TWM648939U

TWM648939U - 電子元件測試設備

Info

Publication number: TWM648939U
Application number: TW112207472U
Authority: TW
Inventors: 林芳旭; 盧昱呈; 吳振維
Original assignee: 萬潤科技股份有限公司
Priority date: 2023-07-18
Filing date: 2023-07-18
Publication date: 2023-12-01

Abstract

本創作提供一種電子元件測試設備，包括：一機台上一測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個包括上端子及下端子的量測站，所述上端子設於一上端子匣下方，並於該上端子匣上方設有聯接器與電源電纜連接；該第一座架設有框架，其表面覆設有呈板狀且設有槽孔的一固定件供該上端子匣固設；設於一高壓站的該固定件為絕緣材質所構成；藉此增加量測精度。

Description

電子元件測試設備

本創作係有關於一種測試設備，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試設備。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試以確定其物理特性，例如用於電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的先前技術，其在一真空吸板上設置圓盤狀的一測試板，並在該測試板上以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

其中，該先前技術的端子組成是經由一框架上開設五個鏤空的槽間，再於各槽間中分別各設一端子模組，五個端子模組以及其伴隨的下方端子，可被當作五個分立的測試台使用，在測試陶磁電容器時，該陶磁電容器經五階段的測試，其中包含加諸一高電壓(元件額定電壓之2-2．5倍)於一短時間內(40-50ms)測試；由於一般該框架要承受五個端子模組的重量，故該框架通常以金屬材質製成，另，該真空吸板上要供該測試板不斷的間歇旋轉，測試板上各座槽中所承載的電子元件下方不段摩擦真空吸板上表面，故易刮傷受損，因此該真空吸板也都以金屬材質製成；然而因該加諸高電壓進行測試的測試台，其在鄰靠該框架設有通入高電壓的纜線連接端及上端子，該下端子下方亦相對設有通入高電壓的下端子穿經該真空吸板，故通入高電壓的纜線連接端及上端子、下端子將可能因高電壓所產生的電弧傳遞感應至該金屬材質的該框架或該真空吸板，並藉此而傳遞影響至鄰側不同組進行一般電壓量測的上端子、下端子，造成量測失準！

爰此，本創作之目的，在於提供一種至少改善先前技術一缺點的電子元件測試設備。

依據本創作目的之電子元件測試設備，包括：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站，每一量測站包括位於該第一座架上的上端子及對應設於該測試板下方的下端子，所述上端子設於一上端子匣下方，並於該上端子匣上方設有聯接器與電源電纜連接；該量測站包括一高壓站；該第一座架設有金屬材質製成的框架，其表面覆設有一固定件，該固定件呈板狀，其設有一鏤設的槽孔，該上端子匣固設於該固定件下方，而該聯接器凸露於該槽孔中；設於該高壓站的該固定件為絕緣材質所構成，其阻隔該聯接器與電源電纜連接處產生的電弧與該框架間。

依據本創作目的之另一電子元件測試設備，包括：一機台，其上設有一機台台面；一測試板，設於該機台台面，可被驅動依一方向間歇進行旋轉，該測試板周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、一排出單元及一收集機構；該檢查單元設有可用以進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一座架及複數個量測站，每一量測站包括位於該第一座架上的上端子及對應設於該測試板下方的下端子；該量測站包括一高壓站；該測試板設於圓盤狀的一承載底盤上，該承載底盤係由多個區塊可拆卸地組合而成一圓環狀；該高壓站所對應的下方該承載底盤的獨立區塊係由絕緣材質所製成。

本創作實施例之電子元件測試設備，由於該第一座架的該框架表面覆設的該固定件為絕緣材質所構成，在高壓站中的該上端子匣上該聯接器雖凸露於該槽孔中，由於該固定件阻隔該聯接器與電源電纜連接處產生的電弧與金屬材質製成的該框架間，電弧不致傳導到該框架而擴散干涉影響到其他例如：低壓站、一般站的量測結果，使量測更精準。

A:機台

A1:機台台面

A2:機台桌面

B:測試板

B1:座槽

B2:承載底盤

B21:獨立區塊

B211:槽溝

B212:氣孔

C:入料單元

D:檢查單元

D1:第一檢查單元

D11:第一座架

D12:量測站

D121:低壓站

D122:脈衝電壓站

D123:高壓站

D124:一般站

D125:放電站

D13:上端子

D131:上端子匣

D132:聯接器

D14:下端子

D15:框架

D151:鏤孔

D16:固定件

D17:頂桿

D171:頂桿匣

D2:第二檢查單元

D21:第二座架

D3:第三檢查單元

D31:第三座架

E:排出單元

F:供料機構

G:導料架

H:收集機構

H1:料盒

圖1係一種電子元件測試設備的立體示意圖，用以說明本創作實施例；圖2係該電子元件測試設備機台台面上各機構配置示意圖；圖3係該電子元件測試設備中檢查單元的示意圖；圖4係該電子元件測試設備中第一檢查單元的第一座架與該測試板對應關係立體示意圖；圖5係該電子元件測試設備中第一檢查單元的上、下端子的對應關係示意圖；圖6係該電子元件測試設備中第一檢查單元的高壓站與部份其他量測站之立體示意圖；圖7係該電子元件測試設備中測試板及承載底盤的示意圖。

請參閱圖1、2所示，本創作實施例以用於電容類的的待測元件進行測試的電子元件測試設備來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜的一機台台面A1上設有圓盤狀的一可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板B，並在該測試板B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元C、用以對待測元件進行測試其特性的一檢查單元D、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元E，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料機構F及用以引導該排出單元E至一收集機構H的一導料架G，該收集機構H在該機台A前側設有容置多個料盒H1。

請參閱圖2所示，該檢查單元D設有用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元D1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於該測試板B間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1前、後的第二檢查單元D2及第三檢查單元D3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元D1後的該第三檢查單元D3可依需要予以省略不設。

該第一檢查單元D1設有可作上下掀啟的一第一座架D11，該第二檢查單元D2設有一第二座架D21，該第三檢查單元D3設有一第三座架D31上；該第一座架D11、第二座架D21及第三座架D31互相間隔一間距並不互相連動。

該測試板B上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有2列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽B1，該座槽B1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽B1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽B1可供容納上、下分別各設有電極的例如電容類的電子元件之一待測元件，該待測元件以電極分別位於上、下端方式於該入料單元C處落置於該座槽B1中。

該第一檢查單元D1設有複數個相隔間距弧形併列方式設置的量測站D12，每一量測站D12包括位於該第一座架D11上的上端子D13、及對應設於該測試板B下方的下端子D14(或探針)(圖5)；該第二檢查單元D2與第三檢查單元D3機構相同，同理可推，並都設有包括位於該第二座架D21或第三座架D31上的上端子、及對應設於該測試板B下方的下端子(或探針)(圖中未示)。

請參閱圖3，該第一檢查單元D1的該量測站D12依該測試板B順時針間歇進行旋轉的方向依序設有：一低壓站D121，位於鄰靠該第二檢查單元D2的下一站，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，供給0.5~30V的電壓進行量測；一脈衝電壓站D122，位於該低壓站D121下游鄰側，供給1MHZ~1KV的脈衝電壓(pulse)，只進行施加所述電壓而不進行量測；一高壓站D123，位於該脈衝電壓站D122下游鄰側，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測或洩漏電流量測，供給50V~6KV的直流電(DC)或交流電壓(AC)，或同時依程式設定供給50V~6KV的直流電DC加交流電AC的電壓；一組一般站D124，位於該高壓站D123下游鄰側，供進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，在本實施例設有十個站，分別供給小於1KV的電壓進行量測；一放電站D125，位於鄰靠該第三檢查單元D3的前一站，供進行放電。

請參閱圖4、5、6，該第一檢查單元D1的該第一座架D11係以一金屬材質製成的框架D15形成弧形排列的多數個鏤孔D151，該鏤孔D151上表面覆設有一固定件D16，該固定件D16呈板狀，其面積大於該鏤孔D151，並設有對應該鏤孔D151上方但孔域面積小於該鏤孔D151的一鏤設的槽孔D161；所述上端子D13設於匣盒狀的一上端子匣D131下方，並於該上端子匣D131上方設有聯接器D132與電源電纜連接；該上端子匣D131設於該鏤孔D151中，其上表面並固設於該鏤孔D151上方所覆設的該固定件D16下方，而該聯接器D132凸露於該槽孔D161中；其中，設於該高壓站D123的該固定件D16為例如工程塑膠之絕緣材質所構成，其適當地阻隔該聯接器D132與電源電纜連接處產生的電弧與該金屬材質製成的該框架D15間。

請參閱圖4、5、7，該測試板B可被驅動依一順時針方向間歇進行旋轉，並設於圓盤狀的一承載底盤B2上，該承載底盤B2係由多個區塊可拆卸地組合而成一圓環狀，其中，該低壓站D121、該脈衝電壓站D122及該高壓站D123所對應的下方該承載底盤B2的扇形的獨立區塊B21係由例如陶瓷之絕緣材質所製成，該測試板B下方的下端子D14呈一圓柱短桿狀固設於該承載底盤B2的該獨立區塊B21中，其長度約僅該獨立區塊B21厚度，一個匣盒狀的頂桿匣D171中設有受彈性作用的頂桿D17，該頂桿D17 下方連接電源電纜，上方則凸伸於該頂桿匣D171上端，並藉頂抵於該下端子D14底端而與該下端子D14形成電性連接；該獨立區塊B21上表面並設有凹設的弧形的槽溝B211，該槽溝B211中設有相隔間距環列的多數個氣孔B212，每一個氣孔B212分別各對應上方該測試板B上一個座槽B1，所述氣孔B212可提供負壓之吸力。

該檢查單元D在進行電子元件測試時，以電容類的電子元件為例，電子元件受該測試板B承載而先受該第二檢查單元D2進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查，該第二檢查單元D2進行檢查時亦可增加偏壓設置；再被搬送經該第一檢查單元D1的該低壓站D121進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，設有放電功能，在完成量測後進行放電；然後經該脈衝電壓站D122只進行施加所述電壓而不進行量測；再經該高壓站D123進行電容之絕緣阻抗(IR)量測或洩漏電流量測，此時可選擇多步驟不同電壓的量測方式進行；而後在一般站D124的每一站中進行電容之絕緣阻抗(IR)量測，每一站都有放電功能，在完成量測後進行放電，且每一站可選擇充電方向例如由上端子往下端子或由下端子往上端子充電，亦可在單站以多步驟的不同電壓進行量測；在完成前述各站的作業要進入該第三檢查單元D3進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查前，要經過該放電站D125進行充分的放電，確認電壓需在1V以下，以避免損壞電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查的儀錶；最後才進到該第三檢查單元D3進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)檢查。

本創作實施例的電子元件測試設備，由於該第一座架D11的該框架D15表面覆設的該固定件D16為絕緣材質所構成，在高壓站D123中的該上端子匣D131上該聯接器D132雖凸露於該槽孔D161中，由於該固定件D16阻隔該聯接器D132與電源電纜連接處產生的電弧與金屬材質製成的該框架D15間，電弧不致傳導到該框架D15而擴散干涉影響到其他例如：低壓站D121、一般站D124的量測結果，使量測更精準。

惟以上所述者，僅為本創作之實施例而已，當不能以此限定本創作實施之範圍，凡是依本創作申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本創作專利涵蓋之範圍內。