CN103926717B - 显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法，该方法包括：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，提高了所述显示面板的检测能力。
Description
技术领域
本发明涉及显示面板检测技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测电路、检测方法及包括该检测电路的显示面板。
背景技术
液晶显示器（LCD）是目前常用的平板显示器，广泛地应用为笔记本电脑或是手机的显示器，且由于市场需求量大，其制程或面板结构的设计方面也有不断的研发改良。为了确保液晶显示器的显示质量，显示面板的制程中，会经过一道点灯测试制程，以确认显示面板的像素是否可以正常显示。但是，现有技术中显示面板的检测能力较弱。
发明内容
为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案：
一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，该方法包括：
给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；
其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。
一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，所述检测电路包括：
输出端与所述第一像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一信号源；
输出端与所述第一像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二信号源；
输出端与所述第一像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三信号源；
输出端与所述第二像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一选择器，所述第一选择器的第一输入端与第一信号源相连，第二输入端与所述第二信号源相连；
输出端与所述第二像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二选择器，所述第二选择器的第一输入端与第二信号源相连，第二输入端与第一信号源或第三信号源相连；
输出端与所述第二像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三选择器，所述第三选择器的第一输入端与所述第三信号源相连，第二输入端与第二信号源相连；
其中，所述第一信号源和第三信号源输出第一电平信号，所述第二信号源输出第二电平信号，且所述第一电平信号和第二电平信号的电性相反。
一种显示面板，包括上述的显示面板检测电路。
与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：
本发明实施例所提供的技术方案，在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；同时，给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，进而可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，提高了所述显示面板的检测能力。
附图说明
图1为现有技术中显示面板的俯视图；
图2为现有技术中对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中一种电压极性示意图；
图3为现有技术中对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中另一种电压极性示意图；
图4为本发明一个实施例中所提供的显示面板的检测方法流程图；
图5为本发明一个实施例中所提供的显示面板的检测方法对所述显示面板进行检测时，所述显示面板中各像素中一种电压极性示意图；
图6为本发明另一个实施例中所提供的显示面板的检测方法流程图；
图7为本发明一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；
图8为本发明另一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；
图9为本发明一个实施例中所提供的显示面板检测电路中，二选一选择器的一种电路结构示意图；
图10为本发明又一个实施例中所提供的显示面板检测电路的电路结构示意图；
图11为本发明图10所提供的显示面板检测电路中，所述控制装置的一种电路结构示意图；
图12为本发明图10所提供的显示面板检测电路中，所述控制装置的另一种电路结构示意图。
具体实施方式
正如背景技术部分所述，现有技术中显示面板的检测能力较弱。
如图1所示，现有技术中的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元均包括R像素、G像素和B像素三个子像素，其中，每个子像素均与一根数据线D相连，且所有与R像素相连的数据线电连接，然后统一接收R信号，所有与G像素相连的数据线电连接，统一接收G信号，所有与B像素相连的数据线电连接，统一接收B信号。
现有技术中在对所述显示面板进行点灯测试时，主要是通过分别给R像素、G像素和B像素提供驱动信号，当R信号为高电平信号，G信号为低电平信号时，其相应的R像素和G像素的电压电性相反，此时，若B信号为高电平信号，则B像素与R像素电压电性相同，如图2所示，无法判断B像素与R像素是否短接；若B信号为低电平信号，则B像素与G像素电压电性相同，如图3所示，无法判断B像素与G像素是否短接。同理，当R信号为低电平信号，G信号为高电平信号时，也同样存在始终有两个相邻像素的电压电性相同，无法判断其是否短接的问题，从而导致现有技术中显示面板的检测能力较弱。
有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，该方法包括：
给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；
其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。
由此可见，本发明实施例所提供的技术方案，在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；同时，给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，从而可以保证在对所述显示面板中相邻子像素之间的短路情况进行测试时，任意两个子像素之间的电压电性相反，进而可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，提高了所述显示面板的检测能力。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。
在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
如图4所示，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，该方法包括：
S1：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
S2：给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，对相邻子像素间的短路情况进行检测；
其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。
需要说明的是，在本发明实施例中，所述第一方向可以为水平方向，也可以为竖直方向，根据数据线的方向而定，本发明对此并不做限定。
还需要说明的是，在本实施例中，以所述第一子像素为R像素，第二子像素为G像素，第三子像素为B像素为例，对本发明实施例所提供的检测方法进行详细描述，但所述第一子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，同样，所述第二子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，所述第三子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，本发明对此不做限定，只要所述第一子像素、第二子像素和第三子像素为不同像素即可。
由于本发明实施例所提供的检测方法中，给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号，而所述第二子像素位于所述第一子像素与第三子像素之间，且所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，因此，本发明实施例所提供的检测方法，在对所述显示面板的短路情况进行检测时，可以保证所述第一像素单元中，相邻子像素之间的电压电性相反。
同理，本发明实施例所提供的检测方法中，给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号，而所述第二子像素位于所述第一子像素与第三子像素之间，且所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性相反，因此，本发明实施例所提供的检测方法，在对所述显示面板的短路情况进行检测时，可以保证所述第二像素单元中，相邻子像素之间的电压电性相反。
又由于所述第一像素单元与所述第二像素单元相邻，在对所述显示面板中的短路情况进行检测时，所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素中为第一电平信号，所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素为第二电平信号，而第一电平信号和第二电平信号电压电性相反，因此，本发明实施例所提供的检测方法，在对所述显示面板的短路情况进行检测时，可以保证所述第一像素单元与所述第二像素单元间相邻子像素间的电压电性相反。
由此可见，本发明实施例所提供的检测方法，在对所述显示面板中相邻子像素间的短路情况进行检测时，可以保证所述显示面板中任意两个子像素之间的电压电性相反，如图5所示，进而可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，提高了所述显示面板的检测能力。
在本发明的一个实施例中，如图6所示，所述检测方法还包括：
S3：给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
S4：给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第二电平信号，对各子像素的断路情况进行检查；
其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。
由于本发明实施例所提供的检测方法，在对所述显示面板中各子像素的断路情况进行检测时，所述第一像素单元和第二像素单元中的第一像素、第三像素均为第一电平信号，所述第一像素单元和第二像素单元中的第二像素均为第二电平信号，而所述第一电平信号和第二电平信号电性相反，从而使得本发明实施例所提供的检测方法，在所述显示面板的断路情况进行检测时，所述第一子像素和第三子像素中电压恒为正信号，所述第二子像素中电压恒为负信号，或者所述第一子像素和第三子像素中恒为负信号，所述第二子像素中恒为正信号，进而实现对所述显示面板中各子像素的断路情况进行有效检测。
需要说明的是，本发明实施例所提供的检测方法中，所述第一电平信号可以为正信号，也可以为负信号，在本发明的一个实施例中，所述第一电平信号为正信号，所述第二电平信号为负信号；在本发明的另一个实施例中，所述第一电平信号为负信号，所述第二电平信号为正信号，本发明对此并不做限定。
综上所述，本发明实施例所提供的检测方法，既可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，又可以判断所述显示面板中各子像素是否存在断路情况，提高了所述显示面板的检测能力。
相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，如图7所示，所述检测电路包括：
输出端与所述第一像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一信号源；
输出端与所述第一像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二信号源；
输出端与所述第一像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三信号源；
输出端3与所述第二像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一选择器，所述第一选择器的第一输入端1与第一信号源相连，第二输入端2与所述第二信号源相连；
输出端3与所述第二像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二选择器，所述第二选择器的第一输入端1与第二信号源相连，第二输入端2与第一信号源相连；
输出端3与所述第二像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三选择器，所述第三选择器的第一输入端1与所述第三信号源相连，第二输入端2与第二信号源相连；
其中，所述第一信号源和第三信号源输出第一电平信号，所述第二信号源输出第二电平信号，且所述第一电平信号和第二电平信号的电性相反。
需要说明的是，在本实施例中，以所述第一子像素为R像素，第二子像素为G像素，第三子像素为B像素为例，对本发明实施例所提供的检测电路进行详细描述，但所述第一子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，同样，所述第二子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，所述第三子像素可以为R像素，也可以为G像素，还可以为B像素，本发明对此不做限定，只要所述第一子像素、第二子像素和第三子像素为不同像素即可。
本发明实施例所提供的检测电路在对所述显示面板进行检测时，可以在第一时间段内，控制所述第一选择器的第一输入端1与其输出端3导通，所述第二选择器的第一输入端1与其输出端3导通，所述第三选择器的第一输入端1与其输出端3导通，此时，所述第一像素单元中第一子像素、第二子像素和第三子像素分别与所述第一信号源、第二信号源和第三信号源相连，所述第二像素单元中第一子像素、第二子像素和第三子像素也分别与所述第一信号源、第二信号源和第三信号源相连，从而可以给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中第二子像素提供第二电平信号，同时，给所述第二像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第二像素单元中第二子像素提供第二电平信号，从而对所述显示面板中各子像素的断路情况进行检测。
而且，本发明实施例所提供的检测电路在对所述显示面板进行检测时，可以在第二时间段内控制所述第一选择器的第二输入端2与其输出端3导通，所述第二选择器的第二输入端2与其输出端3导通，所述第三选择器的第二输入端2与其输出端3导通，此时，所述第一像素单元中第一子像素、第二子像素和第三子像素仍然分别与所述第一信号源、第二信号源和第三信号源相连，而第二像素单元中的第一子像素与第二信号源相连，第二子像素与第一信号源相连，所述第三子像素与第二信号源相连，从而可以给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中第二子像素提供第二电平信号，同时，给所述第二像素单元中第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中第二子像素提供第一电平信号，从而保证所述显示面板中任意两个子像素之间的电压电性相反，对所述显示面板中各子像素的短路情况进行检测。
在本发明的另一个实施例中，如图8所示，所述检测电路包括：
输出端与所述第一像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一信号源；
输出端与所述第一像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二信号源；
输出端与所述第一像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三信号源；
输出端3与所述第二像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一选择器，所述第一选择器的第一输入端1与第一信号源相连，第二输入端2与所述第二信号源相连；
输出端3与所述第二像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二选择器，所述第二选择器的第一输入端1与第二信号源相连，第二输入端2与第三信号源相连；
输出端3与所述第二像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三选择器，所述第三选择器的第一输入端1与所述第三信号源相连，第二输入端2与第二信号源相连；
其中，所述第一信号源和第三信号源输出第一电平信号，所述第二信号源输出第二电平信号，且所述第一电平信号和第二电平信号的电性相反。
利用本实施例所提供的检测电路对所述显示面板进行检测时，依旧在第一时间段内，控制所述第一选择器的第一输入端1与其输出端3导通，所述第二选择器的第一输入端1与其输出端3导通，所述第三选择器的第一输入端1与其输出端3导通，对所述显示面板中各子像素的断路情况进行检测。由于其短路检测情况与上一实施例相同，本发明对此不再详细赘述。
另外，本发明实施例所提供的检测电路在对所述显示面板进行检测时，也依旧在第二时间段内控制所述第一选择器的第二输入端2与其输出端3导通，所述第二选择器的第二输入端2与其输出端3导通，所述第三选择器的第二输入端2与其输出端3导通，此时，所述第一像素单元中第一子像素、第二子像素和第三子像素仍然分别与所述第一信号源、第二信号源和第三信号源相连，而第二像素单元中的第一子像素与第二信号源相连，第二子像素与第三信号源相连，所述第三子像素与第二信号源相连，而所述第三信号源与所述第一信号源的输出信号均为第一电平信号。因此，本实施例所提供的检测电路依然可以给所述第一像素单元中第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中第二子像素提供第二电平信号，同时，给所述第二像素单元中第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中第二子像素提供第一电平信号，从而保证所述显示面板中任意两个子像素之间的电压电性相反，对所述显示面板中各子像素的短路情况进行检测。
需要说明的是，本发明实施例所提供的检测电路中，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器可以人为控制，也可以自动控制，本发明对此并不做限定，视具体情况而定。
而且，本发明实施例所提供的检测电路中，所述第一选择器可以为单刀双掷开关，也可以为二选一选择器，还可以为继电器，或者其他选择器；同样，所述第二选择器可以为单刀双掷开关，也可以为二选一选择器，还可以为继电器，或者其他选择器；所述第三选择器可以为单刀双掷开关，也可以为二选一选择器，还可以为继电器，或者其他选择器，本发明对此并不做限定。其中，当所述第一选择器、第二选择器和第三选择器为单刀双掷开关时，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器优选为人为控制；当所述第一选择器、第二选择器和第三选择器为二选一选择器或继电器时，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器优选为自动控制。
如图9所示，在本发明的一个优选实施例中，所述二选一选择器包括：
第一薄膜晶体管M1和第二薄膜晶体管M2，所述第一薄膜晶体管M1的栅极与所述第二薄膜晶体管M2的栅极相连，为所述二选一选择器的控制信号输入端C，所述第一薄膜晶体管M1的漏极通过第二电阻R2接地，源极通过第一电阻R1与第二薄膜晶体管M2的漏极相连，所述第二薄膜晶体管M2的源极直接接地；
第四信号源，所述第四信号源与所述第一薄膜晶体管M1的源极相连，且通过所述第一电阻R1与所述第二薄膜晶体管的漏极相连；
第三薄膜晶体管M3和第四薄膜晶体管M4，所述第三薄膜晶体管M3的源极为所述二选一选择器的第一输入端1，栅极与所述第一薄膜晶体管M1的漏极相连，并通过所述第二电阻R2接地，所述第四薄膜晶体管M4的源极为所述二选一选择器的第二输入端2，栅极通过所述第一电阻R1与所述第四信号源相连，并且与所述第二薄膜晶体管M2的漏极相连，所述第三薄膜晶体管M3的漏极与所述第四薄膜晶体管M4的漏极相连，为所述二选一选择器的输出端3。
当所述二选一选择器的控制信号输入端C输入高电平信号时，第一薄膜晶体管M1和第二薄膜晶体管M2的栅极输入高电平信号，所述第一薄膜晶体管M1和第二薄膜晶体管M2均打开，此时，所述第三薄膜晶体管M3的栅极电压为第四信号源的输出电压，而所述第四薄膜晶体管M4的栅极接地，所述第三薄膜晶体管M3打开，所述第四薄膜晶体管M4关闭，所述第一输入端1与输出端3导通，所述第二输入端2与所述输出端3断开，所述第二像素单元中的第一子像素、第二子像素和第三子像素分别与所述第一信号源、第二信号源和第三信号源相连。
当所述二选一选择器的控制信号输入端C输入低电平信号时，所述第一薄膜晶体管M1与所述第二薄膜晶体管M2的栅极输入低电平信号，所述第一薄膜晶体管M1和第二薄膜晶体管M2均关闭，此时，所述第三薄膜晶体管M3通过第二电阻R2接地，所述第四薄膜晶体管M4通过第一电阻R1与所述第四信号源相连，因此，所述第三薄膜晶体管M3关闭，所述第四薄膜晶体管M4打开，所述第一输入端1与所述输出端3之间断开，所述第二输入端2与所述输出端3之间导通，所述第二像素单元中的第一子像素与第二信号源相连，第二子像素与第一信号源或第三信号源相连，所述第三子像素与第二信号源相连。
需要说明的是，在本实施例中，所述第一电阻R1和第二电阻R2为限流电阻，以避免所述第一薄膜晶体管M1、第二薄膜晶体管M2、第三薄膜晶体管M3和第四薄膜晶体管M4流过的电流过大，对其造成损坏。还需要说明的是，所述第四信号源优选为5V直流电流，但本发明对此并不做限定，只要所述第四信号源恒输出高电平信号即可。
在本发明的又一个实施例中，如图10所示，所述检测电路还包括分别与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C相连的控制装置，所述控制装置用于为所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C提供高电平信号和低电平信号，从而实现所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的输出端3在不同时间段内与第一输入端1、第二输入端2导通。
在本发明的一个具体实施例中，如图11所示，所述控制装置包括：与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器控制信号输入端C相连的第一开关K1；与所述第一开关K1输入端相连的控制信号源。其中，所述控制信号源的输出信号恒为高电平信号。
当所述第一开关K1闭合时，所述控制信号源与所述第一选择器、第二选择器、第三选择器的控制信号输入端C导通，为所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C提供高电平信号；当所述第一开关K1断开时，所述控制信号源与所述第一选择器、第二选择器、第三选择器的控制信号输入端C断开，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C为低电平信号。
在本发明的另一个实施例中，如图12所示，所述控制装置包括：与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器控制信号输入端C相连的第五薄膜晶体管M5；与所述第五薄膜晶体管M5源极相连的控制信号源；与所述第五薄膜晶体管M5的栅极相连的现场可编程阵列控制器FPGA。其中，所述控制信号源的输出信号恒为高电平信号。
当所述现场可编程控制器FPGA输出高电平信号时，所述第五薄膜晶体管M5关闭，述控制信号源与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C断开，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C为低电平信号；当所述现场可编程控制器（即FPGA）输出低电平信号时，所述第五薄膜晶体管M5打开，所述控制信号源与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C导通，为所述第一选择器、第二选择器和第三选择器的控制信号输入端C提供高电平信号
优选的，所述控制信号源为5V直流电源，但本发明对此并不做限定，只要所述控制信号源的输出信号恒为高电平信号即可。
相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板，所述显示面板包括上述任一实施例所提供的检测电路。
综上所述，本发明实施例所提供的显示面板及其检测电路，既可以精确的判断所述显示面板中是否存在相邻子像素间短路的情况，又可以判断所述显示面板中各子像素是否存在断路情况，提高了所述显示面板的检测能力。
本说明书中各个部分采用递进的方式描述，每个部分重点说明的都是与其他部分的不同之处，各个部分之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (11)
1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，其中，该方法包括：
给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；其中，采用第一信号源给所述第一像素单元中第一子像素提供第一电平信号，采用第三信号源给所述第一像素单元中第三子像素提供第一电平信号；采用第二信号源给所述第一像素单元中第二子像素提供第二电平信号；
给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第二电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第一电平信号；其中，给所述第二像素单元中第一子像素提供第二电平信号的是第一输入端与第一信号源相连，第二输入端与所述第二信号源相连的第一选择器；给所述第二像素单元中第三子像素提供第二电平信号的是第一输入端与所述第三信号源相连，第二输入端与第二信号源相连的第三选择器；给第二像素单元中第二子像素的源极提供第一电平信号的是第一输入端与第二信号源相连，第二输入端与第一信号源相连的第二选择器；
对相邻子像素间的短路情况进行检测；
其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号的电性不同。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该方法还进一步包括：
给所述第一像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第一像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
给所述第二像素单元中的第一子像素和第三子像素提供第一电平信号，并给所述第二像素单元中的第二子像素提供第二电平信号；
对各子像素的断路情况进行检查。
3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述第一电平信号为正信号，第二电平信号为负信号；或所述第一电平信号为负信号，第二电平信号为正信号。
4.一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括多个像素单元，所述像素单元包括沿第一方向相邻的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，且所述第二子像素位于所述第一子像素和第三子像素之间，其中，所述检测电路包括：
输出端与所述第一像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一信号源；
输出端与所述第一像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二信号源；
输出端与所述第一像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三信号源；
输出端与所述第二像素单元中第一子像素的源极直接相连的第一选择器，所述第一选择器的第一输入端与第一信号源相连，第二输入端与所述第二信号源相连；
输出端与所述第二像素单元中第二子像素的源极直接相连的第二选择器，所述第二选择器的第一输入端与第二信号源相连，第二输入端与第一信号源或第三信号源相连；
输出端与所述第二像素单元中第三子像素的源极直接相连的第三选择器，所述第三选择器的第一输入端与所述第三信号源相连，第二输入端与第二信号源相连；
其中，所述第一信号源和第三信号源输出第一电平信号，所述第二信号源输出第二电平信号，且所述第一电平信号和第二电平信号的电性相反。
5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器为单刀双掷开关。
6.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第一选择器、第二选择器和第三选择器为二选一选择器或继电器。
7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述二选一选择器包括：
第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的栅极和所述第二薄膜晶体管的栅极相连，为所述二选一选择器的控制信号输入端，所述第一薄膜晶体管的漏极通过第二电阻接地，源极通过第一电阻与第二薄膜晶体管的漏极相连，所述第二薄膜晶体管的源极直接接地；
第四信号源，所述第四信号源与所述第一薄膜晶体管的源极相连，且通过所述第一电阻与所述第二薄膜晶体管的漏极相连；
第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的源极为所述二选一选择器的第一输入端，栅极与所述第一薄膜晶体管的漏极相连，并通过所述第二电阻接地，所述第四薄膜晶体管的源极为所述二选一选择器的第二输入端，栅极通过所述第一电阻与所述第四信号源相连，并且与所述第二薄膜晶体管的漏极相连，所述第三薄膜晶体管的漏极与所述第四薄膜晶体管的漏极相连，为所述二选一选择器的输出端。
8.根据权利要求6或7所述的检测电路，其特征在于，还包括：分别与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器控制信号输入端相连的控制装置。
9.根据权利要求8所述的检测电路，其特征在于，所述控制装置包括：
与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器控制信号输入端相连的第一开关；
与所述第一开关输入端相连的控制信号源。
10.根据权利要求8所述的检测电路，其特征在于，所述控制装置包括：
与所述第一选择器、第二选择器和第三选择器控制信号输入端相连的第五薄膜晶体管；
与所述第五薄膜晶体管源极相连的控制信号源；
与所述第五薄膜晶体管的栅极相连的现场可编程阵列控制器。
11.一种显示面板，其特征在于，包括：权利要求4-10任一项所述的显示面板检测电路。
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