TWM652543U - 電子元件測試設備 - Google Patents

Abstract

本創作提供一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站；該第一檢查單元的該第一座架係以一框架承載進行檢測的多數個端子匣；該框架一側以一揚昇裝置伸設一撐桿，經該機台台面上一鏤孔，而一端可在該框架被掀啟時頂撐該框架於定位；藉此改善先前技術其中之一操作人員手扶吃力的缺點。

Description

電子元件測試設備

本創作係有關於一種測試設備，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試設備。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的先前技術，其在一真空吸板上設置圓盤狀的一測試板，並在該測試板上以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

該先前技術的端子組成是經由一框架上開設五個鏤空的槽間，再於各槽間中分別各設一端子模組，五個端子模組以及其伴隨的下方端子，可被當作五個分立的測試台使用，由於一般該框架要承受五個端子模組的重量，故該框架通常以金屬材質製成，操作人員在更換不同規格待測元件或檢修時需常掀啟該框架作檢查，其重量常讓操作人員手扶的相當吃力！而待測元件在經過多組端子模組的充電、放電及上、下端子的輥抵或頂壓，其與槽座的鏤孔間常形成擠塞，而導至搬送經過至該噴出歧管處時，仍卡塞在槽座中不易被噴出排放收集；而更換測試板時該噴出歧管板須由操作人員作扳掀，相當不便；且在待測元件規格改變時，該噴出歧管板與測試板間的間隙必須作調整，以防止過大的餘隙令欲經噴出歧管排出的待測元件被噴出至外部，頻繁的調整操作亦相當不便！又，原該噴出孔對該槽座中待測元件噴出的氣壓力量在待測元件規格改變時，可能因待測元件體積、重量變大而氣壓不足以將待測元件噴出至該噴出歧管；諸如此類，先前技術仍有待改善之處！

爰此，本創作之目的，在於提供一種至少改善先前技術一缺點的電子元件測試設備。

依據本創作目的之電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站；該第一檢查單元的該第一座架係以一框架承載進行檢測的多數個端子匣；該框架一側以 一揚昇裝置伸設一撐桿，經該機台台面上一鏤孔，而一端可在該框架被掀啟時頂撐該框架於定位。

依據本創作目的之另一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站；該第一檢查單元的該第一座架係以一框架承載進行檢測的多數個端子匣；在該測試板順時針方向間歇進行旋轉的該第一檢查單元與該排出單元間設有一鬆料單元，該鬆料單元使待測元件自與其所嵌置的該測試板上一座槽鬆動。

依據本創作目的之又一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；該連接件下表面與該掀架上表面間設有一墊件，該墊件的厚度定義一個該連接件連動該導管板定位的距該測試板高度，更換不同厚度的該墊件，可使該導管板定位的距該測試板高度改變。

依據本創作目的之再一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，該座架上設有一固定架，該固定架樞設有一驅動 件，該驅動件以一驅動桿的一端樞設於該掀架，該驅動件驅動該驅動桿作伸縮可連動該掀架帶動該導管板作掀啟或覆靠該測試板。

依據本創作目的之又再一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；該導管板上設有複數個管孔，每一個管孔下方分別各有一段較該管孔孔徑大的下緣孔，該導管板下方設有第一管板，該第一管板上設有複數個位置分別各與該管孔對應的通孔；複數個導接管，該導接管下端形成一往周緣外擴之管緣，該導接管由該導管板底部穿伸出至該導管板上方，而該管緣則嵌抵於該下緣孔中並位於該導管板與第一管板間。

依據本創作目的之又再一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；該導管板上設有複數個管孔，該導管板下方設有第一管板，該第一管板上設有複數個位置分別各與該管孔對應的通孔；複數個導接管，該導接管穿伸出至該導管板上方；該第一管板下方設有一第二管板，其中該第二管板上設有複數個位置分別各與該管孔、該通孔對應的套孔，每一個該套孔上方分別各有一段較該套孔孔徑大的上緣孔；複數個套管，該套管由撓性材質構成，其上端設有一往周緣外擴之套緣，該套管由該第二管板上方穿伸出至該第二管板下方，而該套緣則嵌抵於該上緣孔中並位於該第二管板與第一管板間。

依據本創作目的之又再一電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該測試板可被驅動間歇進行旋轉，並設於一承載底盤上，該承載底盤對應於該排出單元下方，設有提供正壓氣體的吹氣孔；每一吹氣孔分別各以複數個為一組對應上方該測試板的一個座槽。

本創作實施例之電子元件測試設備，藉由以上特徵的創新，可分別各具有以下優點其中之一：該揚昇裝置可在該框架被掀啟時頂撐該框架於定位，一方面佐助掀起該框架的省力，另一方面操作人員可無需隨時扶撐該框架；該刷帶動該刷毛的旋轉柔性撥掃凸出於該測試板上表面的該待測元件凸出部位，使其與其所嵌置的該鏤孔自原塞擠的狀態被鬆動而易於排出；該連接件下表面與該掀架上表面間設有該墊件，更換不同厚度的該墊件，可使該導管板定位的距該測試板高度改變，方便快速確認該導管板定位的高度；該掀架以該驅動件驅動該驅動桿作伸縮可連動該掀架帶動該導管板作掀啟或覆靠該測試板，可方便操作人員以省力方式解決該導管板的掀啟或覆靠操作；該導管板上該導管下端形成一往周緣外擴之管緣，而該管緣則嵌抵於該下緣孔中並位於該導管板與第一管板間，可穩固該導管的定位；該套管由撓性材質構成，並以該套緣嵌抵於該上緣孔中並位於該第二管板與第一管板間，可延長該導長度臨靠該測試板表面，防止待測元件外噴並穩固該套管的定位；該承載底盤對應於該排出單下方的吹氣孔分別各以複數個為一組對應上方該測試板的一個座槽，可藉此應對較重的待測元件規格，有助於待測元件的排出。

A:機台

A1:機台台面

A11:鏤孔

A12:固定座

A121:樞軸

A13:定位件

A131:感測器

B:測試板

B1:座槽

B2:承載底盤

B21:凹設區間

B22:吹氣孔

C:入料單元

D:檢查單元

D1:第一檢查單元

D11:第一座架

D111:框架

D112:端子匣

D113:第一固定座

D114:樞座

D115:第二固定座

D116:揚昇裝置

D117:撐桿

D2:第二檢查單元

D21:第二座架

D3:第三檢查單元

D31:第三座架

E:排出單元

E1:導管板

E11:管孔

E12:下緣孔

E13:第一管板

E14:第二管板

E141:套孔

E142:上緣孔

E15:套管

E151:套緣

E2:導管

E21:導接管

E22:管緣

E3:掀架

E31:重疊部位

E32:定位件

E33:定位槽

E4:連接件

E41:樞孔

E42:鏤孔

E5:樞桿

E6:彈性件

E7:螺抵件

E71:螺栓部

E8:墊件

E81:基準部

E82:定位部

E83:感測孔

F:供料機構

G:導料架

G1:嵌座

G11:側座

G12:側座

G2:嵌孔

H:收集機構

H1:料盒

H2:座架

H21:樞轉座

H3:固定架

H4:驅動件

H41:驅動桿

K:鬆料單元

K1:刷桿

K11:驅動件

K2:刷毛

K3:刷架

K4:座架

K41:滑軌

K42:微調件

K43:握把

N:待測元件

圖1係一種電子元件測試設備的立體示意圖，用以說明本創作實施例；圖2係該電子元件測試設備機台台面上各機構配置示意圖；圖3係該電子元件測試設備中該揚昇裝置伸設的該撐桿頂撐該第一檢查單元的該第一座架之框架的示意圖；圖4係該電子元件測試設備中該鬆料單元對應該測試板之立體示意圖；圖5係該電子元件測試設備中該鬆料單元的座架掀啟之示意圖；圖6係該電子元件測試設備中該鬆料單元的該刷桿帶動該刷毛的旋轉方向與該測試板的間歇旋轉位移方向在雙方交接處相同，以在該交接處使該待測元件位移鬆動之示意圖；圖7係該電子元件測試設備中該排出單元、收集機構、及導料架G與該測試板之配置關係的示意圖；圖8係該電子元件測試設備中該排出單元的機構示意圖；圖9係該電子元件測試設備中該排出單元中該墊件分解出時之的機構立體分解示意圖；圖10係該電子元件測試設備中該排出單元中該墊件組立時之的機構立體分解示意圖；圖11係該電子元件測試設備中該排出單元中該套管、導接管與第一管板、第二管板的立體分解示意圖；圖12係該電子元件測試設備中該測試板與該承載底盤的立體分解示意圖；圖13係該電子元件測試設備中該承載底盤上吹氣孔的立體放大示意圖。

請參閱圖1、2所示，本創作實施例以用於電容類的的待測元件進行測試的電子元件測試設備來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜的一機台台面A1上表面設有圓盤狀的一可 被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板B，並在該測試板B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元C、用以對待測元件進行測試其特性的一檢查單元D、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元E，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料機構F及用以引導該排出單元E至一收集機構H的一導料架G，該收集機構H在該機台A前側設有容置多個料盒H1。

請參閱圖2所示，該檢查單元D設有用以進行電容之耐壓及絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元D1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於該測試板B間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1前、後的第二檢查單元D2及第三檢查單元D3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1後的該第三檢查單元D3可依需要予以省略不設。

該第一檢查單元D1設有可作上下掀啟的一第一座架D11，該第二檢查單元D2設有一第二座架D21，該第三檢查單元D3設有一第三座架D31上；該第一座架D11、第二座架D21及第三座架D31互相間隔一間距並不互相連動。

請參閱圖2、3，該第一檢查單元D1的該第一座架D11係以一金屬材質製成的框架D111承載形成弧形排列進行檢測的多數個端子匣D112；該框架D111一側以一第一固定座D113樞設可作弧形擺動的一樞座D114，並在傾斜的該機台台面A1下表面固設有一第二固定座D115，該第二固定座D115樞設例如氣壓缸、油壓缸或揚昇棒的一揚昇裝置D116，其伸設一撐桿D117，經該機台台面A1上一鏤孔A11，而一端連結與該樞座D114，可在該框架D111被掀啟時頂撐該框架D111於定位，一方面佐助掀起該框架D111的省力，另一方面操作人員可無需隨時扶撐該框架D111。

請參閱圖2、4~6，在該測試板B順時針方向間歇進行旋轉的該第一檢查單元D1與該排出單元E間(在設有該第三檢查單元D3時，則以位於該第三檢查單元D3與該排出單元E間)設有一鬆料單元K，該鬆料單元K設有與該測試板B表面平行並徑向伸設於環狀的各列座槽間上方的刷桿K1，該刷桿K1受一驅動件K11驅動可作旋轉，其設有徑向朝外伸設的撓性材質之刷毛K2，該刷毛K2成撮以四列軸向並等間距保持相隔九十度角環設於該刷桿K1圓桿狀外周緣；該刷桿K1以兩端樞設於一刷架K3，該刷架K3設於一座架K4上所設的立設滑軌K41上，可受一微調件K42的微調作連動該刷桿K1上之刷毛K2上下位移的驅動，該座架K4樞設於該機台台面A1上該測試板B圓周外一固定座A12的一樞軸A121，其上設有一握把K43，可藉以操作該座架K4連動該刷架K3、該刷毛K2如圖4懸跨於該測試板B表面上方，或如圖5所示掀啟於該測試板B圓周外的該固定座A12上方；如圖6所示，由於該待測元件N在測試檢查時經由上方端子輥壓後擠過程後，該待測元件N會偏塞擠靠該座槽B1的後側，故採用該刷桿K1帶動該刷毛K2的旋轉方向與該測試板B的間歇旋轉位移方向在雙方交接處相同，以在該交接處令撓性材質之刷毛K2柔性撥掃凸出於該測試板B上表面的該待測元件N凸出部位，使其與其所嵌置的該座槽B1後側朝前撥移，以自原塞擠朝靠該座槽B1後側的狀態被往前側位移鬆動；而在對應該刷桿K1下方的一承載底盤B2上設有對應於被進行鬆動的該待測元件N下方凹穴狀的一凹設區間B21，其提供佐助該待測元件N被撥掃時的鬆動餘裕空間，該凹設區間B21可配合參閱如圖12中所示呈徑向輻射性延伸多列該待測元件N移送的路徑。

請參閱圖7，該排出單元E設有一導管板E1，該導管板E1上設有複數個撓性材質構成的導管E2(圖中僅以一個作假想線示意)，每一導管 E2分別各以一端對應該測試板B上的一個該座槽B1上方，另一端則牽引經該導料架G而對應導通至該收集機構H的一個料盒H1；該收集機構H設有一矩形框體狀的座架H2，座架H2內供設置該料盒H1，座架H2上方形成該機台桌面A2供設置該導料架G；該導料架G上設有複數列長條狀的嵌座G1，該嵌座G1上設有複數個相隔間距直線排列分別可各供該導管E2嵌設的嵌孔G2，該嵌座G1由分置左、右兩側之可拆卸、組裝的二側座G11、G12共同併置組成。

請參閱圖8~10，該排出單元E的該導管板E1一側設於一掀架E3，其中，該掀架E3係藉一連接件E4與該導管板E1連設並連動，該連接件E4上設有二個樞孔E41並與該掀架E3上、下設有一重疊部位E31，並於該重疊部位E31處的該掀架E3上相隔間距設有二樞桿E5對應並樞經該連接件E4上的二個該樞孔E41；在該連接件E4下表面與該掀架E3上表面間的二個該樞桿E5間設有二個彈簧構成的彈性件E6，藉該彈性件E6的頂撐保持了該連接件E4下表面與該掀架E3上表面間的間距，並設有一螺抵件E7以一螺栓部E71經該連接件E4上一鏤孔E42螺抵至下方的該掀架E3上表面中，藉螺抵件E7的螺抵向下或向上，以調整連接件E4在二樞桿E5的支撐下作上下位移連動該導管板E1改變與該測試板B間的間距；另，在該連接件E4下表面與該掀架E3上表面間的二個該樞桿E5間設有一墊件E8，該墊件E8的厚度定義一個該連接件E4連動該導管板E1定位的距該測試板B高度，更換不同厚度的該墊件E8，可使該導管板E1定位的距圖7中該測試板B高度改變，每一個該墊件E8各有一個位於一側中央部位缺口深度較深的基準部E81及一個位於該基準部E81鄰側缺口深度較淺的定位部E82，其中該基準部E81的缺口恰對應嵌扣於該螺抵件E7的螺栓部E71，該定位部E82的缺口恰對應嵌扣於該掀架E3上表面的一桿狀的定位件 E32，該墊件E8上設有的一個感測孔E83，每一個不同厚度的該墊件E8上感測孔E83位置皆不同，但均位於同一直線相隔間距設置；該掀架E3並設有鏤空的長槽狀的一定位槽E33，該定位槽E33恰可在該掀架E3落置於該機台台面A1時，正套嵌在該機台台面A1上的一定位件A13上，使該掀架E3獲得定位；該定位件A13上設有相隔間距排列成一直線的複數個感測器A131，每一個該墊件E8上的該感測孔E83僅對應一個該感測器A131，藉此以分別測知操作人員置放於該連接件E4下表面與該掀架E3上表面間的該墊件E8係屬何種等級厚度的規格以作識別；該掀架E3以一端樞設於該收集機構H的該座架H2上方的一樞轉座H21，該座架H2上設有一固定架H3，該固定架H3樞設有一氣壓缸構成的驅動件H4，該驅動件H4以一驅動桿H41的一端樞設於該掀架E3上一鏤孔E34的內部兩側，該驅動件H4驅動該驅動桿H41作伸縮可連動該掀架E3帶動該導管板E1作掀啟或覆靠該測試板B。

請參閱圖11，該導管板E1上設有複數個管孔E11，每一個管孔E11下方分別各有一段較該管孔E11孔徑大的下緣孔E12，該導管板E1下方設有第一管板E13，該第一管板E13下方設有一第二管板E14，其中該第一管板E13上設有複數個位置分別各與該管孔E11對應的通孔E131，該第二管板E14上設有複數個位置分別各與該管孔E11、該通孔E131對應的套孔E141，每一個該套孔E141上方分別各有一段較該套孔E141孔徑大的上緣孔E142；複數個由金屬材質製成的導接管E21，該導接管E21下端形成一往周緣外擴之管緣E22，該導接管E21由該導管板E1底部穿伸出至該導管板E1上方，而該管緣E22則嵌抵於該下緣孔E12中並位於該導管板E1與第一管板E13間，該導接管E21上端供連接圖7中該導管E2；複數個套管E15，該套管E15由撓性材質構成，其上端設有一往周緣外擴之套緣E151，該套 管E15由該第二管板E14上方穿伸出至該第二管板E14下方，而該套緣E151則嵌抵於該上緣孔E142中並位於該第二管板E14與第一管板E13間。

請參閱圖2、12、13，該測試板B可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉，並設於圓盤狀的該承載底盤B2上，該承載底盤B2係由多個扇形的區塊可拆卸地組合而成一圓環狀，其中，對應於該排出單元E下方的該承載底盤B2設有提供正壓氣體的吹氣孔B22，該吹氣孔B22分別各以複數個(本實施例為二個)為一組對應上方該測試板B的一個座槽B1，該複數個吹氣孔B22以沿弧形的搬送流路方向間隔排列，在一個對應待測元件大小形狀的需求下，該複數個吹氣孔B22也可以採沿垂直弧形的搬送流路方向作間隔排列。

本創作實施例的電子元件測試設備，藉由以上特徵的創新，可分別各具有以下優點其中之一：該揚昇裝置D116可在該框架D111被掀啟時頂撐該框架D111於定位，一方面佐助掀起該框架D111的省力，另一方面操作人員可無需隨時扶撐該框架D111；該刷桿K1帶動該刷毛K2的旋轉柔性撥掃凸出於該測試板B上表面的該待測元件N凸出部位，使其與其所嵌置的該座槽B1自原塞擠的狀態被鬆動而易於排出；該連接件E4下表面與該掀架E3上表面間設有該墊件E8，更換不同厚度的該墊件E8，可使該導管板E1定位的距該測試板B高度改變，方便快速確認該導管板E1定位的高度；該掀架E3以該驅動件H4驅動該驅動桿作伸縮可連動該掀架E3帶動該導管板E1作掀啟或覆靠該測試板B，可方便操作人員以省力方式解決該導管板E1的掀啟或覆靠操作；該導管板E1上該導接管E21下端形成一往周緣外擴之管緣E22，而該管緣E22則嵌抵於該下緣孔E12中並位於該導管板E1與第一管板E13間，可穩固該導接管E21的定位；該套管E15由撓性材質構成，並以該套緣E151嵌抵於該上緣孔E142中並位於該第二管板E14與第一管 板E13間，可延長該導接管E21長度臨靠該測試板B表面，防止待測元件外噴並穩固該套管E15的定位；該承載底盤對應於該排出單E下方的吹氣孔B22分別各以複數個為一組對應上方該測試板B的一個座槽B1，可藉此應對較重的待測元件規格，有助於待測元件的排出。

惟以上所述者，僅為本創作之實施例而已，當不能以此限定本創作實施之範圍，凡是依本創作申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本創作專利涵蓋之範圍內。

A1:機台台面

A11:鏤孔

B:測試板

B1:座槽

C:入料單元

D:檢查單元

D1:第一檢查單元

D11:第一座架

D111:框架

D112:端子匣

D113:第一固定座

D2:第二檢查單元

D21:第二座架

D3:第三檢查單元

D31:第三座架

E:排出單元

G:導料架

K:鬆料單元

Claims (19)

1. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站；該第一檢查單元的該第一座架係以一框架承載進行檢測的多數個端子匣；其特徵在於：該框架一側以一揚昇裝置伸設一撐桿，經該機台台面上一鏤孔，而一端可在該框架被掀啟時頂撐該框架於定位。
2. 如請求項1所述電子元件測試設備，其中，該框架一側以一第一固定座樞設可作弧形擺動的一樞座，並在該機台台面下表面固設有一第二固定座，該第二固定座樞設該揚昇裝置，該撐桿一端連結該樞座。
3. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站；該第一檢查單元的該第一座架係以一框架承載進行檢測的多數個端子匣；其特徵在於： 在該測試板順時針方向間歇進行旋轉的該第一檢查單元與該排出單元間設有一鬆料單元，該鬆料單元使待測元件自與其所嵌置的該測試板上一座槽鬆動。
4. 如請求項3所述電子元件測試設備，其中，該鬆料單元設有一刷桿，該刷桿受一驅動件驅動可作旋轉，其設有撓性材質之刷毛。
5. 如請求項4所述電子元件測試設備，其中，該刷毛成撮以四列軸向並等間距保持相隔九十度角環設於該刷桿圓桿狀外周緣，該刷毛徑向朝外伸設。
6. 如請求項4所述電子元件測試設備，其中，該刷桿與該測試板表面平行並徑向伸設於環狀的各列座槽間上方。
7. 如請求項4所述電子元件測試設備，其中，該刷桿以兩端樞設於一刷架，該刷架設於一座架上所設的立設滑軌上，可受一微調件的微調作連動該刷桿上之刷毛上下位移的驅動。
8. 如請求項7所述電子元件測試設備，其中，該座架樞設於該機台台面上該測試板圓周外一固定座的一樞軸，其上設有一握把，可藉以操作該座架連動該刷架、該刷毛懸跨於該測試板表面上方，或掀啟於該測試板圓周外的該固定座上方。
9. 如請求項4所述電子元件測試設備，其中，該刷桿帶動該刷毛的旋轉方向與該測試板的間歇旋轉位移方向在雙方交接處相同。
10. 如請求項3所述電子元件測試設備，其中，在一承載底盤上設有對應於被進行鬆動的該待測元件下方的一凹設區間。
11. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面； 一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；其特徵在於：該連接件下表面與該掀架上表面間設有一墊件，該墊件的厚度定義一個該連接件連動該導管板定位的距該測試板高度，更換不同厚度的該墊件，可使該導管板定位的距該測試板高度改變。
12. 如請求項11所述電子元件測試設備，其中，該墊件設有一個位於一側缺口深度較深的基準部及一個位於該基準部鄰側缺口深度較淺的定位部，其中該基準部的缺口恰對應嵌扣於一螺抵件的一螺栓部，該定位部的缺口恰對應嵌扣於該掀架上表面的一定位件。
13. 如請求項11所述電子元件測試設備，其中，該墊件設有一個感測孔，每一個不同厚度的該墊件上感測孔位置皆不同，但均位於同一直線相隔間距設置；該掀架並設有一定位槽，該定位槽恰可在該掀架落置於該機台台面時，正套嵌在該機台台面上的一定位件上；該定位件上設有相隔間距排列成一直線的複數個感測器，每一個該墊件上的該感測孔僅對應一個該感測器。
14. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；其特徵在於： 該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，該座架上設有一固定架，該固定架樞設有一驅動件，該驅動件以一驅動桿的一端樞設於該掀架，該驅動件驅動該驅動桿作伸縮可連動該掀架帶動該導管板作掀啟或覆靠該測試板。
15. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；其特徵在於：該導管板上設有複數個管孔，每一個管孔下方分別各有一段較該管孔孔徑大的下緣孔，該導管板下方設有第一管板，該第一管板上設有複數個位置分別各與該管孔對應的通孔；複數個導接管，該導接管下端形成一往周緣外擴之管緣，該導接管由該導管板底部穿伸出至該導管板上方，而該管緣則嵌抵於該下緣孔中並位於該導管板與第一管板間。
16. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該排出單元的一導管板一側設於一掀架，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動；其特徵在於： 該導管板上設有複數個管孔，該導管板下方設有第一管板，該第一管板上設有複數個位置分別各與該管孔對應的通孔；複數個導接管，該導接管穿伸出至該導管板上方；該第一管板下方設有一第二管板，其中該第二管板上設有複數個位置分別各與該管孔、該通孔對應的套孔，每一個該套孔上方分別各有一段較該套孔孔徑大的上緣孔；複數個套管，該套管由撓性材質構成，其上端設有一往周緣外擴之套緣，該套管由該第二管板上方穿伸出至該第二管板下方，而該套緣則嵌抵於該上緣孔中並位於該第二管板與第一管板間。
17. 一種電子元件測試設備，設有：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該測試板可被驅動間歇進行旋轉，並設於一承載底盤上，該承載底盤對應於該排出單元下方，設有提供正壓氣體的吹氣孔；其特徵在於：每一吹氣孔分別各以複數個為一組對應上方該測試板的一個座槽。
18. 如請求項17所述電子元件測試設備，其中，該複數個吹氣孔以沿弧形的搬送流路方向間隔排列。
19. 如請求項17所述電子元件測試設備，其中，該複數個吹氣孔採沿垂直弧形的搬送流路方向作間隔排列。

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