TW200832028A - Liquid crystal display - Google Patents

Description

200832028 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種液晶顯示裝置，進一步詳細而言， 是關於一種具備靜電保護電路以及測試用電路的液晶顯示 裝置。 【先前技術】 以往的主動矩陣型之液晶顯示裝置必須防止因靜電所 引起之開關用薄膜電晶體的特性偏移和絕緣破壞等的不 良。特開2005 -9 3 45 9號公報中揭露了具有這種靜電保護電 路的液晶顯示裝置。在上述習知文獻中，靜電保護電路係 在設成矩陣狀之複數個掃描線和複數個資料線的各交點附 近設有畫素電極以及與該畫素電極連接之開關用薄膜電晶 體的顯不區域外側，由以下所構成··掃描線用靜電保護用 薄膜電晶體，其設置在掃描線用靜電保護線以及該掃描線 用靜電保護線和各掃描線之間；以及資料線用靜電保護用 薄膜電晶體，其設在資料線用靜電保護線以及該資料線用 靜電保護線和各資料線之間。 【發明內容】 [本發明欲解決之問題] 不過’在上述以往的液晶顯示裝置中，因爲在顯示區 域外側設置掃描線用靜電保護線以及掃描線用靜電保護用 薄膜電晶體和資料線用靜電保護線以及資料線用靜電保護 用薄膜電晶體，由於爲了確保這些配置區域，所以會有邊 框尺寸變大的問題。在此，換言之，邊框尺寸也就是指液 晶顯示裝置之顯示面板的非顯示區域之尺寸，除去液晶顯 200832028 示裝置之表示面板之顯示區域的區域就是所謂收納圖像的 邊框形狀。 另外，在以往這種液晶顯示裝置中，在進行線路缺陷 等之檢查的情況下，則考慮在顯示區域外側，於掃描線用 靜電保護用薄膜電晶體以及資料線用靜電保護用薄膜電晶 體之各配置區域的相反側，設置測試端子。在此情況下， 選擇性地驅動掃描線以及資料線時，則必須在測試端子和 各掃描線以及各資料線之間，配置掃描線用測試用薄膜電 晶體以及資料線用測試用薄膜電晶體，爲了確保這些配置 區域，所以會有進一步加大邊框面積的問題。 因此，本發明之目的在於提供一種能縮小邊框面積的 液晶顯示裝置。 [解決問題的方法] 本發明的顯不裝置係具有··基板（1 )，其界定有顯示區 域（3 )和非顯示區域；複數個畫素電極（4，4 R，4 G，4 B )，其排列 在前述基板（1)上；複數個開關用薄膜電晶體（5 )，其連接於 前述各顯示用電極（4，4 R，4 G，4 B )，且具有控制用電極和資料 用電極；複數個掃描線（6)，其連接於前述各開關用薄膜電 晶體（5 )的閘極；以及複數個資料線（7 )，其連接於前述各開 關用薄膜電晶體（5)上的源、汲極。另外，還具有形成在前 述基板（1)之非顯示區域內的掃描線用靜電保護兼測試用 電路（1 4)以及資料線用靜電保護兼測試電路（2 2)之至少一 者。前述掃描線用靜電保護兼測試用電路（1 4)係具備：靜 電保護電路’其包含連接於前述掃描線（6)且因產生之靜電 而導通的保護元件（1 8);以及檢查電路，其用以檢查前述 200832028 掃描線（6)的導通狀態；而前述資料線用靜電保護兼測試電 路（2 2)係具備··靜電保護電路，其包含連接於前述資料線（7) 且因產生之靜電而導通的保護元件（27);以及檢查電路， 其用以檢查前述資料線（7)的導通狀態。 【實施方式】 (第1實施形態） 第1圖係表示本發明之第1實施形態的液晶顯示裝置 之主要部分的等效電路平面圖。此液晶顯示裝置係由以下 ^ 所組成：主動基板1與位於該主動基板1上方的對向基板 2係介由略方形框狀的密封材料（未圖示）而貼合，在密封材 料內側的兩片基板1、2之間封入液晶（未圖不）。在此情況 下，主動基板1之下側部從對向基板2突出。以下，這突 出的部分叫做突出部1 a。另外，在第1圖中，以一點鏈線 所包圍的方形區域就成爲顯示區域3。 在主動基板1上的顯示區域3中，設有：配置成矩陣 狀的複數個紅色、綠色、藍色之各色顯示用之畫素電極（顯 示用電極）4R、4G、4B;開關用薄膜電晶體5，其具有連接

U 於各畫素電極4R、4G、4B之一邊的源、汲極；掃描線6， 其在列方向上延伸’用以供給掃描信號於各開關用薄膜電 晶體5之聞極（控制用電極）；以及資料線7，其用以供給資 料信號於各開關用薄膜電晶體5之另一邊的源、汲極（資料 用電極）。 在此，在第1圖中，畫素電極4R、4G、4B僅以4個X 6個來進行圖示是爲了使圖面更加明確，實際上是排列了 數百個X數百個甚至以上的個數。在此情況下，紅色顯示用 200832028 之畫素電極4R係排列在第（l + 3n)行（η是含有0的正整數） 上’綠色顯示用之畫素電極4G係排列在第（2 + 3η)行上，藍 色顯示用之畫素電極4Β係排列在第（3 + 3 η)行上。 掃描線6之右端部係介由設在顯示區域3之右側以及 下側的掃描用繞線8，而連接於掃描用輸出端子1 0，該掃 描用輸出端子1 〇係設置在主動基板1之突出部丨a上的右 側以虛線表示的掃描線驅動用驅動器搭載區域9內之上 側。資料線7之下端部係介由設在顯示區域3下側的資料 用繞線1 1，而連接於資料用輸出端子丨3，該資料用輸出端 子1 3係設置在主動基板1之突出部丨a上的左側以虛線表 示的資料線驅動用驅動器搭載區域1 2內之上側。 在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內，設有掃描線用 靜電保護兼測試用電路1 4。亦即，在掃描線驅動用驅動器 搭載區域9內的左側，設有第1、第2、第3掃描線用測試 端子1 5、1 6、1 7。在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內， 於各掃描用輸出端子1 0下側設有掃描線用靜電保護兼測 試用薄膜電晶體1 8。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶 體1 8之一邊的源、汲極係連接於其上側的掃描用輸出端子 1 〇。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（保護元件）1 8 之閘極係介由第1掃描線測試用繞線1 9而連接於第1掃描 線用測試端子1 5。 在第1圖中，從掃描線用靜電保護兼測試用電路1 4左 側數過來第奇數個之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶 體1 8之另一邊源、汲極，係介由第2掃描線測試用繞線2〇 而連接於第2掃描線用測試端子1 6。從掃描線用靜電保護 200832028 兼測試用電路1 4左側數過來第偶數個之掃描線用靜電保 護兼測試用薄膜電晶體丨8之另一邊源、汲極，係介由第3 掃描線測試用繞線2丨而連接於第3掃描線用測試端子1 7。 資料線驅動用驅動器搭載區域1 2內係設有資料線用 靜電保護兼測試用電路2 2。亦即，在資料線驅動用驅動器 搭載區域1 2內的左側係設有第1〜第4資料線用測試端子 2 3〜2 6。在資料線驅動用驅動器搭載區域1 2內，於各資料 用輸出端子1 3下側係設有資料線用靜電保護兼測試用薄 ^、 膜電晶體（保護元件）27。資料線用靜電保護兼測試用薄膜 電晶體2 7的一邊源、汲極係連接於其上側的資料用輸出端 子1 3。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體2 7的閘極係 介由第1資料線測試用繞線2 8而連接於第1資料線用測試 端子2 3。 在第1圖中’從資料線用靜電保護兼測試用電路2 2左 側數過來第（1 + 3 η)個資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶 體27之另一邊源、汲極’係介由第2資料線測試用繞線29 而連接於第2資料線用測試端子2 4。從資料線用靜電保護 兼測試用電路2 2左側數過來第（2 + 3 η)個資料線用靜電保護 兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極，係介由第3資 料線測試用繞線3 0而連接於第3資料線用測試端子2 5。從 資料線用靜電保護兼測試用電路22左側數過來第（3+ 3 η)個 資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體2 7之另一邊源、汲 極，係介由第4資料線測試用繞線3 1而連接於第4資料線 用測試端子26。 在掃描線驅動用驅動器搭載區域9內的下側係設有掃 -10- 200832028 描用輸入端子3 2。掃描用輸入端子3 2係介由設在其下側的 掃描用繞線3 3，而連接於設在其下側的掃描用外部連接端 子3 4。資料線驅動用驅動器搭載區域1 2內的下側係設有資 料用輸入端子3 5。資料用輸入端子3 5係介由設在其下側的 資料用繞線3 6，而連接於設在其下側的資料用外部連接端 子37 〇 此外，爲了使圖面更加明確，雖在第1圖中省略，但 如第1 1圖所示，在主動基板1的掃描線驅動用驅動器搭載 區域9上，係搭載有內建掃描線驅動電路部的掃描線驅動 用驅動器晶片1 0 1。掃描線驅動用驅動器晶片1 0 1的外部電 極係藉由焊料球l〇la，以C〇G(Chip On Glass)法而接合於 掃描用輸出端子1 0、第1〜第3掃描線用測試端子1 5〜1 7 以及掃描用輸入端子3 2。接合方法方面，即使不使用焊接 法’也可以是異方性導電黏著材料等其他的接合材料的方 法。 另外’在主動基板1的資料線驅動用驅動器搭載區域 1 2上’係搭載有內建資料線驅動電路部的資料線驅動用驅 動器晶片102。資料線驅動用驅動器晶片1〇2的外部電極係 藉由焊料球l〇2a，以COG法而接合於資料用輸出端子13、 第1〜第4資料線用測試端子23〜26以及資料用輸入端子 3 5 °在此情況下亦然，接合方法方面，即使不使用焊接法， 也可以是異方性導電黏著材料等其他的接合材料的方法。 另外’在上述中，掃描線驅動用驅動器晶片和資料線驅動 用驅動器晶片分別可以係非個別分開（discrete)，而是兩者 爲一體化的單一^晶片（one-chip)。 -11- 200832028 接著，說明此液晶顯示裝置之一部分具體的構造。首 先，第2圖係表示第1圖所示之開關用薄膜電晶體5以及 畫素電極4(4R、4G、4B)的部分截面圖。在由玻璃等組成 的主動基板1上面的既定處，係設有由鉻等組成的閘極 4 1、與該閘極4 1連接的掃描線6以及與該掃描線6連接的 掃描用繞線8 (參照第1圖）。 含有閘極4 1以及掃描線6等的主動基板1上面，係設 有由氮化矽組成的閘絕緣膜4 2。在閘極4 1上的閘絕緣膜 (' 4 2上面的既定處係設有由本徵非晶矽組成的半導體薄膜 % ' 4 3。半導體薄膜4 3上面大致中央部係設有由氮化矽組成的 通道保護膜44。 在通道保護膜44上面兩側以及此兩側的半導體薄膜 43上面，係設有由n型非晶矽所組成之歐姆接觸層45、46。 一邊的歐姆接觸層45上面以及其附近的閘絕緣膜42上面 的既定處，係設有由鉻等組成的一邊源、汲極47。在另— 邊的歐姆接觸層46上面以及閘絕緣膜42上面的既定處， 係設有由鉻等組成之另一邊源、汲極4 8、與該另一邊源、 汲極4 8連接的資料線7以及與該資料線7連接的資料用，繞 線1 1(參照第1圖）。 在此，開關用薄膜電晶體5係由閘極4卜閘絕緣膜42、 半導體薄膜43、通道保護膜44、歐姆接觸層45、46以及 源、汲極47、48所構成。 在含有開關用薄膜電晶體5以及資料線7等的鬧，絕，緣 膜42上面，設有由氮化矽組成的覆蓋膜49。覆蓋膜49 ± 面的既定處係設有由ΙΤΟ等的透明導電材料所組$ @ ^ -12- 200832028 電極4。畫素電極4係介由在覆蓋膜49的既定處上設置的 接觸孔50而連接於一邊的源、汲極47。 接著，第3圖係表示第1圖所示之從掃描線驅動用驅 動器搭載區域9內左側數過來第奇數個之掃描用輸出端子 1 〇及與其連接之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體18 等的部分截面圖。掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 1 8係與第2圖所示之開關用薄膜電晶體5大致相同的構 造，由閘極41、閘絕緣膜42、半導體薄膜43、通道保護膜 ^ 44、歐姆接觸層45、46以及源、汲極47、48所組成。 (" 掃描用輸出端子1 0係一種2層構造，且介由在覆蓋膜 49上設置的開口部52而露出，該2層構造具有：下層金屬 層1 0a，其由設在主動基板1上面的鉻等所組成；以及上層 金屬層1 Ob，其由設在介由於閘絕緣膜42上設置之接觸孔 5 1而露出的下層金屬層1 〇 a上面以及設在其周圍之閘絕緣 膜42上面的鉻等所組成。 第1掃描線用測試端子1 5係由設在主動基板1上面的 鉻等金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49 ’ 上的開口部53、54而被露出。第2掃描線用測試端子16 係由設在主動基板1上面的鉻等金屬層所組成，且介由設 在閘絕緣膜42以及覆蓋膜49上的開口部55、56而被露出。 第2掃描線測試用繞線20係由以設在主動基板1上面 的鉻等所組成的下層繞線20a(第1圖中，在列方向上延伸 的線）、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層 繞線20b (第1圖中，在行方向上延伸的線）所構成，上層繞 線20b的一端部係介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔57而 -13- 200832028 連接於下層繞線20a。 然後，掃描用輸出端子1 〇的下層金屬層1 〇a係連接於 由設在主動基板1上面的鉻等所組成的掃描用繞線8。掃 描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8的閘極4 1，係介由 以設在主動基板1上面的鉻等所組成之第1掃描線測試用 繞線1 9而連接於第1掃描線用測試端子1 5，一邊的源、汲 極47係連接於掃描用輸出端子10的上層金屬層10b，另一 邊的源、汲極48係介由以上層繞線20b以及下層繞線20a ^ 所組成的第2掃描線測試用繞線20，而連接於第2掃描線 用測試端子1 6。 接著，第4圖係表示第1圖所示之從掃描線驅動用驅 動器搭載區域9內左側數過來第偶數個之掃描用輸出端子 1 〇及與其連接之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體i 8 等的部分截面圖。在第4圖中，僅說明與第3圖所示之情 況不同的部分，第3掃描線用測試端子1 7係由設在閘絕緣 膜42上面的鉻等之金屬層所組成。然後，掃描線用靜電保 ^ 護兼測試用薄膜電晶體1 8的另一邊源、汲極4 8係介由以 (5 — 設在閘絕緣膜4 2上面的鉻等所組成之第3掃描線測試用繞 線2 1，而連接於第3掃描線用測試端子1 7。 在此情況下，第3掃描線測試用繞線2 1不管是在第1 圖中在列方向上延伸的部分2 1 a還是在行方向上延伸的部 分2 1 b，都會形成在閘絕緣膜42的正上方，其中，在行方 向上延伸的部分2 1 b係與第2掃描線測試用繞線20當中在 第1圖中在列方向上延伸的部分（下層繞線20a)交叉，但因 爲在其間介入有閘絕緣膜42，所以不會短路。 -14- 200832028 接著，第5圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅 動器搭載區域12內左側數過來第（1+3 η)個資料用輸出端子 1 3及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27 等的部分截面圖。資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 27係與第2圖所示之開關用薄膜電晶體5大致相同的構 造’由閘極41、閘絕緣膜42、半導體薄膜43、通道保護膜 44、歐姆接觸層45、46以及源、汲極47、48所組成。 資料用輸出端子1 3係由設在閘絕緣膜42上面的鉻等 的金屬層所組成，且介由設在覆蓋膜49上的開口部61而

C 露出。第1資料線用測試端子23係由設在主動基板1上面 的鉻等的金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42以及覆蓋 膜49上的開口部62、63而露出。第2資料線用測試端子 24係由設在主動基板1上面的鉻等的金屬層所組成，且介 由设在鬧絕緣I吴4 2以及覆蓋膜4 9上的開口部6 4、6 5而露 出。 第2資料線測試用繞線2 9係由以設在主動基板丨上面 ( 的鉻等所組成的下層繞線2 9 a (第1圖中，在列方向上延伸 的線）、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層 繞線2 9 b (第1圖中，在行方向上延伸的線）所構成，上層繞 線29b的一端部係介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔66而 連接於下層繞線29a。 然後’資料用輸出端子丨3係連接於以設在主動基板1 上面的鉻等所組成的資料用繞線丨丨。資料線用靜電保護兼 測試用薄膜電晶體27的閘極4丨，係介由以設在主動基板1 上面的鉻等所組成之第1資料線測試用繞線2 8而連接於第 -15- 200832028 1資料線用測§式W子2 3，一邊的源、汲極4 7係連接於貪料 用輸出端子1 3，另一邊的源、汲極4 8係介由以上層繞線 2 9 b以及下層繞線2 9 a所組成的第2掃描線測試用繞線2 9 ’ 而連接於第2資料線用測試端子24。 接著，第6圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅 動器搭載區域12內左側數過來第（2 + 3n)個資料用輸出端子 1 3及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27 等的部分截面圖。在第6圖中，僅說明與第5圖所示之情 r 況不同的部分，第3資料線用測試端子25係由設在主動基 Γ 板1上面的鉻等的金屬層所組成，且介由設在閘絕緣膜42 以及覆蓋膜49上的開口部67、68而露出。 第3資料線測試用繞線30係由設在主動基板1上面且 由鉻等所組成的下層繞線30a (第1圖中，在列方向上延伸 的線）、以及以設在閘絕緣膜42上面的鉻等所組成的上層 繞線30b(第1圖中，在行方向上延伸的線）所構成，上層繞 線3 Ob的一端部係介由設在閘絕緣膜4 2上的接觸孔6 9而 連接於下層繞線30a。 1 然後，資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的另 一邊源、汲極48係介由以上層繞線30b及下層繞線30a所 組成的第3資料線測試用繞線3 0，而連接於第3資料線用 測試端子2 5。在此情況下，第3資料線測試用繞線3 0當中 在第1圖中在行方向上延伸的部分（上層繞線30b)係與第2 資料線測試用繞線2 9當中在第1圖中在列方向上延伸的部 分（下層繞線29a)交叉，但因爲在其間介入有閘絕緣膜42， 所以不會短路。 • 16 - 200832028 接著，第7圖係表示第1圖所示之從資料線驅動用驅 動器搭載區域12內左側數過來第（3 + 3n)個資料用輸出端子 1 3及與其連接之資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27 等的部分截面圖。在第7圖中，僅說明與第5圖所示之情 況不同的部分，第4資料線用測試端子26係由設在閘絕緣 膜42上面的鉻等之金屬層所組成，且介由設在覆蓋膜49 上的開口部70而被露出。第4資料線測試用繞線3 1係由 設在閘絕緣膜4 2上面的鉻等之金屬層所組成。 然後，資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27的另 一邊源、汲極4 8係介由第4資料線測試用繞線3 1，而連接 於第4資料線用測試端子2 6。在此情況下，第4資料線測 試用繞線3 1當中在第1圖中在行方向上延伸的部分3 1 b， 係與第2資料線測試用繞線29當中在第1圖中在列方向上 延伸的部分（下層繞線2 9 a )、以及第3資料線測試用繞線3 0 當中在第1圖中在列方向上延伸的部分（下層繞線30a)交 叉，但因爲在其間介入有閘絕緣膜42，所以不會短路。 接著，在上述構成的液晶顯示裝置中，說明在主動基 板1之製程中的靜電保護動作。根據實驗結果，在上述構 成的液晶顯示裝置中，正靜電會侵入，而負靜電沒有侵入。 以此狀況爲基礎，針對靜電的保護對策則是以正靜電侵入 的情況來進行說明。因此，以下的動作則是說明正靜電侵 入的情況。另外，在主動基板1的製程中，測試用探針（未 圖示）未接觸私第1掃描線用測試端子1 5以及第1資料線 用測試端子2 3。因此，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電 晶體1 8以及資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體27成 -17- 200832028 爲浮接（floating)的（非導通）狀態。 那麼，在第1圖中從下側數過來第奇數個掃描線6ι + 2η 中，由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條掃插線心。 於是，介由掃描用繞線8以及掃描用輸出端子1 〇而連接於 該掃描線6!的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8 會成爲〇N(導通）狀態，電流從該掃描線心而介由與其連接 之掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8，而流動於第 2掃描線測試用繞線20，第2掃描線測試用繞線20成爲高 «/丄 位。 〇 第2掃描線測試用繞線20成爲高電位時，在第1圖中 從下側數過來第奇數個掃描線61 + 2n中，與其他所有的掃描 線6 1 + 2n連接的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8 會成爲導通狀態，電流會從第2掃描線測試用繞線20而介 由掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8，流動於其他 所有的掃描線61 + 2n，在第1圖中從下側數過來第奇數個掃 描線6 1 + 2 η全部成爲相同電位。藉此，能夠緩和施加於與第 奇數個掃描線6 1 + 2 η連接之各開關用薄膜電晶體5上的電 ^ 荷，能防止各開關用薄膜電晶體5以及各絕緣膜的特性變 動和破壞。 在第1圖中從下側數過來第偶數個掃描線6 2 + 2 η中，由 於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條掃描線62的情況 下，藉由與上述相同的靜電保護動作，第3掃描線測試用 繞線2 1會成爲高電位，在第1圖中從下側數過來第偶數個 掃描線6 2 + 2 η全部成爲相同電位。藉此，能夠緩和施加於與 第偶數個掃描線62 + 2η連接之各開關用薄膜電晶體5上的電 -18- 200832028 荷。如此一來，即使因某種理由而正靜電從外部侵入至掃 描線6 ’也能防止開關用薄膜電晶體5以及各絕緣膜之靜 電所引起之特性變動和破壞等的不良。 另一方面，在第1圖中從左側數過來第（l + 3n)個紅色顯 示用的資料線7 ! + 3 n中，由於某種理由而正靜電從外部侵入 至某1條資料線7 ^。於是，連接於該資料線7 !的資料線用 靜電保護兼測試用薄膜電晶體27會成爲導通狀態，電流從 該資料線7 !而介由與其連接之資料線用靜電保護兼測試用 薄膜電晶體2 7 ’而流動於第2資料線測試用繞線2 9，第2 資料線測g式用繞線2 9成爲高電位。 第2資料線測試用繞線2 9成爲高電位時，紅色顯示用 的資料線7中，與其他所有的資料線7 1 + 3n連接的資料線用 靜電保護兼測試用薄膜電晶體2 7會成爲導通狀態，電流會 從第2資料線測試用繞線2 9而介由資料線用靜電保護兼測 試用薄膜電晶體2 7，流動於該剩下的的資料線7 i + 3 n，紅色 顯示用的資料線7l + 3n全部成爲相同電位。 ( 在第1圖中從左側數過來第（2 + 3n)個（或者是第（3 + 3n) 個）綠色顯示用（或是藍色顯示用）的資料線72 + 3n(73 + 3n)中， 由於某種理由而正靜電從外部侵入至某1條資料線7 2 ( 7 3 ) 的h況下，藉由與上述相同的靜電保護動作，第3資料線 測R式用繞線3 0 (或是第4資料線測試用繞線3 1)會成爲高電 位，綠色顯示用（或是藍色顯示用）的資料線7全部成爲相 同電位。如此一來，即使因某種理由而正靜電從外部侵入 至資料線72 + 3n(73 + 3n)，也能防止開關用薄膜電晶體5以及各 絕緣膜之靜電所引起之特性變動和破壞等的不良。 -19- 200832028 接著，說明上述構成之液晶顯示裝置的點亮檢查方 法。首先，使連接於檢查裝置的測試用探針（未圖示）接觸 於所有的測試端子1 5〜1 7、2 3〜2 6。然後，第一，在例如 供給驅動電壓於第2掃描線用測試端子1 6，且供給驅動電 壓於第2〜第4資料線用測試端子24〜26的狀態下，當供 給閘電壓於第1掃描線用測試端子1 5以及第1資料線用測 試端子2 3時，在第1圖中，與從下側數過來第奇數列的畫 素電極4 R、4 G、4 B對應的畫素會點亮。此時，在相互鄰 接之掃描線6之間發生短路的情況下，從與發生短路之部 (^ 分對應的下側數過來第偶數列的畫素電極4 R、4 G、4 B所 對應的畫素會點亮，可檢測出相互鄰接之掃描線6之間的 短路不良。另外，此時，在從下側數過來第奇數列之某列 的畫素電極4R、4G、4B之至少一部分不點亮的情況下， 與此對應之列的掃描線6會成爲斷線，檢測出掃描線6的 斷線不良。同樣地，驅動電壓不供給於第2掃描線用測試 端子1 6，而是供給於第3掃描線用測試端子1 7，藉此，能 夠檢測出從下側數過來第偶數列是否與相互鄰接之掃描線 ί ; _ ' 6短路’以及從下側數過來第偶數列之掃描線6是否斷線。 第二，例如在供給驅動電壓於第2、第3掃描線用測 試端子1 6、1 7，而且供給驅動電壓於第2資料線用測試端 子2 4的狀態下’當供給閘電壓於第1掃描線用測試端子i 5 以及第1資料線用測試端子2 3時，所有和紅色顯示用之畫 素電極4 R對應的畫素會點亮。此時，在相互鄰接之資料線 7之間發生短路的時候，與此發生短路之部分對應的綠色 顯示用之畫素電極4G或藍色顯示用之畫素電極4B會點 -20- 200832028 亮，而檢測出相互鄰接之資料線7之間的短路不良。另外， 此時，在某一行的紅色顯示用之畫素電極4 R有至少一部份 未點亮的情況下，與其對應之資料線7l + 3n會變成斷線，而 檢測出資料線7 1 + 的斷線不良。在綠色顯示用之畫素電極 4 G以及藍色顯示用之畫素電極4 B方面亦然，不供給驅動 電壓於第2資料線用測試端子24，而是供給於第3或第4 資料線用測試端子25或者26，藉此，與紅色顯示用之畫素 電極4R相同，能夠檢測出相互鄰接之資料線7之間的短路 ,. 以及連接有該顯示色的顯示用之畫素電極4的資料線72 + 3。 (、 或是7 3 + 3 η的斷線不良。 另外’在此液晶顯示裝置中，如第1圖所示，因爲在 主動基板1上的顯示區域3外側之突出部1 a上的掃描線驅 動用驅動器搭載區域9內，設置掃描線用靜電保護兼測試 用電路1 4、亦即掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 1 8、第1〜第3掃描線測試用繞線1 9〜2 1以及第1〜第3 掃描線用測試端子1 5〜1 7，所以不需要用於配置這些的專 用配置區域，能夠藉以縮小邊框面積。 另外，在此液晶顯示裝置中，如第1圖所示，因爲在 主動基板1上的顯示區域3外側之突出部1 a上的資料線驅 動用驅動器搭載區域1 2內，設置資料線用靜電保護兼測試 用電路22、亦即資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 27、第1〜第4資料線測試用繞線28〜3 1以及第1〜第4 資料線用測試端子2 3〜2 6，所以不需要用於配置這些的專 用配置區域，能夠藉以縮小邊框面積。 接著，說明在此液晶顯示裝置中，在掃描線驅動用驅 -21 - 200832028 動器搭載區域9上搭載掃描線驅動用驅動器（未圖示），藉 由面朝下（f a c e d 〇 w η)接合等適當的方法，來將資料線驅動 用驅動器（未圖示）以C 0 G組裝於資料線驅動用驅動器搭載 Ε域1 2上’進丫了貫際驅動時的一'部分。在此情況下，掃描 線驅動用驅動器的外部電極係藉由焊料、異方性導電性材 料、金屬共晶等適宜的連接材料，分別連接於對應的掃描 用輸出端子1 0、第1〜第3掃描線用測試端子1 5〜丨7以及 掃描用輸入端子3 2 ’資料線驅動用驅動器的外部電極係分 ^、 別連接於對應的資料用輸出端子1 3、第1〜第4資料線用 測試端子2 3〜2 6以及資料用輸入端子3 5。 然後，在從掃描線驅動用驅動器，介由掃描用輸出端 子10供給電壓Vgl(例如Vgl = -20〜-15V)至非選擇狀態之掃 描線6的情況下，亦從掃描線驅動用驅動器供給電壓v g! 於第1掃描線用測試端子1 5，全部的掃描線用靜電保護兼 測試用薄膜電晶體1 8被保持在OFF狀態。另外，亦從掃描 線驅動用驅動器供給電壓Vgl於第2、第3掃描線用測試端 / 子丨6、1 7 ’掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8之另

L 一邊源、汲極的電位被保持於V gl。 在此狀態下，從掃描線驅動用驅動器，介由掃描用輸 出端子1 0及掃描用繞線8而依序供給電壓V g h，並掃猫各 掃描線6。 另外’在實際驅動中，開關用薄膜電晶體5成爲〇N 狀態的時間僅是一瞬間，大部分的時間是OFF狀態。因此， 大部分的時間電壓V gl被供給於非選擇狀態的掃描線6。其 結果’介由第1掃描線用測試端子丨5而供給於掃描線用靜 •22- 200832028 電保護兼測試用薄膜電晶體1 8之閘極的電壓Vgl，與供給 於非選擇狀態之掃描線6的電壓V g 1相同，能夠減低來自 掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8的漏電流。

另外，介由第2、第3掃描線用測試端子1 6、17而供 給於掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8之另一邊 源極、汲極的電壓Vgl，係和介由與非選擇狀態之掃描線6 連接的掃描用輸出端子1 〇而供給於掃描線用靜電保護兼 測試用薄膜薄膜電晶體1 8之一邊源、汲極的電壓v g 1相 同’能夠減低來自掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 1 8的漏電流。此外’供給於第2、第3掃描線用測試端子 16、17的電壓可以是GND電位或者是未達GND電位的負 電位。 另一方面，從資料線驅動用驅動器供給電壓Vgl於第丄 貝料線用測S式端子2 3，全部的資料線用靜電保護兼測試用 薄腠电日日體27被保持在OFF狀態。另外，從資料線驅動用 驅動器供給其基極電壓（作爲LSI-GND)於第2〜第4資料線 用測試端子24〜26,第2〜第4資料線測試用繞線29〜3丄 的電位被保持在L S I - G N D。 在此狀態下，從資料線驅動用驅動器，與掃描線6的 掃描時序同步而輸出畫像資料，M介由㈣㈣㈣子13 以及資料用繞線1 1，而供給於各資料線7。 在此丨、目況下’全部的資料線用靜雷位 W晚电保護兼測試用薄膜 電晶體27被保持爲〇FF狀態時，畜料神1 w ^ 〜、寸貝枓線7彼此因高阻抗而 被分離，能夠避免介由資料用輸屮賠 、科用輸出_子13而供給於資料線 7的資料信號發生干涉，另外， h此夠减低來自資料線用靜 -23- 200832028 電保護兼測試用薄膜電晶體27的漏電流。 在此，如第5圖以及第6圖所示，第2、第3資料線測 試用繞線29、30之構造爲：上層繞線29b、30b的一端部 介由接觸孔6 6、6 9而連接於下層繞線2 9 a、3 0 a，而接觸孔 66、69的一部分被覆蓋膜49所覆蓋。然而，在接觸孔66、 69之部分的覆蓋膜49上容易發生缺陷。 另一方面，因爲接觸孔66、69之部分的覆蓋膜49上 被資料線驅動用驅動器所覆蓋，所以在接觸孔6 6、6 9之部 分的覆蓋膜49上有缺陷，而且在接觸孔66、69之部分的 ί 上層繞線29b、30b和資料線驅動用驅動器之間有電位差 時，由於離子的移動，會成爲在接觸孔66、69之部分的上 層繞線29b、30b發生腐蝕的原因。 相對於此，從資料線驅動用驅動器供給電壓LSI-GND 於第2〜第4資料線用測試端子24〜26，當第2〜第4資料 線測試用繞線29〜3 1的電位被保持在LSI-GND時，因爲在 接觸孔6 6、6 9之部分的上層繞線2 9 b、3 0 b和資料線驅動 用驅動器之間不會發生電位差，所以即使在接觸孔6 6、6 9 f ^ 之部分的覆蓋膜49上有缺陷，也能避免發生上述的繞線腐 蝕。 此外，如第3圖所示，當在主動基板1上面設置第2 掃描線用測試端子1 6時，第2掃描線測試用繞線20之構 造必須是介由設在閘絕緣膜42上的接觸孔57，使設在主動 基板1上面的下層繞線20a之一端部連接於設在閘絕緣膜 42上面的下層繞線20a。因此，需要接觸孔57。接著說明 的第2實施形態就不需要接觸孔57。 -24- 200832028 (第2實施形態） 第8圖係表示作爲本發明之第2實施形態的液晶顯示 裝置之掃描線驅動用驅動器搭載區域9的部分等效電路平 面圖’第9圖係表示作爲本發明之第2實施形態的液晶顯 示裝置之與第3圖相同的截面圖。在此液晶顯示裝置中， 首先，如第8圖所示，第2掃描線用測試端子1 6係配置在 第1掃描線用測試端子1 5上側，第2掃描線測試用繞線20 當中沿著列方向延伸的同通部分係被配置在掃描線驅動用 ( 驅動器搭載區域9上方側，亦即掃描用輸出端子1 〇側。 此外，在第8圖中，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜 電晶體1 8係以交錯狀（鋸齒狀）而配置，但這是爲了在圖面 上明確表示從左側數過來第偶數個掃描線用靜電保護兼測 試用薄膜電晶體1 8及其上側之第2掃描線測試用繞線20 的一部分。因此，掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 1 8係如第8圖所示，可以配置成交錯狀，但也可以如第1 圖所示，配置在同一直線上較佳。 ^ 接著，如第9圖所示，第2掃描線用測試端子1 6係由 > 設在閘絕緣膜42上面的鉻等之金屬層所組成，並介由設在 覆蓋膜49上的接觸孔56而露出。然後，掃描線用靜電保 護兼測試用薄膜電晶體1 8之另一邊源、汲極1 9，係介由設 在閘絕緣膜42上面的鉻所組成之第2掃描線測試用繞線 20，而連接於第2掃描線用測試端子1 6。因此，不需要第 3圖所示的接觸孔5 7。 此外，如第1 〇圖所示，第2掃描線用測試端子16係 配置在第1掃描線用測試端子1 5和第3掃描線用測試端子 -25- 200832028 1 7之間，第2掃描線測試用繞線20係配置成通過第1掃描 線用測試端子1 5左側，第2掃描線測試用繞線20中沿著 列方向延伸的共同部分也可以在掃描線驅動用驅動器搭載 區域9內，配置在掃描用輸出端子1 〇上側。 (其他的實施形態） 在第1圖中，在掃描線驅動用驅動器搭載區域9中， 將掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8區分成從左 側數過來第奇數個和第偶數個，但如上述，這是爲了能夠 檢測出相互鄰接的掃描線6之間的短路不良。在不進行這

C 種短路檢查的時候，也可以介由第3掃描線測試用繞線 2 1，而將全部的掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體1 8 之另一邊源、汲極，連接於第3掃描線用測試端子1 7，而 省略第2掃描線測試用繞線20以及第2掃描線用測試端子 1 6 〇 在這種情況下，因爲能將靜電侵入於某1個掃描線6 時之放電目標分散設於剩下的所有掃描線6，所以能提升 靜電耐受度。另外，因爲變得不需要第3圖所示之接觸孔 57，所以能避免發生這種接觸孔所引起的繞線腐鈾。 另外’在第1圖中，在資料線驅動用驅動器搭載區域 1 2中’將資料線測試用薄膜電晶體27區分成用於紅色、綠 色、藍色的各色顯示，但如同上述，這是爲了能夠依照紅 色、綠色、藍色的各顏色類別來進行檢查。在不進行這種 各顏色類別的檢查時’或者是複數色的畫素電極介由開關 用薄膜電晶體5而連接於1條資料線7的情況下，也可以 介由第4資料線測試用繞線3 1，將全部的資料線用靜電保 -26 - 200832028 護兼測試用薄膜電晶體27之另一邊源、汲極連接於第4資 料線用測試端子2 6 ’而省略第2、第3資料線測試用繞線 2 9、3 0以及弟2、第3資料線用測試端子2 4、2 5。 在這種情況下，因爲能將靜電侵入於某1個資料線7 時之放電目標分散設於剩下的所有資料線7，所以能提升 靜電耐受度。另外，因爲變得不需要第5圖以及第6圖所 示之接觸孔66、69，所以能避免發生這種接觸孔引起的繞 線腐蝕。在此情況下，在實際驅動中，供給於第4資料線 。用測試端子2 6的電壓除了 L SI - G N D電位以外，也可以是 v s 1 g中心或者V c 〇 m中心之電位。在實際驅動中，在將供 給於第4資料線用測試端子2 6的電壓設爲V s i g中心或者 VCom中心之電位的情況下，因爲資料線用靜電保護兼測試 用薄膜電晶體27的兩源、汲極之間的電位差小，所以能進 〜步減低漏電流。 另外，在第1圖中，將掃描線驅動用驅動器搭載區域 9與資料線驅動用驅動器搭載區域1 2分離，但使掃描線驅 動用驅動器和資料線驅動用驅動器成爲單一晶片化者已在 市場上販售，在使用這種單一晶片驅動器的情況下，也可 以連續地形成掃描線驅動用驅動器搭載區域和資料線驅動 用驅動器搭載區域。 另外，在第1圖中，將掃描線驅動用驅動器搭載區域 9與資料線驅動用驅動器搭載區域1 2形成在主動基板1之 一邊的突出部1 a，但也能夠以主動基板之複數個邊作爲突 出部’來於各突出部上形成掃描線驅動用驅動器搭載區域 和資料線驅動用驅動器搭載區域。 -27- 200832028 [發明的效果] 藉由申請專利範圍第1項記載的發明，因爲在基板上 的非顯示區域內設置掃描線用靜電保護兼測試用電路，所 以不需要用於配置掃描線用靜電保護兼測試用電路之其專 用的配置區域，能藉以縮小邊框面積。 藉由申請專利範圍第1 3項記載的發明，因爲在基板上 的非顯示區域內設置資料線用靜電保護兼測試用電路，所 以不需要用於配置資料線用靜電保護兼測試用電路之其專 用的配置區域，能藉以縮小邊框面積。 【圖式簡單說明】 第1圖係作爲本發明之第1實施形態的液晶顯示裝置 之主要部分的等效電路平面圖。 第2圖係第1圖所示之開關用薄膜電晶體以及畫素電 極的部分截面圖。 第3圖係第1圖所示之掃描線驅動用驅動器搭載區域 內之從左側數過來第奇數個掃描用輸出端子以及與其連接 # 之掃瞄線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。 1 第4圖係第1圖所示之掃描線驅動用驅動器搭載區域 內之從左側數過來第偶數個掃描用輸出端子以及與其連接 之掃瞄線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。 第5圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域 內之從左側數過來第（1 + 3 η)個資料用輸出端子以及與其連 接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。 第6圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域 內之從左側數過來第（2 + 3η)個資料用輸出端子以及與其連 -28- 200832028 接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。 第7圖係第1圖所示之資料線驅動用驅動器搭載區域 內之從左側數過來第（3 + 3n)個資料用輸出端子以及與其連 接之資料線測試用薄膜電晶體等的部分截面圖。 第8圖係作爲本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置 之掃描線驅動用驅動器搭載區域的部分等效電路平面圖。 第9圖係作爲本發明之第2實施形態的液晶顯示裝置 之與第3圖相同的截面圖。 第1 0圖係用於說明第8圖所示之情況的變形例而表示 之同樣的等效電路平面圖。 第1 1圖係從正面近側觀看第1圖所示之液晶顯示裝置 的側面圖。 【主要元件符號說明】 1 主動基板 2 對向基板 3 顯示區域 4、4R、4G、4 B 畫素電極 5 開關用薄膜電晶體 6 掃描線 7 資料線 8 掃描用繞線 9 掃描線驅動用驅動器搭載區域 10 掃描用輸出端子 11 資料用繞線 12 資料線驅動用驅動器搭載區域 -29- 200832028 13 資料用輸出端子 14 掃描線用靜電保護兼測試用電路 15〜17 第1〜第3掃描線用測試端子 18 掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電 晶體 19 〜21 第1〜第3掃描線測試用繞線 22 資料線用靜電保護兼測試用電路 23 〜26 第1〜第4資料線用測試端子 27 資料線用靜電保護兼測試用薄膜電 晶體 28 〜3 1 第1〜第4資料線測試用繞線 -30-

Claims (1)

1. 200832028 十、申請專利範圍： 1. 一種顯示裝置，其特徵爲具備： 基板（1)，其具有顯示區域（3)和非顯示區域； 複數個顯示用電極（^…，^，其排列在前述基板⑴ 上； 複數個開關元件（5)，其連接於前述各顯示用電極 (4,4R，4G，4B)，且具有控制用電極和資料用電極； 複數個掃描線（6 )，其連接於前述各開關元件（5 )的控制 用電極； Γ 複數個資料線（7)，其連接於前述各開關元件（5)上的資 料用電極；以及 ί市描線用靜電保護兼測試電路（1 4 )，其具備：靜電保護 電路’其包含連接於前述掃描線（6)，平常爲非導通狀態， 但會因產生之靜電而成爲導通狀態的保護元件（丨8);以及 檢查電路，其介由前述開關元件（5)來檢查前述掃描線（6) 的導通狀態， 而前述掃描線用靜電保護兼測試用電路（丨4)係設置在 Η11述基板（1)的非顯示區域內。 2. 如申請專利範圍第丨項的顯示裝置，其中，設在前述基 板（1)上的前述掃描線用靜電保護兼測試用電路（14)，係 設置在搭載有掃描線驅動用驅動器的掃描線驅動用驅動 器搭載區域（9)內。 3 .如申請專利範圍第2項的顯示裝置，其中，在前述掃描 線驅動用驅動器搭載區域（9)內，設置連接有掃描線驅動 用驅動器晶片的複數個掃描用輸出端子（1 〇)以及複數個 -31- 200832028 掃描用輸入端子（32)。 4·如申請專利範圍第1項的顯示裝置，其中，前述掃描線 用靜電保護兼測試用電路（1 4)係具有：掃描線用靜電保護 兼測試用薄膜電晶體（1 8)，其將一邊源、汲極連接於前述 各掃描線（6);第1掃描線用測試端子（15)，其介由第1 掃描線測試用繞線（1 9)而連接於前述各掃描線用靜電保 護兼測試用薄膜電晶體（1 8)之閘極；以及其他掃描線用測 試端子（16,17)，其介由其他掃描線測試用繞線（20，21)而 連接於前述各掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（1 8) 之另一邊源、汲極。 5·如申請專利範圍第4項的·顯示裝置，其中，在前述掃描 線驅動用驅動器搭載區域（9)內，設置連接有掃描線驅動 用驅動器晶片的複數個掃描用輸出端子（10)以及複數個 掃描用輸入端子（32)，前述掃描線（6)以及前述掃描線用 靜電保護兼測試用薄膜電晶體（1 8)之一邊源、汲極係連接 於設在前述掃描線驅動用驅動器搭載區域（9)內的前述掃 . 描用輸出端子（10)。 ( 6.如申請專利範圍第4項的顯示裝置，其中，前述其他掃 瞄線測試用繞線（20、2 1)係由第2、第3掃描線測試用繞 線（20、21)所組成，前述其他掃描線用測試端子（16、17) 係由第2、第3掃描線用測試端子（1 6、1 7)所組成，從前 述掃描線（6)中一側數過來第奇數個掃描線（6)係介由與 其對應之前述掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（1 8) 以及前述第2掃描線測試用繞線（20)，而連接於前述第2 掃描線用測試端子（1 6 )，從前述掃描線（6)中一側數過來 -32- 200832028 第偶數個掃描線（6)係介由與其對應之前述掃描線用靜電 保護兼測試用薄膜電晶體（1 8)以及前述第3掃描線測試 用繞線（2 1 )，而連接於前述第3掃描線用測試端子（1 7)。 7.如申請專利範圍第6項的顯示裝置，其中，前述第2、第 3掃描線測試用繞線（2 〇、2 1)係配置成避免在同一層上互 相交叉。 8 .如申請專利範圍第5項的顯示裝置，其中，所有前述掃 描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（18)之另一邊源、汲 極’係介由1個前述掃描線測試用繞線（2 1)而連接於1個 C 前述掃描線用測試端子（1 7)。 9 .如申請專利範圍第4項的顯示裝置，其中，在前述基板（1) 上的前述掃描線驅動用驅動器搭載區域（9)上搭載掃描線 驅動用驅動器，在實際驅動中，從前述掃描線驅動用驅 動器供給電壓Vgl於前述第1掃描線用測試端子（15)。 1 〇 ·如申請專利範圍第丨項的顯示裝置，其中，在前述基板 (1)上的前述非顯示區域中，設置資料線用靜電保護兼測 i式用電路（2 2)’其具備：靜電保護電路，其連接於前述 資料線（7)，平常爲OFF狀態，但會因產生之靜電而導 通；以及檢查電路，其檢查前述資料線（7)之導通狀態以 及前述顯示用電極（4,4R，4G，4B)之點亮狀態。 1 1 .如申請專利範圍第1 0項的顯示裝置，其中，設在前述 基板（1)上的前述資料線用靜電保護兼測試用電路（22)， 係設置在搭載有資料線驅動用驅動器的資料線驅動用驅 動器搭載區域（1 2)內。 1 2.如申請專利範圍第1 1項的顯示裝置，其中，在前述資 -33- 200832028 料線驅動用驅動器搭載區域（1 2)內，設置連接有資料線 _驅動用驅動器晶片的複數個資料用輸出端子（1 3)以及複 數個資料用輸入端子（37)。 13· -種顯示裝置，其特徵爲具備： 基板（1)，其具有顯示區域（3)和非顯示區域； 複數個顯示用電極（4,4R，4G，4B)，其排列在前述基板（1) 上； 複數個開關元件（5)，其連接於前述各顯示用電極 f' (4,4R，4G，4B )，且具有控制用電極和資料用電極； 複數個掃描線（6)，其連接於前述各開關元件（5)的控 制用電極； 複數個資料線（7)，其連接於前述各開關元件（5)的資 料用電極；以及 資料線用靜電保護兼測試電路（22)，其具備：靜電保 護電路，其包含連接於前述資料線（7)，平常爲非導通狀 態’但會因產生之靜電而成爲導通狀態的保護元件 (27);以及檢查電路，其介由前述開關元件（5)來檢查前 述資料線（7)的導通狀態， 而前述資料線用靜電保護兼測試用電路（22)係設置在 則述基板（1)的非顯示區域內。 1 4 ·如申請專利範圍第1 3項的顯示裝置，其中，設在前述 基板（1)上的前述資料線用靜電保護兼測試用電路（22)， 係設置在搭載有資料線驅動用驅動器的資料線驅動用驅 動器搭載區域（12)內。 1 5 ·如申請專利範圍第1 4項的顯示裝置，其中，在前述資 -34- 200832028 料線驅動用驅動器搭載區域（1 2)內，設置連接有資料線 驅動用驅動益晶片的複數個資料用輸出端子（1 3)以及複 數個資料用輸入端子（37)。 1 6 ·如申旨靑專利軺圍弟1 3項的顯不裝置，其中，前述畜料 線用靜電保護兼測試用電路（2 2)係具有··資料線用靜電 保護兼測試用薄膜電晶體（27)，其將一邊源、汲極（7)連 接於前述各資料線；第1資料線用測試端子（2 3 )，其介 由第1資料線測試用繞線（2 8)而連接於前述各資料線用 ζ 靜電保護兼測試用薄膜電晶體（2 7)之閘極；以及其他資 料線用測試端子（24〜26)，其介由其他資料線測試用繞 線（29〜3 1)而連接於前述各資料線用靜電保護兼測試用 薄膜電晶體（27)之另一邊源、汲極。 1 7 .如申請專利範圍第1 6項的顯示裝置，其中，在前述資 料線驅動用驅動器搭載區域（1 2)內，設置連接有資料線 驅動用驅動器晶片的複數個資料用輸出端子（丨3)以及複 數個資料用輸入端子（37)，前述資料線（7)以及前述資料 ( 線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（27)之一邊源、汲極 係連接於設在前述基板（1)上之前述資料線驅動用驅動 器搭載區域（12)內的前述資料用輸出端子（1 3)。 1 8 .如申請專利範圍第丨6項的顯示裝置，其中，前述其他 資料線測試用繞線（29〜3 1)係由第2〜第4資料線測試用 繞線（29〜3 1)所組成，前述其他資料線用測試端子（24〜 26)係由第2〜第4資料線用測試端子（24〜26)所組成， 前述資料線（7)中第丨顏色顯示用的資料線（？）係介由與 其封應之前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體 -35- 200832028 (27)以及前述第2資料線測試用繞線（29)，而連接於前述 第2資料線用測試端子（24)，前述資料線（7)中第2顏色 顯不用的資料線（7)係介由與其對應之前述資料線用靜 電保護兼測試用薄膜電晶體（27)以及前述第3資料線測 試用繞線（30) ’而連接於前述第3資料線用測試端子 (25)，前述資料線（7)中第3顏色顯示用的資料線⑺係介 由與其對應之前述資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶 體（27)以及前述第4資料線測試用繞線（31)，而連接於前 述第4資料線用測試端子（26)。 1 9 ·如申專利範圍第丨6項的顯示裝置，其中，所有前述 資料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（27)之另一邊 源、汲極’係介由丨個前述資料線測試用繞線（3 1)而連 接於1個前述資料線用測試端子（26)。 20.如申請專利範圍第16項的顯示裝置，其中，在前述基 板（1)上的則述資料線驅動用驅動器搭載區域（丨2)上搭載 資料線驅動用驅動器，在實際驅動中，從前述資料線驅 動用驅動器供給電壓V g 1於前述第1資料線用測試端子 (23)。 21·—種顯示裝置，其特徵爲具備： 基板（1) ’其界定有顯示區域（3)和非顯示區域； 複數個顯示用電極（4,4R,4G，4B)，其排列在前述基板（1) 上； 複數個開關用薄膜電晶體（5 )，其連接於前述各顯示用 電極（4，4 R，4 G，4 B )，且具有閘極和源、汲極； 複數個掃描線（6)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體 -36- 200832028 (5)的閘極； 複數個資料線（7)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體 (5) 上的源、汲極； 掃描線用靜電保護兼測試電路（丨4 )，其具備：靜電保護 電路，其包含連接於前述掃插線（6)且因產生之靜電而導 通的保護元件（1 8);以及檢查電路，其檢查前述掃描線 (6) 的導通狀態；以及 資料線用靜電保護兼測試電路（2 2 )，其具備：靜電保護 電路，其包含連接於前述資料線（7)且因產生之靜電而導 Γ 、 … 通的保護兀件（2 7);以及檢查電路，其檢查前述資料線 (7) 的導通狀態， 而前述掃描線用靜電保護兼測試用電路（1 4)及資料線 用靜電保護兼測試用電路（2 2)係設置在前述基板（1)的非 顯示區域內。 22.—種顯示裝置，其特徵爲具備： 基板Π )，其界定有顯不區域（3 )和非顯示區域； 複數個顯不用電極（4,411，40,48)，其排列在前述基板（1) G 上； 複數個開關用薄膜電晶體（5)，其連接於前述各顯示用 電極（4，4 R，4 G，4 B )，且具有閘極和源、汲極； 複數個掃描線（6)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體 (5 )的閘極； 複數個資料線（7)，其連接於前述各開關用薄膜電晶體 (5)上的源、汲極；以及 掃描線用靜電保護兼測試用電路（1 4)以及資料線用靜 -37- 200832028 電保濩兼測試電路（22)的至少一者，其形成在前述基板 (1)之非顯示區域內， 而則述掃描線用靜電保護兼測試電路（丨4)係具備：靜 電保護電路，其包含連接於前述掃描線（6)且因產生之靜 fe而導通的保護兀件（1 8);以及檢查電路，其用以檢查 前述掃插線（6)的導通狀態， 且則述資料線用靜電保護兼測試電路（2 2)係具備：靜 電保護電路，其包含連接於前述資料線（7)且因產生之靜 P 電而導通的保護元件（27);以及檢查電路，其用以檢查 前述資料線（7)的導通狀態。 23·—種顯示裝置，其特徵爲具備： 基板（1)，其具有顯示區域（3)、和在前述顯示區域（3) 外部配置的掃描線驅動用驅動器搭載區域（9)以及資料 線驅動用驅動器搭載區域（1 2); 複數個顯示用電極（4,4R，4G，4B)，其在前述基板（1)上 排列成複數行X複數列； 複數個開關用薄膜電晶體（5)，其連接於前述各顯示用 I 電極（4，4 R，4 G，4 B )，且具有閘極和源、汲極； 複數列的掃描線（6)，其連接於前述各開關用薄膜電晶 體（5)的閘極； 複數行的資料線（7)，其連接於前述各開關用薄膜電晶 體（5)的源極、汲極； 掃描線用靜電保護兼測試用電路（1 4) ’其包含：繞線 (20，21)，其連接於前述各掃描線（6)，並使前述掃描線（6) 連接；掃描線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（1 8)’其 -38- 200832028 排列在前述 線用測試端 用靜電保護 資料線用 (29,30,31)， (7)連接；資 其排列在前 資料線用測 料線用靜電 掃描線（6)和前述繞線（20，21)之間；以及掃描 子（1 5 )，其用以供給驅動電壓於前述掃描線 兼測試用薄膜電晶體（1 8)的閘極；以及 靜電保護兼測試用電路（22)，其包含：繞線 其連接於前述各資料線（7)，並使前述資料線 料線用靜電保護兼測試用薄膜電晶體（27)， 述資料線（7)和前述繞線（29,3 0,3 1)之間；以及 ΐ式端子（23)，其用以供給驅動電壓於前述資 保濩兼測試用薄膜電晶體（2 7 )的閘極。 -39-