JP2000501174A - 電気回路部品ハンドラー - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 部品台（１０）の１つあるいはそれ以上の同心リング（７）がリング中心の周りに回転可能である。この台は均一の角度で離隔され、このリングが増加するように回転される。このリング（７）は、ある角度で傾斜され、部品の流れは、リングが回転するときにリングの上に注がれる。台に隣接した静止案内板（１０８ａ〜１０８ｄ）は、脱着された部品をリングの回転経路の弧を通過する空の台を無作為にひっくり返すように限定する。無作為にひっくり返すことは装着された部品を生じる。回転リングの経路の中には、部品をテスタに結合する電気接触器（２４）がある。好ましくは、５つの種類の試験が同時に実行できる５つの接触器位置がある。試験された部品は、リングが回転される度に台のセットと正しく合っている複数の排出穴（７８）を規定する排出マニホールド（２２）の下を通る。排出管（８４）は排出穴（７８）に結合され、部品は選択的に作動される空気弁（８６）からの空気の送風によってその台から排出される。空気の送風のために、排出された部品は、管（８４）の下方に移動し、管経路指示プレート（９８）により分類ビン（９６）の中に案内する。部品の流れは、案内板には部品が与えられないことを示す検出器（１３０）からの信号に応じて各案内板に選択的に案内することができる。センサ（１５８、１６０）は、排出マニホールド（２２）によって排出されなかった装着部品を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】 電気回路部品ハンドラー 発明の背景 本発明は、一般に、電気回路部品、例えば、セラミックコンデンサを受け入れ 、試験する電子テスタに提供し、その後に試験結果に従って部品を分類する電子 部品ハンドラーに関するものである。ここで使用されるような用語“部品”は、 セラミックコンデンサおよび本発明で取り扱うことができる形を有する任意の他 の電気装置のことを指している。 本発明によるハンドラーは、従来技術よりも著しい進歩がある。このハンドラ ーは、試験目的のための部品の手動装着およびその後の手動分類をなくす。この ハンドラーは、従来のハンドラーよりも大量の単位時間当たりの部品を取り扱う 。このハンドラーは、でたらめに配置された部品の山を取り、部品を適切に配置 し、並列に部品をテスタに提供し、試験された部品を複数の収容ビン、すなわち 分類ビンのいずれかに個別に分類する手段を備えている。 本発明の他の長所および特性は下記にテキストの解釈に基づいて容易に識別でき る。 発明の概要 本発明の目的は、従来のハンドラーよりも著しく増加されたスループットを部 品ハンドラーを提供することにある。 本発明の他の目的は、でたらめに配置された部品の流れを収容し、（１）試験 するために適切に配置されたそれぞれの試験台に各部品を自動的に装着し、（２ ）装着された部品を並列にテスタに電気的に結合し、（３）試験された部品をそ の後に取り外し、試験結果に基づいて複数の収容ビンの中の選択されたビンの中 に分類できる部品ハンドラーを提供することにある。 本発明の他の目的は、部品の山から部品の流れを形成できる前述のような部品 ハンドラーを提供することにある。 本発明の他の目的は、部品の山を収容し、流動スパウトを介して同じ流れを形 成するホッパーおよびシェーカー機構を含んでいる前述のような部品ハンドラー を提供することにある。 本発明の他の目的は、部品の流れを収容し、部品を回転プレートによって規定 された複数の台のリングに部品を装着する装填機構を含む前述のような部品ハン ドラーを提供することにあり、リングがプレートの回転の軸と同心である。 各装着部品を複数の別個の試験回路に結合できる前述のような部品ハンドラー を提供することにある。 本発明の他の目的は、各装着部品を複数の試験位置に提供できる前述の部品ハ ンドラーを提供することにある。 本明細書に示されるかあるいは示唆されるこれらの目的、および他の目的は、 １つあるいはそれ以上の部品台の同心リングと、リングを回転させる手段と、回 転リングの経路内にあり、部品の流れを収容し、かつ部品をリングの中に装着す る手段と、回転リングの経路内にあり、各装着部品を試験するために各装着部品 を電気的に十分に接触させる手段と、複数の収容ビンと、回転リングの経路内に あり、各試験された部品をその台から排出し、かつ部品を選択された収容ビンの 中に向ける手段とを有する部品ハンドラーによって達成される。好ましくは、リ ングは、その端子軸に沿って部品のプロフィールに合致するスルーホールである 台を有するディスク状の試験プレートによって規定されているが、部品がそれの 中で自由に装着できるようにわずかにサイズが大きくされる。試験プレートの下 にはディスク状のリングの形の真空プレートもある。真空プレートは、リングに 同軸に隣接している真空経路を規定する。真空経路は、部分真空発生源に接続さ れ、この部分真空を試験プレートの底面によって規定された連結経路を介して各 リングの台に通じている。ハンドラーは、排出されなかった部品を検出する手段 をさらに含んでいる。好ましい実施例では、リングはある角度で傾斜され、部品 の流れは、部品が回転するときにリングの上に注がれる。静止案内板は、重力に より、リングの回転経路の弧を通過する空の台をランダムに転がすために取り外 された部品を閉じ込め、通過する台をランダムに転がすことにより部品を装着す る。この案内板はリングと同軸であり、各案内板は、その対応するリングの台の 中心線を外れた側面に沿っておよびこの側面に隣接して配置されている。好まし い実施例では、リングに対してほぼ時計の９時の位置から時計の５時の位置まで 延びている。ハンドラーは、部品の流れを各案内板に選択的に向ける手段も含み 、案内板に沿って部品がないことを検出し、この状態を、この流れをその時部品 が排除された案内板に向けるハンドラープロセッサに通信する手段をさらに含ん でいる。リングの台は、均一で角度的に離隔され、リングは増加するように回転 されるのが好ましく、回転の増加量は隣接台間の角度空間である。部品をテスタ に結合する複数の上側接点および下側接点がある。好ましい上側接点は、ばね板 に加えられた圧力のために部品がその台から飛び出させない細長い先端を有する 片持ちのばね板である。下側接点はピン形接点である。全ての接点は容易に取り 外しができる。試験された部品は、リングがある増加量回転される度に、台のセ ットと正しく合っている複数の排出穴を規定する排出マニホールドの真下を通る 。排出管は排出穴に結合される。部品は、選択的に作動されるそれぞれの空気弁 からの空気の送風によってその台から排出される。空気の送風および重力により 、排出された部品は、この管を下って移動し、管経路指示プレートにより分類ビ ンの中に向けられる。 図面の簡単な説明 図１は、基本的構造の本発明の全絵画図であり、 図１ａは、複数の分類ビンを含むビン棚の絵画図であり、 図１ｂは、本発明による排出マニホールドの平面図であり、 図１ｃは、本発明による分類ビンカバーの平面図であり、 図２は、本発明が考え出された典型的な電気回路部品の拡大絵画図であり、 図３は、本発明によるターンテーブル、試験プレート、装填構造、接触器アセ ンブリ、および排出マニホールドの拡大絵画図であり、 図３ａは、本発明によるジャムセンサブリッジの絵画図であり、 図３ｂは図３に取り付けられている、図示されるようなジャムセンサを横方向 に横切ってとられた概略断面図であり、 図４は、試験プレートの絵画図であり、 図５は、試験プレートの下側の部分図であり、 図６は、試験プレートで規定された部品台の列を通って中間に延びる放射状の 線に沿ってとられた試験プレートの部分断面図であり、 図７は、それの上に取り付けられた接触器モジュールの全余角よりも小さい接 触器のアセンブリの絵画図であり、 図８は図７の線８-８に沿ってとられた部分断面図であり、 図９は、接触器モジュールの絵画図であり、 図１０は、装填構造の拡大絵画図であり、 図１０ａは、図１０の線１０ａ-１０ａに沿ってとられた断面図であり、 図１１は、排出マニホールドの拡大図であり、 図１２は、図３の線１２-１２に沿ってとられた断面図であり、 図１３は、部品ホッパーアセンブリの絵画図であり、 図１４は、ホッパーアセンブリのスパウトの部分平面図であり、 図１５は、向かい合っている試験プレートとロケーターピン間のターンテーブ ルの直径に沿ってとられたターンテーブル、試験プレート、および真空プレート の断面図であり、 図１６は、（試験プレートに対して）下側のテスタ接点を示す分解破断図であ り、 図１７および図１８は、下側の接点カートリッジを保持するクランプ機構の平 面図であり、 図１９は、それの上に取り付けられた接触器の全余角よりも小さい他の接触器 アセンブリの絵画図あり、 図２０は、図１９の線２０-２０に沿ってとられた部分断面図であり、 図２１は、図２０の線２１-２１に沿ってとられた部分断面図である。 好ましい実施例の説明 図１〜図６および図１５を参照するに、通常２と示されている本発明は、好ま しくは６０゜に傾斜された平らの表面６を有する支持構造体４を有するように示 されている。好ましくは６０゜に傾斜され、ディスク状試験プレート８を回転さ せるターンテーブル７も傾斜表面によって規定された穴を通る。試験プレートは 、平たいリングの形であり、複数の開いている部品台１０の列５を規定する。こ の台は、部品が装着するように予想される部品に合わせるように設計される。図 ６に最も良く示されるように、各台はスルーホールであり、部品の“端子軸”が 許容範囲以内で台と整合される時だけ部品１２を自由に装着し、保持するような サイズにされる。端子軸は、その対向する端子１４を通って伸びる部品の軸であ り、端子の中の一方が上から接触されている試験プレートの面１６の上に突き出 ていて、他方の端子は下から接触されている台のベースで露出されている。好ま しくは、台は、端子軸に沿って見られるようなその予定された部品のプロフィー ルと同様なプロフィールを有するが、台は進入角度の範囲内の角度で進入する部 品を受け入れることができるように部品よりもわずかに大きい。進入角の範囲は 、どれだけ多くの横の空間が部品と台の壁との間に許容することができるかによ って決まる。図示されるように、各試験プレート列は、４つの半径方向に離隔さ れた部品台の列であり、この列は、試験プレートの周りに均一に角度的に離隔さ れ、台の４つの同心リングを形成する。 図５、図６、図８および図１６を再び参照するに、装着部品を支持する静止“ 真空”プレート９は部品台リングの下にある。真空プレートは、好ましいが、必 ずしも静止上部面と移動部品との間の摩擦を最少にし、真空プレートの摩耗を最 少にするようにクロムメッキされている平たい上部面を有するスチールリングで ない。真空プレートの上部面は複数の環状真空経路１１を規定する。各部品台リ ングに隣接し、この各部品台リングと同心である真空経路がある。本実施例に対 して図示されているように、４つの真空経路があり、この経路は各台リングに中 央寄りに隣接している。真空経路は、全て低圧力源（他の気圧に比べ低い）に結 合されているので、作動中、真空経路は部分真空を試験プレートの底面に規定さ れている複数の連結経路１３に通じている。これらの連結経路は部分真空を真空 経路から部品台に伝達している。各部品台と通じている１対１の連結経路がある 。この装置によって、部品は台の中へ推進され、そのそれぞれの連結経路を介し て台につなげられている真空経路内の部分真空によってそこに保持されている。 本実施例は所定数の試験プレート列および列当たりの所定数の部品台を示して いるが、列数および列当たりの台数は本発明の範囲および目的から逸脱せず図示 されているものとは異なっている。 図１、図３、図４および図１５を再び参照するに、試験プレート８は、ターン テーブル７上に部分的に置かれていて、試験プレートの内部リムの近くに規定さ れたロケーター穴１６に合わされる複数のロケーターピン１５によってそれの上 に正確に置かれている。図示されるように、部品台は、ターンテーブルハブ１８ を時計回りに回転する通常１９に示されている装填領域、接触器アセンブリ２０ 、および排出マニホールド２２の下を通る。下記に説明されているように、部品 は、装填領域の試験プレート台の中に置かれ、その後に、各部品は電気的に接触 され、特性的に試験される接触器アセンブリの下で回転される。 図３および図７〜図９を参照するに、試験プレートは、最適の角度速度で回転 するが各装着された部品が徹底的に試験されることをまた確実にすることができ るために、接触器アセンブリは、その各々が部品台の各リングと一直線に下側接 点２５を有する複数の、好ましくは５つの離隔された接触器モジュール２４を含 んでいる。本実施例では、４つの台リングがあり、接触器アセンブリ２０は５つ の接触器モジュール２４を収納できるので、台のリング当たり５つの下側接点が ある。試験プレートの反対側にあり、上側接点の各々と正しく合うのは２０の下 側接点２３である。したがって、本実施例によるハンドラーが（この場合に必要 ないが、）接触器モジュールの全余角を有するならば、２０の装着部品の端子は 同時に接触でき、それによって全て２０を個別にテスタに同時に結合する。従来 技術より非常に著しい改善である。 ５つの接触器モジュールおよびその対応する下側接点は、５つの別個の試験位 置として使用することができる。これは、しばしば従来のように５工程の試験を 受けるセラミックコンデンサには特に有利である。典型的な第１の工程中、部品 のキャパシタンスおよび損失係数が試験される。一般に“フラッシュ”試験と呼 ばれる典型的な第２の工程試験は、短い時間（一般的には４０〜５０ｍｓ）高圧 （一般的には、部品の電圧定格の２〜２・１／２倍）を印加することを必要とす る。典型的な第３の工程試験中、低圧（例えば５０Ｖ）が漏洩電流あるいは絶縁 抵抗を試験するために印加される。、典型的な第４の工程試験中、部品定格電圧 は、ソーキング期間（一般的にはｍｓの１００ｓ）部品に印加され、漏洩/絶縁 抵抗が再び試験される。典型的な第５の工程試験中、部品のキャパシタンスが、 部品が他の試験によって影響を及ぼされるかどうかを調べるために再び試験され る。試験プレート回転の方向に部品と当たる第１の接触器モジュールは第１の工 程試験を各通過列に適用するために使用することができる。当てられた第２の接 触器モジュールは、第２の工程試験を各列に適用することができるなどである。 このように、５つの試験は少なくともある程度まで時間が重複できる。 本発明は、５つ以上の台リングに拡張でき、その場合、接触器モジュールは相 応するように５つ以上の上側接点を有することを理解すべきである。同様に、本 発明は２つ以下の台リングで実行でき、その場合、接触器モジュールは、相応す るように３つ以下の上側接点を有する。本発明は、６つ以上あるいは４つ以下の 接触器モジュールでも実行できる。全ての場合、上側接点と正しく合う等しい数 の接点がある。 図７〜図９を参照するに、各接触器モジュール２４は、支え金具の対向する横 の端部で下の方に延びる壁２７Ａおよび２７Ｂを有する取り付け支え金具26を含 んでいる。２つの壁間に延び、それによって支持されるのは、２つの平行で、垂 直に離隔されたピンであり、上部ピン２８Ａは下部ピン２８Ｂから離れた所に置 かれている。下部ピンは、複数のカンチレバー接点アセンブリに対するピボット ピンとして役立ち、上部ピンは、ピボット止め金具として役立つ。図示されるよ うに、並んだ４つのカンチレバーアセンブリがあり、各々がクランププレート３ １と係合されるボルト３０でボルト止めされ、このプレートはアセンブリの上部 にある。クランププレートから前方に延びるているのは凸縁３２である。図示さ れるように、凸縁はねじ手段によってクランププレートに接続されている。凸縁 の自由端は、上部本体部材によって規定されるスルーホールの中に置かれた連結 ピン３４の上部に対して下の方へ押し付ける。連結ピンの上部から凸縁によって 規定されたスロットを通って中心に突き出ているのは端子ポスト３６である。連 結ピンの最下部端はその一方の端部が２つの本体部材間に締め付けされ、その他 方の端部がカンチレバーアセンブリから前方に突き出る上側接点ばね板に押し付 け、電気的に接触する。端子ポストは、連結ピンを介して、テスタの上側接点お よび電子工学装置との間に電気的な連絡をもたらす。各カンチレバーアセンブリ は、上部本体部材２９Ａの後部から突き出るフランジと反対方向に一方の端部で 作動し、取り付け支え金具壁２７Ａおよび２７Ｂ間に延びるクロスバーと反対方 向に他方の端部で作動するそれぞれの“オーバートラベル”ばね３８によってス トップピン２８Ａに対して一方に片寄らされる。 旋回軸装置およびオーバートラベルばねは、障害物が誤って接触領域に入る場 合にカンチレバーアセンブリの損害を防止するためのものである。さらに、ばね を変えることによってオーバートラベル力を変えることは便利である。 図８に最もよく示されているように、カンチレバーアセンブリは、試験プレー ト８に対してある角度、好ましくは３０゜で配置されている。上側接点２５は、 動作中、この接点が装着部品に当たるときにわずかに曲げるようにされる細長い 弾性平たい金属ばね板である。この曲げは、ばね板の厚さおよび／または端部幅 を変えることによって容易に変えることができる接触力を生じる。接点ばね板の 各々は、浅い角度、好ましくは５゜で試験プレートから離れた所に突き出る細長 い先端４０を有する。細長い先端は、ばね板が部品の（矢印によって示されるよ うに試験プレート移動の方向に対して）後部エッジを通り過ぎるときに部品がそ の台から飛び出さないようにするためにある。先端がない場合、部品は“ティド リーウインク”効果のために飛び出すことができる。先端４０の角度および長さ は、部品がばね板２５を有する接点および先端から進むときに、先端の一部が部 品の上に静止して配置され、部品がその台から飛び出すことを妨げるように選択 される。 本発明の他の特徴は、繰り返される接触のために生じる通常の摩耗のために有 利である上側接点ばね板は取り換えるのに簡単で、安価である。さらに、簡単な カンチレバーの先端は、いろいろな材料、特に最少接触抵抗のための貴金属合金 で、安価にメッキできる。 任意には、カンチレバーアセンブリは電磁シールドすることができる。例えば 、小さい金属のボックスは取り付け支え金具２６（図９）の上部端の上に配置さ れてもよいし、あるいは支え金具は、容易にメッキでき、試験回路と干渉しない ために、シールド材料（例えば、無電解ニッケル）を有し、支え金具の選択的な メッキ部分である非導電性材料（例えば、Ｇ-１０エポキシガラス）から作られ ている。 図８および図１６〜図１８を参照するに、各下側接点２３は、シリンダの両端 で露出された中央導電性コア４２と電気絶縁の外部スリーブ４４とを有する取り 換えることができる細長いシリンダであるように示されている。このシリンダは 、真空経路１１間の真空プレート９によって規定されるそれぞれの穴４６を通っ ているので、シリンダは特に対応する上側接点２５と正しく合っていて、したが ってそれぞれの部品台リングと正しく合っている。真空プレートの下でシリンダ の各列はシリンダの側面を壁４８に固定するようにシリンダの側面に押し付ける 取り外し可能なクランプ機構によって所定の位置に保持される。各シリンダは、 壁で規定されたそれぞれの円筒状スカラップ５０の中に押しやられ、シリンダを 試験プレートに垂直に配置されたままにする。したがって、シリンダの各列に対 して、クランプ機構およびピン止め壁がある。各ピン止め壁はベース５２から突 き出る。シリンダのコアと電気的に接触するために、ベースによって規定された 複数のスロット（図示せず）を通って延びるのは、対応する複数のばねを一方に 片寄らされるピン接点５４（例えば、“ポーゴー（ｐｏｇｏ）”ピン）である。 シリンダの列当たり１つのベーススロットがある。ピン接点は、シリンダの列に 一致するようにホルダ５５の中に一列にホルダ当たり４つ取り付けられ、各ホル ダはそれぞれのベーススロットの中に固定されている。ピン５４はワイヤ５６に よってテスタ電子工学装置に結合される。 図１６〜図１８を再度参照するに、ベースからも突き出ているピン６２上の一 方の端部で軸ピンの周りを旋回する細長い矩形のフレーム６０を含むクランプ機 構を固定する壁５８はベース５２からも突き出ている。フレーム内部に配置され ているのは、矩形フレーム６０の長い側の間を中央で延びるピン６６の周りをそ の中心で軸回転する細長いバー６４である。バーの面、すなわちスカラップ５０ に面している側は平面で、シリンダ２３に押し付けるクランプ機構の一部である 平面エラストマーパッド６８をスカラップ５０に固定されている。アンカ壁５８ とバー６４の後部との間に配置されているのは、バーをシリンダと反対方向に推 進するように配置された複数のコイルばね７０である。コイルばねの力は、バー ６４を通り、そのそれぞれのスカラップの中にシリンダを締め付ける。ピボット ピン６２の反対側のフレーム６０の端部から突き出ているのは、偏心器、すなわ ちベースの中でジャーナルで接続されたカム、すなわち、ねじの頭７４と隣接す るカムライダ７２である。カムの低い点が図１７に示すようにカムライダに面す るとき、バー６４は、自由にシリンダと反対方向に作動できる。図１８に示すよ うに、ねじ７４がカムの高い点をカムライダに押し付けるように回転されるとき 、フレーム６０は、そのとき自由に追加したりあるいは取り外しができるシリン ダを取り外すようにバー６４をピンとともにするばねの方へ後部にピン６２上で 軸回転する。 図１６を参照するに、下側接点シリンダ２３の設置はねじ７４を図１８に示さ れる位置に回転させることによってクランプバー６４を引っ込ませることを最初 に必要とする。したがって、シリンダが装着部品の移動を妨害しないように真空 プレートの面と同じ高さであるまでシリンダは、それぞれのばねで留められたピ ン５４に対して下方に押し付けられる。同じ高さに保持されると同時に、クラン プバーはねじ７４を後方へ回転させることによって取り外される。この手順によ って、下側接点は容易に設置でき、必要に応じて取り外すことができる。 図３および図１１を参照するに、試験後に、部品は、図示されるように、台が 下方に割り出されるときに部品台と正しく合っている複数のスルーホール７８を 規定するプレート７６を含む排出マニホールド２２の下に割り出される。穴は、 わずかに曲がっている管連結器８０、穴と接続し、例えばスナップリング６２に よってそれの中に固定される硬い管の各々を収納するようなサイズにされる。連 結器は、排出された部品のそれを通る通路を自由に収納するような内径のサイズ にされる。より詳細に説明されるように、部品は台の下／後ろから空気の送風に よってその台から排出され、空気力は、部品を強制的に管連結器を通って連結器 に接続されたそれぞれの排出管８４の中に送り込むようにする。８つの排出管だ けが示されているが、全てを含む任意の数の穴７８が試験された部品を分類ビン につなげるための連結器８０によってそれに結合された排出管を有することがで きることを理解すべきである。 図３、図１１および図１２を参照するに、真空プレート９の下／後ろにあるの は、複数の選択的に作動される空気弁８６、あるいは他の所にあり、圧縮空気の 発生源９０に接続されるこのような弁からの管である。弁（あるいは弁からの管 ）は、各々マニホールド穴７８と正しく合っている。したがって、試験プレート が割り出される度に、部品台のセットはマニホールド穴および空気弁と、および マニホールド穴と空気弁との間で正しく合うようにされる。真空プレート９は空 気弁とも正しく合っているスルーホール９２を規定する。したがって、マニホー ルド穴と正しく合っている各部品台は、マニホールド穴とそれぞれの空気弁との 間の空気伝達経路内にあり、弁の作動によって、台の中にある部品は、強制的に 台から上方へ、空気圧によってマニホールド穴を通るようにされる。空気圧は、 部品を駆動してそれぞれの管連結器８０を通って連結器に接続される排出管８４ の中にも入れる。これらの空気の噴出は真空経路で伝達される部分真空の影響に 打ち勝つために十分な圧力のものである。この装置によって、選択された部品は 、部品の下の空気弁の選択作動によってその台から排出できる。したがって、台 リング内の部品はリングと整列された任意の管を通って選択的に排出することが できる。 図１および図１ａを参照するに、排出部品は、分類ビン９４の中に置かれるよ うに空気の噴出および重力によって推進されるそのそれぞれの排出管８４を横切 る。図示されるように、ビンはビントレイ９６で支えられ、トレイ当たり４つの ビンである。試験部品を収集するために、ビンのトレイは、排出マニホールド２ ２の下、および前の棚の上に置かれている。管の開放端（マニホールドから離れ ている端部）は、複数のスルーホール１００およびスルースロット１０２を規定 する管経路指示プレート９８によってその適切なビンに経路指定される。穴およ びスロットは、その対応する分類ビンより上に中央配置されるように置かれてい る。穴は、それぞれ１つの排出管を受け入れるようなサイズにされ、スロットは それぞれ４つの管を受け入れるようなサイズにされる。管の開放端は、部品をそ のビンよりも下に案内するように穴あるいはスロットの中に挿入される。図１は 、明らかにするために、排出マニホールドに接続された排出管８４の若干の断続 的なセグメントおよび経路指定プレートから突き出る排出管の若干の断続的なセ グメントだけを示しているが、全ての排出管はマニホールドプレートから経路指 示プレートおよび対応するビンよりも下へのその経路において実際に連続してい ることを理解すべきである。所望のように、マニホールド排出穴の全てあるいは いくつかの部分は経路指示プレートに延びる管を有することも理解すべきである 。 図１、図１ｂおよび図１ｃを参照するに、管経路指示プレート９８でマニホー ルド排出穴７８を調整するための多数の可能な方法の１つが示されている。本実 施例では、各々４つの穴の１１の列に配置され、穴が整列されている列および部 品台リングにより全て調整するようにラベルを付けられた４４のマニホールド穴 （各部品台リングに対して１つ）がある。Ｒ１〜Ｒ５とラベルが付けられた５つ の列、Ｇ１〜Ｇ５とラベルを付けられた５つの列および“ＯＮ”とラベルを付け られた１つの列がある。４つのリングは“Ａ”〜“Ｄ”とラベルを付けられてい る。不合格部品は、下方に適当なビンを有するプレート不合格スロットを経路指 示することが定められる対応する管８４を横切るように列Ｒ１〜Ｒ５を通って排 出される。本実施例では、マニホールド列Ｒ１の穴は、それぞれの排出管を介し て、Ｒ１Ａ〜Ｒ１Ｄとラベルを付けられた経路指示プレートスロットと通じてい る。列Ｒ２は、列Ｒ５を通ってＲ２Ａ〜Ｒ２Ｄとラベルを付けられたスロット等 と通じている。合格部品は、下方に適当なビンを有するプレート“合格”スロッ トの穴を経路指示することが定められる対応する管を横切るように、例えばその 試験結果により列Ｇ１〜Ｇ５を通って排出される。座標Ｇ１，Ａ〜Ｇ１，Ｄを有 するマニホールド穴は、それぞれの排除管を介して、経路指示プレート穴Ｇ１Ａ 〜Ｇ１Ｄのそれぞれと通じている。座標Ｇ２，Ａ〜Ｇ２，Ｄを有するマニホール ド穴は、経路指示プレート穴Ｇ２，Ａ〜Ｇ２，Ｄ等のそれぞれと列Ｇ５を通して 通じている。列ＯＮのマニホールド穴はＯＮＡ〜ＯＮＤとラベルを付けられた経 路指示スロットと通じている。ＯＮ列を介して排出される部品は、何等かの理由 で前述のマニホールド穴のいずれかを通して排出されないこれらの部品である。 ＯＮ列の後ろの空気弁は、ＯＮ列に到着する任意の部品を排出するように常に作 動される。 図１、図３、図１０、図１０ａおよび図１４を参照するに、部品１２は、静止 弧状の装填フレーム１０４の下にある装填領域１９の試験プレート台の中に分け られる。装填フレームは、全部で４つの部品台リングに合う４つの壁１０８ａ〜 １０８ｄとして示されている格納壁１０６および複数の装着案内板を有する。装 着案内板は、一様な高さのものであり、クロス部材１１０によって試験プレート から離して接続される。装着案内板の弧は台リングと同心であり、各台リングの 外側寄りの側面に直接隣接する１つの装着案内板である。装着案内位置のベース は、装着案内板の下に部品の通過あるいは捕獲することを防止するために、例え ば、シムによって試験プレートより上にわずかに離隔されている。好ましくは、 試験プレートの時計の９時の位置から（位置指示器として時計の時間点を使用し て）時計の約５時位置まで延びる。装填フレームの９時の端部で案内板間のギャ ップ１１０ａ〜１１０ｄは、ギャップの中に部品を挿入するための口として役立 つように開いている。動作中、試験される部品は、通常等しい比率でギャップに 注ぎ込まれ、部品が下方に落下するとき、部品は、重力によって装着案内板に沿 って分配され、転がる。分配は、各々が案内板間の各ギャップに向けられる複数 の押し込み式空気ノズルを有するエアナイフ１１２の使用によってさらに支援す ることができる。図示されるように、試験プレートは、時計回りの方向に回転し 、重力により、各々の脱着された部品は、装着案内板に沿って、最後には装着さ れるまで、リングの回転経路のアークを通過する空の台を反対方向に連続的にひ っくり返す。台の中で一度、部品は、環状真空通路１１（図６）から台に通じら れている部分真空によってそれの中に保持される。 図１、図１３および図１４を参照するに、試験される部品は、それの幅が案内 板間のギャップに合う口１１６を有する開放している上部ファネル１１４によっ て装着案内板間のギャップ１１０ａ〜１１０ｄの中に注ぎ込まれる。下記に説明 されるように、ファネルは部品を主に選択されたギャップに注ぎ込むために４つ のギャップの各々にわたって垂直に選択的に置くことができる。ファネルは、シ ェーカー１２０上に取り付けられる静止フィーダートレイ１１８からの部品の流 れを収容する。フィーダートレイは、好ましくは、ホッパー１２２からの部品量 を重力供給され、このシェーカーはフィーダートレイを振動させ、部品をファネ ルに移動させる。このホッパーは部品をトレイに注ぐ大きな入力口１２４を有す る。トレイの上のホッパーの出力口（図示せず）の間隔は、部品をトレイに効果 的に計量して供給する。フィーダートレイの底の一部１２６は均一の大きさにさ れた穴によって貫かれる。穴あきの部分の下はキャッチトレイ１２８である。穴 は、穴を通過し、下にあるキャッチトレイによって捕獲される並よりも小さい部 品を選別して出力するためのものである。穴あきの部分は好ましくはメッシュで ある。 図１０、図１０ａおよび図１４を参照するに、ギャップ１１０ａ〜１１０ｄの 上のファネル１１４の位置は、どのギャップが部品が最も必要としているかを決 定するプロセッサ（図示せず）によって制御される。プロセッサは、装填フレー ムクロス部材１３２によって規定されるそれぞれの角張った穴に配置された複数 の部品センサ１３０からギャップ当たり１つの信号を受け取る。センサの各々は 、一対の光ファイバケーブル、すなわちレーザビームのようなコヒーレント光源 に結合された一方のケーブルおよび光検出器に結合された他方のケーブルを含ん でいる。穴は、光学ケーブルの自由端がギャップの下りのコーナー、すなわち図 １０ａに最も良く示されているように、部品が重力により収集するべきであるコ ーナーに向けられるように曲げられる。部品は一般的には光を反射する。下りの コーナーを指示する図１０ａの破線の矢印はセンサで放射される光ビームを示し 、反対の破線の矢印はセンサに当たるこれらの反射光の一部を示している。 動作中、各センサ１３０は、そのギャップの下りのコーナーの方へ光ビームに 向け、（図１０ａのギャップ１１０ａにおけるように）コーナーの中に部品が全 然ないならば、ビームは、反射されないかあるいは部品が（図１０ａのギャップ １１０ｂ〜１１０ｄにおけるように）ある場合よりも非常に少ない程度まで反射 される。反射がないかあるいはより少ない反射はプロセッサによって指示される 。この状態が所定の時間にわたって持続するならば、プロセッサは、部品を必要 とするときにギャップの上にファネルの口を置くようにアーム１３４を駆動する モータ（図示せず）を作動させる。ハンドラーが作動しているときに、ギャップ をチェックし、ファネルを移動させるこの工程は連続的である。このように、部 品は通常等しい比率で分ける。センサを試験プレートに対して約７時の位置に置 くことによって、部品は最適位置にあり、部品がないことを検出することが分か った。 図１９〜図２１を参照するに、他の接触器は各々が４つの下側接触器モジュー ル１３６の５つのグループを含むように示される。各モジュールは、ハウジング １３８を含み、支持プレート１４０の上部面上に取り付けられ、コンピュータの ようなテスタとプラグイン式の結合端子１４２を介して通じている。各接触器モ ジュールはハウジングに作動できるように接続され、ハウジングの下を通過する 部品と電気接触する接点機構も含んでいる。図示されるように、各ハウジングは 、支持プレートによって規定される穴を通って延びるベース部を含み、接点機構 は、ベース部に接続されたピボットピン１４６の周りに回転するシャンクに接続 された接点アーム１４４である。アームの自由端は部品の摩耗を避けるために丸 くされる。止めピン１５０に当たる止めアーム１４８は接点アームに角のある関 係でシャンクにも接続されている。止めピンと反対方向に止めアームを一方に片 寄らせるばねは図示されていない。ターンテーブルが割り出される、すなわち増 分ステップで回転されるので、接点アームは、より良い接触をするためにステッ プの最後の１度あるいは２度に部品１２の垂直端子１４に対して拭い始めるのが 好ましい。図２１の矢印はこれらを図示する目的で試験プレート回転方向を示し ている。前述のものであってもよいしあるいはくぎ式であってもよい複数の下側 接触器は、試験プレートの下にあり、部品台と正しく合っている。このように、 各部品の両方の端子はその両方が試験回路と通じているぬぐいアーム１４４およ び下側接触器によって同時に接触される。 図３、図３ａおよび図３ｂを参照するに、ジャムセンサブリッジは、Ｕ字状に され、真空プレート９、試験プレート８、および装填フレーム１０４をまたがる ように取り付けられる。ブリッジの脚１５２および１５４の各々は、４つのスル ーホール１６１および１５９のそれぞれを規定し、一方の脚の穴は他方の脚の穴 と正しく合っている。そのように取り付けられる場合、脚の穴は、穴がブリッジ 脚の間に割り出される時に各台列の４つの部品台とも正しく合っている。ブリッ ジ脚の穴とも正しく合っているのは、装填フレームによって規定される４つのス ルーホール１５７および真空プレートによって規定された４つの円錐のスルーホ ール１６２である。真空プレートの後部／下にあるブリッジ脚１５４の中に各々 が配置されているのは、円錐のスルーホールの方へ光を向ける４つの発光ケーブ ル１５８であり、他方のブリッジ脚１５２の穴の中に各々が配置されているのは 、その発光端が装填フレームによって規定される穴に面している光検出器（図示 せず）に結合される４つの光ファイバケーブル１６０である。円錐の穴は放射光 を各々正しく合わされている台の中心に集束するためのものであるので、部品が 台の中にあるならば、部品は放射された光を阻止する。台の中に部品がないなら ば、放射された光は対応する光検出器に到達する。したがって、排出マニホール ドを通り過ぎた後その台の中になおある任意の部品は、部品が各々ジャムセンサ 光ビームを遮るという事実のために検出することができる。 図１１を参照するに、排出マニホールドも試験プレートの中に静電気の増加を 防止するために従来の純粋装置を取り付けるスルーホール１６３を規定する。 図３を参照するに、装填フレーム１０４は、試験プレート８から離れたピボッ トピン１６４上で回転することができ、ちょうねじ１６６およびロックピン１６ ８によって所定の位置にロックてきる。これは試験プレートの設置および交換を 容易にする。 図７および図８を参照するに、接触器アセンブリ２０は、試験される部品のサ イズおよび／または形が変えられるときに必ず変えられる試験プレートの設置お よび交換も容易にするようにアセンブリが試験プレートから上へおよび離れて回 転できるようにするピボットピン１７４を含んでいる。これは、部品と繰り返さ れる摩擦係合のためにもちろん摩滅させる下側接点ばね板２５の設置および交換 も容易にする。ちょうねじ１７２は、アセンブリが誤って軸回転することをロッ クするために使用される。試験プレートの上のアセンブリの高さは、全アセンブ リを２つのガイド（図示せず）に沿って上下に移動させるマイクロメータレベラ １７０によって正確に便宜的に調整できる。 図１３を参照するに、ホッパ−１２２、フィードトレイ１１８およびファネル １１４は、全て試験プレートの設置および交換を容易にするためにガイドに沿っ て後方へスライドできる。これらおよびシェーカー１２０は全て、下にあるベア リングガイド上をスライドするスライド可能なプレート１８０上に取り付けられ ている。このプレートは、ロック機構（図示せず）に接続されたレバー１７６に よって作動するために所定の位置にロックされる。さらに、ホッパーは、ロック （図示せず）を解除し、ロックを前方に押すことによってあけられ、 ホッパー 壁に固定された支え金具をフィーダートレイ１１８の壁に固定された２つのピボ ットピン１７８Ａおよび１７８Ｂと係合する。一旦ピンが係合されると、ホッパ ーはホッパーの中味をこぼすようにピン上で回転できる。 前述の説明および図面は具体的な目的だけのために示されていて、本発明は、開 示された実施例に限定されなくて、下記の請求の範囲によって規定されるような 本発明の範囲内にある構成要素の任意および全ての代替物、均等物、修正および 再配置を含むことを目的としていることが理解される。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 スウェンドロウスキー、スティーブ アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92129、サン・ディエゴ、デロン・アベニ ュー 13259 (72)発明者 ワン、ジェイソン アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92129、サン・ディエゴ、ロザーハム・ア ベニュー 8974 (72)発明者 タニ、ミツアキ アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92029、エスコンディード、アルダーグロ ーブ・アベニュー 1231 (72)発明者 トウィット、マーティン アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92131、サン・ディエゴ、エルダーウッ ド・レーン 10825 (72)発明者 ホークス、マルコルム アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92027、エスコンディード、バックスキ ン・グレン 1942 (72)発明者 シーリー、デイビッド アメリカ合衆国、カリフォルニア州 91935、ジャムル、カレ・メスキート 3010 (72)発明者 ボーシェル、マーティン アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92041、レイクサイド、ワイルドキャッ ト・キャニオン・ロード 11811 (72)発明者 フィッシュ、ジェフリー アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92110、サン・ディエゴ、フライアーズ・ ロード ナンバー イー４ 5790 (72)発明者 クック、バーノン アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92026、エスコンディード、ムーン・ライ ト・グレン 2449 【要約の続き】 り分類ビン（９６）の中に案内する。部品の流れは、案 内板には部品が与えられないことを示す検出器（１３ ０）からの信号に応じて各案内板に選択的に案内するこ とができる。センサ（１５８、１６０）は、排出マニホ ールド（２２）によって排出されなかった装着部品を検 出する。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．部品ハンドラーにおいて、 （ａ）部品台のリングと、 （ｂ）前記リングをその中心の周りに回転させる手段と、 （ｃ）前記回転リングの経路の中にあり、部品の流れを収容し、かつ部品を リングに装着する手段と、 （ｄ）前記回転リングの経路の中にあり、各装着部品を試験するために各装 着部品を電気的に十分に接触させる手段と、 （ｅ）複数のビンと、 （ｆ）前記回転リングの経路の中にあり、各試験される部品をその台から排 出し、かつこの部品を複数のビンの中の選択されたビンの中に案内する手段とを 備えていることを特徴とする部品ハンドラー。 ２．前記部品をその台の中に保持する部分真空手段をさらに備えていること を特徴とする請求項１に記載のハンドラー。 ３．排出する手段によって排出されなかった部品を検出する手段をさらに備 えていることを特徴とする請求項１に記載のハンドラー。 ４．前記リングがある角度で傾斜され、かつ前記部品の流れが、前記リング が回転している時に前記リング上に注がれ,かつ部品を収容および装着する手段 が、注がれ、かつ脱着された部品を、重力により、前記リングの回転経路の弧を 通過する空の台を無作為にひっくり返すことに限定する手段を備え、前記通過す る台をランダムにひっくり返すことにより前記部品を装着をさせることを特徴と する請求項１に記載のハンドラー。 ５．前記限定する手段が、前記リングと同心であり、かつ前記リングの台の 外側寄りの側面に沿って、およびこの側面に隣接して配置された静止の弧状の案 内板を備えていることを特徴とする請求項４に記載のハンドラー。 ６．前記案内板が、前記リングに対してほぼ９時の位置からほぼ５時の位置 まで延びていることを特徴とする請求項５に記載のハンドラー。 ７．前記部品台が回転可能なプレートによって規定され、かつ前記部分真空 手段が、 （ａ）部分真空発生源と、 （ｂ）静止プレートによって規定され、かつ前記部分真空発生源に結合され る真空経路であって、前記真空経路が、前記台リングと同心であり、かつ前記台 リングに隣接していること、 （ｃ）前記回転プレートによって規定される台当たり１つの複数の連結経路 であって、前記連結経路が、前記真空経路からの前記部分真空をそのそれぞれの 台に伝達すること、 を備えていることを特徴とする請求項２に記載のハンドラー。 ８．前記リングの台が均一の角度で離隔され、かつ前記リングの回転が増加 し、前記増加量が隣接台間の空間であることを特徴とする請求項１に記載の部品 ハンドラー。 ９．各台が、部品の端子軸が許容範囲内で前記台と整列されているときに部 品を収容するだけであり、各台が部品の下側端子および上側端子の両方を触れさ せ、かつ前記部品を電気的に接触させる手段が、 （ａ）上から前記部品を接触させる前記リングと整列された複数の上側接点 と、 （ｂ）下から前記部品を接触させる対応する複数の下側接点とを備え、各上 側接点が、１つの下側接点と正しく合っていて、かつ前記リングがある増加量回 転される度に台と正しく合っていることを特徴とする請求項８に記載のハンドラ ー。 １０．前記上側接点が、ある角度で前記部品の上部端子を横切って拭う片持ち の弾性ばね板を備えていることを特徴とする請求項９に記載のハンドラー。 １１．前記片持ちのばね板の各々が、前記片持ちのばね板によって加えられた 圧力のために前記部品がその台から飛び出すことを防止する細長い先端を備えて いることを特徴とする請求項１０に記載のハンドラー。 １２．前記部品を排出し、かつ案内する手段が、 （ａ）前記リングがある増加量回転される度にその各々が部品と正しく合っ ている複数の排出穴を規定する排出マニホールドと、 （ｂ）前記排出穴に結合される対応する複数の管であって、前記管がそれの 中の排出された部品を前記ビンに案内すること、 （ｃ）前記台の中の部品をそれぞれの管の中に排出するために前記排出穴と 正しく合っている台の中に空気圧を加える対応する複数の選択的に作動される空 気手段とを備えていることを特徴とする請求項８に記載のハンドラー。 １３．部品ハンドラーにおいて、 （ａ）複数部品台の同心状リングと、 （ｂ）前記リングをその中心の周りに回転させる手段と、 （ｃ）前記回転リングの経路の中にあり、部品の流れを収容し、かつ部品を リングに装着する手段と、 （ｄ）前記回転リングの経路の中にあり、各装着部品を試験するのに十分に 各装着部品を電気的に接触させる手段と、 （ｅ）複数のビンと、 （ｆ）前記回転リングの経路の中にあり、各試験される部品をその台から排 出し、かつこの部品を複数のビンの中の選択されたビンの中に案内する手段とを 備えていることを特徴とする部品ハンドラー。 １４．前記部品をその台の中に保持する部分真空手段をさらに備えていること を特徴とする請求項１３に記載のハンドラー。 １５．排出する手段によって排出されなかった部品を検出する手段をさらに備 えていることを特徴とする請求項１３に記載のハンドラー。 １６．前記リングがある角度で傾斜され、かつ前記部品の流れが、前記リング が回転している時に前記リング上に注がれ、かつ部品を収容および装着する手段 が、注がれ、かつ脱着された部品を、重力により、前記リングの回転経路の弧を 通過する空の台を無作為にひっくり返すことに限定する手段を備え、前記通過す る台をランダムにひっくり返すことにより、前記部品を装着をさせることを特徴 とする請求項１３に記載のハンドラー。 １７.前記限定する手段が、独自に前記リングに対応し、かつ前記リングと同 心である複数の静止の弧状の案内板を備え、各案内板がその対応するリングの前 記台の外側寄りの側面に沿っておよびこの側面に隣接して配置されていることを 特徴とする請求項１６に記載のハンドラー。 １８．前記案内板が、前記リングに対してほぼ９時の位置からほぼ５時の位置 まで延びていることを特徴とする請求項１７に記載のハンドラー。 １９．部品の流れを装着するための各リングに選択的に案内する手段をさらに 備えていることを特徴とする請求項１３に記載のハンドラー。 ２０．部品の流れを各案内板に選択的に案内する手段をさらに備えていること を特徴とする請求項１７に記載のハンドラー。 ２１．さらに、 （ａ）案内板に沿って部品のないことを検出し、かつ対応する信号を発生する 手段と、 （ｂ）前記信号に応答し、前記部品の流れを前記案内板に案内するハンドラ ー処理手段とを備えていることを特徴とする請求項２０に記載のハンドラー。