JPH02290037A - チップ型電子部品の自動点検装置 - Google Patents

チップ型電子部品の自動点検装置

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JPH02290037A
JPH02290037A JP1328558A JP32855889A JPH02290037A JP H02290037 A JPH02290037 A JP H02290037A JP 1328558 A JP1328558 A JP 1328558A JP 32855889 A JP32855889 A JP 32855889A JP H02290037 A JPH02290037 A JP H02290037A
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Japan
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wheel
chip
wheels
housing
components
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JP1328558A
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Regis Mentzer
レジス マートザー
Roger Cavuoto
ロジャー カビュト
Christian Espitalier
クリスチャン エスピタリア
Pierre Matiron
ピエール マティロー
Daniel Lanier
ダニール ラニア
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LCC CICE CIE EUROP COMPOS ELECTRON
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LCC CICE CIE EUROP COMPOS ELECTRON
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G01R31/013Testing passive components
    • G01R31/016Testing of capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Branching, Merging, And Special Transfer Between Conveyors (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) この発明は、いわゆるチップ型部品、即ちプリント回路
上に表面装着され、従ってはんだ付けできる終端が平行
四辺形プレートに組み込まれている平行四辺形電子部品
を自動的に点検し、マーキングを行い、場合によっては
これをスリップまたはテープの間へ挿入する装置に関す
る。特に、この発明は、チップ・キャパシタの点検、マ
ーキング、及びテープ内へ挿入する装置に関する。
(従来の技術) 現在、チップ・キャパシタが製作ラインから離れてから
、使用者への出荷のために最終的に包装されるまでの間
に必要な操作は、次のように全《分離した装置で施行さ
れている 一キャパシタを二つ以上のカテゴリに分類するための第
一ステーション。このステーションでは、例外なしに全
てのキャパシタが試験され、容量と損失角が測定される
。次いでキャパシタは、その損失角が合格であるならば
、例えば次の二つのカテゴリに分類される。
第一カテゴリ:公称容量に対して5%以内のもの。
第二カテゴリ:公称容量に対してlO%以内のもの。
一第二ステーション。上記のキャパシタが全てここに送
られてきて、その中から抜取られたものが絶縁抵抗、な
らび破壊強度の測定にかけられる。
第三ステーション。第二ステーションからのキャパシタ
はここへ転送されてくる。この第三ステーションは出荷
のためテープに挿入するステーションである。
これら在来の点検装置は短所を幾つか有する。
相次ぐステーション間の取扱操作は誤差の原因となる。
基本的な電気計測、即ちキャパシタンスの測定と損失角
の測定は、時として唯1回の測定に限定されることがあ
る。その結果、この型の装置は冗長度がな《、これが故
障を生じ易《している。作業率は制約され、特に、一つ
のステーションから次のステーションへの転送に引続い
て起こる取扱操作によって特に制限される。最後に、こ
の種の点検装置にはリスクがつきもので、故障部品が検
出されず取除かれないことが生ずる。従ってキャパシタ
のテープは、良品の間に欠陥品を含むことが起こり得る
。これは非常に不都合である。
(発明の要約) この発明は、これらの短所を克服しようとするものであ
る。このために、この発明は、チップ部品分配回転ホイ
ールを備え、これらのホイールは一連の直列結合で、相
隣るホイールはチップ部品の転送を可能にするように順
に接しており、チップ部品はこの接点を介して一つのホ
イールから次のホイールへ順に転送されて行き、これら
のホイールの中の二つ以上のホイールが計測ブローブを
備えており、ホイールの回転運動を停止させることな《
、そのホイールで運ばれているそれぞれのチップ部品に
対して点検測定を行うことができ、これらホイール列の
少なくとも最初のものは、到来チップ部品を1個ずつ収
集分配し、少なくとも最終端のホイールは、中間ホイー
ルで点検測定が行われ、次いで中央制御計算ユニットで
合否の判定が行われ、この中央制御ユニットによって不
良品が除外されて送られてくるチップ部品を1個ずつテ
ープの間に挿入することによって、合格部品だけをテー
プに挿入するチップ型電子部品、特にチップ・キャパシ
タの自動点検装置に関する。
有利な点として、上記の第一ホイールはその外部リム上
に規則的に分布しているハウジングを有する分配ホイー
ルで、このホイールのそれぞれのハウジングは1個以上
のチップ部品を含むという事実によって従来使用されて
いる分配ホイールとは区別される。
更に有利な点として、それぞれのハウジングが、軸方向
に端と端とを接して配置された二つのチップ部品を受け
ることのできるハウジングを二つ備えたホイールが、種
々の部品を合否判定部品に分類する目的で、最終点検測
定の出口に備えられ、上記の中央ユニットで制御される
装置を用いてハウジングの底へ押し込むかどうかの選択
が行えることである。
さらに好都合なことは、中間ホイールの1個以上がチッ
プ部品マーキング装置を伴っていることである。
最後に好都合なことは、中間ホイールの1個以上が測定
装置を伴っており、少なくともその一部はホイールに運
ばれているのでこのホイールと回転的に同期しているこ
とである。
(実施例) まず第1図を参照して、示されている機械は、チップ部
品分配ホイールの直列結合を含んでいる。これらの分配
ホイールは、規則的に分布された外部ハウジングを備え
、上流から下流にむけて2, 18, 42, 43,
 44, 34, 22,及び26とマークされている
。これらの相次ぐホイール(例えばホイール2とホイー
ル8)は、相互に相接していてチップを一つずつ、両ホ
イールの接点で一方のホイールから他方のホイールへと
転送することができる。
チップ部品分配ホイールが、一般的に在来手法でよ《知
られている。その外方リムに規則的に分布されているハ
ウジングを備え、その各々は標準的な方法で1個のチッ
プ部品を受ける。このハウジングセットには吸入及び吹
出し装置が伴われており、それぞれのチップ部品をその
円周通路上の所定の部分においてそのハウジング内に保
持し、次いでこの周辺通路の精密な位置においてこの部
品をハウジングから放出する役目を有する。この例では
、以下に説明するようにホイールの中にハウジング当り
2個のチップ部品を受けることができる特殊のホイール
を含んでいる。
まず第一に、チップ導体は、その製作ラインから出る時
に、図には示されていない標準測定装置で試験され分類
される。第1図の点検及びテープ挿入機械に導入される
のは所定のカテゴリイ(例えば公称値に対して5%以内
のキャバシタンス)のものである。
これらのチップ・キャパシタは、第1図に矢印28で示
されているように、第1分配ホイール2の上流位置にば
らばらな状態で配置され、このホイールは、固定した保
持金属シ一ト5で縁どられている。これらのチップ・キ
ャパシタは、矢印29で概要表示されているように、軸
3を有するこの回転ホイール2の外部ハウジング内に吸
気によって保持されている。
ホイール18との接点Tにおいて、これらの部品は吹出
しによってこのホイール18に転送される。
このホイール18は転送ホイールで、その円周辺の半分
を通った後に、キャパシタは、接点T2で次のホイール
42に転送される。
ハウジングを有するこのホイール42上の通路を通って
いる間に、キャパシタはすべて順次に次の2回の測定試
験を受ける: *キャパシタンスと損失角の測定が、計測プローブを有
する第1計測ステーション30で行われ、それぞれの測
定は、ホイール42の周辺円周の小部分と接している「
進行」通路32と、これより遥かに急速な戻り通路33
で構成されるループ通路を有する。円弧32に平行して
いる通路に沿って、それぞれのチップ・キャパシタはル
ーブ31の測定プローブの一つと接触し、このプローブ
は、この円弧の間このチップと行動を共にする。このブ
ローブによるキャバシタンスと損失角の測定は、電気接
続37を介して中央制御計算ユニットl9へ送られる。
*測定ステーション38で行われる破壊強度測定は上記
のステーション30と同様である。この測定ステーショ
ンもまた、他の電気接続39を介して中央コンピュータ
19に接続されている。
接点pにおいて、キャパシタは、一つずつ、吹出し/吸
収プロセスによって次の分配ホイール43に転送される
。これらのキャパシタは、このホイール上をpからPま
で動き、その間にそれぞれのキャパシタは、以下に第5
図を参照して説明される絶縁抵抗測定を受ける。この測
定結果は、2本のリード線20. 21を介して中央計
算機19に送られる。
次の点Pにおいて、それぞれのキャパシタは次の分配ホ
イール44に伝送され、PとQの間の円周部分を移動す
る。この通路の間、40の点で、鏡46, 47,及び
49を備えているレーザ4lによっておもてに現われて
いる面にマーキングが施される。
点Qにおいて、キャパシタは1個ずつホイール34に転
送され、先にマーキシングしたのと反対の面でルる第2
面にマーキングが施される。このホl1 イールは、ホイール2とは異なる特殊型で、二重ハウジ
ング、即ち、軸方向に端と端を接して配置された二つの
チップ部品を受けることができる。
このホイール34で、それぞれのキャパシタは、レーザ
・マーキングを受ける前に、点50でその第二面上で約
374回転する。
点Qにおいて、ホイール44から《る別の部品との間で
押しつぶしが生ずるのを避けるために、このキャパシタ
は、ハウジング内で軸方向に、軸方向押し出し器(図に
は示されていない)によってシフトされ、最終的には、
Rでホイール18上の通路を終り、次の分配ホイール2
2に転送され、このホイール22もまた、ホイール34
及び2と同じ型の二重ハージング{−1きのホイールで
ある。但し、このホイール22は、これら二重ハウジン
グの間の「上方」歯17(第2図)を備えていない。
この同じキャパシタは、ホイール2Zの周辺円周部に沿
って移動する。この通路上で、最初に、キャパシタンス
及び損失角の冗長測定用のステーション51に沿って通
過する。前記の測定ステーション30と同じものである
この測定ステーションは電気接続52を介して中央計算
機l9と接続されている。
電線20, 21, 37, 39,及び52によって
計算機19に与えられる測定結果は、同計算機で処理さ
れてそれぞれのキャパシタの品質、即ち合否が決定され
る。合格と判定された各部品に対しては、接続53を介
して機械装置54(以下に第7図及び第8図を引用して
以下に説明される)に信号が送られ、この装置は対応す
るキャパシタをハウジングの底へ押し出す。
次の分配ホイール26との接点Sにおいて、ホイール2
2の二重ハウジングの底にあるキャパシタのみがこのホ
イール26の対応する単一ハウジング内へ転送される。
光電池による検出によってこのような転送が行われてい
ないことが検出された場合には、ホイール26は停止し
たままで、ホイール22から「合格」キャパシタを受取
らない限り前進のステップを取らない:従ってホイール
26は「合格」部品のみを含み、さらに下流に位置して
いる転送点Sから次の転送点Uまでの各ハウジングは、
「合格」と判定されたチップ部品で満たされることにな
る。
ホイール22上の不合格キャパシタは、装置54によっ
て二重ハウジングの底へ押出されないで、■点でブロー
によって吹出されて、回収破壊ボックス内に落される。
説明のこの段階で、選択装置54が故障の場合には、ハ
ウジングの底へは部品が押出されないので、ホイール2
6は、「不合格」部品を受けることは有り得ないことが
明らかである。このことは、■点で合格部品を破壊する
よりも、不合格部品を出荷用テープに挿入することの方
が遥かに重大事項であるので、本質的な事項である。
接点Uにおいて、合格部品は、吹出しによって、そのも
の自体は公知のモデルであるチップ部品分配テーブ55
に転送され、回転シリンダ56の回りを回ることになる
第2図は入力分配ホイール2の非常に特殊な構造の詳細
図である。このホイールは、事実上、チップ部品を受け
て分配する装置1で、第一に、垂直に対して傾いている
回転軸3を有する上述のホイール2で形成される回転部
を備え、第二にホイール2がその上を殆ど摩擦なしで回
転する円形プレート4、ならびに、円弧を成して曲げら
れてそのベースでこの円形プレート4の外方リムの断片
にはんだ付けされている上記の金属シ一ト5を備えてい
る。プレート4の直径は、ホイール2の直径より若干大
きく、従ってホイールは、カーブした金属シ一ト5に触
れることなく回転できる。
ホイール2は、その全周辺にわたって、同じ形状で規則
的に配列されているハウジング6を備え、それぞれのハ
ウジングは軸方向に心合わされた2個のチップ部品7,
8を受けることができ、即ち、第2図に図示されている
ように、「直立」に端と端とを接して配置されることに
なる。
ラジアル条件として、それぞれのハウジング6の底面l
2は一様で、ラジアル吸気または吹出し孔13. 14
から成る2部品チップ7,8を保持し射出するための手
段を備えている。さらに、好都合なことに、プレート4
には、ハウジング6の内部に向いている軸方向吸気孔1
5の1個以上を備えている。
最後に、相次ぐハウジング6は、それぞれに、ホイール
2の統合部分を形成し、上下に重なる2個の歯16. 
17によって分離されている。下方のチップ部分7を、
ホイールを取りつつある隣接した部品で入れ換えができ
るように、下方歯l6のラジアル高さHriが上部歯1
7のラジアル高さHrsより小さくなっている。
操作中に、ホイール2が反時計方向に回転し、チップ・
キャパシタ1は、金属シ一ト5によって囲まれているゾ
ーン内で解放される。軸3が傾いているので、このゾー
ンはホイールの最低ゾーンとなり、従って全てのキャバ
シク1が自然に集まることになる。
遠心力ならびに開孔15を介する吸気は、このプロセス
を助長し、キャパシタ1は第2図に示されているように
ハウジング6の中に落ち込む。一般的に、それらの中の
2個がそれぞれのハウジングの中に入り込み、場合によ
っては1個となることもあるが、どんな場合にも0とな
ることはなく、従って、それぞれのハウジングはその下
方部に1個のチップ部分を持つことが保証され、これが
追及されたゴールである。
中間転送ホイールは、第3図及び第4図に詳細に示され
ている。これは標準型分配ホイールで、吸気/吹出しチ
ャネル9.lO及びハウジングl1を備えている。この
ホイールは、ポリウレタン製の可どう性の外部パインデ
ィング57、及び、このパインディング内に形成されて
いるハウジングに対して、悪い向きに入った部品が破壊
することを防止するため、及び一般的にホイール2と1
8の間の交換ができるようにするために、傾いたエッジ
58を有する周辺方向のプロフィールを有するという特
別な特徴を備えている。
ホイールl8は、ハウジング11毎に唯1個のチップ部
品を受けることができ、ホイール2のハウジングの上記
の底部半分の中に入ったチップ部品7だけをホイール2
から受取り、他の部品8はリサイクルされるように配置
される。
絶縁抵抗測定装置は、ホイール43に伴われ、第5図に
その概要が示されている。この測定は、点P−p間、即
ちホイール43の外周辺上の部品Yが移動する部分を規
定している角α上で行われる。
これらのチップ部品1は、ホイール42の相次ぐハウジ
ング内に供給され、吸気/吹出しヂャネル48によって
与えられる吸気によって保持される。それらの部品はホ
イール43上の点pまで転送され、次いで角度αの通路
を画いた後に次のホイール44上の点Pに転送される。
42〜44の3ホイールが、単一ハウジングを有するホ
イールであり、即ち重ハウジングを備えたホイール2,
34,及び22(第1図)とは反対に、それぞれに1個
のチップ部分だけしか含むことができない。
ホイール43は、機械的リンク23〜25を介して回転
駆動される中空シャフト27と固定的に結合されている
。ホイール23の軸Xは、図面には示されていない第一
電動機を介して駆動シャフトに固定的に結合されている
図面には示されていない測定プローブが、1ハウジング
当り1ベアの割合で、ホイール43上の通路に沿ってい
る個々のキャパシタ1のはんだ付け可能な二つの終端に
対して接続される。これらのブローブでビック・アップ
された電気信号は、中空シャフト27の中を通る導線5
9の回路によって、回転ドラム35に固定されている測
定装置140へ送られる。ドラム35はそのシャフト3
6に結合されている第二電動機によって、ホイール43
と同じ方向ならびに同じ速度で回転させられる。「運ば
れている」測定装置140は、このようにして、このホ
イール43に対して静止状態となる。
装置140からきた増幅された信号は、ドラム35の集
電リング150 , 160に現われ、二つの固定ブラ
ッシュ170 , 180でピック・アップされ、上記
の2本の導線20. 21によって中央計算機l9に送
信される。
第6図及び第7図は、「合格」部品を選択するための装
置54を示している。
既に述べたように、ホイール22は、ホイール2及び3
4とは異なり、二重ハウジング60、即ちそれぞれに、
軸方向に、端と端を接して配置された2個のチップ部品
1を受けることのできるハウジングを備えたホイールで
ある。このホイールは固定ベアリング61で支えられ、
この固定ベアリングはまた、スプリング64の反発力に
抗して作動する回転カム63の制御下でホイール22の
軸Yに平行な往復運動で駆動される可動ロツド62に対
して滑りとしても働く。
滑り61はまた、ロッド62に平行な他のロツド65に
対する滑りとしても作動し、別のスプリング66により
ロツド62と同一の方向に引き戻される。このロツド6
5の自由端はプッシュ・ロツド67を備え、プッシュ・
ロッドは、第7図による頂上位置に達シた時に、このプ
ッシュ・ロツドの前に位置しているハウジング60の中
にかみ合い、次いでチップ部品1をこのハウジングの底
へ押し出す。ロッド65の他端68は、導線53(第1
図)を介して中央計算機19から制御パルスを受けるア
クチュエタ(図面には示されていない)によって振動を
起こすために、積極的に一方向に制御され、次いで逆方
向に制御される回転軸70を有する振動部69から支持
を取っている。
部品69が傾いた時(第7図)は、この部品の突起部7
1が肩となって、この目的のためにロツドの横腹に設計
されている、対応したくぼみ72とかみ合うことになる
。これは二つのロツド62, 65を相互に固定する。
その時プッシュ・ロツド67がかみ合い、従ってロツド
62と同じ運動で駆動される。
その方向に関係なく、それぞれのスウイング毎にパルス
を発生して振動部69を第6図の初期状態へ戻す。
反対に、振動部69が傾かない時(第6図)は、ロッド
65はロツド62の上にかみ合わないで、プッシュ・ロ
ッド67は静止したまま低位置にとどまっている。
計算機19は、プッシュ・ロツド67の前方に位置して
いるハウジング60の中にあるチップ部品1が前に行わ
れた測定の結果「合格」と認められた時に、振動部69
のスウィンギングを制御する。
ホイール44が単一ハウジング付きのホイールであるこ
とを思い出すことができる(第5図)。このホイール4
4のハウジングは、ホイール34の二重ハウジングの「
上」半分に向いて配置されている。レーザ・ヘッド50
によるマーキング後、そのチップ・キャパシタは、ホイ
ール34の対応二重ハウジングの底部(下半分)へ転送
されることは先に説明されている通りである。ホイール
2とは異なり二重ハウジングを有するホイールであるホ
イール34と22は、チップ・キャパシタ1がホイール
34の二重ハウジングの「下方」部の点R(第1図)で
ホイール22の対応二重ハウジング60(第6図)の「
下方」部に向けて転送されるようにアレンジされている
。次いで「合格」と認められたチップ部品はこのハウジ
ング60の頂部または「上方」部に向けて転送される(
第7図)。次のホイール26は、ホイール22の対応ハ
ウジング60のこの「上方」部に配置されている単一ハ
ウジングを有するホイールである。従って、「合格」部
品のみがこの部品取入れホイール26へ転送されること
になる。
選択器54の機械的誤動作が生じた時は、振動部69が
起動されず、第6図の「非結合」位置に留まっているか
、この位置へ復帰することになる。このような場合には
、キャパシタはホイール26によって取り上げられるこ
とはなく、合格、不合格に無関係にすべての部品はv点
で排除もしくは破壊されることになる。不良部品がテー
プに乗せられることの方が、その誤作動が発見される前
に合格部品が破壊されることがあるのに比べて遥かに不
都合なので、不都合を軽減していることになる。
従って、「合格」部品と「不合格J部品の選別は、不合
格品の中に合格品の入ることはあっても逆は絶対に起こ
らないということになっている。
第8図は、S点におけるホイール22からホイール26
の方への合格部品73の転送の詳細を示している。この
転送は、このホイール26のハウジング75の特殊な横
方向プロフィールに従って、ホイール22から部品取上
げホイール26へのピッチを変えることによってフレキ
シブルに、逐次的に達成される。このプロフィールは、
第8図に従う断面図中で矢印Fで示されている回転方向
で鋸歯状形76に続く平坦部77、これと連接する、こ
の鋸歯状形76の緩増傾斜部78で形成されている。不
良部品74は、S点を超えてホイール22上に残留し、
次いで、少し先へ進んでから排除されて破壊される。
言うまでもないことであるが、この発萌は、上に例示し
た実施例に限定されるものではない。レーザ4lによる
マーキングは単一の面にのみ行うことができるであろう
。この機械は、キャパシタ以外のチップ部品、例えば抵
抗、バリスタ等の処理用として設計することもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの装置の単純化した平面図である; 第2図は、この装置の結合部である人力分配ホイールの
部分断面透視図である; 第3図は上記の入力分配ホイールに続《転送ホイールの
部分断面図の単純化図である;第4図は、第3図のA部
拡大詳細図である1第5図は、チップ・キャパシタの絶
縁抵抗が計測される部分の透視単純化図である; 第6図は、部品が不合格と検出された位置にある部品選
択用機械装置の、ラジアル面に沿う部分的概要断面を示
している; 第7図は、合格部品の選択作用を説明している第6図と
同様の図面である;

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一連のチップ部品分配回転ホイールから成り、こ
    れらの相次ぐホイールは、相隣る二つのホイールで相互
    に接し、その接点において一方のホイールから他方のホ
    イールヘチップ部品を一つずつ転送できるようにアレン
    ジされ、これらのホイールの中の幾つかは、そのホイー
    ルで運ばれているそれぞれのチップ部品に対してそのホ
    イールの回転運動を停止させることなく点検測定を施し
    得る測定プローブを伴い、これらのホイールの少なくと
    も第一ホイールは、入力チップ部品を一つずつ収集分配
    するホイールであり、またこれらのホイールの少なくと
    も最終段のものは、中間ホイールで測定を終え、次いで
    、中央制御計算ユニットによって合格品として選出され
    たチップ部品を一つずつテープに挿入するホイールであ
    り、この中央ユニットによって制御される手段がさらに
    、選出されなかった部品がこの後者のホイールにまぎれ
    込むことを防止し、従って合格品として選出された部品
    だけがテープに挿入されるようにするために設けられて
    いることを特徴とする、チップ型電子部品自動点検装置
  2. (2)チップ部品の収集分配用の上記ホイールにおいて
    、その外部ハウジングが軸方向に端と端を接して配置さ
    れた2個のチップ部品を受けることのできる請求項1に
    よる自動点検装置。
  3. (3)それぞれに軸方向に端と端を接して配置された2
    個のチップ部品を受けることのできる外部チャンバを備
    えているホイールが、種々な部品を、上記の中央ユニッ
    トで制御される装置を用いて、部品をハウジングの底部
    へ押すか押さないかによって、合格品と不合格品に振り
    分ける目的で最終点検測定の出口に設けられる、請求項
    1または2のいずれかによる自動点検装置。
  4. (4)中央計測ホイールの中の1個以上が計測装置を伴
    い、少なくともその一部が「搬送」、即ち、このホイー
    ルと回転的に同期している、請求項1による自動制御装
    置。
  5. (5)中間ホイールの少なくとも1個がチップ部品のマ
    ーキング用の装置を伴っている、請求項1による自動制
    御装置。
  6. (6)チップ部品の相反する両面にマーキングする見地
    から、二つのマーキングがそれぞれに相次ぐ二つのホイ
    ール上で行われ、その場合、これらのホイールの中の少
    なくとも第二のホイールが、その外部ハウジングがそれ
    ぞれに、軸方向に端と端を接して配置されている2個の
    チップ部品を受けることができ、第二面にマーキングを
    施した後それぞれのチップ部品を二重ハウジングの底部
    へ押す装置を備えている請求項5による自動制御装置。
  7. (7)中間ホイールの少なくとも1個が外部フレキシブ
    ル結束を備え、この結束中に形成されているハウジング
    に対して、周辺方向プロフィールとして、不良な向きに
    向いている部品の破損の防止ならびにこれらの部品の交
    換を可能にする傾斜エッジを備える、請求項1による自
    動制御装置。
  8. (8)部品取り込みホイールの1個以上が、横型プロフ
    ィールとして、緩傾斜ラインの次に平坦ラインを接続し
    ている鋸歯形状を有する、請求項1による自動制御装置
  9. (9)合格品として選出されなかったチップ部品の排除
    及び破壊用の装置を含む、請求項1による自動制御装置
  10. (10)合格品として選出された部品をハウジングの底
    部へ押すために用いられる手段が、機械的誤動作の場合
    に必然的にかみ合わずに不作動に止まり、従って不合格
    部が合格品に混入して分類されることを不可能にする、
    請求項3による自動制御装置。
JP1328558A 1988-12-20 1989-12-20 チップ型電子部品の自動点検装置 Pending JPH02290037A (ja)

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