TWI578073B

TWI578073B - Display device

Info

Publication number: TWI578073B
Application number: TW100119427A
Authority: TW
Inventors: Kouichi Anno; Takumi Sato; Masahiro Teramoto
Original assignee: Japan Display Inc; Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd
Priority date: 2010-06-02
Filing date: 2011-06-02
Publication date: 2017-04-11
Also published as: JP5513262B2; CN102269886A; US9740071B2; EP2392996A3; US9507477B2; US20140225849A1; US20160139711A1; EP2392996A2; US20170031222A1; JP2011253359A; TW201202812A; KR20110132532A; EP2392996B1; US8704762B2; US20120139829A1; US9274631B2; KR101300914B1

Description

顯示裝置

本發明係關於一種顯示裝置，特別係關於使形成於檢測部或顯示區域之外側區域中之信號配線的檢查簡單化之技術。

液晶顯示面板係將形成有薄膜電晶體或像素電極等之第1基板(TFT基板)與形成有彩色濾光器等之第2基板(彩色濾光器基板)介隔液晶層對向配置而構成。由該構成組成之液晶顯示面板，係藉由將形成有複數片之液晶顯示裝置之電路圖案之第1基板(TFT基板)與形成有彩色濾光器等之第2基板(彩色濾光器基板)相接著，封入液晶後，於每個液晶顯示裝置切斷玻璃基板而形成。因此，在玻璃基板之切斷步驟或中途之處理中在玻璃基板之端部產生缺陷或龜裂之情形下，形成於基板上之信號配線會於基板缺陷或龜裂等同時斷線，造成配線不良之問題。

又，搭載於攜帶資訊終端之顯示裝置，於液晶顯示面板之顯示面側配置稱為觸控面板之座標輸入裝置，實施基於顯示圖像與接觸位置之資訊的圖像之顯示控制已一般化。觸控面板具有於玻璃基板上之檢測區域內形成有電極，於檢測區域之周圍形成有對電極供給驅動信號之信號配線之構成。因此，與液晶顯示面板相同，亦會造成信號配線與基板缺陷或龜裂等同時斷線而產生配線不良之問題。

作為如此之檢測配線不良之方法，例如有專利文獻1中記載之液晶顯示裝置。專利文獻1中記載之液晶顯示裝置，係將平行配置之共通配線在顯示畫面之周緣部相互連接，且於顯示畫面中央部形成開放部，藉此可使用陣列測試器檢測共通配線之斷線。

又，專利文獻2中揭示有一種使用與閘極線平行形成之備用配線檢測汲極線之短路之技術。再者，專利文獻3中揭示有一種在1片玻璃基板上形成複數片之液晶顯示裝置圖案時，在切斷步驟中分割成各液晶顯示裝置時，於自各液晶顯示裝置切離之區域設置用以互相連接各配線之共通配線之技術。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2002-350896號公報

[專利文獻2]日本特開平9-80478號公報

[專利文獻3]日本特開平7-152043號公報

觸控面板由於係配置於液晶顯示面板之顯示面側，檢測操作者之輸入指示之構成，故成為於檢測區域之周圍配置遮光膜，將形成有配線區域等之區域覆蓋之構成。因此，於液晶顯示面板之顯示面側安裝觸控面板後，配線區域係位於遮光膜與液晶顯示面板之間，故以目測等檢查因基板缺陷或龜裂等引起之信號配線之斷線的目測外觀檢查等非常困難。因此，將液晶顯示面板與觸控面板貼合後之信號配線之斷線，直至需要大量檢查時間之最終檢查很難被發現，故迫切期望有簡單之檢查方法。

另一方面，專利文獻1所記載之方法，由於須檢查每條信號配線，故與最終檢查相同，擔心需要非常多的時間。又，專利文獻2及專利文獻3中未記載關於信號配線之檢查。

本發明係鑒於該等問題點而完成者，本發明之目的在於提供一種不增加製造步驟，能夠簡單地判定受基板之缺陷或龜裂影響之信號配線良否的技術。

(1)為解決上述問題，本發明之顯示裝置包含座標輸入裝置及顯示面板，該座標輸入裝置包含：透明基板，其包含配置於接觸位置之檢測區域內之檢測電極，及第1信號配線，其配置於較上述檢測區域更外側之區域，且一端連接於上述檢測電極，於另一端形成有第1電極端子；及具柔軟性之可撓性配線基板，其連接於上述第1電極端子，經由上述第1信號配線向上述檢測電極供給驅動信號，且提取來自上述檢測電極之檢測信號；該顯示面板進行基於來自外部系統之影像信號之圖像顯示；該顯示裝置係於上述顯示面板之顯示面側配置有上述座標輸入裝置者；且，上述座標輸入裝置包含第2信號配線，其配置於較上述第1信號配線更靠上述透明基板之邊緣部側，包圍包含上述檢測區域之上述第1信號配線之形成區域且兩端開放，於上述開放端分別形成有檢查用之電極端子；上述第2信號配線係以沿上述透明基板之邊緣部配置之導電性薄膜形成。

(2)為解決上述問題，本發明之顯示裝置包含：第1基板，其形成有：複數之影像信號線；交叉於上述影像信號線之複數之掃描信號線；自上述影像信號線、上述掃描信號線及外部系統輸入驅動信號及控制信號之電極端子；及將上述影像信號線及上述掃描信號線與上述電極端子連接之第3信號配線；及具柔軟性之可撓性配線基板，其連接於上述第1基板，經由上述電極端子及第3信號配線向上述影像信號線及上述掃描信號線供給驅動信號；該顯示裝置係將上述影像信號線與上述掃描信號線所包圍之區域作為像素區域，將使上述像素形成為矩陣狀之區域作為顯示區域，且將上述第3信號配線形成於較上述顯示區域更外側之區域；且，包含第4信號配線，其配置於較上述第3信號配線更靠上述第1基板之邊緣部側，包圍包含上述顯示區域之上述第3信號配線之形成區域且兩端開放，於上述開放端分別形成有檢查用之電極端子；上述第4信號配線係以沿上述透明基板之邊緣部配置之導電性薄膜形成。

根據本發明，可不增加製造步驟而簡單地判定受基板之缺陷或龜裂影響之信號配線之良否。

關於本發明之其他效果，明確記載自全體之說明書。

以下，使用圖面說明適用本發明之實施形態。其中，以下之說明中，對同一構成要件附加同一符號，且省略重復說明。

<實施形態1>

<整體構成>

圖1係用以說明本發明實施形態1之顯示裝置之液晶顯示裝置的整體構成之剖面圖，以下，基於圖1說明實施形態1之顯示裝置。其中，實施形態1之液晶顯示裝置中除去檢測配線之其他構成係與周知之液晶顯示裝置相同之構成。因此，以下之說明會詳細說明檢測配線。又，圖中所示X、Y、Z係分別表示X軸、Y軸、Z軸。再者，實施形態1雖說明關於顯示面板使用液晶顯示面板之情形，但並不限定於此，例如亦可為使用有機EL顯示面板等之構成。

如圖1所示，實施形態1之顯示裝置具備液晶顯示面板PNL、與配置於液晶顯示面板PNL之顯示面側(前面側)之靜電電容式之觸控面板(座標輸入裝置)TP，該構成能夠檢測液晶顯示面板PNL上之XY方向之座標位置。液晶顯示面板PNL與觸控面板TP係利用透明即透光性之接著劑ADL而接著。另一方面，於作為與液晶顯示面板PNL之顯示面側相對之側的裏面側配置有背光裝置BL。但，觸控面板TP並不限定於靜電電容式，亦可為電阻式等之其他方式之觸控面板。又，液晶顯示面板PNL與觸控面板TP之固定不限定於接著劑ADL，亦可使用矽凝膠等之可剝離及再接著之粘著劑等。

構成液晶顯示面板PNL之第1基板SUB1與第2基板SUB2，係介隔未圖示之液晶層而對向配置所構成，第1基板SUB1於Y軸方向上較第2基板SUB2更大。較該第2基板SUB2更大之區域即自第2基板SUB2露出之第1基板SUB1之主面側(液晶面側)上，配置有將驅動信號供給至未圖示之像素之驅動電路DR1、及用以將外部信號等供給至驅動電路DR1之可撓性印刷基板FPC1。又，第1基板SUB1之裏面側即背光裝置BL側、及第2基板SUB2之顯示面側上分別配置有周知之偏光板POL。

另一方面，構成觸控面板TP之第3基板SUB3之主面側即觀察者側上形成有用以檢測接觸位置之未圖示之檢測用電極，於端部連接有可撓性印刷基板FPC。該可撓性印刷基板FPC之端子面側搭載有將驅動信號供給至檢測用電極，且自供給至檢測電極之驅動信號的電容變化檢測手指等之接觸位置之觸控面板TP之驅動電路DR2。又，於第3基板SUB3之主面側利用接著劑ADL配置有遮光板LSP及保護板(前面保護板)PP。

<液晶顯示面板及觸控面板之構成>

其次，圖2係用以說明實施形態1之液晶顯示面板之概略構成圖，圖3係用以說明實施形態1之觸控面板之概略構成圖，以下，基於圖2及圖3詳細說明實施形態1之液晶顯示裝置。其中，圖3係自實施形態1之觸控面板之液晶顯示面板側觀察之平面圖。又，圖2及圖3中所示之X、Y分別表示X軸、Y軸，對應圖1所示之X軸、Y軸。

如圖2所示，實施形態1之液晶顯示面板PNL係以形成有像素電極PX或薄膜電晶體TFT等之第1基板SUB1、形成有未圖示之彩色濾光器或黑色矩陣且與第1基板SUB1對向配置之第2基板SUB2、及以第1基板SUB1與第2基板SUB2夾著之未圖示之液晶層構成。又，液晶顯示面板PNL之裏面側有作為該液晶顯示面板PNL之光源之未圖示之背光單元(背光裝置)組合以顯示圖像。第1基板SUB1與第2基板SUB2之固定及液晶之密封係以於第2基板之周邊部塗布成環狀之密封材SL而固定，且亦密封液晶。另，以下之說明中，液晶顯示面板PNL之說明亦記為液晶顯示裝置。

又，第1基板SUB1及第2基板SUB2一般係使用例如眾所周知之玻璃基板作為基材，但不限定於玻璃基板，如石英玻璃或塑料(樹脂)之其他絕緣性基板亦可。例如，若使用石英玻璃，因可升高製程溫度，故能夠使薄膜電晶體TFT之閘極絕緣膜緻密化，因此可提升可靠性。另一方面，使用塑料(樹脂)基板之情形，能夠提供輕量且耐衝擊性優良之液晶顯示裝置。

又，實施形態1之液晶顯示面板PNL，將在封入有液晶之區域內顯示像素(以下，以略記為像素)所形成之區域作為顯示區域AR。因此，即使在封入有液晶之區域內，未形成有像素與顯示無關之區域係不作為顯示領域AR。

實施形態1之液晶顯示裝置中，第1基板SUB1之液晶側之面且顯示區域AR內，形成有於X方向延伸且並設於Y方向之掃描信號線(閘極線)GL。又，形成有於Y方向延伸且並設於X方向之影像信號線(汲極線)DL。以汲極線DL與閘極線GL包圍之矩形狀之區域構成形成像素之區域，藉此，各像素係於顯示區域AR內配置成矩陣狀。各像素例如如圖2中圓圈A之放大圖A'所示，包含：藉由來自閘極線GL之掃描信號實施開啟/關閉驅動之薄膜電晶體TFT；經由該開啟之薄膜電晶體TFT供給來自汲極線DL之影像信號之像素電極PX；及連接於共線CL且供給具有相對影像信號之電位為基準之電位的共通信號之共通電極CT。

像素電極PX與共通電極CT之間，會產生具有平行於第1基板SUB1之主面之成分的電場，藉由該電場使液晶之分子驅動。如此之液晶顯示裝置係作為所謂能夠廣視野角顯示者而眾所周知，從對液晶施加電場之特異性來說，稱為IPS方式(包含IPS-Pro方式)或橫電場方式。又，如此構成之液晶顯示裝置，係在未於液晶施加電場之情形下，令光透過率最小(黑色顯示)，以藉由施加電場提升光透過率之通常黑色顯示形態進行顯示。另，於第2基板SUB2之主面側(液晶面側)形成共通電極CT，以形成於第1基板SUB1上之像素電極PX與形成於第2基板SUB2上之共通電極CT之間產生之電場來驅動液晶分子之TN方式或VA方式等之縱電場方式的液晶顯示面板亦可。

各汲極線DL及各閘極線GL係於其端部越過密封材SL而分別延伸，連接於驅動電路DR。但，實施形態1之液晶顯示裝置，係以半導體晶片形成驅動電路DR將其搭載於第1基板SUB1上而構成，然而亦可以載帶方式或COF(Chip On Film)方式將輸出影像信號之影像信號驅動電路與輸出掃描信號之掃描信號驅動電路之任一方或其兩方之驅動電路搭載於可撓性印刷基板FPC上，連接於第1基板SUB1。

另，如放大圖A'所示之共通電極CT之構成，雖係經由共線CL將共通信號輸入至於各像素獨立形成之共通電極CT而構成，但並不限定於此，亦可為以將於X方向鄰接配置之像素之共通電極CT直接連接之方式形成共通電極CT，且自X方向之左右(第1基板SUB1之端部)之一端或兩側經由共線CL輸入共通信號之構成。

<觸控面板構成>

如圖3所示，實施形態1之觸控面板TP亦具備包含平板狀之透明玻璃基板或塑料基板之第3基板SUB3，本實施形態中於第3基板SUB3之主面側(液晶顯示面板)側配置有用以檢測未圖示之操作者的手指等之接觸位置的電極。作為該電極，例如如圖中所示，係以使於X方向延伸且於Y方向並設而用以檢測Y方向之座標位置之第1檢測電極YSE，與於Y方向延伸且於X方向並設而用以檢測X方向之座標位置之第2檢測電極XSE經由未圖示之絕緣膜交叉的方式配置。此時，實施形態1中，第1檢測電極YSE及第2檢測電極XSE係形成於觸控面板TP之透明區域TTA內，該透明區域TTA內之X方向及Y方向之座標位置形成能夠檢測之檢測區域。另，由於係於觸控面板TP之裏面側設置液晶顯示面板PNL之構成，因此為使操作者看見顯示於液晶顯示面板PNL之顯示內容，較佳的是以透明材料形成形成於透明區域TTA內之第1檢測電極YSE、第2檢測電極XSE、及未圖示之絕緣膜。

又，實施形態1之觸控面板TP，將第1檢測電極YSE及第2檢測電極XSE與電極端子(第1電極端子)TRM1連接之信號配線(第1信號配線)SIG1係配置於透明區域TTA之外側區域。此時，第1檢測電極YSE係並設於Y方向而構成。因此，連接於第1檢測電極YSE之端部之信號配線SIG1係形成於透明區域TTA之圖中左右與第3基板SUB3之邊緣部之間，且連接於電極端子TRM1。又，第2檢測電極XSE係並設於X方向而構成。因此，第2檢測電極XSE係藉由形成於透明區域TTA之圖中下部與電極端子TRM1之間之區域中之信號配線SIG1，而連接於電極端子TRM1。

又，實施形態1之觸控面板TP中，遮光板LSP之開口部PPO比透明區域TTA小，且比液晶顯示面板之顯示區域AR大。藉由如此構成，可確實地檢測出對應顯示於顯示區域AR之端部之圖像的接觸位置。又，藉由較形成第1檢測電極YSE及第2檢測電極XSE之透明區域TTA更小地形成開口部PPO，可確實地檢測出透明區域TTA之端部之接觸位置。

又，實施形態1之觸控面板TP，係於信號配線SIG1更外側形成檢測配線(第2信號配線)SIG2。特別是實施形態1之檢測配線SIG2係沿著除形成有第3基板SUB3之電極端子之1邊的其他邊(圖3中之上邊及左右邊)之邊緣部而形成。又，實施形態1中，配線寬度及配線之形成位置係根據用以於第3基板SUB3上形成檢測配線SIG2之曝光裝置或蝕刻裝置等之精度、及有基板缺陷NP產生時之大小等之容許量而適當設定。再者，檢測配線SIG2之配線寬度係以均一之配線寬度形成。但，檢測配線SIG2之配線寬度不限定於均一之配線寬度。又，實施形態1之檢測配線SIG2，係在沿第3基板SUB3之一邊排列之複數之電極端子TRM1之內，於配置於最外側之一對電極端子TRM1之內的一方之電極端子TRM1連接檢測配線SIG2之一端，於配置於最外側之一對電極端子TRM1之內的另一方之電極端子TRM1連接檢測配線SIG2之另一端。再者，實施形態1之檢測配線SIG2係以相對鋁等之光(特別是可視光區域之光)之透過率較小的金屬薄膜形成。如此，藉由使用形成信號配線SIG1之鋁等之金屬薄膜形成檢測配線SIG2，可於同層形成信號配線SIG1與檢測配線SIG2，且在同一步驟中形成，故可獲得不增加步驟即可形成檢測配線SIG2之特別的效果。又，藉由以透過率較小的金屬薄膜形成檢測配線SIG2，可伴隨第3基板SUB3之缺陷或龜裂等發生使檢查者根據目測容易地進行檢測配線SIG2之斷線檢查。

另，以2層以上之積層薄膜形成檢測配線SIG2，且將該積層膜內至少單層以較鄰接區域之透過率更小的材料形成之構成亦可。再者，亦可以於構成檢測配線SIG2之積層膜內至少1層混入著色材料之薄膜層(著色層)形成。藉由該構成，可獲得與以透過率較小之單層金屬薄膜形成檢測配線SIG2之情形相同之效果。

又，實施形態1之觸控面板TP，有可撓性印刷基板FPC2之未圖示之電極端子電性連接於觸控面板TP之電極端子TRM1，經由電極端子TRM1供給來自驅動電路DR2之驅動信號，且輸出檢測信號至驅動電路DR2。此時，如圖8所示，實施形態1之觸控面板TP之可撓性印刷基板FPC2中，形成於可撓性印刷基板FPC2之圖中下部之電極端子(第2電極端子)TRM2，具有電性連接於檢測配線SIG2之電極端子。即，在連接於未圖示之外部系統之側之電極端子TRM2內，有配置於最外側之一對電極端子TRM2經由可撓性印刷基板FPC上之信號配線FSG而電性連接於檢測配線SIG2。

<基板缺陷之檢測>

圖4係圖3所示之實施形態1之液晶顯示裝置中於觸控面板的第3基板產生缺陷之情形之圖，以下，基於圖4說明於觸控面板之第3基板SUB3產生缺陷(基板缺陷)NP之情形之檢測動作。

實施形態1之觸控面板TP中，檢測配線SIG2係沿第3基板SUB3之邊緣部形成。其結果，因檢測配線SIG2之形成後之觸控面板之處理等而於第3基板SUB3上產生缺陷NP之情形，如圖4所示，檢測配線SIG2之一部份會與基板缺陷NP同時脫落斷線。此時，在基板缺陷NP之區域具有特定以上之大小區域之情形下，由於實施形態1之檢測配線SIG2係以透過率較小或不透過之材料形成，故檢查者可根據目測容易地發現(檢測)缺陷NP。

又，即使因於液晶顯示面板PNL上接著觸控面板TP時之處理等使得第3基板SUB3產生缺陷NP之情形時，如圖4所示，檢測配線SIG2之一部份會與基板缺陷NP一起斷線。此時，如圖1所示，因第3基板SUB3上產生缺陷NP之部位係被遮光板LSP與液晶顯示面板PNL所夾之區域，故在先前之構成中無法發現缺陷NP。與此相對，實施形態1之觸控面板TP中，由於檢測配線SIG2係以兩端連接於電極端子TRM1之1個導電性薄膜形成，故藉由測定引出至可撓性印刷基板FPC之電極端子TRM2間，可檢查檢測配線SIG2有無斷線。此時之斷線檢查例如可以電性電阻之測定裝置測定檢測配線SIG2所連接之電極端子TRM2間之電阻值，或根據對一方之電極端子TRM2輸入脈衝信號，在另一方之電極端子TRM2檢測信號等之簡易計測，容易地檢測出檢測配線SIG2之斷線即第3基板SUB3之缺陷NP。又，根據斷線檢查之計測結果，在未檢測到檢測配線SIG2斷線之情形下，可判斷為第3基板SUB3未產生缺陷NP，或即使產生缺陷NP之情形，亦為預先設想之容許量內的缺陷NP。另一方面，在檢測到檢測配線SIG2斷線之情形下，可判斷為產生對信號配線SIG1亦造成影響等之超出容許量之缺陷NP。另，藉由檢測配線SIG2所連接之電極端子TRM2之間之測定進行之斷線測定，亦可在與液晶顯示面板PNL貼合前進行。

另一方面，在圖4之Y方向之基板缺陷NP較小之情形或產生龜裂之情形下，檢測配線SIG2脫落之區域亦非常小，由檢查者根據目測進行檢查非常難以發現。然而，實施形態1之觸控面板TP中，能夠以上述檢測配線SIG2之導通檢查之非常簡單的檢查，檢查第3基板SUB3有無缺陷NP及龜裂產生。

如以上說明，實施形態1之顯示裝置係構成為於基於來自外部系統之影像信號進行圖像顯示之液晶顯示面板的顯示面側配置靜電電容式之觸控面板。此時，實施形態1之觸控面板中，具有包圍形成將第1檢測電極及第2檢測電極與電極端子連接之信號配線之區域，與可檢測接觸位置之透明區域，且包含沿第3基板之邊緣部之具有導電性之透過率小的金屬薄膜之檢測配線；該檢測配線之一端連接於電極端子，另一端連接於其他之電極端子，因此，在接著液晶顯示面板與觸控面板前，檢查者根據目測可容易地檢查第3基板之基板缺陷，且即使在固定液晶顯示面板與觸控面板後，亦可以檢測配線所連接之電極間的電阻測定或脈衝測定等之簡易的測定來檢測基板缺陷。

<實施形態2>

圖5係用以說明本發明實施形態2之顯示裝置中觸控面板之概略構成之圖。特別是顯示對應實施形態1之圖4之正視圖即觸控面板之第3基板上產生1個部位之基板缺陷之情形的觸控面板之正視圖。其中，實施形態2之顯示裝置中，僅觸控面板TP之檢測配線SIG2、SIG3及電極端子TRM1、TRM2之構成不同，液晶顯示面板之構成及觸控面板之其他構成與實施形態1之顯示裝置相同。因此，以下之說明係詳細說明關於觸控面板所具備之檢測配線SIG2、SIG3及電極端子TRM之構成。又，以下之說明中，根據需要，將接近於第3基板SUB3之邊緣部之側的檢測配線記為第1檢測配線SIG2，將距離第3基板SUB3之邊緣部較遠側之檢測配線記為第2檢測配線SIG3。又，雖實施形態2係說明獨立之檢測配線SIG2、SIG3之2根之情形，但形成3根以上之獨立的檢測配線之構成亦可。

如圖5所示，實施形態2之觸控面板TP亦具備由透明平板狀之玻璃基板組成之第3基板，且包含不同之2根檢測配線SIG2、SIG3。又，各檢測配線SIG2、SIG3與實施形態1相同，係形成於信號配線SIG1之配線所形成之配線區域之外側區域，即信號配線SIG1與第3基板SUB3之邊緣部之間的區域。再者，實施形態2之檢測配線SIG2、SIG3亦與實施形態1相同，係沿著除形成有第3基板SUB3之電極端子TRM1之1邊的其他邊(圖3中之上邊及左右邊)之邊緣部所形成。此時，實施形態2之觸控面板TP，係於接近第3基板SUB3之邊緣部之側配置第1檢測配線SIG2，於距離第3基板SUB3之邊緣部較遠之側即接近信號配線SIG1之側配置第2檢測配線SIG3。

第1檢測配線SIG2，在沿第3基板SUB3之一邊(圖5中下部)排列之複數之電極端子TRM1內，於配置於最外側之一對電極端子TRM1之內的一方之電極端子TRM1連接有第1檢測配線SIG2之一端，於配置於最外側之一對電極端子TRM1之內的另一方之電極端子TRM1連接有第2檢測配線SIG3之另一端。又，第2檢測配線SIG3，於鄰接於連接有第1電極配線SIG2之一對電極端子TRM1的內側之電極端子TRM1上，分別連接第2檢測配線SIG3之端部。藉由如此之構成，可將第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3形成於與信號配線SIG1同一層上，即能夠以與信號配線SIG1相同之步驟及配線材料而形成。

此時，藉由亦將第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3以與信號配線SIG1相同之步驟形成，能夠獲得與上述實施形態1相同之特別的效果。再者，以與第1檢測電極YSE或第2檢測電極XSE相同之步驟形成透明薄膜之導電層後，形成將導電性或非導電性之著色層等積層之第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3等之構成亦可。此時，作為將第1檢測配線SIG2以與信號配線SIG1相同之步驟形成，且將第2檢測配線SIG3以與第1檢測電極YSE或第2檢測電極XSE相同之步驟形成等之不同的薄膜材料組成之信號配線亦可。其中，若第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之薄膜材料為相對可視光區域之光之透過率較小的導電性薄膜，則亦可為其他之薄膜材料，藉由以如此之透過率小的金屬薄膜形成檢測配線SIG2，伴隨第3基板SUB3之缺陷或龜裂等之發生，檢查者根據目測可容易地進行第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之斷線檢查。

又，實施形態2之觸控面板TP中，亦於形成於可撓性印刷基板FPC2之圖中下部之電極端子TRM2，形成有分別電性連接於第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之電極端子TRM2。

其次，基於圖5，說明實施形態2之觸控面板TP中基板缺陷NP之檢查方法。但，以下之說明，如圖5所示係就於第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3之間止有基板缺陷NP之端部之情形予以說明。

形成檢測配線SIG2後，與液晶顯示面板固定之前因觸控面板之處理等而在第3基板SUB3上產生缺陷NP之情形，如圖5所示，第1檢測配線SIG2之一部分會與基板缺陷NP一起脫落斷線。此時，在與液晶顯示面板接著前之情形下，由於第1檢測配線SIG2係以透過率小或不透過之材料形成，故檢查者可根據目測容易地發現(檢測)缺陷NP。另一方面，因與液晶顯示面板之接著步驟或其後之處理等，而於第3基板產生缺陷NP之情形，由於第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3其兩端係經由電極端子TRM1而連接於電極端子TRM2上，因此藉由測定於可撓性印刷基板FPC引出之電極端子TRM2間，能夠檢查檢測配線SIG2有無斷線。

此時，實施形態2之觸控面板TP中，第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3，係沿第3基板SUB3之邊緣部分別獨立之檢測配線。因此，根據非常簡便之檢查即第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之斷線檢查之計測結果，除了可獲得與上述實施形態1相同之效果即檢測有無第3基板SUB3之基板缺陷NP的產生之外，亦能夠把握所產生之基板缺陷NP之大小即基板缺陷NP之發生程度。例如，在未檢測到第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之2根有斷線之情形下，無論第3基板SUB3上未產生缺陷NP或產生缺陷NP之情形，可判斷其為非常輕微之容許量內之基板缺陷NP。又，如圖5所示，在檢測到僅於第1檢測配線SIG2上產生斷線之情形下，能夠判斷所產生之基板缺陷NP係處於預先假設之容許量以內之基板缺陷NP。另一方面，於第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之兩方之檢測配線皆檢測出有斷線之情形下，能夠判斷出產生有亦對信號配線SIG1有影響等之容許量以上之基板缺陷NP。

同樣地，於第3基板SUB3產生龜裂之情形下，亦可基於第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之2根檢測配線的檢測結果，可做出與基板缺陷NP相同之判斷，可以非常簡便之檢查，把握第3基板SUB3之龜裂有無產生，及所產生之龜裂之大小即龜裂之產生程度。

但，實施形態2之觸控面板TP，由於第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3係分別獨立而構成，因此當一起計測2根檢測配線有無斷線時，亦可以不同之計測方法來計測有無斷線。例如，第1檢測配線SIG2之有無斷線之測定可施加於對應直流電壓之電極端子而計測電阻值；第2檢測配線SIG3之有無斷線之測定可施加於對應脈衝電壓之電極端子而計測其輸出等。

另，實施形態2中，雖已說明將第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3形成於由相同之薄膜材料組成之同一層上的檢測配線之情形，但並不限定於此。例如，第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3之至少一方之檢測配線，亦可以用透過率較一方之檢測配線更小之金屬薄膜等形成之層而形成，再者，亦可具備僅將一方之檢測配線以任意色進行著色之著色層而構成。又，實施形態2中，雖已說明第1檢測配線及第2檢測配線為均一之配線寬度，且第1檢測配線及第2檢測配線之配線寬度等相同之情形，但並不限定於此，亦可以不同之配線寬度或不同之顏色等形成。

<實施形態3>

圖6係用以說明本發明實施形態3之顯示裝置之觸控面板之概略構成之圖，係顯示產生與實施形態2相同之基板缺陷NP之情形之觸控面板之正視圖。其中，實施形態3之顯示裝置僅係觸控面板TP之第1檢測配線SIG2、第2檢測配線SIG3、及電極端子TRM1、TRM2之構成不同，液晶顯示面板之構成及觸控面板之其他構成與實施形態2之顯示裝置相同。因此，以下將詳細說明觸控面板包含之第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3、及電極端子TRM1、TRM2之構成。

如圖6所示，實施形態3之觸控面板TP中，亦將第1檢測配線SIG2配置於接近第3基板SUB3之邊緣部之側，將第2檢測配線SIG3配置於距離第3基板SUB3之邊緣部較遠側即接近信號配線SIG1之側。此時，第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之一端側(圖6中左側)與實施形態2同樣構成為分別連接於不同之電極端子TRM1。另一方面，如圖6中圓圈B所示，第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3之另一端側(圖6中右側)係構成為連接於同一電極端子TRM1。此時之第1檢測配線SIG2及第2檢測配線SIG3亦與實施形態2相同，可為由同一薄膜材料組成之同層之檢測配線，或形成於由不同之薄膜材料組成之不同層之檢測配線。

如以上說明，根據實施形態3之觸控面板TP，於第3基板SUB3中，第1檢測配線SIG2與第2檢測配線SIG3之另一端側(圖6中右側)係構成為連接於同一電極端子。藉此，除上述實施形態2之效果以外，亦可獲得使電極端子TRM1之端子數減少至低於實施形態2之特別之效果。

特別是可撓性印刷基板FPC中，能夠減少對向於形成於第3基板SUB3上之電極端子TRM1而接觸連接之電極端子之個數及電極端子TRM2之個數、及電性連接於該電極端子間之信號配線數。另一方面，可撓性印刷基板FPC之成本大幅依存於形狀及面積，藉由減少電極端子數及信號配線數，能夠減小可撓性印刷基板FPC之面積，因此可獲得能夠降低可撓性印刷基板FPC之成本，且降低使用該可撓性印刷基板FPC之實施形態3之觸控面板TP及顯示裝置之成本的特別之效果。

<實施形態4>

圖7係用以說明本發明實施形態4之顯示裝置之觸控面板的概略構成之圖，且係對應實施形態1之圖4之正視圖即於觸控面板之第3基板上產生缺陷之情形之正視圖。其中，實施形態4之顯示裝置，僅觸控面板TP之可撓性印刷基板FPC之電極端子之構成不同，其他之構成與實施形態1相同。因此，以下將詳細說明可撓性印刷基板FPC之構成。另，實施形態4之可撓性印刷基板FPC之構成亦可適用於實施形態2、3之觸控面板。

如圖7所示，實施形態4之可撓性印刷基板FPC構成為，在與電極端子TRM2所形成之位置不同之位置上配置有對應檢測配線SIG2之檢查專用之電極端子TRMT。特別是實施形態4之電極端子TRMT，係形成於較電極端子TMR2更靠近於電極端子TRM1之位置，即接近觸控面板TP之本體之位置。為設為如此之構成，實施形態4之觸控面板TP之可撓性印刷基板FPC，於圖中之上端側即與第3基板SUB3連接之側具有連接於電極端子TRM1之未圖示之同數量的電極端子。又，可撓性印刷基板FPC於圖中之下端側具有從電極端子TRM1之電極端子數減去連接於檢測配線SIG2之電極端子數之電極端子TRM2。此時，可撓性印刷基板FPC之上端部之電極端子與下端部之電極端子TRM2構成為，以形成於該可撓性印刷基板FPC之基材上之未圖示之信號配線分別連接，且於電極端子TRM2電性引出信號配線SIG1。又，實施形態4之可撓性印刷基板FPC中，形成於與電極端子TRM2不同之區域(位置)中之電極端子(第3電極端子)TRMT，係與對應經由該可撓性印刷基板FPC內之信號配線FSG而連接檢測配線SIG2之電極端子TRM1之該可撓性印刷基板FPC上的電極端子連接，且於電極端子TRMT有檢測配線SIG2電性引出於可撓性印刷基板FPC。此時，可於可撓性印刷基板FPC之表面側或裏面側之任一方之面或兩面上形成電極端子TRMT。

如上述說明，根據實施形態4，由於係將連接於檢測配線SIG2之可撓性印刷基板FPC側之電極端子TRMT形成於與連接於信號配線SIG1之電極端子TRM1不同之區域中，因此，除實施形態1之效果以外，亦可獲得可容易地將計測裝置連接於電極端子TRMT，且進一步縮短檢查所需時間之特別之效果。

<實施形態5>

圖9係用以說明本發明實施形態5之顯示裝置之液晶顯示面板之概略構成圖，除檢測配線SIG3及電極端子TRM3之構成以外，其他之構成與實施形態1~4之液晶顯示面板相同。因此，以下詳細說明檢測配線SIG3及電極端子TRM3之構成。又，實施形態5之液晶顯示面板PNL，與實施形態1相同，雖說明檢測配線SIG3為1根之情形，但與實施形態2、3相同，亦可設置複數根檢測配線SIG3。再者，與實施形態4相同，在可撓性印刷基板FPC之未圖示之電極端子之內，於與輸入顯示資料或控制信號等之側之電極端子即與外部系統連接之側所並設之電極端子群不同的位置，設置連接於檢測配線SIG3之電極端子。另，根據實施形態5，作為顯示裝置雖於液晶顯示面板PNL上設置檢測配線SIG3而構成，但不限定於此，有機EL顯示裝置等之其他顯示裝置亦能夠適用。

如圖9所示，形成於顯示領域AR內之汲極線DL及閘極線GL係超越密封材SL而延伸，並作為信號配線(第3信號配線)SIG4連接於驅動電路DR1。又，驅動電路DR1係與電極端子TRM3以信號配線SIG4連接，經由連接於第1基板SUB1之圖中下部之可撓性印刷基板FPC1將顯示資料或控制信號輸入至驅動電路DR1。

此時，構成實施形態5之液晶顯示面板PNL之第1基板SUB1上，形成有沿其邊緣部之檢測配線(第4信號配線)SIG2。檢測配線SIG2之端部係分別連接於不同之電極端子TRM3，且經由可撓性印刷基板FPC引出。此時，實施形態5之液晶顯示面板PNL中，連接於未圖示之共通電極之未圖示之共線、及與該共線連接之未圖示之信號配線亦形成於檢測配線SIG2之內側，即檢測配線SIG2包圍之區域中。

又，根據實施形態5之液晶顯示面板PNL，雖將驅動電路DR1配置於第1基板SUB1之圖中下部，但驅動電路DR1並不限定於此。例如，於顯示區域AR之圖中左右形成有以薄膜電晶體生成閘極信號之閘極驅動電路之情形下，可以包圍該閘極驅動電路及連接於閘極驅動電路之信號配線之方式形成檢測配線SIG3。即，在閘極驅動電路與信號配線之內最接近第1基板之邊緣部之部位、與第1基板SUB1之邊緣部之間的區域形成檢測配線SIG3。

如以上說明，實施形態5之顯示裝置中，未形成信號配線SIG4之圖中上部之區域，係於該顯示領域AR與第1基板SUB1之邊緣部之間之區域或形成信號配線SIG4之區域中，在該信號配線SIG4與第1基板SUB1之邊緣部之間的區域，沿第1基板SUB1之邊緣部形成檢測配線SIG3，因此，檢查者根據目測能容易地檢查第1基板SUB1之基板缺陷，且能夠以連接有檢測配線SIG3之電極間之電阻測定或脈衝測定等之簡單的計測來檢測基板缺陷。

另，根據實施形態1~4之顯示裝置之觸控面板，雖已說明於能夠檢測2點以上之接觸位置之靜電電容式之觸控面板適用本專利發明之情形，但並不限定於此，電阻式等其他方式之觸控面板亦可適用。

又，根據實施形態1~4之顯示裝置之觸控面板，雖亦於連接於第3基板之可撓性印刷基板形成連接於檢測配線SIG2之電極端子，但並不限定於此，僅形成於第3基板之電極端子亦可。

以上，雖基於上述發明之實施形態具體說明了本發明者所完成之發明，但本法明不限定於上述發明之實施形態，在不脫離其要旨之範圍內可進行各種變更。

ADL．．．接著劑

AR．．．顯示區域

BL．．．背光源

CL．．．共線

CT．．．共通電極

DL．．．汲極線

DR1．．．驅動電路

DR2．．．驅動電路

FPC1．．．可撓性印刷基板

FPC2．．．可撓性印刷基板

FSG．．．信號配線

GL．．．閘極線

LSP．．．遮光板

NP．．．基板缺陷

PNL．．．液晶顯示裝置

POL．．．偏光板

PP．．．前面保護板

PPO．．．開口部(前面保護板開口部)

PX．．．像素電極

SIG1．．．信號配線

SIG2．．．檢測配線(第1檢測配線)

SIG4．．．信號配線

SL．．．絕緣材

SUB1．．．第1基板

SUB2．．．第2基板

SUB3．．．第3基板

TFT．．．薄膜電晶體

TP．．．觸控面板

TRM1．．．電極端子

TRM2．．．電極端子

TRM3．．．電極端子

TTA．．．透明區域

XSE．．．第2檢測電極

YSE．．．第1檢測電極

圖1係用以說明本發明實施形態1之顯示裝置之液晶顯示裝置的整體構成之剖面圖；

圖2係用以說明實施形態1之液晶顯示面板之概略構成之圖；

圖3係用以說明實施形態1之觸控面板之概略構成之圖；

圖4係圖3所示之實施形態1之液晶顯示裝置中觸控面板之第3基板產生缺陷之情形的圖；

圖5係用以說明本發明實施形態2之顯示裝置之觸控面板之概略構成之圖；

圖6係用以說明本發明實施形態3之顯示裝置之觸控面板之概略構成之圖；

圖7係用以說明本發明實施形態4之顯示裝置之觸控面板之概略構成之圖；

圖8係用以說明實施形態1之觸控面板中可撓性印刷基板之概略構成的圖；及

圖9係用以說明本發明實施形態5之顯示裝置之液晶顯示面板之概略構成的圖。