CN217484419U - 电子元件测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电子元件测试装置，其在一机台台面设有承载底盘、可进行间歇旋转的测试板，该承载底盘周缘外设置一入料单元、一检查单元、及一排出单元；该检查单元设有进行电容的绝缘阻抗检查的一第一检查单元及进行电容的电容量、损耗或品质因子检查一第二检查单元；该第一检查单元的一第一座架与该第二检查单元的一第二座架相隔间距互不连动；该第二检查单元可设有一组以MOSFET构成开关切换器的切换电路；借此避免干扰及易于维修、使切换电路体积小而无须冗长电缆联结。

Description

电子元件测试装置

技术领域

本实用新型有关于一种测试装置，尤指一种适于对电子元件进行测试的电子元件测试装置。

背景技术

一般电子元件在制造完成后通常需经过测试以确定其物理特性，例如用于对电容类的电子元件测试的公告号码第411735号的「电路元件装卸装置」专利申请案所提供的装置，其以一个或数个元件槽座的同心环座可相对于环心旋转，槽座均匀地以角度间隔并以增量方式旋转，而该旋转增量即是相邻槽座间的角度间隔，该环座以某个角度顷斜，而且当环座旋转时，元件流路向环座倾倒元件，邻接于槽座的外板侧边的固定栅板局限未归位的元件因动力而随机滚落于通过环座旋转路径的弧段的空槽座，随机的滚动使元件归位入槽座中，在旋转环座的路径中有用以连接元件和测试机的电子接触器，被测试过的元件经过一喷出歧管的下方，该喷出歧管板界定了许多喷出孔，而每当环座旋转一增量时喷出孔则与一组槽座相互对齐，喷出管与喷出口相连接，元件被选择性启动的各个气压阀门的空气的鼓风而从槽座喷出，由空气的鼓风和重力作用，喷出的元件经由管子落下并依管路板的导引进入分类储盒中，元件流路能响应于表示栅板缺少元件的检测器的信号而选择性地被引向该栅板，感应器能检测出在座槽中尚未被喷出歧管所喷出的元件。

该公告号码第411735号专利申请案的现有技术虽然提供电容类电子元件的测试及分类收集，但该案进行高电压测试电容和消散系数(简称CD)、低电压测试泄漏电流及绝缘阻抗(简称IR)的多阶段测试，是以以一座架密集地设置五个端子模组构成的一端子组成来进行，在高、低电压的混杂中，容易产生干扰，该案测试板仅采用四个环座的槽座容纳陶瓷电容进行测试，但当陶瓷电容元件发展到极微小而在该测试板必须采用更多个环座(例如八个)的槽座来容纳陶瓷电容进行测试时，干扰问题更严重！且环座增加，端子模组也增加，当扳起座架维修高电压的端子模组时，该座架亦必须承载该低电压的端子模组的重量，且维修的操作者亦容易碰触及该低电压的端子模组造成损伤；另一方面，此类现有技术的测试，该端子模组的测试电流切换电路通常采用水银继电切换器作为切换的手段，主要因为其连接切换的可靠性佳，但因水银继电切换器是采用机械的连接切换，使用寿命低、连接切换要达到高速化也有困难，且因采用水银易对环境造成危害，另外，此类水银继电切换器由于体积庞大，在测试设备中常被配置到与检查用电极端子组的固定电极端子及可动电极端子相距较远的位置再借由同轴缆线作连接，由于该同轴缆线长度可能长达一公尺以上，因此在电流传递过程常造成电容值的损失。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的在于提供一种避免干扰及易于维修的电子元件测试装置。

本实用新型的另一目的在于提供一种切换电路体积小而无须冗长电缆联结的电子元件测试装置。

依据本实用新型目的的电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该检查单元设有一第一检查单元，该第一检查单元在一第一座架设有一第一上端子模组，对应该第一上端子模组下方设有第一下端子模组；该检查单元更设有一第二检查单元，该第二检查单元在一第二座架设有一第二上端子模组，对应该第二上端子模组下方设有一第二下端子模组；该第一座架与该第二座架相隔间距互不连动，该第一检查单元用以进行电容的绝缘阻抗检查，该第二检查单元用以进行电容的电容量、损耗或品质因子检查。

依据本实用新型另一目的的电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该检查单元包括：可进行电容的绝缘阻抗检查的设有一第一上端子模组及对应该第一上端子模组下方的一第一下端子模组的一第一检查单元；可进行电容的电容量、损耗或品质因子检查的设有一第二上端子模组及对应该第二上端子模组下方的一第二下端子模组的一第二检查单元；该第二检查单元的该第二上端子模组及该第二下端子模组分别各设有一组切换电路，该切换电路设有MOSFET构成的开关切换器。

本实用新型实施例的电子元件测试装置，由于供设置该第一检查单元的该第一上端子模组所设的该第一座架与供设置该第二检查单元的该第二上端子模组所设的该第二座架相隔间距互不连动，高、低电压的测试或维修的进行，第一检查单元与该第二检查单元彼此间都可以不受干扰的进行；另，作为检查测试电容的电容量、损耗或品质因子(CD)的该第二检查单元中的切换电路所设MOSFET构成的开关切换器，可以直接设于该第二上端子模组及该第二下端子模组，既无水银继电器庞大的体积亦无需冗长的电缆线，可以更具有实用性及获得更佳的量测精准度。

附图说明

图1是一种电子元件测试装置的立体示意图，用以说明本实用新型实施例。

图2是该电子元件测试装置机台台面上各机构配置示意图。

图3是该电子元件测试装置中承载底盘的示意图。

图4是该电子元件测试装置中各区块对应各单元的示意图。

图5是该电子元件测试装置中该测试板上表面部分示意图。

图6是该电子元件测试装置中该测试板下表面部分示意图。

图7是该电子元件测试装置中该第一检查单元位于测试板间歇旋转流路的位置关系示意图。

图8是该电子元件测试装置中该第一检查单元一侧面的对应关系示意图。

图9是该电子元件测试装置中该第一检查单元中该掀架掀起的示意图。

图10是该电子元件测试装置中该第一检查单元中多个该第一上端子组件及多个该第一下端子的配置关系示意图。

图11是该电子元件测试装置中该第一检查单元中多个该第一上端子组件及多个该第一下端子的配置关系的部分放大示意图。

图12是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第一检查区块与一列第一电极的部分立体分解示意图。

图13是该电子元件测试装置中该第二检查单元位于测试板间歇旋转流路的位置关系示意图。

图14是该电子元件测试装置中该第二检查单元中多个该第二上端子组件及多个该第二下端子的配置关系示意图。

图15是该电子元件测试装置中该第二检查单元中多个该第二上端子组件及多个该第二下端子的配置关系的部分放大示意图。

图16是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第二检查区块与第二电极的立体分解示意图。

图17是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第二检查区块的底部示意图。

图18是该电子元件测试装置中该开关切换器在切换电路中的连结示意图。

【符号说明】

A：机台

A1：机台台面

A2：机台桌面

A21：定位孔

B：承载底盘

B1：入料区块

B11：入料吸沟

B12：吸孔

B13：短弧边

B14：长弧边

B15：前端边

B16：后端边

B17：空部位

B171：第三吸沟

B172：吸孔

B2：检查区块

B21：第一检查区块

B211：第一吸沟

B212：吸孔

B213：隔肋

B214：轴环

B215：轴孔

B216：短弧边

B217：长弧边

B218：前端边

B219：后端边

B22：第二检查区块

B221：第二吸沟

B222：吸孔

B223：隔肋

B224：轴环

B225：轴孔

B226：短弧边

B227：长弧边

B228：前端边

B229：后端边

B23：第二检查区块

B3：排出区块

B31：排料吸嘴

B32：吸孔

B33：短弧边

B34：长弧边

B35：前端边

B36：后端边

C：测试板

C1：座槽

C2：导沟

C3：清洁槽

C31：扩凸区间

D：入料单元

E：检查单元

E1：第一检查单元

E11：第一座架

E111：固定座

E1111：固定部

E1112：滑座

E1113：调整件

E112：支撑架

E1121：轨座

E1122：滑动部

E1123：支撑部

E1124：弹性件

E1125：调整件

E1126：杆部

E1127：枢接部

E113：掀架

E1131：回让区间

E1132：扶靠部

E1133：螺固件

E1134：嵌孔

E1135：挡孔

E1136：垫件

E12：第一上端子模组

E121：匣盖

E1211：固定盖座

E1212：活动盖座

E122：上匣座

E1221：连接座

E1222：上端子座

E123：第一上端子组件

E1231：第一上端子

E1232：上端子座

E1233：弹性件

E1234：导电片

E1235：转接部

E1236：连接件

E1237：导接件

E13：第一下端子模组

E131：下端子座

E132：下匣座

E133：第一下端子

E134：电缆线

E135：第一电极

E2：第二检查单元

E21：第二座架

E211：底座

E2111：插销

E212：掀座

E2121：定位孔

E2122：握把

E2123：螺固件

E2124：台座

E2125：第一微调座

E2126：第二微调座

E2127：固定架

E2128：第三微调座

E2129：微调转钮

E22：第二上端子模组

E221：底板

E222：切换电路

E2221：开关切换器

E2222：端部

E2223：另一端部

E2224：负电压

E223：端子座

E224：第二上端子组件

E2241：第二上端子

E2242：上端子座

E2243：挡件

E2244：弹性件

E2245：导电片

E2246：转接部

E2247：电缆线

E23：第二下端子模组

E231：底板

E232：切换电路

E2321：开关切换器

E2322：端部

E2323：另一端部

E2324：负电压

E233：下端子座

E234：第二下端子

E2341：顶抵端

E2342：导接件

E235：第二电极

E2351：电极部

E2352：螺纹部

E2353：调整部

E236：电极座

E2361：微调孔

E3：第三检查单元

F：排出单元

G：供料单元

H：导料架

K：收集机构

L：径向轴线

M：检查器

具体实施方式

请参阅图1、2所示，本实用新型实施例以用于电容类的待测元件进行测试的电子元件测试装置来作说明，但并不拘限于电容类电子元件的实施；其是在一机台 A上倾斜约六十度的一机台台面A1上设有圆盘状的一金属材质的承载底盘B，该承载底盘B上设置可被驱动依一顺时针方向间歇进行旋转的测试板C，并在该承载底盘B周缘外设置有用以载入待测元件的一入料单元D、用以对待测元件进行测试其特性的一检查单元E、及用以将完成测试的该待测元件排出收集的一排出单元F，在该机台A水平的一机台桌面A2上设有用以提供该待测元件的一供料机构 G及用以引导该排出单元F至一收集机构K的一导料架H，在该机台A前侧设有容置多个料盒K1的该收集机构K。

请参阅图2所示，该检查单元E设有用以进行电容的绝缘阻抗(简称IR)检查的一个第一检查单元E1，及用以进行电容的电容量、损耗或品质因子(简称CD)检查的分别位于该测试板C间歇进行旋转的方向该第一检查单元E1前、后的二个第二检查单元E2、E3；其中，位于间歇进行旋转的方向该第一检查单元E1后的该第二检查单元E3可依需要予以省略不设。

请参阅图3、4所示，该承载底盘B是由多个分别独立但可相互对接组并的不同大小扇形的区块所组构而成，包括与该入料单元D对应的设置的一入料区块B1，与该检查单元E对应设置的一检查区块B2、及与该排出单元F对应的一排出区块 B3，其中，该检查区块B2是由分别独立但可相互对接组并的一第一检查区块B21 及二个第二检查区块B22、B23所组构而成，其中，该第一检查区块B21与该第一检查单元E1对应设置，二个该第二检查区块B22、B23分别与二个该第二检查单元E2、E3对应设置；

该入料区块B1上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的凹设环弧状的入料吸沟B11，每一入料吸沟B11中设有沿该入料吸沟B11底部间隔排列的多个镂空的吸孔B12；所述吸孔B12可连通负压源抽真空，使入料吸沟B11内形成负压的真空状态；该入料区块B1包括相互平行的一短弧边B13 及一长弧边B14，以及互呈一夹角的一前端边B15及一后端边B16；

该第一检查区块B21上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第一吸沟B211，每一第一吸沟B211中设有沿该第一吸沟B211 底部间隔排列的多个镂空的吸孔B212，径向直线排列的每二个该第一吸沟B211 间对应部位的隔肋B213上，设有多行(本实施例设有16行)相隔间距位于扇形径向轴线上分别各设有一具绝缘材质构成的轴环B214，每一轴环B214上设有一轴孔B215；所述吸孔B212可连通负压源抽真空，使第一吸沟B211内形成负压的真空状态；该第一检查区块B21包括相互平行的一短弧边B216及一长弧边B217，以及互呈一夹角的一前端边B218及一后端边B219；

该第二检查区块B22上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第二吸沟B221，每一第二吸沟B221中设有沿该第二吸沟B221 底部间隔排列的多个镂空的吸孔B222，径向直线排列的每二个该第二吸沟B221 间对应部位的隔肋B223上仅设有一行分别各设有一具绝缘材质构成的轴环B224，每一轴环B224上设有一轴孔B225，每一列的该轴环B224共同位于扇形中央的径向轴线L上；所述吸孔B222可连通负压源抽真空，使第二吸沟B221内形成负压的真空状态；该第二检查区块B22包括相互平行的一短弧边B226及一长弧边B227，以及互呈一夹角的一前端边B228及一后端边B229；

该第二检查区块B23与该第二检查区块B22构造相同，同理可推，兹不赘述；惟当该第二检查单元E3依前述不需要而省略时，该第二检查区块B23上可如图3 所示省略如该第二检查区块B22中该轴环B224、轴孔B225；

该排出区块B3上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的排料吸沟B31，每一排料吸沟B31中设有沿该排料吸沟B31底部间隔排列的多个镂空的吸孔B32；所述吸孔B32可连通负压源抽真空，使排料吸沟 B31内形成负压的真空状态；该排出区块B3包括相互平行的一短弧边B33及一长弧边B34，以及互呈一夹角的一前端边B35及一后端边B36；

该第一检查区块B21上的该第一吸沟B211与该第二检查区块B22、B23上的该第二吸沟B221在组并时相导通，但与该入料区块B1上的该入料吸沟B11、该排出区块B3上的该排料吸沟B31在组并时互不导通；该入料区块B1上的该入料吸沟B11在后端裕留一段空部位B17，该空部位B17设有一小段与该第二检查区块B22上的该第二吸沟B221在组并时导通的第三吸沟B171，并于该第三吸沟B171 中设有镂空的吸孔B172。

请参阅图3、5所示，该测试板C上表面设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的镂设矩形的座槽C1，该座槽C1每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽C1直线间隔排列呈多数行；每一个座槽C1可供容纳上、下分别各设有电极的一待测元件，例如电容类的电子元件，该待测元件以电极分别位于上、下端方式于图5中该入料单元D处落置于该座槽C1中。

请参阅图3、6，该测试板C下表面每一该座槽C1底部各径向朝外圆周伸设一段凹设的导沟C2，各该导沟C2分别与该承载底盘B的该入料吸沟B11、第一吸沟B211、第二吸沟B221、及排料吸沟B31在该测试板C进行间歇旋转时导通，以由该承载底盘B中该吸孔B12、吸孔B1213、吸孔B1223、及吸孔B32导入负压抽真空时，负压可经由该入料吸沟B11、第一吸沟B211、第二吸沟B221、及排料吸沟B31，对各该座槽C1中容置的待测物件(在本实施例中为电容类的电子元件) 进行吸附；该测试板C下表面两行该座槽C1间形成长条凹设区间状的清洁槽C3，该清洁槽C3临近每一该座槽C1处形成一朝该座槽C1靠近的扩凸区间C31，所述清洁槽C3用以容纳该测试板C下表面长期操作下与该承载底盘B间磨擦所产生的粉屑，以避免阻塞该座槽C1底部孔径。

请参阅图7～9所示，该第一检查单元E1设有一第一座架E11、以相隔间距弧形并列方式设于该第一座架E11的多个匣盒状的第一上端子模组E12、及分别各以相隔间距弧形并列方式对应设于各该第一上端子模组E12下方的多个匣盒状的第一下端子模组E13；其中，

该第一座架E11设有一固定座E111、一与该固定座E111可作上、下相对位移的支撑架E112、及一可作上、下掀启或落置的掀架E113；该固定座E111设有与该机台台面A1呈水平设置的一固定部E1111及与该机台台面A1呈垂直设置的一滑座E1112，该固定部E1111一侧设有螺栓构成的二调整件E1113，二调整件E1113 相隔间距左、右设置并借助螺设于图1中该机台台面A1上的微调固定部A11，可相互微调整个该第一座架E11的左、右倾斜定位；该支撑座E112设有与该滑座 E1112平行设置的一轨座E1121，该轨座E1121设有一滑动部E1122使该轨座E1121 可在该滑座E1112上作相对滑动上、下位移，该支撑座E112于该轨座E1121上方相对该固定部E1111的另一侧伸设与该机台台面A1平行的一支撑部E1123，该滑动部E1122下端受一弹簧构成的弹性件E1124顶撑作用，使该支撑部E1123保持一预定的高度定位；该支撑座E112与该轨座E1121相对该固定部E1111的同侧设有一旋钮类的调整件E1125，该调整件E1125以具有螺纹的杆部E1126螺于该固定座E111，借助旋转调整该调整件E1125可使该支撑座E112上、下位移；该掀架 E113与该支撑座E112上一枢接部E1127枢设而可作掀启或落置在该支撑部E1124 上，该支撑部E1124设有由一侧向该固定座E11侧弧形凹设的一回让区间E1131，而使该回让区间E1131两侧分别形成左右各一扶靠部E1132，每一扶靠部E1132 上分别各设有一螺固件E1133，可将该掀架E113与该支撑部E1124螺设定位。

请参阅图7、10、11所示，每一个该第一上端子模组E12分别各设于该第一座架E11的该掀架E113上，并位于该测试板C上方；每一个第一上端子模组E12 设有一位于该掀架E113上方的匣盖E121及位于该掀架E113下方的上匣座E122；该上匣座E122以上端嵌设于该掀架E113的一嵌孔E1134中，该掀架E113上方罩覆其上设有多个分别各对应该嵌孔E1134的挡孔E1135的一垫件E1136，该挡孔 E1135孔径小于该嵌孔E1134的孔径，使该上匣座E122上端借以获得止挡定位；该匣盖E121包括位于一侧并固设于该垫件E1136上的一固定盖座E1211及位于另一侧可拆卸地设于该固定盖座E1211侧边的一活动盖座E1212；该上匣座E122包括位于上方的一连接座E1221及位于下方的一上端子座E1222，并以该连接座 E1221嵌置于该嵌孔E1134中；该上匣座E122上设有多个相隔间距直线并列的(本实施例为8个)第一上端子组件E123，每一个第一上端子组件E123分别由下往上依序设有位于该测试板C上方的可滚动轮体构成的一第一上端子E1231、位于该上匣座E122上凹设的一置穴E1222中供安装该第一上端子E1231的一上端子座 E1232、位于该置穴E1222内该上端子座E1232上方提供该第一上端子E1231上下弹性驱力的一弹簧构成的弹性件E1233、一端与该第一上端子E1231连接并电性导通的细长片状的一导电片E1234、使该导电片E1234另一端受固设的一转接部 E1235、位于该连接座E1221中一端与该转接部E1235处该导电片E1234另一端电性导通且另一端凸伸于该匣盖E121中的一连接件E1236、在该匣盖E121中与该连接件E1236焊固导通而经该匣盖E121上一缆线孔E1213延伸至该第一上端子模组E12外的一导接件E1237，该导接件E1237可以选用同轴电缆；

每一个该第一下端子模组E13分别各设于该承载底盘B的下方，该第一下端子模组E13包括位于上方的一下端子座E131及位于该下端子座E131下方的下匣座E132，该下端子座E131上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列受有弹性作用(其中设有弹簧，图中未示)可上下微动的第一下端子E133，该第一下端子 E133例如具有弹性的探针；每一个第一下端子E133下方的一端在该下匣座E132 中焊固导通经该下匣座E132上一缆线孔E1321延伸至该下匣座E132外的一电缆线E134；请参阅图11～12，每一个第一下端子E133上方的一端分别顶抵一第一电极E135的底端，该第一电极E135呈杆状并被与该承载底盘B的该第一检查区块B21上所对应的该轴孔B215焊固而不可位移，该第一电极E135上端面抵于图 6中该测试板C上的该座槽C1下方。

请参阅图13～15所示，该第二检查单元E2与E3机构相同，同理可推，以下兹以该第二检查单元E2作说明；该第二检查单元E2设有一第二座架E21、设于该第二座架E21的一匣盒状的第二上端子模组E22、及对应设于该第二上端子模组 E22下方的一匣盒状的第二下端子模组E23；其中，

该第二座架E21以一底座E211设于该机台台面A1上，该第一座架E11与该第二座架E21相隔间距互不连动，该底座E211设有位于一侧可作X轴向拉拔位移的插销E2111、位于上表面并于相对该第二上端子模组E22的另一侧与该底座E211 枢设的一掀座E212；该掀座E212设有位于一侧可在掀起时供该插销E2111插入的定位孔E2121、位于该掀座E212上表面Z轴向用以握扳该掀座E212使其往一侧掀起的一握把E2122、位于该掀座E212上表面可将该掀座E212锁固于该底座E211 的一螺固件E2123、位于该掀座E212上表面的一立设台座E2124，该台座E2124 底部与该掀座E212间设有微调该台座E2124X轴向位移的一第一微调座E2125及微调该台座E2124Y轴向位移的一第二微调座E2126，该台座E2124一侧设有用以固定该第二上端子模组E22的一固定架E2127，该台座E2124一侧与该固定架 E2127间设有微调该固定架E2127Y轴向位移的一第三微调座E2128，该第三微调座E2125并设置具有刻度的一微调转钮E2129供进行微调该第二上端子模组E22 与该测试板C上表面间的间距高度；

该第二上端子模组E22设有用以和该固定架E2127固设的一底板E221，该底板E221上设有位于上方由多个印刷电路板上的电路所组构的一组切换电路E222 及位于下方的一端子座E223，该切换电路E222设有MOSFET(金属－氧化物－半导体场效电晶体Metal OxideSemiconductor Field Effect Transistor)构成的开关切换器E2221(参阅图18)，该端子座E223上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列的第二上端子组件E224，每一个第二上端子组件E224分别由下往上依序设有位于该测试板C上方的可滚动轮体构成的一第二上端子E2241、位于该端子座 E223上凹设的一置穴E2231中供安装该第二上端子E2241的一上端子座E2242、一端固设于该上端子座E2242而另一端与置穴E2231内上缘保持一间距以限制该第二上端子E2241上死点的一挡件E2243、位于该置穴E2231内该上端子座E2242 上方提供该第二上端子E2241上下弹性驱力的一弹簧构成的弹性件E2244、一端与该第二上端子E2241连接并电性导通的细长片状的一导电片E2245、使该导电片 E2245另一端受固设的一转接部E2246、与该转接部E2246焊固一体而与该切换电路E222连接的一导接件E2247，该导接件E2247可以选用同轴电缆或金属端子来与该转接部E2246焊固一体；

该第二下端子模组E23设于该承载底盘B的下方，该第二下端子模组E23设有一底板E231，该底板E231上设有位于下方由多个印刷电路版上的电路所组构的一组切换电路E232及位于上方的一下端子座E233，该切换电路E232设有MOSFET (金属－氧化物－半导体场效电晶体Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)构成的开关切换器E2321(参阅图18)，该下端子座E233上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列的受有弹性作用(其中设有弹簧，图中未示)可上下微动的第二下端子E234，该第二下端子E234例如具有弹性的探针，请参阅图15～ 17，每一个第二下端子E234上方的一顶抵端E2341分别顶抵以一第二电极E235 的底端，下方的一端与一导接件E2342焊固一体而与该切换电路E222连接；该第二电极E235呈杆状并由上而下分别设有一段电极部E2351、具有一段外螺纹的一螺纹部E2352、及具有六角截面(或内六角凹穴)可供工具扳转以作上下微调的调整部E2353；该承载底盘B的第二检查区块B22上所对应的该轴孔B215下方设有一电极座E236，该电极座E236设有对应于该承载底盘B的第二检查区块B22上的该轴孔B225且其内设有内螺纹的一微调孔E2361，该第二电极E235以该螺纹部 E2352螺设于该电极座E236的该微调孔E2361中，并以该电极部E2351伸经该承载底盘B的该第二检查区块B22上所对应的该轴孔B225，而以该电极部E2351上端面抵于图6中该测试板C上的该座槽C1下方。

该切换电路E222及该切换电路E232中的该开关切换器E2221及该开关切换器E2321可以选用ON电阻为500mΩ以上、OFF电容为20pF以下的MOSFET，一个更佳的选择是ON电阻为700mΩ以上、OFF电容为20pF以下的MOSFET。

请参阅图18，本实用新型实施例可供八列电子元件进行测试，使用二个检查器(俗称：仪表)M协助进行测试检查；该第二检查单元E2位于上方的该第二上端子模组E22内的该切换电路E222中的该开关切换器E2221，其一端部E2222连接到检查器M，在该开关切换器E2221另一端部E2223借助该导接件E2247与以该第二上端子E2241外露于该第二上端子模组E22外部的该第二上端子组件E224相连接，并连接至一负电压E2224；

该第二检查单元E2位于下方的该第二下端子模组E23内的该切换电路E232 中的该开关切换器E2321，其一端部E2322连接到检查器M，在该开关切换器E2321 另一端部E2323借助该导接件E2342与以上方的该顶抵端E2341外露于该第二下端子模组E23外部的该第二下端子E234相连接，并连接至一负电压E2324。

以电容类的待测元件为例，当待测元件位于该测试板C上的该座槽C1中被以顺时针方向间歇旋转流路进行搬送时，先经过该第二检查单元E2的该第二上端子 E2241与该第二电极E235间，以被测试电容的电容量、损耗或品质因子(简称CD)，再经过该第一检查单元E1的该第一上端子E1231与该第一电极E135间，以被测试电容的绝缘阻抗(简称IR)，然后依须要可再经过该第二检查单元E3进行再一次的电容的电容量、损耗或品质因子测试；其中，该第一检查单元E1由于具有多组相对应的该第一上端子模组E12、该第一下端子模组E13，因此在进行电容的绝缘阻抗测试时，可以每四组分别作充电、充电、测试、放电的方式作多阶段的测试。

该第一检查单元E1由于是用以检查测试电容的绝缘阻抗，其测试的电量较低，该第一电极E135较少损耗，故被与该承载底盘B所对应的该轴孔B215焊固而不可位移，但该第二检查单元E3因作电容的电容量、损耗或品质因子测试，其测试电量较高，故设计上使该第二电极E235可进行上、下微调使与该承载底盘B的该第二检查区块B22上的该轴孔B225作相对位移，以适应该第二电极E235需应对较高的耗损！在进行电容的电容量、损耗或品质因子(CD)测试时，电容的电子元件先经该第二检查单元E2测试取得一第一量测值后，在经该第一检查单元E1测试电容的绝缘阻抗(IR)时会有减损，因此再经由该第二检查单元E3再作第二次的电容的电容量、损耗或品质因子(CD)测试取得一第二量测值后，是以该第一量测值减去该第二量测值的差值，作为判定值来评估该受测的电容是否为预期容许的部品。

本实用新型实施例的电子元件测试装置，由于供设置该第一检查单元E1的该第一上端子模组所设的该第一座架E11，与供设置该第二检查单元E2、E3的该第二上端子模组所设的该第二座架E21相隔间距互不连动，高、低电压的测试或维修的进行，第一检查单元E1与该第二检查单元E2、E3彼此间都可以不受干扰的进行；另，作为检查测试电容的电容量、损耗或品质因子(CD)的该第二检查单元 E2、E3中的切换电路E222、E232所设的MOSFET的开关切换器E2221、E2321，可以直接设于该第二上端子模组E22及该第二下端子模组E23，既无水银继电器庞大的体积亦无需冗长的电缆线，可以更具有实用性及获得更佳的量测精准度。

以上所述仅为本实用新型的实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，凡是依本实用新型申请专利范围及专利说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件测试装置，包括：

一机台，其上设有一机台台面；

一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，

该检查单元设有一第一检查单元，该第一检查单元在一第一座架设有一第一上端子模组，对应该第一上端子模组下方设有第一下端子模组；

该检查单元更设有一第二检查单元，该第二检查单元在一第二座架设有一第二上端子模组，对应该第二上端子模组下方设有一第二下端子模组；

该第一座架与该第二座架相隔间距互不连动，该第一检查单元用以进行电容的绝缘阻抗检查，该第二检查单元用以进行电容的电容量、损耗或品质因子检查。

2.一种电子元件测试装置，包括：

一机台，其上设有一机台台面；

一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，

该检查单元包括：

可进行电容的绝缘阻抗检查的设有一第一上端子模组及对应该第一上端子模组下方的一第一下端子模组的一第一检查单元；

可进行电容的电容量、损耗或品质因子检查的设有一第二上端子模组及对应该第二上端子模组下方的一第二下端子模组的一第二检查单元；

该第二检查单元的该第二上端子模组及该第二下端子模组分别各设有一组切换电路，该切换电路设有MOSFET构成的开关切换器。

3.如权利要求2所述的电子元件测试装置，其中，该MOSFET是ON电阻为500mΩ以上、OFF电容为20pF以下的MOSFET。

4.如权利要求3所述的电子元件测试装置，其中，该MOSFET是ON电阻为700mΩ以上、OFF电容为20pF以下的MOSFET。

5.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该承载底盘是由多个分别独立但可相互对接组并的不同大小扇形的区块所组构而成，包括与该检查单元对应设置的一检查区块，其中，该检查区块是由分别独立但可相互对接组并的一第一检查区块及一第二检查区块所组构而成，其中，该第一检查区块与该第一检查单元对应设置，该第二检查区块与该第二检查单元对应设置。

6.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该第二座架以一底座设于该机台台面上，该底座设有位于一侧可作X轴向拉拔位移的插销、位于上表面并于相对该第二上端子模组另一侧与该底座枢设的一掀座；该掀座设有位于一侧可在掀起时供该插销插入的定位孔、位于该掀座上表面Z轴向用以握扳该掀座使其往一侧掀起的一握把、位于该掀座上表面可将该掀座锁固于该底座的一螺固件、位于该掀座上表面的一立设台座，该台座底部与该掀座间设有微调该台座X轴向位移的一第一微调座及微调该台座Y轴向位移的一第二微调座，该台座一侧设有用以固定该第二上端子模组的一固定架，该台座一侧与该固定架间设有微调该固定架Y轴向位移的一第三微调座，该第三微调座并设置具有刻度的一微调转钮供进行微调该第二上端子模组与该测试板上表面间的间距高度。

7.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该第二上端子模组设有一底板，该底板上设有位于上方的该切换电路及位于下方的一端子座，该端子座上设有多个相隔间距直线并列的第二上端子组件，该第二上端子组件由下往上依序设有位于该测试板上方的一第二上端子、位于该端子座上凹设的一置穴中供安装该第二上端子的一上端子座、位于该置穴内该上端子座上方提供该第二上端子上下弹性驱力的一弹性件、一端固设于该上端子座而另一端与置穴内上缘保持一间距以限制该第二上端子上死点的一挡件、一端与该第二上端子连接并电性导通的一导电片、使该导电片另一端受固设的一转接部、与该转接部焊固一体而与该切换电路连接的一导接件。

8.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该第二下端子模组设有一底板，该底板上设有位于下方的该切换电路及位于上方的一下端子座，该下端子座上设一第二下端子，该第二下端子上方的一端分别顶抵一第二电极的底端，该第二电极呈杆状并由上而下分别设有一段电极部、具有一段外螺纹的一螺纹部、及具有可供工具扳转以作上下微调的调整部。

9.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该承载底盘的一轴孔下方设有一电极座，该电极座设有对应于该承载底盘该轴孔且其内设有内螺纹的一微调孔，一第二电极以一螺纹部螺设于该电极座的该微调孔中，并以一电极部伸经该承载底盘所对应的该轴孔，而以该电极部上端面抵于该测试板上的一座槽下方。

10.如权利要求1或2所述的电子元件测试装置，其中，该第二检查单元设有两个，分别位于该测试板进行间歇旋转的方向该第一检查单元前、后；该电子元件经第一个该第二检查单元测试取得一第一量测值，再经由第二个该第二检查单元取得一第二量测值，判定值为该第一量测值与该第二量测值的差值。

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