TWI832777B - 電子元件測試設備 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種電子元件測試設備，包括：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有複數個量測站；該量測站包括進行施加脈衝電壓的一脈衝電壓站；藉此使電子元件充分通過耐衝擊電壓的檢測。
Description
本發明係有關於一種測試設備，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試設備。
一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的先前技術，其以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。
其中，該先前技術的端子組成是經由一框架上開設五個鏤空的槽間，再於各槽間中分別各設一端子模組，五個端子模組以及其伴隨的
下方端子，可被當作五個分立的測試台使用，如此在測試陶磁電容器時，該陶磁電容器經五階段的測試。在典型的第一階段中元件的電容和消散係數被測試。在典型的第二階段測試中，通常稱為”閃擊”測試，包含加諸一高電壓(典型值為元件額定電壓之2-2．5倍)於一短時間內(典型值為40-50ms)。在典型的第三階段測試中，低電壓(例如50v)被用以測試洩漏電流及絕緣阻抗。在典型的第四階段測試中，元件之額定電壓被用以加諸元件上一段飽和時間(典型值為數百個ms)且洩漏/絕緣阻抗又再度被測試。在典型的第五階段測試中，元件的電容值再度被測試以檢驗是否受到之前測試影響。在測試板旋轉方向上第一個被元件遇到的端子模組可用於對各經過的槽列進行第一階段測試。在測試板旋轉方向上第二個被元件遇到的端子模組可用於對各經過的槽列進行第二階段測試，依此類推。以此方式，該五項測試時間可被重疊並縮短至最小範圍。
另一先前技術為公告第55038號「電容器之絕緣電阻測定裝置」專利申請案，其則揭露在供給有電容器的轉盤以斷續旋轉中歷經多個工作站，除檢測低電壓電阻外，並進行一耐電壓的測定，所述耐電壓的測定使用高於絕緣電阻測定的高電壓。
該公告號碼第411735號專利申請案的先前技術雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，但其在作測試時採用”閃擊”測試，包含加諸一高電壓(典型值為元件額定電壓之2-2．5倍)於一短時間內(典型值為40-50ms)，其屬於一次性的瞬間高壓；該公告第55038號專利申請案的耐電壓測定同樣也屬於一次性的瞬間高壓，雖然所述兩件先前技術都可以對電容類電子元進行耐高壓的測試，但在現今逐步發展的電容類電子產品，僅以”閃擊”方式的一次性瞬間高壓測試，仍不足以因應其在實際應用上所面臨的高壓衝擊，特別是電動車及低軌衛星中所使用的電容類電子產品。
爰此，本發明之目的，在於提供一種至少改善先前技術一缺點的電子元件測試設備。
依據本發明目的之電子元件測試設備，包括：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有複數個量測站；該量測站包括進行施加脈衝電壓的一脈衝電壓站。
本發明實施例之電子元件測試設備，該檢查單元用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元中設有包括進行施加脈衝電壓的一脈衝電壓站，該脈衝電壓站可對電子元件受電壓衝擊的能力作充分檢測，對於通過檢測的電子元件例如電容，未來在相關應用上可以更安全。
A:機台
A1:機台台面
A2:機台桌面
B:測試板
B1:座槽
C:入料單元
D:檢查單元
D1:第一檢查單元
D11:第一座架
D12:量測站
D121:低壓站
D122:脈衝電壓站
D123:高壓站
D124:一般站
D125:放電站
D2:第二檢查單元
D21:第二座架
D3:第三檢查單元
D31:第三座架
E:排出單元
F:供料機構
G:導料架
H:收集機構
H1:料盒
圖1係一種電子元件測試設備的立體示意圖，用以說明本發明實施例。
圖2係該電子元件測試設備機台台面上各機構配置示意圖。
圖3係該電子元件測試設備中檢查單元的示意圖。
請參閱圖1、2所示，本發明實施例以用於電容類的的待測元件進行測試的電子元件測試設備來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜約六十度的一機台台面A1上設有圓盤狀的一可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板B，並在該測試板B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元C、用以對待測元件進行測試其
特性的一檢查單元D、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元E，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料機構F及用以引導該排出單元E至一收集機構H的一導料架G，該收集機構H在該機台A前側設有容置多個料盒H1。
請參閱圖2所示，該檢查單元D設有用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元D1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於該測試板B間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1前、後的第二檢查單元D2及第三檢查單元D3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1後的該第三檢查單元D3可依需要予以省略不設。
該第一檢查單元D1設有可作上下掀啟的一第一座架D11，該第二檢查單元D2設有一第二座架D21，該第三檢查單元D3設有一第三座架D31上；該第一座架D11、第二座架D21及第三座架D31互相間隔一間距並不互相連動。
該測試板B上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有2列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽B1，該座槽B1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽B1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽B1可供容納上、下分別各設有電極的一待測元件，例如電容類的電子元件，該待測元件以電極分別位於上、下端方式於該入料單元C處落置於該座槽B1中。
該第一檢查單元D1設有複數個相隔間距弧形併列方式設置的量測站D12，每一量測站D12包括位於該第一座架D11上的上端子、及對應設於該測試板B下方的下端子(或探針)(圖中未示)；該第二檢查單元D2與第三檢查單元D3機構相同，同理可推，並都設有包括位於該第二座架D21
或第三座架D31上的上端子、及對應設於該測試板B下方的下端子(或探針)(圖中未示)。
請參閱圖3，該第一檢查單元D1的該量測站D12依該測試板B順時針間歇進行旋轉的方向依序設有：一低壓站D121，位於鄰靠該第二檢查單元D2的下一站，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，供給0.5~30V的電壓進行量測；一脈衝電壓站D122，位於該低壓站D121下游鄰側，供給1MHZ~1KV的脈衝電壓(pulse)，只進行施加所述電壓而不進行量測；一高壓站D123，位於該脈衝電壓站D122下游鄰側，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測或洩漏電流量測，供給50V~6KV的直流電(DC)或交流電壓(AC)，或同時依程式設定供給50V~6KV的直流電DC加交流電AC的電壓；一組一般站D124，位於該高壓站D123下游鄰側，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，在本實施例設有十個站，分別供給小於1KV的電壓進行量測；一放電站D125，位於鄰靠該第三檢查單元D3的前一站，供進行放電。
該檢查單元D在進行電子元件測試時，以電容類的電子元件為例，電子元件受該測試板B承載而先受該第二檢查單元D2進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查，該第二檢查單元D2進行檢查時亦可增加偏壓設置；再被搬送經該第一檢查單元D1的該低壓站D121進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，設有放電功能，在完成量測後進行放電；然後經該脈衝電壓站D122只進行施加所述電壓而不進行量測；再經該高壓站D123進行電容之絕緣阻抗(IR)量測或洩漏電流量測，此時可選擇多步驟不同電壓的量測方式進行；而後在一般站D124的每一站中進行電容之絕緣阻抗(IR)量
測，每一站都有放電功能，在完成量測後進行放電，且每一站可選擇充電方向例如由上端子往下端子或由下端子往上端子充電，亦可在單站以多步驟的不同電壓進行量測；在完成前述各站的作業要進入該第三檢查單元D3進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查前，要經過該放電站D125進行充分的放電，確認電壓需在1V以下，以避免損壞電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查的儀錶；最後才進到該第三檢查單元D3進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查。
該脈衝電壓站D122設於該低壓站D121與該高壓站D123間，由於現行市面上並無可作1MHZ~1KV電壓量測的儀錶，故在本實施例中採用在該脈衝電壓站D122僅施加1MHZ~1KV的電壓而不進行量測，而增加該高壓站D123進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，若未來市面上已有可作1MHZ~1KV電壓量測的儀錶，則在該脈衝電壓站D122即可除施加1MHZ~1KV的電壓外更進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，而無需設置該高壓站D123。
本發明實施例的電子元件測試設備，由於該檢查單元D用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元D1中設有包括進行施加脈衝電壓的一脈衝電壓站D122，該脈衝電壓站D122可對電子元件受電壓衝擊的能力作充分檢測，對於通過檢測的電子元件例如電容，未來在相關應用上可以更安全。
惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
B:測試板
D:檢查單元
D1:第一檢查單元
D121:低壓站
D122:脈衝電壓站
D123:高壓站
D124:一般站
D125:放電站
D2:第二檢查單元
D3:第三檢查單元
Claims (7)
- 一種電子元件測試設備，包括：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有複數個量測站；其特徵在於：該量測站包括進行施加脈衝電壓的一脈衝電壓站；該量測站依該測試板間歇進行旋轉的方向依序設有：供進行電容之絕緣阻抗量測的一組低壓站；該脈衝電壓站；供進行電容之絕緣阻抗量測的一高壓站；供進行電容之絕緣阻抗量測的一組一般站；供進行放電的一放電站；該脈衝電壓站供給1MHZ~1KV的脈衝電壓；該高壓站位於該脈衝電壓站下游鄰側，供給50V~6KV的直流電或交流電的電壓，或同時供給50V~6KV的直流電加交流電的電壓。
- 如請求項1所述電子元件測試設備，其中，該高壓站可作多步驟不同電壓的量測方式選擇，其作電容之絕緣阻抗量測或洩漏電流量測。
- 如請求項1所述電子元件測試設備，其中，該檢查單元設有用以進行電容之電容量、損耗或品質因子檢查的分別位於該測試板間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元前、後的第二檢查單元及第三檢查單元。
- 如請求項3所述電子元件測試設備，其中，依該測試板間歇進行旋轉的方向，該第三檢查單元前為供進行放電的一放電站。
- 如請求項1所述電子元件測試設備，其中，該低壓站供給0.5~30V的電壓進行量測。
- 如請求項1所述電子元件測試設備，其中，該一般站設有十個站，分別供給1KV的電壓進行量測。
- 如請求項6所述電子元件測試設備，其中，該一般站的每一站都有放電功能、可選擇充電方向、或單站以多步驟的不同電壓進行量測其中之一。
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