TW411735B - Electrical circuit component handler - Google Patents
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Description
411735 A8 B8 C8 D8 申請專利範園 包括: (1) 一半真空源; (2) —由固定盤所界定的真空吸管並連接至該半真 空源,而真空吸管係與槽座之環座同心並緊 鄰;以及 (3) 數個由可旋轉盤所界定之連接管,每槽座各 一,該連接管將半真空吸力由真空吸管傳導至 其對應的槽座中; (e) 在環座旋轉所經的路徑中,用以充份地將槽座内元 件電氣接觸以對元件進行測試之機構; (f) 複數個儲盒;以及 (g )在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測試後的元件 自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的 一儲盒之機構。 6. —種元件裝卸裝置,其包含: (a) —元件槽座的環座,其包括定義在一具有一中心之 板的多個孔,該等孔係垂直於該板子的平面,該環 座的中心與該板的中心係同心的; (b) 藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構; (c )在環座旋轉所經的路徑中,用以承收一元件流路並 使元件歸位於槽座中之機構,其中環座中之槽座係 以相同的角間距分佈,而環座以固定增量方式旋 轉,該旋轉增量即相鄰槽座間的角間距; (d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 411735
(e)在環錢轉所經的路㈣,用以充份地將槽座内元 件屯氣接觸以對元件進行測試之機構; (Ό複數個儲盒;以及 (g)在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測試後的元件 自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的 一儲盒之機構。 7·如申請專利|色圍第6項所述之裝卸裝置,其巾各槽座僅 在兀件之端軸於容差内對準槽座時能夠納入元件;其 中各槽座將元件之上方及下方端軸曝露於外;且其中 電氣連接元件之機構包括: (a) 數個上方端子與環座對齊以由上方接觸元件·,及 (b) 數個伴隨的下方端子以由下方接觸元件,各上方端 子與一下方端子對應並與環座每次旋轉一增量時的 一槽座對應。 8·如申請專利範圍第7項所述之裝卸裝置,其中上方端子 包括懸壁’具彈性之薄片並以一角度劃過元件之上方 端轴。 9 ·如申請專利範圍第8項所述之裝卸裝置,其中該懸壁薄 片更進一步包括一延長端以避免元件因懸壁薄片所施 加之壓力而彈出其槽座。 1〇· —種元件裝卸裝置,其包含: (a)—元件槽座的環座,其包括定義在一具有一中心之 板的多個孔,該等孔係垂直於該板子的平面,該環 座的中心與該板的中心係同心的; -4 _ ________._ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) ) 裝 線 A8 B8 C8 D8 411735 ^六、申請專利範圍
(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構,其中環 I 座中之槽座係以相同的角間距分佈,而環座以固定 | 增量方式旋轉,該旋轉增量即相鄰槽座間的角間 | 距;. (C )在環座旋轉所經的路徑中,用以承收一元件流路並 ·丨 使元件歸位於槽座中之機構; 丨 : (d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構; | (e )在環座旋轉所經的路徑中,用以充份地將槽座内元 / 件電氣接觸以對元件進行測試之機構; j (f) 複數個儲盒;以及 ., (g) 在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測試後的元件 丨·
自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的 I 一儲盒之機構,其包括: 节 (1) 一界定數個噴出孔的喷出歧管板,該噴出孔各 | 與環座每旋轉一增量時之一個元件槽座對齊配 : 合, 咸 (2) 數個伴隨的管件連接至喷出孔,該管件將其中 丨 被喷出的元件導引至儲盒中;以及 :; (3) 數個伴隨的選擇性觸動氣壓機構用以將空氣壓 ! 力加諸與噴出孔對齊配合的槽座内,而將槽座 ; 内的元件噴入對應的管件中。 j 11. 一種元件裝卸裝置,包括: j (a) 數個元件槽坐的同心環座; ; (b) 使環座繞其中心旋轉的機構; j -5- 本紙張尺度適用中國國家樑準(CNS) Α4規格(210X297公羡) 411735 六、申請專利範園 A8 B8 C8 D8 ~—------- —-^ (C )承收機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以承收一 元件流路並使元件坐落於槽座中; (d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構; (幻接觸機構’在環座旋轉所經的路徑中,用以有效地 將槽座内元件電氣接觸以對元件進行測試; (f) 複數個儲盒; (g) 噴出機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測 試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至複數個 儲盒中選定的一儲盒;以及 (h) 用以偵測出未被噴出方式所噴出之元件的機構。 12· —種元件裝卸裝置,包括: (a) 數個元件槽坐的同心環座; (b) 使環座繞其中心旋轉的機構; (c) 承收機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以承收一 元件流路並使元件坐落於槽座中; (d) 用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構; (e )接觸機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以有效地 將槽座内元件電氣接觸以對元件進行測試; (f) 複數個儲盒;以及 (g) 噴出機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測 試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至複數個 儲盒中選定的一儲盒; 其中該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒 向環座上,且其中用以承收及坐落元件的機構包括侷 -6 - 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 裴 訂 線 A8 B8 C8 D8 411735 六、申請專利範圍 限並促使倒入且尚未落入槽座内的元件隨機地翻滚, 而藉重力作用,翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空 槽座上方,該隨機性的翻滚導致元件落入槽座中。 13·如申請專利範圍第12項所述之裝卸裝置,其中侷限元 件的機構包括一與環座同心之固定,旅形的柵板,並 緊臨且沿著環座中槽座向外之板面設置。 14.如申請專利範圍第13項所述之裝卸裝置,其中該柵板 自大約九點鐘位置(相對於環座)延伸至大約五點鐘位 置。 1 5 ·如申請專利範圍第丨3項所述之裝卸裝置,更進一步包 括用以選擇性地將元件流路導引至各柵板的機構。 16·如申請專利範圍第15項所述之裝卸裝置,更進一包 括: (a) 用以偵測出沿柵板上缺漏的元件並產生一伴隨的訊 號,以及 (b) 裝卸裝置應答於該訊號,用以將元件流路導引至該 柵板之處理機構。 17· —種元件裝卸裝置,包括·· (a) 數個元件槽坐的同心環座; (b) 使環座繞其中心旋轉的機構; (c) 承收機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以承收一 元件流路並使元件坐落於槽座中; (d) 用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構; (e) 接觸機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以有效地 -7- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 裝 訂 線
A BCD 411735 申請專利範圍 將槽座内元件電氣接觸以對元件進行測試; (f) 複數個儲盒; (g) 噴出機構,在環座旋轉所經的路徑中,用以將各測 試後的元件自其槽座中喷出並將元件導引至複數個 儲盒中選定的一儲盒;以及 (h) 用以選擇性地將元件流路導引至各環座以坐落元件 的機構。 -8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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---|---|---|---|
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---|---|
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---|---|---|---|
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102049392A (zh) * | 2009-10-27 | 2011-05-11 | 慧萌高新科技有限公司 | 片状电子部件特性检查分类装置 |
TWI386662B (zh) * | 2004-11-22 | 2013-02-21 | Electro Scient Ind Inc | 用於反覆測試電氣組件之方法及機器 |
CN101849191B (zh) * | 2007-11-16 | 2014-02-19 | 电子科学工业有限公司 | 改进型电子组件处理机测试板 |
TWI483326B (zh) * | 2010-10-08 | 2015-05-01 | 晶片分類機及操作方法 | |
TWI513520B (zh) * | 2012-08-10 | 2015-12-21 | Asm Tech Singapore Pte Ltd | 用於傳送電子器件的傳送裝置、方法及測試分選機 |
TWI608241B (zh) * | 2013-01-07 | 2017-12-11 | 伊雷克托科學工業股份有限公司 | 用於處置電組件之系統及方法 |
TWI767762B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-06-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置 |
TWI776558B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-09-01 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置 |
TWI821694B (zh) * | 2021-06-22 | 2023-11-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置及測試方法 |
TWI832777B (zh) * | 2023-06-16 | 2024-02-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試設備 |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6204464B1 (en) * | 1998-06-19 | 2001-03-20 | Douglas J. Garcia | Electronic component handler |
US6194679B1 (en) * | 1999-08-06 | 2001-02-27 | Douglas J. Garcia | Four electrical contact testing machine for miniature inductors and process of using |
JP3687503B2 (ja) * | 2000-07-11 | 2005-08-24 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の搬送装置およびこの搬送装置を用いた検査装置 |
TWI223084B (en) * | 2002-04-25 | 2004-11-01 | Murata Manufacturing Co | Electronic component characteristic measuring device |
AU2002950319A0 (en) * | 2002-07-19 | 2002-09-12 | Rodney George Johnson | Article sorting |
JP4346912B2 (ja) * | 2003-01-20 | 2009-10-21 | 株式会社 東京ウエルズ | 真空吸引システムおよびその制御方法 |
JP2004226101A (ja) * | 2003-01-20 | 2004-08-12 | Tokyo Weld Co Ltd | ワーク検査システム |
JP4121870B2 (ja) * | 2003-02-25 | 2008-07-23 | 株式会社 東京ウエルズ | ワーク測定装置 |
JP4123141B2 (ja) * | 2003-03-28 | 2008-07-23 | 株式会社村田製作所 | チップ型電子部品の取扱い装置およびチップ型電子部品の取扱い方法 |
US7221727B2 (en) * | 2003-04-01 | 2007-05-22 | Kingston Technology Corp. | All-digital phase modulator/demodulator using multi-phase clocks and digital PLL |
JP4039324B2 (ja) * | 2003-06-26 | 2008-01-30 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の搬送装置 |
US6926480B2 (en) * | 2003-08-20 | 2005-08-09 | Zeftek, Inc. | Supplemental restraint for auto-rack railroad car restraint system |
US6906508B1 (en) | 2003-12-11 | 2005-06-14 | Ceramic Component Technologies, Inc. | Component testing system vacuum ring and test plate construction |
US7402994B2 (en) * | 2004-08-09 | 2008-07-22 | Electro Scientific Industries, Inc. | Self-cleaning lower contact |
US7905471B2 (en) * | 2004-11-22 | 2011-03-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Vacuum ring designs for electrical contacting improvement |
JP2006194831A (ja) * | 2005-01-17 | 2006-07-27 | Humo Laboratory Ltd | チップ形電子部品特性検査分類装置 |
US20060261817A1 (en) * | 2005-05-02 | 2006-11-23 | Poddany James J | System and method for testing a photovoltaic module |
JP3928654B1 (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-13 | 株式会社村田製作所 | 電子部品測定装置及びその制御方法 |
US7704033B2 (en) * | 2006-04-21 | 2010-04-27 | Electro Scientific Industries, Inc. | Long axis component loader |
JP4124242B2 (ja) * | 2006-05-24 | 2008-07-23 | 株式会社村田製作所 | ワーク搬送装置及び電子部品搬送装置 |
JP4046138B2 (ja) * | 2006-05-24 | 2008-02-13 | 株式会社村田製作所 | ワーク搬送装置及び電子部品搬送装置 |
JP4079179B2 (ja) * | 2006-06-02 | 2008-04-23 | 株式会社村田製作所 | ワーク搬送装置及び電子部品搬送装置 |
US7522869B2 (en) * | 2006-09-18 | 2009-04-21 | Xerox Corporation | Inline wax coating process for xerographically prepared MICR checks |
US7819235B2 (en) * | 2007-01-29 | 2010-10-26 | Electro Scientific Industries, Inc. | Venturi vacuum generator on an electric component handler |
US8231323B2 (en) * | 2007-01-29 | 2012-07-31 | Electro Scientific Industries, Inc. | Electronic component handler having gap set device |
US7965091B2 (en) * | 2007-04-30 | 2011-06-21 | Electro Scientific Industries, Inc. | Test plate for electronic handler |
JP4625826B2 (ja) * | 2007-05-21 | 2011-02-02 | 東芝テリー株式会社 | プローブユニット |
US7557594B2 (en) * | 2007-08-14 | 2009-07-07 | Electro Scientific Industries, Inc. | Automated contact alignment tool |
US7609078B2 (en) * | 2007-12-21 | 2009-10-27 | Electro Scientific Industries, Inc. | Contact alignment verification/adjustment fixture |
US7924033B2 (en) * | 2008-03-21 | 2011-04-12 | Electro Scientific Industries, Inc. | Compensation tool for calibrating an electronic component testing machine to a standardized value |
US7888949B2 (en) * | 2008-03-21 | 2011-02-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Electrical tester setup and calibration device |
US8054085B2 (en) * | 2008-03-31 | 2011-11-08 | Electro Scientific Industries, Inc. | Programmable gain trans-impedance amplifier overload recovery circuit |
US7851721B2 (en) * | 2009-02-17 | 2010-12-14 | Asm Assembly Automation Ltd | Electronic device sorter comprising dual buffers |
TWI403721B (zh) * | 2009-02-20 | 2013-08-01 | King Yuan Electronics Co Ltd | 旋轉測試模組及其測試系統 |
US8305104B2 (en) * | 2009-03-26 | 2012-11-06 | Electro Scientific Industries, Inc. | Testing and sorting system having a linear track and method of using the same |
US8598888B2 (en) | 2010-05-04 | 2013-12-03 | Electro Scientific Industries, Inc. | System and method for improved testing of electronic devices |
CN102175960A (zh) * | 2011-01-14 | 2011-09-07 | 上海微曦自动控制技术有限公司 | Qfn芯片重力式测试装置 |
US8733535B2 (en) * | 2011-06-17 | 2014-05-27 | Electro Scientific Industries, Inc. | Shallow angle vertical rotary loader for electronic device testing |
US20130146418A1 (en) * | 2011-12-09 | 2013-06-13 | Electro Scientific Industries, Inc | Sorting apparatus and method of sorting components |
TWM430614U (en) * | 2011-12-21 | 2012-06-01 | Youngtek Electronics Corp | Fiber optic light guiding top cover structure |
KR102168907B1 (ko) | 2012-07-10 | 2020-10-22 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 칩 전자 부품의 검사 방법 및 검사 장치 |
JP6121418B2 (ja) * | 2012-07-12 | 2017-04-26 | 株式会社ヒューモラボラトリー | チップ電子部品の検査選別装置 |
JP6312200B2 (ja) | 2014-02-07 | 2018-04-18 | 株式会社ヒューモラボラトリー | チップキャパシタ検査選別装置 |
JP6496151B2 (ja) | 2014-02-19 | 2019-04-03 | 株式会社ヒューモラボラトリー | 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置 |
CN103817083A (zh) * | 2014-02-24 | 2014-05-28 | 三星高新电机(天津)有限公司 | 一种微小产品高速筛选装置 |
NL2012834B1 (en) | 2014-05-16 | 2016-03-02 | Sluis Cigar Machinery Bv | System for performing a processing step on cigarette parts of an electronic cigarette. |
WO2016035198A1 (ja) * | 2014-09-05 | 2016-03-10 | 株式会社ヒューモラボラトリー | チップ電子部品の特性検査と分類のための装置 |
KR101926410B1 (ko) | 2014-11-06 | 2018-12-07 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 전자 부품의 반송장치 |
JP6459882B2 (ja) | 2015-10-06 | 2019-01-30 | 株式会社村田製作所 | 通電装置 |
CN105540227B (zh) * | 2016-02-01 | 2018-07-10 | 苏州金艾特科技有限公司 | 试管分拣机 |
TWI574798B (zh) * | 2016-04-22 | 2017-03-21 | All Ring Tech Co Ltd | The material box and the material for the storage of the material collection device |
USD873782S1 (en) | 2016-05-17 | 2020-01-28 | Electro Scientific Industries, Inc | Component carrier plate |
EP3844510A4 (en) * | 2018-10-15 | 2022-05-25 | Electro Scientific Industries, Inc. | SYSTEMS AND METHODS FOR USE ON HANDLING COMPONENTS |
CN109365326B (zh) * | 2018-10-25 | 2020-10-23 | 珠海格力智能装备有限公司 | 弯头筛选装置 |
JP7107589B2 (ja) | 2020-08-28 | 2022-07-27 | 株式会社ヒューモラボラトリー | チップ電子部品検査用のローラ電極接触子を備えた装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810541A (en) * | 1972-09-25 | 1974-05-14 | Gte Sylvania Inc | Method of segregating temperature responsive circuit breakers according to their opening temperature |
US3810540A (en) * | 1972-10-10 | 1974-05-14 | M Georges | Component sorting and segregating system |
US3847283A (en) * | 1973-06-04 | 1974-11-12 | H Squires | Reed switch analyzer |
US4128174A (en) * | 1977-02-28 | 1978-12-05 | Motorola, Inc. | High-speed integrated circuit handler |
US4790438A (en) * | 1987-02-24 | 1988-12-13 | Array Instruments, Inc. | Electrical component sequential testing apparatus |
JPS6444100A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-16 | Hitachi Ltd | Device for mounting electronic component |
JP2524192B2 (ja) * | 1988-06-08 | 1996-08-14 | 富士写真フイルム株式会社 | パ―ツフィ―ダ |
US5034749A (en) * | 1988-10-06 | 1991-07-23 | Electro Scientific Industries, Inc. | Sliding contact test apparatus |
US4978913A (en) * | 1989-01-24 | 1990-12-18 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Apparatus for measuring characteristics of chip electronic components |
US5230432A (en) * | 1991-10-15 | 1993-07-27 | Motorola, Inc. | Apparatus for singulating parts |
US5431273A (en) * | 1994-02-24 | 1995-07-11 | Sunkist Growers, Inc. | Apparatus and method for detecting a missing ejector in a sorting and conveying system |
US5568870A (en) * | 1994-08-18 | 1996-10-29 | Testec, Inc. | Device for testing and sorting small electronic components |
-
1995
- 1995-11-16 US US08/559,546 patent/US5842579A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-04-30 TW TW085105250A patent/TW411735B/zh not_active IP Right Cessation
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI386662B (zh) * | 2004-11-22 | 2013-02-21 | Electro Scient Ind Inc | 用於反覆測試電氣組件之方法及機器 |
CN101849191B (zh) * | 2007-11-16 | 2014-02-19 | 电子科学工业有限公司 | 改进型电子组件处理机测试板 |
CN102049392A (zh) * | 2009-10-27 | 2011-05-11 | 慧萌高新科技有限公司 | 片状电子部件特性检查分类装置 |
TWI513521B (zh) * | 2009-10-27 | 2015-12-21 | Humo Lab Ltd | Chip - type electronic parts - Characteristic inspection and sorting device |
TWI483326B (zh) * | 2010-10-08 | 2015-05-01 | 晶片分類機及操作方法 | |
TWI513520B (zh) * | 2012-08-10 | 2015-12-21 | Asm Tech Singapore Pte Ltd | 用於傳送電子器件的傳送裝置、方法及測試分選機 |
TWI608241B (zh) * | 2013-01-07 | 2017-12-11 | 伊雷克托科學工業股份有限公司 | 用於處置電組件之系統及方法 |
TWI767762B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-06-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置 |
TWI776558B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-09-01 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置 |
TWI821694B (zh) * | 2021-06-22 | 2023-11-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試裝置及測試方法 |
TWI832777B (zh) * | 2023-06-16 | 2024-02-11 | 萬潤科技股份有限公司 | 電子元件測試設備 |
Also Published As
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