WO2004032274A1 - 電極基板、光電変換素子、導電性ガラス基板およびその製造方法、並びに色素増感太陽電池 - Google Patents

電極基板、光電変換素子、導電性ガラス基板およびその製造方法、並びに色素増感太陽電池 Download PDF

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Kenichi Okada
Takuya Kawashima
Nobuo Tanabe
Tetsuya Ezure
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Definitions

  • the present invention relates to an electrode substrate and a conductive glass substrate used for a photoelectric conversion element and the like, a photoelectric conversion element, and a dye-sensitized solar cell.
  • Dye-sensitized solar cells are attracting attention as photoelectric conversion devices that are inexpensive and can achieve high conversion efficiency (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. H01-220380, and M. Graetzel et al. (Nature), (UK), 1991, Issue 737, p. 353).
  • a porous film using oxide semiconductor nanoparticles such as titanium dioxide is formed on a transparent conductive substrate, and a sensitizing dye is carried on the porous film to form a semiconductor.
  • An electrode is configured.
  • This semiconductor electrode is combined with a counter electrode such as platinum-plated conductive glass, and an organic electrolyte containing oxidized and reduced species such as iodine and iodide ions is used as a charge transport layer between the two electrodes. Will be filled.
  • the semiconductor electrode When the semiconductor electrode has a porous film structure having a large specific surface with a roughness factor of 1,000 or more, the light absorption rate can be increased. Photovoltaic conversion efficiencies with light absorptivity of 10% or more have also been reported.
  • the cost of dye-sensitized solar cells is expected to be about 1/2 to 1 Z6 of current silicon-based solar cells in terms of cost. Dye-sensitized solar cells are not necessarily complex, do not require large-scale manufacturing equipment, and contain no harmful substances.Therefore, they have high potential as inexpensive and mass-produced solar cells that can be used in large quantities. .
  • a transparent conductive substrate As a transparent conductive substrate, a glass substrate surface is generally coated with a transparent conductive film such as tin-added indium oxide (IT0) or fluorine-added tin oxide (FTO) in advance by a method such as sputtering or CVD.
  • a transparent conductive film such as tin-added indium oxide (IT0) or fluorine-added tin oxide (FTO) in advance by a method such as sputtering or CVD.
  • I TO and FTO is on the order of 1 0- 4 ⁇ 1 0- 3 ⁇ ⁇ cm, silver, also about 1 00 times the electrical resistivity of metal such as gold Shows the value of For this reason, commercially available transparent conductive glass has a high resistance value, and when used in a solar cell, particularly in the case of a large-area cell, the photoelectric conversion efficiency is significantly reduced.
  • the thickness of the transparent conductive layer ITO, FTO, etc.
  • the film is formed with a thickness sufficient to obtain a sufficient resistance value, the light absorption by the transparent conductive layer increases, and the transmission efficiency of the incident light through the window material is remarkably reduced. As a result, the photoelectric conversion efficiency of the solar cell also decreases.
  • a metal wiring layer is provided on the surface of a substrate with a transparent conductive layer used as a window electrode of a solar cell so as not to significantly impair the aperture ratio, thereby lowering the resistance of the substrate.
  • a transparent conductive layer used as a window electrode of a solar cell
  • the metal wiring layer is provided on the substrate surface as described above, at least the surface of the metal wiring layer must have a certain surface in order to prevent corrosion of the metal wiring by the electrolytic solution and reverse electron transfer from the metal wiring layer to the electrolytic solution. Must be protected by a shielding layer. This shielding layer must cover the circuit surface closely.
  • FIGS 26 2 and 26 2 show examples of dye-sensitized solar cells.
  • This dye-sensitized solar cell has a working electrode 63 comprising an oxide semiconductor fine particle of titanium oxide or the like on an electrode substrate 61 and having an oxide semiconductor porous film 62 carrying a photosensitizing dye, A counter electrode 64 provided opposite to the working electrode 63 is provided.
  • An electrolyte layer 65 is formed between the working electrode 63 and the counter electrode 64 by being filled with an electrolytic solution.
  • the electrode substrate 61 is formed by forming a transparent conductive layer 611 made of tin-added indium oxide (ITO) or fluorine-added tin oxide (FTO) on a base material 610 such as a glass plate. .
  • a lattice-shaped metal wiring layer 612 made of gold, platinum, silver, or the like is provided on the transparent conductive layer 611.
  • the surface of the metal wiring layer 612 or the transparent conductive layer 611 may cause inconveniences such as corrosion of the metal wiring layer 612, a short circuit with the electrolyte layer 65, and a reduction in output due to leakage current (reverse electron transfer).
  • a shielding layer 613 made of an oxide semiconductor such as ITO, FTO, titanium oxide, and zinc oxide.
  • Electrolyte layer 6 5 instead, a solid charge transfer layer 66 made of a p-type semiconductor or the like may be used.
  • the shielding layer 613 can be formed by forming a film made of an oxide semiconductor on the metal wiring layer 62 by using a thin film forming method such as a sputtering method or a spray pyrolysis method (SPD). .
  • a thin film forming method such as a sputtering method or a spray pyrolysis method (SPD).
  • SPD spray pyrolysis method
  • the dense shielding layer 613 can be uniformly formed. It is difficult to form, and an uncovered portion where the metal wiring layer 612 is exposed may be generated due to the poor formation of the shielding layer 613.
  • the effect of suppressing problems such as corrosion of the metal wiring layer 612 and output reduction due to generation of leakage current due to reverse electron transfer from the metal wiring layer 612 to the electrolyte layer 65, etc. is reduced. Therefore, the characteristics of the solar battery (cell) may be significantly impaired.
  • the coating thickness of the shielding layer 613 is increased in order to suppress the formation failure of the shielding layer 613, photoelectron transfer may be hindered, and the light transmittance may be reduced, which may lower the photoelectric conversion efficiency. There is.
  • the metal wiring layer 612 is formed using a conductive paste mainly composed of conductive particles such as metal fine particles and a binder such as glass frit, the metal wiring layer 612 is formed. From the viewpoint of electrical conductivity, it is better that the mixing ratio of the binder is small, but fine and steep irregularities and shadows such as voids and pinholes are likely to occur inside and on the surface of the metal wiring layer 612. Is difficult to form. When the compounding ratio of the binder is increased, the conductivity of the metal wiring layer 612 decreases, so that the current collection efficiency decreases and the cell characteristics may be significantly impaired.
  • the metal wiring layer 6 12 is not provided on the electrode substrate 6 1 and the current collection from the oxide semiconductor porous film 6 2 is to be performed only by the transparent conductive layer 6 11, the FT which forms the transparent conductive layer 6 11 semiconductors and resistivity of about 1 0- 4 ⁇ 1 0- 3 ⁇ ⁇ cm , such as, gold, since the 1 0 0 times or more metals such as silver, the photoelectric conversion efficiency particularly in the case of large-area cell The drop is noticeable. If the thickness of the transparent conductive layer 611 is increased in order to reduce the resistance, the light transmittance of the transparent conductive layer 611 is significantly reduced, and the photoelectric conversion efficiency is also lowered.
  • the metal wiring layer In order to maintain an aperture ratio that does not impair light transmittance as much as possible and to provide sufficient conductivity, the metal wiring layer needs to have a certain height. Therefore, when the metal wiring layer is formed, the surface of the substrate has many irregularities. For this reason, for example, in forming a semiconductor porous film for a dye solar cell, there is a problem that the film thickness uniformity is impaired, and the unevenness tends to cause cracking or peeling of the film.
  • a transparent conductive film having a thickness of about Atm such as indium oxide tin oxide (ITO) or fluorine-doped tin oxide (FTO), is formed on one surface of a glass plate denoted by reference numeral 71. Are formed to form the conductive glass 73.
  • an oxide semiconductor porous film 74 carrying a photosensitizing dye composed of fine particles of an oxide semiconductor such as titanium oxide or zinc oxide is provided on the transparent conductive film 72 of the conductive glass 73. , It is formed.
  • Reference numeral 75 denotes a conductive glass serving as a counter electrode, and a gap between the conductive glass and the oxide semiconductor porous film 74 is filled with an electrolytic solution composed of a non-aqueous solution containing a redox pair such as iodine / iodine ions. It is formed.
  • electrolyte layer 76 copper iodide, thiosia Some have a hole transport layer made of a solid p-type semiconductor such as copper nitride. In this dye-sensitized solar cell, when light such as sunlight enters from the conductive glass 73 side, an electromotive force is generated between the transparent conductive film 72 and the counter electrode 75.
  • a circuit electrode is formed on a transparent conductive film, and an oxide semiconductor porous film is provided thereon, and an electrolyte containing iodine or the like is filled. Therefore, the circuit electrode comes into contact with the electrolytic solution via the porous oxide semiconductor film, so that a leakage current in which electrons flow backward from the circuit electrode to the electrolytic solution may flow. This occurs because the energy level of the electrolyte is low when comparing the energy levels between the circuit electrodes and the electrolyte. Therefore, a barrier layer made of a semiconductor material or an insulator material is formed at the interface between the circuit electrode and the electrolyte to prevent leakage current.
  • the electrode substrate of the present invention is an electrode substrate having a metal wiring layer and a transparent conductive layer on a base material, wherein the metal wiring layer and the transparent conductive layer are electrically connected. At least the surface of the metal wiring layer is insulated and covered with an insulating layer.
  • the metal wiring layer is reliably shielded from the electrolyte solution and the like, and its corrosion and leakage current can be effectively suppressed. Therefore, it becomes an electrode substrate having excellent conductivity.
  • the insulating layer is preferably formed from a material containing a glass component, and is particularly preferably formed by printing a paste containing glass frit. This makes it possible to easily form an insulating layer for reliably insulating and shielding the metal wiring layer.
  • the metal wiring layer is preferably formed by a printing method. Thereby, a metal wiring layer having a desired pattern can be easily formed.
  • a photoelectric conversion element or a dye-sensitized solar cell according to one embodiment of the present invention includes the above-described electrode substrate. As a result, the output due to corrosion of the metal wiring layer of the electrode substrate, leakage current, etc. The decrease is suppressed, and the photoelectric conversion efficiency is increased.
  • An electrode substrate has a metal wiring layer and a transparent conductive layer on a transparent substrate, and the metal wiring layer is composed of at least two layers, an inner layer and an outer layer.
  • the outer layer is preferably formed by a printing method. It is preferable that the volume resistivity of the inner layer is smaller than the volume resistivity of the outer layer.
  • the outer layer is formed of a paste composition containing at least conductive particles and a binder material, and the binder composition ratio of the paste composition is such that the binder in the composition forming another layer in the metal wiring layer It is preferable that the ratio is larger than the material mixing ratio.
  • composition forming the metal wiring layer contains silver or nickel.
  • a shielding layer may be provided on the surface of the conductive layer composed of the metal wiring layer and / or the transparent conductive layer.
  • a photoelectric conversion element or a dye-sensitized solar cell according to another aspect of the present invention has the above-described electrode substrate.
  • An electrode substrate has a metal wiring layer and a transparent conductive layer on a transparent substrate.
  • a metal wiring layer is formed along a wiring pattern formed on the transparent substrate by a groove processing, and at least a part of the metal wiring layer reaches a height below the surface of the transparent substrate.
  • At least the surface of the metal wiring layer is preferably covered with a shielding layer.
  • the shielding layer preferably contains at least one of a glass component, a metal oxide component, and an electrochemically inactive resin component.
  • a photoelectric conversion element or a dye-sensitized solar cell of the present invention has the above electrode substrate.
  • a conductive glass substrate according to another embodiment of the present invention includes: a glass plate provided with a transparent conductive film; and a glass plate provided on the glass plate and having a catalytic action with a passive metal or a substitutional metal or the metal.
  • a conductive circuit layer made of a material having the same; and an insulating circuit protection layer formed on the conductive circuit layer.
  • a passivation metal is formed in a pinhole generated in the circuit protection layer.
  • the aperture ratio of the conductive circuit layer is preferably 75% or more, and may be 90 to 99%. This is common to both embodiments.
  • the conductive circuit layer may be formed of a conductive paste containing at least one selected from gold, silver, platinum, palladium, copper, and aluminum. No.
  • the insulating circuit protection layer may be formed from an insulating paste material.
  • the passive metal may be formed by an electroless metal plating process.
  • the electroless metal plating may be electroless nickel plating, electroless cobalt plating, or electroless tin plating.
  • a dye-sensitized solar cell includes the conductive glass substrate.
  • a transparent conductive film layer is formed on a surface of a glass plate, and a metal having a catalytic action or a substitution type metal or a material containing the metal is formed thereon.
  • a conductive circuit layer is formed by screen printing, a circuit protective layer is formed thereon by an insulating paste, and a passivated metal is formed by electroless plating of nickel, cobalt, or tin metal.
  • An electrode substrate includes a base material, a metal wiring layer provided on the base material, and a transparent conductive layer electrically connected to the metal wiring layer.
  • the metal wiring layer is insulated and covered with an insulating layer mainly composed of a heat-resistant ceramic.
  • heat-resistant ceramic for example, a ceramic containing at least one of alumina, zirconia, and silica can be used.
  • the insulating layer for example, a layer containing at least one of a silicate, a phosphate, colloidal silica, an alkyl silicate, and a metal alkoxide can be used.
  • the insulating layer is preferably formed by a printing method.
  • the metal wiring layer is preferably formed by a printing method.
  • At least a part of the metal wiring layer can be located in a concave portion formed on the surface of the base material.
  • a photoelectric conversion element and a dye-sensitized solar cell according to another embodiment of the present invention include the above-described electrode substrate.
  • the metal wiring layer is reliably shielded, and the problems such as corrosion of the metal wiring layer, alteration of the electrolyte due to contact with the metal constituting the metal wiring layer, and leakage current can be solved.
  • the function as a transparent electrode substrate can be fully exhibited. For this reason, for example, in a large-area cell having a size of about 100 mm square, the photoelectric conversion efficiency can be increased as compared with a cell having an unwiring substrate.
  • FIG. 1A is a cross-sectional view showing one embodiment of the photoelectric conversion element of the present invention.
  • FIG. 1B is a sectional view showing an example of the electrode substrate.
  • FIG. 2 is a plan view showing an example of the metal wiring layer.
  • FIG. 3 to 7 are cross-sectional views showing other embodiments of the electrode substrate of the present invention.
  • 8 to 11 are sectional views showing still another embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • FIG. 12 to FIG. 12C are cross-sectional views showing still another embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • FIG. 12D is a cross-sectional view illustrating another embodiment of the photoelectric conversion element.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view of one embodiment of the conductive glass substrate of the present invention.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view showing still another embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • FIG. 15 is a plan view showing an example of the plane shape of the metal wiring layer.
  • FIGS. 16 to 24 are sectional views showing another embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • FIG. 25 is a cross-sectional view showing another embodiment of the photoelectric conversion element of the present invention.
  • FIGS. 26A and 26B are cross-sectional views illustrating an example of a conventional photoelectric conversion element.
  • FIG. 27 is a cross-sectional view of a conventional dye-sensitized solar cell. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1A is a cross-sectional view illustrating an example of the photoelectric conversion element of the present invention
  • FIG. 1B is a cross-sectional view illustrating an electrode substrate 1 used in the photoelectric conversion element.
  • This photoelectric conversion element is a dye-sensitized solar cell in which, when light such as sunlight enters from the base material 10 side, an electromotive force is generated between the working electrode 3 and the counter electrode 4 to thereby obtain power.
  • an electrode substrate 1 is provided on a base material 10, a transparent conductive layer 11, and a metal wiring formed on the transparent conductive layer 11.
  • layer 1 and an insulating layer 14 that covers only the surface of the metal wiring layer 12. The entire surface except the lower surface of the metal wiring layer 12 is covered with the insulating layer 14. In this embodiment, no insulating layer 14 is formed on the surface of the transparent conductive layer 11 between the metal wiring layers 12.
  • a material having high light transmittance is preferable for use.
  • transparent plastic sheets such as glass, polyethylene terephthalate (PE), polyethylene naphthalate (PEN), polycarbonate (PC), polyether sulfone (PES), titanium oxide, and alumina A polished ceramic plate can be used.
  • the transparent conductive layer 11 is formed over the base 10 over a region wider than the region where the metal wiring layer 12 is formed.
  • Material of the transparent conductive layer 1 1 Although not particularly limited, for example, indium tin oxide (I TO), tin oxide (S N_ ⁇ 2), a conductive metal such as fluoridation acid tin (FTO) Oxides.
  • the transparent conductive layer 11 As a method for forming the transparent conductive layer 11, an appropriate method according to the material of the transparent conductive layer 11 may be used. For example, a sputtering method, a vapor deposition method, an SPD method, a CVD method and the like can be mentioned. In consideration of light transmittance and conductivity, the transparent conductive layer 1 is usually formed to a thickness of about 0.001 m to 10 m. However, it is not limited to this range.
  • the metal wiring layer 12 is formed of a metal such as gold, silver, platinum, aluminum, nickel, titanium, or the like, as a wiring having a lattice, stripe, or comb pattern shown in FIG. .
  • the wiring width of the metal wiring layer 12 is not more than 1 000 ⁇ m.
  • the thickness (height) of each wiring of the metal wiring layer 12 is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 10 Am.
  • a paste is prepared by mixing a metal powder to be conductive particles and a binder such as glass fine particles, and the paste is formed by a screen printing method, a metal mask method, an ink jet method.
  • a coating film is formed so as to form a predetermined pattern by using a printing method such as a heating method, and the conductive particles are fused by heating and firing.
  • the firing temperature is, for example, 600 ° C. or less when the substrate 10 is glass, More preferably, the temperature is set to 550 ° C. or lower.
  • a forming method such as a sputtering method, an evaporation method, and a plating method can be used.
  • the metal wiring layer 12 preferably has a volume resistivity of 10 to 5 ⁇ ⁇ cm or less. It is preferable that the surface of the metal wiring layer 12 is smooth, but the presence of a small amount of undulations and unevenness may be acceptable.
  • the insulating layer 14 is formed by using one or more types of insulating materials such as resin, ceramics, and glass, and is formed as one or more layers by overlapping on the region where the metal wiring layer 12 is formed. I have.
  • the region where the insulating layer 14 is formed may protrude to the periphery of the pattern of the metal wiring layer 12 as long as it does not significantly impede light incidence or charge transfer to the transparent conductive layer 11.
  • the method for forming the insulating layer 14 is not necessarily limited.
  • a metal wiring is formed by a printing method such as a screen printing method, a metal mask method, and an ink jet method.
  • a coating film may be applied so as to overlap the pattern of the layer 12 and may be heated and fired. This method is suitable from the viewpoint of ease of pattern formation, cost, and the like.
  • the firing temperature is preferably 600 ° C. or lower, more preferably 550 ° C. or lower.
  • Glasses that can be fired at such temperatures include lead-free solder glasses such as lead oxide, lead borate, and bismuth lead borate as amorphous or crystalline glass, as well as non-lead glass. Solder glass or the like can be used.
  • the number of layers of the insulating layer 14 may be one or more. In the case of a plurality of layers, one kind of glass paste may be formed twice or more, or the melting temperature is different. Two or more types of glass paste may be used.
  • An oxide semiconductor porous film 2 carrying a sensitizing dye is formed on the surface of the electrode substrate 1, and the electrode substrate 1 and the oxide semiconductor porous film 2 constitute a working electrode 3 of the photoelectric conversion element. Is done.
  • the oxide semiconductor porous film 2 is a titanium oxide (T i 0 2), tin oxide (S n 0 2), tungsten oxide (W 0 3), zinc oxide (Z n O), niobium oxide (N b 2 0 5 ), Etc., composed of oxide semiconductor fine particles with an average particle size of 1 to 100 nm and a thickness of about 0.5 to 50 m. is there. However, this It is not limited to the range.
  • the oxide semiconductor porous film 2 for example, a commercially available dispersion liquid in which oxide semiconductor particles are dispersed in a desired dispersion medium or a colloid solution that can be prepared by a sol-gel method is used, if necessary.
  • a method of applying by a known coating method such as a screen printing method, an ink-jet printing method, a roll coating method, a doctor blade method, a spin coating method, a spray coating method, and the like.
  • the polymer microbeads are removed by heat treatment or chemical treatment to form voids, and And a method in which can be applied.
  • the sensitizing dye supported on the oxide semiconductor porous film 2 is not particularly limited.
  • ruthenium complexes with ligands containing a biviridine structure, Yuichi pyridine structure, etc. can be appropriately selected and used depending on the material of the oxide semiconductor porous film.
  • an organic solvent containing a redox couple, a room temperature molten salt, or the like can be used as an electrolytic solution for forming the electrolyte layer 5.
  • the organic solvent include acetonitrile, methoxyacetonitrile, propionitrile, ethylene-carbonate, propylene-carbonate, getylcarbonate, and carboxylactone.
  • the room-temperature molten salt include salts composed of a quaternized imidazolyl cation and an iodide ion or bisulfurylmethylsulfonylimidaione.
  • the redox couple contained in the electrolyte is not particularly limited.
  • it may be a pair of iodine noodide ion, bromine bromide ion, or the like.
  • iodide ion or bromide ion lithium salt, quaternized imidazonium salt, tetrabutylammonium salt and the like can be used alone or in combination.
  • Additives such as tert-butylpyridine can be added to the electrolyte as needed. It is also possible to use a gel that has been gelled with a suitable gelling agent to suppress the fluidity.
  • a solid charge transfer layer 6 made of a p-type semiconductor or the like can be used.
  • the p-type semiconductor for example, a monovalent copper compound such as copper iodide and copper cyanide can be suitably used.
  • the method for forming the charge transport layer 6 is not particularly limited, and a known method can be applied. Examples thereof include a casting method, a sputtering method, and a vapor deposition method.
  • the charge transfer layer 6 may contain an additive as necessary for forming the layer.
  • the counter electrode 4 is, for example, a thin film made of a conductive oxide semiconductor such as IT0 or FT0 formed on a substrate made of a nonconductive material such as glass, or gold or platinum on a substrate.
  • An electrode formed by depositing or applying a conductive material such as a carbon-based material can be used.
  • a layer of platinum, carbon, or the like may be formed on a thin film of a conductive oxide semiconductor such as ITO or FTO.
  • a method for producing such a counter electrode 4 for example, a method of forming a platinum layer by performing a heat treatment after application of chloroplatinic acid can be mentioned.
  • the electrodes may be formed on the substrate by a vapor deposition method and a sputtering method.
  • a method of forming a conductive material to be the electrode of the counter electrode 4 directly on the charge transport layer 6 by a method such as sputtering or coating may be used. it can.
  • the transparent conductive layer 11 and the metal wiring layer 12 are in contact with and electrically connected to each other, electrons from the oxide semiconductor porous film 2 are transferred to the transparent conductive layer.
  • the power collection efficiency can be increased through the metal wiring layer 12 through the current collection by the metal wiring layer 12.
  • the metal wiring layer 12 is reliably shielded from the solution of the electrolyte layer 5 and the like, and its corrosion and leakage current can be effectively suppressed. Therefore, since the electrode substrate 1 having excellent conductive properties can be obtained, contact between the metal wiring layer 12 and the electrolyte layer 5 can be prevented by forming the working electrode of the photoelectric conversion element using the electrode substrate of this embodiment.
  • FIG. 3 is a schematic sectional view showing a second embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • the metal wiring layer 12 is provided on the substrate 10, and the transparent conductive layer 11 straddles the metal wiring layer ⁇ 2 to form the metal wiring layer 12. It is formed over a wider area than the area in which it is formed.
  • the insulating layer ⁇ 4 is formed on the transparent conductive layer 11 1
  • the metal wiring layer 12 is formed so as to cover the top and side surfaces of the metal wiring layer 12 so as to overlap with the pattern of the metal wiring layer 12. That is, the insulating layer 14 is provided on the metal wiring layer 12 via the transparent conductive layer 11.
  • the metal wiring layer 12 can be insulated and shielded by the insulating layer 14, similarly to the electrode substrate 1 of the first embodiment.
  • the electrode substrate 1 is excellent in quality. Even if this electrode substrate 1 is used, a photoelectric conversion element having high photoelectric conversion efficiency can be manufactured.
  • FIG 5 shows another embodiment of the electrode substrate of the present invention.
  • a transparent conductive layer 11 is formed on a base material 10, and a metal wiring layer 12 is formed on the transparent conductive layer 11 as a pattern such as a lattice. Have been.
  • a shielding layer 13 made of an oxide semiconductor thin film is provided on the transparent conductive layer 11, and an insulating layer 14 is formed on the metal wiring layer 12.
  • the metal wiring layer 12 is formed on the base material 10 as a pattern such as a lattice, and the metal wiring layer 12 is formed on the metal wiring layer 12.
  • the transparent conductive layer 11 is formed over an area wider than the area covered by the transparent conductive layer.
  • a shielding layer 13 made of an oxide semiconductor thin film is provided on the transparent conductive layer 11.
  • an insulating layer 14 is formed on the shielding layer 13 so as to overlap the pattern of the metal wiring layer # 2 so as to cover the upper and side surfaces of the metal wiring layer 12.
  • a compound having a low electron transfer reaction rate with an electrolytic solution containing a redox species, a high light transmission property, and a high photoelectron transfer ability is selected. Titanium oxide, zinc oxide, niobium oxide , Tin oxide, fluorine-added tin oxide (FTO), tin-added indium oxide (ITO) and the like.
  • the shielding layer 13 needs to be formed thin enough not to hinder electron transfer to the transparent conductive layer 11, and preferably has a thickness of about 10 to 300 nm.
  • Examples of the method for forming the shielding layer 13 include a sputtering method, an evaporation method, an SPD method, a spin coat method, a dive method, and a doctor blade method. But these According to the method, the density of the shielding layer 13 and the adaptability to the surface shape of the base material 10 are not always sufficient, and it is difficult to sufficiently obtain the shielding performance of the metal wiring layer 12. Therefore, even when the shielding layer 13 is formed, the insulating layer 14 must be formed directly on the metal wiring layer 12 or via the transparent conductive layer 11 or the shielding layer 13. Therefore, the insulating insulation of the metal wiring layer 12 can be sufficiently performed.
  • the method for forming the shielding layer 13 is not particularly limited.
  • an oxide semiconductor as a target compound or a precursor thereof is formed by a dry method (vapor phase method) such as a sputtering method, an evaporation method, or a CVD method.
  • a dry method vapor phase method
  • the shielding layer 13 can be obtained by oxidizing the film by heat treatment or chemical treatment.
  • a liquid containing the target compound or its precursor is applied by a method such as spin coating, divebing, or blade coating, and then chemically changed to the target compound by heat treatment or chemical treatment.
  • the shielding layer 13 can be obtained.
  • the precursor include salts and complexes having the constituent metal elements of the target compound.
  • a solution is more preferable than a dispersion.
  • the shielding layer 13 As another method for forming the shielding layer 13, for example, by using a spray pyrolysis method (SPD), while heating the substrate 10 having the transparent conductive layer 11, A method of forming the shielding layer 13 by spraying a substance serving as a precursor of the shielding layer 13 and thermally decomposing the substance into a target oxide semiconductor can also be used.
  • SPD spray pyrolysis method
  • a method of forming the shielding layer 13 by spraying a substance serving as a precursor of the shielding layer 13 and thermally decomposing the substance into a target oxide semiconductor can also be used.
  • the shielding layer 13 can have an effect as a protective layer for a purpose different from, for example, the insulating layer 14 as necessary in terms of characteristics.
  • the shielding layer 13 is formed not only on the transparent conductive layer, but also on the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14.
  • the shielding layer 13 can be used as a protective layer for the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14.
  • the metal wiring layer 12 is formed on the first transparent conductive layer 11 a as a wiring pattern such as a grid, a stripe, or a comb.
  • This An insulating layer 14 for covering the metal wiring layer 12 is provided on the metal wiring layer 12.
  • a second transparent conductive layer 11 b is formed on the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14. That is, the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14 are sandwiched between the first transparent conductive layer 11a and the second transparent conductive layer 11b.
  • the first and second transparent conductive layers 1 ⁇ a and 1 1b are the same as the above-described transparent conductive layer ⁇ 1, and are thin films made of conductive metal oxides such as ITO and F ⁇ . .
  • the insulating layer 14 allows the metal wiring layer 12 to be insulated and shielded, and the second transparent conductive layer 11 b enables the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14. Can be protected.
  • the second transparent conductive layer 11b in addition to the first transparent conductive layer 11a, an improvement in current collection efficiency can be expected.
  • the electrode substrate of this embodiment can be applied to photoelectric conversion elements other than solar cells, such as photochemical cells and optical sensors. Also in this case, the metal wiring layer 12 of the electrode substrate 1 is covered with the insulating layer 14 and the contact of the metal wiring layer 12 with the electrolyte solution or the like is prevented, so that problems such as corrosion and short circuit are suppressed. As a result, it is possible to suppress deterioration in quality, photoelectric conversion characteristics, and light responsiveness.
  • a 100 mm ⁇ 100 mm glass substrate with an FTO film was used as the transparent conductive layer 1 1 (1 1 a) and the substrate 10.
  • a silver paste for printing (volume resistivity after sintering was 3 X 10 — 6 ⁇ ) was screen-printed in a grid pattern. After leveling for 10 minutes, it was dried in a hot air circulating oven at 135 ° C. for 20 minutes and baked at 550 ° C. for 15 minutes to form a metal wiring layer 12 composed of a silver circuit.
  • the circuit width of the metal wiring layer 12 was 150 tm and the film thickness was 5 m.
  • the width of the obtained insulating layer 14 was 250_tm, and the film thickness from the surface of the glass substrate was 10 e. For this reason, about 5 m This means that the insulating layer 14 is formed with a thickness of.
  • the FTO film serving as the second transparent conductive layer 11 b serving as the protective layer and the shielding layer 13 is formed so as to extend over the metal wiring layer 12 and the insulating layer 14.
  • the electrode substrate 1 having the configuration shown in FIG. 6 (and FIG. 7) was manufactured.
  • An aqueous dispersion of titanium oxide (average particle size: 25 nm) is applied on the obtained electrode substrate 1, dried, and heated at 450 ° C. for 1 hour to form a 10 m-thick oxide.
  • Semiconductor porous film 2 was formed. Further, the electrode was immersed in an ethanol solution of a ruthenium biviridine complex (N3 pigment) for 8 hours to carry a dye, thereby preparing a working electrode 3.
  • a platinum electrode FTO glass electrode substrate was used as the counter electrode 4, and the counter electrode 4 and the working electrode 3 were opposed to each other with a 50 / m-thick thermoplastic polyolefin resin sheet interposed as a spacer. Both electrodes 3 and 4 were fixed by heat melting of the resin sheet.
  • a part on the counter electrode 4 side was left open to serve as the electrolyte injection port.
  • a methoxyacetonitrile solution containing 0.5 M iodide salt and 0.05 M iodine as a main component is injected from the injection port to form an electrolyte layer 5, and then the peripheral portion and the liquid are injected.
  • the opening was completely sealed with an epoxy-based sealing resin, and a silver paste was applied to the current collecting portion to produce a photoelectric conversion element serving as a test cell.
  • a 100 mm XI 00 mm heat-resistant glass substrate was used as the base material 10, and a circuit width of 50 m and a film thickness of 5 mm were formed on this surface using a silver paste for printing in the same procedure as in Example A1.
  • an FT0 film to be the transparent conductive layer 11 was formed on the metal wiring layer 2 by the SPD method. Further, using the same method as in Example A1, the pattern of the metal wiring layer 12 was printed by printing a glass paste.
  • An insulating layer 14 was formed in accordance with the above, to fabricate an electrode substrate 1 having the configuration shown in FIG.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured in the same procedure as in Example A1.
  • the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight having an air mass (AM) of 1.5, the conversion efficiency was 2.5%.
  • a glass substrate with an FTO film of 10 Omm x 10 Omm was used as the transparent conductive layer 11 and the base material 10, and a surface with a circuit width of 50 tm and a film thickness of 5 Atm was formed on this surface by the additive plating method.
  • a metal wiring layer 12 made of a gold circuit was formed.
  • An insulating layer 14 was formed on the metal wiring layer 12 in accordance with the pattern of the metal wiring layer 12 by printing a glass paste using the same method as in Example A1.
  • An electrode substrate 1 having the configuration shown was produced.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured in the same procedure as in Example A1.
  • the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight with an air mass (AM) of 1.5, the conversion efficiency was 3.3%.
  • a 100 mm ⁇ 100 mm heat-resistant glass substrate was used as the base material 10, and a circuit width of 100 Atm and a film thickness of 5 mm were formed on this surface by using a silver paste for printing in the same procedure as in Example A1.
  • an FTO film to be the transparent conductive layer 11 and the shielding layer 13 is formed on the metal wiring layer 12 by the same procedure as in Example A2, and the electrode substrate is formed. ⁇ was prepared.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was produced in the same procedure as in Example A1. Observation of the electrolyte injected into this test cell showed that it had a brown color immediately after injection, but was almost transparent several minutes later. This is because I “ions in the electrolyte are exposed due to insufficient shielding of the silver circuit. It is thought that it was reduced to I- by reacting with silver.
  • the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight having an air mass (AM) of 1.5, the photoelectric conversion efficiency was 0.24%.
  • a glass substrate with FT0 film of 100 Omm x 100 mm was used as the transparent conductive layer 11 and substrate 10, and a circuit width of 50 ⁇ m and a film thickness of 5 Atm were applied to this surface by the additive plating method.
  • a metal wiring layer 12 made of a gold circuit was formed.
  • a 300 nm-thick FTO film serving as the transparent conductive layer 11 and the shielding layer 13 was formed on the metal wiring layer 12 by using the same method as in Example A2, and the electrode substrate 1 was formed. Produced.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured in the same procedure as in Example A1.
  • the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight with an air mass (AM) of 1.5, the conversion efficiency was 0.30%.
  • the shielding layer 13 is provided without providing the insulating layer 14 to shield the conductive layer, the metal wiring layer 12 is easily exposed, and the metal wiring layer 12 is exposed.
  • the photoelectric conversion efficiency of the photoelectric conversion element may be significantly reduced, which proves to be a problem.
  • a glass substrate with an FT0 film of 10 OmmX ⁇ 00 mm was used, and the glass substrate with an FTO film itself was used without providing the metal wiring layer 12 on this surface.
  • the same procedure as in Example A1 was used by using it as the electrode substrate 1.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured.
  • the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight having an air mass (AM) of 1.5, the conversion efficiency was 0.1%. This indicates that when the metal wiring layer 12 is not provided, the photoelectric conversion efficiency of the photoelectric conversion element is low because the resistance of the electrode substrate 1 is large.
  • AM air mass
  • An electrode substrate according to another embodiment of the present invention has a metal wiring layer and a transparent conductive layer on a transparent substrate, and the metal wiring layer is composed of at least two layers, an inner layer and an outer layer.
  • a structure in which a metal wiring layer 24 is arranged on a transparent conductive layer 23 formed on the transparent substrate 22—surface may be used.
  • a structure in which a transparent conductive layer 23 is formed on a transparent substrate 22 on which a metal wiring layer 24 is disposed may be used.
  • the same reference numerals as those in FIG. 8 denote the same configuration as the configuration in FIG.
  • the material of the transparent substrate 22 may be the same as that of the base material 10 described above. Those having high light transmittance are preferable.
  • the material for forming the transparent conductive layer 23 may be the same as the transparent conductive layer 11 described above. It is preferable to select a material having a light transmittance as high as possible as much as possible according to the combination and use of the materials.
  • a known method such as a sputtering method or an evaporation method is used, and an appropriate method is used according to a material for forming the transparent conductive layer 23. Just fine.
  • the material for forming the inner layer 24a of the metal wiring layer 24 is not particularly limited.
  • gold, silver, platinum, aluminum, nickel, titanium, and the like can be used.
  • silver or nickel can be suitably used because they are relatively inexpensive and easily available as general-purpose printing pastes.
  • Binder materials and appropriate additives can be added as long as properties such as conductivity are not impaired.
  • the method for forming the inner layer 24a is not particularly limited, and includes a printing method, a sputtering method, a vapor deposition method, a plating method, and the like. Among these, the printing method is particularly preferable.
  • the inner layer 24a thus formed has a smaller volume resistivity than that of the outer layer 24b.
  • the coating surface of the inner layer 24 a The layer is preferably smooth, but since this layer is formed in accordance with the original purpose as the metal wiring layer 24 for lowering the resistance of the electrode substrate 21, high priority is given to high conductivity.
  • the outer layer 24 b described later is a conductive layer, but its main purpose is to make the wiring surface smooth and facilitate the formation of the shielding layer 25, so that the volume resistance is lower than that of the inner layer 24 a. The rate can be large.
  • the volume resistivity of the inner layer 2 4 a is preferably not more than at least 5 XI 0 _ 5 ⁇ ⁇ cm . Under this condition, even if some pinholes or cracks occur on the surface of the coating film, there is no problem because it can be corrected by the outer layer 24b. If this layer is included in the metal wiring layer 24, another layer different from the outer layer 24b may be formed inside and outside the inner layer 24a for some purpose.
  • the outer layer 24 b of the metal wiring layer 24 is desirably formed of a paste composition containing at least conductive particles and a binder material.
  • the conductive particles are not particularly limited, and examples thereof include silver, nickel, gold, and platinum. Among these, silver or nickel can be suitably used because they are relatively inexpensive and easily available as general-purpose printing pastes.
  • the binder material is not particularly limited.
  • the heat treatment at about 400 to 500 ° C. is included in the manufacturing process, so the The firing composition is selected from firing types, such as glass frit.
  • the glass frit serving as the binder material is not particularly limited as long as it can be melted at the firing temperature or lower.
  • the compounding ratio of the binder material in the paste composition forming the outer layer 24 b is preferably larger than the compounding ratio of the binder material in the composition forming the other layers in the metal wiring layer 24. .
  • the mixing ratio of the binder material in the paste composition forming the outer layer 24b is preferably at least 10% by mass, more preferably at least 20%, with respect to the conductive particles.
  • the conductivity of the film (outer layer 24b) is remarkably reduced with an increase in the blending ratio of the binder material, so that the blending ratio of the binder material is smaller as long as the surface condition satisfies the above requirements. Is preferably 90% or less, more preferably 70% or less.
  • a printing method is preferable.
  • the printing method includes a screen printing method, an ink jet method, and a metal mask method.
  • the surface roughness is small and cracks and pinholes are not generated, so that the surface of the metal wiring layer 24 is smoothed and the shielding layer 2 is formed. 5 can be easily formed.
  • the manufacturing cost can be reduced and the manufacturing efficiency can be improved.
  • the outer layer 24b in the present specification means a printed layer formed by a printing method for the above-mentioned purpose, and is not necessarily arranged on the outermost surface of the metal wiring layer 24, and may be changed as necessary. Another layer may be formed on the outside for some purpose.
  • the thickness of the outer layer 24b does not exceed 100% of the thickness of the inner layer 24a. If the thickness of the outer layer 24b exceeds 100% of the thickness of the inner layer 24a, the conductivity per unit volume of the circuit becomes low, so the circuit thickness becomes too thick or the conductivity becomes too large. Shortages and other inconveniences are likely to occur.
  • a firing step for example, for the purpose of fusing conductive particles, considering the application to a glass substrate, etc. It is preferable that the required characteristics can be obtained at a firing temperature of 550 ° C. or lower. In the present embodiment, it is preferable that a shielding layer 25 is provided on the surface of the conductive layer composed of the metal wiring layer 24 and / or the transparent conductive layer 23.
  • the electron transfer reaction speed with the oxidation-reduction pair-containing electrolytic solution that comes into contact with a solar cell is slow, the light transmission is excellent, and the movement of generated photons is prevented.
  • the property of not having such properties For example, titanium oxide, zinc oxide, niobium oxide, tin oxide, fluorine-added tin oxide (FTO), tin-added indium oxide (ITO), etc. Can be mentioned.
  • the method for forming the shielding layer 25 is not particularly limited, and examples thereof include a method of forming a target compound or a precursor thereof by a dry method (gas phase method) such as a sputtering method, an evaporation method, and a CVD method.
  • a dry method gas phase method
  • the shielding layer 25 can be formed by oxidizing the film by a heat treatment or a chemical treatment.
  • a solution obtained by dissolving or dispersing the target compound or its precursor is applied by a spin coating method, a dive method, a blade coating method, or the like, and then the target compound is chemically or chemically treated by heat treatment or chemical treatment.
  • the shielding layer 25 can be formed.
  • the precursor include salts and complexes having the constituent metal element of the target compound.
  • the shielding layer 25 it is preferable to be in a dissolved state rather than a dispersed state.
  • the shielding layer 25 In the case of spray pyrolysis (SPD) or the like, a substance serving as a precursor of the shielding layer 25 is sprayed toward the heated state of the transparent substrate 22 having the transparent conductive layer 23 and thermally decomposed.
  • the shielding layer 25 can be formed by changing the intended oxide semiconductor.
  • the thickness of the shielding layer 25 is not particularly limited, but is preferably as thin as possible in order to exhibit the effect, and is preferably about 10 to 3000 mm.
  • the transparent conductive layer 23 forms the shielding layer 25 as shown in FIG. It may be double.
  • the electrode substrate 21 of the present embodiment does not have a shadowed portion such as a pinhole or a crack on the surface of the outer layer 24 b of the metal wiring layer 24, the surface is densely covered by the shielding layer 25. Can be coated.
  • the dye-sensitized solar cell of the present embodiment includes, on the electrode substrate 21 described above, a working electrode including a dye-supported oxide semiconductor porous film, and a counter electrode disposed to face the working electrode.
  • An electrolyte layer containing a redox couple is provided between the working electrode and the counter electrode.
  • Ti i 0 2 titanium oxide
  • S n0 2 tin oxide
  • W0 3 tungsten oxide
  • Z nO zinc oxide
  • Etc As a material of the semiconductor porous film, titanium oxide (T i 0 2), tin oxide (S n0 2), tungsten oxide (W0 3), zinc oxide (Z nO), niobium oxide (N b 2 O s). Etc.
  • Examples of the method for producing a porous semiconductor film include a screen printing method, an ink jet printing method, a roll coating method, a doctor blade method, and a spin coating method using a colloid solution or a dispersion liquid (including an additive as necessary).
  • various coating methods such as spray coating, spray electrophoresis of fine particles, combined use of a foaming agent, and compounding with polymer beads (only the type II component is removed later) can be applied.
  • Dyes supported on the semiconductor porous membrane include ruthenium complexes containing a biviridine structure, a terpyridine structure, etc. as ligands, metal-containing complexes such as porphyrins and phthalocyanines, and organic dyes such as echinosine, rhodamine and merocyanine.
  • a material having an excitation behavior suitable for the application and the semiconductor to be used can be selected without particular limitation.
  • an organic solvent containing a redox couple, a molten salt at room temperature, or the like can be used.
  • a pseudo-solidified so-called gel electrolyte may be used by introducing an appropriate gelling agent into such an electrolytic solution.
  • the redox couple is not particularly restricted but includes, for example, iodine noodide ion and bromine / bromide ion.
  • specific examples of the former include iodide salt (lithium salt, quaternary Imidazolymium salt, tetrabutylammonium salt, etc. can be used alone or in combination) and iodine.
  • Various additives such as t-tert-butylpyridine can be further added to the electrolytic solution as needed.
  • a P-type semiconductor or the like can be used as the charge transport layer.
  • the p-type semiconductor for example, Monovalent copper compounds such as copper iodide and copper cyanide can be suitably used.
  • Various additives can be contained as required for the function and film formation.
  • the method for forming the charge transfer layer is not particularly limited, and examples thereof include a film forming method such as a casting method, a sputtering method, and an evaporation method.
  • the counter electrode for example, various carbon-based materials, platinum, gold, and the like can be formed on a conductive or non-conductive substrate by a method such as vapor deposition or sputtering.
  • a technique such as direct sputtering or coating on the surface may be used.
  • the dye-sensitized solar cell of the present embodiment has the electrode substrate 21 corrosion of metal wiring due to the electrolyte and reverse electron transfer from the metal wiring layer 24 to the electrolyte are suppressed, and the output effect of the photoelectric conversion element is reduced. Further improve.
  • a silver paste (silver particles 92, glass frit 8 (mass ratio)) forming the inner layer 24a was screen-printed in a grid pattern on the surface of the glass with the FTO film of 100 ⁇ 100 mm. After a leveling time of 10 minutes, this was dried in a hot air circulating furnace at 135 ° C for 20 minutes, and baked at 550 ° C for 15 minutes. Next, using a CCD camera, silver paste (silver particles 55 glass frit 45 (mass ratio)) forming the outer layer 24b is overprinted while performing alignment, and after a leveling time of 10 minutes, 1 35 ° C,
  • Circuit width 250 Am (outer layer 24 b), 150 m (inner layer 24 a), film thickness 8 Aim (outer layer
  • An FTO layer was formed to a thickness of 300 nm by spray pyrolysis on the surface of the substrate with wiring thus produced to form a shielding layer 25, thereby obtaining an electrode substrate (i).
  • a silver circuit was formed on a heat-resistant glass substrate in the same manner as in Example 1, and an FTO film was formed on the substrate surface. This was used as a transparent conductive layer 23 and a shielding layer 25 to obtain an electrode substrate (ii).
  • a gold circuit was formed on a 100 mm square FTO glass substrate by the additive plating method.
  • the gold circuit was formed in a grid on the substrate surface, and had a circuit width of 50 tm.
  • a silver printed circuit was overprinted as the outer layer 24b, and dried and sintered in the same manner as in Example B1.
  • the silver paste contained silver particles 55Z glass frit 45 (mass ratio) and had a film thickness of 8 tm (3 im outer layer + 5 m inner layer).
  • An FTO layer having a thickness of 300 nm was formed on this surface in the same manner as in Example B1 to form a shielding layer 25, thereby obtaining an electrode substrate (iii).
  • a wiring cell (Mi) was obtained in the same manner as in Example 1.
  • the photoelectric conversion characteristics were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency of the wired cell (iii) was 3.1%.
  • Example B 1 A silver paste (silver particles 92 glass frit 8 (mass ratio)) was printed on a 100 mm square FTO glass substrate so as to have a circuit width of 250 m and a film thickness of 8 m. Dried and sintered in the same manner as in An FTO layer of 300 nm was formed on this surface in the same manner as in Example B1 to form a shielding layer 25, and an electrode substrate (iv) was obtained.
  • silver paste silver particles 92 glass frit 8 (mass ratio)
  • a wiring type cell (iv) was obtained in the same manner as in Example ⁇ 1. Focusing on the electrolyte injected into the wiring type cell (iv), the brownish brown immediately after the injection turned almost transparent after a few minutes. This is probably because I 3 in the electrolyte reacted with unexposed silver that had been exposed and was reduced to I.
  • Example B A silver paste (silver particles 55 / glass frit 45 (mass ratio)) was printed on a 100 mm square FT0 glass substrate so as to have a circuit width of 250 m and a film thickness of 8 m. Dried and sintered in the same manner as 1. An FTO layer of 300 nm was formed on this surface in the same manner as in Example B1 to form a shielding layer 25, and an electrode substrate (v) was obtained.
  • a wiring cell (V) was obtained in the same manner as in Example B1.
  • the photoelectric conversion characteristics were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency of the wiring type cell (V) was 0.18%.
  • a gold circuit was formed on a 100 mm square FTO glass substrate by the additive plating method.
  • the gold circuit was formed in a lattice pattern on the substrate surface, the circuit width was 50 mm, and the film thickness was 5 Aim.
  • An FTO layer having a thickness of 300 nm was formed on this surface in the same manner as in Example B1 to form a shielding layer 25, and an electrode substrate ( ⁇ ) was obtained.
  • this electrode substrate ( ⁇ ) was confirmed using SEM and EDX, there was a recess at the bottom of the circuit (wiring), which was thought to be caused by the tailing of the plating resist, and FT 0 was found in the shadow. It was not coated.
  • a wiring-type cell ( ⁇ ⁇ ⁇ ) was obtained in the same manner as in Example B1.
  • the photoelectric conversion characteristics were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the wiring type cell (vi) The conversion efficiency was 0.3%.
  • a test cell (vii) was obtained in the same manner as in Example B1 using a FT glass substrate of 100 mm square without wiring.
  • the conversion efficiency of the test cell (vii) was 0.11%.
  • the wiring cells of Examples B1 to B3 were all excellent in photoelectric conversion efficiency, whereas the wiring cell ( ⁇ ) of Comparative Example B1 had a single metal wiring layer 24. Since the shielding by the shielding layer 25 was insufficient, the characteristics of the electrode substrate could not be brought out, and the conversion efficiency was not good.
  • Comparative Example ⁇ The wiring type cell (V) of 2 has a single metal wiring layer 24 and has a high volume resistivity, so that the resistance of the electrode substrate cannot be reduced and a high output cannot be obtained.
  • Comparative Example ⁇ In the wiring type cell (vi) of 3, since the metal wiring layer 24 was composed of one layer and the shielding by the shielding layer 25 was insufficient, the characteristics of the electrode substrate could not be brought out. The conversion efficiency was not good.
  • the electrode substrate 21 reduces the surface roughness (roughness) of the metal wiring layer 24 and provides a substrate surface on which a dense shielding layer 25 without pinholes or the like can be formed. According to the dye-sensitized solar cell having such an electrode substrate 21, corrosion of metal wiring due to the electrolyte and reverse electron transfer from the metal wiring layer 24 to the electrolyte are suppressed, and the output effect of the photoelectric conversion element is reduced. Further improve.
  • FIG. 10 is a schematic sectional view showing another embodiment of the present invention.
  • the transparent substrate 32 has a wiring pattern that has been grooved by laser or etching.
  • the concave portion formed by the groove processing means a state reaching below the surface of the transparent substrate 32, and there is no limitation on a shape such as a lens shape, a concave shape, and a V-valley shape.
  • the term “surface” refers to the surface of the substrate surface on which a semiconductor porous film or the like is formed and which is disposed to face the counter electrode.
  • glass such as heat-resistant glass is generally used as the transparent substrate 32.
  • the metal wiring layer 33 is formed along the wiring pattern formed in the transparent substrate 32 by the groove processing, and at least a part of the metal wiring layer 33 reaches a height equal to or lower than the surface of the transparent substrate 32. There is no particular limitation as long as it has a structure. For example, as shown in FIG. 10, the surface of the metal wiring layer 33 has the same height as the surface of the transparent substrate 32, and as shown in FIG.
  • the surface of the metal wiring layer 33 has the surface of the transparent substrate 32. It may be one that has reached a position higher than the surface, or one in which the metal wiring layer 33 is entirely formed below the surface of the transparent substrate 32 (not shown). In any of the embodiments, when viewed from the direction in which the shielding layer 35 is formed, it is preferable that the shape be as smooth as possible with no noticeable unevenness, shading or voids. It is preferable that the step between the surface of the metal wiring layer 33 and the surface of the transparent substrate 32 be smaller.
  • the material for forming the metal wiring layer 33 is not particularly limited. For example, gold, silver, platinum, aluminum, nickel, titanium and the like can be used.
  • a method for forming the metal wiring layer 33 for example, various methods such as a screen printing, a metal mask, an inkjet method, and a plating method, a sputtering method, and an evaporation method are used without any particular limitation. it can. Particularly preferably, a method including at least one of a plating method and a printing method is selected.
  • the height of the surface of the metal wiring layer 33 can be adjusted, for example, by making the surface height of the transparent substrate 32 uniform by polishing.
  • the positional relationship between the metal wiring layer 33 and the transparent conductive layer 34 is not particularly limited. In the embodiment of FIG.
  • the metal wiring layer 33 is buried in the groove formed on the surface of the substrate 32, and then the transparent conductive layer 34 is formed over the entire surface of the substrate 32. I have. In this case, the entire upper surface of the metal wiring layer 33 is electrically connected to the lower surface of the transparent conductive layer 34.
  • the transparent conductive layer 34 is formed over the entire surface of the substrate 32, and then a groove is formed so as to form a wiring pattern, and the metal wiring layer 33 is embedded in the groove. Have been.
  • the upper end of the metal wiring layer 33 rises above the transparent conductive layer 34, and the edge of the adjacent transparent conductive layer 34 is formed. It is preferable to cover over a certain width.
  • the overhang 33 A makes it possible to ensure conduction.
  • a shielding layer 35 is formed over the entire surface of the substrate 32. As shown in FIG. 11, the shielding layer 35 may be raised one step above the metal wiring layer 33, or may be a flat surface over the entire surface. Is also good.
  • a transparent conductive layer 34 is formed on the entire surface of the substrate 32 including the inside of the groove.
  • a metal wiring layer 33 is formed in the groove.
  • the upper end of the metal wiring layer 33 rises above the transparent conductive layer 34, and the gap between the transparent conductive layer 34 and the adjacent transparent conductive layer 34 increases. Is preferably covered over a certain width.
  • the overhang 33 A makes it possible to ensure conduction.
  • a shielding layer 35 is formed over the entire surface of the metal wiring layer 33 and the substrate 32. As shown in FIG. 12, the shielding layer 35 may be raised one step above the metal wiring layer 33, or may be a flat surface over the entire surface.
  • FIG. 12B is a modification of the embodiment of FIG. 11, and is characterized in that the shielding layer 35 is formed only at a position covering the metal wiring layer 33. As shown in FIG. 12C, the upper end surface of the metal wiring layer 33 may be concave due to volume shrinkage when the metal wiring layer 33 is formed.
  • FIG. 12D is a cross-sectional view of an example of a dye-sensitized solar cell using the electrode substrate 31 of FIG. 12B.
  • the same reference numerals are given to the same components as those in FIG. 12B.
  • a material for forming the transparent conductive layer 3 4 is not particularly limited, for example, tin added pressure indium oxide (ITO), tin oxide (S n 0 2), fluorine-doped tin oxide (FT 0) etc. may be mentioned. However, it is preferable to appropriately select a material having the highest possible light transmittance according to the combination of materials and the application.
  • ITO indium oxide
  • S n 0 2 tin oxide
  • FT 0 fluorine-doped tin oxide
  • a method for forming the transparent conductive layer 34 for example, a known method such as a sputtering method, an evaporation method, CVD or SPD, or an appropriate method depending on the material for forming the transparent conductive layer 34 is used. Good.
  • the transparent conductive layer 34 when the transparent conductive layer 34 is formed on the substrate on which the metal wiring layer 33 is disposed, the transparent conductive layer 34 may also serve as the shielding layer 35. .
  • a shielding layer 35 is formed on the surface of the conductive layer composed of the metal wiring layer 33 and the transparent or conductive layer 34.
  • the shielding layer 35 preferably contains at least one of a glass component, a metal oxide component, and an electrochemically inactive resin component.
  • the glass component is a low-melting amorphous or crystalline glass component such as lead oxide or lead borate
  • the metal oxide component is titanium oxide, zinc oxide, or fluorine-added tin oxide (F
  • electrochemically inactive resin components such as D0
  • tin-added indium oxide (ITO) include polyolefin resins, polyimide resins, polybenzoxazole resins, and polyurethane resins. These can be used alone or in combination of two or more.
  • the shielding layer 35 made of a metal oxide component (oxide semiconductor) will be described in more detail.
  • a material the rate of electron transfer reaction with a redox species-containing electrolytic solution that comes into contact with a dye-sensitized solar cell is considered. It is required to have characteristics such as low speed, excellent light transmittance, and not hinder the movement of generated photoelectrons.
  • the material is not particularly limited as long as it satisfies such required characteristics, but examples thereof include titanium oxide, zinc oxide, niobium oxide, tin oxide, FTO, and ITO.
  • the formation range of the shielding layer 35 is not particularly limited as long as it includes at least the surface of the metal wiring layer 33, and may be limited to only the surface of the metal wiring layer 33, or may be limited to the surface of the metal wiring layer 33.
  • a wider range including the transparent portion where the transparent conductive layer 34 is disposed may be used.
  • the problem is small compared to the metal wiring layer 33, it has been pointed out that reverse electron transfer from the transparent conductive layer 34 has been pointed out, so it shields a wider area including the transparent part where the transparent conductive layer 34 is arranged.
  • the method for forming the shielding layer 35 is not particularly limited.
  • a method in which a target compound or a precursor thereof is formed by a dry method such as a sputtering method, an evaporation method, or a CVD method.
  • a precursor such as a metal
  • the shielding layer 35 can be formed by oxidizing the film by a heat treatment or a chemical treatment.
  • a solution obtained by dissolving or dispersing the target compound or its precursor is applied by a spin coating method, a dive method, a blade coating method, or the like, and then the target compound is heated or chemically treated. Shielding by chemical change to Layer 35 can be formed.
  • the precursor include salts and complexes having the constituent metal element of the target compound.
  • the shielding layer 35 can be formed by changing the oxide semiconductor into a target oxide semiconductor.
  • the circuit thickness can be increased without increasing the level difference, so that the aperture ratio (the ratio of non-wiring portions) of the electrode substrate 31 can be increased and the resistance can be reduced. it can.
  • the dye-sensitized solar cell according to the present embodiment includes a working electrode including a dye-supported oxide semiconductor porous film on the above-described electrode substrate 3 ⁇ , and a counter electrode disposed to face the working electrode.
  • An electrolyte layer containing a redox couple is provided between the working electrode and the counter electrode.
  • the material of the semiconductor porous film may be the same as in the above embodiment.
  • a method for producing a semiconductor porous film for example, a colloid solution or a dispersion liquid (including an additive, if necessary) is prepared by a screen printing method, an ink jet printing method, a roll coating method, a doctor blade method, In addition to coating using various coating methods such as spin coating and spray coating, electrophoretic deposition of fine particles, combined use of a foaming agent, and compounding with polymer beads (removing only type II components later) can be applied.
  • the dye carried on the semiconductor porous film and the electrolytic solution for forming the electrolyte layer may be the same as in the previous embodiment.
  • a quasi-solidified material, that is, a so-called gel electrolyte may be used by introducing an appropriate gelling agent into the electrolytic solution.
  • the redox couple may be the same as in the previous embodiment.
  • a p-type semiconductor or the like can be used as the charge transport layer.
  • the p-type semiconductor for example, Monovalent copper conjugates such as copper iodide and copper cyanide can be suitably used.
  • Various additives can be contained as required for the function and film formation.
  • the method for forming the charge transport layer is not particularly limited, and examples thereof include a film forming method such as a casting method, a sputtering method, and an evaporation method.
  • the counter electrode for example, various carbon-based materials, platinum, gold, and the like can be formed on a conductive or non-conductive substrate by a method such as vapor deposition or sputtering.
  • a technique such as direct sputtering or coating on the surface may be used.
  • the dye-sensitized solar cell of this embodiment has the above-described electrode substrate 31, corrosion of metal wiring due to the electrolytic solution and reverse electron transfer from the metal wiring layer 33 to the electrolytic solution are suppressed. The output effect is further improved.
  • Grooves having a depth of 5 m were formed in a lattice circuit pattern on the surface of the glass with the FTO film of 100 ⁇ 100 mm.
  • a metal conductive layer seed layer
  • a metal wiring layer 33 was formed by additive plating.
  • the metal wiring layer 33 was formed in a convex lens shape from the surface of the transparent substrate 32 to a height of 3 m.
  • the circuit width was 60 m.
  • an FTO film having a thickness of 400 nm was formed as a shielding layer 35 by the SPD method to obtain an electrode substrate ( ⁇ ).
  • the cross-sectional shape of the electrode substrate ( ⁇ ) conforms to FIG.
  • a titanium oxide dispersion having an average particle size of 25 nm was applied onto the electrode substrate (i), dried, and heated and sintered at 450 at 1 hour. This was immersed in an ethanol solution of a ruthenium bipyridine complex (N 3 dye) for 10 minutes to carry the dye.
  • N 3 dye ruthenium bipyridine complex
  • a 50 tm-thick thermoplastic polyolefin resin sheet was placed opposite to a platinum sputter FT0 substrate, and the resin sheet portion was melted by heat to fix the bipolar plates. Open the electrolyte injection port on the platinum electrode in advance, and add a methoxy acetate solution containing 0.5M iodide and 0.05M iodine as the main components between the electrodes. Injected.
  • test cell (i) Photoelectric conversion of test cell (i) by AM 1.5 simulated sunlight When the characteristics were evaluated, the conversion efficiency was 2.8%.
  • a circuit board was engraved on a heat-resistant glass surface of 100 ⁇ 10 Omm using a laser engraving machine to form a metal wiring layer 33 similar to that of Example C1.
  • an FTO film having a thickness of 1,000 nm was formed as a transparent conductive layer 34 and a shielding layer 35 by the SPD method to obtain an electrode substrate (ii).
  • the cross-sectional shape of the electrode substrate (ii) conforms to that of FIG. 11 except that the transparent conductive layer 34 extends over the metal wiring.
  • a test cell (ii) was produced in the same manner as in Example C1. When the photoelectric conversion characteristics of the test cell (ii) were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency was 3.0%.
  • the metal wiring layer 33 was polished to almost the same height as the substrate surface using a wafer polisher. From above, an FTO film was formed as a transparent conductive layer 34 and a shielding layer 35 to a thickness of 1,000 nm by an SPD method. Further, a titanium oxide film having a thickness of 30 nm was formed thereon by a sputtering method to form a shielding layer 35, which was used as an electrode substrate (iii). The cross-sectional shape of the electrode substrate (iii) conforms to FIG.
  • test cell (iii) was produced in the same manner as in Example C1.
  • the photoelectric conversion characteristics of the test cell (Mi) were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency was 3.1%.
  • a metal wiring layer 33 (gold circuit) was formed on a 10 Omm square FTO glass substrate by an additive plating method.
  • the metal wiring layer 33 (gold circuit) was formed in a grid pattern on the substrate surface, with a circuit width of 50 Am and a circuit thickness of 5 Atm.
  • a 300 nm thick FTO film was formed as a shielding layer 35 by an SPD method to obtain an electrode substrate (iv).
  • the cross section of the electrode substrate (iv) was confirmed using SEM and EDX, there was a sneaking in at the bottom of the wiring, probably due to the tailing of the plating resist, and the FTO was not covered in the shadow area .
  • test cell (iv) was produced in the same manner as in Example C1.
  • the photoelectric conversion characteristics of the test cell ( ⁇ ) were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency was 0.3%.
  • test cell (V) was prepared using a 10-Omm square FTO glass substrate by the same method as in Example C1 with no wiring as a comparison.
  • the photoelectric conversion characteristics of the test cell (V) were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency was 0.11%. From the above results, all of the test cells (i) to (iii) obtained in Examples C1 to 3 were excellent in photoelectric conversion efficiency, whereas those in Comparative Example C1 were excellent in photoelectric conversion efficiency.
  • the characteristics of the electrode substrate could not be brought out because the shielding by the shielding layer 35 was insufficient, and the conversion efficiency was not good.
  • a conductive circuit layer formed of a metal having a catalytic action or a substitutional metal or a material having the metal on a glass plate provided with a transparent conductive film.
  • a conductive glass substrate having an insulating circuit protection layer formed on a conductive circuit layer a conductive material for a photoelectric conversion element, wherein a passivation metal is formed in a pinhole generated in the circuit protection layer.
  • a glass substrate is used.
  • a conductive glass substrate for a photoelectric conversion element having high transparency and excellent in chemical resistance, leakage current and conductivity can be obtained.
  • reference numeral 41 denotes a glass plate, which is usually made of soda glass, heat-resistant glass or the like having a thickness of about 1 to 5 mm.
  • Reference numeral 42 denotes a transparent conductive film provided on a glass plate 41, which is usually made of indium-doped tin oxide (ITO) or fluorine-doped tin oxide (FTO) having a thickness of about 0.2 to 1 tm. Thin film.
  • ITO indium-doped tin oxide
  • FTO fluorine-doped tin oxide
  • a conductive circuit 44 is formed on the transparent conductive film 42.
  • the conductive circuit 44 is formed by using a metal having a catalytic action or a substitutional metal with a passivated metal to be subsequently applied, or a material having the metal.
  • the conductive circuit 44 is formed with an edge width of about 100 to 100 Oiim by plating or screen printing. Usually, a planar shape is formed in a grid shape or a comb tooth shape. The present invention is not limited to this.
  • Conductivity The aperture ratio of the circuit 44 is preferably 75% or more, and may be 90 to 99%. If the aperture ratio is less than 75%, the light transmittance decreases and the amount of incident light is not sufficient. If it exceeds 9.9%, the conductivity may be insufficient. For example, the aperture ratio may be 75-85%, but is not limited to this range. The aperture ratio is defined as the ratio of the total area of the circuit to a unit area.
  • the conductive circuit layer is formed of a conductive paste containing gold, silver, platinum, palladium, copper or aluminum metal, and at least one of these metals.
  • the conductive paste includes conductive fine particles made of glass frit as an adhesive component, and the conductive fine particles simultaneously act as a catalyst for a passive metal to be subsequently applied or are substituted metal.
  • those containing at least one of gold, silver, platinum, palladium, copper and aluminum metals are preferred, and those containing silver fine particles are particularly preferred.
  • an insulating circuit protection layer 45 is formed on the conductive circuit 44.
  • the insulating circuit protection layer 45 is formed to prevent a leakage current in which electrons flow back into the electrolyte from the conductive circuit 44, and is designed to sufficiently insulate the circuit 41. It is formed.
  • a paste material having a glass frit as an adhesive component is used due to problems such as adhesion to the circuit 41, but this insulating paste material is used to form the conductive circuit 44 with a conductive paste.
  • the baking treatment can be performed at a lower temperature than the conductive paste.
  • a lead borosilicate glass frit, an inorganic adhesive, an organic adhesive, or the like is used.
  • This insulating paste is formed on the circuit 41 so as to completely cover the circuit, usually by screen printing. It is preferable that the coating forming process is also performed a plurality of times. Originally, it is desirable to function as a sufficiently insulating circuit protective layer 45 at this stage. However, since this protective layer is a thin layer and is a fired type layer using glass frit, the circuit protective layer 4 5 is required. 5 was prone to pinholes, in which case the problem of leakage current occurred.
  • a passive metal is formed on the insulating circuit protection layer 45. Specifically, it is formed by electroless metal plating.
  • This uses a passive metal such as nickel, copper, or aluminum, which has been confirmed to be usable as a low-resistance circuit. It is preferable to select a material that can form the passivation of the metal by the electrolytic metal plating. That is, the electroless metal plating is electroless nickel plating, electroless cobalt plating or electroless tin plating.
  • a passivated metal such as nickel, cobalt or tin is deposited on a pinhole portion to form a passivated metal.
  • the conductive circuit 44 cuts off conduction between the electrolyte and the electrolyte. It is formed as the state described as 46 in FIG.
  • Such a phenomenon is caused by adding one of palladium, platinum, gold, silver, copper and aluminum metal, which is a metal used for forming the circuit 41, as a catalyst metal or a substitution metal. Effect. That is, the catalyst type or the substitution type electroless metal plating is performed because metal plating is deposited on the metal having the catalytic action.
  • these catalyst type or substitution type metal are both conductive elements, they can be used by adding them to a conductive paste for forming a circuit.
  • electroless nickel plating, electroless cobalt plating, and electroless tin plating as the electroless metal plating to form the passivated metal, pinholes in the circuit protection layer are completely prevented.
  • a conductive glass substrate 43 for a photoelectric conversion element can be obtained.
  • Such a conductive glass substrate for a photoelectric conversion element is highly transparent, has excellent leakage current characteristics and conductivity, and has excellent chemical resistance.
  • a dye-sensitized solar cell using the above-described conductive glass substrate will be described.
  • a conductive circuit layer made of a metal having a catalytic action or a substitutional metal or a material containing the metal On a glass plate on which a transparent conductive film is applied, a conductive circuit layer made of a metal having a catalytic action or a substitutional metal or a material containing the metal, an insulating circuit protection layer, and a circuit protection layer.
  • Ruthenium containing ligands such as biviridine and pyridine structures, which are called photosensitizing dyes, are placed on a conductive glass substrate for a photoelectric conversion element made of a passive metal formed in the pinholes of the layer.
  • Complexes metal complexes such as porphyrins and phthalocyanines, and organic dyes such as titanium oxide, rhodamine, and merocyanine can be used to form metal oxide fine particles such as titanium oxide, tin oxide, tungsten oxide, zinc oxide, zirconium oxide, and titanium oxide.
  • the supported material is formed as an oxide semiconductor porous film with a thickness of about 5 to 5 O ⁇ m, and an electrode circuit as a counter electrode is provided above this. , Between the counter electrode and the oxide semiconductor porous film, the electrolytic solution is filled. As this electrolyte, a non-aqueous electrolyte containing a redox pair is usually used.
  • a hole transport layer made of a p-type semiconductor can be used instead of the electrolyte.
  • a hole transport layer made of a p-type semiconductor can be used.
  • the dye-sensitized solar cell having such a structure since the pinhole generated in the circuit protection layer by the electroless metal plating treatment is completely closed, there is no problem of leakage current, and the The circuit is not eroded by the electrolyte.
  • this type of solar cell can be manufactured at relatively low cost, and it can be said that it is practical.
  • a transparent conductive film layer is formed on the surface of the glass plate, and a conductive circuit layer having a catalytic action or a substitutional metal or a material having the metal is formed thereon by a plating method or screen printing. Then, a thin layer is formed thereon by, for example, an insulative paste using a screen printing method, a spin coat method, a doctor blade method, or the like, and a circuit protective layer is provided. Passive metal is formed in the pinhole of the circuit protection layer by electrolytic plating. According to this method, the conductive glass substrate for a photoelectric conversion element having high transparency, excellent leakage current characteristics and conductivity, and excellent chemical resistance, and a conductive glass for the photoelectric conversion element.
  • the lath substrate can be manufactured at low cost. That is, using a conductive base containing at least one of gold, silver, platinum, palladium, copper, and aluminum, and at least one of these metals, a desired conductive circuit layer is formed by a plating method or a screen printing method. 41 is formed thereon, and a thin film is formed thereon by using an insulating paste by a screen printing method, a spin coating method, a doctor blade coating method or the like to form a circuit protection layer. Then, since it is preferably manufactured by performing electroless plating of nickel, cobalt or tin, a high-performance conductive glass substrate for a photoelectric conversion element can be manufactured by a relatively simple method. In the obtained conductive glass substrate for a photoelectric conversion element, the passivation of metal is formed by an electroless metal plating so as to cover the pinhole portion of the circuit protective layer. The electrolyte circuit and the electrolyte can be sufficiently shut off.
  • Example D1 corresponding to this embodiment will be described, and the effect thereof will be described.
  • a sintering type silver paste is used for screen printing, and the line width is 1 OO tm and the aperture ratio is 90%. , 95% and 99% of three types of grid-like conductive circuits were formed.
  • screen printing was performed at an edge width of 200 tm, and then sintering was performed at 550 ° C for 1 hour. I went.
  • Comparative Example D 1 the one up to the stage where the insulating circuit protective layer was formed was immersed in an iodine electrolytic solution in the same manner as in Example D 1 and observed in the same manner.
  • Example D1 The results show that the conductive glass substrate subjected to the electroless nickel plating treatment, the electroless cobalt plating treatment and the electroless tin plating treatment of Example D1 has needle-like silver, cobalt and tin on the insulating circuit protective layer. No metal was detected. The leakage current was 0.1 mA / cm 2 or less. On the other hand, in Comparative Example D1, a large number of portions where needle-like silver was deposited on the circuit protective layer were observed. The leakage current was also 0.5 mAZ cm 2 or more.
  • the conductive glass substrate for photoelectric conversion elements has almost no leakage current and excellent conductivity. In addition, it has high transparency and chemical resistance, and its production method is also performed by electroless metal plating. A transparent glass substrate.
  • the conductive glass substrate of this embodiment is obtained by forming a catalyst having a catalytic action with a passive metal or a substitutional metal or the metal on a glass plate provided with a transparent conductive film.
  • a transparent conductive layer is formed on the surface of the glass plate, and then a metal plate having a catalytic action or a substitution type metal or a material containing the metal is used for the metal plate or the screen.
  • a conductive circuit layer is formed by printing, a circuit protective layer is formed thereon by an insulating paste, and a passivated metal is formed by electroless plating of nickel, cobalt or tin metal. According to this method, it is possible to manufacture a conductive glass substrate for a photoelectric conversion element having excellent conductivity without a problem of leakage current at a relatively low cost.
  • the conductive circuit may be a conductive metal and a metal acting as a catalyst or a substitution metal, such as gold, silver, platinum, palladium, copper or aluminum metal, or a conductive paste having at least one of the above metals.
  • the method for producing a conductive glass substrate for a photoelectric conversion element is characterized in that the electroless metal plating is electroless nickel plating, electroless cobalt plating, or electroless tin plating.
  • FIG. 14 shows the electrode substrate 51 of the present invention. It is sectional drawing which shows one Embodiment.
  • the electrode substrate 51 of this embodiment includes a transparent conductive layer 511 on a base material 510 and a metal wiring layer formed on the transparent conductive layer 511. 5, and an insulating layer 5 14 covering the surface of the metal wiring layer 5 12. That is, the metal wiring layer 5 12 is insulated and covered by the insulating layer 5 14.
  • the material of the substrate 5 10 may be the same as that of the substrate 10.
  • the transparent conductive layer 511 is formed on the base 510 over an area wider than the area where the metal wiring layer 512 is formed.
  • the material is not particularly limited, and the light transmission It is only necessary to select a material that is suitable for the combination of materials and the application in consideration of the efficiency and conductivity. Specific examples include indium tin oxide (I Ding 0), tin oxide (3 n 0 2), conductive metal oxides such as fluorine-doped tin oxide (FTO) and the like.
  • a method of forming the transparent conductive layer 511 a known appropriate method according to the material of the transparent conductive layer 511 may be used, and examples thereof include a sputtering method, an evaporation method, an SPD method, and a CVD method. No. In consideration of light transmittance and conductivity, it is usually formed to a thickness of about 0.001 m to 10 A6 IT1.
  • the metal wiring layer 512 a metal such as gold, silver, platinum, aluminum, nickel, and titanium was formed as wiring.
  • the wiring pattern of the metal wiring layer 512 is not particularly limited, and may be a lattice shape as shown in FIG. 15, or a pattern such as a stripe shape, a strip shape, or a comb shape.
  • each wiring of the metal wiring layer 512 is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 10 jam.
  • a paste is prepared by mixing a metal powder to be conductive particles and a binder such as glass fine particles, and the paste is formed by a screen printing method, a metal mask method, an ink jet method.
  • a coating film is formed so as to form a predetermined pattern by using a printing method such as printing, and the conductive particles are fused by heating and firing.
  • the firing temperature is, for example, preferably 600 ° C. or lower, more preferably 550 ° C. or lower when the substrate 5 10 is glass.
  • sputter method, evaporation A forming method such as a plating method or a plating method can also be used.
  • the surface of the metal wiring layer 512 is smooth. However, higher priority is given to having higher conductivity, and there may be some unevenness or unevenness.
  • Specific resistance of the metal wiring layers 5 1 2 is at least 9 X 1 0 _ 5 ⁇ ⁇ cm or less, more preferred details, it is desirable that less than 5 X 1 0- 5 ⁇ ⁇ cm .
  • the insulating layer 514 covers the metal wiring layer by depositing one or more insulating materials including heat-resistant ceramic on the region where the metal wiring layer 512 is formed. .
  • the heat-resistant ceramic examples include, for example, at least one selected from alumina, zirconia, and silica, and a plurality of types may be used in combination.
  • the heat resistance of the heat-resistant ceramic is preferably such that it can withstand the heat history when the electrode substrate is manufactured. More specifically, it is preferable to use an aggregate made of a heat-resistant ceramic and a binder containing at least one or more of a silicate, a phosphate, a colloidal silica, an alkyl silicate, and a metal alkoxide.
  • Such an insulating layer 504 can be obtained from an adhesive composition (a bar coat material) containing an aggregate serving as a main component, the binder, a curing agent, and the like.
  • the adhesive composition has an insulating property mainly composed of heat-resistant ceramics such as alumina, zirconia and silica, and inorganic polymers such as polysiloxane and polysilane by a reaction such as a hydrolysis reaction, a condensation reaction and a polymerization reaction. It provides a cured film (reactive inorganic coating layer).
  • a commercially available reactive inorganic adhesive may be used.
  • the printing method is preferable as the method for forming the overcoat material in view of process and cost.
  • the method is not limited to the printing method, but may be a spray method, a dipping method, a doctor-blade method, or the like.
  • the insulating layer 514 be dense without any significant defects such as pinholes.
  • the insulating layer 514 may be a single layer or a plurality of layers.
  • the insulating layer 514 includes a plurality of layers
  • a plurality of types of the above insulating materials may be used in combination.
  • configuration one or more layers of a plurality of layers is an insulating layer, for example, P b O, from P b O- B 2 0 3 and low melting point glass of lead-based or non-lead-based low-melting point glass, such as It may be.
  • P b O insulating layer
  • Low melting point glass of lead-based or non-lead-based low-melting point glass such as It may be.
  • At least one layer needs to be a layer mainly composed of the heat-resistant ceramic.
  • the insulating layer 514 described above is superior in terms of acid resistance and the like as compared with the case where the insulating layer is formed using only low melting point glass.
  • the insulating layer 514 mainly comprises heat-resistant ceramics, it has excellent heat resistance, acid resistance, and the like. Therefore, there is no deterioration due to heat history during manufacturing. As a result, the metal wiring layer 5 1 2 is reliably shielded from the electrolyte and the like, and the corrosion of the metal wiring layer 5 1 2, the deterioration of the electrolyte due to the reaction with the metal constituting the metal wiring layer 5 ⁇ 2, the leakage current, etc. Problem can be effectively suppressed.
  • the insulating film exhibits its performance stably and can maintain excellent characteristics for a long time.
  • FIG. 16 is a schematic sectional view showing another embodiment of the electrode substrate.
  • the metal wiring layer 5 ⁇ 2 is provided on the base material 5 10, and the transparent conductive layer 5 1 1 1 extends over the metal wiring layer 5 1
  • the wiring layer 512 is formed over a wider area than the area where the wiring layer 512 is formed.
  • the insulating layer 514 is formed on the transparent conductive layer 511 so as to overlap the pattern of the metal wiring layer 512 so as to cover the upper surface and side surfaces of the metal wiring layer 512. That is, the insulating layer 514 is provided on the metal wiring layer 512 via the transparent conductive layer 511.
  • the metal wiring layer 5 12 can be insulated and shielded by the insulating layer 5 14 similarly to the electrode substrate 51 of the first embodiment as shown in FIG. The occurrence of leakage current is suppressed, and the electrode substrate 51 has excellent characteristics.
  • the metal wiring layer 512 is formed directly on the base material 510 or at a height higher than the surface of the base material 510 via the transparent conductive layer 511 or the like.
  • the electrode substrate of the present invention is not limited to this.
  • the substrate surface 5110b is the surface on which the transparent conductive layer 511 and the metal wiring layer 512 are formed.
  • the concave portion 51 Oa is formed along the wiring pattern as a concave portion such as a groove or a depression.
  • the concave portion may be formed by a processing method according to the material of the substrate 510.
  • the concave portion can be processed by laser or etching.
  • the cross-sectional shape of the concave portion 500a is not particularly limited, such as a lens shape, a semicircular shape, a U-shape, a V-valley shape, and a square shape.
  • the material and forming method of the metal wiring layer 512 may be the same as those described above.
  • the metal wiring layer 5 12 is located in a recess 5 10 a formed by recessing a base surface 5 10 b of the base 5 10.
  • the structure has reached a height of 5 10 b or less.
  • the surface of the metal wiring layer 5 12 is the same height as the base surface 5 10 b, and as shown in FIGS. 18 and 19, the metal wiring layer 5 12 where the surface of 2 has reached a position higher than the substrate surface 5 10 b, and as shown in FIG. 20, the entire metal wiring layer 5 1 2 is located below the substrate surface 5 10 b and so on.
  • the positional relationship between the metal wiring layer 5 12 and the transparent conductive layer 5 11 is not particularly limited.
  • the transparent conductive layer 5 11 And the structure formed on the base material surface 5 10 b.
  • the transparent conductive layer 5 11 1 is formed on the base material surface 5 10 b and the metal wiring layer 5 1 2
  • a transparent conductive layer 511 is formed on the recess 510a and the substrate surface 510b, and the metal wiring layer 5 ⁇ 2 is formed on the transparent conductive layer 5 11.
  • the metal wiring layer 5 1 2 may be in contact with the inner surface of the concave portion 5 10 a, and may be provided between the inner surface of the concave portion 5 10 a and the metal wiring layer 5 12, such as a transparent conductive layer 5 1 1. Layers may be interposed.
  • the insulating layer 514 may be formed at least over the region where the metal wiring layer 5-2 is formed. It may be formed directly on the metal wiring layer 5 12 or another layer such as the transparent conductive layer 5 11 may be interposed between the insulating layer 5 14 and the metal wiring layer 5 ⁇ 2. May be present. In any of the embodiments, it is desirable that the metal wiring layer 512 has a smooth state in which there are as few irregularities as possible, and there is as little void as possible. It is desirable that the step between the surface of the metal wiring layer 512 and the substrate surface 5110b of the substrate 510 be as small as possible.
  • the metal wiring layer 512 has a structure in which the height of the base material surface 510b or less is reached, the surface of the metal wiring layer 512 and the base material surface 5 The thickness of the metal wiring layer 512 can be increased without increasing the step from 10b. Therefore, the aperture ratio of the substrate 510 (the ratio of the portion where the metal wiring layer 512 is not formed) can be increased, and the electric resistance of the circuit can be reduced.
  • a transparent conductive layer 511 is formed on a base material 5 10, and a metal wiring layer 5 1 is formed on the transparent conductive layer 5 1 1 in a predetermined pattern. 2 is formed.
  • a shielding layer 513 made of an oxide semiconductor thin film is provided on the transparent conductive layer 511, and an insulating layer 514 is formed on the metal wiring layer 512.
  • a metal wiring layer 512 is formed in a predetermined pattern on a base material 510, and a metal wiring layer 512 is formed on the metal wiring layer 512.
  • the transparent conductive layer 511 is formed over a region wider than the region where the layer 512 is formed.
  • a shielding layer 5-3 made of a thin film of an oxide semiconductor is provided on the transparent conductive layer 511. Further, an insulating layer 5 14 is formed on the shielding layer 5 13 so as to overlap the pattern of the metal wiring layer 5 12 so as to cover the top and side surfaces of the metal wiring layer 5 12. I have.
  • a transparent conductive layer 511 is formed on a base material 510, and a metal wiring layer 511 in a predetermined pattern is formed on the transparent conductive layer 511. 2 is formed. On this metal wiring layer 512, an insulating layer 514 is formed.
  • the shielding layer 5 13 is formed not only on the transparent conductive layer 5 11 but also on the metal wiring layer 5 12 and the insulating layer 5 14.
  • the material of the shielding layer 5 13 is the electron transfer reaction rate with the electrolyte containing the redox species. Is low and and optical transparency, the selected mobile has a high ability compound of photoelectrons, titanium oxide (T i 0 2), zinc oxide (Z n O), niobium oxide (N b 2 0 5), tin oxide ( S n 0 2), fluorine-doped tin oxide (FTO), tin-doped indium oxide (I tO) is exemplified.
  • the shielding layer 5 13 needs to be formed thin enough not to hinder electron transfer to the transparent conductive layer 5 11, and preferably has a thickness of about 10 to 3000 nm.
  • Examples of the method for forming the shielding layer 513 include a sputtering method, an evaporation method, a spray pyrolysis method (SPD method), a spin coating method, a dive method, and a doctor blade method.
  • SPD method spray pyrolysis method
  • spin coating method a dive method
  • doctor blade method a doctor blade method.
  • these methods are not always sufficient in terms of the fineness of the shielding layer 5 13 and the adaptability to the surface shape of the substrate 5 10, and the shielding performance of the metal wiring layer 5 12 is not sufficient. Difficult to get.
  • the insulating layer 5 1 1 is formed directly on the metal wiring layer 5 1 2 or via the transparent conductive layer 5 1 1 1 or the shielding layer 5 13. It is necessary to form 4. Thereby, the insulation of the metal wiring layer 512 can be sufficiently performed.
  • the method for forming the shielding layer 5 13 is not particularly limited.
  • an oxide semiconductor or a precursor thereof as a target compound is formed by a dry method (gas phase method) such as a sputtering method, an evaporation method, or a CVD method.
  • a method of forming a film is included.
  • the shielding layer 513 can be obtained by oxidizing the film by heat treatment or chemical treatment.
  • a liquid containing the target compound or its precursor is applied by a method such as spin coating, divebing, or blade coating, and then chemically changed to the target compound by heat treatment or chemical treatment.
  • the shielding layer 513 can be obtained.
  • the precursor include salts and complexes having the constituent metal element of the target compound.
  • a solution is preferable to a dispersion.
  • the substrate 5 10 having the transparent conductive layer 5 11 is heated and directed toward the substrate 5 10. It is also possible to use a method of forming the shielding layer 513 by spraying a substance serving as a precursor of the shielding layer 513 and thermally decomposing the substance into a target oxide semiconductor. You.
  • the shielding layer 5-3 for shielding the transparent conductive layer 511 in this manner, the reverse electron transfer from the transparent conductive layer 511 can be suppressed. With the use, a photoelectric conversion element with high photoelectric conversion efficiency can be manufactured.
  • the shielding layer 5 13 can have an effect as a protective layer for a purpose different from, for example, the insulating layer 5 14 as necessary in terms of characteristics.
  • the shielding layer 513 can be used as a protective layer for the metal wiring layer 512 and the insulating layer 514.
  • the electrode substrate 51 shown in FIG. 24 has a metal wiring layer 512 as a wiring pattern such as a lattice, stripe, or comb on the first transparent conductive layer 51a.
  • An insulating layer 514 for covering the metal wiring layer 512 is provided on the metal wiring layer 512.
  • a second transparent conductive layer 511b is formed over the metal wiring layer 512 and the insulating layer 514. That is, the metal wiring layer 512 and the insulating layer 514 were sandwiched between the first transparent conductive layer 511a and the second transparent conductive layer 511b.
  • the first and second transparent conductive layers 5 11 a and 11 b are the same as the above-described transparent conductive layer 5 11 1, and are thin films made of a conductive metal oxide such as ITO and F 0. is there.
  • the insulating layer 5 14 provides insulation shielding of the metal wiring layer 5 1 2 and the second transparent conductive layer 5 1 1 b provides the metal wiring layer 5 1 2
  • the insulating layer 5 14 can be protected.
  • FIG. 25 shows an example of a photoelectric conversion element constituting a dye-sensitized solar cell.
  • the photoelectric conversion element 56 includes a working electrode 53 formed of an oxide semiconductor fine particle such as titanium oxide on an electrode substrate 51 and having an oxide semiconductor porous film 52 carrying a photosensitizing dye. And a counter electrode 54 provided opposite to the working electrode 53. Between the working electrode 53 and the counter electrode 54, a charge transfer layer 55 made of an electrolyte such as an electrolyte or a p-type semiconductor is formed.
  • an oxide semiconductor porous film 52 carrying a photosensitive dye is formed on the surface of the electrode substrate 51. And the oxide semiconductor porous film 52 constitute a working electrode 53 of the photoelectric conversion element 56.
  • the electrode substrate 51 As the electrode substrate 51, the electrode substrate 51 having the configuration shown in FIG. 14 is illustrated, but the present invention is not particularly limited to this, and the electrode substrate of any of the embodiments can be used. .
  • the oxide semiconductor porous film 5 titanium oxide (T i 0 2), tin oxide (S n 0 2), oxidation of tungsten (W 0 3), zinc oxide (Z n O), niobium oxide (N b 2 ( 5 )
  • the average particle size of the oxide semiconductor fine particles is preferably in the range of 1 to 100 nm.
  • the thickness of the oxide semiconductor porous film 52 is preferably about 0.5 to 50.
  • the method for forming the oxide semiconductor porous film 52 is not particularly limited.
  • a method in which a commercially available oxide semiconductor fine particle is dispersed in a desired dispersion medium or a sol-gel method is used.
  • the desired colloid solution is added with the desired additives as required, and then applied by a known coating method such as screen printing, ink jet printing, roll coating, doctor blade, spin coating, or spray coating. Method.
  • the electrode substrate 51 was immersed in a colloidal solution, and electrophoretic deposition of the oxide semiconductor fine particles on the electrode substrate 51 was performed. Then, sintering to make it porous, mixing and applying polymer microbeads, removing this polymer microbead by heat treatment or chemical treatment to form voids and make it porous. Applicable.
  • the sensitizing dye supported on the oxide semiconductor porous film 52 is not particularly limited, and examples thereof include a ruthenium complex containing a biviridine structure, a Yuichi pyridine structure, and the like as a ligand, an iron complex, a porphyrin-based dye, and the like. From phthalocyanine-based metal-containing complexes, organic dyes such as dyes, rhodamines, and merocyanines, those having an excitation behavior suitable for the use or oxide semiconductor can be appropriately selected and used.
  • an electrolyte containing a redox couple can be used.
  • a gel electrolyte obtained by quasi-solidifying the above electrolytic solution with a suitable gelling agent may be used.
  • Solvents for the electrolyte include acetonitrile and methoxy.
  • Organic solvents such as acetic acid, propionitrile, propylene carbonate, getylcaprate, and heptyl lactone; quaternized imidazolyl-based cations; It can be used by selecting from room temperature molten salts such as dione.
  • the redox couple contained in the electrolyte is not particularly limited, and can be obtained by adding a pair of iodine / iodide ion, bromine Z bromide ion and the like.
  • a source of iodide ion or bromide ion lithium salt, quaternized imidazonium salt, tetrabutylammonium salt and the like can be used alone or in combination. If necessary, additives such as t-tert-butylpyridine may be added to the electrolyte.
  • the charge transfer layer 55 may use a p-type semiconductor instead of the electrolyte.
  • a p-type semiconductor for example, a monovalent copper compound such as copper iodide and copper cyanide can be suitably used.
  • the method for forming the charge transport layer 55 from the p-type semiconductor is not particularly limited, and examples thereof include a casting method, a sputtering method, and a vapor deposition method.
  • the p-type semiconductor may contain an appropriate additive as required for film formation.
  • the counter electrode 54 includes, for example, a substrate made of a non-conductive material such as glass, various types of carbon-based materials, metal materials such as gold and platinum, and conductive oxide semiconductors such as ITO and FT0. An electrode formed with an electrode can be used.
  • the electrode is a platinum film, for example, a method of applying chloroplatinic acid and heat-treating the electrode can be exemplified.
  • the electrodes may be formed by an evaporation method or a sputtering method.
  • a conductive material serving as an electrode of the counter electrode 54 is directly formed on the charge transfer layer 55 by a method such as sputtering or coating. Can be used.
  • the insulating layer 514 of the electrode substrate 51 is mainly composed of heat-resistant ceramics, it has excellent heat resistance, acid resistance, etc., and depends on the heat history during manufacturing. There is no deterioration. For this reason, the metal wiring layer 512 is reliably shielded from the electrolyte solution of the charge transfer layer 55, and corrosion and leakage current of the metal wiring layer 512 can be effectively suppressed. Prevents contact between metal wiring layer 5 1 2 and electrolyte layer 5 5 As a result, it is possible to suppress the decrease in output due to the current and greatly improve the cell characteristics.
  • An electrode substrate 51 as shown in FIG. 15 was produced by the following procedure.
  • a glass substrate with an FTO film of 10 OmmX ⁇ 0 Omm was used as the transparent conductive layer 511 and the substrate 5110.
  • a silver paste for printing (having a volume resistivity of 3 x 10 " 6 ⁇ after sintering) is screen-printed on the surface of the glass substrate, and after leveling for 10 minutes, the temperature is set at 135 ° C, 20 ° C.
  • a metal wiring layer 5 12 composed of a silver circuit.
  • the circuit width of the metal wiring layer 5 12 was 500 / _tm,
  • the film thickness was set to 5 ⁇ , and it was formed in a shape extending in the shape of a strip from the current collector terminal.It was superimposed on the metal wiring layer 512 while performing alignment using a CCD camera.
  • the insulating layer 5 14 was formed by printing each of the five types of overcoat materials shown in 1.
  • the width of the insulating layer 5 ⁇ 4 was determined on both sides in the width direction of the metal wiring layer 5 12 An extra 1 OO / m per unit and a height from the surface of the glass substrate of 1 O tm was used as a guide. 5 1 4 of the thickness of the metal wiring layers 5 1 2 is about 5 m.
  • Example E 1-2 of Table 1 the description “alumina + metal alkoxide / low melting point glass space” refers to a first insulating layer mainly composed of “alumina + metal alkoxide” and a “low melting glass paste”. It means that a second insulating layer mainly composed of “U” is laminated. The second insulating layer is formed by laminating on the P bO- B 2 0 3 system have use commercial me low melting point glass paste of the first insulating layer by screen printing. In this case, the thickness of the first insulating layer is about 5 tm, and the thickness of the second insulating layer is about 5 Atm.
  • a titanium oxide dispersion having an average particle diameter of 20 to 25 nm is applied, dried, heated at 450 ° C. for 1 hour, and sintered to obtain an oxide semiconductor porous film 52.
  • the electrode was immersed in an ethanol solution of a ruthenium biviridine complex (N 3 dye) for 10 minutes to carry the dye, thereby producing a working electrode 53.
  • N 3 dye ruthenium biviridine complex
  • a platinum electrode FTO glass electrode substrate is used as the counter electrode 54, and the counter electrode 54 and the working electrode 53 are interposed with a thermoplastic resin sheet having a thickness of 50 Aim as a spacer.
  • the electrodes 53 and 54 were fixed by heat-melting the resin sheet. At this time, a part on the counter electrode 54 side was left open for the electrolyte injection port.
  • a methoxyxetrile solution containing 0.5 M iodide salt and 0.05 M iodine as a main component was injected from the injection port to form a charge transport layer 55, and then a peripheral portion was formed.
  • the liquid injection port was completely sealed with a thermoplastic resin sheet and an epoxy-based sealing resin, and a current collecting terminal portion was formed with glass solder, thereby producing a photoelectric conversion element serving as a test cell.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell.
  • An electrode substrate 51 as shown in FIG. 16 was produced by the following procedure.
  • a 100 mm ⁇ 100 mm glass substrate was used as the base material 5 10, and a gold circuit (metal wiring layer 5 12) was formed on the surface by plating.
  • the circuit shape was the same as in Example E1, and the circuit thickness was 2 tm.
  • a 1000 nm thick FTOZITO composite film was formed on the glass substrate and the gold circuit by spray pyrolysis. Further, using Sample 1 in Table 1, in the same manner as in Example E1, an insulating layer 514 was formed according to the pattern of the metal wiring layer 512.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured in the same procedure as in Example E1, and the photoelectric conversion characteristics were evaluated. 0%.
  • an electrode substrate 51 as shown in FIG. 19 was produced.
  • a 100 mm ⁇ 100 mm glass substrate is used as the base material 5 10, and a groove 10 a having a depth of 10 m and a width of 500 m is formed on this surface along a strip-shaped wiring pattern. Formed. From this, a 1000-nm-thick FTO / ITO composite film was formed by spray pyrolysis. Further, a silver printed wiring layer was formed in the same manner as in Example E1. The silver wiring is formed from the substrate surface 5 ⁇ Ob to a height of 2 ⁇ m by multiple printing, and the width of the metal wiring layer 5 12 is 200 m per side from the width of the groove 5 10 a. I took it wide. Further, using Sample 1 of Table 1 so as to cover the metal wiring layer 5 12, the insulating layer 5 14 was formed in accordance with the pattern of the metal wiring layer 5 12 in the same manner as in Example E1. Formed.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured in the same procedure as in Example E1, and the photoelectric conversion characteristics were evaluated.
  • the photoelectric conversion efficiency was 4.2%. Was.
  • a metal wiring layer 512 using a silver paste for printing on the surface of a 100 OmmX 100 mm heat-resistant glass substrate (substrate) in the same procedure as in Example E1
  • the metal On the wiring layer 512 an FTO / ITO composite film having a thickness of 1 000 nm, which also serves as a transparent conductive layer and a shielding layer, was formed by the same procedure as in Example E2, and an electrode substrate 51 was produced.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was produced in the same procedure as in Example E1. Observation of the electrolyte injected into the test cell showed that the electrolyte had a brownish color immediately after the injection, but turned almost transparent a few minutes later. This is considered to be due to the insufficient shielding of the silver circuit, and the I “ions in the electrolyte were reduced to I– by reacting with the exposed silver. When the characteristics were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the photoelectric conversion efficiency was 0.2
  • a gold circuit (metal wiring layer) was formed on the surface of a 100-mm-100 mm glass substrate with an FTO film by plating in the same manner as in Example E2.
  • An electrode substrate 51 was fabricated by forming a 300 nm-thick FTO film serving also as a transparent conductive layer and a shielding layer on the metal wiring layer using the same method as in Example E2.
  • a photoelectric conversion element serving as a test cell was produced in the same procedure as in Example E1, and the photoelectric conversion characteristics of the photoelectric conversion element were evaluated using AM 1.5 pseudo solar light. However, the conversion efficiency was 0.41%. In this case, it was found that the shielding of the metal wiring layer 512 was insufficient, and the characteristics of the substrate with the metal wiring were not sufficiently brought out.
  • Example E ⁇ Using a glass substrate with an FTO film itself as the electrode substrate 51 without providing a metal wiring layer on the surface of the glass substrate with a 100 mmX ⁇ 00 mm FT0 film, the same procedure as in Example E ⁇ was used. A photoelectric conversion element serving as a test cell was manufactured. When the photoelectric conversion characteristics of this test cell were evaluated using simulated sunlight of AM 1.5, the conversion efficiency was 0.23%. From this, it was found that when the metal wiring layer was not provided, the photoelectric conversion efficiency of the photoelectric conversion element was lowered because the resistance of the electrode substrate 51 was large. Possibility of industrial use
  • the electrode substrate of the present invention has a metal wiring layer and a transparent conductive layer electrically connected to the metal wiring layer on a base material, and the metal wiring layer is insulated and covered with an insulating layer. Therefore, the metal wiring layer is reliably shielded from the electrolyte solution and the like, and its corrosion and leakage current can be effectively suppressed. Superior in conductivity as compared to the case where only the transparent conductive layer is used as the conductor of the electrode.

Abstract

電極基板1では、金属配線層12の表面が、絶縁層14により絶縁被覆されている。この電極基板1を用いた光電変換素子では、金属配線層12が電解質溶液などから確実に遮蔽され、その腐食や漏れ電流を効果的に抑制し、光電変換効率が向上できる。絶縁層14は、ガラス成分を含む材料から形成することが好ましく、特に、ガラスフリットを含むペーストの印刷により形成することが好ましい。金属配線層12は、印刷法により形成することが好ましい。

Description

明 細 書 電極基板、 光電変換素子、 導電性ガラス基板およびその製造方法、
並びに色素增感太陽電池 技術分野
本発明は、 光電変換素子などに使用される電極基板および導電性ガラス基板、 光電変換素子、 および色素増感太陽電池に関する。 背景技術
色素増感太陽電池は、 安価で高い変換効率を得られる光電変換素子として着目 されている (例えば、 特開平 0 1 — 220380号公報、 およびミカエル ·ダレ 一ツェル (M. Graetzel) ら、 ネィチヤ一 (Nature) 誌、 (英国)、 1 99 1年、 第 737号、 p. 353参照)。 一般に、 この種の光電変換素子では、 透明な導電性 基板の上に、 二酸化チタンなどの酸化物半導体ナノ粒子を用いた多孔膜が形成さ れ、 この多孔膜に増感色素を担持させて半導体電極が構成されている。 この半導 体電極と、 白金スパッ夕が施された導電性ガラスなどの対極とが組み合わされ、 両極間にヨウ素 ·ヨウ化物イオンなどの酸化 ·還元種を含む有機電解液が、 電荷 移送層として充填される。
半導体極を、 ラフネスファクタが 1 000以上という大きな比表面を有する多 孔膜構造とすることで光吸収率が高められる。 光吸収率が 1 0%以上の光電変換 効率も報告されている。 色素增感太陽電池は、 コスト面でも、 現行のシリコン系 太陽電池の 1 /2~1 Z6程度と予想されている。 色素增感太陽電池は、 必ずし も複雑■大規模な製造設備を必要とせず、 更に有害物質も含まないため、 大量普 及に対応できる安価 ·大量生産型太陽電池として、 高い可能性を有する。
透明な導電性基板としては、 ガラス基板表面にスズ添加酸化インジウム ( I T 0)、 フッ素添加酸化スズ(FTO)などの透明導電膜を予めスパッタゃ CVDな どの手法により被覆したものが一般的である。 しかし、 I TOや FTOの比抵抗 は 1 0— 4~1 0—3Ω · cm程度と、 銀、 金といった金属の比抵抗の約 1 00倍も の値を示す。 このため、 市販されている透明導電ガラスは抵抗値が高く、 太陽電 池に用いた場合、 特に大面積セルとした場合に、 光電変換効率の低下が著しい。 透明導電ガラスの抵抗を下げる手法としては、 透明導電層 ( I T O、 F T Oな ど) の形成厚さを厚くすることが考えられる。 しかし、 十分な抵抗値を得られる ほどの厚さで膜形成すると透明導電層による光吸収が大きくなつて、 入射光の窓 材透過効率が著しく低下する。 結果として、 やはり太陽電池の光電変換効率が低 下する。
このような問題点に対する解決策として、 例えば、 太陽電池の窓極などとして 使用する透明導電層付き基板の表面に開口率を著しく損なわない程度に金属配線 層を設け、 基板の抵抗を下げようとする検討がなされている (例えば、 特願 2 0 0 1 — 4 0 0 5 9 3号参照。)。 このように基板表面に金属配線層を設ける場合に は、 電解液による金属配線の腐食、 金属配線層からの電解液への逆電子移動を防 止するため、 少なくとも金属配線層表面部分が、 何らかの遮蔽層により保護され ている必要がある。 この遮蔽層は、 回路表面を緻密に被覆していなければならな い。
図 2 6 Αおよび図 2 6 Βは、 色素増感太陽電池の一例を示す。 この色素増感太 陽電池は、 電極基板 6 1上に、 酸化チタンなどの酸化物半導体微粒子からなり、 光増感色素が担持された酸化物半導体多孔膜 6 2を有する作用極 6 3と、 この作 用極 6 3に対向して設けられた対極 6 4とを備えている。 これらの作用極 6 3と 対極 6 4との間には、 電解液が充填されることにより電解質層 6 5が形成されて いる。
電極基板 6 1は、ガラス板などの基材 6 1 0上に、スズ添加酸化インジウム( I T O ) やフッ素添加酸化スズ (F T O ) などからなる透明導電層 6 1 1が形成さ れたものである。 酸化物半導体多孔膜 6 2からの集電効率を向上するため、 透明 導電層 6 1 1の上に、 金、 白金、 銀などからなる格子状の金属配線層 6 1 2が設 られている。 さらに、 金属配線層 6 1 2や透明導電層 6 1 1の表面は、 金属配線 層 6 1 2の腐食、 電解質層 6 5との短絡や漏れ電流 (逆電子移動) 等による出力 低下などの不都合を抑制するため、 I T O、 F T O、 酸化チタン、 酸化亜鉛など の酸化物半導体からなる遮蔽層 6 1 3により被覆されている。 電解質層 6 5に代 えて、 p型半導体などからなる固体の電荷移送層 6 6を用いてもよい。 基材 6 1 0側から太陽光などの光が入射すると、 作用極 6 3と対極 6 4との間に起電力が 生じる。
遮蔽層 6 1 3の形成は、 スパッ夕法やスプレー熱分解法 (S P D ) などの薄膜 形成法を用いて、 酸化物半導体からなる膜を金属配線層 6〗 2上に成膜すること により行える。 しかし、 透明導電層 6 1 1や金属配線層 6 1 2の表面はボイドゃ 亀裂、 粒界などの微細な凹凸形状 (プロファイル) を呈しているため、 緻密な遮 蔽層 6 1 3を均一に形成することは難しく、 遮蔽層 6 1 3の形成不良により、 金 属配線層 6 1 2が露出された未被覆部分が生じることがある。 この場合、 金属配 線層 6 1 2の腐食や、 金属配線層 6 1 2から電解質層 6 5などへの逆電子移動に よる漏れ電流の発生等による出力低下などの不都合を抑制する効果が低下し、 太 陽電池 (セル) の特性を著しく損ねるおそれがある。
遮蔽層 6 1 3の形成不良を抑制するため、遮蔽層 6 1 3の被覆厚を厚くすると、 光電子移動の阻害を生じたり、 光透過率の低下のため、 却って光電変換効率を低 下させるおそれがある。
例えば、 金属配線層 6 1 2の形成を、 金属微粒子などの導電性粒子と、 ガラス フリツ卜などの結合剤とを主成分とする導電性ペース卜を用いて行う場合、 金属 配線層 6 1 2の導電率の点からは、 結合剤の配合比は少ないほうがよいが、 金属 配線層 6 1 2の内部や表面にボイドゃピンホールなどの微細かつ急峻な凹凸、 影 部が生じやすく、 遮蔽層の形成が困難である。 結合剤の配合比を増やすと、 金属 配線層 6 1 2の導電率が低下するため、 集電効率が低下し、 セル特性を著しく損 ねるおそれがある。
電極基板 6 1に金属配線層 6 1 2を設けず、 酸化物半導体多孔膜 6 2からの集 電を透明導電層 6 1 1のみで行おうとすると、 透明導電層 6 1 1を構成する F T 〇などの半導体の比抵抗が 1 0—4〜1 0— 3 Ω ■ c m程度と、 金、 銀などの金属の 1 0 0倍以上となることから、 特に大面積セルの場合に光電変換効率の低下が著し くなる。 透明導電層 6 1 1の抵抗を下げるため、 その厚さを大きくすると、 透明 導電層 6 1 1の光透過性が著しく低下し、 やはり、 光電変換効率の低下となる。 製膜方向から見た際に、 金属回路表面に影になる部分 (例えば、 回路壁面の潜 り込みなど) がある場合には、 遮蔽層により被覆されない部分が生じる可能性が ある。 これが回路腐食、 電解液への逆電子移動などを引き起こすために、 セル特 性を著しく損ねることがある。 特に、 遮蔽層として一般的な F T 0、 I T O , T i 0 2といった膜の形成法として、 スパッタ法、 スプレー熱分解 (S P D ) 法が 好適に用いられるが、 このような手法では、 影部への均一製膜は極めて困難であ る。 例えば、 アディティブめつき法により回路形成を行う場合、 めっきレジス卜 の特性によって回路壁面形状がテ一パ状になるものがある。 レジス卜パターン底 部に裾引きがあれば回路形成後には潜り込み状の影部になる。 このように、 金属 回路表面に緻密な遮蔽層薄膜を形成することは困難である。
光透過率を極力損なわないような開口率を維持し、 且つ、 十分な導電性を与え ようとする場合、金属配線層はある程度の高さを有している必要がある。従って、 金属配線層を形成すると、基板表面は多数の凹凸を有することになる。このため、 例えば、 色素太陽電池用の半導体多孔膜形成において膜厚均一性を損なう、 凹凸 部で膜の亀裂 ·剥離などの原因となり易いといった問題も生じる。
例えば、 導電粒子とガラスフリツ卜バインダとを主成分とするペース卜を印刷 し、 5 0 0 °C程度で焼結した回路の場合、 導電粒子同士の融着を妨げず、 高い導 電性を得ようとするには、 ガラスフリットの配合量を少なくするため、 一般に塗 膜表面、 内部にボイドゃピンホールなど急激な凹凸や影が生じ、 遮蔽層形成が極 めて困難となる。 逆に、 このような塗膜表面の欠陥を抑制するために、 バインダ となるガラスフリットの配合量を増した場合、 塗膜導電率が著しく低下し、 回路 本来の機能を発揮できなくなる傾向にある。
図 2 7に示すように、 符号 7 1で示されるガラス板の一面にインジウムド一プ 酸化スズ( I T O )、 フッ素ドープ酸化スズ(F T O )等の厚さ〗 At m程度の透明 導電膜 7 2が形成されて、 導電性ガラス 7 3を構成している。 この導電性ガラス 7 3の透明導電膜 7 2の上に、 酸化チタン、 酸化ニ才ジゥ厶等の酸化物半導体の 微粒子からなる光増感色素が担持された酸化物半導体多孔質膜 7 4が、 形成され る。 7 5は対極となる導電性ガラスであり酸化物半導体多孔質膜 7 4との間には、 ヨウ素/ヨウ素イオンなどのレドックス対を含む非水溶液からなる電解液が満た され、 電解質層 7 6が形成される。 電解質層 7 6に代えて、 ヨウ化銅、 チオシァ ン化銅などの固体の p型半導体からなるホール輸送層を設けるものもある。 この 色素増感太陽電池では、 太陽光などの光が導電性ガラス 7 3側から入射すると、 透明導電膜 7 2と対極 7 5の間に、 起電力を生じる。
ところで実際的な色素増感太陽電池にあっては、 透明導電膜上に回路電極が形 成されその上に酸化物半導体多孔質膜が設けられて、 ョゥ素等を含む電解液を充 填するので、 酸化物半導体多孔質膜を介して回路電極は電解液と接触することに なるので、 回路電極から電解液に電子が逆流する漏れ電流が流れることがある。 これは、 回路電極と電解液との間のエネルギーレベルを比較すると、 電解液のェ ネルギ一レベルが低いために起こる。 そこで、 回路電極と電解液の界面に半導体 材料や絶縁体材料からなるバリヤ一層を形成して漏れ電流を阻止することが行わ れている。 しかしバリヤ一層は、 種々の薄膜形成法によって行われるので、 ピン ホールの問題が新たに生じてきた。 そこでこのピンホール問題を解決する方法が 検討されているが、 その場合にコストが大幅に上昇するような高価な製法となら ないようにすることが、 実用的には重要である (特公平 8-1 5097号公報参照)。 発明の開示
本発明の電極基板は、 基材上に、 金属配線層と透明導電層を有し、 金属配線層 と透明導電層とが電気的に接続されている電極基板である。 少なくとも金属配線 層の表面が、 絶縁層により絶縁被覆されている。
このような電極基板によれば、 金属配線層が電解質溶液などから確実に遮蔽さ れ、 その腐食や漏れ電流を効果的に抑制できる。 従って、 導電性に優れる電極基 板となる。
絶縁層は、 ガラス成分を含む材料から形成することが好ましく、 特に、 ガラス フリットを含むペース卜の印刷により形成することが好ましい。 これにより、 金 属配線層を確実に絶縁遮蔽する絶縁層を容易に形成できる。
金属配線層は、 印刷法により形成することが好ましい。 これにより、 所望のパ ターンを有する金属配線層を容易に形成できる。
本発明の一態様の光電変換素子または色素増感太陽電池は、 上述の電極基板を 有する。 これにより、 電極基板の金属配線層の腐食や漏れ電流などによる出力の 低下を抑制し、 光電変換効率が高められる。
本発明の他の態様の電極基板は、 透明基板上に金属配線層と透明導電層とを有 し、 金属配線層が少なくとも内層と外層との 2層から構成されている。
上記外層は印刷法により形成されることが好ましい。上記内層の体積抵抗率が、 外層の体積抵抗率に比べて小さいことが好ましい。 上記外層が少なくとも導電粒 子とバインダ材とを含有するペース卜組成物で形成され、 ペース卜組成物のバイ ンダ材配合比が、 金属配線層中の他の層を形成する組成物中のバインダ材配合比 に比べて大きいことが好ましい。
上記金属配線層を形成する組成物が銀、 又はニッケルを含有することが好まし い。 上記金属配線層及び/又は透明導電層からなる導電層の表面に、 遮蔽層を有 していてもよい。
本発明の他の態様の光電変換素子または色素増感太陽電池は、 上述の電極基板 を有する。
本発明の他の態様の電極基板は、 透明基板上に金属配線層と透明導電層とを有 する。 金属配線層が透明基板に溝加工された配線パターンに沿って形成され、 金 属配線層の少なくとも一部が、 透明基板表面以下の高さに達している。
少なくとも金属配線層の表面は、遮蔽層により被覆されていることが好ましい。 上記遮蔽層が、 ガラス成分、 金属酸化物成分、 または電気化学的に不活性な樹脂 成分のうち少なくとも 1種を含有することが好ましい。
本発明の光電変換素子または色素増感太陽電池は、 上記電極基板を有する。 本発明の他の態様の導電性ガラス基板は、 透明導電膜が施されたガラス板と、 このガラス板上に設けられ、 不動態金属と触媒作用を有するかあるいは置換型の 金属または前記金属を有する材料からなる導電性回路層と、 前記導電性回路層上 に形成された絶縁性の回路保護層とを有する。 前記回路保護層に発生するピンホ ール部に不動態金属が形成されている。
前記導電性回路層の開口率は 7 5 %以上が好ましく、 9 0〜9 9 %であっても よい。 これは、 いずれの実施形態にも共通である。
前記導電性回路層は、 金、 銀、 白金、 パラジウム、 銅、 およびアルミニウムか ら選択される少なくとも 1種を含む導電性ペース卜によって形成されていてもよ い。
前記絶縁性の回路保護層は、絶縁性のペース卜材料から形成されていてもよい。 前記不動態金属は、 無電解金属メツキ処理によって形成されていてもよい。 前 記無電解金属メツキ処理は、 無電解ニッケルメツキ、 無電解コバルトメツキある t、は無電解スズメツキでもよい。
本発明の他の態様の色素増感太陽電池は、 上記導電性ガラス基板を備える。 本発明の一態様の導電性ガラス基板の製造方法は、 ガラス板表面に透明導電膜 層を形成し、 その上に触媒作用を有するかあるいは置換型の金属又は前記金属を 含む材料を用いメツキあるいはスクリーン印刷によって導電性回路層を形成し、 さらにその上に絶縁性のペース卜によって回路保護層を形成し、ついでニッケル、 コバル卜あるいはスズ金属の無電解メツキ処理によって不動態金属を形成する。 本発明の他の態様の電極基板は、 基材と、 この基材上に設けられた金属配線層 と、 この金属配線層に電気的に接続された透明導電層とを有する。 前記金属配線 層は、 耐熱セラミックスを主成分とする絶縁層により絶縁被覆されている。
前記耐熱セラミックスとしては、 例えば、 アルミナ、 ジルコニァ、 シリカの少 なくとも 1つを含むものを用いることができる。
前記絶縁層としては、 例えば、 ケィ酸塩、 リン酸塩、 コロイダルシリカ、 アル キルシリケ一卜、 金属アルコキシドの少なくとも 1つを結合材として含むものを 用いることができる。 前記絶縁層は、 印刷法により形成することが好ましい。 前 記金属配線層は、 印刷法により形成することが好ましい。
前記金属配線層の少なくとも一部は、 基材表面に形成された凹部内に位置して いることができる。
本発明の他の態様の光電変換素子および色素増感太陽電池は、 上述の電極基板 を有する。
上記電極基板によれば、 金属配線層の遮蔽を確実に行い、 金属配線層の腐食、 金属配線層を構成する金属との接触による電解質の変質、 漏れ電流などの問題が 解決でき、高導電率な透明電極基板としての機能を高く発揮させることができる。 このため、 例えば〗 0 0 m m角級の大面積セルにおいて、 未配線基板を有するセ ルと比較して、 光電変換効率を増大できる。 図面の簡単な説明
図 1 Aは本発明の光電変換素子の一実施形態を示す断面図である。
図 1 Bは電極基板の一例を示す断面図である。
図 2は、 金属配線層の一例を示す平面図である。
図 3〜図 7はそれぞれ、本発明の電極基板の他の実施形態を示す断面図である。 図 8〜図 1 1は、本発明の電極基板のさらに他の実施形態を示す断面図である。 図 1 2 〜図1 2 Cは、 本発明の電極基板のさらに他の実施形態を示す断面図 である。
図 1 2 Dは、 光電変換素子の他の実施形態を示す断面図である。
図 1 3は、 本発明の導電性ガラス基板の一実施形態の断面図である。
図 1 4は、 本発明の電極基板のさらに他の実施形態を示す断面図である。
図 1 5は、 金属配線層の平面形状の一例を示す平面図である。
図 1 6〜図 2 4は、 本発明の電極基板の他の実施形態を示す断面図である。 図 2 5は、 本発明の光電変換素子の他の実施形態を示す断面図である。
図 2 6 Aおよび図 2 6 Bは、 従来の光電変換素子の一例を示す断面図である。 図 2 7は、 従来の色素増感太陽電池の断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照しつつ、 本発明の好適な実施例について説明する。 ただし、 本発明は以下の各実施例に限定されるものではなく、 例えばこれら実施例の構成 要素同士を適宜組み合わせてもよい。
図 1 Aは、 本発明の光電変換素子の一例を示す断面図であり、 図〗 Bは、 この 光電変換素子に用いられる電極基板 1を示す断面図である。
この光電変換素子は、 基材 1 0側から太陽光などの光が入射すると、 作用極 3 と対極 4との間に起電力が生じ、 これにより電力が得られる色素増感太陽電池で ある。
この実施形態の光電変換素子では、 図 1 Bに示すように、 電極基板 1が、 基材 1 0上に、 透明導電層 1 1 と、 この透明導電層 1 1の上に形成された金属配線層 1 2と、 この金属配線層 1 2の表面のみを被覆する絶縁層 1 4とを備える。 絶縁 層 1 4により、 金属配線層 1 2の下面を除く全面が被覆されている。 この実施形 態では、 金属配線層 1 2同士の間の透明導電層 1 1の表面には、 絶縁層 1 4が形 成されていない。
基材 1 0の材料は、 用途上、 光透過性の高いものが好ましい。 具体的には、 ガ ラス、 ポリエチレンテレフタレート (P E丁)、 ポリエチレンナフ夕レー卜 (P E N)、 ポリカーボネー卜 (PC)、 ポリエーテルスルホン (P E S) などの透明プ ラスチックシート、 酸化チタン、 アルミナなどのセラミックスの研磨板などを用 いることができる。
透明導電層 1 1は、 基材 1 0上に、 金属配線層 1 2の形成領域より広い領域に 亘つて形成されている。透明導電層 1 1の材料は特に限定されるものではないが、 例えば、 スズ添加酸化インジウム ( I TO)、 酸化スズ (S n〇2)、 フッ素添加酸 化スズ (FTO) 等の導電性金属酸化物が挙げられる。
透明導電層 1 1を形成する方法としては、 透明導電層 1 1の材料に応じた適切 な方法を用いればよい。 例えば、 スパッ夕法、 蒸着法、 S P D法、 CVD法など が挙げられる。 光透過性と導電性を考慮して、 透明導電層 1 Ίは通常 0. 00 1 m〜1 0 m程度の膜厚に形成される。 ただし、 この範囲に限定されることは ない。
金属配線層 1 2は、 金、 銀、 白金、 アルミニウム、 ニッケル、 チタンなどの金 属により、 図 2に示す格子状、 縞状、 あるいは櫛型などのパターンをなす配線と して形成されている。 電極基板 1の光透過性を著しく損ねないためには、 金属配 線層 1 2の配線幅を 1 000 ^ m以下にすることが好ましい。 金属配線層 1 2の 各配線の厚さ (高さ) は、 特に制限されないが、 0. 1〜1 0 A mとすることが 好ましい。
金属配線層 1 2を形成する方法としては、 例えば、 導電粒子となる金属粉とガ ラス微粒子などの結合剤を配合してペース卜状にし、 これをスクリーン印刷法、 メタルマスク法、 インクジエツ卜法などの印刷法を用いて所定のパターンを形成 するように塗膜し、 加熱して焼成によって導電粒子を融着させる方法が挙げられ る。焼成温度としては、例えば、基材 1 0がガラスである場合には 600°C以下、 より好ましくは 5 5 0 °C以下とすることが好ましい。 この他、 スパッ夕法、 蒸着 法、 メツキ法などの形成方法を用いることもできる。
導電性の観点から、 金属配線層 1 2の体積抵抗率は、 1 0— 5 Ω · c m以下であ ることが好ましい。 金属配線層 1 2の表面は滑らかであることが好ましいが、 多 少の起伏や凹凸等の存在は差し支えない。
絶縁層 1 4は、 樹脂、 セラミックス、 ガラス等の絶縁材料を 1種類または複数 種類用い、 1層または複数層として、 金属配線層 1 2が形成された領域の上に重 ねて成膜されている。 絶縁層 1 4が形成される領域は、 光の入射や透明導電層 1 1への電荷移動をさほど阻害しない程度であれば、 金属配線層 1 2のパターンの 周辺に、 はみ出してもよい。
絶縁層 1 4の形成方法は、 必ずしも限定されない。 例えば、 ガラスフリットに 適宜の増粘剤、 結合剤、 分散剤、 溶剤などを配合してなるガラスペース卜を用い て、スクリーン印刷法、メタルマスク法、インクジエツ卜法などの印刷法により、 金属配線層 1 2のパターンに重なるように塗膜し、 加熱して焼成してもよい。 こ の方法は、 パターン形成の容易性、 コスト面などの観点から好適である。 焼成温 度としては、 6 0 0 °C以下、ょリ好ましくは 5 5 0 °C以下とすることが好ましい。 このような温度で焼成可能なガラスとしては、 非晶質もしくは結晶性ガラス系 として、 酸化鉛系、 ホウ酸鉛系、 ホウ酸鉛ビスマス系といった市販の含鉛系ハン ダガラスのほか、 非鉛系ハンダガラス等を用いることができる。 絶縁層 1 4の層 数は 1層としても複数層としてもよく、 複数層とする場合は、 1種類のガラスペ —ス卜を 2回以上成膜してもよいし、 または、 溶融温度が異なる 2種類以上のガ ラスペ一ス卜を用いてもよい。
電極基板 1の表面上には、 増感色素が担持された酸化物半導体多孔膜 2が形成 されており、 電極基板 1 と酸化物半導体多孔膜 2とにより、 光電変換素子の作用 極 3が構成される。
酸化物半導体多孔膜 2は、 酸化チタン (T i 02)、 酸化スズ (S n 02)、 酸化 タングステン (W 03)、 酸化亜鉛 (Z n O )、 酸化ニオブ (N b 205) などの 1種 または 2種以上を複合させた平均粒径 1 ~ 1 0 0 0 n mの酸化物半導体微粒子か らなり、 例えば厚さが 0 . 5〜5 0 m程度の多孔質の薄膜である。 ただしこの 範囲に限定されない。
酸化物半導体多孔膜 2を形成するためには、 例えば、 市販の酸化物半導体微粒 子を所望の分散媒に分散させた分散液、 あるいは、 ゾルーゲル法により調整でき るコロイド溶液を、 必要に応じて所望の添加剤を添加した後、 スクリーンプリン 卜法、 インクジェットプリン卜法、 ロールコート法、 ドクターブレード法、 スピ ンコート法、 スプレー塗布法など公知の塗布により塗布する方法、 コロイド溶液 中に電極基板 1を浸潰して電気泳動により酸化物半導体微粒子を電極基板 1上に 付着させる泳動電着法、 コロイド溶液や分散液に発泡剤を混合して塗布した後、 焼結して多孔質化する方法、 ポリマーマイクロビーズを混合して塗布した後、 こ のポリマーマイクロビーズを加熱処理や化学処理により除去して空隙を形成させ 多孔質化する方法などを適用できる。
酸化物半導体多孔膜 2に担持される増感色素は、 特に制限されない。 例えば、 ビビリジン構造、 夕一ピリジン構造などを含む配位子を有するルテニウム錯体ゃ 鉄錯体、 ポルフィリン系やフタロシアニン系の金属錯体をはじめ、 ェ才シン、 口 ーダミン、 メロシアニンなどの有機色素などから、 用途や酸化物半導体多孔膜の 材料に応じて適宜選択して用いることができる。
電解質層 5を形成するための電解液としては、 酸化還元対を含む有機溶媒や室 温溶融塩などを用いることができる。 有機溶媒としては、 ァセ卜二卜リル、 メ卜 キシァセ卜ニ卜リル、 プロピオ二卜リル、 エチレン力一ボネ一卜、 プロピレン力 ーボネー卜、 ジェチルカーボネー卜、 ァーブチロラク卜ンなどが例示される。 室 温溶融塩としては、 四級化ィミダゾリゥ厶系カチオンとヨウ化物イオンまたはビ ス卜リフル才ロメチルスルホニルイミドア二オンなどからなる塩類が例示される。 電解液に含有される酸化還元対は、 特に限定されない。 例えば、 ヨウ素ノヨウ 化物イオン、 臭素 臭化物イオンなどのペアであってもよい。 ヨウ化物イオンま たは臭化物イオンの供給源としては、 リチウム塩、 四級化イミダゾリウ厶塩、 テ 卜ラブチルアンモニゥ厶塩などを単独または複合して用いることができる。
この電解液には、 必要に応じて t e r t—ブチルピリジンなどの添加物を添加 できる。 適当なゲル化剤によりゲル化させて流動性を抑制したものを用いてもよ い。 電解質層 5に代えて、 p型半導体などからなる固体の電荷移送層 6を用いるこ ともできる。 p型半導体としては、 例えば、 ヨウ化銅、 チ才シアン化銅などの一 価銅化合物を好適に用いることができる。 電荷移送層 6の形成方法は特に制限さ れず、 公知の方法を適用できるが、 例えば、 キャスティング法、 スパッタ法、 蒸 着法などが例示される。 この電荷移送層 6には、 層形成の必要に応じて添加物を 含んでいてもよい。
対極 4としては、 例えば、 ガラスなどの非導電性材料からなる基板上に、 I T 0や F T 0等の導電性酸化物半導体からなる薄膜を形成したもの、 あるいは、 基 板上に、 金、 白金、 炭素系材料などの導電性材料を蒸着、 塗布などすることによ り電極を形成したものを用いることができる。 I T 0や F T O等の導電性酸化物 半導体の薄膜上に白金、 カーボンなどの層を形成したものとしてもよい。
このような対極 4を作製する方法としては、 例えば、 塩化白金酸の塗布後に熱 処理することにより、 白金層を形成する方法が挙げられる。 または、 蒸着法ゃス パッ夕法によって電極を基板上に形成してもよい。
電解質層 5に代えて電荷移送層 6を用いた場合は、 電荷移送層 6上に、 対極 4 の電極となる導電性材料を直接スパッ夕や塗布などの方法により層形成する方法 を用いることもできる。
この実施形態の電極基板によれば、 透明導電層 1 1と金属配線層 1 2とが接触 し、 電気的に接続されているので、 酸化物半導体多孔膜 2からの電子を、 透明導 電層 1 1により集電し、 さらに、 金属配線層 1 2を介して集電効率を高めること ができる。 金属配線層 1 2が電解質層 5の溶液などから確実に遮蔽され、 その腐 食や漏れ電流を効果的に抑制できる。 従って、 導電特性に優れる電極基板 1とで きるので、 この実施形態の電極基板を用いて、 光電変換素子の作用極を構成する ことにより、 金属配線層 1 2と電解質層 5との接触を防止し、 腐食や、 漏れ電流 による出力の低下を抑制し、 光電変換効率の高い光電変換素子を製造できる。 図 3は、 本発明の電極基板の第 2の実施形態を示す概略断面図である。 この例 の電極基板 1では、 金属配線層 1 2が基材 1 0の上に設けられており、 透明導電 層 1 1は、 金属配線層〗 2の上を跨り、 金属配線層 1 2が形成されている領域よ り広い領域に亘つて、 形成されている。 絶縁層〗 4は、 透明導電層 1 1の上に、 金属配線層 1 2のパターンに重ね合わされて、 金属配線層 1 2の上面と側面を被 覆するように形成されている。つまり、絶縁層 1 4は、透明導電層 1 1を介して、 金属配線層 1 2の上に設けられている。
このような電極基板 1によれば、 上記第 1の実施形態の電極基板 1と同様に、 絶縁層 1 4により金属配線層 1 2を絶縁遮蔽できるので、 漏れ電流の発生を抑制 し、 導電特性に優れる電極基板 1とできる。 この電極基板 1を用いても、 光電変 換効率の高い光電変換素子を製造できる。
本発明の電極基板の他の実施形態を示す。
図 4に示す実施形態では、 基材 1 0上に透明導電層 1 1が形成されており、 こ の透明導電層 1 1上に、 格子状などのパターンとして、 金属配線層 1 2が形成さ れている。 透明導電層 1 1の上に、 酸化物半導体の薄膜からなる遮蔽層 1 3が設 けられ、 金属配線層 1 2の上に絶縁層 1 4が形成されている。
図 5の実施形態では、 基材 1 0上に、 格子状などのパターンとして、 金属配線 層 1 2が形成されており、 この金属配線層 1 2の上に、 金属配線層 1 2が形成さ れた領域より広い領域に亘つて、 透明導電層 1 1が形成されている。 透明導電層 1 1の上に、酸化物半導体の薄膜からなる遮蔽層 1 3が設けられている。さらに、 絶縁層 1 4が、遮蔽層 1 3の上に、金属配線層〗 2のパターンに重ね合わされて、 金属配線層 1 2の上面と側面を被覆するように形成されている。
金属配線層 1 2と比較すれば問題は小さいが、 透明導電層 1 1からの逆電子移 動も指摘されていることから、 図 4や図 5に示すように、 透明導電層 1 1の上に 遮蔽層 1 3を設けることにより、 より高い遮蔽効果を得ることができる。
遮蔽層 1 3の材料としては、 酸化還元種を含む電解液との電子移動反応速度が 低く、 かつ光透過性や、 光電子の移動能が高い化合物が選択され、 酸化チタン、 酸化亜鉛、 酸化ニオブ、 酸化スズ、 フッ素添加酸化スズ (F T O)、 スズ添加酸化 インジウム ( I T O ) などが例示される。
遮蔽層 1 3は、 透明導電層 1 1への電子移動を妨げない程度に薄く形成されて いることが必要であり、 1 0〜3 0 0 0 n m程度の厚さとすることが好ましい。 遮蔽層 1 3の形成方法としては、 スパッ夕法、 蒸着法、 S P D法、 スピンコ一卜 法、 デイツビング法、 ドクタープレード法などが挙げられる。 しかし、 これらの 方法では、 遮蔽層 1 3の緻密さや、 基材 1 0の表面形状への適応性が必ずしも十 分とは言えず、金属配線層 1 2の遮蔽性能を十分に得ることが難しい。このため、 遮蔽層 1 3を形成した場合にも、 金属配線層 1 2の上に、 直接、 あるいは、 透明 導電層 1 Ίや遮蔽層 1 3等を介して、 絶縁層 1 4を形成することが必要であり、 これにより、 金属配線層 1 2の絶縁遮蔽を十分に行える。
遮蔽層 1 3を形成する方法としては、 特に限定はなく、 例えば、 目的化合物で ある酸化物半導体またはその前駆体をスパッタ法、 蒸着法、 C V D法などの乾式 法 (気相法) により製膜する方法が挙げられる。 例えば金属などの前駆体を製膜 した場合には、 加熱処理または化学処理などにより酸化させることにより、 遮蔽 層 1 3を得ることができる。
湿式法の場合、 目的化合物またはその前駆体を含有する液をスピンコート法、 デイツビング法、 ブレードコート法などの方法により塗布したのち、 加熱処理や 化学処理などにより目的の化合物に化学変化させることにより、 遮蔽層 1 3を得 ることができる。 前駆体としては、 目的化合物の構成金属元素を有する塩類、 錯 体などが例示される。緻密な膜を得るためには、分散液よリ溶液がより好ましい。 遮蔽層 1 3を形成する他の方法として、 例えば、 スプレー熱分解法 (S P D ) を用い、 透明導電層 1 1を有する基材 1 0を加熱した状態で、 この基材 1 0に向 けて遮蔽層 1 3の前駆体となる物質を噴霧して熱分解させ、 目的とする酸化物半 導体に変化させることにより、遮蔽層 1 3を形成する方法を用いることもできる。 このようにして、 透明導電層 1 1を遮蔽するための遮蔽層 1 3を設けることに より、 透明導電層 1 1からの逆電子移動を抑制できるので、 この実施形態の電極 基板を用いることにより、 光電変換効率の高い光電変換素子を作製できる。
遮蔽層 1 3には、 特性上の必要に応じて、 例えば絶縁層 1 4とは異なる目的で の保護層としての効果を持たせることができる。
例えば、図 6の実施形態では、遮蔽層 1 3が、透明導電層〗 〗の上のみならず、 金属配線層 1 2や絶縁層 1 4の上まで形成されている。 これにより、 遮蔽層 1 3 を金属配線層 1 2や絶縁層 1 4の保護層としても用いることができる。
図 7の実施形態の電極基板 1では、 第 1の透明導電層 1 1 aの上に、 格子状、 縞状、 櫛型など、 配線状のパターンとして金属配線層 1 2が形成されており、 こ の金属配線層 1 2の上に、 金属配線層 1 2を被覆するための絶縁層 1 4が設けら れている。 さらに、 金属配線層 1 2や絶縁層 1 4の上に、 第 2の透明導電層 1 1 bが形成されている。 つまり、 金属配線層 1 2や絶縁層 1 4が、 第 1の透明導電 層 1 1 aと第 2の透明導電層 1 1 bの間に挟まれている。 第 1および第 2の透明 導電層 1 〗 a、 1 1 bは、 上述の透明導電層〗 1と同様のものであり、 I TO、 F Τ Ο等の導電性金属酸化物からなる薄膜である。
このような電極基板 1によれば、 絶縁層 1 4により、 金属配線層 1 2の絶縁遮 蔽を行うとともに、 第 2の透明導電層 1 1 bにより、 金属配線層 1 2や絶縁層 1 4を保護できる。 第 1の透明導電層 1 1 aに併せて第 2の透明導電層 1 1 bを有 することにより、 集電効率の向上が期待できる。
この実施形態の電極基板は、 光化学電池や光センサーなど、 太陽電池以外の光 電変換素子にも応用できる。 この場合にも、 電極基板 1の金属配線層 1 2が絶縁 層 1 4により被覆され、 金属配線層 1 2への電解質溶液等の接触が防止されてい るので、 腐食や短絡などの不都合が抑制され、 品質の劣化や、 光電変換特性、 光 応答性などの低下を抑制できる。
上記の実施形態に対応する実施例を説明する。
<実施例 A 1 >
〔電極基板の作製〕
透明導電層 1 1 (1 1 a) および基材 1 0として、 1 00mmX 1 00mmの F TO膜付きガラス基板を用い、 この表面に、 印刷用銀ペース卜 (焼結後の体積 抵抗率が 3 X 1 0— 6Ω のもの) を格子状にスクリーン印刷した。 1 0分間のレべ リング後、 1 35°C、 20分間熱風循環炉で乾燥し、 550°C、 1 5分間かけて 焼成して、 銀回路からなる金属配線層 1 2を形成した。 金属配線層 1 2の回路幅 は 1 50 tm, 膜厚は 5 mであった。
CCDカメラを用いて位置合わせを行いながら、 スクリーン印刷により、 金属 配線層 1 2と重ね合わせてガラスペース卜を印刷し、 1 0分間のレべリング後、 1 35°C、 20分間熱風循環炉で乾燥し、 550°C、 1 5分間かけて焼成して、 絶縁層 1 4を形成した。 得られた絶縁層 1 4の幅は 250 _tm、 ガラス基板の表 面からの膜厚は 1 0エ であった。 このため、 金属配線層 1 2上には、 約 5 m の厚さで絶縁層 1 4が形成されたことになる。
この絶縁層 1 4の表面を走査電子顕微鏡 (S EM) により観察したところ、 ガ ラスフリット粒は溶融して互いに融着しており、 絶縁層 1 4の表面は緻密であつ て、 顕著なピンホールなどの欠陥がないことが分かつた。
さらに、 S PD法により、金属配線層 1 2や絶縁層 1 4の上を跨るようにして、 保護層、 遮蔽層 1 3を兼ねた第 2の透明導電層 1 1 bとなる FT O膜を形成し、 図 6 (および図 7) に示す構成の電極基板 1を作製した。
〔光電変換素子の作製〕
得られた電極基板 1の上に、 酸化チタン (平均粒径 25 n m) の分散水溶液を 塗布し、 乾燥後、 450°Cにて 1時間加熱処理することにより、 厚さ 1 0 mの 酸化物半導体多孔膜 2を形成した。 さらに、 ルテニウムビビリジン錯体 (N 3色 素) のエタノール溶液中に 8時間浸潰して色素担持させ、 作用極 3を作製した。 対極 4として、 白金スパッ夕 FT Oガラス電極基板を用い、 この対極 4と作用 極 3とを、 50 / m厚の熱可塑性ポリオレフイン樹脂シー卜をスぺーサ一として 介在させた状態で対向させ、 樹脂シートの熱溶融により、 両電極 3、 4を固定し た。 この際、 電解質の注液口とするため、 対極 4側の一部を空けておいた。 この 注液口から、 0. 5 Mのヨウ化物塩と 0. 05 Mのヨウ素とを主成分に含むメ卜 キシァセ卜ニトリル溶液を注入して電解質層 5を形成したのち、 周辺部と注液口 とをエポキシ系封止樹脂により本封止し、 集電部に銀ペース卜を塗布して試験セ ルとなる光電変換素子を作製した。
この試験セルの光電変換特性を、 エアマス (AM) が 1. 5の擬似太陽光によ り評価したところ、 変換効率は 3. 0%であった。
<実施例 A2>
〔電極基板の作製〕
基材 1 0として、 1 00 mm X I 00 mmの耐熱ガラス基板を用い、 この表面 に、 実施例 A 1 と同様の手順により、 印刷用銀ペース卜を用いて、 回路幅 50 m、 膜厚 5 の金属配線層 1 2を形成したのち、 この金属配線層〗 2の上に S PD法により透明導電層 1 1となる FT 0膜を形成した。 さらに、 実施例 A 1と 同様の手法を用いて、 ガラスペース卜の印刷により、 金属配線層 1 2のパターン に合わせて絶縁層 1 4を形成して、 図 3に示す構成の電極基板 1を作製した。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 1を用いて、 実施例 A 1と同様の手順により、 試験セルとなる光 電変換素子を作製した。この試験セルの光電変換特性を、エアマス(AM)が 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 変換効率は 2. 5%であった。
<実施例 A 3>
〔電極基板の作製〕
透明導電層 1 1および基材 1 0として、 1 0 Omm X 1 0 Ommの FTO膜付 きガラス基板を用い、 この表面に、 アディティブめつき法により、 回路幅 50 t m、 膜厚 5 At mの金回路からなる金属配線層 1 2を形成した。 この金属配線層 1 2上に実施例 A 1 と同様の手法を用いて、 ガラスペーストの印刷により、 金属配 線層 1 2のパターンに合わせて絶縁層 1 4を形成して、 図 1 Bに示す構成の電極 基板 1を作製した。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 1を用いて、 実施例 A 1と同様の手順により、 試験セルとなる光 電変換素子を作製した。 この試験セルの光電変換特性を、エアマス(AM)が 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 変換効率は 3. 3%であった。
<比較例 A 1 >
〔電極基板の作製〕
基材 1 0として、 1 00mmX 1 00 mmの耐熱ガラス基板を用い、 この表面 に、 実施例 A 1 と同様の手順により、 印刷用銀ペース卜を用いて回路幅 1 00 At m、 膜厚 5 mの金属配線層 1 2を形成したのち、 この金属配線層 1 2上に実施 例 A2と同様の手順により、 透明導電層 1 1および遮蔽層 1 3となる FTO膜を 形成して、 電極基板〗を作製した。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 1を用いて、 実施例 A 1 と同様の手順により、 試験セルとなる光 電変換素子を作製した。 この試験セルに注液された電解質を観察したところ、 注 液直後には茶褐色を呈していたものが、 数分後には、 ほぼ透明に変わっていた。 これは、 電解質中の I「イオンが、 銀回路の遮蔽が不十分であるため、 露出され ている銀と反応して I—に還元されたものと考えられる。この試験セルの光電変換 特性を、 エアマス (AM) が 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 光電変 換効率は 0. 24%であった。
このことから、 絶縁層 1 4を設けない場合、 銀回路の遮蔽が不十分であり、 光 電変換素子の光電変換効率が低下しゃすいことが分かる。
<比較例 A 2>
〔電極基板の作製〕
透明導電層 1 1および基材 1 0として、 1 0 Omm X 1 00 mmの FT 0膜付 きガラス基板を用い、 この表面に、 アディティブめつき法により、 回路幅 50 μ m、 膜厚 5 Atmの金回路からなる金属配線層 1 2を形成した。 この金属配線層 1 2上に、 実施例 A 2と同様の手法を用いて、 透明導電層 1 1および遮蔽層 1 3と なる厚さ 300 n mの FT O膜を形成して、 電極基板 1を作製した。
このようにして形成された電極基板 1の表面を S EM、 E DXにより観察した ところ、 金属配線層 1 2の底部でめっきレジストの裾引きに起因すると思われる 潜り込みがあリ、 この潜リ込みの影部分には F T 0の被覆が形成されていなかつ た。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 1を用いて、 実施例 A 1と同様の手順により、 試験セルとなる光 電変換素子を作製した。 この試験セルの光電変換特性を、エアマス(AM)が 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 変換効率は 0. 30%であった。 このこ とから、 導電層の遮蔽のため、 絶縁層 1 4を設けず、 遮蔽層 1 3のみを設けた場 合、 金属配線層 1 2が露出されやすくなリ、 金属配線層 1 2が露出された場合、 光電変換素子の光電変換効率が著しく低下することがあリ、 問題であることが分 かる。
ぐ比較例 A 3 >
〔電極基板の作製〕
透明導電層 1 1および基材 1 0として、 1 0 OmmX Ί 00 mmの FT 0膜付 きガラス基板を用い、 この表面に金属配線層 1 2を設けることなく、 FTO膜付 きガラス基板そのものを電極基板 1 として用いて、 実施例 A 1 と同様の手順によ り、 試験セルとなる光電変換素子を作製した。 この試験セルの光電変換特性を、 エアマス (A M ) が 1 . 5の擬似太陽光により評価したところ、 変換効率は 0 . 1 Ί %であった。 このことから、 金属配線層 1 2を設けない場合、 電極基板 1の 抵抗が大きいために光電変換素子の光電変換効率が低くなつていることが分かる。 本発明の他の実施形態の電極基板は、 透明基板上に金属配線層と透明導電層と を有し、 金属配線層が少なくとも内層と外層との 2層から構成されている。 具体 的には、図 8に示すように、透明基板 2 2—面に形成された透明導電層 2 3上に、 金属配線層 2 4が配置された構造でもよい。 あるいは、 図 9に示すように、 金属 配線層 2 4が配置された透明基板 2 2上に、 透明導電層 2 3が形成された構造で もよい。 図 9中、 図 8と同一の符号は、 図 8の構成と同様の構成を意味する。 透明基板 2 2の材料としては、 前述した基材 1 0と同様でよい。 光透過性の高 いものが好ましい。
透明導電層 2 3を形成する材料としては、 前述した透明導電層 1 1 と同様でよ い。 できるだけ光透過率が高 L、ものを材料の組み合わせや用途に応して適宜選定 することが好ましい。
透明導電層 2 3を透明基板 2 2上に形成する方法としては、例えばスパッタ法、 蒸着法などの公知の方法から、 透明導電層 2 3を形成する材料などに応じて、 適 切な方法を用いればよい。
金属配線層 2 4の内層 2 4 aを形成する材料としては、 特に制限はないが、 例 えば金、銀、 白金、 アルミニウム、ニッケル、チタンなどを用いることができる。 これらの中でも、 汎用の印刷ペース卜として比較的安価で、 容易に入手できるこ とから、 銀、 又はニッケルを好適に用いることができる。
導電率などの特性を損ねない範囲で、 バインダ材や適当な添加剤を加えること ができる。
内層 2 4 aを形成する方法としては、 特に制限はなく、 印刷法、 スパッ夕法、 蒸着法、 メツキ法などが挙げられ、 これらの中でも特に印刷法が望ましい。
このように形成される内層 2 4 aは、 その体積抵抗率が外層 2 4 bの体積抵抗 率に比べて小さいことが好ましい。 本実施形態において、 内層 2 4 aの塗膜表面 は滑らかであるほうが好ましいが、 この層は電極基板 2 1の抵抗を下げる金属配 線層 2 4としての本来の目的に従って形成されるため、 高い導電率を有すること が優先される。 一方、 後段で説明する外層 2 4 bは、 導電層ではあるが、 その主 目的は配線表面を滑らかにし、 遮蔽層 2 5の形成を容易にするため、 内層 2 4 a と比較して体積抵抗率が大きくても構わない。
内層 2 4 aの体積抵抗率としては、 少なくとも 5 X I 0 _ 5 Ω · c m以下である ことが望ましい。 この条件であれば、 塗膜表面に多少のピンホールや亀裂が生じ たとしても、 外層 2 4 bにより補正できるので問題にならない。 金属配線層 2 4 中に、 この層を有していれば、 何らかの目的で、 内層 2 4 a内外に外層 2 4 bと は異なる別層を形成しても構わない。
金属配線層 2 4の外層 2 4 bは、 少なくとも導電粒子とバインダ材とを含有す るペース卜組成物で形成されていることが望ましい。 導電粒子としては、 特に制 限されるものではなく、 例えば銀、 ニッケル、 金、 白金などが挙げられる。 これ らの中でも、 汎用の印刷ペース卜として比較的安価で、 容易に入手できることか ら、 銀、 又はニッケルを好適に用いることができる。
バインダ材としては、 特に制限はないが、 例えば色素増感太陽電池の電極基板 2 1として用いる場合には、 製造工程中に 4 0 0 - 5 0 0 °C程度の熱処理を含む ことから、 ペース卜組成物は焼成型のものが選定され、 例えばガラスフリットな どが望ましい。 バインダ材となるガラスフリットは、 上記焼成温度以下で溶融可 能であるものならば、 特に限定されるものではない。
外層 2 4 bを形成するペース卜組成物中のバインダ材の配合比は、 金属配線層 2 4中の他の層を形成する組成物中のバインダ材配合比に比べて大きいことが好 ましい。 このようにバインダ材の配合比を調整することによって、 外層 2 4 b塗 膜表面にピンホールや亀裂などを含まず、 上面から見た際に影になるような著し い凹凸の発生を抑制して、 遮蔽層 2 5の形成を容易にできる。
外層 2 4 bを形成するペース卜組成物中のバインダ材の配合比は、 導電粒子に 対して質量比で 1 0 %以上が好ましく、 ょリ好ましくは 2 0 %以上である。 ただ し、 バインダ材の配合比の増大に伴い、 膜 (外層 2 4 b ) の導電率が顕著に低下 するため、 表面状態が上記要求を満たす範囲でバインダ材の配合比は少ないほう が好適であり、 9 0 %以下であることが好ましく、 更に好ましくは 7 0 %以下で あ 。
外層 2 4 bを形成する方法としては、 印刷法が好ましい。 印刷法であれば、 特 に制限はなく、 例えばスクリーン印刷法、 インクジェット法、 メタルマスク方式 等が挙げられる。
このように、 外層 2 4 bを印刷法により形成することによって、 表面粗さ (ラ フネス) が小さく、 亀裂やピンホールが生じないため、 金属配線層 2 4の表面を 滑らかにし、 遮蔽層 2 5の形成を容易にできる。
更に、 印刷法によれば、 製造コストを低減でき、 製造効率を向上させることが できる。
本明細書における外層 2 4 bとは、 前述の目的で印刷法により形成される印刷 層を意味し、 必ずしも金属配線層 2 4において最表面に配置されることはなく、 必要に応じて、 更なる外側に何らかの目的で別層を形成してもよい。
内層 2 4 aと外層 2 4 bとの塗膜の厚さを比較した場合、 外層 2 4 b厚さは、 内層 2 4 aの厚さの 1 0 0 %を上回らないことが望ましい。 外層 2 4 b厚さが、 内層 2 4 a厚さの 1 0 0 %を上回ると、 回路の体積当たりの導電率が低くなるた めに、 回路厚さが厚くなリ過ぎる、 又は導電率が不足するなどの不都合を生じ易 い。
内層 2 4 a、 外層 2 4 bいずれに関しても、 例えば導電粒子の融着などを目的 とした焼成工程を要する場合、 ガラス基材等への適用を考えれば、 6 0 0 °C (好 適には 5 5 0 °C)以下での焼成温度にて、必要な特性を得られることが好ましい。 本実施形態において、 金属配線層 2 4及び/又は透明導電層 2 3からなる導電 層の表面に遮蔽層 2 5を有することが好ましい。
遮蔽層 2 5を形成する材料としては、 太陽電池とした際に接触する酸化還元対 含有電解液との電子移動反応速度の遅く、 光透過性に優れ、 且つ、 発生した光電 子の移動を妨げないといった特性を有するものであれば、 特に限定されるもので はないが、 例えば、 酸化チタン、 酸化亜鉛、 酸化ニオブ、 酸化スズ、 フッ素添加 酸化スズ(F T O )、 スズ添加酸化インジウム ( I T O)などを挙げることができ る。 遮蔽層 25を形成する方法としては特に制限はなく、 例えば、 目的の化合物、 あるいは、 その前駆体をスパッタ法、 蒸着法、 CVD法などの乾式法 (気相法) により製膜する方法が挙げられる。 金属などの前駆体を製膜した場合には、 加熱 処理または化学処理などにより酸化させることにより遮蔽層 25を形成できる。 湿式法の場合、 目的の化合物またはその前駆体を溶解、 分散させた溶液をスピ ンコート法、 デイツビング法、 ブレードコート法などの方法により塗布した後、 加熱処理や化学処理などにより目的の化合物に化学変化させることにより、 遮蔽 層 25を形成できる。前駆体としては、目的化合物の構成金属元素を有する塩類、 錯体などが例示される。 緻密な膜 (遮蔽層 25) を得るという目的から、 分散状 態より溶解状態であることが好ましい。
スプレー熱分解法 (S PD) などの場合、 透明導電層 23を有する透明基板 2 2を加熱した状態で、 これに向けて遮蔽層 25の前駆体となる物質を噴霧し、 熱 分解させることにより、 目的とする酸化物半導体に変化させて、 遮蔽層 25を形 成できる。
遮蔽層 25の厚さとしては、 特に制限はないが、 効果を発揮できる範囲で薄い ほうが好ましく、 1 0~3000 m m程度が好ましい。
本実施形態の電極基板 21において、 図 9に示すように、 金属配線層 24を形 成後、 透明導電層 23を基板上に形成した構造のものでは、 透明導電層 23が遮 蔽層 25を兼ねていても構わない。
以上説明したように、 本実施形態の電極基板 21は、 金属配線層 24の外層 2 4 b表面に、 ピンホールや亀裂などの影になる部分が生じないため、 その表面を 遮蔽層 25によって緻密に被覆できる。
次に、 上記電極基板 21を用いた色素増感太陽電池について説明する。
本実施形態の色素增感太陽電池は、 上述の電極基板 21の上に、 色素担持され た酸化物半導体多孔膜を備える作用極と、 この作用極に対向して配置された対極 とを具備し、 作用極と対極との間に、 酸化還元対を含む電解質層が設けられてい る。
半導体多孔膜の材料としては、 酸化チタン (T i 02)、 酸化スズ (S n02)、 酸化タングステン (W03)、 酸化亜鉛 (Z nO)、 酸化ニオブ (N b2Os). など が挙げられ、 これらを単独で又は 2種以上を組み合わせて用いることができる。 市販の微粒子や、 ゾル—ゲル法によリ得られるコロイド溶液などから得ることも できる。
半導体多孔膜の製造方法としては、 例えば、 コロイド溶液や分散液 (必要に応 じて添加剤を含む) をスクリーンプリン卜法、 インクジェットプリン卜法、 ロー ルコー卜法、 ドクターブレード法、 スピンコート法、 スプレー塗布など種々の塗 布法を用いて塗布するほか、 微粒子の泳動電着、 発泡剤の併用、 ポリマ一ビーズ などと複合化 (後に錶型成分のみ除去) などを適用できる。
半導体多孔膜に担持される色素としては、 ビビリジン構造、 ターピリジン構造 などを配位子に含むルテニウム錯体、 ポルフィリン、 フタロシアニンなどの含金 属錯体をはじめ、 ェ才シン、 ローダミン、 メロシアニンなどの有機色素なども用 いることができ、 用途、 使用半導体に適した励起挙動をとるものを特に限定され ることなく選択できる。
電解質層を形成する電解液としては、 酸化還元対を含む有機溶媒、 室温溶融塩 などを用いることができ、 例えば、 ァセ卜二卜リル、 メ卜キシァセ卜二卜リル、 プロピオ二卜リル、 プロピレンカーボネー卜、 ジェチルカーボネ一卜、 ァープチ ロラクトンなどの有機溶媒、四級化ィミダゾリゥ厶系カチオンとョゥ化物ィ才ン、 ビストリフル才ロメチルスルホニルイミドア二オンなどからなる室温溶融塩など を挙げることができる。
このような電解液に適当なゲル化剤を導入することにより、 疑似固体化したも の、 いわゆるゲル電解質を用いても構わない。
酸化還元対としては、 特に制限されるものではなく、 例えば、 ヨウ素ノヨウ化 物イオン、臭素/臭化物イオンなどが挙げられ、例えば、前者の具体的としては、 ヨウ化物塩 (リチウム塩、 四級化イミダゾリウ厶塩、 テ卜ラブチルアンモニゥ厶 塩などを単独で又は複合して用いることができる) とヨウ素との組み合わせが挙 げられる。電解液には、更に、必要に応じて、 t e r t—プチルピリジンなど種々 の添加物を添加できる。
電解液から形成される電解質層の代わりに、 P型半導体などを電荷移送層とし て用いることも可能である。 p型半導体としては、 特に制限はないが、 例えば、 ヨウ化銅、 チ才シアン化銅などの 1価銅化合物を好適に用いることができる。 機 能上、 製膜上の必要に応じて、 各種の添加剤を含有できる。
電荷移送層の形成方法としては、特に制限はなく、例えば、キャスティング法、 スパッ夕法、 蒸着法などの製膜方法が挙げられる。
対極としては、 例えば、 導電性又は非導電性の基板上に、 各種炭素系材料や白 金、 金などを蒸着、 スパッ夕などの方法で形成できる。
固体系の電荷移送層を用いる場合は、その表面に、直接スパッタリングするか、 塗布するなどの手法を用いてもよい。
本実施形態の色素増感太陽電池は、 電極基板 21を有するため、 電解液による 金属配線の腐食や、 金属配線層 24から電解液への逆電子移動が抑制され、 光電 変換素子の出力効果が一層向上する。
次に、 上記実施形態の実施例を説明する。
<実施例 B 1 >
1 00 X 1 00mmの FT 0膜付きガラスの表面に、 内層 24 aを形成する銀 ペース卜 (銀粒子 92 ガラスフリット 8 (質量比))を格子状にスクリーン印刷 した。 これを 1 0分間のレべリング時間をおいて、 1 35°C、 20分間熱風循環 炉で乾燥後、 550°C、 1 5分間焼成した。 次いで、 CCDカメラを用い、 位置 合わせをしながら外層 24 bを形成する銀ペース卜 (銀粒子 55 ガラスフリッ 卜 45 (質量比))を重ね印刷し、 1 0分間のレべリング時間をおいて、 1 35°C、
20分間熱風循環炉で乾燥後、 550°C、 1 5分間焼成して銀回路を形成した。 回路巾 250 A m (外層 24 b)、 1 50 m (内層 24 a)、 膜厚 8 Aim (外層
3 At m +内層 5 m) とした。
このようにして作製した配線付き基板表面に、 スプレー熱分解法により F TO 層を 300 nm形成して遮蔽層 25とし、 電極基板 (i) を得た。
電極基板(i)の銀回路の内層 24 a表面、外層 24 b表面をそれぞれ S EMに て観察したところ、 内層 24 a表面には、 ガラスフリッ卜が流れ込まなかった部 分、 約 1〜8 mの小孔が無数に観察されたのに対し、 外層 24 b表面では、 小 孔がほとんど認められず、 R a O. 4 の比較的滑らかな膜面が得られた。 電極基板(i) に、 平均粒径 25 nmの酸化チタン分散液を塗布、 乾燥し、 45 0°Cで 1時間加熱 .焼結した。 これをルテニウムビビリジン錯体 (N 3色素) の エタノール溶液中に一晚浸漬して色素担持させた。 これを 50/_tm厚の熱可塑性 ポリオレフイン樹脂シ一卜を介して、白金スパッ夕 FT 0基板と対向して配置し、 樹脂シ一卜を熱溶融させて両極板を固定した。 予め、 白金スパッタ極側に電解液 の注入口を開けておき、 電極間に 0. 5Mのヨウ化物塩と、 0. 05Mのヨウ素 とを主成分として含むメトキシァセ卜二卜リル溶液を注液した。 周辺部及び電解 液注入口をエポキシ系封止樹脂を用いて本封止し、 集電端子部に銀ペース卜を塗 布して配線型セル (ί) とした。
AM 1. 5の疑似太陽光を用いて、 光電変換特性を評価したところ、 配線型セ ル (ί) の変換効率は 2. 7%であった。
<実施例 Β 2>
耐熱ガラス基板上に、 実施例 Β 1と同様に銀回路を形成し、 この基板表面に F TO膜を形成した。 これを透明導電層 23、 兼遮蔽層 25として電極基板 (ii) を得た。
この電極基板 (M) を用いて、 実施例 B 1 と同様の要領で配線型セル (ii) を 得た。 AM I . 5の疑似太陽光を用いて光電変換特性を評価したところ、 配線型 セル (ii) の変換効率は 2. 5%であった。
<実施例 B 3>
1 00 mm角の FT 0ガラス基板上に、 アディティブめつき法により金回路を 形成した。 金回路は、 基板表面上に格子状に形成され、 回路巾 50 tmとした。 この上から、 外層 24 bとして銀印刷回路を重ね印刷し、 実施例 B 1 と同様の要 領で乾燥 ·焼結した。 銀ペース卜は、銀粒子 55Zガラスフリツ卜 45 (質量比) で含むものを用い、膜厚 8 t m (外層 3 im +内層 5 m)とした。この表面に、 実施例 B 1 と同様に 300 n mの FT O層を形成して遮蔽層 25とし、 電極基板 (iii) を得た。
この電極基板 (ίι'ί) を用い、 実施例 Β 1 と同様の要領で配線型セル (Mi) を 得た。 AM 1. 5の疑似太陽光を用いて光電変換特性を評価したところ、 配線型 セル (iii) の変換効率は 3. 1 %であった。
ぐ比較例 B 1 > 1 00 mm角の FT Oガラス基板上に、 銀ペース卜 (銀粒子 92 ガラスフリ ット 8 (質量比)) を回路巾 250 ^m、 膜厚 8 mとなるように印刷し、 実施例 B 1 と同様の要領で乾燥 ·焼結した。 この表面に、 実施例 B 1 と同様に 300 n mの FT O層を形成して遮蔽層 25とし、 電極基板 (iv) を得た。
この電極基板 (ίν) を用い、 実施例 Β 1と同様の要領で配線型セル (iv) を得 た。 この配線型セル (iv) に注液した電解液に着目したところ、 注液直後に茶褐 色を呈していたものが、 数分後にほぼ透明に変わっていた。 これは、 電解液中の I 3一が、 遮蔽されずに露出している銀と反応して、 I へと還元されたためだと 思われる。
AM 1. 5の疑似太陽光を用いて光電変換特性を評価したところ、 配線型セル (iv) の変換効率は 0. 29%であった。
ぐ比較例 B 2 >
1 00 mm角の FT 0ガラス基板上に、 銀ペース卜 (銀粒子 55/ガラスフリ ッ卜 45 (質量比)) を回路巾 250 ^m, 膜厚 8 mとなるように印刷し、 実施 例 B 1 と同様の要領で乾燥■焼結した。 この表面に、 実施例 B 1 と同様に 300 nmの F TO層を形成して遮蔽層 25とし、 電極基板 (v) を得た。
この電極基板(V)を用い、実施例 B 1 と同様の要領で配線型セル(V)を得た。 AM I . 5の疑似太陽光を用いて光電変換特性を評価したところ、配線型セル(V) の変換効率は 0. 1 8%であった。
<比較例 B 3 >
1 00mm角の FTOガラス基板上に、 アディティブめつき法により金回路を 形成した。 金回路は、 基板表面上に格子状に形成され、 回路巾 50 ΓΤΙ、 膜厚 5 Aimとした。 この表面に、 実施例 B 1 と同様に 300 nmの FTO層を形成して 遮蔽層 25とし、 電極基板 (νί) を得た。 この電極基板 (νί) の断面を S EM、 EDXを用いて確認したところ、 回路 (配線) 底部でめっきレジス卜の裾引きに 起因すると思われるもぐり込みがあリ、 影部分には F T 0が被覆されていなかつ た。
電極基板 (vi) を用い、 実施例 B 1と同様の要領で配線型セル (νί) を得た。 AM 1.5の疑似太陽光を用いて光電変換特性を評価したところ、配線型セル (vi) の変換効率は 0. 3%であった。
<比較例 B 4 >
1 00mm角の FT〇ガラス基板を用い、 未配線のまま、 実施例 B 1と同様の 方法により、 試験セル(vii) を得た。 AM 1. 5の疑似太陽光を用いて光電変換 特性を評価したところ、 試験セル (vii) の変換効率は 0. 1 1 %であった。 実施例 B 1〜B 3の配線型セルは、 いずれも光電変換効率に優れるものであつ たのに対し、 比較例 B 1の配線型セル (ίν) は、 金属配線層 24が 1層から構成 されており、 遮蔽層 25による遮蔽が不十分であったため、 電極基板の特性を引 き出すことができず、変換効率が良くなかった。比較例 Β 2の配線型セル(V)は、 金属配線層 24が 1層から構成されており、 その体積抵抗率が高いため、 電極基 板の抵抗を低減できず、 高出力を得られないため、 変換効率が良くなかった。 比 較例 Β 3の配線型セル (vi) は、 金属配線層 24が 1層から構成されており、 遮 蔽層 25による遮蔽が不十分であったため、 電極基板の特性を引き出すことがで きず、 変換効率が良くなかった。
電極基板 2 1は、 金属配線層 24の表面粗さ (ラフネス) を小さくし、 ピンホ —ルなどの無い緻密な遮蔽層 25を形成できる基板表面を提供する。 このような 電極基板 2 1を有する色素増感太陽電池によれば、 電解液による金属配線の腐食 や、 金属配線層 24から電解液への逆電子移動が抑制され、 光電変換素子の出力 効果が一層向上する。
図 1 0は本発明の他の実施形態を示す概略断面図である。
透明基板 32は、 レーザーやエッチング等により溝加工された配線パターンを 有する。 溝加工により形成された凹形部は、 透明基板 32表面下に達している状 態を意味し、 レンズ状、 凹状、 V谷状など形状に制限はない。 表面と呼ぶのは、 基材面のうち半導体多孔膜等を形成し、 対極と対向して配置される面をいう。 透明基板 32としては、 耐熱ガラスなどのガラスを使用することが一般的であ るが、 ガラス以外にも、 例えばポリエチレンテレフ夕レー卜 (P ET)、 ポリェチ レンナフタレート (P E N)、 ポリカーボネー卜 (PC)、 ポリエーテルスルホン (P E S) などの透明プラスチックや、 酸化チタン、 アルミナといったセラミク スの研磨板などを挙げることができ、 光透過性の高いものが好ましい。 金属配線層 3 3は透明基板 3 2に溝加工された配線パターンに沿って形成され ており、 金属配線層 3 3の少なくとも一部が、 透明基板 3 2表面以下の高さに達 している構造であれば特に制限はない。 例えば、 図 1 0に示すように、 金属配線 層 3 3の表面が透明基板 3 2表面と同じ高さのもの、 図 1 1に示すように、 金属 配線層 3 3の表面が透明基板 3 2表面より高い位置に達しているもの、 更には、 金属配線層 3 3が透明基板 3 2表面下にて全て形成されているもの (図示略) で もよい。 いずれの実施形態においても遮蔽層 3 5形成方向から見た場合に、 顕著 な凹凸、 陰になる潜り込みやボイドなどが極力無い滑らかな形状であることが望 ましい。 金属配線層 3 3の表面と透明基板 3 2の表面との段差について、 より小 さいほうが好ましい。
金属配線層 3 3を形成する材料としては、 特に制限はないが、 例えば金、 銀、 白金、 アルミニウム、 ニッケル、 チタンなどを用いることができる。
金属配線層 3 3を形成する方法としては、 例えば、 スクリーン印刷、 メタルマ スク、 インクジェットといった印刷法をはじめ、 めっき法、 スパッタ法、 蒸着法 など特に制限されることなく、種々の手法を用いることができる。特に好適には、 めっき法、 印刷法の少なくともいずれかを含む手法が選ばれる。 金属配線層 3 3 の表面の高さは、 研磨により透明基板 3 2の表面高さと揃えるなど調整できる。 金属配線層 3 3と透明導電層 3 4との位置関係は特に限定されるものではない。 図 1 0の実施形態では、 金属配線層 3 3が基板 3 2の表面に形成された溝内に埋 設されたうえで、 基板 3 2の全面に亘つて透明導電層 3 4が形成されている。 こ の場合、 金属配線層 3 3の上面全面が透明導電層 3 4の下面と導通する。
図 1 1の実施形態では、 基板 3 2の全面に亘つて透明導電層 3 4が形成された うえで、 配線パターンをなすように溝が形成され、 この溝内に金属配線層 3 3が 埋設されている。 この場合、 透明導電層 3 4と金属配線層 3 3との導通を確実に するために、 金属配線層 3 3の上端が透明導電層 3 4より盛り上がり、 隣接する 透明導電層 3 4の縁を一定幅に亘つて覆っていることが好ましい。 このオーバー ハング部 3 3 Aにより導通を確実にすることが可能である。 さらに基板 3 2の全 面に亘つて遮蔽層 3 5が形成されている。 図 1 1に示すように、 遮蔽層 3 5は金 属配線層 3 3の上で一段高くなつていてもよいし、 全面に亘つて平坦面であって もよい。
図 1 2 Aの実施形態では、 基板 3 2の表面に配線パターンをなす溝が形成され た後、 この溝内を含めて基板 3 2の表面全面に透明導電層 3 4が形成され、 さら に溝内に金属配線層 3 3が形成されている。 この場合、 透明導電層 3 4と金属配 線層 3 3との導通を確実にするために、 金属配線層 3 3の上端が透明導電層 3 4 より盛り上がり、 隣接する透明導電層 3 4の緣を一定幅に亘つて覆っていること が好ましい。 このオーバーハング部 3 3 Aにより導通を確実にすることが可能で ある。 さらに、 金属配線層 3 3および基板 3 2の全面に亘つて遮蔽層 3 5が形成 されている。 図 1 2に示すように、 遮蔽層 3 5は金属配線層 3 3の上で一段高く なっていてもよいし、 全面に亘つて平坦面であってもよい。
図 1 2 Bの実施形態では、 図 1 1の実施形態の変形例であり、 遮蔽層 3 5が金 属配線層 3 3を覆う位置にのみ形成されていることを特徴とする。 図 1 2 Cに示 すように、 金属配線層 3 3の上端面は、 金属配線層 3 3を形成する際の体積収縮 により、 凹面となっていてもよい。
図 1 2 Dは、 図 1 2 Bの電極基板 3 1を用いた色素増感太陽電池の一例の断面 図である。 図 1 Aと同一構成には同一符号を付して説明を省略する。
透明導電層 3 4を形成する材料としては、 特に制限されないが、 例えばスズ添 加酸化インジウム ( I T O )、 酸化スズ (S n 0 2 )、 フッ素添加酸化スズ (F T 0 ) などを挙げることができ、 できるだけ光透過率が高いものを材料の組み合わ せや用途に応して適宜選定することが好ましい。
透明導電層 3 4を形成する方法としては、 例えばスパッ夕法、 蒸着法、 C V D または S P Dなどの公知の方法から、 透明導電層 3 4を形成する材料などに応じ て、 適切な方法を用いればよい。
この実施形態の電極基板 3 1において、金属配線層 3 3が配置された基板上に、 透明導電層 3 4を形成した場合、 透明導電層 3 4が遮蔽層 3 5を兼ねていてもよ い。
金属配線層 3 3及びノ又は透明導電層 3 4からなる導電層表面には、 遮蔽層 3 5が形成されている。 遮蔽層 3 5としては、 ガラス成分、 金属酸化物成分、 また は電気化学的に不活性な樹脂成分のうち少なくとも 1種を含有することが好まし い。ガラス成分としては、酸化鉛系やホウ酸鉛系をはじめとする低融点の非晶性、 又は結晶性ガラス成分、 金属酸化物成分としては、 酸化チタン、 酸化亜鉛、 フッ 素添加酸化スズ (F丁 0 )、 スズ添加酸化インジウム ( I T O ) など、 電気化学的 に不活性な樹脂成分としては、 ポリオレフィン系樹脂、 ポリイミド系樹脂、 ポリ ベンゾ才キサゾール系樹脂、 ポリウレタン系樹脂などを挙げることができ、 これ らを単独で又は 2種以上を組み合わせて用いることが可能である。
遮蔽層 3 5の形成範囲が、 金属配線層 3 3表面及び透明導電層 3 4が配置され た透明部分を含むより広い範囲の場合には、 光透過性、 半導体多孔膜からの電子 移動を著しく損ねることのない(つまり、セル特性を著しく低下させない)材質、 厚みを選ぶ必要がある。 金属酸化物成分 (酸化物半導体) による遮蔽層 3 5につ いて更に詳しく述べれば、材質としては、色素増感太陽電池とした際に接触する、 酸化還元種含有電解液との電子移動反応速度が遅く、 光透過性に優れ、 且つ発生 した光電子の移動を妨げないといった特性が要求される。 このような要求特性を 満たしていれば、 特に材料として限定されるものではないが、 例えば、 酸化チタ ン、 酸化亜鉛、 酸化ニオブ、 酸化スズ、 F T O、 I T Oなどを挙げることができ る。
遮蔽層 3 5の形成範囲としては、 少なくとも金属配線層 3 3表面を含む範囲で あれば特に制限はなく、 金属配線層 3 3表面のみに限定してもよいし、 金属配線 層 3 3表面及び透明導電層 3 4が配置された透明部分を含むより広い範囲でも構 わない。 金属配線層 3 3と比較すれば問題は小さいが、 透明導電層 3 4からの逆 電子移動も指摘されているため、 透明導電層 3 4が配置された透明部分を含むよ り広い範囲に遮蔽層 3 5を形成することによって、より厳密な遮蔽が可能である。 遮蔽層 3 5を形成する方法としては特に制限はなく、 例えば、 目的の化合物、 あるいは、 その前駆体をスパッ夕法、 蒸着法、 C V D法などの乾式法 (気相法) により製膜する方法が挙げられる。 金属などの前駆体を製膜した場合には、 加熱 処理または化学処理などにより酸化させることにより遮蔽層 3 5を形成できる。 湿式法の場合、 目的の化合物またはその前駆体を溶解、 分散させた溶液をスピ ンコ一卜法、 デイツビング法、 ブレードコート法などの方法により塗布した後、 加熱処理や化学処理などにより目的の化合物に化学変化させることにより、 遮蔽 層 3 5を形成できる。前駆体としては、目的化合物の構成金属元素を有する塩類、 錯体などが例示される。 緻密な膜 (遮蔽層 3 5 ) を得るという目的から、 分散状 態より溶解状態であることが好ましい。
スプレー熱分解法 (S P D ) などの場合、 透明導電層 3 4を有する透明基板 3 2を加熱した状態で、 これに向けて遮蔽層 3 5の前駆体となる物質を噴霧し、 熱 分解させることにより、 目的とする酸化物半導体に変化させて、 遮蔽層 3 5を形 成できる。
この実施形態によれば、 金属配線層 3 3の逆テーパ構造、 底部潜り込み等、 製 膜時の影となる部分の遮蔽不良を抑え、 これに起因するセル特性低下を抑制でき る。 電極基板 3 1表面の凹凸構造に関して、 段差を大きくせずに回路厚を上げら れるため、 電極基板 3 1の開口率 (非配線部割合) を大きくし、 且つ、 低抵抗化 を図ることができる。
次に、 上記電極基板 3 1を用いた色素増感太陽電池について説明する。
本実施形態の色素増感太陽電池は、 上述の電極基板 3〗の上に、 色素担持され た酸化物半導体多孔膜を備える作用極と、 この作用極に対向して配置された対極 とを具備し、 作用極と対極との間に、 酸化還元対を含む電解質層が設けられてい る。
半導体多孔膜の材料は前述の実施形態と同様でよい。 半導体多孔膜の製造方法 としては、 例えば、 コロイド溶液や分散液 (必要に応じて添加剤を含む) をスク リーンプリン卜法、 インクジェットプリン卜法、 ロールコート法、 ドク夕一ブレ 一ド法、スピンコー卜法、スプレー塗布など種々の塗布法を用いて塗布するほか、 微粒子の泳動電着、 発泡剤の併用、 ポリマービーズなどと複合化 (後に錶型成分 のみ除去) などを適用できる。
半導体多孔膜に担持される色素、 電解質層を形成する電解液は、 先の実施形態 と同様でよい。 電解液に適当なゲル化剤を導入することにより、 疑似固体化した もの、 いわゆるゲル電解質を用いても構わない。 酸化還元対も先の実施形態と同 様でよい。
電解液から形成される電解質層の代わりに、 p型半導体などを電荷移送層とし て用いることも可能である。 p型半導体としては、 特に制限はないが、 例えば、 ヨウ化銅、 チ才シアン化銅などの 1価銅ィ匕合物を好適に用いることができる。 機 能上、 製膜上の必要に応じて、 各種の添加剤を含有できる。 電荷移送層の形成方 法としては、 特に制限はなく、 例えば、 キャスティング法、 スパッ夕法、 蒸着法 などの製膜方法が挙げられる。
対極としては、 例えば、 導電性又は非導電性の基板上に、 各種炭素系材料や白 金、 金などを蒸着、 スパッ夕などの方法で形成できる。
更に、 固体系の電荷移送層を用いる場合は、 その表面に、 直接スパッ夕、 塗布 するなどの手法を用いても構わない。
この実施形態の色素増感太陽電池は、 上述した電極基板 31を有するため、 電 解液による金属配線の腐食や、 金属配線層 33から電解液への逆電子移動が抑制 され、 光電変換素子の出力効果が一層向上する。
次に、 上記実施形態に対応する実施例を説明する。
<実施例 C 1 >
1 00 X 1 00 mmの FT 0膜付きガラスの表面に、 深さ 5 mの溝を格子回 路パターン状に形成した。 これに、 めっき形成を可能とするためにスパッタ法に より金属導電層 (シード層) を形成し、 更にアディティブめつきにより金属配線 層 33を形成した。 金属配線層 33は、 透明基板 32表面から凸レンズ状に 3 m高さまで形成した。 回路巾は 60 mとした。 この上から、 遮蔽層 35として FTO膜を 400 nmの厚さで S PD法により形成して、 電極基板 (ί) とした。 電極基板 (ί) の断面形状は、 図 1 1に準ずるものとなっている。
電極基板(i)上に平均粒径 25 nmの酸化チタン分散液を塗布 ·乾燥し、 45 0 で 1時間加熱 ·焼結した。 これをルテニウムビピリジン錯体 ( N 3色素) の エタノール溶液中に一晚浸漬して色素担持した。 50 t m厚の熱可塑性ポリ才レ フィン樹脂シー卜を介して白金スパッ夕 FT 0基板と対向して配置し、 樹脂シ一 卜部を熱溶融させて両極板を固定した。 予め、 白金スパッ夕極側に電解液の注液 口を開けておき、 電極間に 0. 5Mのヨウ化塩と 0. 05Mのヨウ素とを主成分 に含むメ卜キシァセ卜二卜リル溶液を注液した。 更に、 周辺部及び電解液注液口 をエポキシ系封止樹脂を用いて本封止し、 集電端子部に銀ペース卜を塗布して試 験セル (i) とした。 AM 1. 5の疑似太陽光により、 試験セル (i) の光電変換 特性を評価したところ、 変換効率は 2. 8%であった。
<実施例 C 2>
1 00 X 1 0 Ommの耐熱ガラス表面に、 レーザー彫刻機を用いて回路パ夕一 ンを彫刻し、 実施例 C 1 と同様の金属配線層 33を形成した。 この上から、 透明 導電層 34、 兼遮蔽層 35として S PD法により FTO膜を 1 000 nm厚さで 形成して、 電極基板 (ii) とした。 電極基板 (ii) の断面形状は、 透明導電層 3 4が金属配線上まで達している以外は、 図 1 1に準ずるものとなっている。 電極基板(ii)を用い、実施例 C 1 と同様の要領で試験セル(ii)を作製した。 AM 1. 5の疑似太陽光により試験セル(ii)の光電変換特性を評価したところ、 変換効率は 3. 0%であった。
<実施例 C 3>
耐熱ガラス表面に、 実施例 C 1 と同様の金属配線層 33を形成した後、 ウェハ 研磨機を用いて概ね基板表面と同じ高さまで金属配線層 33を研磨した。 この上 から、 透明導電層 34、 兼遮蔽層 35として FT 0膜を 1 000 n m厚さで S P D法により形成した。 更に、 この上に酸化チタン膜をスパッ夕法により 30 nm 厚さで形成して遮蔽層 35として、 電極基板 (iii) とした。 電極基板 (iii) の 断面形状は、 図 1 0に準ずるものとなっている。
電極基板 (iii) を用い、 実施例 C 1と同様の要領で試験セル (iii) を作製し た。 AM I . 5の疑似太陽光により試験セル(Mi) の光電変換特性を評価したと ころ、 変換効率は 3. 1 %であった。
<比較例 C 1 >
1 0 Omm角の FT Oガラス基板上に、 アディティブめつき法により金属配線 層 33 (金回路) を形成した。 金属配線層 33 (金回路) は基板表面に格子状に 形成し、 回路巾 50 A m、 回路厚 5 Atmとした。 この表面に厚さ 300 n mの F TO膜を遮蔽層 35として S PD法により形成して電極基板 (iv) とした。 電極 基板 (iv) の断面を S EM、 E DXを用いて確認したところ、 配線底部でめっき レジス卜の裾引きに起因すると思われる潜り込みがあり、 影部分には FTOが被 覆されていなかった。
電極基板(iv)を用い、実施例 C 1と同様の要領で試験セル(iv)を作製した。 AM 1. 5の疑似太陽光により試験セル(ίν)の光電変換特性を評価したところ、 変換効率は 0. 3%であった。
<比較例 C 2>
1 0 Omm角の FTOガラス基板を用い、 比較として未配線のまま、 実施例 C 1と同様の手法により試験セル(V) を作製した。 AM 1. 5の疑似太陽光により 試験セル(V)の光電変換特性を評価したところ、変換効率は 0. 1 1 %であった。 以上の結果から、 実施例 C 1〜 3で得られた試験セル (i) 〜 (iii) は、 いず れも光電変換効率に優れるものであつたのに対し、 比較例 C 1で得られた試験セ ル (iv) は、 遮蔽層 35による遮蔽が不十分であったため、 電極基板の特性を引 き出すことができず、 変換効率が良くなかった。
比較例 C 2との対比から、 本発明の実施形態に係る電極基板を用いた試験セル によれば、 1 0 Omm角級の大面積セルにて、 光電変換効率を大幅に増大できる ことが判明した。
本発明の他の実施形態は、 透明導電膜が施されたガラス板上に、 不動態金属と 触媒作用を有するかあるいは置換型の金属または前記金属を有する材料からなる 導電性回路層と、 前記導電性回路層上に形成される絶縁性の回路保護層を持つ導 電性ガラス基板において、 前記回路保護層に発生するピンホール部に不動態金属 が形成されている光電変換素子用の導電性ガラス基板とする。 この場合、 高透明 性であって、 耐薬品性、 漏れ電流や導電性に優れた、 光電変換素子用の導電性ガ ラス基板が得られる。
図 1 3を用いて説明すると、 41はガラス板で、 通常厚さ 1〜5 mm程度のソ —ダガラス、 耐熱ガラス等からなる。 42は、 ガラス板 41上に設けられた透明 導電膜で、 通常厚さが 0. 2〜1 t m程度のインジウムドープ酸化錫 ( I TO) やフッ素ドープ酸化錫 (FTO) 等からなる透明な導電性の薄膜である。 透明導 電膜 42上には、 導電性回路 44が形成されている。 導電性回路 44は、 その後 に施される不動態金属と触媒作用を有するかあるいは置換型の金属又は前記金属 を有する材料を用いて形成される。 導電性回路 44は、 メツキやスクリーン印刷 などによって、 縁幅 1 0〜1 00 Oiim程度で形成される。 通常平面形状が、 格 子状や櫛歯状に形成される。 本発明は、 これに限定されるものではない。 導電性 回路 4 4の開口率は 7 5 %以上が好ましく、 9 0 ~ 9 9 %であってもよい。 開口 率が 7 5 %未満では光線透過率が低下して入射光量が十分ではない。 9 9 %を超 えると、 導電性が十分でなくなるおそれがある。 例えば、 開口率は 7 5〜8 5 % であってもよいが、 この範囲には限定されない。 開口率とは、 単位面積中に占め る前記回路の全面積の比で、 定義される。
前記導電性回路層は、 金、 銀、 白金、 パラジウム、 銅あるいはアルミニウム金 属さらにはこれらの金属の少なくとも 1種を含む導電性ペース卜によって形成さ れる。 前記導電性のペース卜としては、 接着成分としてガラスフリットからなり 導電性微粒子を含むが、 その導電性微粒子は同時にその後に施す不動態金属に対 して、触媒として作用するかあるいは置換型の金属で、好ましくは金、銀、白金、 パラジウム、 銅やアルミニウム金属の少なくとも 1種を含むものがよく、 中でも 銀微粒子を添加したものが好ましい。
導電性回路 4 4上には、 絶縁性の回路保護層 4 5が形成される。 この絶縁性の 回路保護層 4 5は、 導電性回路 4 4から電解液中に電子が逆流する漏れ電流を防 止するために形成されるもので、 回路 4 1を十分に絶縁被覆するように形成され る。 通常、 回路 4 1 との密着性等の問題から、 接着成分をガラスフリットとする ペース卜材料が用いられるが、 この絶縁性のペース卜材料は、 導電性回路 4 4を 導電性ペース卜により形成した場合には、 導電性ペース卜よりも低温で焼成処理 ができるものが好ましい。具体的には、鉛ホウ珪酸ガラスフリッ卜、無機接着剤、 有機接着剤等が使用される。 この絶縁性のペース卜は、 通常スクリーン印刷によ つて、 回路 4 1上に回路を完全に被覆するように形成される。 その被覆形成処理 も複数回行うことが好ましい。 本来はこの段階で十分に絶縁性の回路保護層 4 5 として機能することが望ましいが、 この保護層は薄層でありガラスフリッ卜を用 いる焼成タイプの層であるために、 この回路保護層 4 5にはピンホールが生じ易 く、 その場合には漏れ電流の問題が生じていた。
このピンホール問題を解消するために、 絶縁性の回路保護層 4 5に対して不動 態金属を形成する。 具体的には、 無電解金属メツキ処理によって形成する。 これ は低抵抗化回路として使用できることを確認しているニッケル、 銅やアルミニゥ 厶等の不動態金属を利用するが、 製造コストを安価なものとするため等から、 無 電解金属メツキによって金属の不動態を形成できるものを選定するのが良い。 す なわち、 前記無電解金属メツキ処理が、 無電解ニッケルメツキ、 無電解コバルト メツキあるいは無電解スズメツキである。このような無電解二ッケルメッキ処理、 無電解コバルトメツキ処理あるいは無電解スズメツキ処理を行うことによって、 ピンホール部分にニッケル、 コバルトやスズの不動態金属を析出させることによ つて不動態金属を形成し、 導電性回路 4 4と電解液との導通を遮断する。 図 1 3 中 4 6として記載したような状態として形成される。 このような現象は、 前述し た回路 4 1の形成に使用される金属であるパラジウム、 白金、 金、 銀、 銅やアル ミニゥ厶金属から選ばれる 1種を、 触媒金属乃至置換型金属として添加した作用 による。 すなわち前記触媒型や前記置換型の無電解金属メツキ処理は、 前記触媒 作用を有する金属上に金属メツキが析出されるためである。 これらの触媒型ある いは置換型金属はいずれも導電性の元素であるため、 回路形成用の導電性ペース 卜中に添加して利用できる。 このように不動態金属を形成する無電解金属メツキ 処理として、 無電解ニッケルメツキ処理、 無電解コバルトメツキ処理や無電解ス ズメッキ処理を適用することによって、 回路保護層のピンホールを完全に防止し た光電変換素子用の導電性ガラス基板 4 3を得ることができる。 このような光電 変換素子用の導電性ガラス基板は、 高透明性で、 漏れ電流特性や導電性に優れた ものであり、 また耐薬品性にも優れている。
次に、 前述の導電性ガラス基板を用いた色素增感太陽電池について説明する。 透明導電膜が施されたガラス板上に、 不動態金属と触媒作用を有するかあるいは 置換型の金属あるいは前記金属を有する材料からなる導電性回路層、 絶縁性の回 路保護層、 前記回路保護層のピンホールに形成された不動態金属からなる光電変 換素子用の導電性ガラス基板上に、 光増感色素と称される、 ビビリジン構造、 夕 一ピリジン構造などの配位子を含むルテニウム錯体、 ポルフィリン、 フタロシア ニンなどの金属錯体、 ェ才シン、 ローダミン、 メロシアニンなどの有機色素が、 酸化チタン、 酸化錫、 酸化タングステン、 酸化亜鉛、 酸化ジルコニウム、 酸化二 才ブなどの金属酸化物微粒子に担持されたものが、 酸化物半導体多孔質膜として 厚さ 5〜5 O ^ m程度に形成され、 さらにこの上方に対極としての電極回路が設 けられ、 この対極と前記酸化物半導体多孔質膜との間に、 電解液が充填される。 この電解液は、 レドックス対を含む非水系電解液が通常使用される。 さらには電 解液に代えて、 p型半導体からなるホール輸送層を用いることもできる。 このよ うなホール輸送層を用いると、 電解液のように漏液の問題が無い。 このような構 造の色素増感太陽電池では、 無電解金属メツキ処理によリ回路保護層に生じたピ ンホールは完全に塞がれているので、 漏れ電流の問題は全くなく、 導電性の回路 が電解液によって侵食されることもない。 しかもこの種の太陽電池を比較的低コ ストで製造でき、 実用的なものと言える。
さらにこの実施形態の製造方法について説明する。 ガラス板表面に透明導電膜 層を形成し、 ついでその上に触媒作用を有するかあるいは置換型の金属かあるい は前記金属を有する材料を用いて、 めっき方法あるいはスクリーン印刷によって 導電性回路層を形成し、 さらにその上に例えば、 絶縁性のペース卜を用いスクリ ーン印刷やスピンコー卜、ドクターブレード等の塗布方法によって薄く形成して、 回路保護層を設け、 ついでニッケル、 コバルトあるいはスズの無電解メツキ処理 によって不動態金属を前記回路保護層のピンホールに形成する。 この方法によれ ば、 高透明性であって漏れ電流特性や導電性に優れると共に耐薬品性にも優れた 光電変換素子用の導電性ガラス基板であり、 かつその光電変換素子用の導電性ガ ラス基板を安価に製造できるようになる。すなわち、金、銀、 白金、パラジウム、 銅やアルミニウム金属さらにはこれらの金属の少なくとも 1種を含む導電性べ一 ス卜を用いて、 メツキ方法やスクリーン印刷法によって、 目的とする導電性回路 層 4 1を形成し、 さらにその上に絶縁性のペーストを用いて、 スクリーン印刷法 やスピンコート、 ドクターブレード等の塗布方法によって薄く形成して、 回路保 護層を形成する。 ついで、 好ましくはニッケル、 コバルトあるいはスズの無電解 メッキ処理を行うことによつて製造されるので、 比較的簡単な方法によリ高性能 の光電変換素子用導電性ガラス基板を、 製造できる。 得られた光電変換素子用導 電性ガラス基板は、 無電解金属メツキによって金属の不動態を、 前記回路保護層 のピンホール部分を塞ぐように形成するので、 ピンホールをなくすことができ導 電性回路と電解液とを十分遮断できる。
ぐ実施例 D〗 >
この実施形態に対応する実施例 D 1を示してその効果を説明する。 フッソドー プ酸化錫 ( F T O ) 層を形成したガラス板 (旭硝子社製) 上に、 焼結タイプの印 刷用銀ペース卜を用い、 スクリーン印刷によって、 線幅 1 O O t mで、 開口率が 9 0 %、 9 5 %並びに 9 9 %の 3種類の格子状導電性回路を形成した。 ついで前 記回路上に、 低温焼結タイプの鉛ホウ珪酸ガラスフリツ卜含有ペース卜を用い、 縁幅 2 0 0 t mでスクリーン印刷を行った後、 5 5 0 °Cで 1時間の焼結処理を行 つた。 この操作を 2回繰り返して、 絶縁性の回路保護層を形成した。 ついでこの 回路保護層形成したガラス基板を、 9 0 °Cの無電解ニッケルメツキ浴(「トップ二 コロン T O M— S」奥野製薬社製)、 無電解コバルトメツキ浴(硫酸コバルト、 グ リシン、 クェン酸アンモニゥ厶並びにジメチルァミンボランからなる) 並びに無 電解スズメツキ浴中に 5分間浸潰して、 それぞれニッケル、 コバルト並びにスズ 金属を形成させ、 光電変換素子用の導電性ガラス基板を得た。 ついでこの導電性 ガラス基板を洗浄した後、 ヨウ素電解液中に 6 0分間浸漬後乾燥し、 前記回路保 護層について S E M (走査型電子顕微鏡) によって、 状態を観察した。
<比較例 D 1 >
また比較例 D 1 として、前記絶縁性の回路保護層を形成した段階までのものを、 実施例 D 1 と同様にヨウ素電解液中に浸漬して、 同様に観察した。
結果は、 実施例 D 1である無電解ニッケルメツキ処理、 無電解コバルトメツキ 処理並びに無電解スズメツキ処理した導電性ガラス基板には、 前記絶縁性の回路 保護層上に針状の銀、 コバルト並びにスズ金属は、 全く検出されなかった。 漏れ 電流についても、 いずれのものも 0 . 1 m A / c m 2以下と良好であった。 これ に対して比較例 D 1のものは、 前記回路保護層上に針状の銀が析出している部分 が、 多数見られた。 漏れ電流も 0 . 5 m A Z c m 2以上であった。
このように、 回路保護層を形成したものに不動態金属を形成して、 ピンホール を塞ぐことによって、 光電変換素子用の導電性ガラス基板は、 漏れ電流がほとん どなくかつ導電性にも優れたものであり、 さらに高透明性で耐薬品性を有し、 ま たその製法方法も無電解金属メツキ処理で行うことにより、 比較的簡単な製造方 法によって、 安価な光電変換素子用の導電性ガラス基板を提供できる。
以上のようにこの実施形態の導電性ガラス基板は、 透明導電膜が施されたガラ ス板上に、 不動態金属と触媒作用を有するかあるいは置換型の金属または前記金 属を有する材料からなる導電性回路層と、 前記導電性回路層上に形成される絶縁 性の回路保護層を有し、 前記回路保護層に発生するピンホール部に不動態金属が 形成されているから、 漏れ電流の問題がいっそう軽減できる。 また、 導電性にも 優れ、 高透明性で耐薬品性にも優れる。
不動態金属を無電解金属メツキ処理により形成した場合には、 絶縁性の回路保 護層に生じたピンホールが完全に塞がれる。 また、 導電性にも優れた高透明性で 耐薬品性の優れた導電性ガラス基板を、 比較的簡単かつ安価に製造できる。 光電変換素子用の導電性ガラス基板を用いた色素増感太陽電池では、 前記無電 解金属メツキ処理により絶縁性の回路保護層に生じたピンホールは完全に塞がれ るので、 漏れ電流の問題がほとんどない色素增感太陽電池を、 比較的低コストで 製造できる。
この実施形態の導電性ガラス基板の製造方法では、 ガラス板表面に透明導電謨 層を形成し、 ついでその上に触媒作用を有するかあるいは置換型の金属又は前記 金属を含む材料を用いメツキあるいはスクリーン印刷によって導電性回路層を形 成し、 さらにその上に絶縁性のペース卜によって回路保護層を形成し、 ついで二 ッケル、 コバルトあるいはスズ金属の無電解メツキ処理によって不動態金属を形 成する。 この方法によれば、 漏れ電流の問題がなく、 導電性に優れた光電変換素 子用の導電性ガラス基板を、 比較的低コストで製造できる。
前記導電性回路を、 不動態金属と触媒として作用する金属あるいは置換型金属 として、 金、 銀、 白金、 パラジウム、 銅やアルミニウム金属または前記金属の少 なくとも 1種を有する導電性ペース卜を用いた、 光電変換素子用導電性ガラス基 板の製造方法とすることによって、 さらに、 前記無電解金属メツキ処理が、 無電 解二ッケルメッキ処理、 無電解コバル卜メッキ処理ある \は無電解スズメツキ処 理とする光電変換素子用導電性ガラス基板の製造方法とすることによって、 前記 無電解金属メツキ処理により絶縁性の回路保護層に生じたピンホールは、 完全 1 塞がれる。 このため、 漏れ電流の問題がほとんどなく、 また導電性にも優れた高 透明性で、 耐薬品性の光電変換素子用の導電性ガラス基板を、 比較的低コストで 製造することができ、 実用的な製造方法と言える。
以下、 本発明の他の実施形態を説明する。 図 1 4は、 本発明の電極基板 5 1の 一実施形態を示す断面図である。
図 1 4に示すように、 この実施形態の電極基板 5 1は、 基材 5 1 0上に、 透明 導電層 5 1 1 と、 この透明導電層 5 1 1の上に形成された金属配線層 5 1 2と、 この金属配線層 5 1 2の表面を被覆する絶縁層 5 1 4とを備えている。 つまり、 この絶縁層 5 1 4により、 金属配線層 5 1 2は、 絶縁被覆されている。
基材 5 1 0の材料は、 基材 1 0と同様でよい。
透明導電層 5 1 1は、 基材 5 1 0上に、 金属配線層 5 1 2の形成領域より広い 領域に亘つて形成されており、 その材料としては特に限定されるものではなく、 光透過率や導電性などを考慮して、 材料の組み合わせや用途に適合するものを選 択すればよい。具体例としては、スズ添加酸化インジウム( I 丁0 )、酸化スズ(3 n 02)、 フッ素添加酸化スズ (F T O ) 等の導電性金属酸化物が挙げられる。 透明導電層 5 1 1を形成する方法としては、 透明導電層 5 1 1の材料に応じた 公知の適切な方法を用いればよいが、 例えば、 スパッタ法、 蒸着法、 S P D法、 C V D法などが挙げられる。 光透過性と導電性を考慮して、 通常 0 . 0 0 1 m 〜1 0 A6 IT1程度の膜厚に形成される。
金属配線層 5 1 2は、 金、 銀、 白金、 アルミニウム、 ニッケル、 チタンなどの 金属を、 配線として形成した。 金属配線層 5 1 2の配線パターンは、 特に限定さ れるものではなく、図 1 5に示すように格子状にしたり、 この他、縞状、短冊状、 櫛型などのパターンにできる。
電極基板 5 1の光透過性を著しく損ねないためには、 特に限定されるものでは ないが、 例えば、 各配線の幅を 1 O O O m以下と、 細くすることが望ましい。 金属配線層 5 1 2の各配線の厚さ (高さ) は、 特に制限されないが、 0 . 1 ~ 1 0 ja mとすることが好ましい。
金属配線層 5 1 2を形成する方法としては、 例えば、 導電粒子となる金属粉と ガラス微粒子などの結合剤を配合してペース卜状にし、これをスクリーン印刷法、 メタルマスク法、 インクジエツ卜法などの印刷法を用いて所定のパターンを形成 するように塗膜し、加熱、焼成によって導電粒子を融着させる方法が挙げられる。 焼成温度としては、 例えば、 基材 5 1 0がガラスである場合には 6 0 0 °C以下、 より好ましくは 5 5 0 °C以下とすることが好ましい。 この他、 スパッ夕法、 蒸着 法、 メツキ法などの形成方法を用いることもできる。
金属配線層 5 1 2の表面は滑らかであることが好ましいが、 これよりも、 高い 導電性を有することが優先され、 多少の起伏や凹凸等の存在は差し支えない。 金属配線層 5 1 2の比抵抗は、 少なくとも 9 X 1 0 _5 Ω · c m以下、 より好ま しくは、 5 X 1 0— 5 Ω · c m以下であることが望ましい。
絶縁層 5 1 4は、 耐熱セラミックスを含む絶縁材を、 1層または複数層、 金属 配線層 5 1 2が形成された領域の上に重ねて成膜することにより、 金属配線層を 絶縁被覆する。
耐熱セラミックスとしては、 例えば、 アルミナ、 ジルコニァ、 シリカから選択 される少なくとも 1つが例示され、 複数種を複合して用いても良い。 耐熱セラミ ックスの耐熱性は、 電極基板を作製する際の熱履歴に耐えうる程度が好ましい。 より詳しくは、 耐熱セラミックスからなる骨材と、 ケィ酸塩、 リン酸塩、 コロ ィダルシリカ、 アルキルシリケ一卜、 金属アルコキシドの少なくとも一種または 複数種を含有する結合材を用いて形成することが好ましい。
このような絶縁層 5 〗 4は、 主成分となる骨材と上記結合材、 硬化剤などを含 む接着性組成物 (才ーバーコ一卜材料) から得ることができる。 前記接着性組成 物は、 加水分解反応や縮合反応、 重合反応などの反応により、 アルミナ、 ジルコ ニァ、 シリカ等の耐熱セラミックスや、 ポリシロキサン、 ポリシラン等の無機ポ リマーを主成分とする絶縁性の硬化皮膜 (反応性無機被覆層) を与えるものであ り、 例えば、 反応性無機接着剤として市販されたものを用いてもよい。
オーバーコート材料の成膜方法は、 工程面、 コスト面を考慮すると、 印刷法が 好ましい。 しかし、 印刷法に限定されるものではなく、 スプレー法、 浸漬法、 ド クタ一ブレード法などでも構わない。
上記絶縁層 5 1 4は、 顕著なピンホール等の欠陥のない、 緻密なものが望まし い。 絶縁層 5 1 4は、 単層でもよく、 複数層としてもよい。
絶縁層 5 1 4が複数層からなる場合には、 複数種類の上記絶縁材を組み合わせ て使用しても良い。 さらには、 複数層ある絶縁層のうちの一層以上が、 例えば P b Oや、 P b O— B 203といった鉛系の低融点ガラス、 あるいは、 非鉛系の低融 点ガラス等から構成されていても良い。 但し、 絶縁層が複数層ある場合、 少なく とも一層が、 上記耐熱セラミックスを主成分とした層であることが必要である。 上述した絶縁層 5 1 4は、 絶縁層を低融点ガラスのみを用いて形成した場合に 比べて、 耐酸性等の面から優れている。
この実施形態の電極基板によれば、 絶縁層 5 1 4が、 耐熱セラミックスを主成 分とするので、 耐熱性や耐酸性などに優れている。 このため、 製造時の熱履歴に よって劣化することがない。 このため、 金属配線層 5 1 2が電解液などから確実 に遮蔽され、 金属配線層 5 1 2の腐食、 金属配線層 5 λ 2を構成する金属との反 応による電解質の変質、 漏れ電流等の問題を効果的に抑制できる。
このように、 絶縁膜が安定的にその性能を発揮し、 優れた特性をより長く持続 できる。
以下、 本発明の電極基板の改変例を説明する。 以下の改変例の電極基板におい て、 図 1 4と同一の符号を付したものは、 図 1 4に示す第 1実施形態の電極基板 と同一または同様の構成によることを示し、重複する説明を省略することがある。 図 1 6は、 電極基板の他の実施形態を示す概略断面図である。
この例の電極基板 5 1では、 金属配線層 5〗 2が基材 5 1 0の上に設けられて おり、 透明導電層 5 1 1は、 金属配線層 5 1 2の上を跨り、 前記金属配線層 5 1 2が形成されている領域より広い領域に亘つて、 形成されている。 絶縁層 5 1 4 は、 透明導電層 5 1 1の上に、 金属配線層 5 1 2のパターンに重ね合わされて、 金属配線層 5 1 2の上面と側面を被覆するように形成されている。 つまり、 絶縁 層 5 1 4は、 透明導電層 5 1 1を介して、 金属配線層 5 1 2の上に設けられてい る。
このような電極基板 5 1によれば、 図 1 4に示すような第 1の実施形態の電極 基板 5 1と同様に、絶縁層 5 1 4により金属配線層 5 1 2を絶縁遮蔽できるので、 漏れ電流の発生が抑制され、 優れた特性を有する電極基板 5 1 となる。
上記電極基板では、 金属配線層 5 1 2は、 基材 5 1 0上に直接、 または透明導 電層 5 1 1などを介して基材 5 1 0表面よりも上の高さに形成されているが、 本 発明の電極基板は、 これに限定されるものではない。
図 1 6〜図 1 9に示すように、 金属配線層 5 1 2の少なくとも一部が、 基材 5 1 0に形成された凹部 5 1 0 a内に位置している構成も可能である。 基材表面 5 1 0 bは、 透明導電層 5 1 1および金属配線層 5 1 2が形成される 側の面である。 電極基板 5 Ίが色素増感太陽電池に利用される場合、 酸化物半導 体多孔層や対極などは、 基材表面 5 1 0 b側に配置される。
凹部 5 1 O aは、 溝や窪みなどの凹形部として、 配線パターンに沿って形成さ れる。 凹形部の形成は、 基材 5 1 0の材料に応じた加工方法によればよいが、 例 えば、 レーザーやエッチング等により加工できる。 凹部 5〗 0 aの断面形状は、 レンズ状、 半円状、 U字状、 V谷状、 角状など、 特に限定されない。 金属配線層 5 1 2の材料および形成方法は、 上述した材料および形成方法と同様でよい。 この実施形態において、 金属配線層 5 1 2は、 その少なくとも一部が、 基材 5 1 0の基材表面 5 1 0 bに凹加工された凹部 5 1 0 a内に位置している (基材表 面 5 1 0 b以下の高さに達している) 構造であれば、 特に制限はない。 例えば、 図 1 7に示すように、 金属配線層 5 1 2の表面が基材表面 5 1 0 bと同じ高さで あるもの、 図 1 8や図 1 9に示すように、 金属配線層 5 1 2の表面が基材表面 5 1 0 bより高い位置に達しているもの、 図 2 0に示すように、 金属配線層 5 1 2 の全体が基材表面 5 1 0 b以下に位置するものなどがある。
金属配線層 5 1 2と透明導電層 5 1 1の位置関係は、 特に限定されるものでは なく、 例えば、 図 1 7に示すように、 透明導電層 5 1 1が金属配線層 5 1 2およ び基材表面 5 1 0 bの上に形成された構造、 図 1 8に示すように、 透明導電層 5 1 1が基材表面 5 1 0 b上に形成されて金属配線層 5 1 2と接続された構造、 図 1 9および図 2 0に示すように、 透明導電層 5 1 1が、 凹部 5 1 0 aおよび基材 表面 5 1 0 bの上に形成され、 金属配線層 5〗 2が透明導電層 5 1 1上に形成さ れた構造などが挙げられる。
金属配線層 5 1 2は、 凹部 5 1 0 aの内面に接していてもよく、 凹部 5 1 0 a の内面と金属配線層 5 1 2との間に、 透明導電層 5 1 1等の他の層が介在してい ても良い。
絶縁層 5 1 4は、 少なくとも、 金属配線層 5〗 2が形成された領域の上に重ね て形成されていれば良い。金属配線層 5 1 2の上に直接形成されていてもよいし、 絶縁層 5 1 4と金属配線層 5〗 2との間に、 透明導電層 5 1 1等の他の層が介在 している場合もありうる。 いずれの形態においても、 金属配線層 5 1 2には、 顕著な凹凸、 陰になる潜り 込みゃボイド尚が極力ない、 滑らかな状態であることが望ましい。 金属配線層 5 1 2の表面と基材 5 1 0の基材表面 5 1 0 bの段差はなるべく小さいことが望ま しい。
上述のように、 金属配線層 5 1 2の少なくとも一部が、 基材表面 5 1 0 b以下 の高さに達している構造であれば、 金属配線層 5 1 2の表面と基材表面 5 1 0 b との段差を大きくせずに金属配線層 5 1 2の厚さを大きくできる。 このため、 基 材 5 1 0の開口率 (金属配線層 5 1 2が形成されていない部分の割合) を大きく し、 かつ、 回路の電気抵抗を低減できる。
図 2 1に示す電極基板 5 1では、 基材 5 1 0上に透明導電層 5 1 1が形成され ており、 この透明導電層 5 1 1上に、 所定のパターンにて金属配線層 5 1 2が形 成されている。 透明導電層 5 1 〗の上に、 酸化物半導体の薄膜からなる遮蔽層 5 1 3が設けられ、 金属配線層 5 1 2の上に絶縁層 5 1 4が形成されている。 図 2 2に示す電極基板 5〗では、 基材 5 1 0上に、 所定のパターンにて金属配 線層 5 1 2が形成されており、 この金属配線層 5 1 2の上に、 金属配線層 5 1 2 が形成された領域より広い領域に亘つて、 透明導電層 5 1 1が形成されている。 透明導電層 5 1 1の上に、 酸化物半導体の薄膜からなる遮蔽層 5〗 3が設けられ ている。 さらに、 絶縁層 5 1 4が、 遮蔽層 5 1 3の上に、 金属配線層 5 1 2のパ ターンに重ね合わされて、 金属配線層 5 1 2の上面と側面を被覆するように形成 されている。
図 2 3に示す電極基板 5 1では、 基材 5 1 0上に透明導電層 5 1 1が形成され ており、 この透明導電層 5 1 1上に、 所定のパターンにて金属配線層 5 1 2が形 成されている。 この金属配線層 5 1 2上には、 絶縁層 5 1 4が形成されている。 遮蔽層 5 1 3が、 透明導電層 5 1 1の上のみならず、 金属配線層 5 1 2や絶縁層 5 1 4の上にまで形成されている。
金属配線層 5 1 2と比較すれば問題は小さいが、 透明導電層 5 1 1からの逆電 子移動も指摘されていることから、 透明導電層 5 1 1の上を覆うように遮蔽層 5 1 3を設けることにより、 より高い遮蔽効果を得ることができる。
遮蔽層 5 1 3の材料としては、 酸化還元種を含む電解液との電子移動反応速度 が低く、 かつ光透過性や、 光電子の移動能が高い化合物が選択され、 酸化チタン (T i 02)、 酸化亜鉛 (Z n O)、 酸化ニオブ (N b205)、 酸化スズ (S n 02)、 フッ素添加酸化スズ(FTO)、 スズ添加酸化インジウム ( I TO)などが例示さ れる。
遮蔽層 5 1 3は、 透明導電層 5 1 1への電子移動を妨げない程度に薄く形成さ れていることが必要であり、 1 0~3000 n m程度の厚さとすることが好まし い。 遮蔽層 5 1 3の形成方法としては、 スパッ夕法、 蒸着法、 スプレー熱分解法 (S P D法)、 スピンコート法、デイツビング法、 ドクターブレード法などが挙げ られる。 しかし、 これらの方法では、 遮蔽層 5 1 3の緻密さや、 基材 5 1 0の表 面形状への適応性が必ずしも十分とは言えず、 金属配線層 5 1 2の遮蔽性能を十 分に得ることが難しい。 このため、 遮蔽層 5 1 3を形成した場合にも、 金属配線 層 5 1 2の上に、直接、あるいは、透明導電層 5 1 1や遮蔽層 5 1 3等を介して、 絶縁層 5 1 4を形成することが必要である。 これにより、 金属配線層 5 1 2の絶 縁遮蔽を十分に行える。
遮蔽層 5 1 3を形成する方法としては、 特に限定はなく、 例えば、 目的化合物 である酸化物半導体またはその前駆体をスパッタ法、 蒸着法、 CVD法などの乾 式法 (気相法) により製膜する方法が挙げられる。 例えば金属などの前駆体を製 膜した場合には、 加熱処理または化学処理などにより酸化させることにより、 遮 蔽層 5 1 3を得ることができる。
湿式法の場合、 目的化合物またはその前駆体を含有する液をスピンコート法、 デイツビング法、 ブレードコート法などの方法により塗布したのち、 加熱処理や 化学処理などにより目的の化合物に化学変化させることにより、 遮蔽層 5 1 3を 得ることができる。 前駆体としては、 目的化合物の構成金属元素を有する塩類、 錯体などが例示される。 緻密な膜を得るためには、 分散液よりも、 溶液のほうが 好ましい。
遮蔽層 5 1 3を形成する他の方法として、 例えば、 スプレー熱分解法を用い、 透明導電層 5 1 1を有する基材 5 1 0を加熱した状態で、 この基材 5 1 0に向け て遮蔽層 5 1 3の前駆体となる物質を噴霧して熱分解させ、 目的とする酸化物半 導体に変化させることにより、 遮蔽層 5 1 3を形成する方法を用いることもでき る。
このようにして、 透明導電層 5 1 1を遮蔽するための遮蔽層 5〗 3を設けるこ とにより、 透明導電層 5 1 1からの逆電子移動を抑制できるので、 この実施形態 の電極基板を用いることにより、光電変換効率の高い光電変換素子を作製できる。 遮蔽層 5 1 3には、 特性上の必要に応じて、 例えば絶縁層 5 1 4とは異なる目 的での保護層としての効果を持たせることができる。
例えば、 図 2 3に示す電極基板 5 1においては、 遮蔽層 5 1 3を金属配線層 5 1 2や絶縁層 5 1 4の保護層としても用いることができる。
本発明の電極基板のさらに他の実施形態を示す。 図 2 4はに示す電極基板 5 1 は、 第 1の透明導電層 5 1 1 aの上に、 格子状、 縞状、 櫛型など、 配線状のパタ ーンとして金属配線層 5 1 2が形成されており、 この金属配線層 5 1 2の上に、 金属配線層 5 1 2を被覆するための絶縁層 5 1 4が設けられている。 さらに、 金 属配線層 5 1 2や絶縁層 5 1 4の上を跨って、 第 2の透明導電層 5 1 1 bが形成 されている。 つまり、 金属配線層 5 1 2や絶縁層 5 1 4が、 第 1の透明導電層 5 1 1 aと第 2の透明導電層 5 1 1 bの間に挟まれた。 第 1および第 2の透明導電 層 5 1 1 a、 1 1 bは、 上述の透明導電層 5 1 1 と同様のものであり、 I T O、 F Τ 0等の導電性金属酸化物からなる薄膜である。
このような電極基板 5 1によれば、 絶縁層 5 1 4により、 金属配線層 5 1 2の 絶縁遮蔽を行うとともに、 第 2の透明導電層 5 1 1 bにより、 金属配線層 5 1 2 や絶縁層 5 1 4を保護できる。 第 1の透明導電層 5 1 1 aに併せて第 2の透明導 電層 5 1 1 bを有することにより、 集電効率の向上が期待できる。
次に、 本実施形態の光電変換素子について説明する。
図 2 5に、 色素增感太陽電池を構成する光電変換素子の一例を示す。 この光電 変換素子 5 6は、 電極基板 5 1上に、 酸化チタンなどの酸化物半導体微粒子から なり、 光増感色素が担持された酸化物半導体多孔膜 5 2を有する作用極 5 3と、 この作用極 5 3に対向して設けられた対極 5 4とを備える。 作用極 5 3と対極 5 4との間には、 電解液等の電解質や p型半導体などからなる電荷移送層 5 5が形 成されている。 本例の光電変換素子 5 6において、 電極基板 5 1の表面上には、 增感色素が担持された酸化物半導体多孔膜 5 2が形成されており、 電極基板 5 1 と酸化物半導体多孔膜 5 2とにより、 光電変換素子 5 6の作用極 5 3が構成され る。
図 2 5において、 電極基板 5 1は、 図 1 4に示す構成の電極基板 5 1を図示し たが、 特にこれに限定されるものではなく、 いずれの実施形態の電極基板も使用 可能である。
酸化物半導体多孔膜 5 2は、 酸化チタン (T i 02)、 酸化スズ (S n 02)、 酸 化タングステン (W 03)、 酸化亜鉛 (Z n O )、 酸化ニオブ (N b 25) などの 1 種または複数種を複合させた酸化物半導体微粒子からなる多孔質の薄膜である。 酸化物半導体微粒子の平均粒径は、 1〜 1 0 0 0 n mの範囲内が好ましい。 酸化 物半導体多孔膜 5 2の厚さは、 0 . 5〜5 0 程度が好ましい。
酸化物半導体多孔膜 5 2を形成する方法は、 特に限定されるものではないが、 例えば、 市販の酸化物半導体微粒子を所望の分散媒に分散させた分散液、 あるい は、 ゾルーゲル法により調整できるコロイド溶液を、 必要に応じて所望の添加剤 を添加した後、 スクリーンプリン卜法、 インクジェットプリント法、 ロールコー 卜法、 ドクターブレード法、 スピンコ一卜法、 スプレー塗布法など公知の塗布に より塗布する方法が挙げられる。 このほか、 コロイド溶液中に電極基板 5 1を浸 潰して電気泳動により酸化物半導体微粒子を電極基板 5 1上に付着させる泳動電 着法、 コロイド溶液や分散液に発泡剤を混合して塗布した後、 焼結して多孔質化 する方法、 ポリマーマイクロビーズを混合して塗布した後、 このポリマ一マイク 口ビーズを加熱処理や化学処理により除去して空隙を形成させ多孔質化する方法 などを適用できる。
酸化物半導体多孔膜 5 2に担持される增感色素は、 特に制限されるものではな く、 例えば、 ビビリジン構造、 夕一ピリジン構造などを配位子に含むルテニウム 錯体ゃ鉄錯体、 ポルフィリン系やフタロシアニン系の含金属錯体をはじめ、 ェ才 シン、 ローダミン、 メロシアニンなどの有機色素などから、 用途や酸化物半導体 に適した励起挙動をとるものなどを、 適宜選択して用いることができる。
電荷移送層 5 5を電解質により構成する場合、 例えば、 酸化還元対を含む電解 液を用いることができる。 上記電解液を適当なゲル化剤によって疑似固体化した ゲル状電解質を用いても良い。 電解液の溶媒としては、 ァセトニ卜リル、 メトキ シァセ卜二卜リル、 プロピオ二卜リル、 プロピレンカーボネー卜、 ジェチルカ一 ボネー卜、 ァ—プチロラクトンなどの有機溶媒や、 四級化イミダゾリウ厶系カチ オンとヨウ化物イオンまたはビストリフル才ロメチルスルホニルイミドア二オン などからなる室温溶融塩から選択して用いることができる。
電解質に含有される酸化還元対としては、 特に限定されることなく、 ヨウ素/ ヨウ化物イオン、 臭素 Z臭化物イオンなどのペアを添加して得ることができる。 ヨウ化物イオンまたは臭化物イオンの供給源としては、 リチウム塩、 四級化イミ ダゾリウ厶塩、 テ卜ラブチルアンモニゥ厶塩などを単独または複合して用いるこ とができる。 電解質には、 必要に応じて t e r t—ブチルピリジンなどの添加物 を添加しても構わない。
電荷移送層 5 5は、 電解質の代わりに、 p型半導体を用いたものでもよい。 p 型半導体としては、 例えば、 ヨウ化銅、 チ才シアン化銅などの一価銅化合物を好 適に用いることができる。 p型半導体から電荷移送層 5 5を形成する方法は特に 制限されるものではないが、 例えば、 キャスティング法、 スパッ夕法、 蒸着法な どが例示される。 この p型半導体には、 成膜上の必要に応じて、 適宜の添加物を 含んでいてもよい。
対極 5 4としては、 例えば、 ガラスなどの非導電性材料からなる基板上に、 各 種炭素系材料や、 金、 白金などの金属材料、 I T Oや F T 0等の導電性酸化物半 導体からなる電極を形成したものを用いることができる。
電極は、 例えば、 白金膜であれば、 塩化白金酸を塗布して熱処理する等の方法 が例示できる。 蒸着法やスパッ夕法によって電極を形成してもよい。
電荷移送層 5 5が、 固体の p型半導体を用いた場合は、 電荷移送層 5 5上に、 対極 5 4の電極となる導電性材料を直接、 スパッ夕や塗布などの方法により層形 成する方法を用いることもできる。
この実施形態の光電変換素子 5 6によれば、 電極基板 5 1の絶縁層 5 1 4が耐 熱セラミックスを主成分とするので、 耐熱性や耐酸性などに優れ、 製造時の熱履 歴によって劣化することがない。 このため、 金属配線層 5 1 2が電荷移送層 5 5 の電解液などから確実に遮蔽され、 金属配線層 5 1 2の腐食や漏れ電流を効果的 に抑制できる。 金属配線層 5 1 2と電解質層 5 5との接触を防止し、 腐食や、 漏 れ電流による出力の低下を抑制し、 セル特性を大幅に向上できる。
<実施例 E 1 >
〔電極基板の作製〕
以下の手順により、 図 1 5に示すような電極基板 51を作製した。
透明導電層 5 1 1および基材 5 1 0として、 1 0 OmmX Ί 0 Ommの F TO 膜付きガラス基板を用いた。 ガラス基板の表面に、 印刷用銀ペース卜 (焼結後の 体積抵抗率が 3 X 1 0"6Ω のもの) をスクリーン印刷し、 1 0分間のレべリング 後、 1 35°C、 20分間、 熱風循環炉で乾燥し、 550°C、 1 5分間かけて焼成 して、 銀回路からなる金属配線層 5 1 2を形成した。 金属配線層 5 1 2の回路幅 は 500 /_tm、 膜厚は 5 μρηとし、 集電端子から短冊状に延びる形状にて形成し た。 CCDカメラを用いて位置合わせを行いながら、 金属配線層 5 1 2と重ね合 わせて、 スクリーン印刷により、 表 1に示す 5通りのオーバーコート材料をそれ ぞれ印刷することにより、 絶縁層 5 1 4を形成した。 絶縁層 5〗 4の形成幅は、 金属配線層 5 1 2の幅方向両側に、 片側あたり 1 O O / mを余剰にとり、 ガラス 基板の表面からの高さは 1 O tmを目安とした。 このため、 得られた絶縁層 5 1 4の金属配線層 5 1 2からの厚さは約 5 mになる。
表 1の実施例 E 1 一 2において、 「アルミナ +金属アルコキシド /低融点ガラ スペース卜」なる記載は、 「アルミナ +金属アルコキシド」を主成分とする第 1の 絶縁層と、 「低融点ガラスペース卜」を主成分とする第 2の絶縁層を積層したこと を表す。 第 2の絶縁層は、 P bO— B203系の市販の低融点ガラスペース卜を用 い、 スクリーン印刷により第 1の絶縁層の上に積層して形成した。 この場合、 第 1の絶縁層の厚さは約 5 t m、 第 2の絶縁層の厚さは約 5 At mである。
〔光電変換素子の作製〕
得られた電極基板 5 1の上に、 平均粒径 20-25 nmの酸化チタン分散液を 塗布し、 乾燥後、 450°Cにて 1時間加熱、 焼結して、 酸化物半導体多孔膜 52 を形成した。 さらに、 ルテニウムビビリジン錯体 (N 3色素) のエタノール溶液 中に一晚浸漬して色素担持させ、 作用極 53を作製した。
対極 54として、 白金スパッ夕 FT Oガラス電極基板を用い、 この対極 54と 作用極 53とを、 50 Aim厚の熱可塑性樹脂シ一卜をスぺーサ一として介在させ た状態で対向させ、 樹脂シートの熱溶融により、 両電極 53、 54を固定した。 この際、 電解質の注液口とするため、 対極 54側の一部を空けておいた。 この注 液口から、 0. 5 Mのヨウ化物塩と 0. 05 Mのヨウ素とを主成分に含むメ卜キ シァセ卜二トリル溶液を注入して電荷移送層 55を形成したのち、 周辺部と注液 口とを、 熱可塑性樹脂シートおよびエポキシ系封止樹脂により本封止し、 ガラス 用はんだにて集電端子部を形成して、 試験セルとなる光電変換素子を作製した。 この試験セルの光電変換特性を、 エアマス (AM) 1. 5, 1 0 OmW/c m2 の擬似太陽光によリ評価したところ、表 1に示す光電変換効率の結果が得られた。 表 1
Figure imgf000052_0001
ぐ実施例 E 2 >
〔電極基板の作製〕
以下の手順により、 図 1 6に示すような電極基板 5 1を作製した。
基材 5 1 0として、 1 00mmX 1 00 mmのガラス基板を用い、この表面に、 めっき法により、 金回路 (金属配線層 5 1 2) を形成した。 回路形状は、 実施例 E 1 と同様であり、 回路の厚さは 2 tmとした。 ガラス基板および金回路の上か ら、 スプレー熱分解法により、 厚さ 1 000 nmの FTOZ I TO複合膜を形成 した。 さらに、 表 1の試料 1を用い、 実施例 E 1 と同様にして、 金属配線層 5 1 2のパターンに合わせて絶縁層 5 1 4を形成した。
〔光電変換素子の作製〕
得られた電極基板 5 1を用いて、 実施例 E 1と同様の手順により、 試験セルと なる光電変換素子を作製し、光電変換特性を評価したところ、光電変換効率は 3. 0 %であった。
<実施例 E 3 >
以下の手順により、 図 1 9に示すような電極基板 51を作製した。
基材 5 1 0として、 1 00 mmX 1 00 mmのガラス基板を用い、この表面に、 深さ 1 0 m、 幅 500 mの溝 1 0 aを、 短冊状の配線パターンに沿って、 ェ ツチング形成した。 この上から、 スプレー熱分解法により、 厚さ 1 000 nmの FTO/ I TO複合膜を形成した。 さらに、 実施例 E 1 と同様の手法により、 銀 印刷配線層を形成した。 銀配線は、 多重印刷により、 基材表面 5 Ί O bから 2 ^ mの高さまで形成し、 金属配線層 5 1 2の幅は、 溝 5 1 0 aの幅よりも片側あた り 200 mずつ広くとった。 さらに、 金属配線層 5 1 2の上を覆うように、 表 1の試料 1を用い、 実施例 E 1と同様にして、 金属配線層 5 1 2のパターンに合 わせて絶縁層 5 1 4を形成した。
〔光電変換素子の作製〕
得られた電極基板 5 1を用いて、 実施例 E 1と同様の手順により、 試験セルと なる光電変換素子を作製し、光電変換特性を評価したところ、光電変換効率は 4. 2 %であった。
<比較例 E 1 >
〔電極基板の作製〕
1 0 OmmX 1 00 mmの耐熱ガラス基板 (基材) の表面に、 実施例 E 1と同 様の手順により、 印刷用銀ペース卜を用いて金属配線層 5 1 2を形成したのち、 この金属配線層 5 1 2上に、 実施例 E 2と同様の手順により、 透明導電層と遮蔽 層を兼ねる厚さ 1 000 nmの FTO/ I TO複合膜を形成し、 電極基板 5 1を 作製した。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 5 1を用いて、 実施例 E 1 と同様の手順により、 試験セルとなる 光電変換素子を作製した。 この試験セルに注液された電解質を観察したところ、 注液直後には茶褐色を呈していたものが、数分後には、ほぼ透明に変わっていた。 これは、 銀回路の遮蔽が不十分であるため、 電解質中の I「イオンが、 露出され ている銀と反応して I—に還元されたものと考えられる。この試験セルの光電変換 特性を、 AM 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 光電変換効率は 0. 2
0 %であった。
このことから、 絶縁層を設けない場合、 銀回路の遮蔽が不十分であり、 金属配 線付き基板の特性を適切に引き出せていないことが判った。
く比較例 E 2>
〔電極基板の作製〕
1 0 OmmX 1 00 mmの F T 0膜付きガラス基板の表面に、めっき法により、 実施例 E 2と同様にして、 金回路 (金属配線層) を形成した。 この金属配線層上 に、 実施例 E 2と同様の手法を用いて、 透明導電層と遮蔽層を兼ねる厚さ 300 nmの FTO膜を形成して、 電極基板 51を作製した。
このようにして形成された電極基板 51の表面を S EM、 E DXにより観察し たところ、 金属配線層 51 2の底部でめっきレジス卜の裾引きに起因すると思わ れる潜り込みがあり、 この潜り込みの陰となる部分には F T 0の被覆が形成され ていなかった。
〔光電変換素子の作製〕
この電極基板 51を用いて、 実施例 E 1 と同様の手順により、 試験セルとなる 光電変換素子を作製して、 光電変換素子の光電変換特性を、 AM I . 5の擬似太 陽光により評価したところ、 変換効率は 0. 41 %であった。 この場合、 金属配 線層 5 1 2の遮蔽が不十分であり、 金属配線付き基板の特性を十分に引き出せて いないことが判った。
<比較例 E 3 >
〔電極基板の作製〕
1 00mmX〗 00 mmの F T 0膜付きガラス基板の表面に、 金属配線層を設 けることなく、 F TO膜付きガラス基板そのものを電極基板 51 として用いて、 実施例 E〗と同様の手順により、 試験セルとなる光電変換素子を作製した。 この 試験セルの光電変換特性を、 AM 1. 5の擬似太陽光により評価したところ、 変 換効率は 0. 23%であった。 このことから、 金属配線層を設けない場合、 電極 基板 51の抵抗が大きいために光電変換素子の光電変換効率が低下していること が判った。 産業上の利用の可肯性
本発明の電極基板は、 基材上に、 金属配線層と、 この金属配線層に電気的に接 続された透明導電層を有し、 金属配線層が絶縁層により絶縁被覆されている。 し たがって、 金属配線層が電解質溶液などから確実に遮蔽され、 その腐食や漏れ電 流を効果的に抑制できる。 透明導電層のみを電極の導電体として用いた場合に比 ベて、 導電性に優れる。

Claims

請求の範囲
1 . 電極基板であって、 基材と、 前記基材上に設けられた金属配線層と、 前記金 属配線層に電気的に接続された透明導電層とを有し、 前記金属配線層が絶縁層に より被覆されている。
2 . 請求項 1 に記載の電極基板であって、 前記絶縁層が、 ガラス成分を含む材料 で形成されている。
3 . 請求項 2に記載の電極基板であって、 前記絶縁層が、 ガラスフリットを含む ペーストを印刷することにより形成されている。
4 . 請求項 1 に記載の電極基板であって、 前記金属配線層が印刷法により形成さ れている。
5 . 請求項 1 に記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に対向して 配置された対極と、 前記対極と前記電極基板との間に設けられた電解質層または 電荷移送層とを具備する光電変換素子。
6 . 請求項 1 に記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に設けられ た半導体多孔質膜と、 前記半導体多孔質膜の表面に担持された増感色素と、 前記 半導体多孔質膜と対向して配置された対極と、 前記対極と前記半導体多孔質膜が 形成された電極基板との間に設けられた電解質層または電荷移送層とを具備する 色素増感太陽電池。
7 .電極基板であって、透明基板と、前記透明基板上に設けられた金属配線層と、 透明導電層とを有し、 前記金属配線層が少なくとも内層と外層との 2層から構成 されている。
8 .請求項 7記載の電極基板であって、前記外層が印刷法により形成されている。
9 . 請求項 7記載の電極基板であって、 前記内層の体積抵抗率が、 外層の体積抵 抗率に比べて小さい。
1 0 . 請求項 7記載の電極基板であって、 前記外層が少なくとも導電粒子とバイ ンダ材とを含有するペース卜組成物で形成され、 前記ペース卜組成物のバインダ 材の配合比が、 前記金属配線層中の他の層を形成する組成物中のバインダ材配合 比に比べて大きい。
1 1 . 請求項 7記載の電極基板であって、 前記金属配線層を形成する組成物が、 銀およびニッケルの少なくとも一方を含有する。
1 2 . ·請求項 7記載の電極基板であって、 前記金属配線層および前記透明導電層 の少なくとも一方からなる導電層の表面に、 遮蔽層が設けられている。
1 3 . 請求項 7記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に対向して 配置された対極と、 前記対極と前記電極基板との間に設けられた電解質層または 電荷移送層とを具備する光電変換素子。
1 4 . 電極基板であって、 透明基板と、 前記透明基板上に設けられた金属配線層 と、 透明導電層とを有し、 前記金属配線層が前記透明基板に形成された配線パ夕 —ンをなす溝に沿って形成され、 前記金属配線層の少なくとも一部が、 前記溝内 に収容されている。
1 5 . 請求項 1 4記載の電極基板であって、 少なくとも前記金属配線層の表面が 遮蔽層により被覆されている。
1 6 . 請求項 1 5に記載の電極基板であって、 前記遮蔽層が、 ガラス成分、 金属 酸化物成分、 および電気化学的に不活性な樹脂成分のうち少なくとも 1種を含有 する。
1 7 . 請求項 1 4記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に対向し て配置された対極と、 前記対極と前記電極基板との間に設けられた電解質層また は電荷移送層とを具備する光電変換素子。
1 8 . 光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 ガラス板と、 前記ガラス板 上に形成された透明導電膜と、 前記透明導電膜と導通して設けられた導電性回路 層と、 前記導電性回路層上に形成される絶縁性の回路保護層を有し、 前記回路保 護層に発生するピンホール部に不動態金属が形成されている。
1 9 . 請求項 1 8に記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記導 電性回路層は、 前記不動態金属のメツキにおいて触媒作用を有する触媒金属、 お よび前記不動態金属と置換される置換型金属の少なくとも一方を含有する。
2 0 . 請求項 1 8に記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記導 電性回路層の開口率が 7 5 %以上である。
2 1 . 請求項 1 8に記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記導 電性回路層は、 金、 銀、 白金、 パラジウム、 銅、 およびアルミニウムから選択さ れる金属の一種または複数種を含有する。
2 2 . 請求項 1 8に記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記絶 縁性の回路保護層は、 絶縁性のペース卜材料から形成された。
2 3 . 請求項 1 8記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記不動 態金属は、 無電解金属メツキ処理によって形成された。
2 4 . 請求項 2 3に記載の光電変換素子用の導電性ガラス基板であって、 前記無 電解金属メツキ処理は、 無電解ニッケルメツキ、 無電解コバルトメツキ、 あるい は無電解スズメツキである。
2 5 . 請求項 1 8に記載された導電性ガラス基板と、 前記電極基板の前記透明導 電層側に設けられた半導体多孔質膜と、 前記半導体多孔質膜の表面に担持された 增感色素と、 前記半導体多孔質膜と対向して配置された対極と、 前記対極と前記 半導体多孔質膜が形成された電極基板との間に設けられた電解質層または電荷移 送層とを具備する色素増感太陽電池。
2 6 . 光電変換素子用導電性ガラス基板の製造方法であって、
ガラス板の表面に透明導電膜層を形成する工程と、
前記透明導電膜層の上に、 不動態金属のメツキにおいて触媒作用を有する触媒 金属および不動態金属と置換される置換型金属の少なくとも一方を含有する材料 を用い、メツキあるいはスクリーン印刷によって導電性回路層を形成する工程と、 前記導電性回路層の上に絶縁性のペース卜によって回路保護層を形成する工程 と、
ニッケル、 コバルトあるいはスズ金属の無電解メツキ処理によって前記回路保 護層に生じたピンホールを前記不動態金属で塞ぐ工程とを具備する。
2 7 . 電極基板であって、 基材と、 前記基材上に設けられた金属配線層と、 前記 金属配線層に電気的に接続された透明導電層とを有し、 前記金属配線層は、 耐熱 セラミックスを主成分とする絶縁層により絶縁被覆されている。
2 8 . 請求項 2 7に記載の電極基板であって、 前記耐熱セラミックスは、 アルミ ナ、 ジルコニァ、 およびシリカの少なくとも 1つを含む。
2 9 . 請求項 2 7に記載の電極基板であって、 前記絶縁層は、 ケィ酸塩、 リン酸 塩、 コロイダルシリカ、 アルキルシリケ一卜、 金属アルコキシドの少なくとも 1 つを結合材として含む。
3 0 . 請求項 2 7に記載の電極基板であって、 前記絶縁層は、 印刷法により形成 された。
3 1 . 請求項 2 7に記載の電極基板であって、 前記金属配線層は印刷法により形 成された。
3 2 . 請求項 2 7に記載の電極基板であって、 前記金属配線層の少なくとも一部 は、 前記基材の表面に形成された凹部内に位置している。
3 3 . 請求項 2 7に記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に対向 して配置された対極と、 前記対極と前記電極基板との間に設けられた電解質層ま たは電荷移送層とを具備する光電変換素子。
3 4 . 請求項 2 7に記載の電極基板と、 前記電極基板の前記透明導電層側に設け られた半導体多孔質膜と、 前記半導体多孔質膜の表面に担持された増感色素と、 前記半導体多孔質膜と対向して配置された対極と、 前記対極と前記半導体多孔質 膜が形成された電極基板との間に設けられた電解質層または電荷移送層とを具備 する色素増感太陽電池。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005317225A (ja) * 2004-04-27 2005-11-10 Enplas Corp 色素増感型太陽電池、及び色素増感型太陽電池の光電極基板
JP2005327595A (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Sony Corp 光電変換素子、及びこれに用いる透明導電性基板
WO2006001022A1 (en) * 2004-06-28 2006-01-05 Power Paper Ltd Novel electrodes and uses thereof
EP1667275A1 (en) * 2004-12-06 2006-06-07 Sharp Kabushiki Kaisha Dye-sensitized solar cell and dye-sensitized solar cell module
WO2009069551A1 (ja) 2007-11-28 2009-06-04 Fujikura Ltd. 光電変換素子用電極基板
US20110094579A1 (en) * 2009-10-26 2011-04-28 Yukika Yamada Electrode substrate, method of preparing same, and photoelectric conversion device including same
US20110100455A1 (en) * 2006-12-11 2011-05-05 Fujikura Ltd. Photoelectric conversion element
US20110232736A1 (en) * 2007-05-15 2011-09-29 Goldstein Jonathan R Photovoltaic cell

Families Citing this family (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100026176A1 (en) 2002-03-28 2010-02-04 Jan Blochwitz-Nomith Transparent, Thermally Stable Light-Emitting Component Having Organic Layers
US7825330B2 (en) 2002-07-09 2010-11-02 Fujikura Ltd. Solar cell
KR100681499B1 (ko) * 2002-07-09 2007-02-09 가부시키가이샤후지쿠라 태양 전지
IL153895A (en) * 2003-01-12 2013-01-31 Orion Solar Systems Ltd Solar cell device
AU2003902117A0 (en) * 2003-05-05 2003-05-22 Sustainable Technologies International Pty Ltd Photovoltaic device
JP4635473B2 (ja) * 2004-05-13 2011-02-23 ソニー株式会社 光電変換素子の製造方法及び半導体電極の製造方法
JP5491682B2 (ja) 2004-08-13 2014-05-14 日立金属株式会社 太陽電池用平角導体及びその製造方法並びに太陽電池用リード線
JP5008841B2 (ja) * 2005-08-02 2012-08-22 株式会社フジクラ 電極基板の製造方法、光電変換素子および色素増感太陽電池
JP4966525B2 (ja) * 2005-08-10 2012-07-04 株式会社エンプラス 色素増感型太陽電池、その光電極基板およびその光電極基板の製造方法
JP4838609B2 (ja) * 2006-03-22 2011-12-14 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置
KR20070099840A (ko) * 2006-04-05 2007-10-10 삼성에스디아이 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
CN100576578C (zh) * 2006-04-20 2009-12-30 无锡尚德太阳能电力有限公司 制备太阳电池电极的方法及其电化学沉积装置
JP5101038B2 (ja) * 2006-05-19 2012-12-19 株式会社フジクラ 電極基板の製造方法、電極基板の評価方法
JP2008066402A (ja) * 2006-09-05 2008-03-21 Fujifilm Corp 撮像素子および撮像装置
KR101448190B1 (ko) 2006-12-15 2014-11-21 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 부극 기재
KR101352779B1 (ko) * 2007-02-28 2014-01-16 주식회사 동진쎄미켐 태양전지용 투명전극 및 그 제조방법
US20100163101A1 (en) * 2007-04-25 2010-07-01 Ferro Corporation Thick Film Conductor Formulations Comprising Silver And Nickel Or Silver And Nickel Alloys And Solar Cells Made Therefrom
KR20090007063A (ko) * 2007-07-13 2009-01-16 삼성에스디아이 주식회사 태양전지 및 이의 제조방법
JP5017025B2 (ja) * 2007-08-31 2012-09-05 キヤノン株式会社 光電変換装置の駆動方法
TW200924211A (en) * 2007-09-19 2009-06-01 Jusung Eng Co Ltd Thin film type solar cell and method for manufacturing the same
KR100921754B1 (ko) * 2007-10-18 2009-10-15 한국전자통신연구원 염료 감응 태양전지 및 그 제조 방법
JP5441916B2 (ja) * 2007-11-27 2014-03-12 3ジーソーラー フォトヴォルタイックス リミテッド 大面積色素電池、及びその生産方法
US20090218651A1 (en) * 2008-02-28 2009-09-03 Sunlight Photonics Inc. Composite substrates for thin film electro-optical devices
US8187906B2 (en) * 2008-02-28 2012-05-29 Sunlight Photonics Inc. Method for fabricating composite substances for thin film electro-optical devices
JP5261110B2 (ja) * 2008-09-29 2013-08-14 三洋電機株式会社 太陽電池の製造方法及び太陽電池
US20100089441A1 (en) * 2008-10-09 2010-04-15 Sunlight Photonics Inc. Method and apparatus for manufacturing thin-film photovoltaic devices
JP5230481B2 (ja) * 2009-02-24 2013-07-10 株式会社フジクラ 光電変換素子
CN102369630B (zh) * 2009-03-11 2014-04-16 国立大学法人九州工业大学 染料敏化太阳能电池
US9139465B2 (en) * 2009-08-04 2015-09-22 Lehigh University Conductive doped metal-glass compositions and methods
EP2309547B1 (en) * 2009-10-06 2012-12-12 Samsung SDI Co., Ltd. Photoelectric conversion device
US20110088758A1 (en) * 2009-10-19 2011-04-21 Tadao Yagi Glass paste composition, electrode substrate prepared using same, method of preparing electrode substrate, and dye sensitized solar cell including electrode substrate
KR101065385B1 (ko) 2009-10-26 2011-09-16 삼성에스디아이 주식회사 전극기판, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 광전 변환 소자
US8916770B2 (en) * 2009-11-05 2014-12-23 Samsung Sdi Co., Ltd. Photoelectric conversion device
US20110168253A1 (en) * 2009-12-25 2011-07-14 Samsung Sdi Co., Ltd. Electrode substrate and photoelectric transformation device
KR101445462B1 (ko) * 2010-01-06 2014-09-29 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 태양 전지용 집전 시트
JP4761327B2 (ja) * 2010-01-12 2011-08-31 シャープ株式会社 湿式太陽電池および湿式太陽電池モジュール
US20110214730A1 (en) * 2010-03-04 2011-09-08 Casio Computer Co., Ltd. Dye-sensitized solar cell
TWI483403B (zh) * 2010-04-02 2015-05-01 Gintech Energy Corp 形成光伏面板導電通道的方法
JP5673674B2 (ja) * 2010-04-05 2015-02-18 コニカミノルタ株式会社 透明電極及びそれを用いた有機電子素子
US8710356B2 (en) * 2010-04-26 2014-04-29 Samsung Sdi Co., Ltd. Photoelectric conversion module
TWI463683B (zh) * 2010-07-09 2014-12-01 Sakamoto Jun A panel, a panel manufacturing method, a solar cell module, a printing apparatus, and a printing method
KR20130136431A (ko) * 2010-08-06 2013-12-12 아사히 가라스 가부시키가이샤 서포트 기판
KR101132032B1 (ko) * 2010-08-11 2012-04-02 삼성에스디아이 주식회사 광전 변환 소자용 전극, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 광전 변환 소자
US20130284257A1 (en) * 2010-08-19 2013-10-31 Lehigh University Microlens array for solar cells
KR20140009967A (ko) * 2010-09-16 2014-01-23 가부시키가이샤 아데카 전해질 조성물용 첨가제 및 이 첨가제를 사용한 전해질 조성물 및 색소 증감 태양전지
JP6005517B2 (ja) * 2010-10-22 2016-10-12 ソニー株式会社 パターン基体およびその製造方法ならびに情報入力装置および表示装置
CN101984387B (zh) * 2010-10-29 2013-02-13 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具有光能发电功能的信息输入模组和信息处理装置
EP2629308B1 (en) * 2010-11-17 2019-03-06 LG Display Co., Ltd. Conductive film with an oxide film and method for producing same
WO2012118028A1 (ja) 2011-03-02 2012-09-07 株式会社フジクラ 色素増感太陽電池モジュール
US9159939B2 (en) * 2011-07-21 2015-10-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Photoelectric conversion device
KR101189578B1 (ko) * 2011-09-07 2012-10-11 현대자동차주식회사 염료감응 태양전지 모듈
KR101894431B1 (ko) * 2011-10-06 2018-09-04 주식회사 동진쎄미켐 염료감응 태양전지 모듈 및 이의 전극 보호층 형성 방법
TWI584485B (zh) 2011-10-29 2017-05-21 西瑪奈米技術以色列有限公司 於基材上對齊的網路
KR20130055439A (ko) * 2011-11-18 2013-05-28 삼성에스디아이 주식회사 광전변환소자
TWI462122B (zh) * 2011-11-30 2014-11-21 Innolux Corp 透明導電膜及應用其之電子裝置
US9112068B2 (en) 2012-10-05 2015-08-18 International Business Machines Corporation Laser doping of crystalline semiconductors using a dopant-containing amorphous silicon stack for dopant source and passivation
CN105393376B (zh) * 2013-06-14 2017-11-17 株式会社Lg化学 有机太阳能电池及其制造方法
JP2015065421A (ja) * 2013-08-28 2015-04-09 ウシオ電機株式会社 色素増感型太陽電池
WO2015146231A1 (ja) * 2014-03-27 2015-10-01 三井金属鉱業株式会社 蛍光体及びその用途
CN105702875B (zh) * 2014-12-11 2018-04-27 财团法人工业技术研究院 发光元件、电极结构与其制作方法
KR101795223B1 (ko) * 2016-03-16 2017-11-07 현대자동차주식회사 단차가 생기지 않는 적층구조의 태양전지
JP6993784B2 (ja) * 2017-03-17 2022-01-14 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム
KR102246992B1 (ko) * 2018-11-27 2021-04-30 한국생산기술연구원 전극 적층체, 막 전극 접합체, 전자소자 및 그의 제조방법
RU198378U1 (ru) * 2020-02-28 2020-07-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук Концентраторный солнечный элемент
JP7135215B2 (ja) * 2020-03-19 2022-09-12 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4303055A1 (en) * 1992-02-03 1993-08-26 Werner Quinten Photovoltaic cell e.g. for fitting with wall or roofing elements - has glass cover with transparent electrically conducting coating and mesh of earthed conductors laid in grooves
JPH06204541A (ja) * 1992-12-28 1994-07-22 Canon Inc 光起電力装置
JPH0851229A (ja) * 1994-08-09 1996-02-20 Sharp Corp 集積型太陽電池およびその製造方法
WO2000042674A1 (en) * 1999-01-15 2000-07-20 Forskarpatent I Uppsala Ab Electric connection of electrochemical and photoelectrochemical cells
WO2000048212A1 (de) * 1999-02-08 2000-08-17 Kurth Glas + Spiegel Ag Photovoltaische zelle und verfahren zu deren herstellung
JP2003203683A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス
JP2003203682A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス
JP2003203681A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6025398B2 (ja) * 1980-12-27 1985-06-18 セントラル硝子株式会社 グレ−ズドセラミック基板
JPS58199751A (ja) * 1982-05-17 1983-11-21 Daicel Chem Ind Ltd 低融点ガラスペ−スト及び低融点ガラスペ−スト用硝化綿
JPS6050975A (ja) 1983-08-31 1985-03-22 Komatsu Ltd アモルフアス太陽電池
JPS61116883A (ja) 1984-11-13 1986-06-04 Toa Nenryo Kogyo Kk 金属配線付き透明電極
CH674596A5 (ja) 1988-02-12 1990-06-15 Sulzer Ag
WO1991016719A2 (en) 1990-04-17 1991-10-31 Michael Graetzel Photovoltaic cells
DE4207659A1 (de) 1992-03-11 1993-09-16 Abb Patent Gmbh Verfahren zur herstellung einer photoelektrochemischen zelle sowie eine demgemaess hergestellte zelle
JPH06204529A (ja) 1992-12-28 1994-07-22 Canon Inc 太陽電池
WO1996029715A1 (de) * 1995-03-23 1996-09-26 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Verfahren zum herstellen eines langzeitstabilen moduls von photoelektrochemischen zellen
JP3174486B2 (ja) 1995-09-08 2001-06-11 シャープ株式会社 太陽電池およびその製造方法
JPH1078589A (ja) 1996-09-05 1998-03-24 Canon Inc 配線基板、該配線基板を備えた液晶素子、及び該配線基板の製造方法
DE19900233A1 (de) * 1999-01-07 2000-07-13 Moeller Plast Gmbh Verfahren zur Herstellung eines hochbelastbaren Bauteils aus Kunststoff und hochbelastbares Bauteil
JP2000231942A (ja) 1999-02-12 2000-08-22 Nikon Corp 色素増感型太陽電池
JP4474691B2 (ja) 1999-02-22 2010-06-09 アイシン精機株式会社 光電変換素子
JP2000285977A (ja) 1999-03-31 2000-10-13 Fuji Photo Film Co Ltd 光電変換素子および光電池
US6291763B1 (en) * 1999-04-06 2001-09-18 Fuji Photo Film Co., Ltd. Photoelectric conversion device and photo cell
AUPP967799A0 (en) * 1999-04-09 1999-05-06 Sustainable Technologies Australia Ltd Methods to implement sealing and electrical connections to single cell and multi-cell regenerative photovoltaic photoelectrochemical devices
DE60027512T2 (de) * 1999-08-04 2006-10-12 Fuji Photo Film Co., Ltd., Minami-Ashigara Elektrolytzusammensetzung und photolektrochemische Zelle
JP4415448B2 (ja) 2000-03-29 2010-02-17 パナソニック電工株式会社 光電変換素子
JP4643792B2 (ja) 2000-03-31 2011-03-02 富士フイルム株式会社 光電変換素子及び光電気化学電池
JP2001320068A (ja) 2000-05-01 2001-11-16 Fuji Photo Film Co Ltd 透明光電変換素子、及びこれを用いた光電池、光センサー並びに窓ガラス
JP2001319698A (ja) 2000-05-11 2001-11-16 Fuji Photo Film Co Ltd 光電変換素子および光電池
DE60123714T2 (de) * 2000-08-15 2007-10-04 FUJI PHOTO FILM CO., LTD., Minamiashigara Photoelektrische Zelle und Herstellungsmethode
JP2002196685A (ja) 2000-12-26 2002-07-12 Sumitomo Chem Co Ltd 透明電極付き基板、その製造方法及び用途
JP4037618B2 (ja) 2001-04-13 2008-01-23 アイシン精機株式会社 色素増感型太陽電池及びその製造方法
JP4341197B2 (ja) 2001-04-18 2009-10-07 パナソニック電工株式会社 光電変換素子及びその製造方法
JP2003223939A (ja) 2002-01-29 2003-08-08 Nippon Shokubai Co Ltd 太陽電池層間用材料及びそれを用いてなる色素増感型太陽電池
JP4674435B2 (ja) 2003-01-15 2011-04-20 ソニー株式会社 光電変換素子

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4303055A1 (en) * 1992-02-03 1993-08-26 Werner Quinten Photovoltaic cell e.g. for fitting with wall or roofing elements - has glass cover with transparent electrically conducting coating and mesh of earthed conductors laid in grooves
JPH06204541A (ja) * 1992-12-28 1994-07-22 Canon Inc 光起電力装置
JPH0851229A (ja) * 1994-08-09 1996-02-20 Sharp Corp 集積型太陽電池およびその製造方法
WO2000042674A1 (en) * 1999-01-15 2000-07-20 Forskarpatent I Uppsala Ab Electric connection of electrochemical and photoelectrochemical cells
WO2000048212A1 (de) * 1999-02-08 2000-08-17 Kurth Glas + Spiegel Ag Photovoltaische zelle und verfahren zu deren herstellung
JP2003203683A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス
JP2003203682A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス
JP2003203681A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Fujikura Ltd 光電変換素子用導電性ガラス

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1548868A4 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005317225A (ja) * 2004-04-27 2005-11-10 Enplas Corp 色素増感型太陽電池、及び色素増感型太陽電池の光電極基板
JP2005327595A (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Sony Corp 光電変換素子、及びこれに用いる透明導電性基板
WO2005112184A1 (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Sony Corporation 光電変換素子、及びこれに用いる透明導電性基板
JP4635474B2 (ja) * 2004-05-14 2011-02-23 ソニー株式会社 光電変換素子、及びこれに用いる透明導電性基板
WO2006001022A1 (en) * 2004-06-28 2006-01-05 Power Paper Ltd Novel electrodes and uses thereof
US7340310B2 (en) 2004-06-28 2008-03-04 Power Paper, Ltd. Multi-layered electrodes and uses thereof
EP1667275A1 (en) * 2004-12-06 2006-06-07 Sharp Kabushiki Kaisha Dye-sensitized solar cell and dye-sensitized solar cell module
US20110100455A1 (en) * 2006-12-11 2011-05-05 Fujikura Ltd. Photoelectric conversion element
US20110232736A1 (en) * 2007-05-15 2011-09-29 Goldstein Jonathan R Photovoltaic cell
WO2009069551A1 (ja) 2007-11-28 2009-06-04 Fujikura Ltd. 光電変換素子用電極基板
US20110094579A1 (en) * 2009-10-26 2011-04-28 Yukika Yamada Electrode substrate, method of preparing same, and photoelectric conversion device including same

Also Published As

Publication number Publication date
EP1548868A1 (en) 2005-06-29
TWI326920B (en) 2010-07-01
AU2003275542A1 (en) 2004-04-23
EP1548868A4 (en) 2009-08-12
AU2003275542B8 (en) 2004-04-23
US8629346B2 (en) 2014-01-14
US20060162770A1 (en) 2006-07-27
AU2003275542B2 (en) 2007-06-07
TW200423453A (en) 2004-11-01
KR20050053722A (ko) 2005-06-08
KR100689229B1 (ko) 2007-03-02

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