CN101819337B - 液晶显示器的检测电路和检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶显示器的检测电路和检测方法。检测电路包括栅极驱动器、信号源和源极驱动器；所述栅极驱动器，用于向待测液晶盒提供行扫描信号；所述信号源，用于向所述源极驱动器提供极性反转信号，所述极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；所述源极驱动器，用于根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号，并将所述像素电压信号发送给所述待测液晶盒，所述像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。本发明的技术方案中像素电压信号形成的列反转的极性反转模式，使检测过程中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。

Description

液晶显示器的检测电路和检测方法
技术领域
本发明涉及液晶显示器制造领域，特别涉及一种液晶显示器的检测电路和检测方法。
背景技术
在液晶显示器的结构中，取向膜可以控制液晶分子产生旋光性，其取向角和预倾角结构是使液晶分子产生旋光性的边界条件。取向膜的制造过程包括涂敷和摩擦取向工艺，在涂敷中产生的气泡经摩擦取向后破裂以及在摩擦取向中因微粒和异物等造成的摩擦划伤，均会引起取向膜局部破损，如图1所示，图1为摩擦取向工艺后形成的取向膜的示意图，图1中基板上的像素区域1上形成有取向膜2，像素区域1包括9个亚像素，在像素区域1的部分亚像素的取向膜上发生取向膜破损3，取向膜破损后，其正常的取向角和预倾角结构也不复存在，会造成液晶分子紊乱，使液晶分子不能再像正常时一样产生受像素电极两端电压控制的旋光作用，从而产生漏光现象，这样会导致取向膜破损的区域显示异常，出现白点。
对于取向膜破损区域的白点的检测，通常是在对盒工艺后通过对液晶盒(CELL)的检测实现的，如图2所示，图2为现有技术中检测CELL的电路的结构示意图。该电路包括时序控制器4、源极驱动器5和栅极驱动器6，时序控制器4作为显示驱动的核心元器件，通常为用户定制芯片，其可向源极驱动器5输出各种信号，例如帧开启信号、列时钟脉冲信号和极性反转信号，其中极性反转信号在显示驱动中可以起到防止液晶分子老化以及减少相邻像素间的信号串扰等作用，因此极性反转信号可以用于检测白点。时序控制器4向源极驱动器5输出极性反转信号，而欲显示在待测CELL 7上的显示数据信号也进入源极驱动器5，源极驱动器5根据预先设置的参考电压和极性反转信号对显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号并将该像素电压信号输出给待测CELL 7，而在将像素电压信号输出给待测CELL 7的过程中会受到栅极驱动器6输出的行扫描信号的控制，待测CELL 7中的每个像素的像素电极接收源极驱动器5根据极性反转信号和显示数据信号生成的像素电压信号。具体地，极性反转信号可以控制像素电压信号的极性，从而使待测CELL 7形成不同的极性反转模式，例如两行反转模式和单行反转模式等。图3为现有技术中两行反转模式的示意图，图4为现有技术中单行反转模式的示意图，如图3和图4所示，图3中所示的行反转模式为两行反转模式，即待测CELL接收的像素电压信号为每两行发生一次极性变化的信号；图4中所示的行反转模式为单行反转模式，即待测CELL接收的像素电压信号为每行发生一次极性变化的信号；同时，因图4中所示的各像素的极性均与该像素相邻像素的极性相反，所以在此种情况下，图4中所示的极性反转模式还可以称为点反转模式。对于极性反转信号对像素电压信号极性的控制，可以参见图5，图5为输入的极性反转信号的波形与输出的像素电压信号的波形的示意图，极性反转信号为周期性的方波信号，其可控制像素电压信号的极性，从而形成图3中的两行反转模式。当输入的极性反转信号为高电平信号时，输出的为正极性像素电压信号，即电压值高于公共电极信号的像素电压信号；当输入的极性反转信号为低电平信号时，输出的为负极性像素电压信号，即电压值低于公共电极信号的像素电压信号。
但是，由于取向膜破损通常在很小的区域内发生，例如图1中所示的9个亚像素的区域内，并且该区域的液晶分子与周边正常区域的液晶分子之间会存在粘性作用或信号串扰作用，以及上下偏振片对光的选择性(偏振方向垂直)，所以存在取向膜破损的区域与正常区域的显示效果难于区别的问题，例如上述的两行极性反转模式和单行极性反转模式下破损区域与正常区域的显示效果就很难区别。这样在检测过程中，取向膜破损区域的白点难于被操作员识别出，容易发生漏检。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的问题，提出一种液晶显示器的检测电路和检测方法，从而解决现有技术中取向膜破损区域的白点难于被操作员识别出而容易发生漏检的问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示器的检测电路，包括栅极驱动器、信号源和源极驱动器；
所述栅极驱动器，用于向待测液晶盒提供行扫描信号；
所述信号源，用于向所述源极驱动器提供极性反转信号，所述极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
所述源极驱动器，用于根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号，并将所述像素电压信号发送给所述待测液晶盒，所述像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
为实现上述目的，本发明还提供了一种液晶显示器的检测方法，包括：
信号源向源极驱动器提供极性反转信号，所述极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
源极驱动器根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号；
栅极驱动器向待测液晶盒提供行扫描信号，在所述行扫描信号的控制下源极驱动器将所述像素电压信号发送给所述待测液晶盒，以在所述待测液晶盒上加载灰度画面；所述像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
本发明的技术方案中由信号源的连续高电平信号和连续低电平信号生成像素电压信号，该像素电压信号可形成列反转的极性反转模式，与现有技术中的行反转的极性反转模式现比，本发明改变了相邻液晶分子间的相互作用和信号串扰，使检测过程中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为摩擦取向工艺后形成的取向膜的示意图；
图2为现有技术中检测CELL的电路的结构示意图；
图3为现有技术中两行反转模式的示意图；
图4为现有技术中单行反转模式的示意图；
图5为输入的极性反转信号的波形与输出的像素电压信号的波形的示意图；
图6为取向膜破损区域的亮度分布图；
图7为本发明液晶显示器的检测电路实施例一的结构示意图；
图8为本发明单列反转模式的示意图；
图9为本发明单列反转模式和现有技术中行反转模式下白点的显示效果对比图；
图10为本发明两列反转模式的示意图；
图11为本发明液晶显示器的检测电路实施例二的结构示意图；
图12为本发明液晶显示器的检测方法实施例一的流程图；
图13为本发明液晶显示器的检测方法实施例二的流程图。
具体实施方式
分析结果表明，正常像素受控于像素电极两端的电压且显示效果正常，而取向膜破损区域的像素并非完全不受控于像素电极两端的电压，但其受控状态同正常像素不同，主要受控于周边液晶分子的相互作用和信号串扰。通过对取向膜破损区域的显示效果进行分析可以得出，取向膜破损区域(即取向异常区域)的亮度高于正常区域的亮度，并且取向膜破损区域的亮度分布呈中心高、周边低的特点，即白点处的亮度高于正常区域的亮度，如图6所示，图6为取向膜破损区域的亮度分布图。
根据上述分析结果，本发明的检测电路通过改变极性反转信号来改变极性反转模式，从而实现改变液晶分子间的相互作用和信号串扰。这样在检测过程中取向膜破损区域的白点显示会更加突出，从而达到容易被操作员识别出的目的，避免了漏检问题。
图7为本发明液晶显示器的检测电路实施例一的结构示意图，如图7所示，该检测电路包括源极驱动器5、栅极驱动器6和信号源8。为更清楚的描述本实施例的技术方案，图7中还示出了与检测电路连接的待测CELL 7。栅极驱动器6向待测CELL 7提供行扫描信号；信号源8向源极驱动器5提供极性反转信号，该极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；源极驱动器5根据预先设置的参考电压和极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号，并将该像素电压信号发送给待测CELL7，其中像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
其中，参考电压可以根据待测CELL 7的类型进行预先设置，不同类型的待测CELL 7可以设置不同的参考电压。显示数据信号为需要在待测CELL 7上进行显示的信号，该显示数据信号用于在待测CELL 7上显示用于检测的灰度画面，具体地，当源极驱动器5将对显示数据信号进行数字模拟转换后生成的像素电压信号发送给待测CELL 7时，待测CELL 7上即可显示一灰度画面。像素电压信号包括正极性像素电压信号和负极性像素电压信号，待测CELL7上的每个像素电极对应一个像素电压信号。
本实施例中的检测电路可以用于检测液晶显示器因取向膜破损而引起的白点。当需要进行白点检测时，信号源8向源极驱动器5提供极性反转信号，该极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号，并且对于待测CELL7的像素，相邻二列像素对应的极性反转信号是不同的，例如，对于一列像素其对应的极性反转信号是连续高电平信号，则和该列像素相邻的一列像素对应的极性反转信号是连续低电平信号。源极驱动器5根据预先设置的参考电压和信号源8提供的极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换生成像素电压信号。当极性反转信号为连续高电平信号时，生成的像素电压信号为正极性像素电压信号，即高于公共电极信号的电压信号；当极性反转信号为连续低电平信号时，生成的像素电压信号为负极性像素电压信号，即低于公共电极信号的电压信号。栅极驱动器6向待测CELL 7提供行扫描信号，具体为，栅极驱动器6向待测CELL 7逐行提供行扫描信号。对于待测CELL 7的某一行像素，栅极驱动器6向该行像素提供行扫描信号，当行扫描信号到达像素沟道栅极时，沟道开启，源极驱动器5将该行的各个像素对应的像素电压信号发送到该像素的像素电极，相邻二个像素电极接收的像素电压信号是不同的，例如一个像素接收的为正极性像素电压信号，则另一个像素接收的为负极性像素电压信号。因此待测CELL 7的像素的极性反转模式为列反转模式，具体地，该列反转模式为单列反转模式，如图8所示，图8为本发明单列反转模式的示意图，图8中待测CELL 7的像素每隔一列发生一次像素电压信号的极性变化，因此称为单列反转模式。
采用上述检测电路对待测CELL 7进行检测时，当待测CELL 7显示的灰度画面上存在显著的发亮区域时，判定该发亮区域为白点；当待测CELL 7显示的灰度画面上不存在显著的发亮区域时，判定为无白点。信号源8向源极驱动器5提供包括连续高电平信号和连续低电平信号的极性反转信号时，待测CELL 7上的极性反转模式为图8中的单列反转模式，与图3和图4的现有技术中的行反转模式相比，本实施例中的列反转模式改变了相邻像素液晶分子间的相互作用和信号串扰，使取向膜破损区域的白点更加凸显，如图9所示，图9为本发明单列反转模式和现有技术中行反转模式下白点的显示效果对比图，从图9可以看出，采用本发明的单列反转模式，显示的白点比现有技术中行反转模式下更加凸显。
另外，本实施例中的列反转模式还可以为两列反转模式，如图10所示，图10为本发明两列反转模式的示意图，图10中待测CELL 7的像素每隔两列发生一次像素电压信号的极性变化，因此称为两列反转模式。该反转模式与现有技术中行反转模式相比，其显示的白点也会更加凸显。
本实施例的检测电路中由信号源的连续高电平信号和连续低电平信号生成像素电压信号，该像素电压信号可形成列反转的极性反转模式，与现有技术中的行反转的极性反转模式现比，本实施例改变了相邻液晶分子间的相互作用和信号串扰，使检测过程中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。
图11为本发明液晶显示器的检测电路实施例二的结构示意图，如图11所示，本实施例在实施例一的基础上，还包括时序控制器4和控制开关9，控制开关9分别与时序控制器4、信号源8和源极驱动器5连接，该控制开关9用于控制信号源8与源极驱动器5导通或者控制时序控制器4和源极驱动器5导通。具体地，控制开关9为多路选择开关，当检测电路需要进行白点检测时，控制开关9控制引脚2和引脚3导通，从而使信号源8和源极驱动器5导通，信号源8可以通过控制开关9向源极驱动器5输出极性反转信号；当检测电路需要进行其它项目检测时，控制开关9控制引脚1和引脚3导通，从而使时序控制器4和源极驱动器5导通，时序控制器4可以通过控制开关9向源极驱动器5输出各种信号。对进行白点检测时检测电路中各模块功能以及检测过程的描述可参见实施例一，此处不再赘述。
图11中的控制开关9为多路选择开关，其主要功能是：不按下该开关时，其引脚1和引脚3导通，按下该开关时，引脚2和引脚3导通。通常控制开关9的引脚1和引脚3是导通的，此时时序控制器4和源极驱动器5是导通的，检测电路可对待测CELL 7进行各种项目的检测；当需要对待测CELL进行白点检测时，按下控制开关9，使信号源8与源极驱动器5导通，此时可利用信号源8输出的极性反转信号对待测CELL 7进行白点检测。
对待测CELL 7进行白点检测的过程可以如下所述。源极驱动器5根据参考电压和时序控制器4输出的极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换生成像素电压信号，并将生成的像素电压信号发送给待测CELL 7，从而在待测CELL 7上加载一灰度画面，例如该灰度画面的等级(Level)可以在60至100之间；操作员按下控制开关9，此时信号源8和源极驱动器5导通，信号源8向源极驱动器5输出包括连续高电平信号和连续低电平信号的极性反转信号，源极驱动器5根据参考电压和信号源8输出的极性反转信号重新对显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号，并将新生成的像素电压信号发送给待测CELL 7，使待测CELL 7重新加载了一灰度画面，此时待测CELL 7的像素的极性反转模式为列反转模式；操作员目视灰度画面，如果具有显著发亮区域，则判断该显著发亮区域为白点，如果无显著发亮区域，则判定该待测CELL 7上无白点。如果该待测CELL 7上存在取向膜破损区域，那么根据信号源8输出的极性反转信号重新加载的灰度画面上的白点会更加凸显。
本实施例在现有技术中检测电路的基础上进行了简单改进，增设了信号源和控制开关。当检测电路不需要进行白点检测时，时序控制器与源极驱动器导通，此时该检测电路可用于进行其它项目检测；当检测电路需要进行白点检测时，信号源与源极驱动器导通，此时该检测电路可用于进行白点检测。本实施例中的检测电路在可以同时用于待测CELL的白点检测和其它项目的检测，在进行白点检测时，仅需按下控制开关，操作简便，应用于批量检测时可以取得非常好的效果。
本实施例的检测电路中由信号源的连续高电平信号和连续低电平信号生成像素电压信号，该像素电压信号可形成列反转的极性反转模式，与现有技术中的行反转的极性反转模式现比，本实施例改变了相邻液晶分子间的相互作用和信号串扰，使检测过程中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。
图12为本发明液晶显示器的检测方法实施例一的流程图，如图12所示，本实施例的检测方法可以基于图7中的检测电路，检测方法具体包括：
步骤101、信号源向源极驱动器提供极性反转信号，该极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
步骤102、源极驱动器根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号；
步骤103、栅极驱动器向待测液晶盒提供行扫描信号以及源极驱动器将像素电压信号发送给待测液晶盒，以在待测液晶盒上加载灰度画面；该像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
本实施例的检测方法中由信号源的连续高电平信号和连续低电平信号生成像素电压信号，该像素电压信号可形成列反转的极性反转模式，与现有技术中的行反转的极性反转模式现比，本实施例改变了相邻液晶分子间的相互作用和信号串扰，使检测过程中形成的灰度画面中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。
图13为本发明液晶显示器的检测方法实施例二的流程图，如图13所示，本实施例的检测方法可以基于图11中的检测电路，如图13所示，检测方法具体包括：
步骤201、时序控制器向源极驱动器提供极性反转信号，该极性反转信号为周期性方波信号；
此时，控制开关并未被按下，时序控制器与源极驱动器处于导通状态。
步骤202、源极驱动器根据预先设置的参考电压和时序控制器提供的极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号。
步骤203、栅极驱动器向待测液晶盒提供行扫描信号，在所述行扫描信号的控制下源极驱动器将生成的像素电压信号发送给待测液晶盒，以在待测液晶盒上加载灰度画面；
本实施例中，加载的灰度画面的等级可以为60至100；本步骤中像素电压信号形成的极性反转模式可以为行反转模式或点反转模式。
步骤204、控制开关控制信号源与源极驱动器处于导通状态；
按下控制开关后，时序控制器与源极驱动器断开，此时信号源与源极驱动器导通。
步骤205、信号源向源极驱动器提供极性反转信号，该极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
步骤206、源极驱动器根据预先设置的参考电压和信号源提供的极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号；
步骤207、栅极驱动器向待测液晶盒提供行扫描信号以及源极驱动器将像素电压信号发送给待测液晶盒，以在待测液晶盒上加载灰度画面；
该像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式，具体地可以为单列反转模式或者两列反转模式。加载的灰度画面的等级可以为60至100。
步骤208、操作员目视灰度画面，如果具有显著发亮区域，则判断该显著发亮区域为白点，如果无显著发亮区域，则判定该待测液晶盒上无白点；
在该待测液晶盒上存在取向膜破损区域的情况下，根据信号源输出的极性反转信号重新加载的灰度画面上的白点会更加凸显。
本实施例的检测方法中由信号源的连续高电平信号和连续低电平信号生成像素电压信号，该像素电压信号可形成列反转的极性反转模式，与现有技术中的行反转的极性反转模式现比，本实施例改变了相邻液晶分子间的相互作用和信号串扰，使检测过程中形成的灰度画面中取向膜破损区域的白点更加凸显，从而使白点更容易被操作员识别，避免了漏检问题。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示器的检测电路，其特征在于，包括栅极驱动器、信号源和源极驱动器；
所述栅极驱动器，用于向待测液晶盒提供行扫描信号；
所述信号源，用于向所述源极驱动器提供极性反转信号，所述极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
所述源极驱动器，用于根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号，并将所述像素电压信号发送给所述待测液晶盒，所述像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括时序控制器和分别与所述时序控制器、所述信号源和所述源极驱动器连接的控制开关；
所述控制开关，用于控制所述信号源与所述源极驱动器导通或者控制所述时序控制器和所述源极驱动器导通。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述控制开关为多路选择开关。
4.根据权利要求1至3任一所述的检测电路，其特征在于，所述列反转模式为单列反转模式。
5.根据权利要求1至3任一所述的检测电路，其特征在于，所述列反转模式为两列反转模式。
6.一种液晶显示器的检测方法，其特征在于，包括：
信号源向源极驱动器提供极性反转信号，所述极性反转信号包括连续高电平信号和连续低电平信号；
源极驱动器根据预先设置的参考电压和所述极性反转信号对接收的显示数据信号进行数字模拟转换，生成像素电压信号；
栅极驱动器向待测液晶盒提供行扫描信号，在所述行扫描信号的控制下源极驱动器将所述像素电压信号发送给所述待测液晶盒，以在所述待测液晶盒上加载灰度画面；所述像素电压信号形成的极性反转模式为列反转模式。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在所述信号源向源极驱动器提供极性反转信号之前还包括：
控制开关控制所述信号源与所述源极驱动器导通。
8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述灰度画面的等级为60至100。
9.根据权利要求6至8任一所述的检测方法，其特征在于，所述列反转模式为单列反转模式。
10.根据权利要求6至8任一所述的检测方法，其特征在于，所述列反转模式为两列反转模式。
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