CN115508631A - 电子元件测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电子元件测试装置，包括：一机台台面的一承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在周缘外设置一入料单元、一检查单元、及一排出单元；该排出单元以一导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；该导管板一侧设于一掀架，该掀架以一端枢设于该收集机构的一座架上方的一枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，被掀起；借此使维修便利。
Description
技术领域
本发明有关于一种测试装置，尤指一种适于对电子元件进行测试的电子元件测试装置。
背景技术
一般电子元件在制造完成后通常需经过测试以确定其物理特性，例如用于电容类的电子元件测试的公告号码第411735号的「电路元件装卸装置」专利申请案所提供的装置，其以一个或数个元件槽座的同心环座可相对于环心旋转，槽座均匀地以角度间隔并以增量方式旋转，而该旋转增量即是相邻槽座间的角度间隔，该环座以某个角度顷斜，而且当环座旋转时，元件流路向环座倾倒元件，邻接于槽座的外板侧边的固定栅板局限未归位的元件因动力而随机滚落于通过环座旋转路径的弧段的空槽座，随机的滚动使元件归位入槽座中，在旋转环座的路径中有用以连接元件和测试机的电子接触器，被测试过的元件经过一喷出歧管的下方，该喷出歧管板界定了许多喷出孔，而每当环座旋转一增量时喷出孔则与一组槽座相互对齐，喷出管与喷出口相连接，元件被选择性启动的各个气压阀门的空气的鼓风而从槽座喷出，由空气的鼓风和重力作用，喷出的元件经由管子落下并依管路板的导引进入分类储盒中，元件流路能响应于表示栅板缺少元件的检测器的信号而选择性地被引向该栅板，感应器能检测出在座槽中尚未被喷出歧管所喷出的元件。
该公告号码第411735号专利申请案的现有技术虽然提供电容类电子元件的测试及分类收集，但该现有技术的该喷出歧管板是以螺固件螺设固定在机台台面上，一旦须进行各喷出歧管的维修，必须逐一拆卸各螺固件，相当麻烦费事，有鉴于此，实有待改进之处。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种维修便利的电子元件测试装置。
依据本发明目的的电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；该导管板一侧设于一掀架，该掀架以一端枢设于该收集机构的一座架上方的一枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方。
依据本发明目的的另一电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；该座架内供设置该料盒，该座架受枢设，该座架可掀转至一侧，使该机台台面下方靠该排出单元的一侧呈现一镂空的操作区间。
本发明实施例的电子元件测试装置，由于该导管板一侧设于该掀架，该掀架以一端枢设于该收集机构的该座架上方的该枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方，因此操作人员可便于对该排出单元进行检修。
附图说明
图1是一种电子元件测试装置的立体示意图，用以说明本发明实施例。
图2是该电子元件测试装置机台台面上各机构配置示意图。
图3是该电子元件测试装置中承载底盘的示意图。
图4是该电子元件测试装置中各区块对应各单元的示意图。
图5是该电子元件测试装置中该测试板上表面部分示意图。
图6是该电子元件测试装置中该测试板下表面部分示意图。
图7是该电子元件测试装置中该排出单元与收集机构一侧的立体示意图。
图8是该电子元件测试装置中该排出单元与收集机构另一侧的立体示意图。
图9是该电子元件测试装置中该掀架被掀至该座架上方及该座架掀转至一侧的立体示意图。
【符号说明】
A：机台
A1：机台台面
A11：定位件
A2：机台桌面
A21：定位孔
A3：机台前侧
A31：卡掣件
B：承载底盘
B1：入料区块
B11：入料吸沟
B12：吸孔
B13：短弧边
B14：长弧边
B15：前端边
B16：后端边
B17：空部位
B171：第三吸沟
B172：吸孔
B2：检查区块
B21：第一检查区块
B211：第一吸沟
B212：吸孔
B213：隔肋
B214：轴环
B215：轴孔
B216：短弧边
B217：长弧边
B218：前端边
B219：后端边
B22：第二检查区块
B221：第二吸沟
B222：吸孔
B223：隔肋
B224：轴环
B225：轴孔
B226：短弧边
B227：长弧边
B228：前端边
B229：后端边
B23：第二检查区块
B3：排出区块
B31：排料吸嘴
B32：吸孔
B33：短弧边
B34：长弧边
B35：前端边
B36：后端边
C：测试板
C1：座槽
C2：导沟
C3：清洁槽
C31：扩凸区间
D：入料单元
E：检查单元
E1：第一检查单元
E2：第二检查单元
E3：第三检查单元
F：排出单元
F1：导管板
F2：导管
F3：掀架
F31：重叠部位
F32：螺固件
F33：定位槽
F4：连接件
F5：枢杆
F6：弹性件
F7：螺抵件
F8：离子产生器
F81：吹送槽
F9：检查组件
F91：检测器
G：供料单元
H：导料架
H1：嵌座
H11：侧座
H12：侧座
H2：嵌孔
K：收集机构
K1：料盒
K2：座架
K21：枢转座
K22：角侧
K23：枢扣座
K24：拉把
K25：背侧部
K26：扣设部
K3：操作区间
K4：背侧面
L：径向轴线
具体实施方式
请参阅图1、2所示，本发明实施例以用于电容类的的受测元件进行测试的电子元件测试装置来作说明，但并不拘限于电容类电子元件的实施；其是在一机台A上倾斜约六十度的一机台台面A1上设有圆盘状的一金属材质的承载底盘B，该承载底盘B上设置可被驱动依一顺时针方向间歇进行旋转的测试板C，并在该承载底盘B周缘外设置有用以载入受测元件的一入料单元D、用以对受测元件进行测试其特性的一检查单元E、及用以将完成测试的该受测元件排出收集的一排出单元F，在该机台A水平的一机台桌面A2上设有用以提供该受测元件的一供料机构G及用以引导该排出单元F至一收集机构K的一导料架H，在该机台A前侧设有容置多个料盒K1的该收集机构K。
请参阅图2所示，该检查单元E设有用以进行电容的绝缘阻抗(俗称IR)检查的一个第一检查单元E1，及用以进行电容的电容量、损耗或品质因子(俗称CD)检查的分别位于该测试板C间歇进行旋转的方向该第一检查单元E1前、后的二个第二检查单元E2、E3；其中，位于间歇进行旋转的方向该第一检查单元E1后的该第二检查单元E3可依需要予以省略不设。
请参阅图3、4所示，该承载底盘B是由多个分别独立但可相互对接组并的不同大小扇形的区块所组构而成，包括与该入料单元D对应的设置的一入料区块B1，与该检查单元E对应设置的一检查区块B2、及与该排出单元F对应的一排出区块B3，其中，该检查区块B2是由分别独立但可相互对接组并的一第一检查区块B21及二个第二检查区块B22、B23所组构而成，其中，该第一检查区块B21与该第一检查单元E1对应设置，二个该第二检查区块B22、B23分别与二个该第二检查单元E2、E3对应设置；
该入料区块B1上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的凹设环弧状的入料吸沟B11，每一入料吸沟B11中设有沿该入料吸沟B11底部间隔排列的多个镂空的吸孔B12；所述吸孔B12可连通负压源抽真空，使入料吸沟B11内形成负压的真空状态；该入料区块B1包括相互平行的一短弧边B13及一长弧边B14，以及互呈一夹角的一前端边B15及一后端边B16；
该第一检查区块B21上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第一吸沟B211，每一第一吸沟B211中设有沿该第一吸沟B211底部间隔排列的多个镂空的吸孔B212，径向直线排列的每二个该第一吸沟B211间对应部位的隔肋B213上，设有多行(本实施例设有16行)相隔间距位于扇形径向轴线上分别各设有一具绝缘材质构成的轴环B214，每一轴环B214上设有一轴孔B215；所述吸孔B212可连通负压源抽真空，使第一吸沟B211内形成负压的真空状态；该第一检查区块B21包括相互平行的一短弧边B216及一长弧边B217，以及互呈一夹角的一前端边B218及一后端边B219；
该第二检查区块B22上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第二吸沟B221，每一第二吸沟B221中设有沿该第二吸沟B221底部间隔排列的多个镂空的吸孔B222，径向直线排列的每二个该第二吸沟B221间对应部位的隔肋B223上仅设有一行分别各设有一具绝缘材质构成的轴环B224，每一轴环B224上设有一轴孔B225，每一列的该轴环B224共同位于扇形中央的径向轴线L上；所述吸孔B222可连通负压源抽真空，使第二吸沟B221内形成负压的真空状态；该第二检查区块B22包括相互平行的一短弧边B226及一长弧边B227，以及互呈一夹角的一前端边B228及一后端边B229；
该第二检查区块B23与该第二检查区块B22构造相同，同理可推，兹不赘述；惟当该第二检查单元E3依前述不需要而省略时，该第二检查区块B23上可如图3所示省略如该第二检查区块B22中该轴环B224、轴孔B225；
该排出区块B3上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的排料吸沟B31，每一排料吸沟B31中设有沿该排料吸沟B31底部间隔排列的多个镂空的吸孔B32；所述吸孔B32可连通负压源抽真空，使排料吸沟B31内形成负压的真空状态；该排出区块B3包括相互平行的一短弧边B33及一长弧边B34，以及互呈一夹角的一前端边B35及一后端边B36；
该第一检查区块B21上的该第一吸沟B211与该第二检查区块B22、B23上的该第二吸沟B221在组并时相导通，但与该入料区块B1上的该入料吸沟B11、该排出区块B3上的该排料吸沟B31在组并时互不导通；该入料区块B1上的该入料吸沟B11在后端裕留一段空部位B17，该空部位B17设有一小段与该第二检查区块B22上的该第二吸沟B221在组并时导通的第三吸沟B171，并于该第三吸沟B171中设有镂空的吸孔B172。
请参阅图3、5所示，该测试板C上表面设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的镂设矩形的座槽C1，该座槽C1每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽C1直线间隔排列呈多数行；每一个座槽C1可供容纳上、下分别各设有电极的一受测元件，例如电容类的电子元件，该受测元件以电极分别位于上、下端方式于图5中该入料单元D处落置于该座槽C1中。
请参阅图3、6，该测试板C下表面每一该座槽C1底部各径向朝外圆周伸设一段凹设的导沟C2，各该导沟C2分别与该承载底盘B的该入料吸沟B11、第一吸沟B211、第二吸沟B221、及排料吸沟B31在该测试板C进行间歇旋转时导通，以由该承载底盘B中该吸孔B12、吸孔B1213、吸孔B1223、及吸孔B32导入负压抽真空时，负压可经由该入料吸沟B11、第一吸沟B211、第二吸沟B221、及排料吸沟B31，对各该座槽C1中容置的待测物件(在本实施例中为电容类的电子元件)进行吸附；该测试板C下表面两行该座槽C1间形成长条凹设区间状的清洁槽C3，该清洁槽C3临近每一该座槽C1处形成一朝该座槽C1靠近的扩凸区间C31，所述清洁槽C3用以容纳该测试板C下表面长期操作下与该承载底盘B间磨擦所产生的粉屑，以避免阻塞该座槽C1底部孔径。
请参阅图1、3、7所示，该排出单元F设有一导管板F1，该导管板F1上设有多个具有挠性的导管F2，每一导管F2分别各以一端对应该测试板C上的一个该座槽C1上方，另一端则牵引经该导料架H而对应导通至该收集机构K的一个料盒K1；
该收集机构K设有一矩形框体状的座架K2，座架K2内供设置该料盒K1，座架K2上方形成该机台桌面A2供设置该导料架H；该导料架H上设有多列长条状的嵌座H1，该嵌座H1上设有多个相隔间距直线排列分别可各供该导管F2嵌设的嵌孔H2，该嵌座H1由分置左、右两侧的可拆卸、组装的二侧座H11、H12共同并置组成。
请参阅图1、7、8，所示，该排出单元F的该导管板F1一侧设于一掀架F3，其中，该掀架F3借助一连接件F4与该导管板F1连设并连动，该连接件F4与该掀架F3上、下设有一重叠部位F31，并于该重叠部位F31处相隔间距设有二枢杆F5，并在该连接件F4下表面与该掀架F3上表面间设有弹簧构成的弹性件F6(图中未示)，借助该弹性件F6的顶撑保持了该连接件F4下表面与该掀架F3上表面间的间距，并在该连接件F4上设有一螺抵件F7螺抵至下方的该掀架F3上表面中，借助螺抵件F7的螺抵向下或向上，以调整连接件F4在二枢杆F5的支撑下作上下位移，以连动该导管板F1改变与该测试板C间的间距；该掀架F3设有二螺固件F32可螺至该机台台面A1以固定该掀架F3；该掀架F3并设有镂空的长槽状的一定位槽F33，该定位槽F33恰可在该掀架F3落置于该机台台面A1时，正套嵌在该机台台面A1上的一定位件A11上，使该掀架F3获得定位；该掀架F3以一端枢设于该收集机构K的该座架K2上方的一枢转座K21，该座架K2一角侧K22上、下分别各受一枢扣座K23枢设，该座架K2一侧设有一拉把K24。
请参阅图8、9，借助拉握该拉把K24，可使该座架K2以该枢扣座K23为支点作掀转至一侧，使机台台面A1下方靠该排出单元F的一侧呈现一镂空的操作区间K3，操作人员可位于该操作区间K3中靠近机台台面A1进行维修；该导管板F1及其上的各导管F2可随该掀架F3由该机台台面A1往该收集机构K方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元F位于该座架K2上方，并在该座架K2掀转至一侧时，整个该排出单元F将被连动位移转至一侧。
请参阅图7、9，在该测试板C以顺时针方向间歇旋转进入该排出单元F的该导管板F1下方而欲离开该导管板F1下方处的该导管板F1上，设有一离子产生器F8，并在该离子产生器F8处的该导管板F1下方设有一呈细长槽缝状并延伸横跨覆盖该各测试板C径向的各列座槽C1的吹送槽F81，该离子产生器F8可产生离子气体经该吹送槽F81对该测试板C上表面吹送，以避免受测元件因静电粘附在该测试板C表面；该测试板C以顺时针方向间歇旋转离开该导管板F1后的该导管板F1外设有一检查组件F9，该检查组件F9设有分别对应该测试板C上各列座槽C1上方的检测器F91，用以检查是否有未被该导管F2或吸附槽F8排除的受测元件；
该机台台面A1下方的机台前侧A3设有相隔间距分设上、下的可受驱动作水平朝一侧伸出或缩回位移的卡掣件A31，该座架K2相对该机台前侧A3的一背侧面K25设有相隔间距分设上、下的二扣设部K26，该座架K2一侧以该枢扣座K23为支轴使另一侧相对该机台前侧A3作朝靠后，可借助该卡掣件A31受驱动卡嵌入该扣设部K26，而使该座架K2保持在定位，或在欲使该座架K2一侧以该枢扣座K23为支轴使另一侧相对该机台前侧A3作掀启时，借助该卡掣件A31受驱动缩回并脱离对该扣设部K26卡嵌，而使该座架K2解除定位而可作掀启。
本发明实施例的电子元件测试装置，由于该导管板F1一侧设于该掀架F3，该掀架F3以一端枢设于该收集机构的该座架K2上方的该枢转座K21，使该导管板F1及其上的各导管F2可随该掀架F3由该机台台面A1往该收集机构K方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元F位于该座架K2上方，因此操作人员可便于对该排出单元F进行检修。
以上所述仅为本发明的实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，凡是依本发明申请专利范围及专利说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。
Claims (10)
1.一种电子元件测试装置，包括：
一机台，其上设有一机台台面；
一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，
该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；
该导管板一侧设于一掀架，该掀架以一端枢设于该收集机构的一座架上方的一枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方。
2.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其中，该座架内供设置该料盒，该座架受枢设，该座架可掀转至一侧，使该机台台面下方靠该排出单元的一侧呈现一镂空的操作区间。
3.一种电子元件测试装置，包括：
一机台，其上设有一机台台面；
一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，
该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；
该座架内供设置该料盒，该座架受枢设，该座架可掀转至一侧，使该机台台面下方靠该排出单元的一侧呈现一镂空的操作区间。
4.如权利要求3所述的电子元件测试装置，其中，该导管板一侧设于一掀架，该掀架以一端枢设于该座架上方的一枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方。
5.如权利要求1或3任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该座架以一角侧上、下分别各受一枢座枢设。
6.如权利要求1或3任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该座架一侧设有一拉把，借助拉握该拉把，可使该座架以一枢扣座为支点作掀转至一侧。
7.如权利要求1或3任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该座架与整个该排出单元可连动位移。
8.如权利要求1或3任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该座架上方供设置一导料架；该导料架上设有多列长条状的嵌座，该嵌座上设有多个相隔间距直线排列分别可各供该导管嵌设的嵌孔，该嵌座由分置左、右两侧的可拆卸、组装的二侧座共同并置组成。
9.如权利要求1或4任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该掀架借助一连接件与该导管板连设并连动，该连接件与该掀架上、下设有一重叠部位，并于该重叠部位处相隔间距设有枢杆，并在该连接件下表面与该掀架上表面间设有弹性件，借助该弹性件的顶撑保持了该连接件下表面与该掀架上表面间的间距，并在该连接件上设有一螺抵件螺抵至下方的该掀架上表面中，借助螺抵件的螺抵向下或向上，以调整连接件在枢杆的支撑下作上下位移，以连动该导管板改变与该测试板间的间距。
10.如权利要求1或4任一权利要求所述的电子元件测试装置，其中，该掀架设有镂空的一定位槽，该定位槽恰可在该掀架落置于该机台台面时，正套嵌在该机台台面上的一定位件上，使该掀架获得定位。
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