)对向光源配置，同时，相对该白基准部件从光源照射光，将从白基准部件反射的反射光在图像感应器中接收，预先获取对应于与原稿的搬送方向相正交的方向的照度分布的补偿数据(脱落数据)，使用以上的方法(参照专利文献1)。随后，在实际的原稿读取操作时，读取原稿，将所得到的图像数据使用脱落数据进行补偿(脱落补偿)，以此除去由光源的光量分布所引起的色彩不匀。

[专利文献1]：特开2001-313794号公报(第3-4页，图3)。

然而，在白基准部件上有附着灰尘或污物的可能，读取这样状态的白基准部件，在所获取的脱落数据中进行读取图象的脱落补偿的情况下，对应于附着灰尘或污物的部位上产生条纹。这样在现有技术中，例如根据感应器或镜面等的移动在白基准部件的多个位置上获取脱落数据，将距离白最近的数据作为脱落数据使用。

然而，在如专利文献1中记载的图像读取装置中，为了将图像感应器和白基准部件固定配置，在白基准部件的多个位置上获取脱落数据较为困难。由此，就不能够排除由附着在基准部件上的灰尘或污物等波及脱落数据所造成的影响，也不能够防止脱落数据的异常所产生的图像数据中的条纹。

发明内容

本发明为用来解决的该技术问题的，其目的是检测对于基准部件的灰尘、污物的附着。

而且，其他目的为检测基准部件中的异常场所。

在所涉及的目的下，本发明所适用的图像读取装置包括有：照射原稿的光源；接收从原稿反射的反射光的感应器；从感应器中读取的基准部件；使用以第一读取条件设定光源或感应器读取基准部件得到的第一读取数据、和以与第一读取条件不同的第二读取条件设定光源或感应器读取基准部件得到第二读取数据，检测第一读取数据或第二读取数据中的异常部位的异常部位检测部分。

这里，异常部位检测部分能够具有检测作为异常部位的在基准部件上附着灰尘或污物的部位的特征。而且，能够具有在第一读取条件和第二读取条件中，根据光源的照射光的强度为不同的特征。另外，可以具有光源为LED(Light Emitting Diode)的特征。而且，可以具有在第一读取条件和第二读取条件中通过感应器测定时间的长度是不同的。另外，可以具有光源为Xe(氙)灯的特征。

随后，异常部位检测部分可以具有将第一读取数据和第二读取数据之间的差的比阈值小的部分作为异常部位进行检测的特征。另外，可以具有第一读取数据将光源的照射光强度设定为读取原稿时的条件来进行获取的特征。另外，可以具有包含对异常部位检测部分上所检测的第一读取数据或第二读取数据中的异常部位的数据进行补偿的补偿部分的特征。

此外，从其他的观点来看，本发明所适用的图像读取装置包括：照射原稿的光源；接收从原稿反射的反射光的感应器；从感应器中读取的基准部件；使用光源和感应器不同的读取条件，基于多次读取基准部件的同一位置的结果，检测基准部件的异常场所的异常场所检测部分。

这里，可以具有在异常场所检测部分上设置不同的读取条件，特征是以感应器读取的相同时间，由光源照射光的强度是不同的。而且，可以具有异常场所的检测部分上设定的不同的读取条件，以由光源的照射光的相同强度，由感应器读取时间的长度是不同的。

而且，本发明根据不同的分类，本发明所适用的基准部件的异物检测方法，包括：以第一读取条件读取基准部件获取第一读取数据的步骤；以与第一读取条件不同的第二读取条件读取基准部件获取第二读取数据的步骤；以及使用第一读取数据和第二读取数据，检测对应基准部件上的异物的附着的步骤。

这里，在检测对于基准部件的异物附着的步骤中，可以具有基于第一读取数据和第二读取数据之间的差是否比预定阈值小，来判定是否有异物附着的特征。而且，可以具有第一读取条件和第二读取条件下由光源照射光的强度是不同的特征。另外，可以具有第一读取条件和第二读取条件上由感应器读取的时间是不同的特征。

按照本发明，能够检测对于基准部件的灰尘、污物的附着。

而且，按照本发明能够检测基准部件中的异常的场所。

附图说明

图1本实施形态所适用的图像读取装置示意图。

图2为用来说明使用CIS的读取结构的图。

图3为用来说明处理装置的模块图。

图4详述信号处理部分的结构的模块图。

图5为表示A集成电路(ASIC-A)的结构模块图。

图6为表示B集成电路(ASIC-B)的结构模块图。

图7为表示C集成电路(ASIC-C)的结构模块图。

图8为存储在闪存ROM(FROM)中的数据例示图。

图9为表示根据图像读取控制器执行处理的一个例子的流程图。

图10的(a)(b)用来说明通过1路径片面读取模式和通过1路径两面同时读取的第二两面读取模式的原稿路径的图。

图11的(a)～(d)为用来说明由反转路径进行两面读取的图。

图12表示扫描装置中(CCD图像感应器)中脱落数据获取的处理的顺序的流程图。

图13表示CIS中的脱落数据获取处理顺序的流程图。

图14为表示CIS的灰尘、污物附着部位的检测中处理顺序的流程图。

图15为表示CIS的100％脱落数据的补偿(补全)中处理顺序的流程图。

图16的(a)～(d)为说明CIS中的脱落数据的获取处理的图。

图17的(a)～(d)为说明CIS中的脱落数据的获取处理的说明续图。

图18为用来说明实施形态2中的CIS的结构的图。

图19为表示CIS中的脱落数据获取处理的顺序的流程图。

符号说明

10…原稿传送装置；           11…原稿托架；

13…引导滚轴；               19…台板滚动轴；

31…第一搬送路；             40…排出托架；

50…CIS；                   50a…外壳；

51…防护玻璃罩；            52…LED；

53…自动聚焦透镜；          54…行感应器；

55…控制部件；              55a…弯折部分；

56…Xe(氙)灯；              57…镜面；

60…突起部分；              64…白基准带；

69…白基准板；              70…扫描装置；

73…全速滑架；              74…Xe(氙)灯；

75…半速滑架；              76A…第一镜面；

76B…第二镜面；             76C…第三镜面；

77…成像透镜；              78…CCD图像感应器；

79…驱动基板；              80…处理装置；

81…信号处理部分；          90…控制部分；

100…第一图像处理电路；     101…第一CPU；

104…RAM；                  110…A集成电路(ASIC-A)；

111…脱落补偿部分；         121…脱落存储器；

130…B集成电路(ASIC-B)；    200…第二图像处理电路；

201…第二CPU；              202…闪存ROM(FROM)；

203…RAM；                  204…存储器；

210…C集成电路(ASIC-C)；    212…脱落补偿部分；

221…脱落存储器

具体实施方式

以下参照附图对实施本发明的最佳形态(以下成为实施形态)进行详细的说明。

实施形态1

图1为适用于本实施例的图像读取装置的示意图。该图像读取装置大致的区别是从所积载的原稿束顺序地搬送原稿的原稿搬送装置10；作为根据扫描器读取图像的第二读取部分的扫描装置70；以及对所读取的图像信号进行处理的处理装置80。

原稿传送装置10作为给纸部分的构成元件的一个例子，具备有积载由多个原稿构成的原稿束的原稿托架11，使得原稿托架11上升或下降的托架升降器12。而且，还具有搬送通过托架升降器12所上升的原稿托架11的原稿的引导滚轴13，将由引导滚轴13上升的原稿托架11的原稿进一步搬送到下游侧的输纸滚轴14、和将由引导滚轴13所提供的原稿均匀地分理为一张的减速滚轴15。在作为最初的搬送原稿的伴送路径的第一搬送路径31中，具有：将被分理为每一张的原稿搬送到下游侧的滚轴上的引出滚轴16、将原稿进一步搬送到下游侧的同时形成环状的预套准调节滚轴17，在停止后配合定时在开启旋转，对原稿读取部分一边施加抵抗定量的调整，一边供给原稿的抵抗滚轴18，协助读取中的原稿的搬送的台板滚轴19，将所读取的原稿进一步搬运至下游侧的外滚轴20。而且，在第一搬送路径31中，具备有对应于所搬送的原稿的环形状态，以支点为中心进行旋转的挡板41。另外，在台板滚轴19和外滚轴20之间设置CIS(Contact Image Sensor)50。

在外滚轴20的下游侧，设置第二搬送路径32以及第三搬送路径33，其具有切换两搬送路径的搬送路径切换门42，积载读取结束后的原稿的排出托架40，和相对于排出滚轴40排出原稿的第一排出口21。而且，设置有将经由第三搬送路径33的原稿转回的第四搬送路径34、设置在第四搬送路径上的进行实际的原稿转回的反转滚轴22和反转夹滚轴23，再次将根据第四搬送路径所转回的原稿导入至具有扑勒肋挤滚轴(プレレジロ一ル)17等的第一搬送路径31处的第五搬送路径35，将由第四搬送路径34进行转回的原稿排出至排出托架40的第六搬送路径36、设置在第六搬送路径36上的将反转排出的原稿搬送至第一排出滚轴21的第二排出滚轴24，和对第五搬送记录35和第六搬送路径36的搬送路径进行切换的出口切换门43。

引导滚轴13在待机时提升，保持待避位置，在原稿搬送时向夹入位置(原稿搬送位置)下降，来搬送原稿托架11上的最上位的原稿。引导滚轴13以及输纸滚轴14通过与自动进退刀离合器(图中未示)的连结，进行原稿的搬送。扑勒肋挤滚轴(プレレジロ一ル)17在停止的抵抗滚轴18突起原稿的前端，形成环状。在抵抗滚轴18上形成环状时，将啮合抵抗滚轴18的原稿前端返回至夹入位置。形成该环状后，挡板41将支点作为中心而打开，不妨碍原稿形成环形的功能。而且，引出滚轴16以及扑勒肋挤滚轴(プレレジロ一ル )17保持了了读取中心的原稿的环状。根据该环状的形成，得到了读取时间的调整，且抑制了伴随着读取时搬送原稿的歪斜，能够提高位置配合的调整功能。配合读取开始的时间，所停止的抵抗滚轴18开始旋转，根据台板滚轴19将原稿压在第二台板玻璃72B(后述的)上，根据后述的CCD图像感应器78从下表面方向读取图像数据。

搬送路径切换门42在一面原稿读取结束时，以及在两面原稿的同时读取结束时，将经由外滚轴20的原稿导入第二搬送路径32，切换为排出至排出托架40上。另一方面，该搬送路径切换门42在两面原稿的顺序读取时，为了反转原稿，切换为将原稿向第三搬送路径33的导入。反转夹滚轴23在两面原稿顺序读取时，在输纸离合器(未图示出)为关闭状态下，被缩回，打开夹取，将原稿导入第四搬送路径(反转路径)34。之后，该反转夹滚轴23进行夹取，通过反转滚轴22将反转后的原稿导入至扑勒肋挤滚轴(プレレジロ一ル)17，而且，将反转排出的原稿搬送到第六搬送路径36的第二排出滚轴24。

扫描装置70的构成可以载置原稿传送装置10，同时该原稿传送装置10由装置框架71支撑，而且，进行由原稿传送装置10所搬送的原稿的图像的读取。该扫描装置70在形成框体的装置框架71中具备有：在静止状态下载置适合读取图像的原稿的第一台板玻璃72A，和具有用来读取由原稿传送装置10搬送中的原稿的光的开口部分的第二台板玻璃72B。并且，在第二台板玻璃72B的近旁且在第一台板玻璃72A的下侧(扫描装置70的内侧)上，配置有与第二台板玻璃72B平行白基准板69。

而且，扫描装置70具有在第二台板玻璃72B的下方静止，以及对第一台板玻璃72A的整体进行扫描读取图像的全速滑架73，和将由全速滑架73得到的光提供给像结合部分的半速滑架75。在全速滑架73中具有将光照射到原稿上的Xe(氙)灯74、和接收由原稿得到的反射光的第一镜面76A。另外，在半速滑架75上，具有将由第一镜面76A得到的提供给呈像部分的第二镜面76B以及第三镜面76C。且另外，扫描装置70具有将由第三镜面76C所得到的光学像光学地缩小的呈像透镜77、将根据呈像透镜77进行呈像的光学像进行光电变换的CCD(Charge CoupleDevice)图像感应器78、安装图像感应器78的驱动基板79，由CCD图像感应器78所得到的图像信号经由驱动基板79被送往处理装置80。最后，在扫描装置70中，使用所谓的缩小光学系统将像在作为图像感应器的CCD图像感应器78上进行呈像。

这里，首先，读取在第一台板玻璃72A上载置的原稿的图像的情况时，全速滑架73和半速滑架75是以2∶1的比例来移动扫描方向(箭头方向)的。此时，全速滑架73的Xe(氙)灯74的光照射在原稿的被读取面上，同时，从该原稿的反射光被顺序地反射给第一镜面76A、第二镜面76B、第三镜面76C，导入呈像透镜77。被导入呈像透镜77的光在CCD图像感应器78的接收光面上呈像。CCD图像感应器78为一次元感应，同时处理一行。在该行的方向(扫描器的主扫描方向)上使得全速滑架73进行移动，读取原稿的下一行。这样对原稿的整体而执行，结束一页原稿的读取。

另一方面，第二台板玻璃72B例如是长方的板状结构是由透明的玻璃板所构成的。由原稿传送装置10所搬送的原稿通过该第二台板玻璃72B之上。此时，全速滑架73和半速滑架75停止在如图1所示的实线的位置的状态上。首先，经过原稿传送装置10的台板滚轴19的原稿的一行的反射光经由第一镜面76A、第二镜面76B、第三镜面76C，被导入呈像透镜77，通过本实施形态中的为第一感应器的CCD图像感应器78来读取图像。也就是说，根据为一次元感应器的CCD图像感应器78同时地处理主扫描方向的一行之后，读取由原稿传送装置10搬送的原稿的下一主扫描的方向的一行。原稿的前端导读读取第二台板玻璃72B的读取位置之后，该原稿通过第二台板玻璃72B的读取位置，由此经过副扫描方向结束一页原稿的读取。

在本实施形态中，在使得全速滑架73和半速滑架75停止，于第二台板玻璃72B上通过CCD图像感应器78进行原稿的第二面读取的原稿的搬送时，同时(不是时间完全一致，为在同一原稿的搬送的时候)通过为第一读取部分的CIS50，可以进行原稿的第一面的读取。也就是说，使用CCD图像感应器78和CIS50以搬送路径原稿的一次的搬送，可以进行对该原稿的表面和内表面两面的同时读取。

图2为用来说明使用作为读取部分的CIS50的读取结构的图。如图2所示的，CIS50被设置在台板滚轴19和外滚轴20之间。原稿的一面(第一面)被压放在第二台板玻璃72B上，该第一面的图像在CCD图像感应器78上而读取。另一方面，经过搬送原稿的搬送路径，从相对的另一侧上读取一面(第二面)图像。该CIS50具有：外壳50a，安装在设在外壳50a上的开口部分上的防护玻璃罩(玻璃)51、透过该防护玻璃罩51将光照射在原稿的第二面上的作为光源的LED(Light Emitting Diode)52、作为聚集从LED52反射的光的透镜阵的自动聚焦透镜53、作为读取该自动聚焦透镜53所聚集的光的感应器(图像感应器)的行感应器54。作为行感应器54，具有：可以使用CCD或CMOS感应器、密集型感应器等，能读取实际大小(例如A4的长度297mm)的图像。CIS50不使用缩小光学系统，使用自动聚焦透镜53和图像感应器54进行图像的获取，因而可以使得构造简单，并且，可以使得框体小型化，降低电能的消耗。并且，在读取彩色图像的情况下，LED52上组合R(红)G(绿)B(蓝)三色的LED光源，或使用白色的LED光源，作为行感应器也可以使用RGB三色的三列一组的感应器。

而且，在同CIS5进行图像读取时，在构成该读取部分了的搬送路径上，具有：从CIS50的框体延伸的控制部件55、和将由控制部件55夹压的原稿突起的突起部件60。但是，控制部件55经由CIS50安装在原稿传送装置10(参照图1)上，而突起部件60安装在扫描器装置70上。而且，在该突起部件60的下游侧设置导向部件61，在该导向部件61和突起的部件60之间构成开口部分63，另外，在导向部件61的下部与开口部分63相连接的地方，设置附着在原稿表面上作为滞留灰尘或污物的回收部分的灰尘滞留部分62。控制部件55以及突起部件60是在与原稿搬送路径相正交的方向(即，从原稿传送的前面到后面的方向上)上，从原稿传送装置的前面向后面对应于搬送路径的位置而设置的。

这里，控制部件55是由设置在CIS50上的轴而卷曲为く字状的钣金所构成的，控制部件55为自由地曲折的，能吸收所搬送的原稿的厚度，同时也能够对所弯折后的随后的原稿也可以稳定地搬送。而且，控制部件55的前端部分延伸至由CIS所读取的位置的近旁，在于原稿所接触的部位上设置卷边曲折部分55a，与原稿平滑地接触，可以防止纸粉等的产生。并且，控制部件55的曲折部分55a与突起部件60的距离(用于通过原稿的缝隙)设定为0.1mm～1.0mm左右。

另一方面，作为导向部分的突起部件60具有：被设置在原稿的搬送方向的上游侧的，用来导送被搬送原稿的搬送面60a，在该搬送面60a的原稿搬送方向的下游侧，在搬送面60a下一段形成的台阶面60b。而且，该台阶面60b是与通过自动聚焦透镜53的光聚焦点的延长线相对地形成的，在台阶面60b上贴附有作为由二轴延伸聚酯薄膜构成的基准部件的白基准带64。从而，白基准带64经由突起部件60被安装扫描装置70上。在本实施形态中，白基准带64的上面被配置为露出到搬送路径的状态。

另外，CIS50在光学呈像透镜上采用自动聚焦透镜53，因而焦点(被摄范围)深度为±0.3mm左右浅，比使用扫描装置70的情况相比为小于1/13的深度。由此，在由CIS50读取时，要求将原稿的读取位置固定为一定狭小的范围。因而，在本实施形态中的构成是设置搬送面上的控制部件55，由控制部件55将原稿夹压在突起部件60上进行搬送，能够稳定地控制台板滚轴19和外滚轴20之间的原稿的姿势。图2的点划线箭头表示了设置控制部件55的情况下的原稿的动态。可以理解为原稿通过控制部件55被夹压在突起部件60上且进行传送。也就是说，将通过控制部件55搬送的原稿在夹压在突起部件60的状态下进行读取，改善了使用被摄范围的深度的较深的CIS50的情况下的焦点的宽度。

其次，说明如图1所示的处理装置80。

图3为用来说明处理装置80的模块图。本实施形态所适用的处理装置80主要具有：处理由感应器(CCD图像感应器78以及CIS50)所得到的图像信息的信号处理部分81，控制原稿传送庄子10以及扫70的控制部分90。信号处理部分81相对应于由读取表面(第一面)的CCD图像感应器78以及读取内表面(第二面)的CIS50的行感应器54各自的输出，来施加一定的处理。该信号处理部分81具有对应于由行感应器54的输出进行模拟信号处理的AFE(Analog Front End)82、将模拟信号变换为数字信号的ADC(Analog to Digital Converter)83。但是，这些功能也可以是在CIS50内部来进行处理的结构。而且，信号处理部分81为相对于数字信号施加脱落补偿或偏移补偿等的各种处理的图像处理电路，其具有两个系统，对表面(第一面)的图像数据施加图像处理的第一图像处理电路100，和对内表面(第二面)的图像数据施加图像处理的第二图像处理电路200。将从这些图像处理电路的输出向例如打印机等的IOT(Image Output Terminal)或个人计算机(PC)等的主系统中。

另一方面，控制部分90具备：包含各种两面读取的控制和一面读取的控制等，控制原稿传送装置10以及扫描装置70的整体的图像读取控制器91、控制CCD图像感应器78以及CIS50的CCD/CIS控制器92、配合读取时间控制CIS50的LED52和全速滑架73的Xe(氙)灯74的灯控制器93、控制在扫描装置70中进行发动机的开/关的全速滑架73和半速滑架75的扫描操作的扫描控制器94、对原稿传送装置10中的发动机控制；各滚轴操作和自动进退刀离合器的操作；门的切换操作等进行控制的搬送机构控制器95。从这些的各种控制器相对于原稿传送装置10以及扫描装置70来输出控制信号，基于前述的控制信号，可以进行对这些操作的控制。图像读取控制器91基于来自主系统的控制信号或例如在自动选择读取功能时所检测出的感应输出、来自用户的选择等，来设定读取模式，控制原稿传送装置10以及扫描装置70。作为读取模式考虑到有：由后述的1路径(不翻转)进行两面同时读取的模式、由翻转路径进行翻转两面同时读取的模式、和由1路径进行一面读取的模式等。

其次，针对各图像处理电路(第一图像处理电路100以及第二图像处理电路200)的功能和操作进行说明。

图4为信号处理部分81的结构的更为详细的模块图。第一图像处理电路100具有：进行整体控制的第1CPU101、相对于从CCD图像感应器78输出的表面图像数据，进行样品保持(sample hold)或偏移调整、A/D变换等的AFE102、用来选择表内面的图像数据进行输出的选择器(SEL)103、用来暂时地存储由CCD图像感应器78对白基准板69(参考图1)的读取数据的RAM(Random Access Memory)104。另外，还具有执行脱落补偿或行补偿等的A集成电路(ASIC-A)110、执行MTF滤波或缩放处理、两值处理等的B集成电路(ASIC-B)130。

另一方面，第二图像处理电路200具有：进行整体的控制的第二CPU201、保存(存储)例如在工厂出厂时的白基准脱落数据的闪存ROM(FROM)202、相对于由CIS50所得到的内表面图像数据施加各种图像处理的C集成电路(ASIC-C)210、暂时存储由CIS50对白基准带64(参照图2)的读取数据的RAM203、将施加图像处理的内表面图像数据短时地保存，配合一定的输出时间向选择器103输出的存储器204。在本实施形态中，由作为内表面读取的密集型图像感应器的CIS50，读取工厂出厂时的预白基准带64，将由此而得到的白基准脱落数据保存在闪存ROM(FROM)202中。

图5为表示A集成电路(ASIC-A)110的结构的模块图。A集成电路110具有：基于存储在脱落存储器121中的脱落数据，施加对CCD图像感应器78中的脱落数据的补偿的脱落补偿部分111、补正RGB三色的行感应器的位置的GAP补偿部分112、补偿黑线的黑线补偿部分113、进行输入端谐调补偿的ENL115、将BGR变换为L’a’b’的色空间变换116。而且，还具有：生成CCD图像感应器78以及AFE102的驱动时钟的时钟生成部分119、与第一CPU101进行通信的CPU接口120。

图6为表示B集成电路(ASIC-B)130的结构模块图。B集成电路130具有：进行MTF补正或平滑的数字滤波器部分131、相对于为原告搬送方向的副扫描方向实施缩小处理的副扫描部分132、以与原稿搬送方向正交的方向，对为CCD图像感应器78的扫描方向的主扫描方向实施扩大缩小处理的主扫描扩大缩小部分133、除去读取原稿基底的基底除去部分135、将L’a’b’色空间变换为Y.M.C.K的查找表(LUT)136。而且，还具有检测读取原稿基底的基底检测部分139、与第一CPU101进行通信的CPU接口140。

图7为表示C集成电路(ASIC-C)210的结构模块图。C集成电路210具备有：进行由Odd/Evn构成的两信道的输出信号的合成的多路复用(MPX)电路211、基于存储在脱落存储器221中的脱落数据实施脱落补偿的脱落补偿部分212、补正黑线的黑线补偿部分213、执行输入谐调补正的L*变换(LUT)部分214、对于副扫描方向实施缩小处理的副扫描缩小部分215、对于主扫描方向实施放大缩小处理的主扫描放大缩小部分216、进行MTF补偿或平滑的滤波部分217、基于由基底检测部分222的基底检测结果进行基底去除的基底除去部分218、进行输出谐调补偿的查找表(LUT)219、进行两值化的误差扩散处理(Packing误差扩散)部分220。而且，还具有与第二CPU201进行通信的CPU接口。

图8为表示存储在闪存ROM(FROM)202中的数据的例示图。如图8中所示的1行的脱落数据为例如在工厂出厂时，以一定的条件，使用为内表面读取的密集型图像感应器CIS50以及白基准带64所获取的数据，例如由7100像素×8比特构成的1行的数据存储在例如8K字节的存储器中。在该CIS50中，1行上例如设置200个左右的LED52。在以下的说明中，将在FROM202中存储的脱落数据称作为初始脱落数据SHDini。

图9为由如图3所示的图像读取控制器91执行处理的一个例示流程图。在图像读取控制器91中，首先，判断被搬送的原稿是否是一面原稿(步骤101)。该判断例如使用在操作在扫描装置70上设置的控制器板(图中未示)的用户的选择，或例如自动读取功能的情况下，能够根据在图像读取前的第一搬送路径31上的搬送路径两端设置的感应器等进行识别。而且，也考虑到了来自于主系统的请求或来自经由因特网等的用户的选择等。在该步骤101中判断为一面原稿的情况时，由1路径(不使用翻转路径，仅仅一次的原稿搬送路径)进行单面读取(步骤102)。在由该路径进行的单面读取中，可以选择由CCD图像感应器78的读取和由CIS50进行的读取中的任意一个，而在实现较高画质的图像读取的情况下，最好是选择使用CCD图像感应器78进行读取。在此时，原稿托架11上存在有一面的原稿部分，同时其上是载置了一页的原稿，从该一页中搬送原稿进行顺序地读取。

这里，在步骤101不是一面原稿的情况下，也就是为两面原稿的情况下，判断原稿是否为黑/白原稿(步骤103)。该步骤103的判断与步骤101相同是根据来自用户的选择或自动读取功能来判断的。也具有即使为彩色的原稿，用户也希望进行黑白读取的情况。在不进行黑/白读取的情况时，也就是在进行彩色读取的情况时，判断是否重视画质(步骤104)。例如，在为彩色相片或小册子等的彩色图像的情况下，一般地比提高读取速度的生产性的画质较为重视。由此的判断也根据用户的设定来实现。在该步骤104中判断出重视画质的情况下为第一两面读取模式，由反转路径执行两面读取(步骤105)。也就是，不进行由CIS50执行的读取，原稿的第一面和原稿的第二面都是由作为第一感应器的CCD图像感应器78来进行读取。由此，相对于原稿的第一面和原稿的第二面其同时可以使用焦点深度较深的读取装置进行高画质的两面读取。

另一方面，即使在步骤103中进行黑/白读取的情况下，或在步骤104中必要为进行彩色图像的输出中，例如，在不重视商业色彩等的微妙的色调等的情况，或在不特别重视画质而重视生产性等其他因素的情况下，为第二两面读取模式，不使用翻转路径，由一路径进行两面的同时读取(步骤106)。也就是根据为第一感应器的CCD图像感应器78进行第一面的读取，在该读取的搬送路径上时，同时在搬送路径上由CIS50进行第二面的读取。由此，原稿没有必要向同一读取部分进行两次的搬送，能够使其提高读取原稿的速度，同时能够使得搬送路径简洁化，抑制原稿卡纸(JAM)等的原稿传送故障。并且，如前前述的，所谓的“同时读取”并不意味着其必须在时间一致的情况下，而是表示是两面在一次的路径上几乎在同时期进行读取。

并且，简化了如图9所示的处理流程，在两面原稿的读取中，在黑白原稿读取的情况下，可以是根据步骤105的翻转路径顺序地读取原稿的结构。而且，对应于原稿的种类也可以混合地使用这些模式。

其次，对于各个原稿读取模式中的原稿搬送方法，使用图10和图11进行说明。

图10(a)(b)为表示图9的步骤102所示的1路径的一面读取模式和步骤106所示的两面同时读取的第二两面读取模式的原稿路径的图。如图10(a)所示的，载置在原稿托架11上的原稿通过引导滚轴13、输纸滚轴14、减速滚轴15、引出滚轴16，顺序地提供给第一搬送路径31。所提供的原稿如图10(b)所示的，经由台板滚轴19的读取部分以及CIS50的读取部分，根据搬送路径切替门42被移动至第二搬送路径32，在排出托架40上进行顺序地排出。在一面读取的情况下，在台板滚轴19的场所上从下方使用如图1所示的扫描装置70的CCD图像感应器78进行读取。但是，如前前述的，可以进行使用CIS50的一面读取。而且，在由一路径进行两面读取的情况下，使用扫描装置70的CCD图像感应器78读取第一面，在同一搬送时使用CIS50进行第二面的读取。由此，通过一次原稿就可以进行两面原稿的读取。

图11(a)(b)是表示图9步骤105所示的由翻转进行两面读取，即，用来说明第一两面读取模式的图。如图11(a)所示的，载置在原稿托架11上的原稿顺序提供给第一伴送路径31，使用如图1所示的扫描装置70的CCD图像感应器78，从台板滚轴19的下方进行读取。这样，根据搬送路径切替门42经由第三搬送路径33，向第四搬送路径34移动。完全遗漏第三搬送路径33的原稿如图11(b)所示的，由反转滚轴22和反转夹滚轴23进行转回，提供给第五搬送路径35。

被提供给第五搬送路径的原稿，再次被提供给第一搬送路径31。随后，如图11(c)所示的，原稿由扫描装置70的CCD图像感应器78从下方进行读取。此时，原稿为图11(a)所示的情况下的表面内表面翻转的状态，成为与第一面的内外表面不同的第二面进行读取。将第二面以所读取的原稿表里反转的状态原样排出至排出托架40上后，进行积载使得打乱了读取后的原稿的页码顺序。这样，在如图11(c)所示的第二面读取结束后的原稿使用搬送路径切替门，竟有第三搬送路径33，移动至第四搬送路径34。提供给第四搬送路径的从出口切替门43的部分完全通过的原稿，根据如同11(d)所示的出口切替门43竟有第六搬送路径36被排出到排出托架40。由此，在顺序地读取原稿中的表里面的图像的第一两面读取模式中，可以顺序地排列读取后的原稿的页码顺序。

该图像图取装置中，准备了使用作为第一感应器的CCD图像感应器78，读取原稿一面(第一面)后，使得原稿翻转以第一感应器顺序地读取另一面(第二面)的第一两面读取模式，和与该第一感应器一起的，还使用通过搬送路径与第一感应器相对的另一侧上设置的第二感应器的CIS50，在搬送中一次读取表里两面(第一面和第二面)的第二两面读取模式。随后，这些模式对应于必要基于自动或用户的指定等来构成的选择的可能。由此，例如，对应于黑白输出或彩色输出，重视速度(生产性)或重视画质等的用途，对两面读取的模式进行适当的选择，可以利用这些模式。

而且，该图像读取装置中，在上述的由个原稿读取模式的原稿的图像读取工作开始之前，分别在扫描装置70以及CIS50中，进行用于脱落补偿的脱落数据的设定。

图12为表示在扫描装置70端也就是CCD图像感应器78中的脱落数据获取处理的流程的流程图。该处理是由第一图像处理电路100的第一CPU101来执行的。

在该处理中，首先，进行对应于构成AFE102中的CCD图像感应器78的各个感应器的偏移补偿(CCD偏移补偿)(步骤201)。其次，第一镜面76A使得位于白基准板69下部的全速滑架73进行移动(步骤202)。并且，在步骤202Xe灯74保持熄灭状态。随后，在Xe灯74的熄灭状态下，进行由CCD图像感应器78读取白基准板69，获取黑基准的脱落数据(步骤203)。随后，将所获取的扫描装置70端的黑基准脱落数据存储在设置于第一图像处理电路100的A集成电路110中的脱落存储器121中(步骤204)。

其次，使得Xe灯74点亮(步骤205)。随后，在Xe灯74点亮的状态下，由CCD图像感应器78来读取白基准板69，获取白基准板69的脱落数据(以下称为白基准脱落数据1)(步骤206)。随后，将所获取的白基准脱落数据1存储在设置于第一图像处理电路100中的RAM104中(步骤207)。随后，第一镜面76A一边维持位于白基准板69下部的位置的状态，一边稍微移动全速滑架73(步骤208)。随后，Xe灯74在点亮的状态进行由CCD图像感应器78的对白基准板69的读取，再次获得白基准脱落数据(以下称为白基准脱落数据2)(步骤209)。随后，将所获取的白基准脱落数据2存储在设置于第一图像处理电路100上的RAM104上(步骤210)。另外，将在RAM104中存储的白基准脱落数据1与白基准脱落数据2相比较，选择其值较大的一方，也就是较接近白的一方来作为白基准数据(步骤211)。随后，将作为扫描装置70端的白基准脱落数据的所选择的白基准脱落数据1或白基准脱落数据2，存储在设置于第一图像处理电路100的A集成电路110中的脱落存储器121中(步骤212)，结束一连串的处理，

而且，图13为表示在CIS50端的脱落数据获取的流程的流程图。该处理是通过具有作为灰尘检测部分(异常部位检测部分、异常场所检测部分)的功能的第二图像处理电路200的第二CPU201来执行的。

在该处理中，首先，进行对应AFE82中构成CIS50的行感应器54的各个感应器的偏移补偿(CIS偏移补偿)(步骤301)。其次，在LED熄灭的状态也就是光强为0％的状态下，进行由CIS50的白基准带64的读取，获取黑基准的脱落数据(步骤302)，将所获取的CIS50端的黑基准脱落数据存储在设置于第二图像处理电路200的C集成电路210中的脱落存储器221中(步骤303)。

其次，将LED52点亮为通常的光强也就是100％的光强(步骤304)。随后，LED52的光强为100％的状态(第一读取条件)下，进行由CIS50的白基准带的读取，获取白基准脱落数据(第一读取数据：以下称为100％的脱落数据SHD100)(步骤305)，将获取的100％的脱落数据SHD100存储在RAM203中(步骤S306)。随后，使得LED52点亮一半光强，也就是50％的光强(步骤307)。随后，由LED52的光强是50％的状态(第二读取条件)下，再次由CIS50进行白基准带64的读取，获取白基准脱落数据(第二读取数据：以下称为50％脱落数据SHD50)(步骤308)，将所获取的50％脱落数据SHD50存储在RAM203中(步骤309)。并且，在本实施形态中，对于读取时的白基准带64，固定CIS50，因此，100％的脱落数据SHD100以及50％的脱落数据SHD50是根据读取白基准带64上的同一位置而获取的。而且，对于由行感应器50所读取的时间，100％的脱落数据SHD100获取时间以及50％的脱落数据SHD50获取时间是相同的。另外，使用存储在RAM203中的100％的脱落数据SHD100以及50％的脱落数据SHD50，在白基准带64上进行灰尘/污物附着部位(像素)的检测(步骤310)。随后，在存储于RAM203中的100％的脱落数据SHD100中，对于判断灰尘/污物附着部位的像素进行数据的补偿(补全)(步骤311)。将被补偿的数据作为CIS50端的白基准脱落数据存储在设置于第二图像处理电路200的C集成电路210中的脱落存储器221中(步骤312)。结束一连串的处理。

这里，图14为表示上述的步骤310所示的灰尘/污物附着部位的检测中的处理流程的流程图。该处理也是通过第二图像处理电路200的第二CPU201所执行的。

在该处理中，首先，读取存储在RAM203中的100％的脱落数据SHD100以及50％的脱落数据SHD50(步骤401)。随后，在各个像素号Pi(i＝1～7100)中，求得100％的脱落数据SHD100(i)以及50％的脱落数据SHD50(i)的差分Di(步骤402)。其次，所得到的各个像素号Pi中的各差分Di(i＝1～7100)被判断是否比预先规定的阈值Th小(步骤403)。随后，将差分Di比阈值Th小的部分判断为有灰尘/污物附着像素，将该像素号Pi作为灰尘/污物附着像素号存储在RAM203中(步骤404)，结束处理。

而且，图15是表示上述的步骤311所示的100％的脱落数据的补正(补全)处理的流程的流程图。该处理也是通过第二图像处理电路200的第二CPU201所执行的。

在该处理中，首先，读取存储在RAM203中的100％的脱落数据SDH100(步骤501)，其次，读取存储在RAM203中的灰尘/污物附着像素号(步骤502)。随后，将所读取的灰尘/污物附着像素号的前后5像素灰尘/污物附着像素号上(步骤503)，另外，根据存储在FROM202中的工厂出厂时的初始脱落数据SHDini，读取在步骤503中决定的对应于灰尘/污物附着像素号的数据(步骤504)。随后，根据100％的脱落数据提取灰尘/污物附着像素号的在前10个像素，求得平均值(步骤505)。随后，使用所补偿的数据，补偿100％的脱落数据SHD100的灰尘/污物附着像素号的数据(步骤507)，结束处理。

其次，基于具体的例示详细地说明图13～图15所示的处理。

图16(a)为表示获取脱落数据时白基准带64的状态。并且，在该例中，白基准带64的一部分上附着灰尘G，基于读取其的结果生成CIS50的脱落数据。

图16(b)表示通过读取图16(a)所示的白基准带64，在图13所示的步骤305获取的100％的脱落数据SHD100。在白基准带64上附着灰尘G的部位上，与没有附着灰尘S的部位相比，显著减少了反射光的量。因此，对应于附着灰尘部位的数据比其他部位的数据显著的模糊。并且，在图16(b)中100％的脱落数据SHD100相对像素方向发起波形，而其在CIS50中因为使用了自动聚焦透镜53，波形的周期对应于设置在自动聚焦透镜53上的各个透镜的节距。

图16(c)为表示通过读取图16(a)所示的白基准带64，在图13所示的步骤308获取的50％的脱落数据SHD50。通过使得LED的光量为50％，50％的脱落数据SHD50比100％的陀螺数据SHD100的整体较低。而且，即使对应于灰尘/污物的附着部分的50％的脱落数据SHD50，也是与100％的陀螺数据SHD相同，比其他位置的图像模糊。

图16(d)表示以图14所示的步骤402求得的100％的脱落数据SHD100以及50％的脱落数据SHD50的差分。从同图中在灰尘污物附着的部位上，与没有附着灰尘污物的部位上相比差分明显较小。按照本发明的试验，在将LED53的光强从100％减半到50％的情况时，从白基准带64的白基准面(没有灰尘附着的面)的反射光量减少了将近一半，对此，对于从白基准带64的灰尘/污物附着面的反射光量，判明其量是减少的，与白基准面端相比减少的比例较小。该理由考虑到了在灰尘污物附着的部位上，因为减少了由灰尘吸收或散乱向行感应器54反射的反射光量，在使得照射光的强度变大的情况下，反射的光量不会分别受到影响的原因。从而，在本实施形态中，如图14所示的步骤403中，判断差分Di是否比阈值Th小，决定是否有灰尘/污物附着的部位。

图17(a)为图16(d)所示的α范围内也就是灰尘/污物附着的部位近旁的放大图。在本实施形态中，求得图14所示的步骤403中各项素的差分Di是否在阈值Th之下，差分Di在阈值Th之下的像素号Pa到Pb判断为灰尘/污物附着的部位在步骤404，作为灰尘/污物附着像素号存储在RAM203中。

图17(b)为图15所示的步骤501上读取的100％脱落数据SHD100中，灰尘/污物附着像素的近旁的放大图。并且，在该步骤403中，如图16(b)所示的100％的脱落数据SHD100被读取。而且，在如同15所示的步骤502中，读取灰尘/污物附着像素号(其例为像素号Pa～Pb)。这里，参照图16(b)后确切地在像素号Pa～Pb的范围内看见100％的脱落数据SHD100的模糊。实际上，明显在包含像素号Pa～Pb的周边像素的像素号Pc～Pd中的100％的脱落数据中产生异常。这里，本实施形态中，图15所示的步骤503中，将在灰尘/污物附着像素号前的5个像素以及灰尘/污物附着像素号后的5个像素追加在灰尘/污物附着像素号上。这里，作为灰尘/污物附着像素号进行追加的像素数为5个像素，这是基于发明者的试验结果而得出的。

图17(c)示意的是在FROM中被存储的初始脱落数据SHDini。如图15所示的步骤504中，根据初始脱落数据SHDini，读取对应于灰尘/污物附着的像素号Pc～Pd的数据，该初始脱落数据SHDini对应于特性曲线的形状也就是通过自动聚焦透镜53的波形，表示与现状相同的特性，但是对于数据的绝对值是通过LED52或白基准带64等的经时变化而变化的。从而，将对应于根据初始脱落数据SHDini所读取的灰尘/污物附着像素号Pc～Pd的数据，仍然置换为100％脱落数据SHD100的当前像素号后，没有图17(b)中虚线所示的数据的连续性，其结果是读取的图像出现条纹。这里，在本实施形态中，对于图15所示的步骤505中的灰尘/污物附着的像素号的前十个像素，获取100％的脱落数据SHD100的平均值，在步骤506中，进行适合于该平均值的数据的补偿。具体地说，如图17(b)所示获取作为灰尘/污物附着的像素号Pc前十像素的从像素序号Pe到图素序号Pc的前1个的像素序号的100％脱落数据SHD100的平均值与在像素序号Pc中初始脱落数据SHDini的差，从在图像序号Pc～Pd中初始脱落数据SHDini中将其减去。

图17(d)示意的是在如图15所示步骤507中获得的脱落数据SHD。在本实施形态中，通过上述处理补正灰尘/污物附着的像素号Pc～Pd的初始脱落数据SHDini，补全100％脱落SHD100的灰尘/污物附着的像素号Pc～Pd，因此维持脱落数据SHD的连续性。而且，因为使用初始脱落数据SHDini进行补正，使用自动聚焦透镜53同时，对数据的波形进行合适地补正。

如以上前述，在本实施例中，获得在以LED52的光强度作为100％情况的100％的脱落数据SHD100，和在作为50％情况的脱落数据SHD50，通过进行这些100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50的差分，能够容易地特定对应白基准带64的灰尘/污物附着部位(像素)。而且，对于在白基准带64产生的凹陷的部位也能够特定。从而，在本实施形态中，因为根据100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50的差分D判断灰尘/污物附着部位(像素)，通过使用自动聚焦透镜53能够排除附带产生的脱落数据的波形的影响。

另外，在本实施形态中，由于使用初始脱落数据SHDini补全灰尘/污物附着部位和被判断灰尘/污物附着像素中100％脱落数据SHD，能够通过使用自动聚焦透镜53再现附带产生的脱落数据SHD波形，能够获得比较正确的脱落数据SHD。而且此时，因为由经时考虑100％脱落数据SHD100与初始脱落数据SHDini的差分进行补正，能够维持脱落数据的连续性，能够比较正确地完成脱落数据SHD。另外，在本实施形态中，由于也包含灰尘/污物附着部位和被判断灰尘/污物附着像素的周边像素，进行100％脱落数据SHD100的补全，能够得到比较正确的脱落数据SHD。

由此，在本实施例所涉及的CIS50中，对应读取的图像数据能够进行比较正确的脱落补正，能够防止在白基准带64中伴随灰尘或污物的附着，在图像数据中条纹的产生。

并且，在本实施形态中使用100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50，进行灰尘/污物附着部位的检测，但并不限定于此，来自LED的光强度如果使用不同的多个脱落数据，能够检测灰尘/污物附着部位(像素)。

实施形态2

在本实施形态中，与实施1差不多相同，但作为CIS50侧的光源，使用Xe灯代替LED。并且，在本实施形态中，对于与实施形态1相同的部分，给予与实施形态1相同的附图标记，省略其详细说明。

图18是为了说明涉及本实施形态CIS50的图。在本实施形态中如上前述，作为CIS50的光源设置Xe灯56。而且，Xe灯56仅仅设置一个，在其它方面安装为了反射来自Xe灯56的照射光、照射到原稿侧的镜面57。这里Xe灯56与LED不同，因为调整照射光的强度是非常困难的，使用实施形态1中说明的方法检测灰尘/污物附着部位是困难的。因此，在本实施形态中，通过使从Xe灯56照射光的强度保持一定，使为了获得脱落数据的读取时间(测定时间)不同，获得二个脱落数据，在白基准带中进行灰尘/污物附着部位的检测。

图19是示意在CIS50侧中获得脱落数据流程的流程图。该处理由具有作为灰尘检测部分(异常部位检测部分、异常场所检测部分)的功能的第2图像处理电路200的第2CPU201执行。

在该处理中，首先在AFE82中进行对应构成CIS50的行感应器54的各感应器的偏移补正(CIS偏移补正)(步骤601)。接着，使Xe灯为灭灯状态，也就是光的强度为0％的状态，由CIS50进行白基准带64的读取，获得黑基准带的脱落数据(步骤602)，在第2图像处理电路200的C集成电路210中设置的脱落存储器221中存储获得的CIS50侧的黑基准的脱落数据(步骤603)。

接着，以通常光强度使Xe灯56点亮(步骤604)。从而，在使Xe灯56点亮的状态，由CIS50进行白基准带64的读取。此时，获得作为读取时间(第1读取条件)的白基准脱落数据(第1脱落数据：100％脱落数据SHD100)(步骤605)。接着，在使Xe灯56点亮的状态，进一步由CIS50进行白基准带64的读取。此时，获得作为读取时间为前程一半时间的X/2的白基准脱落数据(第2脱落数据：50％脱落数据SHD50)(步骤607)，在RAM203存储获得的50％脱落数据SHD50(步骤608)。另外，使用在RAM203中存储的100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50，进行在白基准带64中灰尘/污物附着部位(像素)的检测(步骤609)。从而，在RAM203中存储的100％脱落数据SHD100之中，和50％脱落数据SHD50，对于灰尘/污物附着部位和被判断的像素进行数据的补正(补全)(步骤610)，将被补正的数据作为CIS50侧的白基准脱落数据，在第2图像处理电路200的C集成电路210中设置的脱落存储器221中进行存储(步骤611)，结束一连串的处理。并且，在步骤609中灰尘/污物附着部位的检测与实施形态1相同，成为如图14所示处理。而且，在步骤610中即使数据补全，也与实施形态1相同，成为如图15所示的处理。

在本实施形态中，为了获得脱落数据使测定时间不同，获得2个脱落数据(100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50)，通过完成这些100％脱落数据SHD100和50％脱落数据SHD50的差分，进行灰尘/污物附着部分(像素)检测。由此，即使在使用大幅度地调整作为CIS50侧光源照射光强度困难的Xe灯56的情况，也能够容易地特定对应白基准带64的灰尘附着部位。

并且，在实施形态1、2中，对于CIS50侧的脱落数据获得时灰尘/污物附着部位的检测和脱落数据的补全进行说明，但也可以在扫描装置70侧使用相同的方法进行灰尘/污物附着部位的检测和脱落数据补全处理。

而且，在实施形态1、2中，检测灰尘/污物附着部位(像素)的情况，通过在100％脱落数据SHD100的不同部位(像素)中适宜地补全数据，获得脱落数据SHD，但并不限定于此，例如，在检测灰尘/污物附着部位(像素)的情况，在用户界面设置的画面(图中未示)中，显示“请清扫白基准部分”等消息，促使清扫，此后，通过读取被清扫的白基准带64，获得脱落数据SHD也是可以的。

另外，在实施形态1、2中，以作为基准部件使用白基准带为例进行说明，但并不限定于此，也可以为其它颜色的基准部件。

另外，在实施形态1、2中，对在白基准带64中由于灰尘/污物使白基准带64的读取结果产生异常为例进行说明，例如，但伴随由于长时间使用，白基准带64的颜色恶化而变化，也可以获得在该结果基准带64的读取结果中产生的异常。在这样产生白基准带64的颜色变化的情况，适用本实施例中说明的方法，能够容易地确定在白基准带64中颜色变化部位。

Claims (16)

1、一种图像读取装置，其特征在于包括：

照射原稿的光源；

接收从前述原稿反射的反射光的感应器；

由前述感应器读取的基准部件；

使用以第一读取条件设定前述光源或前述感应器读取前述基准部件所获得的第一读取数据，和以与该第一读取条件不同的第二读取条件设定该光源或该感应器读取该基准部件所获得的第二读取数据，检测该第一读取数据或该第二读取数据中的异常部位的异常部位检测部分，其中前述第一读取条件与前述第二读取条件的不同在于照射光的强度不同或感应器读取时间的长度不同。

2、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述异常部位检测部分检测在前述基准部件上附着灰尘或污物的部位，作为前述异常部位。

3、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述第一读取条件和前述第二读取条件中，由前述光源产生的照射光的强度是不同的。

4、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述光源为LED。

5、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述第一读取条件和前述第二读取条件中，由前述感应器的测定时间的长度是不同的。

6、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述光源为Xe灯。

7、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述异常部位检测部分将前述第一读取数据和前述第二读取数据的差分比阈值小的部位作为前述异常部位进行检测。

8、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：前述第一读取数据为以读取原稿时的条件设定前述光源的照射光强度而获取的值。

9、如权利要求1所述的图像读取装置，其特征在于：进一步包含有对前述异常部位检测部分上所检测的第一读取数据或第二读取数据中的前述异常部位的数据进行补正的补偿部分。

10、一种图像读取装置，其特征在于包括：

照射原稿的光源；

接收从前述原稿反射的反射光的感应器；

由前述感应器读取的基准部件；

基于使用前述光源以及前述感应器以不同的读取条件多次读取前述基准部件的同一位置的结果，检测该基准部件中的异常场所的异常场所检测部分，其中前述不同的读取条件的不同在于照射光的强度不同或感应器读取时间的长度不同。

11、如权利要求10所述的图像读取装置，其特征在于：前述异常场所检测部分上设定的前述不同的读取条件，其通过感应器读取的时间是相同的，由前述光源产生的照射光的强度是不同的。

12、如权利要求10所述的图像读取装置，其特征在于：前述异常场所检测部分上设定的前述不同的读取条件，其由前述光源产生的照射光的强度是相同的，由前述感应器读取时间的长度是不同的。

13、一种基准部件的异物检测方法，其特征在于包括：

以第一读取条件读取基准部件，获取第一读取数据的步骤；

以与前述第一读取条件不同的第二读取条件读取前述基准部件，获取第二读取数据的步骤，其中前述第一读取条件与前述第二读取条件的不同在于照射光的强度不同或感应器读取时间的长度不同；

使用前述第一读取数据和前述第二读取数据，检测对于前述基准部件的异物的附着的步骤。

14、如权利要求13所述的异物检测方法，其特征在于：在前述检测对基准部件的异物的附着的步骤中，基于前述第一读取数据和前述第二读取数据的差是否小于预定的阈值，来判断异物的附着。

15、如权利要求13所述的异物检测方法，其特征在于：前述第一读取条件和前述第二读取条件中，由光源产生的照射光的强度是不同的。

16、如权利要求13所述的异物检测方法，其特征在于：前述第一读取条件和前述第二读取条件中，由感应器读取的时间长度是不同的。

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