TW427066B - Zero-delay slew-rate controlled output buffer - Google Patents
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Description
427066. -87Π9163------土 乃 口 侈 ιΤ 五、發明說明(〗) 技術領域 本發明係概括關於輸出緩衝器電路 控制之輸出緩衝器電路。 曰一種轉換速率 背景技藝 見於積體電路之輪出緩衝器提供一介 ί ί Ϊ感負載。外部電容負載-般為由印刷電:招1部1 合電線,插腳,導體,乃 认, | μ冤路板上之接 電容之閘所組成。電感負載“3 :器予以耦合至之輪入 電源及接地線之串聯寄生雷=㊉:匕含供給輸出緩衝器之 板上之外部功率及接感’其復予以叙合至印刷電路 藉慣常之輸出緩衝器(亦 定尺寸受到_特徵所二種;輪出電晶體 切換很多輸出緩衝器發生之不可接受之/干/ϋ隨同時 大電壓降之電感電源雜訊,以及由於峰’導致 所致之電磁干擾。 、同輸出邊緣切換迷率 ,緩衝器供給電流至—外部負載或自其吸收 ▲=換雜訊在内部功率供給或接一不 希望之下衝或過衝。 谉m坭為種不 /或所接產地生軌了之訊非電切壓r ^ 能在# 電路經歷作用電路之切換雜訊,可 2非切換電路之輸入導致亂真過渡。第…換速二 二:Μ吏電源與接地電M電平間之間隙 變二 時切換,或更多電路時,電感切換雜訊加;,變在柯 對此等問題之先前技藝解決辦法’包括減低訊號擺動, S7119163.ptc 第5頁 4270 6 6 __案號87119163__车月曰 條正_ 五、發明說明(2) 但以捨棄TTL相容性為代價,連同增加必須提供額外電源 電壓之負擔。一種簡單之途徑,為減慢輸出切換電晶體之 接通時間,但以具有負載相依之過渡時間及增加傳播延遲 為代價。 需要一種電路,其提供一負載獨立轉換速率控制輸出訊 號。電路應該設計簡單,致使實施電路需要最少量之秒。 發明之概诚 本發明之輸出緩衝器之第一實施例包括一輸入級,包含 第一及第二反相器,各有—輸入端子耦合至緩衝器之輸入 節點°每一反相器之輸出端子驅動一輸出電晶體之控制閑 。二輸出電晶體以一種共同汲極構形耦合至緩衝器之輸出 節點。在緩衝器輸出節點與輸出電晶體之諸控制閘之間提 供一電容反饋路徑。反饋控制閘電壓,致使其在上升或下 ,過渡在外部負載電容充電或放電之大部份時間保持在固 定電壓。結果為固定汲極電流通過作用輸出電晶體,並因 此固定轉換速率獨立於輸出負載。 在本發明之第二實施例,電容反饋路徑包括裝置,供 諸輸出電晶體之每一控制閘之間切換電容元件。已有 之電容元件用以預先充電作用輸出電晶體之控制閑。這辦 加輸出緩衝器之響應時間,i因此降低傳播延遲。 請參照圖1 ’根據本發明之輸出緩衝器電路)〇〇,包含一 供接收數位訊號之輸入節點'。豸入節點予以耦合至 晶體之控制閘:P—通道電晶體P2及?3以以及 N2及N3。電晶體P3及N2予以耦人A s 4 l電日日體 耦σ為一反相器II,並且電晶
4270 6 6 __案號87119163__月 曰 修正 五、發明說明(3) 體P2及N3予以耦合為反相器12。 緩衝器100之輸出由電晶體P1及予以驅動,其;;及極予 以耦合至輸出節點V。。電晶體P1之源極予以耦合至Vdd,同 時電晶體之源極N1予以耦合至接地電位。電晶體P〗之控制 閘予以耦合至電晶體P3及N2之汲極。同樣,電晶體N1之控 制閘予以耦合至電晶體P2及M3之汲極。 另根據本發明’一自輸出節點v。至電晶體p 1之控制閘之 反饋路徑,包括一電容元件CFP。同樣,在輸出節點v。與電 晶體N1之控制閘之間提供電容元件k。就本發明而言,,, 電容元件”意指一實際電容器裝置(例如裝置Cfn及Cfp),其 與固有存在於電晶體裝置之寄生電容有所區別。例如,圖 1以虛線示供輸出電晶體N1之寄生閘電容。 再根據本發明’為了在以下討論將會明白之原因,電晶 體P3予以定尺寸為致使其W/L比大於電晶體N2者。以相同 方式’電晶體N3有一W/L比大於電晶體P2者。裝置之特定 定尺寸依特定應用而定。作為一實例,用以產生圖中所示 之電晶體尺寸:Ν1 = 120/0. 8;Ρ1 = 360/0· 8;N2 = 2/24;P2 = 6/24;N3 = 10/0.8;以及P3 = 30/0.8。 現清參照圖1之電路操作之討論。考慮輸入訊號之下降 ,渡之情形。在此種過渡前之時間,電晶體P3為OFF而電 曰B體N2為在飽和’並因此為完全〇N。因此,輸出電晶體Η 為完全ON,並因此負載電容器&被充電至¥電位。
87119163.ptc 4270 6 ^ _案號 87119163_年月日___ 五、發明說明(4) 考慮至較低電Μ電平之輸入訊说之次一過渡。在此種情 況’電晶體Ν2開始轉為OFF,並且電晶體Ρ3開始轉為0Ν。 同樣’電晶體N3開始轉為OFF,同時電晶體P2開始導電。 回憶電晶體P3 ’ N2,N3,及P2係成尺寸為致使P3較強於N2 ’及N3較強於P2;亦即P3及N3之W/L比為分別大於N2及P2。 此定尺寸之結果為M無作用11輸出電晶體(電晶體P1在下降 過渡之情形)將會轉為OFF快於"作用"輪出電晶體(亦即電 晶體N1)被接通。反之’在上升過渡之情形,由於N3較強 於P2 無作用”輸出電晶體N1將會轉為OFF快於π作用π 輪出電晶體Ρ1轉為ON。此為本發明之重要方面,因為此種 電晶體定尺寸用以在邏輯電平過渡消除輸出電晶體p 1及N1 間之短電路電流’因此使控制降緣過渡之電路與控制升緣 過渡之電路隔離。 輸出緩衝器100之降緣電路包含:輸出電晶體N1,反饋電 容器CFN ’電晶體P2 ’寄生電容cGN,及輸出負載電容器Cl。 圖2A中示此等元件。圖3中所示之波形,略示在緩衝器之 操作時,供降緣過渡之時間週期。 請參照圖2 B及3 ’電晶體N1在部位a之開始為〇 f? F,並且 在圖2B之等效電路示為一在開啟位置之開關。電晶體p2為 在飽和,並因此作用如一固定電流源,使電晶體N1之寄 生閘電容CGN充電,直到節點vg達到N1之界限電壓。同時 ,由於N1為OFF,增加在節點vg之電壓,在通過反饋電容 器Cfn之v。導致對應之增加。在節點vg及在輸出節點v。可確 定變化之時間方程式11供節點V。之時間函數Vg (t)為:
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r 4 2,K) 6 6 _ _案號.871191(^__年月曰 條正 五、發明說明(5) v9(t) = 士 . t 方程式1 其中C,為總電容節點Vg,及I為電晶體P2所提供之電流
輸出節點之時間函數V。( t )為:
vo(t) = VDD · v,(t)方程式 2 器 壓 負 電 少 升 平 電 在 出 請參照圖2C及3 ’示在部位B及對應等效電路之輸出緩衝 之操作。當P2繼續使電容器CpN充電時,在節點、之閘電 繼續上升,直到輸出電晶體N1開始轉為⑽。因^,輸出 載CL開始通過N1放電。同時,電容器CpN也開始通過^放 。這會在節點V。使上升電壓減慢’其復在N1使電流減 。(:FN通過N1放電之速率依負載電容“之尺寸而定。 然而,電晶體P2繼續使Cfn充電。這會在節點v使電位 高’並因此在N1使電流升高。此反饋效應將“致一種 衡狀ii纟此狀態’電容器cFN通過輪出電晶體N【之放 $率,被電晶體P2之充電速率所均衡。因此在平衡時, 即點vg之電壓(亦即電晶體N1之閑 緩衝器100之操作時保持固定。 仕丨1冗在輸 呆持固定’輸出電晶制作如—目定電流
\\326\2d-\89-l〇\87119)63.ptc 第9頁
427066 _案號 87119163____ 五、發明說明(6) 表因此以 N1 亦即: 源’產生一固定之輸出斜率。降緣過渡之下降時\確定 此方式受到完全控制。如在部位A之操作之情形’ T 在節點vg之電壓之方程式及輸出節點v。之時間函數v0(t)。 使用在飽和模型化電晶體作用之標準°二次方程式供電晶體 n): 方程式3 其中: KN1為N1之電晶體增益 VTNl為N1之界限電壓 IN1為在N1之電流 自其,在節點vs之固定閘電堡為. rTWl 1 V方程式4 在平衡時’ Vg為固定,因為N j閉充電(被電流j)由輸出 負載之放電所完全補償,導致: _ dv〇 1 = -57 孕=-士 方程式5 及在電晶體Ν1之電流為:
〜---- \\326\2d-\89-10\87119163.ptc 第10 頁 4270 6 6 修正 案號 87119163 五、發明說明(7)
Ini = _ (Cl + Cfk) dv. 方程式6 方程式5及6可予以一起使用以改寫方程式4為 cT + c. v„ =
21 . (C〆 A 方程式7 輸出電壓之時間變化函數V,(t)確定如下 dv„ I = -c, dt v0(t) = vDD + C-^- · VG - (t - tx) CFH +'-FS 其中: t A為部位A之持續時間,並等於 方程式8 ci · v, C1取自方程式1 v,為方程式7中所表示之固定閘電壓;以及 c.
積分常數為 Vdd + cra + cL • vr. 其計及在部位A操作時,反饋電容器所引起之過衝。 電壓Ve。表示將行加至輸出電晶體N1,以便使輸出負載 在既定時間以固定斜率放電之控制電壓。可看出輸出斜
87119163.ptc 第11頁 427066 _ 案號87119163__年月日 條正____ 五、發明說明(8) 率為固定,並且僅依内部元件,亦即電晶體P2所提供之充 電電流I及反饋電容器CFN之電容而定。在放電時通過輸出 電晶體N1之電流It„予以調整至負載CL致使輸出V。之斜率獨 立於負載。 請再次參照圖3,在部位C之缓衝器之操作繼續,在節點 \之閘電壓,在負載電容器完全放電後繼續上升。輸出電 晶體N1之閘因此將會繼續上升,直到其達到vDD,在該時間 提供完全DC特徵。 自以上方程式,可導出傳播延遲tPHL及下降時間tSHL。傳 播延遲為在部位A ’ ΐΑ之延遲及供輸出達到供給電壓u之 一半所必要延遲之和,因此:
▽DD 方程式9 下降時間測量為在輸出變化之9〇%及1〇%之間,因此 cx Γ 〇-8Vdd 方程式1 ο 請察知在方程式1 0中 現請參照圖4Α及4Β中所:::间獨立於輸出負載 之閘電壓測量及在輸出狄2波形。此等波形不在節點Vg 形供變化之輸出負二.10即7所測量之輸出電塵。產生波 供圖4Α中所示,根撼 pF,30 PF ’ 100 PF,及3 0 0 pF; 示之典型輸出緩衝器。:二::出緩衝器,及供圖4β中所 Α也# s己圖3中初始戶斤示操作之
427066 -^8711916^^ 年月 a 修正__ _ 五、發明說明(9) 三部位A-C。 首先考慮圖4 A。反饋電容器之效應示於部位b,在此部 位’閘電壓為平形。由於固定之閘電壓,在輸出節點v。之 訊號’其轉換速率對所有電容負載為固定。負載電容之效 應不開始起作肖’直到裝置在部位B操作。&圖4A令所示 ,負載電容cL確定使反饋電容器‘之充電及放電,如v波 形之平形部份之開始所表示,達到平衡所需之時間。 比較而言’圖4B中所示無反饋電容器之典型緩衝器,其 波形不閘電壓幾乎立即達到v⑽,因此使輸出電晶體N1立即 變為飽和。因此’電晶體]^在最大電導性,在輸出節點v 之放電速率為N1之負載電容&及通道電阻所界定之時間常° 數之函數。由於通道電阻保持固定,轉換速率因此 電容負載變化。 % 圖5A 固定汲 因為此 小。具 將會放 ,在該 容均為 衝器之 時間僅 依負載 示在部 極電流 自動調 有較大 電較多 相同量 固定轉 汲極電 只為在 電容而 位β操作時輸出緩衝器100在電晶體!^產生一 ’電流自動調整至不同電平依負載&而定。 整特性,放電時間為相同,不論負載之大 所儲存電荷之較大負載,在一既定量之時間 電流,而具有較小所儲存電荷之較小負載 之時間將會放電較少電流。'结果不論負載電 =率。冑照而言’’中所示典型輸出緩 他/刀布,指示負載以最大速率放電,放電之 負载所儲存電荷量之函數。結果為轉換 變化。 作為-項最後觀察’如比較中之輸出波形可看
厶2飞〇 6 6 . ---襄號87119163___年月 η 修正 五、發明說明〇〇^ " 2 出本發明之傳播延遲增加約八倍。請參照圖5 a及5 Β,本 發明之電路示一相同倍數之減低電流尖峰。減低電流尖峰 有助於使雜訊最少。如在圖5 A可看出,對較小負載,電流 減低此力甚至更佳。 、 上述討論針對在下降過渡時輸出緩衝器之操作,並因此 集中在圓1中所示緩衝器電路1〇〇之下半。關於上升過渡 ’可能有一種相似之分析處置’其包括緩衝器電路之上 半°其可示’對上升過渡’在輸出節點v。改變電壓之斜率 為相同,而不論電容負載CL。 現請參照圖6,本發明之第二實施例之討論。電晶體P1 -P3及N1-N3為與圖1中包含輸出緩衝器1〇〇者相同。圖6中 所示之實施例包括一反相器202 ’其輸入予以耦合至輸入 節點vi °電晶體P4有一第一端子耦合至輸出電晶體pi之控 制閘’及一第二端子耦合至節點Vf。電晶體N 4有一第一端 子輕合至輸出電晶體N1之控制閘,及一第二端子耦合至節 點vf °電晶體P4及N4之閘予以連結在一起,及耦合至反 相器202之輸出。一反饋電容器CF予以耦合在輸出節點vo 與節點vf之間。如以下將會討論,電晶體P4及N4用作一切 換元件’以選擇性耦合反饋電容器CF之一端至輸出電晶體 P1之控制閘,或輸出電晶體…之控制閘。 圖6中所示電路2〇〇之操作,除下列方面外’在所有方面 相似於圖1之電路。請考慮下降過渡。恰在過渡前之狀況 為:在輸入節點' 之電位為v⑽。因此,電晶體N2,N3,及 P4被接通,同時電晶體p3,p2,及N4為OFF。因此,電晶
4270 6 6 ---案號87119163_年月曰 佟π: 五、發明說明(11) 體N2使輸出電晶體P1之閘電壓保持在零,並且電晶體N3使 輪出電晶體N1之閘電壓保持在零β P1因此為〇N,並且輸出 節點V。保持在VDD。 反相器2 0 2之輸出為零,因此使電晶體p4轉為〇N,成使 電晶體N4轉為OFF。觀察雖然P4為ON,但在節點^^之電位 無法上升高於-Vm ’ P4之界限電壓。原因為在此^狀況下 ,節點為供P4之源節點。回憶在Vgs > = vt時發生導 電。在此情形,Vgs = 〇-Vf,其中Vf為在節點之電位。在 Vf達到-VttM時’節點vf上升尚於-VtP4之任何傾向將會使P4轉 為OFF。Vf因此在-VtP4穩定。同樣,其可示,在上升過渡情 況’ vf不會上升高於(vDD-vtN4)。 在過渡發生時’電晶體N4轉為on,因此通過一種名為充 電共用之過程’將在反饋電容器CF之電荷轉移至輸出電晶 體N1之閘。因此,使反饋電容器CpN適當定尺寸,可藉以使 N1之閘預先充電至一接近其界限電壓之電平。 根據本發明’在電晶體P2轉為0N前,N4被完全接通。此 為將反相器202之P -通道及N -通道電晶體定尺寸,致使其 快於P3/N2及P2/N3所達成。因此,在下降過渡時,反相器 202將會在電晶體P2轉為ON前變高,並且在上升過渡時’ 反相器將會在電晶體N2轉為ON前變低。這在電晶體P2(N2) 轉為ON及開始使閘充電前,提供n 1 (或在上升過渡之情形 為ΡΠ閘之快速預先充電。使閘預先充電,輸出負載CL可 藉以在過渡時,在一早於圖1之緩衝器電路之時間開始放 電。因此,傳播延遲減低。在傳播延遲由於預先充電之增
87119163-ptc 第15頁 4270 β 6
_案號 87119163 五、發明說明(12) 益,在圖1之電路,等於閘雷厭.去 k A e W 電壓達到預先充電電壓所必要 之延遲。考慮反饋電容器(^之值對妗 視,獲得供傳播延遲之下式:’别 ' 載L值為可忽
,PKL 方程式η 其中 vtg在下降過渡之情形, s赫D/l 為在上升過渡之情形。 U體Ν之界限電壓’細 預U雷為反饋電容器。之預先充電而減低。 ,在閑電容予以在部位a(圖3)操作 凡电吋’隨圖1之電路發 ,便有效無部㈣。 A格货生藉預先充電 圖7A中示此情形,1由I立, 之# ^/、中了看出,閘電壓由於反饋電容器 因ΓΛΐί間達到輸出電晶體⑺,N1)之界限電壓。 因此诚低值^開始發生在一早於在圖1之電路之時間,並 路存才於 延遲。請察知預先充電也已消除在圖1之電 i 00之八右,降過渡開始之過衝。相較於圖5Α之輸出緩衝器 加之響應。圖7 β之汲極電流分布也示輸出緩衝器2 0 0之增 知相較於實二面為減低電路在矽之面積。請察 路使用一拓雜電使反饋電容器‘,Cfp,圖1之電 例如,一丨饋電容器匕。電容器較之電晶體耗用大面積。 ^ ^ ,. . PF電容器面積約為25x5 5微米。因此’雖然圖6 —^之電路使用較多電晶體,但因為僅使用一
\\326\2d-\S9-l〇\871l9l63.ptc 第16頁
條正_ 電谷器’則者電路之所需要之總面積仍小於後者之電路 者。電晶體N4,P4之代表性$几比分別為8/0. 8微米及 24/0. 8微:求。同樣’包含反相器2〇2之電晶體也小;例如 N-通道裝置為4/〇· 8微米及p-通道裝置為12/0-8微米,便 視為足夠驅動電晶體N4及P4之小閘電容。 K牛編號說明 100 輸出緩衝器電路 200 輸出緩衝器 202 反相器 A 部位 B 部位 C 部位 CF 反饋電容器 Cfn 反饋電容元件 Cpp 電容元件 Cgm 寄生閘電容元件 cL 輸出負載電容器 11 反相器 12 反相器 N1 輸出電晶體 N2 N-通道電晶體 N3 N -通道電晶體 N4 電晶體
\\326\2d-\89-10\87119163.ptc 第17頁 427066
87119163.ptc 第18頁 427〇66 Λ 月 修正 曰 —_塞號 87119163 圖式簡單說明 L 示 Λ據本發明之—種輸出緩衝器之第-實施例。 圖2Α為圖i之緩衝器電路之包括 圖2B及2C為圖2A之等效電路,在雷°^刀 r®。_ 电路 在電路麵作之不同階與。 歹1不供降緣過渡之本發明之三操作部位 =及4B為分別供本發明之輸出緩衝器及供」種。典圖型輸 出緩衝器,在降緣過渡之模擬閘及輸出波形。 ,5A =5B為分別供本發明之輸出緩衝器及供—種典型輸 出緩衝器’在下降邊緣過渡之模擬電流波形。 圖6為本發明之輸出緩衝器之第二實施例。 圖7A及7B為模擬波形,例示圖6之電路供降緣過渡之操 作實施本發明之最佳方式。
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第19頁
Claims (1)
- 427066 _案號 87119163_年月日__ 六、申請專利範圍 1. 一種輸出緩衝器電路,包含: 一訊號接收節點; 一第一反相器,有輸入及輸出端子,輸入端子耦合至訊 號接收節點; 一第二反相器,有輸入及輸出端子,輸入端子搞合至訊 號接收節點; 一第一輸出電晶體,有第一及第二端子,並有一閘端子 轉合至第一反相器之輸出端子; 一第二輸出電晶體,有第一及第二端子,並有一閘端子 耦合至第二反相器之輸出端子; 一訊號輸出節點,第一輸出電晶體之第二端子及第二輸 出電晶體之第一端子耦合至此節點;以及 一電容反饋裝置,供將訊號輸出節點耦合回至第一及第 二輸出電晶體之閘端子D 2. 如申請專利範圍第1項之輸出緩衝器電路,其_電容 反饋裝置包括一第一電容元件,耦合在訊號輸出節點與第 一輸出電晶體之閘端子之間,及一第二電容元件,耦合在 訊號輸出與第二輸出電晶體之閘端子之間。 3. 如申請專利範圍第2項之輸出緩衝器電路,其中第一 輸出電晶體為一P_通道裝置,及第二輸出電晶體為一 N-通 道裝置。 4. 如申請專利範圍第1項之輸出缓衝器電路,其中電容 反饋裝置另包括第三及第四電晶體,串聯耦合及連接在第 一及第二輸出電晶體之閘之間,及一第三反相器,耦合在87119163-ptc 第20頁 _案號87119163_年月曰 修正_ 六、申請專利範圍 訊號接收節點與第三及第四電晶體之閘之間。 5. 如申請專利範圍第4項之輸出緩衝器電路,其中第一 輸出電晶體為一 P-通道裝置,及第二輸出電晶體一為N-通 道裝置。 6. 如申請專利範圍第5項之輸出緩衝器電路,其中第三 電晶體為一P-通道裝置,及第四電晶體為一 N-通道裝置。 7. 如申請專利範圍第1項之輸出緩衝器電路,其中第一 反相器包括一P-通道裝置及一N-通道裝置,P-通道裝置具 有大於N -通道裝置之W/L比。 8. 如申請專利範圍第7項之輸出緩衝器電路,其中第二 反相器包括一P-通道裝置及一N-通道裝置,N-通道裝置具 有大於P-通道裝置之[L比。 9. 一種輸出緩衝器電路,包含: 一輸入節點及一輸出節點; 一輸入級,有第一及第二反相器,每一反相器有一輸入 賴合至輸入節點; 一 P-通道電晶體,有一閘端子耦合至第一反相器之輸出 ,並另有一 ί及極端子麵合至輸出節點; 一 Ν -通道電晶體,有一閘端子耦合至第二反相器之輸出 ,並另有一汲極端子耦合至輸出節點; 一第一電容元件,耦合在Ρ-通道電晶體之汲極與閘端子 之間;以及 一第二電容元件,耦合在Ν -通道電晶體之汲極與閘端子 之間。\\326\2d-\89-10\87119163.ptc 第21頁 4270 6 6 - 案號一87119163-修正_ 六、申請專利範圍 10.如申請專利範圍第9項之輸出緩衝器電路,其中第一 反相器包括一 P -通道裝置及一 N -通道骏置,p_通道裝置具 有大於通道裝置之寬度尺寸。 Π.如申請專利範圍第9項之輸出緩衝器電路,其中第二 反相器包括一P-通道裝置及一通道裝置,N_通^裝置具 有大於P-通道裝置之寬度尺寸。 1 2, —種輸出緩衝器,包含: 一訊號輸入節點; 一訊號輸出節點; 一第一反相器,有一輸入端子耦合至訊號輸入節點,並 另有一輸出端子; 一上拉電晶體,有一第一端子供耦合至一第一電位,— 第二端子搞合至訊號輸出郎點’及一控制端子輕人至第一 反相器之輸出端子; ° -第二反相器,有-輸入端子耦合至訊號輸入節點,並 另有一輸出端子; 至一第二電位,一 制端子耦合至第二 一下拉電晶體’有一第一端子供轉合 第二端子耦合至訊號輸出節點,及—控 反相器之輸出端子;以及 一電谷反饋路徑’有一電谷元件及切換裝置,電容元件 有'第一端搞合至说说輸出節點’切換裝置供將電容元件 之第二端選擇性耦合在上拉電晶體之控制閘與下拉電晶體 之控制閘之間。 1 3.如申請專利範圍第1 2項之輸出緩衝器,其中切換裝,丨 Λ 7 0 6 G _案號87119163_年月日__ 六、申請專利範圍 置包括一第三反相器,一P-通道電晶體,及一N-通道電晶 體;第三反相器有一輸入端子耦合至訊號輸入節點,並另 有一輸出端子耦合至P-通道及N-通道電晶體之控制閘;電 晶體有一共同没極連接;P-通道電晶體之源極耗合至上拉 電晶體之控制閘;N-通道電晶體之源極耦合至下拉電晶體 之控制閘;共同汲極連接予以耦合至電容jt:、件之第二端。 1 4.如申請專利範圍第1 2項之輸出緩衝#奢^,其中第 一反相器包括一P-通道裝置及一N-通道裝置,道裝置 具有大於N-通道裝置之W/L比。 參备、 15.如申請專利範圍第14項之輸出緩衝其中第 二反相器包括一 P-通道裝置及一 N-通道裝置道裝置 具有大於P-通道裝置之W/L比。87119163.ptc 第23頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/974,579 US5949259A (en) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | Zero-delay slew-rate controlled output buffer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW427066B true TW427066B (en) | 2001-03-21 |
Family
ID=25522208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW087119163A TW427066B (en) | 1997-11-19 | 1998-11-19 | Zero-delay slew-rate controlled output buffer |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5949259A (zh) |
EP (1) | EP0954904A4 (zh) |
JP (1) | JP2001508635A (zh) |
KR (1) | KR100501425B1 (zh) |
CN (1) | CN1215644C (zh) |
CA (1) | CA2278475A1 (zh) |
MY (1) | MY114609A (zh) |
NO (1) | NO993487L (zh) |
TW (1) | TW427066B (zh) |
WO (1) | WO1999026340A1 (zh) |
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JP2001508635A (ja) | 2001-06-26 |
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EP0954904A1 (en) | 1999-11-10 |
NO993487L (no) | 1999-09-20 |
CA2278475A1 (en) | 1999-05-27 |
MY114609A (en) | 2002-11-30 |
CN1215644C (zh) | 2005-08-17 |
CN1243616A (zh) | 2000-02-02 |
KR20000070254A (ko) | 2000-11-25 |
EP0954904A4 (en) | 2004-12-22 |
US5949259A (en) | 1999-09-07 |
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