KR100214774B1 - 시퀀스전자부품의 자동검사장치 - Google Patents

시퀀스전자부품의 자동검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100214774B1
KR100214774B1 KR1019960013983A KR19960013983A KR100214774B1 KR 100214774 B1 KR100214774 B1 KR 100214774B1 KR 1019960013983 A KR1019960013983 A KR 1019960013983A KR 19960013983 A KR19960013983 A KR 19960013983A KR 100214774 B1 KR100214774 B1 KR 100214774B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electronic component
discharge conveyor
conveyor
inspection
pitch wheel
Prior art date
Application number
KR1019960013983A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970072252A (ko
Inventor
최병희
Original Assignee
전주범
대우전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 전주범, 대우전자주식회사 filed Critical 전주범
Priority to KR1019960013983A priority Critical patent/KR100214774B1/ko
Publication of KR970072252A publication Critical patent/KR970072252A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100214774B1 publication Critical patent/KR100214774B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

본 발명은 리드선(1-1)이 엑시얼타입(axial Type)인 저항이나 다이오드와 같은 전자부품의 제조과정에서 생산 완료되어 연속적으로 공급되어지는 각 전자부품을 검사하여 양품 또는 불량품인가를 확인하고 설정치 이하의 규격을 갖는 전자부품만을 인출할 수 있도록 된 시퀀서상의 전자부품의 자동검사장치를 제공한다.
공급컨베이어(21)에 의해 공급되어지는 전자부품(1)이 피치휠(26)측으로 전이되어 회전되는 동안 프로브(27)에 의해 측정검사를 받게 되고 배출컨베이어(22)측으로 전이되어 배출될 때 축출장치(36)에 의해 배출컨베이어(22)의 외측에 있는 수집통(11)으로 추출시킬 수 있게 되는 것인바, 검사장치의 정지없이 지속적으로 검사를 실시하게 되므로 검사능률을 향상시킬수 있어 생산성이 향상되고 불량부품을 파지하여 인출시키기 때문에 검사장치에 충격이나 진동이 발생할 염려가 없으며, 보다 정밀하게 검사를 실시할 수 있어 품질의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

Description

시퀀스전자부품의 자동검사장치
제1도는 종래의 검사장치가 컨베이어상에 구비된 상태를 보인 예시도.
제2도는 종래의 검사장치를 보인 예시도로서, a도는 정면도이고, b도는 평면도이다.
제3도는 본 발명에 따른 검사장치의 정면도.
제4도는 본 발명에 따른 검사장치의 평면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 전자부품 2, 23 : 스크로켓
3, 24 : 이송체인 4, 25 : 이송편
5, 8 : 실린더 6 : 테스트핀
7 : 스톱편 7-1 : 스톱퍼
8-1 : 푸셔 9 : 받침대
10 : 계측기 11 :수집통
20 : 검사장치 21 : 공급컨베이어
22 : 배출컨베이어 26 : 피치휠
26-1 : 이송홈 27 : 프로브
28 : 스프링 29 : 지지편
30 : 샤프트 31 : 슬리트
32 : 포토센서 33 : 인덱스드라이버
34 : 스프로켓 35 : 체인
36 : 축출장치 37 : 일축로보트
38 : 실린더 39 : 핑거실린더
29-1 : 핑거
본 발명은 엑시얼타입(axial Type)의 리드선을 지니는 저항이나 다이오드와 같은 전자부품의 제조과정에서 생산 완료되어 연속적으로 공급되어지는 각 전자부품을 검사하여 양품 또는 불량품인가를 확인하고 설정치 이하의 규격을 갖는 전자부품만을 인출할 수 있도록 구성된 시퀀서상의 전자부품의 자동검사장치에 관한 것이다.
본 발명의 저항이나 다이오드와 같이 엑시얼타임(axial Type)이 전자제품을 생산할 때 생산되어진 전자부품 이송수단에 의해 소정의 공정으로 이송시키는 도중에서 각 전자부품의 성능을 확인하고 검사하는 것으로써 이송수단인 이송컨베이어를 분리하고, 그 중간에 피치휠을 구비하여 전자부품을 피치휠로 이송시키는 과정에서 상기 피치휠을 정지시키지 않는 상태에서 프로브에 의해 자동으로 검사할 수 있도록 하며, 검사과정에서 불량판정을 받은 전자부품은 배출시에 소정의 위치에서 추출하여 폐기시킬 수 있도록 된 자동검사장치이다.
다이오드나 저항과 같이 부품의 양측으로 리드선이 구비되는 엑시얼타입의 전자부품은 제1도 및 제2도에서 도시된 바와 같은 장치에 의해 검사를 실시하였었다.
제1도는 통상의 이송컨베이어상에 종래의 검사장치가 구비된 상태를 보인 예시도이고, 제2도는 종래의 검사장치의 정면도 및 평면도이다.
제1도에 도시된 바와 같이 이송편(4)이 구비된 이송체인(3)의 스프로켓(2)의 회전에 의해 공전되어지면서 전자부품(1)을 이송하도록 된 이송컨베이어의 소정위치에 실린더(5)와 실린더(8)를 이격시켜 도립 고정시키되 실린더(5)의 로드에는 테스트핀(6)을 구비하고 실린더(8)의 로드에는 푸셔(8-1)를 구비하여서된 것으로서 특히 테스트핀(6)이 구비되는 실린더(5)의 로드에는 스톱편(7)을 구비하고 스톱편(7)의 하측에 스톱편(7-1)을 임의수단으로 고정시켰으며 테스트핀(6)과 동일수직선상에 정지하는 전자부품(1의 리드선(1-1)의 하측에는 상기 리드선(1-1)을 받쳐주는 받침대(9)가 구비되어 있다.
이와 같이된 종래의 검사장치는 다음과 같이 작동된다.
스프로켓(2)이 인덱스장치와 같은 수단에 일정한 각도씩 단속적으로 작동되면 이송체인(3)과 이송편(4)이 일정한 간격씩 전진하여 궤도를 공전하게 되며, 이송체인(3)과 함께 이송편(4)이 전진될 때마다 전자부품(1)을 테스트핀(6)과 푸셔(8-1)의 바로 하측으로 이동하게 된다.
이와 같이 전자부품(1)이 이동될 때마다 실린더(5)가 작동하여 테스트핀(6)을 하향시켜 바로 하측에 있는 전자부품(1)의 리드선(1-1)과 접촉시키게 되는데 테스트핀(6)이 하향될 때 스톱편(7)이 스톱퍼(7-1)에 얹혀지면서 너무하향되는 것이 방지되어지며, 특히 전자부품(1)의 리드선(1-1)을 받침대(9)가 받쳐주어서 하측으로 휘어지는 것을 방지하도록 하고 있다.
이와 같이 테스트핀(6)에 의해 측정될 때 측정값은 계측기(10)에 표시되어지며, 이미 입력되어 있는 표준값과 비교하여 실린더(8)의 작동여부를 결정한다.
측정되는 전자부품(1)은 이미 설정되어 있는 프로그램에 의해 그 전자부품(1)이 푸셔(8-1)의 하측에 위치하도록 이송체인(3)이 작동되어진 후 푸셔(8-1)를 통과하거나 푸셔(8-1)에 의해 수집통(11)으로 배출되게 된다. 측정이 완료되면 실린더(5)가 역으로 작동하여 테스트핀(6)을 상향시킨다.
이와 같은 과정이 한차례 또는 한차례 이상 반복되어져 그 측정된 전자 부품(1)이 푸셔(8-1)의 하측으로 이동되어오며, 정품인 경우에는 실린더(8)가 그대로 있게 되고, 불량품으로 판정된 것을 경우에는 실린더(8)가 작동하여 푸셔(8-1)를 하향시킨다. 푸셔(8-1)가 하향되면서 전자부품(1)의 리드선(1-1)을 하측으로 밀어주게 되므로 이송편(4)에 걸쳐져 있던 전자부품(1)은 수집통(11)으로 낙하된다.
그러나 이와 같이 작동되는 종래의 측정장치는 다음과 같은 문제점이 단점으로 지적된다.
스프로켓(2)을 단속적으로 회전시키면서 이송편(4)을 이동시키고 정지상태에서 측정을 실시하기 때문에 측정능률이 떨어져 생산성이 떨어지는 문제가 있고, 실린더(8)에 의한 푸셔(8-1)로서 리드선(1-1)을 타격하기 때문에 진동과 충격으로 인하여 측정이 정확히 이루어지지 못한 가능성이 있으며, 측정에 사용되는 실린더(5)를 끊임없이 작동시키기 때문에 마모가 심하여 주기적으로 교체 시켜주어야 하는 문제가 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제와 폐단을 해소할 수 있도록 된 시퀀서상의 전자부품의 자동검사장치를 제공하는 대에 그 목적이 있다.
본 발명의 전자부품을 단속적으로 공급시키는 것이 아니라 연속적으로 공급시켜주면서 테스트를 실시하도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 자동 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 진동과 충격을 주지 않으면서 불량품을 제거함으로서 측정이 정확하게 이루어질 수 있으며, 측정용 실린더를 제거함으로서 제작가의 절감과 운용시의 비용을 절감할 수 있도록 된 자동검사장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 상술한 목적을 달성하기 위한 자동검사장치는, 리드선이 일직선으로 된 전자부품을 이송시키면서 프로브로 검사하여 불량품을 선별시키기 위한 시퀀서상의 전자부품의 검사장치에 있어서 : 스프로켓 및 이송체인에 의해 이송되고 상기 리드선을 적치하여 전자부품을 이송시키기 위해 다수 쌍의 이송편이 일정한 피치로 설치된 공급컨베이어; 그 공급컨베이어와 이격되게 설치되고 스프로켓 및 이송체인에 의해 이송되며 상기 리드선을 적치하여 전자부품을 이송시키기 위해 다수 쌍의 이송편이 일정한 피치로 설치된 배출컨베이어; 외주연에 리드선을 적치시켜 원호방향으로 이송시키기 위한 이송홈이 등간격으로 형성되고, 공급컨베이어로부터 이송되는 전자부품을 하나씩 일측의 이송홈에 걸려 원주방향으로 이송되고 반대측의 이송홈으로부터 전자부품이 하나씩 배출컨베이어의 이송편에 걸려 배출컨베이어에 의해 이송되도록 구동수단에 의해 회전가능하게 그 공급컨베이어와 배출컨베이어사이에 설치되는 피치휠; 피치휠의 상측에는 스프링으로 탄발되어 원주방향으로 이송되는 전자부품의 리드선에 접촉하여 연속적으로 검사하도록 계측기와 연결되어 설치되는 프로브; 그리고 그 프로브에 의해 검사한 결과, 불량인 때에는 배출컨베이어측의 선행부에서 불량인 전자제품을 축출할 수 있도록 설치되는 축출장치를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이 경우, 상기 공급컨베이어 및 배출컨베이어의 이송편의 이송속도와 피치휠의 이송홈의 이송속도가 동일한 것이 별도의 제어가 필요없이 자동으로 전이가 이루어지며; 상기 축출장치는 핑거가 구비된 핑거실린더를 실린더로서 상하 이동시키고 상기 실린더는 일축로보트에 의해 배출컨베이어의 작동방향과 교차되게 작동시키도록 구성될 수 있으며; 또한, 상기 피치휠은 인덱스드라이버가 구비되는 샤프트에 축설시키되 그 샤프트에 포토센서에 의해 감지되는 슬리트를 구비하고 인덱스드라이버의 외축의 샤프트에 체인이 감겨지는 스크로켓을 축설하여서 구성될 수 있다.
본 발명의 상기와 같이 되어 있으므로 공급컨베이어에 의해 공급되는 전자부품을 피치휠측으로 전이시켜 회전시키는 동안 프로브 및 계측기에 의해 검사를 실시할 수 있고 검사가 완료된 전자부품은 다시 배출컨베이어측으로 배출시키되 배출과정의 선단부에서 취출장치에 의해 불량제품을 배출시킬 수 있게 되는 것이다.
이하 본 발명의 상기 및 기타목적과 특징 및 효과는 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명에 의해 더욱 명확하게 이해할 수 있을 것이다.
첨부도면에서 제3도는 본 발명에 따른 검사장치(20)의 정면도를 보인예시도이고, 제4도는 평면도이다.
본 발명은, 제1도 및 제2도에서 이송편(4)과 이송체인(3)으로 되는 통상의 이송컨베이어를 공급컨베이어(21)와 배출컨베이어(22)로 분할하고 이격시켜서 각각의 스프로켓(23)에 의해 별도로 작동시킬 수 있도록 구성하고, 그 공급컨베이어(21)와 배출컨베이어(22)사이에 이송홈(26-1)이 등간격으로 요설된 피치휠(26)을 구비하는 것이다. 그 이송편(25)의 간격과 이송홈(26-1)의 간격은 동일한 간격으로 유지시켰다.
피치휠(26)은 인덱스드라이버(33)가 구비되는 샤프트(30)에 축설시키되 그 샤프트(30)에 포토센서(32)에 의해 감지되는 슬리트(31)을 구비하고 인덱스 드라이버(33)의 외측의 샤프트(30)에 체인(25)이 감겨지는 스프로켓(34)을 축설하였다.
상기 슬리트(31)는 피치휠(26)의 화전상태를 감지하게 되고 축출장치(36)의 작동여부를 결정하게 되며, 또 상기 이송홈(26-1)은 피치휠(26)의 중앙 양측에 구비되어져서 전자부품(1)의 리드선(1-1)이 인입되어진다.
피치휠(26)의 상측에는 지지편(29)에 고정된 스프링(28)에 의해 하향으로 탄발되는 한쌍의 프로브(27)가 제3도 및 제4도에 도시된 바와 같이 전자부품(1)의 양측으로 구비되어 있는 리드선(1-1)과 접촉되어지고 이송홈(26-1)의 회전을 간겁하지 않도록 이송홈(26-1)의 내측에 구비되어 있으며,상기 프로브(27)는 통상의 계측기(10)와 연결되어 전자부품(1)을 측정하게 된다.
배출컨베이어(22)의 선행부측에 불량부품을 제거하기 위한 축출장치(36)를 구비하였다.
배출컨베이어(22)가 작동되는 방향과 직각교차되는 방향으로 일축로보트(37)를 길게 고정시키고 그 로드에 실린더(38)를 고정시키며 실린더(38)의 로드에 핑거(39-1)를 작동시키는 핑거실린더(39)를 도립 고정시켰다.
이하 작동관계를 설명한다.
공급컨베이어(21)의 스프로켓(23)이 작동되면서 전자부품(1)이 이송편(25)에 안치된 상태에서 이송되어진다.
공급컨베이어(21)에 이송되어지는 전자부품(1)은 회전되는 피치휠(26)의 이송홈(26-1)으로 전이되어 진다.
상기 피치휠(26)은 임의 수단에 의해 공전되는 체인(35)에 의해 스프로켓(34)이 회전되고 인덱스드라이버(33)에 의해 그 회전력이 정밀한 상태로 유지되어진 후 샤프트(30)를 회전시키므로 슬리트(31)와 함께 피치휠(26)이 회전되어진다.
슬리트(31)는 회전되어지면서 포토센서(32)에 의해 감지되어지며 이송홈(26-1)의 회전수를 지속적이고 반복적으로 체킹하게 된다.
상기 공급컨베이어(21)의 작동속도와 피치휠(26)의 회전속도는 동일한 속도로 작동되기 때문에 이송편(25)에 의해 이송되어지는 전자부품(1)은 회전되는 피치휠(26)의 이송홈(26-1)에 순차적으로 삽입되어 전이되어지며, 전이된 전자부품(1)은 회전되는 피치휠(26)과 함께 이동되어진다.
피치휠(26)과 함께 이동되어지는 그 전자부품(1)은 피치휠(26)이 최상측으로 이동되어질 때 스프링(28)으로 탄발되어지는 프로브(27)와 그의 리드선(1-1)이 접촉되면서 측정이 되어지며 피치휠(26)이 회전될 때 프로브(27)와 리드선(1-1)이 접촉되는 시간에 측정되는 것으로 계측기(10)에 입력된다.
계측기(10)는 즉시 그 전자부품(1)의 양호 또는 불량을 판정하게 되며 피치휠(26)과 함께 회전되어지는 각 전자부품(1)을 즉시 판정하게 된다.
만약 어느 한 부품이 불량판정을 받게 되면 그 정보가 주제어부에 제공됨과 동시에 포토센서(32)는 슬리트(31)를 감지하고 피치휠(26)의 이송홈(26-1)이 통과되어지는 횟수를 감지하여 주제어부에 공급하고 그 불량판정위치로부터 추출위치까지의 소정의 횟수가 감지되어지면 차후에 설명되는 축출장치(36)를 작동시키게 된다.
프로브(27)에 의해 측정이 왼료되어진 전자부품(1)은 프로브(27)를 통과하여 회전되는 피치휠(26)과 함께 회전되어서 공전되는 배출컨베이어(22)측이 이송편(25)으로 전이되어지며, 불량판정을 받은 전자부품(1)이 축출장치(36)의 추출위치에 도달되어올 때 배출컨베이어(22)를 일시 정지시킨 상태에서 축출장치(36)가 즉시 작동된다.
실린더(38)가 작동하여 핑거실린더(39)를 하향시킴과 동시에 핑거실린더(39)도 작동하여 핑거(39-1)로서 불량판정의 전자부품(1)을 파지하고, 파지와 동시에 실린더(38)는 역으로 작동하여 핑거실린더(39)와 함께 파지된 불량의 전자부품(1)을 상향시킨다.
불량의 전자부품(1)이 상향되면 배출컨베이어(22)는 즉시 작동하여 다시 측정이 완료된 전자부품(1)을 이송시켜주게 된다.
핑거실린더(39)와 함께 불량의 전자부품(1)이 상향된 후 일축로보트(37)가 작동하여 이들을 배출컨베이어(22)의 외측으로 이동시켜 수집통(11)위에서 정지된다.
수집통(11)위에 정지된 후 핑거실린더(39)가 역으로 작동하여 파지상태를 해제하면 핑거(39-1)에 억류되어 있던 불량의 전자부품(1)은 수집통(11)에 낙하 수납되어진다.
이후 일축로보트(37)는 역으로 작동하여 실린더(38)와 함께 핑거실린더(39)를 원위치로 복귀시킨 상태에서 대기하며, 불량의 전자부품(1)이 확인되면 상기 과정이 반복 실시되어지면서 그 불량의 전자부품(1)을 축출하여 주게 된다.
이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 공급컨베이어(21)에 의해 공급되어지는 전자부품(1)이 피치휠(26)측으로 자동으로 전이되고, 그 피치휠(26)이 회전되는 동안 프로브(27)에 의해 측정검사를 받게되며, 배출컨베이어(22)측으로 자동으로 전이되어 배출되며, 불량제품은, 측정위치로부터 추출위치까지의 소정의 횟수후에 제어부에 의해 작동되는 축출장치(36)에 의해 배출컨베이어(22)의 외측에 있는 수집통(11)으로 추출되게 된다.
이에 따라, 검사장치의 정지 없이 지속적으로 검사를 실시하게 되므로 검사능률을 향상시킬 수 있어 생산성이 향상되고 불량부품을 파지하여 인출시키기 때문에 검사장치에 충격이나 진동이 발생할 염려가 없으며, 보다 정밀하게 검사를 실시할 수 있어 품질의 신뢰도를 향상시킬 수 있다는 것이다.

Claims (2)

  1. 리드선(1-1)이 일직선으로 된 전자부품(1)을 이송시키면서 프로브(27)로 검사하여 불량품을 선별시키기 위한 시퀀서상의 전자부품의 검사장치에 있어서; 스프로켓(23) 및 이송체인(24)에 의해 이송되고 상기 리드선(1-1)을 적치하여 전자부품(1)을 이송시키기 위해 다수 쌍의 이송편(25)이 일정한 피치로 설치된 공급컨베이어(21) : 그 공급컨베이어(21)와 이격되게 설치되고 스프로켓(23) 및 이송체인(24)에 의해 이송되며 상기 리드선(1-1)을 적치하여 전자부품(1)을 이송시키기 위해 다수쌍의 이송편(25)이 일정한 피치로 설치된 배출컨베이어(22); 외주연에 리드선(1-1)을 적치시켜 원호방향으로 이송시키기 위한 이송홈(26-1)이 등간격으로 형성되고, 공급컨베이어(21)로부터 이송되는 전자부품(1)을 하나씩 일측의 이송홈(26-1)에 걸려 원주방향으로 이송되고 반대측의 이송홈(26-1)으로부터 전자부품(1)이 하나씩 배출컨베이어(22)의 이송편(25)에 걸려 배출컨베이어(22)에 의해 이송되도록 구동수단에 의해 회전가능하게 그 공급컨베이어(21)와 배출컨베이어(22)사이에 설치되는 피치휠(26) ; 피치휠(26)의 상측에는 스프링(28)으로 탄발되어 원주방향으로 이송되는 전자부품(1)의 리드선(1-1)에접촉하여 연속적으로 검사하도록 계측기(10)와 연결되어 설치되는 프로브(27); 그리고 그 프로브(27)에 의해 검사한 결과, 불량인 때에는 배출컨베이어(22)측의 선행부에서 불량인 전자부품(1)을 축출할 수 있도록 설치되는 축출장치(36)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 시퀀스 전자부품의 자동검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 공급컨베이어(21) 및 배출컨베이어(22)의 이송편(25)의 이송속도와 피치휠(26)의 이송홈(26-1)의 이송속도가 동일하며 : 상기 축출장치(36)는 핑거(39-1)가 구비된 핑거실린더(39)를 실린더(38)로서 상하 이동시키고 상기 실린더(38)는 일축로보트(37)에 의해 배출컨베이어(22)의 작동방향과 교차되게 작동시키도록 구성될 수 있으며; 상기 피치휠(26)은 인덱스드라이버(33)가 구비되는 샤프트(30)에 축설시키되 그 샤프트(30)에 포토센서(32)에 의해 감지되는 슬리트(31)를 구비하고 인덱스드라이버(33)의 외측의 샤프트(30)에 체인(35)이 감겨지는 스프로켓(23)을 축설하여서 구성될 수 있는 것을 특징으로 하는 시퀀서상의 전자부품의 자동검사장치.
KR1019960013983A 1996-04-30 1996-04-30 시퀀스전자부품의 자동검사장치 KR100214774B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960013983A KR100214774B1 (ko) 1996-04-30 1996-04-30 시퀀스전자부품의 자동검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960013983A KR100214774B1 (ko) 1996-04-30 1996-04-30 시퀀스전자부품의 자동검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970072252A KR970072252A (ko) 1997-11-07
KR100214774B1 true KR100214774B1 (ko) 1999-08-02

Family

ID=19457440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960013983A KR100214774B1 (ko) 1996-04-30 1996-04-30 시퀀스전자부품의 자동검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100214774B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101001169B1 (ko) * 2008-11-28 2010-12-15 (주)티에이치엔 정션박스 릴레이 검사 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101001169B1 (ko) * 2008-11-28 2010-12-15 (주)티에이치엔 정션박스 릴레이 검사 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR970072252A (ko) 1997-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6781344B1 (en) Battery tester and sorting apparatus
CN207641886U (zh) 分选单元和检验系统
TW324704B (en) Transport processing device for semiconductor devices
US2339638A (en) Method and apparatus for detecting defects in filled cans
JP2819063B2 (ja) ベルトの凹部への要素とくにチップ等の電気要素の挿入方法および装置
WO2000003211A1 (fr) Trieuse ponderale
GB2317499A (en) Control system for use with semiconductor device transporting and handling apparatus
JPH048354B2 (ko)
KR100214774B1 (ko) 시퀀스전자부품의 자동검사장치
US4144639A (en) Apparatus for fitting flexible annular part around an article
IL290015A (en) Method and system for handling agricultural produce
US4655338A (en) Bottle unscrambler
EP0748169B1 (en) Method and apparatus for weighing and breaking eggs
US20200305491A1 (en) Machine and method for pitting fruits
JP4708060B2 (ja) 品質検査システム
JPS59207370A (ja) 巻管を搬送ベルト上に載せるための装置
US2116398A (en) Article inspection machine
JP2503593B2 (ja) 缶詰自動サンプリング検査システム
JPH02290037A (ja) チップ型電子部品の自動点検装置
JP2005001806A (ja) ボール供給機
JPH041571A (ja) 検体搬送装置
JP2007062916A (ja) スティック供給装置
KR960007149Y1 (ko) 분류기의 리드불량 디바이스 취출장치
KR960010764B1 (ko) 반도체검사기의 슬리이브 방향검출장치
US3163281A (en) Method and apparatus for handling articles

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee