TWI767762B

TWI767762B - 電子元件測試裝置

Info

Publication number: TWI767762B
Application number: TW110122813A
Authority: TW
Inventors: 盧昱呈; 林芳旭; 王崇漢
Original assignee: 萬潤科技股份有限公司
Priority date: 2021-06-22
Filing date: 2021-06-22
Publication date: 2022-06-11
Also published as: CN115508632A; TW202300423A

Abstract

本發明提供一種電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該入料單元設有呈弧形的一柵架，該柵架設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板，其定義出複數個載料槽道；該柵架以一外側部固設於一固定座所樞設的一連接件的一固定部上，並與該連接件連動，該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面；藉此使操作更便利。

Description

電子元件測試裝置

本發明係有關於一種測試裝置，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試裝置。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的設備，其以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

該公告號碼第411735號專利申請案的先前技術雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，但該先前技術的入料是經由一具有複數個坐入柵板的弧形載入架，該載入架以旋擺方式移入至測試板上方，並以振動送料機經一開口漏斗自該載入架上方(依間歇旋轉流路方向為先後為前、後，則為後方出口處)入料；由於該載入架旋擺移入至測試板上方時為設定其與該測試板間的間距，每次擺入必須在坐入柵板底部與該測試板間以金屬薄片墊設隔開，一旦該載入架旋擺移出該測試板，所作的間距設定就會失去，必須耗費工時重作設定，相當麻煩！

爰此，本發明之目的，在於提供一種操作便利的電子元件測試裝置。

依據本發明目的之電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該入料單元設有呈弧形的一柵架，該柵架設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板，其定義出複數個載料槽道；該柵架以一外側部固設於一固定座所樞設的一連接件的一固定部上，並與該連接件連動，該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面。

本發明實施例之電子元件測試裝置，由於該入料單元的該柵架以一外側部固設於一固定座所樞設的一連接件的一固定部上，並與該連接件連動，該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面；因該墊片係設於該柵架與連接件的該固定部間，而非該柵架的柵板與該測試板間，該墊片僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變，也不須要再調整該墊片的厚薄或數量，使操作上更為便利。

A:機台

A1:機台台面

A11:固定座

A2:機台桌面

A21:定位孔

B:承載底盤

B1:入料區塊

B11:入料吸溝

B12:吸孔

B13:短弧邊

B14:長弧邊

B15:前端邊

B16:後端邊

B17:空部位

B171:第三吸溝

B172:吸孔

B2:檢查區塊

B21:第一檢查區塊

B211:第一吸溝

B212:吸孔

B213:隔肋

B214:軸環

B215:軸孔

B216:短弧邊

B217:長弧邊

B218:前端邊

B219:後端邊

B22:第二檢查區塊

B221:第二吸溝

B222:吸孔

B223:隔肋

B224:軸環

B225:軸孔

B226:短弧邊

B227:長弧邊

B228:前端邊

B229:後端邊

B23:第二檢查區塊

B3:排出區塊

B31:排料吸溝

B32:吸孔

B33:短弧邊

B34:長弧邊

B35:前端邊

B36:後端邊

C:測試板

C1:座槽

C2:導溝

C3:清潔槽

C31:擴凸區間

D:入料單元

D1:柵架

D11:柵板

D12:載料槽道

D13:入口端

D14:出口端

D15:內側部

D16:外側部

D2:入料座

D21:入料口

D3:轉向座

D31:導溝

D32:漏槽

D33:入料端

D34:排料端

D35:吹氣管

D4:導料座

D41:輸料槽口

D42:導料道

D5:罩蓋

D51:氣孔

D6:聯通件

D61:氣壓接頭

D62:導孔

D63:氣溝

D7:吹氣座

D8:檢測座

D81:檢測元件

D9:連接件

D91:固定部

D92:調整件

D93:墊片

D94:扣樞部

D95:鎖固件

D951:撓性墊圈

D952:螺固件

D96:擋靠座

D961:墊件

E:檢查單元

E1:第一檢查單元

E2:第二檢查單元

E3:第二檢查單元

F:排出單元

G:供料單元

G1:振動送料機

G11:料斗

G12:輸送道

G13:振動元件

G14:底座

G141:撥桿

G2:擺座

G3:第一輪體

G4:第二輪體

G41:置架

G411:栓件

H:導料架

K:收集機構

L:徑向軸線

圖1係一種電子元件測試裝置的立體示意圖，用以說明本發明實施例。

圖2係該電子元件測試裝置機台台面上各機構配置示意圖。

圖3係該電子元件測試裝置中承載底盤的示意圖。

圖4係該電子元件測試裝置中各區塊對應各單元的示意圖。

圖5係該電子元件測試裝置中該測試板上表面部份示意圖。

圖6係該電子元件測試裝置中該測試板下表面部份示意圖。

圖7係該電子元件測試裝置中該入料單元的立體分解與該測試板對應關係示意圖。

圖8係該電子元件測試裝置中該入料單元與該測試板、供料單元的對應關係示意圖。

圖9係該電子元件測試裝置中該振動送料機自該入料單元旋擺位移的示意圖。

請參閱圖1、2所示，本發明實施例以用於電容類的的待測元件進行測試的電子元件測試裝置來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜約六十度的一機台台面A1上設有圓盤狀的一金屬材質的承載底盤B，該承載底盤B上設置可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板C，並在該承載底盤B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元D、用以對待測元件進行測試其特性的一檢查單元E、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元F，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料單元G及用以引導該排出單元F至一收集機構K的一導料架H，在該機台A前側設有容置多個料盒K1的該收集機構K。

請參閱圖2所示，該檢查單元E包括用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元E1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1前、後的二個第二檢查單元E2、E3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1後的該第二檢查單元E3可依需要予以省略不設。

請參閱圖3、4所示，該承載底盤B係由複數個分別獨立但可相互對接組併的不同大小扇形的區塊所組構而成，包括與該入料單元D對應的設置的一入料區塊B1，與該檢查單元E對應設置的一檢查區塊B2、及與該排出單元F對應的一排出區塊B3，其中，該檢查區塊B2係由分別獨立但可相互對接組併的一第一檢查區塊B21及二個第二檢查區塊B22、B23所組構而成，其中，該第一檢查區塊B21與該第一檢查單元E1對應設置，二個該第二檢查區塊B22、B23分別與二個該第二檢查單元E2、E3對應設置；該入料區塊B1上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的凹設環弧狀的入料吸溝B11，每一入料吸溝B11中設有沿該入料吸溝B11底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B12；所述吸孔B12可連通負壓源抽真空，使入料吸溝B11內形成負壓之真空狀態；該入料區塊B1包括相互平行的一短弧邊B13及一長弧邊B14，以及互呈一夾角的一前端邊B15及一後端邊B16；該第一檢查區塊B21上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第一吸溝B211，每一第一吸溝B211中設有沿該第一吸溝B211底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B212，徑向直線排列的每二個該第一吸溝B211間對應部位的隔肋B213上，設有多行(本實施例設有16行)相隔間距位於扇形徑向軸線上分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B214，每一軸環B214上設有一軸孔B215；所述吸孔B212可連通負壓源抽真空，使第一吸溝B211內形成負壓之真空狀態；該第一檢查區塊B21包括相互平行的一短弧邊B216及一長弧邊B217，以及互呈一夾角的一前端邊B218及一後端邊B219；該第二檢查區塊B22上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第二吸溝B221，每一第二吸溝B221中設有沿該第二吸溝B221底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B222，徑向直線排列的每二個該第二吸溝B221間對應部位的隔肋B223上僅設有一行分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B224，每一軸環B224上設有一軸孔B225，每一列的該軸環B224共同位於扇形中央的徑向軸線L上；所述吸孔B222可連通負壓源抽真空，使第二吸溝B221內形成負壓之真空狀態；該第二檢查區塊B22包括相互平行的一短弧邊B226及一長弧邊B227，以及互呈一夾角的一前端邊B228及一後端邊B229；該第二檢查區塊B23與該第二檢查區塊B22構造相同，同理可推，茲不贅述；惟當該第二檢查單元E3依前述不需要而省略時，該第二檢查區塊B23上可如圖3所示省略如該第二檢查區塊B22中該軸環B224、軸孔B225；該排出區塊B3上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的排料吸溝B31，每一排料吸溝B31中設有沿該排料吸溝B31底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B32；所述吸孔B32可連通負壓源抽真空，使排料吸溝B31內形成負壓之真空狀態；該排出區塊B3包括相互平行的一短弧邊B33及一長弧邊B34，以及互呈一夾角的一前端邊B35及一後端邊B36；該第一檢查區塊B21上的該第一吸溝B211與該第二檢查區塊B22、B23上的該第二吸溝B221在組併時相導通，但與該入料區塊B1上的該入料吸溝B11、該排出區塊B3上的該排料吸溝B31在組併時互不導通；該入料區塊B1上的該入料吸溝B11在後端裕留一段空部位B17，該空部位B17設有一小段與該第二檢查區塊B22上的該第二吸溝B221在組併時導通的第三吸溝B171，並於該第三吸溝B171中設有鏤空的吸孔B1 72。

請參閱圖3、5所示，該測試板C上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽C1，該座槽C1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽C1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽C1可供容納上、下分別各設有電極的一待測元件，例如電容類的電子元件，該待測元件以電極分別位於上、下端方式於圖5中該入料單元D處落置於該座槽C1中。

請參閱圖3、6，該測試板C下表面每一該座槽C1底部各徑向朝外圓周伸設一段凹設的導溝C2，各該導溝C2分別與該承載底盤B的該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31在該測試板C進行間歇旋轉時導通，以由該承載底盤B中該吸孔B12、吸孔B212、吸孔B222、及吸孔B32導入負壓抽真空時，負壓可經由該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31，對各該座槽C1中容置的待測物件(在本實施例中為電容類的電子元件)進行吸附；該測試板C下表面兩行該座槽C1間形成長條凹設區間狀的清潔槽C3，該清潔槽C3臨近每一該座槽C1處形成一朝該座槽C1靠近的擴凸區間C31，所述清潔槽C3用以容納該測試板C下表面長期操作下與該承載底盤B間磨擦所產生的粉屑，以避免阻塞該座槽C1底部孔徑。

請參閱圖7所示，該入料單元D設有呈弧形的一柵架D1，該柵架D1設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板D11，其定義出複數個載料槽道D12(本實施例設有8個)，所述該測試板C上表面同心環狀設置的各列座槽C1分別對應位於各該載料槽道D12中；該柵架D1位於接近該測試板C間歇旋轉流路方向欲進入該柵架D1的入口端D13處的上方設有一入料座D2，該入料座D2上設有下方以一第一軸向X直線排列且分別對應各該載料槽道D12的複數個入料口D21；該入料座D2上方設有一轉向座D3，該轉向座D3設有複數個導溝D31及如所述第一軸向X直線排列並與該複數個入料口D21分別對應的複數個鏤孔狀的漏槽D32，各該導溝D31包括一入料端D33及一排料端D34，各該入料端D33共同併列呈一第二軸向Y直線排列，各該排料端D34分別各與一個該漏槽D32連通，且各入料端D33中分別各設有可由入料端D33朝排料端D34吹出氣體的吹氣管D35；該轉向座D3上方覆設有一導料座D4，該導料座D4在一矩形的輸料槽口D41內設有複數個共同併列呈所述第二軸向Y直線排列並分別對應連通各該導溝D31之該入料端D33的導料道D42；該導料座D4一側設有一覆設該轉向座D3上方的一罩蓋D5，該罩蓋D5設有依該第一軸向X直線排列並與該轉向座D3上複數個鏤孔狀的漏槽D32分別對應的複數個氣孔D51，該罩蓋D5上設有一聯通件D6，該聯通件D6一側設有一氣壓接頭D61，另一底側面D62設有與該氣壓接頭D61連通的導孔D62及複數個以不等長直線狀槽溝與該導孔D62連通的氣溝D63，在該聯通件D6覆蓋於該罩蓋D5上時，每一氣溝D63分別各對應導通該罩蓋D5上的一個氣孔D51；藉此，當待測元件自該導料座D4上該輸料槽口D41的該導料道D42被引導輸入時，該待測元件將經由該轉向座D3的該入料端D33掉至排料端D34，而在該排料端D34的該漏槽D32處，受該聯通件D6上氣壓接頭D61所輸入經該導孔D62、氣溝D63 而由該罩蓋D5上的該氣孔D51噴出的氣體所吹送，而由該漏槽D32落經該入料座D2的該入料口D21，以進入該柵架D1的其中一對應的該載料槽道D12中，並在該測試板C間歇旋轉的流路上隨機掉入對應的該列的該座槽C1的其中之一個；該柵架D1位於該測試板C間歇旋轉流路方向欲離開該柵架D1的出口端D14處設有一吹氣座D7，該吹氣座D7提供氣體對各該載料槽道D12中由該出口端D14向該入口端D13吹送，使各該載料槽道D12中未隨機落入該座槽C1中的待測元件被吹回重新找機會落入該座槽C1；該柵架D1位於該測試板C間歇旋轉流路方向該柵架D1的該入料座D2與該出口端D14間設有一檢測座D8，該檢測座D8設有複數個檢測元件D81分別各對應朝各該載料槽道D12中進行檢測，當所檢測的該載料槽道D12中該待測元件累積到被該檢測元件D81檢測到時，顯示該載料槽道D12中該待測元件過多，系統將控制暫時停止對該導料座D4的該導料座D4供應該待測元件；該柵架D1設有朝靠該測試板C圓心的弧形之內側部D15及朝靠該測試板C圓周外緣的弧形的外側部D16，該柵架D1以該外側部D16固設於圖1中機台台面A1上一固定座A11所樞設的一連接件D9所設的一弧形凹設的固定部D91上，並藉此與該連接件D9連動，使該柵架D1連同該連接件D9可以該固定座D91所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板C表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板C上表面，並藉該連接件D9上一調整件D92以螺紋螺抵方式對該機台台面A1的螺抵鎖固，以固定該柵架D1的定位；該柵架D1與連接件D9的該固定部D91間，藉嵌設適當厚度的墊片D93以調整該柵架D1固設時的高度，保持和該測試板C間適當的間隙，該墊片 D93僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架D1作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變；該連接件D9以相隔間距的二扣樞部D94間相對的內側與該固定部D91兩外端樞設，二扣樞部D94並於兩外端各以一鎖固件D95壓抵一撓性墊圈D951下，藉一螺固件D952螺抵或鬆放，以改變該連接件D9連動該柵架D1作樞轉扳起或置下時扳轉的緊度；該固定座A11相對該連接件D9的另一側於圖1中該機台台面A1上設有一擋靠座D96，該擋靠座D96上方設有一呈傾斜一角度的以撓性體構成的墊件D961，當該連接件D9連動該柵架D1作樞轉扳起時，可反向扳至落靠於該擋靠座D96的該墊件D961處受擋靠，以使整體維持在一敞掀的預設定位。

請參閱圖8所示，該入料單元D的該導料座D4之該輸料槽口D41受該供料單元G供應該待測元件，該供料單元G設有一振動送料機G1，該振動送料機G1設有一供置入待測元件的料斗G11，及對應該測試板C上該座槽C1列數的複數個(本實施例設有八個)相併列成所述第二軸向Y排列供輸送待測元件的輸送道G12，各輸送道G12以一第三軸向Z的方向垂直該輸料槽口D41排列之所述第二軸向Y方式共同伸入該導料座D4之該輸料槽口D41，並分別各受一組振動元件G13(本實施例設有八個)所驅動；該振動送料機G1設於該機台桌面A2上一擺座G2上，該擺座G2上相隔間距設有第一輪體G3及第二輪體G4，該第一輪體G3與該第二輪體G4以一皮帶G5聯結而可相互連動同方向旋轉，該第二輪體G4上方設有一置架G41，該振動送料機G1以一底座G14置於該置架G41上，該底座G14與該置架G41間可作相對旋轉位移，該底座G14上設有一撥桿G141，該置架G41一側的該擺座G2上設有桿狀的一栓件G411可選擇性向下插嵌該機台桌面A2上一定位孔A21。

請參閱圖8、9所示，操作者可握撥該撥桿G141，使整個該振動送料機G1旋擺移離相隔該入料單元D一間距，此時該擺座G2將以該第一輪體G3的輪軸為中心作順時針方向旋轉偏擺，藉由該第一輪體G3與該第二輪體G4相互連動同方向旋轉，該底座G14與該置架G41間將作相對旋轉位移，使該振動送料機G1在位移過程中，各該輸送道G12仍以原對應的該第三軸向Z之方向移出該導料座D4的該輸料槽口D41，而不會隨該擺座G2產生偏擺而撞及該輸料槽口D41側緣，而該振動送料機G1旋擺移離至預設位置後，可操作該栓件G411向下插嵌該定位孔A21，使該擺座G2在一定位被固定；而此項該振動送料機G1可旋擺移離的功能，將有助於操作者能更靠近該入料單元D進行檢修。

本發明實施例的電子元件測試裝置，由於該入料單元D的該柵架D1以一外側部D14固設於一固定座A11所樞設的一連接件D9的一固定部D93上，並與該連接件D9連動，該柵架D1連同該連接件D9可以該固定座A11所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板C表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板C表面；因該墊片D93係設於該柵架D1與連接件D9的該固定部D91間，而非該柵架D1的柵板D11與該測試板間，該墊片D93僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架D1作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變，也不須要再調整該墊片D93的厚薄或數量，使操作上更為便利。

惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。