TWM631392U - 電子元件測試裝置 - Google Patents

Abstract

本創作提供一種電子元件測試裝置，設有：一承載底盤設於一機台台面，該承載底盤上設一測試板，該承載底盤周緣外設一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該入料單元設有柵架以一軸心為支點可作樞轉扳起或置下；該第一下端子匣設有複數個第一探針；該排出單元以一導管板一側設於一掀架，該掀架樞設於一座架上的一樞轉座，該導管板及其上導管可被掀起。

Description

電子元件測試裝置

本創作係有關於一種測試裝置，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試裝置。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的設備，其以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

該公告號碼第411735號專利申請案的先前技術雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，該先前技術的入料是經由一具有複數個坐入柵板的弧形載入架，該載入架以旋擺方式移入至測試板上方，並以振動 送料機經一開口漏斗自該載入架上方(依間歇旋轉流路方向為先後為前、後，則為後方出口處)入料；由於該載入架旋擺移入至測試板上方時為設定其與該測試板間的間距，每次擺入必須在坐入柵板底部與該測試板間以金屬薄片墊設隔開，一旦該載入架旋擺移出該測試板，所作的間距設定就會失去，必須耗費工時重作設定，相當麻煩！另，該先前技術的該噴出歧管板是以螺固件螺設固定在機台台面上，一旦須進行各噴出歧管的維修，必須逐一拆卸各螺固件，相當麻煩費事，有鑑於此，實有待改進之處。

爰此，本創作之目的，在於提供一種具有改善先前技術至少一缺失的電子元件測試裝置。

依據本創作目的之電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該入料單元設有呈弧形的一柵架，該柵架設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板，其定義出複數個載料槽道；該柵架以一外側部固設於一固定座所樞設的一連接件的一固定部上，並與該連接件連動，該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面。

依據本創作目的之另一電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的 一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；該導管板一側設於一掀架，該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方。

依據本創作目的之又一電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；一座架內供設置該料盒，該座架受樞設，該座架可掀轉至一側，使該機台台面下方靠該排出單元的一側呈現一鏤空的操作區間。

本創作實施例之電子元件測試裝置，由於該入料單元的該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面，該墊片僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變，也不須要再調整該墊片的厚薄或數量，使操作上更為便利；該掀架以一端樞設於該收集機構的該座架上方的該樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方，因此操作人員可便於對該排出單元進行檢修。

A:機台

A1:機台台面

A11:固定座

A12:定位件

A2:機台桌面

A21:定位孔

B:承載底盤

B1:入料區塊

B11:入料吸溝

B12:吸孔

B13:短弧邊

B14:長弧邊

B15:前端邊

B16:後端邊

B17:空部位

B171:第三吸溝

B172:吸孔

B2:檢查區塊

B21:第一檢查區塊

B211:第一吸溝

B212:吸孔

B213:隔肋

B214:軸環

B215:軸孔

B216:短弧邊

B217:長弧邊

B218:前端邊

B219:後端邊

B22:第二檢查區塊

B221:第二吸溝

B222:吸孔

B223:隔肋

B224:軸環

B225:軸孔

B226:短弧邊

B227:長弧邊

B228:前端邊

B229:後端邊

B23:第二檢查區塊

B3:排出區塊

B31:排料吸溝

B32:吸孔

B33:短弧邊

B34:長弧邊

B35:前端邊

B36:後端邊

C:測試板

C1:座槽

C2:導溝

C3:清潔槽

C31:擴凸區間

D:入料單元

D1:柵架

D11:柵板

D12:載料槽道

D13:入口端

D14:出口端

D15:內側部

D16:外側部

D2:入料座

D21:入料口

D3:轉向座

D31:導溝

D32:漏槽

D33:入料端

D34:排料端

D35:吹氣管

D4:導料座

D41:輸料槽口

D42:導料道

D5:罩蓋

D51:氣孔

D6:聯通件

D61:氣壓接頭

D62:導孔

D63:氣溝

D7:吹氣座

D8:檢測座

D81:檢測元件

D9:連接件

D91:固定部

D92:調整件

D93:墊片

D94:扣樞部

D95:鎖固件

D951:撓性墊圈

D952:螺固件

D96:擋靠座

D961:墊件

E:檢查單元

E1:第一檢查單元

E11:第一座架

E111:固定座

E1111:固定部

E1112:滑座

E1113:調整件

E112:支撐座

E1121:軌座

E1122:滑動部

E1123:支撐部

E1124:彈性件

E1125:調整件

E1126:桿部

E1127:樞接部

E113:掀架

E1131:迴讓區間

E1132:扶靠部

E1133:螺固件

E1134:嵌孔

E1135:擋孔

E1136:墊件

E12:第一上端子匣

E121:匣蓋

E1211:固定蓋座

E1212:活動蓋座

E122:上匣座

E1221:連接座

E1222:上端子座

E123:第一上端子組件

E1231:第一上端子

E1232:上端子座

E1233:彈性件

E1234:導電片

E1235:轉接部

E1236:連接件

E1237:電纜線

E13:第一下端子匣

E131:探針座

E132:下匣座

E133:第一探針

E134:電纜線

E135:第一電極

E2:第二檢查單元

E21:第二座架

E211:底座

E2111:插銷

E212:掀座

E2121:定位孔

E2122:握把

E2123:螺固件

E2124:台座

E2125:第一微調座

E2126:第二微調座

E2127:固定架

E2128:第三微調座

E2129:微調轉鈕

E22:第二上端子匣

E221:底板

E222:MOSFET電路

E223:端子座

E224:第二上端子組件

E2241:第二上端子

E2242:上端子座

E2243:擋件

E2244:彈性件

E2245:導電片

E2246:轉接部

E2247:電纜線

E23:第二下端子匣

E231:底板

E232:MOSFET電路

E233:探針座

E234:第二探針

E235:第二電極

E2351:電極部

E2352:螺紋部

E2353:調整部

E236:電極座

E2361:微調孔

E3:第二檢查單元

F:排出單元

F1:導管板

F2:導管

F3:掀架

F31:重疊部位

F32:螺固件

F33:定位槽

F4:連接件

F5:樞桿

F6:彈性件

F7:螺抵件

F8:離子產生器

F81:吹送槽

F9:檢查組件

F91:檢測器

G:供料單元

G1:振動送料機

G11:料斗

G12:輸送道

G13:振動元件

G14:底座

G141:撥桿

G2:擺座

G3:第一輪體

G4:第二輪體

G41:置架

G411:栓件

H:導料架

H1:嵌座

H11:側座

H12:側座

H2:嵌孔

K:收集機構

K1:料盒

K2:座架

K21:樞轉座

K22:角側

K23:樞扣座

K24:拉把

K25:背側部

K26:扣設部

K3:操作區間

K4:背側面

L:徑向軸線

圖1係一種電子元件測試裝置的立體示意圖，用以說明本創作實施例。

圖2係該電子元件測試裝置機台台面上各機構配置示意圖。

圖3係該電子元件測試裝置中承載底盤的示意圖。

圖4係該電子元件測試裝置中各區塊對應各單元的示意圖。

圖5係該電子元件測試裝置中該測試板上表面部份示意圖。

圖6係該電子元件測試裝置中該測試板下表面部份示意圖。

圖7係該電子元件測試裝置中該入料單元的立體分解與該測試板對應關係示意圖。

圖8係該電子元件測試裝置中該入料單元與該測試板、供料裝置的對應關係示意圖。

圖9係該電子元件測試裝置中該供料裝置自該入料單元旋擺位移的示意圖。

圖10係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元位於測試板間歇旋轉流路的位置關係示意圖。

圖11係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元一側面的對應關係示意圖。

圖12係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中該掀架掀起的示意圖。

圖13係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中複數個該第一上端子組件及複數個該第一探針的配置關係示意圖。

圖14係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中複數個該第一上端子組件及複數個該第一探針的配置關係的部份放大示意圖。

圖15係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第一檢查區塊與一列第一電極的部份立體分解示意圖。

圖16係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元位於測試板間歇旋轉流路的位置關係示意圖。

圖17係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元中複數個該第二上端子組件及複數個該第二探針的配置關係示意圖。

圖18係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元中複數個該第二上端子組件及複數個該第二探針的配置關係的部份放大示意圖。

圖19係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第二檢查區塊與第二電極的立體分解示意圖。

圖20係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第二檢查區塊的底部示意圖。

圖21係該電子元件測試裝置中該排出單元與收集機構一側的立體示意圖。

圖22係該電子元件測試裝置中該排出單元與收集機構另一側的立體示意圖。

圖23係該電子元件測試裝置中該掀架被掀至該座架上方及該座架掀轉至一側的立體示意圖。

請參閱圖1、2所示，本創作實施例以用於電容類的的待測元件進行測試的電子元件測試裝置來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜約六十度的一機台台面A1上設有圓盤狀的一金屬材質的承載底盤B，該承載底盤B上設置可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板C，並在該承載底盤B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元D、用以對待測元件進行測試其特性的一檢查單元E、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元F，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料機構G及用以引導該排出單元F至一收集機構K的一導料架H，在該機台A前側設有容置多個料盒K1的該收集機構K。

請參閱圖2所示，該檢查單元E包括用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元E1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1前、後的二個第二檢查單元E2、E3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1後的該第二檢查單元E3可依需要予以省略不設。

請參閱圖3、4所示，該承載底盤B係由複數個分別獨立但可相互對接組併的不同大小扇形的區塊所組構而成，包括與該入料單元D對應的設置的一入料區塊B1，與該檢查單元E對應設置的一檢查區塊B2、及與該排出單元F對應的一排出區塊B3，其中，該檢查區塊B2係由分別獨立但可相互對接組併的一第一檢查區塊B21及二個第二檢查區塊B22、B23所組構而成，其中，該第一檢查區塊B21與該第一檢查單元E1對應設置，二個該第二檢查區塊B22、B23分別與二個該第二檢查單元E2、E3對應設置；該入料區塊B1上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的凹設環弧狀的入料吸溝B11，每一入料吸溝B11中設有沿該入料吸溝B11底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B12；所述吸孔B12可連通負壓源抽真空，使入料吸溝B11內形成負壓之真空狀態；該入料區塊B1包括相互平行的一短弧邊B13及一長弧邊B14，以及互呈一夾角的一前端邊B15及一後端邊B16；該第一檢查區塊B21上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第一吸溝B211，每一第一吸溝B211中設有沿該第一吸溝B211底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B212，徑向直線排列的每二個該第一吸溝B211間對應部位的隔肋B213上，設有多行(本實施例設有16行)相隔間距位於扇形徑向軸線上分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B214，每一軸環B214上設有一軸孔B215；所述吸孔B212可連通負壓源 抽真空，使第一吸溝B211內形成負壓之真空狀態；該第一檢查區塊B21包括相互平行的一短弧邊B216及一長弧邊B217，以及互呈一夾角的一前端邊B218及一後端邊B219；該第二檢查區塊B22上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第二吸溝B221，每一第二吸溝B221中設有沿該第二吸溝B221底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B222，徑向直線排列的每二個該第二吸溝B221間對應部位的隔肋B223上僅設有一行分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B224，每一軸環B224上設有一軸孔B225，每一列的該軸環B224共同位於扇形中央的徑向軸線L上；所述吸孔B222可連通負壓源抽真空，使第二吸溝B221內形成負壓之真空狀態；該第二檢查區塊B22包括相互平行的一短弧邊B226及一長弧邊B227，以及互呈一夾角的一前端邊B228及一後端邊B229；該第二檢查區塊B23與該第二檢查區塊B22構造相同，同理可推，茲不贅述；惟當該第二檢查單元E3依前述不需要而省略時，該第二檢查區塊B23上可如圖3所示省略如該第二檢查區塊B22中該軸環B224、軸孔B225；該排出區塊B3上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的排料吸溝B31，每一排料吸溝B31中設有沿該排料吸溝B31底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B32；所述吸孔B32可連通負壓源抽真空，使排料吸溝B31內形成負壓之真空狀態；該排出區塊B3包括相互平行的一短弧邊B33及一長弧邊B34，以及互呈一夾角的一前端邊B35及一後端邊B36；該第一檢查區塊B21上的該第一吸溝B211與該第二檢查區塊B22、B23上的該第二吸溝B221在組併時相導通，但與該入料區塊B1上的該入料吸溝B11、該排出區塊B3上的該排料吸溝B31在組併時互不導通；該入料區塊 B1上的該入料吸溝B11在後端裕留一段空部位B17，該空部位B17設有一小段與該第二檢查區塊B22上的該第二吸溝B221在組併時導通的第三吸溝B171，並於該第三吸溝B171中設有鏤空的吸孔B1 72。

請參閱圖3、5所示，該測試板C上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽C1，該座槽C1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽C1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽C1可供容納上、下分別各設有電極的一待測元件，例如電容類的電子元件，該待測元件以電極分別位於上、下端方式於圖5中該入料單元D處落置於該座槽C1中。

請參閱圖3、6，該測試板C下表面每一該座槽C1底部各徑向朝外圓周伸設一段凹設的導溝C2，各該導溝C2分別與該承載底盤B的該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31在該測試板C進行間歇旋轉時導通，以由該承載底盤B中該吸孔B12、吸孔B212、吸孔B222、及吸孔B32導入負壓抽真空時，負壓可經由該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31，對各該座槽C1中容置的待測物件(在本實施例中為電容類的電子元件)進行吸附；該測試板C下表面兩行該座槽C1間形成長條凹設區間狀的清潔槽C3，該清潔槽C3臨近每一該座槽C1處形成一朝該座槽C1靠近的擴凸區間C31，所述清潔槽C3用以容納該測試板C下表面長期操作下與該承載底盤B間磨擦所產生的粉屑，以避免阻塞該座槽C1底部孔徑。

請參閱圖7所示，該入料單元D設有呈弧形的一柵架D1，該柵架D1設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板D11，其定義出複數個載料槽道D12(本實施例設有8個)，所述該測試板C上表面同心環狀設置的各列座槽C1分別對應位於各該載料槽道D12中；該柵架D1位於 接近該測試板C間歇旋轉流路方向欲進入該柵架D1的入口端D13處的上方設有一入料座D2，該入料座D2上設有下方以一第一軸向X直線排列且分別對應各該載料槽道D12的複數個入料口D21；該入料座D2上方設有一轉向座D3，該轉向座D3設有複數個導溝D31及如所述第一軸向X直線排列並與該複數個入料口D21分別對應的複數個鏤孔狀的漏槽D32，各該導溝D31包括一入料端D33及一排料端D34，各該入料端D33共同併列呈一第二軸向Y直線排列，各該排料端D34分別各與一個該漏槽D32連通，且各入料端D33中分別各設有可由入料端D33朝排料端D34吹出氣體的吹氣管D35；該轉向座D3上方覆設有一導料座D4，該導料座D4在一矩形的輸料槽口D41內設有複數個共同併列呈所述第二軸向Y直線排列並分別對應連通各該導溝D31之該入料端D33的導料道D42；該導料座D4一側設有一覆設該轉向座D3上方的一罩蓋D5，該罩蓋D5設有依該第一軸向X直線排列並與該轉向座D3上複數個鏤孔狀的漏槽D32分別對應的複數個氣孔D51，該罩蓋D5上設有一聯通件D6，該聯通件D6一側設有一氣壓接頭D61，另一底側面設有與該氣壓接頭D61連通的導孔D62及複數個以不等長直線狀槽溝與該導孔D62連通的氣溝D63，在該聯通件D6覆蓋於該罩蓋D5上時，每一氣溝D63分別各對應導通該罩蓋D5上的一個氣孔D51；藉此，當待測元件自該導料座D4上該輸料槽口D41的該導料道D42被引導輸入時，該待測元件將經由該轉向座D3的該入料端D33掉至排料端D34，而在該排料端D34的該漏槽D32處，受該聯通件D6上氣壓接頭D61所輸入經該導孔D62、氣溝D63而由該罩蓋D5上的該氣孔D51噴出的氣體所吹送，而由該漏槽D32落經該入料座D2的該入料口D21，以進入該柵架D1的其中一對應的該載料槽道D12中，並在該測試板C間歇旋轉的流路上隨機掉入對應的該列的該座槽C1的其中之一個； 該柵架D1位於該測試板C間歇旋轉流路方向欲離開該柵架D1的出口端D14處設有一吹氣座D7，該吹氣座D7提供氣體對各該載料槽道D12中由該出口端D14向該入口端D13吹送，使各該載料槽道D12中未隨機落入該座槽C1中的待測元件被吹回重新找機會落入該座槽C1；該柵架D1位於該測試板C間歇旋轉流路方向該柵架D1的該入料座D2與該出口端D14間設有一檢測座D8，該檢測座D8設有複數個檢測元件D81分別各對應朝各該載料槽道D12中進行檢測，當所檢測的該載料槽道D12中該待測元件累積到被該檢測元件D81檢測到時，顯示該載料槽道D12中該待測元件過多，系統將控制暫時停止對該導料座D4的該導料座D4供應該待測元件；該柵架D1設有朝靠該測試板C圓心的弧形之內側部D15及朝靠該測試板C圓周外緣的弧形的外側部D16，該柵架D1以該外側部D16固設於圖1中機台台面A1上一固定座A11所樞設的一連接件D9所設的一弧形凹設的固定部D91上，並藉此與該連接件D9連動，使該柵架D1連同該連接件D9可以該固定部D91所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板C表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板C上表面，並藉該連接件D9上一調整件D92以螺紋螺抵方式對該機台台面A1的螺抵鎖固，以固定該柵架D1的定位；該柵架D1與連接件D9的該固定部D91間，藉嵌設適當厚度的墊片D93以調整該柵架D1固設時的高度，保持和該測試板C間適當的間隙，該墊片D93僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架D1作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變；該連接件D9以相隔間距的二扣樞部D94間相對的內側與該固定部D91兩外端樞設，二扣樞部D94並於兩外端各以一鎖固件D95壓抵一撓性墊圈D951下，藉一螺固件D952螺抵或鬆放，以改變該連接件D9連動該柵架D1 作樞轉扳起或置下時扳轉的緊度；該固定座A11相對該連接件D9的另一側於圖1中該機台台面A1上設有一擋靠座D96，該擋靠座D96上方設有一呈傾斜一角度的以撓性體構成的墊件D961，當該連接件D9連動該柵架D1作樞轉扳起時，可反向扳至落靠於該擋靠座D96的該墊件D961處受擋靠，以使整體維持在一敞掀的預設定位。

請參閱圖8所示，該入料單元D的該導料座D4之該輸料槽口D41受該供料機構G供應該待測元件，該供料機構G設有一振動送料機G1，該振動送料機G1設有一供置入待測元件的料斗G11，及對應該測試板C上該座槽C1列數的複數個(本實施例設有八個)相併列成所述第二軸向Y排列供輸送待測元件的輸送道G12，各輸送道G12以一第三軸向Z的方向垂直該輸料槽口D41排列之所述第二軸向Y方式共同伸入該導料座D4之該輸料槽口D41，並分別各受一組振動元件G13(本實施例設有八個)所驅動；該振動送料機G1設於該機台桌面A2上一擺座G2上，該擺座G2上相隔間距設有第一輪體G3及第二輪體G4，該第一輪體G3與該第二輪體G4以一皮帶G5聯結而可相互連動同方向旋轉，該第二輪體G4上方設有一置架G41，該振動送料機G1以一底座G14置於該置架G41上，該底座G14與該置架G41間可作相對旋轉位移，該底座G14上設有一撥桿G141，該置架G41一側的該擺座G2上設有桿狀的一栓件G411可選擇性向下插嵌該機台桌面A2上一定位孔A21。

請參閱圖8、9所示，操作者可握撥該撥桿G141，使整個該振動送料機G1旋擺移離相隔該入料單元D一間距，此時該擺座G2將以該第一輪體G3的輪軸為中心作順時針方向旋轉偏擺，藉由該第一輪體G3與該第二輪體G4相互連動同方向旋轉，該底座G14與該置架G41間將作相對旋轉位移，使該振動送料機G1在位移過程中，各該輸送道G12仍以原對應的該第 三軸向Z之方向移出該導料座D4的該輸料槽口D41，而不會隨該擺座G2產生偏擺而撞及該輸料槽口D41側緣，而該振動送料機G1旋擺移離至預設位置後，可操作該栓件G411向下插嵌該定位孔A21，使該擺座G2在一定位被固定；而此項該振動送料機G1可旋擺移離的功能，將有助於操作者能更靠近該入料單元D進行檢修。

請參閱圖10~12所示，該第一檢查單元E1設有一第一座架E11、以相隔間距弧形併列方式設於該第一座架E11的複數個匣盒狀的第一上端子匣E12、及分別各以相隔間距弧形併列方式對應設於各該第一上端子匣E12下方的複數個匣盒狀的第一下端子匣E13；其中， 該第一座架E11設有一固定座E111、一與該固定座E111可作上、下相對位移的支撐架E112、及一可作上、下掀啟或落置的掀架E113；該固定座E111設有與該機台台面A1呈水平設置的一固定部E1111及與該機台台面A1呈垂直設置的一滑座E1112，該固定部E1111一側設有螺栓構成的二調整件E1113，二調整件E1113相隔間距左、右設置並藉螺設於圖1中該機台台面A1上的微調固定座A11，可相互微調整個該第一座架E11的左、右傾斜定位；該支撐座E112設有與該滑座E1112平行設置的一軌座E1121，該軌座E1121設有一滑動部E1122使該軌座E1121可在該滑座E1112上作相對滑動上、下位移，該支撐座E112於該軌座E1121上方相對該固定部E1111的另一側伸設與該機台台面A1平行的一支撐部E1123，該滑動部E1122下端受一彈簧構成的彈性件E1124頂撐作用，使該支撐部E1123保持一預定的高度定位；該支撐座E112與該軌座E1121相對該固定部E1111的同側設有一旋鈕類的調整件E1125，該調整件E1125以具有螺紋的桿部E1126螺於該固定座E111，藉旋轉調整該調整件E1125可使該支撐座E112上、下位移；該掀架E113與該支撐座E112上一樞接部E1127樞設而可作掀啟或落置在 該支撐部E1123上，該支撐部E1123設有由一側向該固定座E111側弧形凹設的一迴讓區間E1131，而使該迴讓區間E1131兩側分別形成左右各一扶靠部E1132，每一扶靠部E1132上分別各設有一螺固件E1133，可將該掀架E113與該支撐部E1123螺設定位。

請參閱圖10、13、14所示，每一個該第一上端子匣E12分別各設於該第一座架E11的該掀架E113上，並位於該測試板C上方；每一個第一上端子匣E12設有一位於該掀架E113上方的匣蓋E121及位於該掀架E113下方的上匣座E122；該上匣座E122以上端嵌設於該掀架E113的一嵌孔E1134中，該掀架E113上方罩覆其上設有複數個分別各對應該嵌孔E1134的擋孔E1135之一墊件E1136，該擋孔E1135孔徑小於該嵌孔E1134的孔徑，使該上匣座E122上端藉以獲得止擋定位；該匣蓋E121包括位於一側並固設於該墊件E1136上的一固定蓋座E1211及位於另一側可拆卸地設於該固定蓋座E1211側邊的一活動蓋座E1212；該上匣座E122包括位於上方的一連接座E1221及位於下方的一上端子座E1222，並以該連接座E1221嵌置於該嵌孔E1134中；該上匣座E122上設有複數個相隔間距直線併列的(本實施例為8個)第一上端子組件E123，每一個第一上端子組件E123分別由下往上依序設有位於該測試板C上方之可滾動輪體構成的一第一上端子E1231、位於該上匣座E122上凹設的一置穴E1222中供安裝該第一上端子E1231的一上端子座E1232、位於該置穴E1222內該上端子座E1232上方提供該第一上端子E1231上下彈性驅力的一彈簧構成的彈性件E1233、一端與該第一上端子E1231連接並電性導通的細長片狀的一導電片E1234、使該導電片E1234另一端受固設的一轉接部E1235、位於該連接座E1221中一端與該轉接部E1235處該導電片E1234另一端電性導通且另一端凸伸於該匣蓋E121中的一連接件E1236、在該匣蓋E121中與該連接件E1236焊固導通而 經該匣蓋E121上一纜線孔E1213延伸至該第一上端子匣E12外的一電纜線E1237；每一個該第一下端子匣E13分別各設於該承載底盤B的下方，該第一下端子匣E13包括位於上方的一探針座E131及位於該探針座E131下方的下匣座E132，該探針座E131上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列受有彈性作用(探針中設有彈簧，圖中未示)可上下微動的第一探針E133，每一個第一探針E133下方的一端在該下匣座E132中焊固導通經該下匣座E132上一纜線孔E1321延伸至該下匣座E132外的一電纜線E134；請參閱圖14~15，每一個第一探針E133上方的一端分別頂抵一第一電極E135的底端，該第一電極E135呈桿狀並被與該承載底盤B的該第一檢查區塊B21上所對應的該軸孔B215焊固而不可位移，該第一電極E135上端面抵於圖6中該測試板C上的該座槽C1下方。

請參閱圖16~18所示，該第二檢查單元E2與E3機構相同，同理可推，以下茲以該第二檢查單元E2作說明；該第二檢查單元E2設有一第二座架E21、設於該第二座架E21的一匣盒狀的第二上端子匣E22、及對應設於該第二上端子匣E22下方的一匣盒狀的第二下端子匣E23；其中，該第二座架E21以一底座E211設於該機台台面A1上，該底座E211設有位於一側可作X軸向拉拔位移的插銷E2111、位於上表面並於相對該第二上端子匣E22的另一側與該底座E211樞設的一掀座E212；該掀座E212設有位於一側可在掀起時供該插銷E2111插入的定位孔E2121、位於該掀座E212上表面Z軸向用以握扳該掀座E212使其往一側掀起的一握把E2122、位於該掀座E212上表面可將該掀座E212鎖固於該底座E211的一螺固件E2123、位於該掀座E212上表面的一立設台座E2124，該台座E2124底部與該掀座E212間設有微調該台座E2124X軸向位移的一第一微調座E2125及 微調該台座E2124Y軸向位移的一第二微調座E2126，該台座E2124一側設有用以固定該第二上端子匣E22的一固定架E2127，該台座E2124一側與該固定架E2127間設有微調該固定架E2127Y軸向位移的一第三微調座E2128，該第三微調座E2125並設置具有刻度的一微調轉鈕E2129供進行微調該第二上端子匣E22與該測試板C上表面間的間距高度；該第二上端子匣E22設有用以和該固定架E2127固設的一底板E221，該底板E221上設有位於上方由多個印刷電路版上的電路所組構的一組MOSFET電路E222及位於下方的一端子座E223，該端子座E223上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列的第二上端子組件E224，每一個第二上端子組件E224分別由下往上依序設有位於該測試板C上方之可滾動輪體構成的一第二上端子E2241、位於該端子座E223上凹設的一置穴E2231中供安裝該第二上端子E2241的一上端子座E2242、一端固設於該上端子座E2242而另一端與置穴E2231內上緣保持一間距以限制該第二上端子E2241上死點的一擋件E2243、位於該置穴E2231內該上端子座E2242上方提供該第二上端子E2241上下彈性驅力的一彈簧構成的彈性件E2244、一端與該第二上端子E2241連接並電性導通的細長片狀的一導電片E2245、使該導電片E2245另一端受固設的一轉接部E2246、與該轉接部E2246焊固一體而與該MOSFET電路E222連接的一電纜線E2247；該第二下端子匣E23設於該承載底盤B的下方，該第二下端子匣E23設有一底板E231，該底板E231上設有位於下方由多個印刷電路版上的電路所組構的一組MOSFET電路E232及位於上方的一探針座E233，該探針座E233上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列的受有彈性作用(探針中設有彈簧，圖中未示)可上下微動的第二探針E234，請參閱圖18~20，每一個第二探針E234上方的一端分別頂抵以一第二電極E235的底端，該第 二電極E235呈桿狀並由上而下分別設有一段電極部E2351、具有一段外螺紋的一螺紋部E2352、及具有六角截面(或內六角凹穴)可供工具扳轉以作上下微調的調整部E2353；該承載底盤B的第二檢查區塊B22上所對應的該軸孔B215下方設有一電極座E236，該電極座E236設有對應於該承載底盤B的第二檢查區塊B22上的該軸孔B225且其內設有內螺紋的一微調孔E2361，該第二電極E235以該螺紋部E2352螺設於該電極座E236的該微調孔E2361中，並以該電極部E2351伸經該承載底盤B的該第二檢查區塊B22上所對應的該軸孔B225，而以該電極部E2351上端面抵於圖6中該測試板C上的該座槽C1下方。

以電容類的待測元件為例，當待測元件位於該測試板C上的該座槽C1中被以順時針方向間歇旋轉流路進行搬送時，先經過該第二檢查單元E2的該第二上端子E2241與該第二電極E235間，以被測試電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)，再經過該第一檢查單元E1的該第一上端子E1231與該第一電極E135間，以被測試電容之絕緣阻抗(俗稱IR)，然後依須要可再經過該第二檢查單元E3進行再一次的電容之電容量、損耗或品質因子測試；其中，該第一檢查單元E1由於具有多組相對應的該第一上端子匣E12、該第一下端子匣E13，因此在進行電容之絕緣阻抗測試時，可以每四組分別作充電、充電、測試、放電的方式作多階段的測試。

該第一檢查單元E1由於係用以檢查測試電容之絕緣阻抗，其測試的電量較低，該第一電極E135較少損耗，故被與該承載底盤B所對應的該軸孔B215焊固而不可位移，惟該第二檢查單元E3因作電容之電容量、損耗或品質因子測試，其測試電量較高，故設計上使該第二電極E235可進行上、下微調使與該承載底盤B的該第二檢查區塊B22上的該軸孔B225作相對位移，以適應該第二電極E235需應對較高的耗損！

請參閱圖1、3、21所示，該排出單元F設有一導管板F1，該導管板F1上設有複數個具有撓性的導管F2，每一導管F2分別各以一端對應該測試板C上的一個該座槽C1上方，另一端則牽引經該導料架H而對應導通至該收集機構K的一個料盒K1；該收集機構K設有一矩形框體狀的座架K2，座架K2內供設置該料盒K1，座架K2上方形成該機台桌面A2供設置該導料架H；該導料架H上設有複數列長條狀的嵌座H1，該嵌座H1上設有複數個相隔間距直線排列分別可各供該導管F2嵌設的嵌孔H2，該嵌座H1由分置左、右兩側之可拆卸、組裝的二側座H11、H12共同併置組成。

請參閱圖1、21、22，所示，該排出單元F的該導管板F1一側設於一掀架F3，其中，該掀架F3係藉一連接件F4與該導管板F1連設並連動，該連接件F4與該掀架F3上、下設有一重疊部位F31，並於該重疊部位F31處相隔間距設有二樞桿F5，並在該連接件F4下表面與該掀架F3上表面間設有彈簧構成的彈性件F6(圖中未示)，藉該彈性件F6的頂撐保持了該連接件F4下表面與該掀架F3上表面間的間距，並在該連接件F4上設有一螺抵件F7螺抵至下方的該掀架F3上表面中，藉螺抵件F7的螺抵向下或向上，以調整連接件F4在二樞桿F5的支撐下作上下位移，以連動該導管板F1改變與該測試板C間的間距；該掀架F3設有二螺固件F32可螺至該機台台面A1以固定該掀架F3；該掀架F3並設有鏤空的長槽狀的一定位槽F33，該定位槽F33恰可在該掀架F3落置於該機台台面A1時，正套嵌在該機台台面A1上的一定位件A12上，使該掀架F3獲得定位；該掀架F3以一端樞設於該收集機構K的該座架K2上方的一樞轉座K21，該座架K2一角側K22上、下分別各受一樞扣座K23樞設，該座架K2一側設有一拉把K24。

請參閱圖22、23，藉拉握該拉把K24，可使該座架K2以該樞扣座K23為支點作掀轉至一側，使機台台面A1下方靠該排出單元F的一側呈現一鏤空的操作區間K3，操作人員可位於該操作區間K3中靠近機台台面A1進行維修；該導管板F1及其上的各導管F2可隨該掀架F3由該機台台面A1往該收集機構K方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元F位於該座架K2上方，並在該座架K2掀轉至一側時，整個該排出單元F將被連動位移轉至一側。

請參閱圖21、23，在該測試板C以順時針方向間歇旋轉進入該排出單元F的該導管板F1下方而欲離開該導管板F1下方處的該導管板F1上，設有一離子產生器F8，並在該離子產生器F8處的該導管板F1下方設有一呈細長槽縫狀並延伸橫跨覆蓋該各測試板C徑向的各列座槽C1的吹送槽F81，該離子產生器F8可產生離子氣體經該吹送槽F81對該測試板C上表面吹送，以避免受測元件因靜電黏附在該測試板C表面；該測試板C以順時針方向間歇旋轉離開該導管板F1後的該導管板F1外設有一檢查組件F9，該檢查組件F9設有分別對應該測試板C上各列座槽C1上方的檢測器F91，用以檢查是否有未被該導管F2或吸附槽F8排除的受測元件；該機台台面A1下方的機台前側A3設有相隔間距分設上、下的可受驅動作水平朝一側伸出或縮回位移的卡掣件A31，該座架K2相對該機台前側A3的一背側部K25設有相隔間距分設上、下的二扣設部K26，該座架K2一側以該樞扣座K23為支軸使另一側相對該機台前側A3作朝靠後，可藉該卡掣件A31受驅動卡嵌入該扣設部K26，而使該座架K2保持在定位，或在欲使該座架K2一側以該樞扣座K23為支軸使另一側相對該機台前側A3作掀啟時，藉該卡掣件A31受驅動縮回並脫離對該扣設部K26卡嵌，而使該座架K2解除定位而可作掀啟。

本創作實施例的電子元件測試裝置，由於該入料單元D的該柵架D1連同該連接件D9可以該固定座A11所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板C表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板C表面，該墊片D93僅在更換待測元件規格時需要改變，在該柵架D1作樞轉扳起再置下時，該間隙並不會改變，也不須要再調整該墊片D93的厚薄或數量，使操作上更為便利；該掀架F3以一端樞設於該收集機構的該座架K2上方的該樞轉座K21，使該導管板F1及其上的各導管F2可隨該掀架F3由該機台台面A1往該收集機構K方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元F位於該座架K2上方，因此操作人員可便於對該排出單元F進行檢修。

惟以上所述者，僅為本創作之實施例而已，當不能以此限定本創作實施之範圍，凡是依本創作申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本創作專利涵蓋之範圍內。

A:機台

A1:機台台面

A2:機台桌面

G:供料單元

H:導料架

K:收集機構

K1:料盒

Claims (19)

1. 一種電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該入料單元設有呈弧形的一柵架，該柵架設有在徑向相隔間距的複數個同心環狀設置的弧形的柵板，其定義出複數個載料槽道；該柵架以一外側部固設於一固定座所樞設的一連接件的一固定部上，並與該連接件連動，該柵架連同該連接件可以該固定座所樞設之軸心為支點，作樞轉扳起與該測試板表面形成一仰起的角度，或置下靠近該測試板表面。
2. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該連接件上一調整件以螺紋螺抵方式對該機台台面的螺抵鎖固，以固定該柵架的定位。
3. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該柵架與該連接件的該固定部間，嵌設適當厚度的墊片。
4. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該柵架位於接近該測試板間歇旋轉流路方向欲進入該柵架的入口端處的設有一入料座，該入料座上設有下方以一第一軸向直線排列且分別對應各該載料槽道的複數個入料口。
5. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該柵架位於該測試板間歇旋轉流路方向欲離開該柵架的出口端處設有一吹氣座，提供氣體對各該載料槽道中吹送。
6. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該柵架位於該測試板間歇旋轉流路方向該柵架的一入料座與一出口端間設有一檢測座，該檢測座設有複數個檢測元件分別各對應朝各該載料槽道中進行檢測。
7. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該連接件以相隔間距的二扣樞部間相對的內側與該固定部兩外端樞設，二扣樞部並於兩外端各以一鎖固件壓抵一撓性墊圈下，藉一螺固件螺抵或鬆放。
8. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該固定座相對該連接件的另一側於該機台台面上設有一擋靠座。
9. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該入料單元受一供料機構供應待測元件，該供料機構設有一振動送料機，該振動送料機設有供輸送待測元件的輸送道，該振動送料機可旋擺移離相隔該入料單元一間距，在位移過程中，該輸送道不會產生偏擺。
10. 一種電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；該導管板一側設於一掀架，該掀架以一端樞設於該收集機構的一座架上方的一樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方。
11. 如請求項10所述電子元件測試裝置，其中，該座架內供設置該料盒，該座架受樞設，該座架可掀轉至一側，使該機台台面下方靠該排出單元的一側呈現一鏤空的操作區間。
12. 一種電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該排出單元設有一導管板，該導管板上設有複數個具有撓性的導管，每一導管分別各以一端對應該測試板上的一座槽上方，另一端則牽引經一導料架而對應導通至一收集機構的一個料盒；一座架內供設置該料盒，該座架受樞設，該座架可掀轉至一側，使該機台台面下方靠該排出單元的一側呈現一鏤空的操作區間。
13. 如請求項10或12所述電子元件測試裝置，其中，該座架以一角側上、下分別各受一樞座樞設。
14. 如請求項10或12所述電子元件測試裝置，其中，該座架一側設有一拉把，藉拉握該拉把，可使該座架以一樞扣座為支點作掀轉至一側。
15. 如請求項10或12所述電子元件測試裝置，其中，該座架與整個該排出單元可連動位移。
16. 如請求項10或12所述電子元件測試裝置，其中，該座架上方供設置一導料架；該導料架上設有複數列長條狀的嵌座，該嵌座上設有複數個相隔間距直線排列分別可各供該導管嵌設的嵌孔，該嵌座由分置左、右兩側之可拆卸、組裝的二側座共同併置組成。
17. 如請求項12所述電子元件測試裝置，其中，該導管板一側設於一掀架，該掀架以一端樞設於該座架上方的一樞轉座，使該導管板及其上的各導管可隨該掀架由該機台台面往該收集機構方向，即朝操作人員的方向被掀起，而使整個該排出單元位於該座架上方。
18. 如請求項10或17所述電子元件測試裝置，其中，該掀架係藉一連接件與該導管板連設並連動，該連接件與該掀架上、下設有一重疊部位，並於該重疊部位處相隔間距設有樞桿，並在該連接件下表面與該掀架上表面間設有彈性件，藉該彈性件的頂撐保持了該連接件下表面與該掀架上表面間的間距，並在該連接件上設有一螺抵件螺抵至下方的該掀架上表面中，藉螺抵件的螺抵向下或向上，以調整連接件在樞桿的支撐下作上下位移，以連動該導管板改變與該測試板間的間距。
19. 如請求項10或17所述電子元件測試裝置，其中，該掀架設有鏤空的一定位槽，該定位槽恰可在該掀架落置於該機台台面時，正套嵌在該機台台面上的一定位件上，使該掀架獲得定位。

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