TW201250964A - Resin-attached lead frame, method for manufacturing same, and lead frame - Google Patents
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201250964 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關應用在爲了載置LED元件之附有樹脂 引線框及其製造方法,以及引線框。 【先前技術】 近年光設備,尤其是LED設備作爲行動電話的照明 和液晶用背光擴大用途’最近其用途擴大到取代白熾燈的 一般照明領域。但一般LED裝置會有同一個晶圓內的光 發行效率誤差大的傾向。而且,對於一般照明使用LED 裝置’其發光效率依然很低,必須在一個LED裝置內搭 載複數個LED元件。 此種LED裝置的封裝,是在玻璃環氧等的有機基板 搭載LED元件’打線接合之後,利用環氧系的透明樹脂 密封’然後具有單片化者。或者,在陶瓷基板上成型由 PAA等白色樹脂製成的反射板(反射樹脂部),然後在此 搭載LED元件’打線接合後,利用透明樹脂密封,亦具 有單片化者。或者’在框架上利用PPA等白色樹脂來成型 反射板,然後在此搭載LED元件,打線接合後,利用透 明樹脂密封,亦具有單片化者。 〔先行技術文獻〕 〔專利文、獻〕 〔專利文獻1〕日本特開第2005-136379號公報 如上所述’爲了提升LED封裝的光輸出效率(光束 201250964 ),作爲搭載LED元件的基板,可使用在引線框上事先 成型由合成樹脂製成的反射板。而且習知引線框,考慮其 反射效率,採用全面施行鍍銀加工者。但是因構成反射板 的合成樹脂,藉由從LED元件發出的紫外線產生劣化變 黃,光輸出效率會有歷經一段時而下降的情形。而且,引 線框的鍍銀,會與空氣中的硫化氫反應,歷經一段時間變 成褐色的問題。 本發明是考慮此類缺點完成的發明,其目的在於提供 一種在包含LED元件的半導體裝置中,可提高來自 LED 元件之光的輸出效率,並且防止引線框歷經時間劣化的附 有樹脂引線框及其製方法,以及引線框。 【發明內容】 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:具備:具 有複數個LED元件載置部與分別自各前述LED元件載置 部起間隔一段距離配置的複數條引線部,並且在各前述 LED元件載置部及各前述引線部的表面形成有LED元件 載置領域的引線框本體;和圍繞前述引線框本體的各前述 LED元件載置領域設置的反射樹脂部;在前述引線框本體 的各前述LED元件載置領域表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺 鍍層。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:具備:具 有LED元件載置部與自前述LED元件載置部起間隔一段 距離配置的引線部,並且在前述LED元件載置部及前述 201250964 引線部的表面形成有LED元件載置領域的引線框本體: 和圍繞前述引線框本體的前述LED元件載置領域設置的 反射樹脂部;在前述引線框本體的前述LED元件載置領 域表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:前述鋁蒸 鍍層或前述鋁濺鍍層,進而也設置在前述反射樹脂部的內 壁。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:前述引線 框本體的前述複數個LED元件載置領域,是縱橫配置。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:前述引線 框本體,是由:銅、銅合金、或42合金製成,前述引線 框本體之中’至少前述LED元件載置領域的表面,被鏡 面加工’該LED元件載置領域的算術平均高度Sa爲 Ο.ΟΙμπι〜Ο.ΙΟμιη,且具有粗度曲線要素平均長度Sm爲 2μιη〜1.8μιη的粗度。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲··在前述引 線框本體的前述LED元件載置部及前述引線部的背面, 設有鍍銀層。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:在前述引 線框本體的表面,形成有提高與前述引線框本體和前述反 射樹脂部之密著性的溝槽。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:在前述反 射樹脂部的上面,設有反射金屬層。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:在前述反 201250964 射樹脂部的上面之中,利用切割被切削的部分,會露出前 述反射樹脂部。 本發明爲一種附有樹脂引線框,其特徵爲:在前述反 射樹脂部的上面,形成有向內凹的凹部。 本發明爲一種引線框,其特徵爲:具備:具有複數個 LED元件載置部與分別自各前述LED元件載置部起間隔 一段距離配置的複數條引線部,並且在各前述LED元件 載置部及各前述引線部的表面形成有LED元件載置領域 的引線框本體;在前述引線框本體的各前述LED元件載 置領域表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。 本發明爲一種引線框,其特徵爲:具備:具有LED 元件載置部與自前述LED元件載置部.起間隔一段距離配 置的引線部,並且在前述LED元件載置部及前述引線部 的表面形成有LED元件載置領域的引線框本體;在前述 引線框本體的前述LED元件載置領域表面,設置鋁蒸鍍 層或鋁濺鍍層。 本發明爲一種附有樹脂引線框之製造方法,在附有樹 脂引線框之製造方法中,其特徵爲:具備:準備具有複數 個LED元件載置部與分別自各前述LED元件載置部起間 隔一段距離配置的複數條引線部,並且在各前述LED元 件載置部及各前述引線部的表面形成有LED元件載置領 域的引線框本體的製程:在前述引線框本體的各前述LED 元件載置領域表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層的製程;和 圍繞前述引線框本體的各前述LED元件載置領域地設置 201250964 反射樹脂部的製程。 本發明爲一種附有樹脂引線框之製造方法,在附有樹 脂引線框之製造方法中,其特徵爲:具備:準備具有複數 個LED元件載置部與分別自各前述LED元件載置部起間 隔一段距離配置的複數條引線部,並且在各前述LED元 件載置部及各前述引線部的表面形成有LED元件載置領 域的引線框本體的製程;圍繞前述引線框本體的各前述 LED元件載置領域地設置反射樹脂部的製程:和在前述引 線框本體的各前述LED元件載置領域表面及前述反射樹 脂部的內壁,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層的製程。 藉由本發明,在引線框本體的各LED元件載置領域 表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。藉此就能有效率的反射 來自LED元件的光,提高來自LED元件之光的輸出效率 ,並且防止引線框歷經時間劣化。 【實施方式】 第1實施形態 以下,針對本發明之第1實施形態,參照第1圖至第 1 0圖做說明。 引線框之構成 首先,根據第1圖及第2圖’針對利用本實施形態的 LED元件用的引線框之槪略做說明。第1圖及第2圖是表 示藉由本實施形態之引線框的圖。 -9- 201250964 第1圖及第2圖所示的引線框1 5,具備:具有複數個 led元件載置領域14的引線框本體〗丨;設置在引線框本 體1 1的各LED元件載置領域14表面,作爲用來反射來 自LED元件21之光的反射層功能的金屬層12。 當中引線框本體11是由金屬板形成。作爲構成引線 框本體Π的金屬板之材料,例如:可列舉銅、銅合金、 42合金(Ni42%之Fe合金)等。該引線框本體11的厚度 ,雖亦是根據半導體裝置的構成,但0.1 mm〜0.5mm爲佳 〇 又,如第2圖所示,引線框本體11具有外框13,複 數個LED元件載置領域14,是在該外框13內縱橫配置。 又’引線框本體1 1,是具有:複數個晶片銲墊(LED元 件載置部)25 ;和自各晶片銲墊25起間隔一段距離配置 的複數條引線部26,並且具備:在各晶片銲墊25及各引 線部26上形成有各LED元件載置領域14。在晶片銲墊 25和引線部26之間,形成塡充有反射樹脂部23的空間 17。又,各晶片銲墊25及各引線部26,是利用各個棒狀 的繫桿(tie bar) 16,連接在鄰接在另一個晶片銲墊25、 鄰接的另一個引線部26,或外框1 3。 如第1圖所示,在晶片銲墊25的背面,形成有第1 外引線部27,在引線部26的背面,形成有第2外引線部 28。在該些第1外引線部27及第2外引線部28,分別設 有提高與銲料之接觸性的鍍銀層29。再者,該鍍層29的 厚度是2μηι〜Ιίμηι爲佳。 -10- 201250964 另~方面,金屬層12例如可以利用蒸鍍或濺鍍形成 ’其材料可列舉:鋁、銀、铑、鈀、白金、銅等。以下, 金屬層12,舉例說明由··鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層製成的情形 (以下亦簡稱爲鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12)。該鋁蒸鍍層或 鋁濺鏟層12,是作爲用來反射來自LED元件21之光的反 射層功能,位於引線框1 5的最表面側。該鋁蒸鍍層或鋁 濺鍍層12,是用蒸鍍或濺鍍鋁(A1)形成。鋁蒸鍍層或鋁 濺鍍層12,是其厚度形成極薄,具體而言是Ο.ίμηι〜ΐμιη 爲佳。再者,鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,可以直接形成在引 線框本體1 1上,亦可例如介設著由:鍍銀(Ag )層製成 的接合層形成在引線框本體1 1上。 又,在本實施形態中,鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,雖是 設置在包含外框1 3及繫桿1 6的引線框本體1 1的表面全 體,但至少引線框本體1 1表面之中,若設置在各LED元 件載置領域14則佳。亦即,因爲LED元件載置領域14, 是引線框本體1 1中未利用反射樹脂部23 (後述)覆蓋的 領域,所以是有助於反射來自LED元件2 1之光的領域。 例如,引線框本體Μ表面中,亦可不在打線接合的 部分設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12。 又,例如:引線框本體1 1表面中,亦可不在搭載 LED元件的部分設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12。 又,例如在引線框本體1 1表面,介設著由鍍銀層製 成的接合層(圖未表示)設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,且 引線框本體11表面中,亦可不在打線接合的部分設置鋁 -11 - 201250964 蒸鍍層或鋁濺鍍層12。 更又,例如在引線框本體1 1表面,介設著由鍍銀層 製成的接合層(圖未表示)設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12, 且引線框本體1 1表面中,亦可不在搭載LED元件21的 部分設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12。 又,引線框本體1 1中,至少各LED元件載置領域14 的表面,最好在設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層〗2之前,事先 鏡面加工。此時,各LED元件載置領域14之表面的粗度 ,最好是使用菱化系統公司製、非接觸表面/層斷面形狀 計測系統、VertScan2.0測定的LED元件載置領域14的算 術平均高度Sa爲0.01μίη~0.10μπι,且具有粗度曲線要素 平均長度Sm爲2μηι〜18μπι的粗度。藉此,形成在各LED 元件載置領域14之表面的鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12的反射 率昇高,能更有效的反射來自LED元件21的光。 更在引線框本體1 1的表面,形成有爲了提高與引線 框本體Η和反射樹脂部23之密著性的溝槽18。此溝槽 18(除了空間17)具有平面矩形形狀,且在引線框本體 1 1表面中,沿著LED元件載置領域14的外周緣設置。 再者,於第2圖中,符號S (假想線),是表示引線 框15之中,對應後述的半導體裝置20(第5圖及第6圖 )的領域。 再者,在本實施形態中,引線框本體Π,雖是具有: 複數個晶片銲墊2 5 ;和自各晶片銲墊2 5起間隔一段距離 配置的複數條引線部26,但並不限於此,引線框本體11 -12- 201250964 ,各具有一個以上的晶片銲墊25及引線部26亦可。 附有樹脂引線框之構成 其次,根據第3圖及第4圖,針對利用本實施形態的 LED元件用的附有樹脂引線框之槪略做說明。第3圖及第 4圖是表示藉由本實施形態之附有樹脂引線框的圖。再者 ,在第3圖及第4圖中’在與第1圖及第2圖相同的部分 附上相同的符號。 第3圖及第4圖所示之附有樹脂引線框1〇,是用來載 置LED元件21 (參照第5圖及第6圖)。此種附有樹脂 引線框1 〇,是具備:引線框1 5 ;和設置在引線框1 5上, 圍繞LED元件載置領域14的反射樹脂部23。 當中引線框1 5具有引線框本體1 1,該引線框本體i J 具有:複數個晶片銲墊25 ;和自各晶片銲墊25起間隔一 段距離配置的複數條引線部26。在各晶片銲墊25及各引 線部26的表面,形成有LED元件載置領域14。又,在引 線框本體1 1的各LED元件載置領域14之表面,設有鋁 蒸鍍層或鋁濺鍍層12。在第4圖中,以斜線表示該鋁蒸鍍 層或鋁濺鍍層12。再者,引線框15的構成,是與上述的 第1圖及第2圖所示者相同,在此省略詳細說明。 另一方面,反射樹脂部23,是與引線框1 5 —體化, 具有圍繞LED元件21的平面略矩形形狀的凹部23a。又 ,在凹部23a的內側形成有內壁23b。又,在晶片銲墊25 和引線部26之間的空間1 7,塡充有反射樹脂部23。再者 -13- 201250964 ,反射樹脂部23的詳細於後述。 再者,在本實施形態中,引線框本體1 1,雖長 複數個晶片銲墊25 ;和自各晶片銲墊25起間隔-配置的複數條引線部26,但並不限於此,引線框 ,各具有一個以上的晶片銲墊25及引線部26亦可 半導體裝置之構成 其次,根據第5圖及第6圖,針對使用第2礓 圖所示的附有樹脂引線框所製作成的半導體裝置做 第5圖及第6圖是表示藉由本實施形態之半導體 SON型)的圖β再者,在第5圖及第6圖中,在與 至第4圖相同的部分附上相同的符號。 如第5圖及第6圖所示,半導體裝置20,是具 有引線框本體11與鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12(單片 引線框15 :載置在引線框15之晶片銲墊25上的 件21 ;和電性連接引線框15之引線部26與LED 的接合線(導電部)22 » 再者,在第6圖中,以斜線表示鋁蒸鍍層或錫 12。 又,如圍繞LED元件21地設置具有凹部23a 樹脂部23。進而,LED元件21和接合線22,是利 性的密封樹脂24而密封。該密封樹脂24是塡充在 脂部23的凹部23a內。再者,引線框本體1 1表面 設有密射樹脂24的領域,是對應上述的LED元件 具有: 段距離 :體11 3及第3 說明。 裝置( 第1圖 備:具 化)的 LED元 元件21 濺鍍層 的反射 用透光 反射樹 之中, 載置領 * 14 - 201250964 域1 4 〇 以下,針對構成半導體裝置20之各構成構件,依序 做說明。 引線框15,如上述,設有:具有晶片銲墊25與引線 部26的引線框本體1 1 ;和設置在引線框本體丨1上,作爲 用來反射來自LED元件21之光的反射層功能的鋁蒸鍍層 或鋁濺鍍層12。 另一方面,LED元件21,是作爲發光層例如藉由適 當選擇由 G a P、G a A s、G a A1A s ' G a A s P、A11 n G aP 或 InGaN等之化合物半導體單結晶所形成的材料,就能選擇 從紫外光涵蓋到紅外光的發光波長。作爲此種的LED元 件2 1,可使用以往一般所採用的元件。 又,LED元件21,是利用銲錫或晶粒接合膏(die bonding paste),在反射樹脂部23的凹部23a內而固定 安裝在晶片銲墊25上(鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12上)。再 者,利用晶粒接合膏的情形下,可選擇由具有耐光性的環 氧樹脂、矽膠樹脂所製成的晶粒接合膏。 接合線22是例如由金等之導電性良好的材料所製成 ,其一端是連接在LED元件21的端子部21a,並且其另 一端是連接在引線框本體Π的引線部26表面上(鋁蒸鍍 層或鋁濺鏟層12上)。 反射樹脂部23,是例如在附有樹脂引線框10上將熱 可塑性樹脂例如加以射出成型,或將熱硬化性樹脂例如加 以射出成型或移轉成型,藉此所形成的。反射樹脂部23 -15- 201250964 的形狀,可藉由使用於射出成型或移轉成型之模具的設計 ,來實現各種形狀。例如:反射樹脂部2 3的全體形狀’ 如第5圖及第6圖所示,可爲矩形體,或者也可爲圓筒形 或錐形等的形狀。又凹部23a的底面,可爲矩形、圓形、 橢圓形或多角形等。凹部23a之內壁23b的斷面形狀,如 第5圖可以由直線所構成,或者也可以由曲線所構成。 有關使用於反射樹脂部23.的熱可塑性樹脂或熱硬化 性樹脂,特別希望能選擇耐熱性、耐候性以及機械性強度 優的。作爲熱可塑性樹脂的種類,可使用:聚醯胺、聚鄰 苯二甲醯胺(PPA )、聚二苯硫化物、液晶聚合物、聚醚 、聚醚醯亞胺、以及聚對苯二甲酸二丁酯、聚烯烴、環聚 烯烴等,作爲熱硬化性樹脂,可使用矽、環氧、聚醯亞胺 等。更又,在該些樹脂中作爲光反射劑而添加二氧化鈦、 二氧化锆、鈦酸鉀、氮化鋁、以及氮化硼之中的任一種, 藉此在凹部23a的底面及內壁23b,使得來自發光元件之 光的反射率增大,且可使得半導體裝置20全體的光輸出 效率增大。 作爲密封樹脂24,爲了提昇光的輸出效率,希望選擇 在半導體裝置20的發光波長中,可提高光透射率,還有 折射率高的材料。因而,作爲滿足耐熱性、耐候性、以及 機械性強度高之特性的樹脂,可選擇環氧樹脂和矽樹脂。 尤其在作爲LED元件21而使用高亮度LED的情形下,爲 了使密封樹脂24成爲強光,密封樹脂24以具有高耐候性 的矽樹脂所形成爲佳。 -16- 201250964 引線框及附有樹脂引線框之製造方法 接著,針對第1圖及第2圖所示的引線框I 5及第3 圖及第4圖所示的附有樹脂引線框1 0之製造方法,使用 第7圖(a ) - ( g )及第8圖(a ) - ( c )做說明。 首先,如第7圖(a)所示,準備平板狀的金屬基板 31。作爲該金屬基板31,如上述所可使用由:銅' 銅合金 、42合金(Ni42%之Fe合金)等製成的金屬基板。再者 ,金屬基板31,是使用對該兩面進行脫脂等,且施行洗淨 處理者爲佳。 又,對金屬基板31的表面31a事先施行鏡面加工, 其算術平均高度Sa爲0.01μιη~0.1μπι,粗度曲線要素平均 長度Sm爲2μηι〜18μηι爲佳。再者,此種鏡面加工,例如 可列舉:於材料之最後壓延時使用鏡面加工壓延滾輪,或 雙面鏡面鍍銅加工。 接著,在金屬基板31的表裏全體分別塗佈感光性光 阻劑32a、33a,且將此乾燥(第7圖(b))。再者,作 爲感光性光阻劑32a、33a,可使用以往公知的。 接著,對該金屬基板31介設光罩而曝光,且加以顯 像,藉此形成具有所要的開口部3 2 b、3 3 b的蝕刻用光阻 劑層32、33(第7圖(c))。 接著,以蝕刻用光阻劑層32、33作爲耐腐蝕膜,以 腐蝕液對金屬基板31施行蝕刻(第7圖(d))。腐蝕液 可配合所使用的金屬基板31之材質做適當選擇,例如: -17- 201250964 作爲金屬基板31而使用銅的情形下,通常是使用三氯化 鐵溶液,從金屬基板31的兩面利用噴塗式蝕刻(Spray Etching )而進行。 接著’剝離蝕刻用光阻劑層3 2、3 3而予去除。如此 一來’就可得到具有:晶片銲墊25 ;和自晶片銲墊25起 間隔一段距離之引線部26的引線框本體1 1。又,此時, 利用半蝕刻(Half Etching )在引線框本體1 1的表面形成 有溝槽18。 接著,對引線框本體11的背面施行電解電鏟,藉此 使金屬(銀)析出至第1外引線部27及第2外引線部28 ,形成有提高與銲料之接觸性的鍍銀層29 (第7圖(f) )。此情形例如依序經過電解脫脂製程、酸洗製程、化學 硏磨製程、銅打底(strike )製程、水洗製程、中性脫脂 製程、氛洗製程、以及鍍銀製程,藉此在第1外引線部27 及第2外引線部28形成鍍銀層29。作爲該電解電鍍用的 電鍍液,例如:可列舉以氰化銀爲主成份的鍍銀液。在實 際的製程中,在各製程間配合需要適當加入水洗製程。 接著,在引線框本體11的表面施行蒸鍍或濺鍍,藉 此使鋁附著在引線框本體1 1上。藉此,在包含LED元件 載置領域1 4的引線框本體Π的表面全體,形成作爲反射 層功能的鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12(第7圖(g))。 鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層之形成,具體上雖未限定於此, 但蒸鍍之情形,可根據真空到達度 9 X 1 (T6torr、速率 1.5nm/秒的條件,在引線框本體Π上形成鋁蒸鍍層12。 -18- 201250964 又,濺鍍之情形,可根據真空到達度4x1 (T6t〇rr、成膜真 空度5xl(T3torr、功率900W (濺靶尺寸5吋xl8吋之情形 )的條件,在引線框本體Μ上形成鋁濺鍍層12。 如此一來,可得到具有:引線框本體11與形成在引 線框本體11上的鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12的引線框15 (第 7 圖(g ))。 接著,在引線框15的鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12上形成 反射樹脂部23。以下,針對該些的各製程進一步說明。 首先,將依此上述的製程(第7圖(a) - (g))所 得到的引線框15,安裝在射出成型機或轉印成型機(圖未 表示)的模具35內(第8圖(a))。在模具35內,形 成有對應反射樹脂部23之形狀的空間35a。 接著,藉由射出成型機或轉印成型機的樹脂供給部( 圖未表示)對模具35內流入熱可塑性樹脂,然後使其硬 化’藉此在引線框15表面中,LED元件載置領域14以外 的部分形成反射樹脂部23(第8圖(b))。此時,亦在 晶片銲墊2 5和引線部2 6之間的空間1 7,塡充反射樹脂部 23 〇 接著’將形成有反射樹脂部23的引線框15從模具35 內取出。如此一來’就可得到反射樹脂部2 3與引線框1 5 爲形成一體的附有樹脂引線框1 0 (第3圖及第4圖)(第 8 圖(c))。 半導體裝置之製造方法 -19- 201250964 接著,針對第5圖及第6圖所示的半 製造方法,使用第9圖(a) - (f)做說明 首先,藉由上述的製程(第7圖(a 圖(a) - ( c )),製作具備:引線框15 ! 的附有樹脂引線框1 〇 (第9圖(a ))。 其次,在引線框15的晶片銲墊25上 2 1。此情形下,使用銲料或晶粒接合膏, 2 1載置在引線框1 5的晶片銲墊25上(鋁 層1 2上)加以固定(晶粒接合製程)(第 接著,將LED元件21的端子部21a手I 線部26表面,利用接合線22互相地電性 製程)(第9圖(c ))。 然後,在反射樹脂部23的凹部23a 24,利用密封樹脂24來密封LED元件2: 第9圖(d))。 接著,藉由切割各LED元件21間的ί 將引線框15與每個LED元件21分離(第 此時,先將引線框15載置在切割膠帶37 後例如利用由鑽石磨石等所製成的刀片3 8 切斷各LED元件21間的反射樹脂部23。 如此一來,就可得到第5圖及第6圖 置20 (第9圖(f))。 本實施形態之作用效果 導體裝置20之 〇 )-(g )及第8 吳反射樹脂部23 :搭載LED元件 而將LED元件 蒸鍍層或鋁濺鍍 9 圖(b ))。 ]引線框15的引 連接(打線接合 內塡充密封樹脂 I和接合線22 ( 乏射樹脂部23, 5 9 圖(e))。 上而予固定,然 ,朝垂直方向來 所示的半導體裝 -20- 201250964 接著,針對由此種構成製成的本實施形態之作用,使 用第10圖做說明。第10圖是表示藉由本實施形態之半導 體裝置配置在配線基板之狀態的剖面圖。 如第1 0圖所示,將利用本實施形態的半導體裝置20 配置在配線基板41上。此種配線基板41,具有:基板本 體42;和形成在基板本體42上的配線端子部43、44。之 中一方的配線端子部43,是介設著一方之連接銲料部45 ,連接在第1外引線部27。又另一方的配線端子部44, 是介設著另一方之連接銲料部46,連接在第2外引線部 28。 如此一來,在配線基板41上配置半導體裝置20,並 且在一對配線端子部43、44流入電流的情形下,對晶片 銲墊25上的LED元件21施加電流,點亮LED元件21。 此時,來自 LED元件21的光,會通過密封樹脂24 從密封樹脂24的表面放射出來,或利用反射樹脂部23的 凹部23a的內壁23b反射,藉此從密封樹脂24的表面放 射出來。或者,來自LED元件21的光,會利用鋁蒸鍍層 或鋁濺鍍層12的表面反射,藉此從密封樹脂24的表面放 射出來。 在本實施形態中,在引線框本體1 1之LED元件載置 領域14的表面,設有鋁蒸鑛層或鋁濺鍍層12。藉此就能 有效率的反射來自LED元件21的光,提高來自LED元件 21之光的輸出效率。又,由於構成鋁蒸層或鋁濺鍍層12 的鋁,不會因空氣中之硫化氫劣化,因此可防止引線框1 5 -21 - 201250964 歷經時間劣化。 如以上說明,藉由本實施形態,在引線框本體1 1之 各LED元件載置領域14表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層 12。藉此就能有效的反射來自LED元件21的光,提高來 自LED元件21之光的輸出效率,並且防止引線框15歷 經時間劣化》 又藉由本實施形態,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,就 能藉此提高引線框1 5與密封樹脂2 4的密著性。而且,利 用接合線22的打線接合性和LED元件21的晶粒接合性 也能良好的維持。 介設著由鍍銀層製成的接合層設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍 層12的情形下,由於在打線接合的部分,撕下薄鋁亦形 成基層的銀(鍍銀層)和導線(wire )的合金,因此接合 性更優良,可更加提高打線接合強度。 未在打線接合的部分設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12的 情形下,由於打線接合時不需要撕破鋁之氧化膜的能量, 因此可緩和接合溫度及超音波等的條件。 未在搭載LED元件21的部分設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍 層12的情形下,介設著晶片銲墊25的散熱路徑縮短’結 果可提升散熱性。 例如:介設著由鍍銀層製成的接合層設置鋁蒸鍍層或 鋁濺鍍層12,並且未在打線接合的部分,設置鋁蒸鍍層或 鋁濺鍍層1 2的情形下,由於與以往相同,可直接在鍍銀 層上進行打線接合,因此例如可高度保持與金製之接合線 -22- 201250964 22的接合強度。 例如:介設著由鍍銀層製成的接合層設置鋁蒸鍍層或 鋁濺鍍層12,且未在搭載LED元件21的部分設置鋁蒸鍍 層或鋁濺鍍層1 2的情形下,例如利用銲料接合LED元件 21時,由於該部分的銲料濕潤良好,因此不會在銲料內發 生氣泡,且可確實搭載LED元件21的全面。 第2實施形態 接著,參照第Π圖至第16圖,針對本發明之第2實 施形態做說明。第Π圖至第16圖是表示本發明之第2實 施形態的圖。 第1 1圖至第1 6圖所示的第2實施形態,其相異點是 在於將鋁蒸鑛層或鋁濺鍍層12設置在反射樹脂部23的內 壁23 b,其他構成大致與上述之第1實施形態相同。在第 11圖至第16圖中,在與第1圖至第10圖所示的實施形態 相同的部分附上相同的符號,詳細的說明予以省略。 附有樹脂引線框之構成 首先,根據第Π圖及第12圖,針對利用本實施形態 的附有樹脂引線框之槪略做說明。第1 1圖及第1 2圖是表 示藉由本實施形態之附有樹脂引線框的圖。 如第1 1圖及第1 2圖所示,藉由本實施形態的附有樹 脂引線框10A,具備:引線部15 ;和反射樹脂部23。 當中引線框1 5具有引線框本體U,引線框本體1 1具 -23- 201250964 有:複數個晶片銲墊2 5 ;和自各晶片銲墊2 5起間隔一段 距離配置的複數條引線部26。又,在各晶片銲墊25及各 引線部26的表面,形成有LED元件載置領域14。另一方 面,反射樹脂部23是以圍繞引線框本體11的各LED元 件載置領域I 4的方式設置。 在本實施形態中,金屬層(此情形爲鋁蒸鍍層或鋁濺 鍍層)12,除了引線框本體1 1的各LED元件載置領域14 的表面,進而也設置在反射樹脂部23的內壁23b。亦即鋁 蒸鍍層或鋁濺鍍層12,是自LED元件載置領域14的表面 起,沿著反射樹脂部23的內壁23b連續延伸。再者,在 第12圖中,以斜線表示鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層1 2。形成在 LED元件載置領域14的表面及反射樹脂部23的內壁23b 的金屬層12,並不限於鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層,亦可爲由: 銀、鍺、鈀、白金銅等之層製成。 此時,與第3圖及第4圖所示的附有樹脂引線框10 不同,鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,並未設置在引線框本體 1 1與反射樹脂部23之間,在引線框本體1 1表面之中,僅 設置在各LED元件載置領域14。 又,如第12圖所示,由於晶片銲墊25與引線部26 並未縮短,因此反射樹脂部23之內壁23b中,在鄰接於 空間1 7的部分,並不設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層1 2。 除此之外,第1 1圖及第1 2圖所示的附有樹脂引線框 10A的構成,因大致與第3圖及第4圖所示的附有樹脂引 線框1 〇相同,故在此省略詳細的說明。 -24- 201250964 再者,在本實施形態中,引線框本體1 1,雖是具有: 複數個晶片銲墊25 ;和自各晶片銲墊25起間隔一段距離 配置的複數條引線部26,但並不限於此,引線框本體1 1 ,各具有一個以上的晶片銲墊25及引線部26亦可。 第1 7圖是表示藉由本實施形態之一變形例的附有樹 脂引線框10A。在第17圖所示的附有樹脂引線框10A中 ,在反射樹脂部23的上面23c,設有反射金屬層51。反 射金屬層51可由:鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層製成,也可由: 其他種類的金屬層(例如銀、铑、鈀、白金、銅等)製成 。一般半導體裝置20組裝至照明裝置時,雖然從LED元 件2 1射出的光的一部分會反射到照明裝置內,返回到半 導體裝置20的上部,但像這樣設置反射金屬層51,藉此 就能防止返回到半導體裝置20之上部的光被半導體裝置 2 0吸收。 第1 8圖是表示藉由其他變形例的附有樹脂引線框 l〇A。在第18圖所示的附有樹脂引線框10A中,與第17 圖所示的形態不同,反射樹脂部2 3的上面2 3 c中,在利 用切割(參照第9圖(e))被切削的部分23d,並未設有 反射金屬層51,會露出反射樹脂部23。另一方面,反射 樹脂部23的上面23c中,在利用切割被切削的部分23d 以外的領域’設有反射金屬層51。再者,露出反射樹脂部 23的部分23d,可爲反射樹脂部23之上面23c的略中央 部分’也可爲自上面23c的中央部分朝水平方向偏移的位 置。此情形下,由於切割時的切削碎片並未含有導電性良 -25- 201250964 好的鋁等之金屬粉,因此可防止切削後殘留的金屬異物之 短路。 第1 9圖是表示藉由其他變形例的附有樹脂引線框 10A。在第19圖所示的附有樹脂引線框10A中,與第17 圖所示的形態不同,在反射樹脂部23的上面23c的略中 央部,形成有向內凹的凹部52。於第19圖中,在凹部52 內的(包含底面52a)全域,設有反射金屬層51。一般由 於在利用切割被切削的部分並不存在反射金屬層5 1,因此 該部分具有吸收光的性質。又,半導體裝置20組裝至照 明裝置時,從LED元件2 1射出的光的一部分,會反射到 照明裝置內,返回到半導體裝置20的上部。在第19圖中 ,縮小吸收光的領域(利用切割被切削的部分),藉此就 能防止返回到半導體裝置20之上部的光被半導體裝置20 吸收。 第20圖是表示藉由其他變形例的附有樹脂引線框 10A。在第20圖所示的附有樹脂引線框10A中,與第19 圖所示的形態不同,凹部5 2中,在利用切割(參照第9 圖(e))被切削之部分的底面5 2a,並未設有反射金屬層 51,會露出反射樹脂部23。另一方面,凹部52中,在底 面5 2a以外的領域設有反射金屬層51。此時,可防止返回 到半導體裝置20之上部的光被半導體裝置20吸收。又, 由於切割時的切削碎片並未含有導電性良好的鋁等之金屬 粉,因此可防止切削後殘留的金屬異物之短路。 -26- 201250964 半導體裝置之構成 其次,根據第13圖及第14圖,針對使用第11圖及 第1 2圖所示的附有樹脂引線框所製作成的半導體裝置做 說明。第13圖及第14圖是表示半導體裝置(SON型)的 圖。 如第13圖及第14圖所示,半導體裝匱20A,是具備 :具有引線框本體11與鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12(單片化 )的引線框15 ;載置在引線框15之晶片銲墊25上的 LED元件21 ;和電性連接引線框15之引線部26與LED 元件21的接合線(導電部)22。 又,以圍繞LED元件21的方式設有反射樹脂部23。 進而,LED元件2 1和接合線22,是利用透光性的密封樹 脂24而密封。 在第13圖及第14圖中,鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12,除 了引線框本體1 1的各LED元件載置領域14的表面,進 而也設置在反射樹脂部23的內壁23b。再者,在第14圖 中,以斜線表示鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層1 2。 除此之外,第13圖及第14圖所示的半導體裝置20A 的構成,因大致與第5圖及第6圖所示的半導體裝置20 相同,故在此省略詳細的說明。 附有樹脂引線框之製造方法 接著,針對第1 1圖及第1 2圖所示的附有樹脂引線框 10A之製造方法,使用第15圖(a)-(f)及第16圖(a -27- 201250964 )- (d)做說明。以下,以與上述之第7圖(a) - (g)及 第8圖(a ) _ ( C )所示之製程的相異點爲中心做說明。 首先’與第7圖(a ) - ( e )所示之製程相同,製作 具有:晶片婷塾25 ;和自晶片銲墊25起間隔一段距離配 置的引線部26的引線框本體丨丨(第15圖(a) - (e)) 〇 接著’對引線框本體1 1的背面施行電解電鍍,藉此 在第1外引線部27及第2外引線部28,形成各個鍍銀層 2 9。藉此得到引線框1 5 (第1 5圖(f))。或者,此時也 可對引線框本體1 1的全面施行鍍銀。 接著’在引線框本體1 1的表面形成反射樹脂部23, 藉此一體構成引線框15與反射樹脂部23 (第16圖(a) -(〇)。形成該反射樹脂部23的製程(第16圖(a) -(c))’除了在形成鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12之前形成反 射樹脂部23之外,大致與上述之第8圖(a) - (c)的製 程相同》 接著,對引線框本體11的LED元件載置領域14與 反射樹脂部23的內壁23b,施行蒸鍍或濺鍍,藉此形成鋁 蒸鍍層或鋁濺鍍層12(第16圖(d))。如此一來,可得 到第1 1圖及第1 2圖所示的附有樹脂引線框1 〇 A。 再者,使用依此得到的附有樹脂引線框1 0A ’製成第 13圖及第14圖所示的半導體裝置20A的方法,因大致與 上述之第9圖(a) - (f)所示的方法相同,在此省略詳細 的說明。 -28- 201250964 像這樣藉由本實施形態,可提高來自LED元件21之 光的輸出效率,並且可防止引線框1 5的歷經時間劣化 又’藉由本實施形態,鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層12也可 設置在反射樹脂部23的內壁23 b。因構成鋁蒸鍍層或鋁濺 鍍層12的鋁,不會因來自LED元件21之紫外線劣化, 故可防止反射樹脂部23因紫外線而歷經時間劣化。 【圖式簡單說明】 第1圖是表示藉由本發明之第1實施形態的引線框的 剖面圖(第2圖之I -1線剖面圖)。 第2圖是表示藉由本發明之第1實施形態的引線框的 俯視圖。 第3圖是表示藉由本發明之第1實施形態的附有樹脂 引線框的剖面圖(第4圖之ΙΙΙ-ΠΙ線剖面圖)。 第4圖是表示藉由本發明之第1實施形態的附有樹脂 引線框的俯視圖。 第5圖是表示藉由本發明之第1實施形態的半導體裝 置的剖面圖(第6圖之V _ V線剖面圖)。 第6圖是表示藉由本發明之第1實施形態的半導體裝 置的俯視圖。 第7圖(a) - (g)是表示藉由本發明之第1實施形 態的導線框之製造方法的圖。 第8圖(a) - (c)是表示藉由本發明之第1實施形 態的附有樹脂引線框之製造方法的圖。 -29- 201250964 第9圖(a ) - ( f)是表示藉由本發明之第1實施形態 的半導體裝置之製造方法的剖面圖。 第1 〇圖是表示半導體裝置配置在配線基板上之狀態 的剖面圖。 第11圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框的剖面圖(第1 2圖之XI-XI線剖面圖)。 第12圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框的俯視圖。 第13圖是表示藉由本發明之第2實施形態的半導體 裝置的剖面圖(第14圖之ΧΠΙ-ΧΙΙΙ線剖面圖)。 第14圖是表示藉由本發明之第2實施形態的半導體 裝置的俯視圖。 第15圖(a) - (f)是表示藉由本發明之第2實施形 態的引線框之製造方法的圖。 第16圖(a) - (d)是表示藉由本發明之第2實施形 態的附有樹脂引線框之製造方法的圖° 第17圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框之變形例的剖面圖。 第18圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框之變形例的剖面圖。 第1 9圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框之變形例的剖面圖° 第20圖是表示藉由本發明之第2實施形態的附有樹 脂引線框之變形例的剖面圖。 -30- 201250964 【主要元件符號說明】 10、10A :附有樹脂引線框 1 1 :引線框本體 12:鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層 1 3 :外框 14 : LED元件載置領域 15 :引線框 16:繫桿(tie bar) 1 7 :空間 1 8 :溝槽 20、20A :半導體裝置 2 1 : L E D元件 21a :端子部 2 2 :接合線 23 :反射樹脂部 23a :凹部 23b :內壁 2 3 c :上面 2 3 d :部分 24 :密封樹脂 25 :晶片銲墊(LED元件載置部) 26 :引線部 27 :第1外引線部 -31 - 201250964 28 :第2外引線部 2 9 :銀鍍層 3 1 :金屬基板 3 2、3 3 :蝕刻用光阻劑層 32a、33a :感光性光阻劑 3 2 b、3 3 b :開口部 3 5 :模具 3 5 a :空間 3 7 :切割膠帶 38 :刀片 41 :配線基板 42 :基板本體 43、44 :配線端子部 45、46 :連接銲料部 5 1 :反射金屬層 5 2 :凹部 5 2 a :底面 -32-
Claims (1)
- 201250964 七、申請專利範圍: 1. 一種附有樹脂引線框,其特徵爲:具備:具有複數 個LED元件載置部與分別自各前述LED元件載置部起間 隔一段距離配置的複數引線部,並且在各前述LED元件 載置部及各前述引線部的表面形成有LED元件載置範圍 的引線框本體;和圍繞前述引線框本體的各前述LED元 件載置範圍設置的反射樹脂部;在前述引線框本體的各前 述LED元件載置範圍表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。 2. —種附有樹脂引線框,其特徵爲:具備:具有LED 元件載置部與自前述LED元件載置部起間隔一段距離配 置的引線部,並且在前述LED元件載置部及前述引線部 的表面形成有LED元件載置範圍的引線框本體;和圍繞 前述引線框本體的前述LED元件載置範圍設置的反射樹 脂部;在前述引線框本體的前述LED元件載置範圍表面 ,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。 3 ·如申請專利範圍第1項或第2項所記載的附有樹脂 引線框,其中,前述鋁蒸鑛層或前述鋁濺鍍層,進而也設 置在前述反射樹脂部的內壁。 4 _如申請專利範圍第1項所記載的附有樹脂引線框, 其中,前述引線框本體的前述複數個LED元件載置範圍 ,是縱橫配置。 5-如申請專利範圍第1項或第2項所記載的附有樹 脂引線框,其中,前述引線框本體,是由:銅、銅合金、 或42合金製成,前述引線框本體中,至少前述LED元件 -33- 201250964 載置範圍的表面,被鏡面加工,該LED元件載置範圍的 算術平均高度Sa爲0.01//m〜0.10//m,且具有粗度曲線 要素平均長度Sm爲2ym〜1.8/zm的粗度》 6. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載的附有樹脂 引線框,其中,在前述引線框本體的前述LED元件載置 部及前述引線部的背面,設有鍍銀層。 7. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載的附有樹脂 引線框,其中,在前述引線框本體的表面,形成有提高與 前述引線框本體和前述反射樹脂部之密著性的溝槽。 8. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載的附有樹脂 引線框,其中,在前述反射樹脂部的上面,設有反射金屬 層。 9. 如申請專利範圍第8項所記載的附有樹脂引線框, 其中,在前述反射樹脂部的上面之中,利用切割被切削的 部分,會露出前述反射樹脂部。 1 0.如申請專利範圍第8項所記載的附有樹脂引線框 ,其中,在前述反射樹脂部的上面,形成有向內凹的凹部 〇 11.—種引線框,其特徵爲:具備:具有複數個led 元件載置部與分別自各前述LED元件載置部起間隔一段 距離配置的複數引線部,並且在各前述LED元件載置部 及各前述引線部的表面形成有LED元件載置範圍的引線 框本體;在前述引線框本體的各前述LED元件載置範圍 表面,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層。 -34- 201250964 12.—種引線框,其特徵爲:具備:具有LED元件載 置部與自前述LED元件載置部起間隔一段距離配置的引 線部,並且在前述LED元件載置部及前述引線部的表面 形成有LED元件載置範圍的引線框本體;在前述引線框 本體的前述LED元件載置範圍表面,設置鋁蒸鍍層或鋁 濺鍍層。 】.3 . —種附有樹脂引線框之製造方法,其特徵爲:具 備··準備具有複數個LED元件載置部與分別自各前述 LED元件載置部起間隔一段距離配置的複數引線部,並且 在各前述LED元件載置部及各前述引線部的表面形成有 LED元件載置範圍的引線框本體的製程:在前述引線框本 體的各前述LED元件載置範圍表面,設置鋁蒸鍍層或鋁 濺鍍層的製程;和圍繞前述引線框本體的各前述LED元 件載置範圍地設置反射樹脂部的製程。 14.一種附有樹脂引線框之製造方法,其特徵爲:具 備:準備具有複數個LED元件載置部與分別自各前述 LED元件載置部起間隔一段距離配置的複數引線部,並且 在各前述LED元件載置部及各前述引線部的表面形成有 LED元件載置範圍的引線框本體的製程;圍繞前述引線框 本體的各前述LED元件載置範圍地設置反射樹脂部的製 程;和在前述引線框本體的各前述LED元件載置範圍表 面及前述反射樹脂部的內壁,設置鋁蒸鍍層或鋁濺鍍層的 製程。 -35-
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9853195B2 (en) | 2015-04-17 | 2017-12-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device and method for producing the same |
CN108933185A (zh) * | 2017-05-26 | 2018-12-04 | 黄国益 | 支撑结构、使用其的发光装置以及其加工方法 |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8878215B2 (en) * | 2011-06-22 | 2014-11-04 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device module |
DE102012104882B4 (de) * | 2012-06-05 | 2017-06-08 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Verfahren zur Herstellung von optoelektronischen Halbleiterbauteilen und damit hergestelltes optoelektronisches Halbleiterbauteil |
TWI484670B (zh) * | 2012-11-09 | 2015-05-11 | Fusheng Electronics Corp | 發光二極體的支架結構製作方法(四) |
JP6111627B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2017-04-12 | 大日本印刷株式会社 | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 |
JP6111628B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2017-04-12 | 大日本印刷株式会社 | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 |
US9748164B2 (en) * | 2013-03-05 | 2017-08-29 | Nichia Corporation | Semiconductor device |
JP2015056425A (ja) * | 2013-09-10 | 2015-03-23 | 大日本印刷株式会社 | 光半導体装置、光半導体装置用リードフレーム、及びそれらの製造方法 |
US10242934B1 (en) * | 2014-05-07 | 2019-03-26 | Utac Headquarters Pte Ltd. | Semiconductor package with full plating on contact side surfaces and methods thereof |
US10177292B2 (en) | 2014-05-23 | 2019-01-08 | Everlight Electronics Co., Ltd. | Carrier, carrier leadframe, and light emitting device |
TWI553264B (zh) | 2014-05-23 | 2016-10-11 | 億光電子工業股份有限公司 | 承載支架及其製造方法以及從該承載支架所製得之發光裝置及其製造方法 |
JP6501461B2 (ja) * | 2014-07-30 | 2019-04-17 | シチズン電子株式会社 | メッキ膜の剥離防止方法、部品集合体および発光装置 |
JP6493952B2 (ja) * | 2014-08-26 | 2019-04-03 | 大口マテリアル株式会社 | リードフレーム及びその製造方法 |
JP6387787B2 (ja) * | 2014-10-24 | 2018-09-12 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置、パッケージ及びそれらの製造方法 |
US9379087B2 (en) * | 2014-11-07 | 2016-06-28 | Texas Instruments Incorporated | Method of making a QFN package |
JP6362111B2 (ja) * | 2014-12-01 | 2018-07-25 | 大口マテリアル株式会社 | リードフレームの製造方法 |
JP6270052B2 (ja) * | 2014-12-05 | 2018-01-31 | Shマテリアル株式会社 | リードフレーム及びその製造方法 |
US9859481B2 (en) * | 2014-12-22 | 2018-01-02 | Nichia Corporation | Light emitting device |
US9590158B2 (en) | 2014-12-22 | 2017-03-07 | Nichia Corporation | Light emitting device |
WO2016204163A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | 京セラ株式会社 | 電子素子実装用基板および電子装置 |
JP6337859B2 (ja) | 2015-09-08 | 2018-06-06 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
WO2017056321A1 (ja) * | 2015-10-02 | 2017-04-06 | 大日本印刷株式会社 | 樹脂付リードフレームおよびその製造方法、ならびにledパッケージおよびその製造方法 |
JP2017157684A (ja) * | 2016-03-02 | 2017-09-07 | ローム株式会社 | 発光装置およびその製造方法 |
JP6623108B2 (ja) * | 2016-03-31 | 2019-12-18 | 古河電気工業株式会社 | リードフレーム材料およびその製造方法 |
US20170294367A1 (en) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | Microchip Technology Incorporated | Flat No-Leads Package With Improved Contact Pins |
JP6644978B2 (ja) * | 2016-07-25 | 2020-02-12 | 大口マテリアル株式会社 | 半導体素子搭載用基板及び半導体装置、並びにそれらの製造方法 |
JP6825780B2 (ja) * | 2016-07-27 | 2021-02-03 | 大口マテリアル株式会社 | 多列型led用配線部材及びその製造方法 |
WO2018147325A1 (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | 株式会社アクアバンク | 飲料殺菌ユニットおよびこれを備えた飲料水供給装置 |
US10700252B2 (en) | 2017-04-18 | 2020-06-30 | Bridgelux Chongqing Co., Ltd. | System and method of manufacture for LED packages |
JP6969181B2 (ja) * | 2017-07-03 | 2021-11-24 | 沖電気工業株式会社 | 光源用反射体、光源及び光源用反射体の製造方法 |
JP6829665B2 (ja) * | 2017-07-10 | 2021-02-10 | 新光電気工業株式会社 | リードフレーム、半導体装置、及びリードフレームの製造方法 |
JP7116881B2 (ja) * | 2017-08-31 | 2022-08-12 | 日亜化学工業株式会社 | パッケージの製造方法及び発光装置の製造方法 |
US10672954B2 (en) * | 2017-09-01 | 2020-06-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device package |
KR102641336B1 (ko) * | 2017-09-05 | 2024-02-28 | 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 | 반도체 소자 패키지 |
KR102401826B1 (ko) * | 2017-09-15 | 2022-05-25 | 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 | 발광소자 패키지 및 이를 포함하는 조명장치 |
KR102379733B1 (ko) * | 2017-09-15 | 2022-03-28 | 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 | 발광소자 패키지 |
KR102359594B1 (ko) * | 2017-09-19 | 2022-02-07 | 엘지디스플레이 주식회사 | 복합 무기 발광 재료, 발광 필름, 이를 포함하는 엘이디 패키지, 발광다이오드 및 발광장치 |
CN108321283A (zh) * | 2018-04-03 | 2018-07-24 | 江苏鸿利国泽光电科技有限公司 | 一种高光效紫外led的封装支架及其封装方法 |
JP6819645B2 (ja) | 2018-04-10 | 2021-01-27 | 日亜化学工業株式会社 | 基板及びそれを用いた発光装置の製造方法 |
JP7174240B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2022-11-17 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
JP6947988B2 (ja) * | 2019-01-28 | 2021-10-13 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
CN111724741A (zh) * | 2020-06-09 | 2020-09-29 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 覆晶薄膜及其制备方法 |
TWM606836U (zh) * | 2020-09-18 | 2021-01-21 | 長華科技股份有限公司 | 導線架 |
US11715678B2 (en) * | 2020-12-31 | 2023-08-01 | Texas Instruments Incorporated | Roughened conductive components |
CN113113321B (zh) * | 2021-03-26 | 2022-02-11 | 昆山弗莱吉电子科技有限公司 | 半导体高密度引线框架及其制造工艺 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2632528B2 (ja) * | 1988-02-08 | 1997-07-23 | 新光電気工業株式会社 | リードフレーム |
JP2000183407A (ja) * | 1998-12-16 | 2000-06-30 | Rohm Co Ltd | 光半導体装置 |
JP4180352B2 (ja) * | 2002-11-15 | 2008-11-12 | 株式会社三井ハイテック | プリモールドパッケージ用リードフレーム及びプリモールドパッケージの製造方法 |
JP3940124B2 (ja) * | 2003-01-16 | 2007-07-04 | 松下電器産業株式会社 | 装置 |
JP2005019688A (ja) | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Kyocera Corp | 発光素子収納用パッケージおよび発光装置 |
JP4493013B2 (ja) | 2003-10-08 | 2010-06-30 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体装置 |
TWI245437B (en) | 2004-11-16 | 2005-12-11 | Lighthouse Technology Co Ltd | Package structure of a surface mount device light emitting diode |
JP2006156747A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板 |
JP2006344925A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-12-21 | Sharp Corp | 発光素子搭載用フレームおよび発光装置 |
JP2007294631A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 樹脂反射鏡及びこれを用いた照明器具 |
US7906794B2 (en) * | 2006-07-05 | 2011-03-15 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Light emitting device package with frame and optically transmissive element |
JP2008172125A (ja) | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Citizen Electronics Co Ltd | チップ型led発光装置及びその製造方法 |
TW200847478A (en) * | 2007-05-30 | 2008-12-01 | I Chiun Precision Ind Co Ltd | Light-emitting diode lead frame and manufacture method thereof |
JP4758976B2 (ja) * | 2007-12-03 | 2011-08-31 | 日立ケーブルプレシジョン株式会社 | 半導体発光素子搭載用リードフレーム及びその製造方法並びに発光装置 |
JP5217800B2 (ja) * | 2008-09-03 | 2013-06-19 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置、樹脂パッケージ、樹脂成形体並びにこれらの製造方法 |
WO2010029872A1 (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-18 | 昭和電工株式会社 | 発光装置、発光モジュール、表示装置 |
WO2010035944A2 (ko) * | 2008-09-29 | 2010-04-01 | 서울반도체 주식회사 | 발광 장치 |
US8288785B2 (en) * | 2008-12-03 | 2012-10-16 | Seoul Semiconductor Co., Ltd. | Lead frame having light-reflecting layer, light emitting diode having the lead frame, and backlight unit having the light emitting diode |
TWI393275B (zh) * | 2009-02-04 | 2013-04-11 | Everlight Electronics Co Ltd | 發光二極體封裝體及其製造方法 |
TWI485878B (zh) * | 2009-04-01 | 2015-05-21 | Lite On Technology Corp | 形成發光二極體之透鏡結構之方法及其相關架構 |
JP5302117B2 (ja) * | 2009-06-22 | 2013-10-02 | スタンレー電気株式会社 | 発光装置の製造方法、発光装置および発光装置搭載用基板 |
US20130009190A1 (en) * | 2010-04-07 | 2013-01-10 | Yuhichi Memida | Light emitting device and method for manufacturing same |
TWM400099U (en) * | 2010-09-27 | 2011-03-11 | Silitek Electronic Guangzhou | Lead frame, package structure and lighting device thereof |
US8933548B2 (en) * | 2010-11-02 | 2015-01-13 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Lead frame for mounting LED elements, lead frame with resin, method for manufacturing semiconductor devices, and lead frame for mounting semiconductor elements |
US9209373B2 (en) * | 2011-02-23 | 2015-12-08 | Intellectual Discovery Co., Ltd. | High power plastic leaded chip carrier with integrated metal reflector cup and direct heat sink |
US8846421B2 (en) * | 2011-03-10 | 2014-09-30 | Mds Co. Ltd. | Method of manufacturing lead frame for light-emitting device package and light-emitting device package |
-
2012
- 2012-01-20 TW TW101102701A patent/TW201250964A/zh unknown
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-
2016
- 2016-08-25 US US15/246,608 patent/US9806241B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9853195B2 (en) | 2015-04-17 | 2017-12-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device and method for producing the same |
CN108933185A (zh) * | 2017-05-26 | 2018-12-04 | 黄国益 | 支撑结构、使用其的发光装置以及其加工方法 |
CN108933185B (zh) * | 2017-05-26 | 2021-01-05 | 黄国益 | 支撑结构、使用其的发光装置以及其加工方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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---|---|---|
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