TWI798803B - 電子元件測試裝置及測試方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種電子元件測試裝置及測試方法，該電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行間歇旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該檢查單元設有可進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該檢查單元更設有可進行電容之電容量、損耗或品質因子檢查的一第二檢查單元；該第二檢查單元設有切換電路，該切換電路設有乾式接點的開關切換器作為切換器；藉此使該電子元件測試裝置更適合進行電子元件測試。

Description

電子元件測試裝置及測試方法

本發明係有關於一種測試裝置及測試方法，尤指一種適於對電子元件進行測試的電子元件測試裝置及測試方法。

一般電子元件在製造完成後通常需經過測試的檢查以確定其物理特性，然後將其分類；此類電子元件測試的檢查裝置例如用於對電容類的電子元件測試的公告號碼第411735號的「電路元件裝卸裝置」專利申請案所提供的裝置，其以一個或數個元件槽座之同心環座可相對於環心旋轉，槽座均勻地以角度間隔並以增量方式旋轉，而該旋轉增量即是相鄰槽座間的角度間隔，該環座以某個角度頃斜，而且當環座旋轉時，元件流路向環座傾倒元件，鄰接於槽座之外板側邊之固定柵板侷限未歸位之元件因動力而隨機滾落於通過環座旋轉路徑之弧段的空槽座，隨機之滾動使元件歸位入槽座中，在旋轉環座之路徑中有用以連接元件和測試機的電子接觸器，被測試過的元件經過一噴出歧管的下方，該噴出歧管板界定了許多噴出孔，而每當環座旋轉一增量時噴出孔則與一組槽座相互對齊，噴出管與噴出口相連接，元件被選擇性啟動的各個氣壓閥門的空氣之鼓風而從槽座噴出，由空氣之鼓風和重力作用，噴出的元件經由管子落下並依管路板之導引進入分類儲盒中，元件流路能響應於表示柵板缺少元件之偵測器的信號而選擇性地被引向該柵板，感應器能偵測出在座槽中尚未被噴出歧管所噴出的元件。

該公告號碼第411735號專利申請案的先前技術雖然提供電容類電子元件的測試及分類收集，但此類先前技術的測試通常採用水銀繼電 切換器作為切換的手段，主要因為其連接切換的可靠性佳，但因水銀繼電切換器係採機械的連接切換，連接切換要達到高速化有困難，且因採用水銀易對環境造成危害，另外，此類水銀繼電切換器屬於濕式的接點切換器，其由於體積龐大，在測試設備中常被配置到與檢查用電極端子組的固定電極端子及可動電極端子相距較遠的位置再藉由同軸纜線作連接，由於該同軸纜線長度可能長達一公尺以上，因此在電流傳遞過程常造成電容值的損失，故業界有另提出公告號碼第I680304號的「晶片電子零件檢查篩選裝置」專利案，其採用電子式的MOSFET取代水銀繼電切換器作為連接切換手段，但該案雖採用MOSFET使同軸纜線可以縮短，惟使用在電容類的電子元件測試檢查中，MOSFET會有雜散電容較高的問題，因此該I680304案的MOSFET僅能選用ON電阻為500mΩ以下、OFF電容為20pF以下規格的MOSFET，並需設置接地的電路使雜散電容逃散，以避免測試檢查時造成干擾，這使得MOSFET的選用相當受到限制，非是電子元件測試設備一個最好的選擇！

爰此，本發明之目的，在於提供一種適合用於電子元件測試的電子元件測試裝置。

本發明之另一目的，在於提供一種適合用於電子元件測試的電子元件測試方法。

本發明之又一目的，在於提供一種用以執行如所述電子元件測試方法的電子元件測試裝置。

依據本發明目的之電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行間歇旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、 一檢查單元、及一排出單元；其中，該檢查單元設有可進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該檢查單元更設有可進行電容之電容量、損耗或品質因子檢查的一第二檢查單元；該第二檢查單元設有切換電路，該切換電路設有乾式接點的開關切換器作為切換器。

依據本發明另一目的之電子元件測試方法，提供一第一檢查單元及二第二檢查單元，當待測元件位於一測試板上的一座槽中被以間歇旋轉流路進行搬送時，先經過其中一個該第二檢查單元被測試電容量、損耗或品質因子，再經過該第一檢查單元被測試絕緣阻抗，然後再經過另一個該第二檢查單元被測試電容量、損耗或品質因子。

依據本發明又一目的之電子元件測試裝置，用以執行如所述電子元件測試方法。

本發明實施例之電子元件測試裝置及測試方法，由於作為檢查測試電容之電容量、損耗或品質因子(CD)的該第二檢查單元中的切換電路以乾式接點的該開關切換器作開關切換；該乾式接點的開關切換器可以分別直接設於該第二上端子模組或該第二下端子模組，其既無濕式接點的水銀繼電器龐大的體積亦無需冗長的電纜線，與電子式的MOSFET電路相較，經過測試時可以取得約僅30mΩ左右的低導通阻抗，以及約0.5pf以下的低雜散電容，相較於MOSFET高達10pf以上的雜散電容值，可以有更好的抗干擾效果，而無需設置接地的電路使雜散電容逃散，且在進行電容類的電子元件檢查測試時反應速度快，可以獲得更好的測試精準度。

A:機台

A1:機台台面

A2:機台桌面

A21:定位孔

B:承載底盤

B1:入料區塊

B11:入料吸溝

B12:吸孔

B13:短弧邊

B14:長弧邊

B15:前端邊

B16:後端邊

B17:空部位

B171:第三吸溝

B172:吸孔

B2:檢查區塊

B21:第一檢查區塊

B211:第一吸溝

B212:吸孔

B213:隔肋

B214:軸環

B215:軸孔

B216:短弧邊

B217:長弧邊

B218:前端邊

B219:後端邊

B22:第二檢查區塊

B221:第二吸溝

B222:吸孔

B223:隔肋

B224:軸環

B225:軸孔

B226:短弧邊

B227:長弧邊

B228:前端邊

B229:後端邊

B23:第二檢查區塊

B3:排出區塊

B31:排料吸溝

B32:吸孔

B33:短弧邊

B34:長弧邊

B35:前端邊

B36:後端邊

C:測試板

C1:座槽

C2:導溝

C3:清潔槽

C31:擴凸區間

D:入料單元

E:檢查單元

E1:第一檢查單元

E11:第一座架

E111:固定座

E1111:固定部

E1112:滑座

E1113:調整件

E112:支撐座

E1121:軌座

E1122:滑動部

E1123:支撐部

E1124:彈性件

E1125:調整件

E1126:桿部

E1127:樞接部

E113:掀架

E1131:迴讓區間

E1132:扶靠部

E1133:螺固件

E1134:嵌孔

E1135:擋孔

E1136:墊件

E12:第一上端子模組

E121:匣蓋

E1211:固定蓋座

E1212:活動蓋座

E122:上匣座

E1221:連接座

E1222:上端子座

E123:第一上端子組件

E1231:第一上端子

E1232:上端子座

E1233:彈性件

E1234:導電片

E1235:轉接部

E1236:連接件

E1237:導接件

E13:第一下端子模組

E131:下端子座

E132:下匣座

E133:第一下端子

E134:電纜線

E135:第一電極

E2:第二檢查單元

E21:第二座架

E211:底座

E2111:插銷

E212:掀座

E2121:定位孔

E2122:握把

E2123:螺固件

E2124:台座

E2125:第一微調座

E2126:第二微調座

E2127:固定架

E2128:第三微調座

E2129:微調轉鈕

E22:第二上端子模組

E221:底板

E2211:限位件

E222:切換電路

E2221:開關切換器

E2222:導電座

E2223:連接器

E2224:端部

E2225:另一端部

E223:端子座

E2231:連接器座

E2232:端子組座

E224:第二上端子組件

E2241:第二上端子

E2242:上端子座

E2243:擋件

E2244:彈性件

E2245:導電片

E2246:轉接部

E2247:端子銷

E23:第二下端子模組

E231:底板

E232:切換電路

E2321:開關切換器

E2322:導電座

E2323:端部

E2324:另一端部

E233:下端子座

E234:第二下端子

E2341:頂抵端

E2342:導接件

E235:第二電極

E2351:電極部

E2352:螺紋部

E2353:調整部

E236:電極座

E2361:微調孔

E3:第二檢查單元

F:排出單元

G:供料單元

H:導料架

K:收集機構

L:徑向軸線

M:檢查器

圖1係一種電子元件測試裝置的立體示意圖，用以說明本發明實施例。

圖2係該電子元件測試裝置機台台面上各機構配置示意圖。

圖3係該電子元件測試裝置中承載底盤的示意圖。

圖4係該電子元件測試裝置中各區塊對應各單元的示意圖。

圖5係該電子元件測試裝置中該測試板上表面部份示意圖。

圖6係該電子元件測試裝置中該測試板下表面部份示意圖。

圖7係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元位於測試板間歇旋轉流路的位置關係示意圖。

圖8係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元一側面的對應關係示意圖。

圖9係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中該掀架掀起的示意圖。

圖10係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中複數個該第一上端子組件及複數個該第一下端子的配置關係示意圖。

圖11係該電子元件測試裝置中該第一檢查單元中複數個該第一上端子組件及複數個該第一下端子的配置關係的部份放大示意圖。

圖12係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第一檢查區塊與一列第一電極的部份立體分解示意圖。

圖13係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元位於測試板間歇旋轉流路的位置關係示意圖。

圖14係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元中複數個該第二上端子組件及複數個該第二下端子的配置關係示意圖。

圖15係該電子元件測試裝置中該第二檢查單元中複數個該第二上端子組件及複數個該第二下端子的配置關係的部份放大示意圖。

圖16係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第二檢查區塊與第二電極的立體分解示意圖。

圖17係該電子元件測試裝置中該承載底盤的該第二檢查區塊的底部示意圖。

圖18係該電子元件測試裝置中該開關切換器在切換電路中的連結示意圖。

請參閱圖1、2所示，本發明實施例以用於電容類的待測元件進行測試的電子元件測試裝置來作說明，但並不拘限於電容類電子元件的實施；其係在一機台A上傾斜約六十度的一機台台面A1上設有圓盤狀的一金屬材質的承載底盤B，該承載底盤B上設置可被驅動承載八列電子元件依一順時針方向間歇進行旋轉的測試板C，並在該承載底盤B周緣外設置有用以載入待測元件的一入料單元D、用以對待測元件進行測試其特性的一檢查單元E、及用以將完成測試的該待測元件排出收集的一排出單元F，在該機台A水平的一機台桌面A2上設有用以提供該待測元件的一供料機構G及用以引導該排出單元F至一收集機構K的一導料架H，在該機台A前側設有容置多個料盒K1的該收集機構K。

請參閱圖2所示，該檢查單元E設有用以進行電容之絕緣阻抗(俗稱IR)檢查的一個第一檢查單元E1，及用以進行電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)檢查的分別位於該測試板C間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1前、後的二個第二檢查單元E2、E3；其中，位於間歇進行旋轉的方向該第一檢查單元E1後的該第二檢查單元E3可依需要予以省略不設。

請參閱圖3、4所示，該承載底盤B係由複數個分別獨立但可相互對接組併的不同大小扇形的區塊所組構而成，包括與該入料單元D對應設置的一入料區塊B1，與該檢查單元E對應設置的一檢查區塊B2、及與該排出單元F對應的一排出區塊B3，其中，該檢查區塊B2係由分別獨立但可相互對接組併的一第一檢查區塊B21及二個第二檢查區塊B22、B23所組構而成，其中，該第一檢查區塊B21與該第一檢查單元E1對應設置，二個該第二檢查區塊B22、B23分別與二個該第二檢查單元E2、E3對應設置； 該入料區塊B1上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的凹設環弧狀的入料吸溝B11，每一入料吸溝B11中設有沿該入料吸溝B11底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B12；所述吸孔B12可連通負壓源抽真空，使入料吸溝B11內形成負壓之真空狀態；該入料區塊B1包括相互平行的一短弧邊B13及一長弧邊B14，以及互呈一夾角的一前端邊B15及一後端邊B16；該第一檢查區塊B21上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第一吸溝B211，每一第一吸溝B211中設有沿該第一吸溝B211底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B212，徑向直線排列的每二個該第一吸溝B211間對應部位的隔肋B213上，設有多行(本實施例設有16行)相隔間距位於扇形徑向軸線上分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B214，每一軸環B214上設有一軸孔B215；所述吸孔B212可連通負壓源抽真空，使第一吸溝B211內形成負壓之真空狀態；該第一檢查區塊B21包括相互平行的一短弧邊B216及一長弧邊B217，以及互呈一夾角的一前端邊B218及一後端邊B219；該第二檢查區塊B22上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的第二吸溝B221，每一第二吸溝B221中設有沿該第二吸溝B221底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B222，徑向直線排列的每二個該第二吸溝B221間對應部位的隔肋B223上僅設有一行分別各設有一具絕緣材質構成的軸環B224，每一軸環B224上設有一軸孔B225，每一列的該軸環B224共同位於扇形中央的徑向軸線L上；所述吸孔B222可連通負壓源抽真空，使第二吸溝B221內形成負壓之真空狀態；該第二檢查區塊B22包括相互平行的一短弧邊B226及一長弧邊B227，以及互呈一夾角的一前端邊B228及一後端邊B229； 該第二檢查區塊B23與該第二檢查區塊B22構造相同，同理可推，茲不贅述；惟當該第二檢查單元E3依前述不需要而省略時，該第二檢查區塊B23上可如圖3所示省略如該第二檢查區塊B22中該軸環B224、軸孔B225；該排出區塊B3上設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心設置的凹設環弧狀的排料吸溝B31，每一排料吸溝B31中設有沿該排料吸溝B31底部間隔排列的複數個鏤空的吸孔B32；所述吸孔B32可連通負壓源抽真空，使排料吸溝B31內形成負壓之真空狀態；該排出區塊B3包括相互平行的一短弧邊B33及一長弧邊B34，以及互呈一夾角的一前端邊B35及一後端邊B36；該第一檢查區塊B21上的該第一吸溝B211與該第二檢查區塊B22、B23上的該第二吸溝B221在組併時相導通，但與該入料區塊B1上的該入料吸溝B11、該排出區塊B3上的該排料吸溝B31在組併時互不導通；該入料區塊B1上的該入料吸溝B11在後端裕留一段空部位B17，該空部位B17設有一小段與該第二檢查區塊B22上的該第二吸溝B221在組併時導通的第三吸溝B171，並於該第三吸溝B171中設有鏤空的吸孔B172。

請參閱圖3、5所示，該測試板C上表面設有在徑向相隔間距的複數列(本實施例設有8列)同心環狀設置的鏤設矩形的座槽C1，該座槽C1每一列環狀相隔間距設置多數個，各列徑向對應的該座槽C1直線間隔排列呈多數行；每一個座槽C1可供容納上、下分別各設有電極的一待測元件，例如電容類的電子元件，該待測元件以電極分別位於上、下端方式於圖5中該入料單元D處落置於該座槽C1中。

請參閱圖3、6，該測試板C下表面每一該座槽C1底部各徑向朝外圓周伸設一段凹設的導溝C2，各該導溝C2分別與該承載底盤B的該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31在該測試板 C進行間歇旋轉時導通，以由該承載底盤B中該吸孔B12、吸孔B1213、吸孔B1223、及吸孔B32導入負壓抽真空時，負壓可經由該入料吸溝B11、第一吸溝B211、第二吸溝B221、及排料吸溝B31，對各該座槽C1中容置的待測物件(在本實施例中為電容類的電子元件)進行吸附；該測試板C下表面兩行該座槽C1間形成長條凹設區間狀的清潔槽C3，該清潔槽C3臨近每一該座槽C1處形成一朝該座槽C1靠近的擴凸區間C31，所述清潔槽C3用以容納該測試板C下表面長期操作下與該承載底盤B間磨擦所產生的粉屑，以避免阻塞該座槽C1底部孔徑。

請參閱圖7~9所示，該第一檢查單元E1設有一第一座架E11、以相隔間距弧形併列方式設於該第一座架E11的複數個匣盒狀的第一上端子模組E12、及分別各以相隔間距弧形併列方式對應設於各該第一上端子模組E12下方的複數個匣盒狀的第一下端子模組E13；其中，該第一座架E11設有一固定座E111、一與該固定座E111可作上、下相對位移的支撐座E112、及一可作上、下掀啟或落置的掀架E113；該固定座E111設有與該機台台面A1呈水平設置的一固定部E1111及與該機台台面A1呈垂直設置的一滑座E1112，該固定部E1111一側設有螺栓構成的二調整件E1113，二調整件E1113相隔間距左、右設置並藉螺設於圖1中該機台台面A1上的微調固定部A11，可相互微調整個該第一座架E11的左、右傾斜定位；該支撐座E112設有與該滑座E1112平行設置的一軌座E1121，該軌座E1121設有一滑動部E1122使該軌座E1121可在該滑座E1112上作相對滑動上、下位移，該支撐座E112於該軌座E1121上方相對該固定部E1111的另一側伸設與該機台台面A1平行的一支撐部E1123，該滑動部E1122下端受一彈簧構成的彈性件E1124頂撐作用，使該支撐部E1123保持一預定的高度定位；該支撐座E112與該軌座E1121相對該固定部E1111的同側設有 一旋鈕類的調整件E1125，該調整件E1125以具有螺紋的桿部E1126螺於該固定座E111，藉旋轉調整該調整件E1125可使該支撐座E112上、下位移；該掀架E113與該支撐座E112上一樞接部E1127樞設而可作掀啟或落置在該支撐部E1123上，該支撐部E1123設有由一側向該固定座E111側弧形凹設的一迴讓區間E1131，而使該迴讓區間E1131兩側分別形成左右各一扶靠部E1132，每一扶靠部E1132上分別各設有一螺固件E1133，可將該掀架E113與該支撐部E1123螺設定位。

請參閱圖7、10、11所示，每一個該第一上端子模組E12分別各設於該第一座架E11的該掀架E113上，並位於該測試板C上方；每一個第一上端子模組E12設有一位於該掀架E113上方的匣蓋E121及位於該掀架E113下方的上匣座E122；該上匣座E122以上端嵌設於該掀架E113的一嵌孔E1134中，該掀架E113上方罩覆其上設有複數個分別各對應該嵌孔E1134的擋孔E1135之一墊件E1136，該擋孔E1135孔徑小於該嵌孔E1134的孔徑，使該上匣座E122上端藉以獲得止擋定位；該匣蓋E121包括位於一側並固設於該墊件E1136上的一固定蓋座E1211及位於另一側可拆卸地設於該固定蓋座E1211側邊的一活動蓋座E1212；該上匣座E122包括位於上方的一連接座E1221及位於下方的一上端子座E1222，並以該連接座E1221嵌置於該嵌孔E1134中；該上匣座E122上設有複數個相隔間距直線併列的(本實施例為8個)第一上端子組件E123，每一個第一上端子組件E123分別由下往上依序設有位於該測試板C上方之可滾動輪體構成的一第一上端子E1231、位於該上匣座E122上凹設的一置穴E1222中供安裝該第一上端子E1231的一上端子座E1232、位於該置穴E1222內該上端子座E1232上方提供該第一上端子E1231上下彈性驅力的一彈簧構成的彈性件E1233、一端與該第一上端子E1231連接並電性導通的細長片狀的一導電片E1234、使該導 電片E1234另一端受固設的一轉接部E1235、位於該連接座E1221中一端與該轉接部E1235處該導電片E1234另一端電性導通且另一端凸伸於該匣蓋E121中的一連接件E1236、在該匣蓋E121中與該連接件E1236焊固導通而經該匣蓋E121上一纜線孔E1213延伸至該第一上端子模組E12外的一導接件E1237，該導接件E1237可以選用同軸電纜；每一個該第一下端子模組E13分別各設於該承載底盤B的下方，該第一下端子模組E13包括位於上方的一下端子座E131及位於該下端子座E131下方的下匣座E132，該下端子座E131上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列的受有彈性作用(其中設有彈簧，圖中未示)可上下微動的第一下端子E133，該第一下端子E133例如具有彈性的探針，每一個第一下端子E133下方的一端在該下匣座E132中焊固導通經該下匣座E132上一纜線孔E1321延伸至該下匣座E132外的一電纜線E134；請參閱圖11~12，每一個第一下端子E133上方的一端分別頂抵一第一電極E135的底端，該第一電極E135呈桿狀並被與該承載底盤B的該第一檢查區塊B21上所對應的該軸孔B215焊固而不可位移，該第一電極E135上端面抵於圖6中該測試板C上的該座槽C1下方。

請參閱圖13~15所示，該第二檢查單元E2與E3機構相同，同理可推，以下茲以該第二檢查單元E2作說明；該第二檢查單元E2設有一第二座架E21、設於該第二座架E21的一匣盒狀的第二上端子模組E22、及對應設於該第二上端子模組E22下方的一匣盒狀的第二下端子模組E23；其中，該第二座架E21以一底座E211設於該機台台面A1上，該第一座架E11與該第二座架E21相隔間距互不連動，該底座E211設有位於一側可作X軸向拉拔位移的插銷E2111、位於上表面並於相對該第二上端子模組E22的另 一側與該底座E211樞設的一掀座E212；該掀座E212設有位於一側可在掀起時供該插銷E2111插入的定位孔E2121、位於該掀座E212上表面Z軸向用以握扳該掀座E212使其往一側掀起的一握把E2122、位於該掀座E212上表面可將該掀座E212鎖固於該底座E211的一螺固件E2123、位於該掀座E212上表面的一立設台座E2124，該台座E2124底部與該掀座E212間設有微調該台座E2124X軸向位移的一第一微調座E2125及微調該台座E2124Y軸向位移的一第二微調座E2126，該台座E2124一側設有用以固定該第二上端子模組E22的一固定架E2127，該台座E2124一側與該固定架E2127間設有微調該固定架E2127Y軸向位移的一第三微調座E2128，該第三微調座E2128並設置具有刻度的一微調轉鈕E2129供進行微調該第二上端子模組E22與該測試板C上表面間的間距高度；該第二上端子模組E22設有用以和該固定架E2127固設的一底板E221，該底板E221上設有相對位於上方的一切換電路E222及相對位於下方的一端子座E223，該端子座E223包括寬度較大並位於上方的一連接器座E2231以及位於下方寬度較窄的一端子組座E2232，並使該端子組座E2232位於該底板E221上相隔間距設置的二限位件E2211間，而連接器座E2231跨置於二限位件E2211上方的方式設置；該切換電路E222設有乾式接點的開關切換器E2221(圖18)，該開關切換器E2221例如簧片繼電器(Reed Relay)或捲軸繼電器(Reel Relay)作為切換器，其中，該簧片繼電器(Reed Relay)使用表面貼裝的簧片繼電器(Surface Mount Reed Relays)在本實施例可以達到最佳的效果；該端子座E223上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列的第二上端子組件E224，每一個第二上端子組件E224分別由下往上依序設有位於該測試板C上方之可滾動輪體構成的一第二上端子E2241、位於該端子座E223上凹設的一置穴E2231中供安裝該第二上端子 E2241的一上端子座E2242、一端固設於該上端子座E2242而另一端與置穴E2231內上緣保持一間距以限制該第二上端子E2241上死點的一擋件E2243、位於該置穴E2231內該上端子座E2242上方提供該第二上端子E2241上下彈性驅力的一彈簧構成的彈性件E2244、一端與該第二上端子E2241連接並電性導通的細長片狀的一導電片E2245、使該導電片E2245另一端受固設的一轉接部E2246、與該轉接部E2246固設的一端子銷E2247，該切換電路E222係設於由前後疊置的二電路板上，二電路板間夾設對應該第二上端子E2241數量的複數個導電座E2222，每一導電座E2222分別各連接一連接器E2223，該連接器E2223以公、母方式與該第二上端子組件E224中的該端子銷E2247可插拔地結合導通，其中，該連接器E2223與該端子銷E2247亦可以同軸電纜或金屬連接件來與該轉接部E2246固接導通作取代；該第二下端子模組E23設於該承載底盤B的下方，該第二下端子模組E23設有一底板E231，該底板E231上設有相對位於下方的一切換電路E232及相對位於上方的一下端子座E233，該切換電路E232設有乾式接點的開關切換器E2321(圖18)，該開關切換器E2321例如簧片繼電器(Reed Relay)或捲軸繼電器(Reel Relay)作為切換器，其中，該簧片繼電器(Reed Relay)使用表面貼裝的簧片繼電器(Surface Mount Reed Relays)在本實施例可以達到最佳的效果；該下端子座E233上設有複數個(本實施例為8個)相隔間距直線併列的受有彈性作用(其中設有彈簧，圖中未示)可上下微動的第二下端子E234，該第二下端子E234例如具有彈性的探針；請參閱圖15~17，該切換電路E232係設於由前後疊置的二電路板上，二電路板間夾設對應該第二下端子E234數量的複數個導電座E2322；每一個第二下端子E234上方的一頂抵端E2341分別頂抵一第二電極E235的底端，下方的一端與一個該導電座E2322接設而與該切換電路E232連接；該第二電極E235呈桿狀並由上而 下分別設有一段電極部E2351、具有一段外螺紋的一螺紋部E2352、及具有六角截面(或內六角凹穴)可供工具扳轉以作上下微調的調整部E2353；該承載底盤B的第二檢查區塊B22上所對應的該軸孔B215下方設有一電極座E236，該電極座E236設有對應於該承載底盤B的第二檢查區塊B22上的該軸孔B225且其內設有內螺紋的一微調孔E2361，該第二電極E235以該螺紋部E2352螺設於該電極座E236的該微調孔E2361中，並以該電極部E2351伸經該承載底盤B的該第二檢查區塊B22上所對應的該軸孔B225，而以該電極部E2351上端面抵於圖6中該測試板C上的該座槽C1下方。

請參閱圖15、18，本發明實施例可供八列電子元件進行測試，使用二個檢查器(俗稱：儀錶)M協助進行測試檢查；該第二檢查單元E2位於上方的該第二上端子模組E22內的該切換電路E222中的該乾式接點的開關切換器E2221，其一端部E2224連接到檢查器M，在該開關切換器E2221另一端部E2225與以該第二上端子E2241外露於該第二上端子模組E22外部的該第二上端子組件E224相連接(藉該導電座E2222，及該連接器E2223與該端子銷E2247的聯結)；該第二檢查單元E2位於下方的該第二下端子模組E23內的該切換電路E232中的該乾式接點的開關切換器E2321，其一端部E2323連接到檢查器M，在該開關切換器E2321另一端部E2324與以上方的該頂抵端E2341外露於該第二下端子模組E23外部的該第二下端子E234相連接(藉該導電座E2322)。

以電容類的待測元件為例，當待測元件位於該測試板C上的該座槽C1中被以順時針方向間歇旋轉流路進行搬送時，先經過該第二檢查單元E2的該第二上端子E2241與該第二電極E235間，以被測試電容之電容量、損耗或品質因子(俗稱CD)，再經過該第一檢查單元E1的該第一上端子 E1231與該第一電極E135間，以被測試電容之絕緣阻抗(俗稱IR)，然後依須要可再經過該第二檢查單元E3進行再一次的電容之電容量、損耗或品質因子測試；其中，該第一檢查單元E1由於具有多組相對應的該第一上端子模組E12、該第一下端子模組E13，因此在進行電容之絕緣阻抗測試時，可以每四組分別作充電、充電、測試、放電的方式作多階段的測試。

該第一檢查單元E1由於係用以檢查測試電容之絕緣阻抗，其測試的電量較低，該第一電極E135較少損耗，故被與該承載底盤B所對應的該軸孔B215焊固而不可位移，惟該第二檢查單元E3因作電容之電容量、損耗或品質因子測試，其測試電量較高，故設計上使該第二電極E235可進行上、下微調使與該承載底盤B的該第二檢查區塊B22上的該軸孔B225作相對位移，以適應該第二電極E235需應對較高的耗損！在進行電容之電容量、損耗或品質因子(CD)測試時，電容之電子元件先經該第二檢查單元E2測試取得一第一量測值後，在經該第一檢查單元E1測試電容之絕緣阻抗(IR)時會有減損，因此再經由該第二檢查單元E3再作第二次的電容之電容量、損耗或品質因子(CD)測試取得一第二量測值後，係以該第一量測值減去該第二量測值的差值，作為判定值來評估該受測的電容是否為預期容許的部品。

本發明實施例的電子元件測試裝置及測試方法，由於作為檢查測試電容之電容量、損耗或品質因子(CD)的該第二檢查單元E2、E3中的切換電路E222、E232以乾式接點的該開關切換器E2221或該開關切換器E2321作開關切換；該乾式接點的開關切換器E2221、E2321可以分別直接設於該第二上端子模組E22或該第二下端子模組E23，其既無濕式接點的水銀繼電器龐大的體積亦無需冗長的電纜線，與電子式的MOSFET電路相較，經過測試時可以取得約僅30mΩ左右的低導通阻抗，以及約0.5pf以下 的低雜散電容，相較於MOSFET高達10pf以上的雜散電容值，可以有更好的抗干擾效果，而無需設置接地的電路使雜散電容逃散，且在進行電容類的電子元件檢查測試時反應速度快，可以獲得更好的測試精準度。

惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

E22:第二上端子模組

E222:切換電路

E2221:開關切換器

E2224:端部

E2225:另一端部

E224:第二上端子組件

E2241:第二上端子

E2247:端子銷

E23:第二下端子模組

E232:切換電路

E2321:開關切換器

E2323:端部

E2324:另一端部

E234:第二下端子

E2341:頂抵端

E2342:導接件

M:檢查器

Claims (12)

1. 一種電子元件測試裝置，包括：一機台，其上設有一機台台面；一承載底盤，設於該機台台面，該承載底盤上設置可被驅動進行間歇旋轉的測試板，並在該承載底盤周緣外設置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；其中，該檢查單元設有可進行電容之絕緣阻抗檢查的一第一檢查單元，該第一檢查單元設有一第一上端子模組、及對應設於各該第一上端子模組下方的第一下端子模組；該第一上端子模組設有複數個第一上端子；該第一下端子模組設有複數個第一下端子；該檢查單元更設有可進行電容之電容量、損耗或品質因子檢查的一第二檢查單元；該第二檢查單元設有一第二上端子模組、及對應設於該第二上端子模組下方的一第二下端子模組；該第二上端子模組設有複數個第二上端子；該第二下端子模組設有複數個第二下端子；該第二檢查單元設有切換電路，該切換電路設有乾式接點的開關切換器作為切換器；該第二檢查單元的該第二上端子模組及該第二下端子模組分別各設有該切換電路。
2. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該乾式接點的開關切換器為簧片繼電器(Reed Relay)或捲軸繼電器(Reel Relay)其中之一。
3. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該第二檢查單元設有兩個，分別位於該測試板進行間歇旋轉的方向該第一檢查單元前、後。
4. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該承載底盤係由複數個分別獨立但可相互對接組併的不同大小扇形的區塊所組構而成，包括與該檢查單元對應設置的一檢查區塊，其中，該檢查區塊係由分別獨立但 可相互對接組併的一第一檢查區塊及一第二檢查區塊所組構而成，其中，該第一檢查區塊與該第一檢查單元對應設置，該第二檢查區塊與該第二檢查單元對應設置。
5. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該承載底盤的一軸孔下方設有一電極座，該電極座設有對應於該承載底盤該軸孔且其內設有內螺紋的一微調孔，一第二電極以一螺紋部螺設於該電極座的該微調孔中，並以一電極部伸經該承載底盤所對應的該軸孔，而以該電極部上端面抵於該測試板上的一座槽下方。
6. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該第一檢查單元的該第一上端子模組設於一第一座架，該第二檢查單元的該第二上端子模組設於一第二座架，該第一座架與該第二座架相隔間距互不連動；該第二上端子模組的複數個該第二上端子相隔間距直線併列。
7. 如請求項6所述電子元件測試裝置，其中，該第二座架以一底座設於該機台台面上，該底座設有位於一側可作X軸向拉拔位移的插銷、位於上表面並於相對該第二上端子模組另一側與該底座樞設的一掀座；該掀座設有位於一側可在掀起時供該插銷插入的定位孔、位於該掀座上表面Z軸向用以握扳該掀座使其往一側掀起的一握把、位於該掀座上表面可將該掀座鎖固於該底座的一螺固件、位於該掀座上表面的一立設台座，該台座底部與該掀座間設有微調該台座X軸向位移的一第一微調座及微調該台座Y軸向位移的一第二微調座，該台座一側設有用以固定該第二上端子模組的一固定架，該台座一側與該固定架間設有微調該固定架Y軸向位移的一第三微調座，該第三微調座並設置具有刻度的一微調轉鈕供進行微調該第二上端子模組與該測試板上表面間的間距高度。
8. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該第二上端子模組設有一底板，該底板上設有位於上方的該切換電路及位於下方的一端子座，該端子座上設有複數個相隔間距直線併列的第二上端子組件；該第二上端子組件由下往上依序設有位於該測試板上方的該第二上端子、位於該端子座上凹設的一置穴中供安裝該第二上端子的一上端子座、位於該置穴內該上端子座上方提供該第二上端子上下彈性驅力的一彈性件、一端固設於該上端子座而另一端與置穴內上緣保持一間距以限制該第二上端子上死點的一擋件、一端與該第二上端子連接並電性導通的一導電片、使該導電片另一端受固設的一轉接部、與該轉接部固設的一端子銷。
9. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該切換電路係設於電路板上，電路板設對應該第二上端子數量的複數個導電座，每一導電座分別各連接一連接器，該連接器與一第二上端子組件中的一端子銷可插拔地結合導通。
10. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該第二下端子模組設有一底板，該底板上設有位於下方的該切換電路及位於上方的一下端子座，該下端子座上設該第二下端子。
11. 如請求項1所述電子元件測試裝置，其中，該第二下端子上方的一端分別頂抵一第二電極的底端，該第二電極呈桿狀並由上而下分別設有一段電極部、具有一段外螺紋的一螺紋部、及具有可供工具扳轉以作上下微調的調整部。
12. 一種電子元件測試方法，使用如請求項1、2、4至11任一項所述電子元件測試裝置，其中該第二檢查單元設有二個，當待測元件位於一測試板上的一座槽中被以間歇旋轉流路進行搬送時，先經過其中一個該第二檢查單元被測試電容量、損耗或品質因子，再經過該第一檢查單元被 測試絕緣阻抗，然後再經過另一個該第二檢查單元被測試電容量、損耗或品質因子；該電子元件經第一個該第二檢查單元測試取得一第一量測值，再經由第二個該第二檢查單元再作第二次的電容之電容量、損耗或品質因子測試取得一第二量測值，以該第一量測值減去該第二量測值的差值，作為判定值來評估該受測的電容是否為預期容許的部品。

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