TWI771074B

TWI771074B - 電子元件測試裝置

Info

Publication number: TWI771074B
Application number: TW110122816A
Authority: TW
Inventors: 盧昱呈; 林芳旭; 曾國軒; 王崇漢
Original assignee: 萬潤科技股份有限公司
Priority date: 2021-06-22
Filing date: 2021-06-22
Publication date: 2022-07-11
Also published as: CN115508631A; TW202300234A

Abstract

本發明提供一種電子元件測試裝置，包括：一機台台面的一承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在周緣外設置一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該排出單元以一導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；該導管板一側設於一掀架，該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，被掀起；藉此使維修便利。

Description

電子元件測試裝置

本發明係有關於一種測試裝置，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試裝置。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的裝置，其以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

該公告號碼第411735號專利申請案的先前技術雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，但該先前技術的該噴出歧管板是以螺固件螺設固定在機台台面上，一旦須進行各噴出歧管的維修，必須逐一拆卸各螺固件，相當麻煩費事，有鑑於此，實有待改進之處。

爰此，本發明之目的，在於提供一種維修便利的電子元件測試裝置。

依據本發明目的之電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；該導管板一側設於一掀架，該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方。

依據本發明目的之另一電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；一座架內供設置該料盒，該座架受樞設，該座架可掀轉至一側，使該機台台面下方靠該排出單元的一側呈現一鏤空的操作區間。

本發明實施例之電子元件測試裝置，由於該導管板一側設於該掀架，該掀架以一端樞設於該收集機構的該座架上方的該樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方，因此操作人員可便於對該排出單元進行檢修。

A:機台

A1:機台台面

A11:定位件

A2:機台桌面

A21:定位孔

A3:機台前側

A31:卡掣件

B:承載底盤

B1:入料區塊

B11:入料吸溝

B12:吸孔

B13:短弧邊

B14:長弧邊

B15:前端邊

B16:後端邊

B17:空部位

B171:第三吸溝

B172:吸孔

B2:檢查區塊

B21:第一檢查區塊

B211:第一吸溝

B212:吸孔

B213:隔肋

B214:軸環

B215:軸孔

B216:短弧邊

B217:長弧邊

B218:前端邊

B219:後端邊

B22:第二檢查區塊

B221:第二吸溝

B222:吸孔

B223:隔肋

B224:軸環

B225:軸孔

B226:短弧邊

B227:長弧邊

B228:前端邊

B229:後端邊

B23:第二檢查區塊

B3:排出區塊

B31:排料吸溝

B32:吸孔

B33:短弧邊

B34:長弧邊

B35:前端邊

B36:後端邊

C:測試板

C1:座槽

C2:導溝

C3:清潔槽

C31:擴凸區間

D:入料單元

E:檢查單元

E1:第一檢查單元

E2:第二檢查單元

E3:第二檢查單元

F:排出單元

F1:導管板

F2:導管

F3:掀架

F31:重疊部位

F32:螺固件

F33:定位槽

F4:連接件

F5:樞桿

F6:彈性件

F7:螺抵件

F8:離子產生器

F81:吹送槽

F9:檢查組件

F91:檢測器

G:供料單元

H:導料架

H1:嵌座

H11:側座

H12:側座

H2:嵌孔

K:收集機構

K1:料盒

K2:座架

K21:樞轉座

K22:角側

K23:樞扣座

K24:拉把

K25:背側部

K26:扣設部

K3:操作區間

K4:背側面

L:徑向軸線

圖1係一種電子元件測試裝置的立體示意圖，用以說明本發明實施例。

圖2係該電子元件測試裝置機台台面上各機構配置示意圖。

圖3係該電子元件測試裝置中承載底盤的示意圖。

圖4係該電子元件測試裝置中各區塊對應各單元的示意圖。

圖5係該電子元件測試裝置中該測試板上表面部份示意圖。

圖6係該電子元件測試裝置中該測試板下表面部份示意圖。

圖7係該電子元件測試裝置中該排出單元與收集機構一側的立體示意圖。

圖8係該電子元件測試裝置中該排出單元與收集機構另一側的立體示意圖。

圖9係該電子元件測試裝置中該掀架被掀至該座架上方及該座架掀轉至一側的立體示意圖。

請參閱圖1、2所示，本發明實施例以用於電容類的的受測元件進行測試的電子元件測試裝置來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜約六十度的一機台台面A1上設有圓盤狀的一金屬材質的承載底盤B，該承載底盤B上設置可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板C，並在該承載底盤B周緣外設置有用以載入受測元件的一入料單元D、用以對受測元件進行測試其特性的一檢查單元E、及用以將完成測試的該受測元件排出收集的一排出單元F，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該受測元件的一供料機構G及用以引導該排出單元F至一收集機構K的一導料架H，在該機台A前側設有容置多個料盒K1的該收集機構K。

請參閱圖2所示，該檢查單元E設有用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元E1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於該測試板C間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1前、後的二個第二檢查單元E2、E3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1後的該第二檢查單元E3可依需要予以省略不設。

請參閱圖3、4所示，該承載底盤B係由複數個分別獨立但可相互對接組併的不同大小扇形的區塊所組構而成，包括與該入料單元D對應的設置的一入料區塊B1，與該檢查單元E對應設置的一檢查區塊B2、及與該排出單元F對應的一排出區塊B3，其中，該檢查區塊B2係由分別獨立但可相互對接組併的一第一檢查區塊B21及二個第二檢查區塊B22、B23所組構而成，其中，該第一檢查區塊B21與該第一檢查單元E1對應設置，二個該第二檢查區塊B22、B23分別與二個該第二檢查單元E2、E3對應設置；該入料區塊B1上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的凹設環弧狀的入料吸溝B11，每一入料吸溝B11中設有沿該入料吸溝B11底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B12；所述吸孔B12可連通負壓源抽真空，使入料吸溝B11內形成負壓之真空狀態；該入料區塊B1包括相互平行的一短弧邊B13及一長弧邊B14，以及互呈一夾角的一前端邊B15及一後端邊B16；該第一檢查區塊B21上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第一吸溝B211，每一第一吸溝B211中設有沿該第一吸溝B211底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B212，徑向直線排列的每二個該第一吸溝B211間對應部位的隔肋B213上，設有多行(本實施例設有16行)相隔間距位於扇形徑向軸線上分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B214，每一軸環B214上設有一軸孔B215；所述吸孔B212可連通負壓源抽真空，使第一吸溝B211內形成負壓之真空狀態；該第一檢查區塊B21包括相互平行的一短弧邊B216及一長弧邊B217，以及互呈一夾角的一前端邊B218及一後端邊B219；該第二檢查區塊B22上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第二吸溝B221，每一第二吸溝B221中設有沿該第二吸溝B221底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B222，徑向直線排列的每二個該第二吸溝B221間對應部位的隔肋B223上僅設有一行分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B224，每一軸環B224上設有一軸孔B225，每一列的該軸環B224共同位於扇形中央的徑向軸線L上；所述吸孔B222可連通負壓源抽真空，使第二吸溝B221內形成負壓之真空狀態；該第二檢查區塊B22包括相互平行的一短弧邊B226及一長弧邊B227，以及互呈一夾角的一前端邊B228及一後端邊B229；該第二檢查區塊B23與該第二檢查區塊B22構造相同，同理可推，茲不贅述；惟當該第二檢查單元E3依前述不需要而省略時，該第二檢查區塊B23上可如圖3所示省略如該第二檢查區塊B22中該軸環B224、軸孔B225；該排出區塊B3上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的排料吸溝B31，每一排料吸溝B31中設有沿該排料吸溝B31底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B32；所述吸孔B32可連通負壓源抽真空，使排料吸溝B31內形成負壓之真空狀態；該排出區塊B3包括相互平行的一短弧邊B33及一長弧邊B34，以及互呈一夾角的一前端邊B35及一後端邊B36；該第一檢查區塊B21上的該第一吸溝B211與該第二檢查區塊B22、B23上的該第二吸溝B221在組併時相導通，但與該入料區塊B1上的該入料吸溝B11、該排出區塊B3上的該排料吸溝B31在組併時互不導通；該入料區塊B1上的該入料吸溝B11在後端裕留一段空部位B17，該空部位B17設有一小段與該第二檢查區塊B22上的該第二吸溝B221在組併時導通的第三吸溝B171，並於該第三吸溝B171中設有鏤空的吸孔B172。

請參閱圖3、5所示，該測試板C上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽C1，該座槽C1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽C1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽C1可供容納上、下分別各設有電極的一受測元件，例如電容類的電子元件，該受測元件以電極分別位於上、下端方式於圖5中該入料單元D處落置於該座槽C1中。

請參閱圖3、6，該測試板C下表面每一該座槽C1底部各徑向朝外圓周伸設一段凹設的導溝C2，各該導溝C2分別與該承載底盤B的該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31在該測試板C進行間歇旋轉時導通，以由該承載底盤B中該吸孔B12、吸孔B212、吸孔B222、及吸孔B32導入負壓抽真空時，負壓可經由該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31，對各該座槽C1中容置的待測物件(在本實施例中為電容類的電子元件)進行吸附；該測試板C下表面兩行該座槽C1間形成長條凹設區間狀的清潔槽C3，該清潔槽C3臨近每一該座槽C1處形成一朝該座槽C1靠近的擴凸區間C31，所述清潔槽C3用以容納該測試板C下表面長期操作下與該承載底盤B間磨擦所產生的粉屑，以避免阻塞該座槽C1底部孔徑。

請參閱圖1、3、7所示，該排出單元F設有一導管板F1，該導管板F1上設有複數個具有撓性的導管F2，每一導管F2分別各以一端對應該測試板C上的一個該座槽C1上方，另一端則牽引經該導料架H而對應導通至該收集機構K的一個料盒K1；該收集機構K設有一矩形框體狀的座架K2，座架K2內供設置該料盒K1，座架K2上方形成該機台桌面A2供設置該導料架H；該導料架H上設有複數列長條狀的嵌座H1，該嵌座H1上設有複數個相隔間距直線排列分別可各供該導管F2嵌設的嵌孔H2，該嵌座H1由分置左、右兩側之可拆卸、組裝的二側座H11、H12共同併置組成。

請參閱圖1、7、8，所示，該排出單元F的該導管板F1一側設於一掀架F3，其中，該掀架F3係藉一連接件F4與該導管板F1連設並連動，該連接件F4與該掀架F3上、下設有一重疊部位F31，並於該重疊部位F31處相隔間距設有二樞桿F5，並在該連接件F4下表面與該掀架F3上表面間設有彈簧構成的彈性件F6(圖中未示)，藉該彈性件F6的頂撐保持了該連接件F4下表面與該掀架F3上表面間的間距，並在該連接件F4上設有一螺抵件F7螺抵至下方的該掀架F3上表面中，藉螺抵件F7的螺抵向下或向上，以調整連接件F4在二樞桿F5的支撐下作上下位移，以連動該導管板F1改變與該測試板C間的間距；該掀架F3設有二螺固件F32可螺至該機台台面A1以固定該掀架F3；該掀架F3並設有鏤空的長槽狀的一定位槽F33，該定位槽F33恰可在該掀架F3落置於該機台台面A1時，正套嵌在該機台台面A1上的一定位件A11上，使該掀架F3獲得定位；該掀架F3以一端樞設於該收集機構 K的該座架K2上方的一樞轉座K21，該座架K2一角側K22上、下分別各受一樞扣座K23樞設，該座架K2一側設有一拉把K24。

請參閱圖8、9，藉拉握該拉把K24，可使該座架K2以該樞扣座K23為支點作掀轉至一側，使機台台面A1下方靠該排出單元F的一側呈現一鏤空的操作區間K3，操作人員可位於該操作區間K3中靠近機台台面A1進行維修；該導管板F1及其上的各導管F2可隨該掀架F3由該機台台面A1往該收集機構K方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元F位於該座架K2上方，並在該座架K2掀轉至一側時，整個該排出單元F將被連動位移轉至一側。

請參閱圖7、9，在該測試板C以順時針方向間歇旋轉進入該排出單元F的該導管板F1下方而欲離開該導管板F1下方處的該導管板F1上，設有一離子產生器F8，並在該離子產生器F8處的該導管板F1下方設有一呈細長槽縫狀並延伸橫跨覆蓋該各測試板C徑向的各列座槽C1的吹送槽F81，該離子產生器F8可產生離子氣體經該吹送槽F81對該測試板C上表面吹送，以避免受測元件因靜電黏附在該測試板C表面；該測試板C以順時針方向間歇旋轉離開該導管板F1後的該導管板F1外設有一檢查組件F9，該檢查組件F9設有分別對應該測試板C上各列座槽C1上方的檢測器F91，用以檢查是否有未被該導管F2或吸附槽F8排除的受測元件；該機台台面A1下方的機台前側A3設有相隔間距分設上、下的可受驅動作水平朝一側伸出或縮回位移的卡掣件A31，該座架K2相對該機台前側A3的一背側部K25設有相隔間距分設上、下的二扣設部K26，該座架K2一側以該樞扣座K23為支軸使另一側相對該機台前側A3作朝靠後，可藉該卡掣件A31受驅動卡嵌入該扣設部K26，而使該座架K2保持在定位，或在欲使該座架K2一側以該樞扣座K23為支軸使另一側相對該機台前側A3作掀啟時，藉該卡掣件A31受驅動縮回並脫離對該扣設部K26卡嵌，而使該座架K2解除定位而可作掀啟。

本發明實施例的電子元件測試裝置，由於該導管板F1一側設於該掀架F3，該掀架F3以一端樞設於該收集機構的該座架K2上方的該樞轉座K21，使該導管板F1及其上的各導管F2可隨該掀架F3由該機台台面A1往該收集機構K方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元F位於該座架K2上方，因此操作人員可便於對該排出單元F進行檢修。

惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。