KR20100098311A - 액정 디스플레이의 검사 회로와 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에는 액정 디스플레이에 사용되는 검사 회로와 검사 방법이 개시되어 있다. 검사 회로는 검사 대상 셀에 행 주사 신호를 제공하는 게이트 구동기와, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 상기 소스 구동기에 제공하는 신호원과, 사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행하고 화소 전압 신호를 생성하여 상술한 검사 대상 셀에 출력하는 소스 구동기를 구비하고, 상기 화소 전압 신호가 형성한 극성 반전 모델은 열 반전 모델이다. 본 발명에 관한 기술 제안에서, 화소 전압 신호가 형성한 열 반전인 극성 반전 모델은, 검사 과정에서의 배향막 파손 영역에서의 흰 점을 더욱 돌출시킴으로써 조작자에게 흰 점을 더욱 용이하게 식별시켜 누락하는 문제를 피할 수 있다.

Description

액정 디스플레이의 검사 회로와 검사 방법{Detection Circuit And Method For a Liquid Crystal Display}
본 발명은 액정 디스플레이의 검사 회로와 검사 방법에 관한 것이다.
액정 디스플레이의 구조에서 배향막(alignment film)은 액정 분자를, 선광성(旋光性, optical rotation)을 갖도록 제어할 수 있으며, 그 배향각(orientation angle)과 프리틸트각(pre-tilt angle)의 구조가 액정 분자에 선광성을 부여하기 위한 한계 조건이다. 배향막의 제조 프로세스는 도포(coating) 공정과 러빙(rubbing) 배향 공정을 포함한다. 도포 공정에서 생성하는 기포가 러빙 배향에 의해 파열되는 것과, 러빙 배향 공정에서 미립자와 이물질 등에 의한 러빙 흠집은 모두 배향막에서의 국소 파손을 야기할 수 있다. 도 1은 러빙 배향 공정 후에 형성한 배향막의 모식도이다. 도 1에 도시한 것처럼, 도 1의 기판에서의 화소 영역(1)에 배향막(2)이 형성되어 있다. 화소 영역(1)은 9개의 서브 화소(sub-pixels)를 포함한다. 화소 영역(1)에서의 서브 화소의 일부 배향막에 배향막 파손(3)이 발생한다. 배향막이 파손된 후 그 정상적인 배향각과 프리틸트각의 구조도 없어져 액정 분자의 혼란을 초래하고, 이로써 액정 분자는 화소 전극 양단의 전압으로 제어되어 있는 선광 작용을 정상시와 동일하게 완수할 수 없게 되어 누광 현상이 발생한다. 이것은, 배향막이 파손되는 영역에서의 표시 이상을 초래하여 흰 점(white dot)을 표시한다.
도 2에 도시한 것처럼, 배향막이 파손되는 영역에서의 흰 점에 대한 검사는, 일반적으로는 조립 공정 후에 액정 셀(CELL)을 검사함으로써 실현한다. 도 2는 종래 기술에 관한 셀을 검사하기 위한 회로의 구성 모식도이다. 해당 회로는 시퀀스 제어기(4), 소스 구동기(5) 및 게이트 구동기(6)를 포함한다. 표시 구동 핵심 소자인 시퀀스 제어기(4)는, 일반적으로는 사용자가 오더하는 칩으로서, 예를 들면, 프레임 온(frame ON) 신호, 열 클럭 펄스(column clock pulse) 신호 및 극성 반전(polarity inversion) 신호와 같은 각종 신호를 소스 구동기(5)로 출력한다. 상술한 각종 신호 중 극성 반전 신호는 표시 구동에서 액정 분자의 노화를 방지하는 작용 및 인접한 화소끼리의 신호들의 크로스토크 간섭(crosstalk interference)을 감소시키는 작용을 완수할 수 있다. 시퀀스 제어기(4)는 극성 반전 신호를 소스 구동기(5)로 출력하고, 검사 대상 셀(7)에 표시하려고 하는 표시 데이터 신호도 소스 구동기(5)로 출력된다. 소스 구동기(5)는, 사전에 설정되는 참고 전압과 극성 반전 신호에 기초하여 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행하고 화소 전압 신호를 생성하여 검사 대상 셀(7)로 출력한다. 화소 전압 신호는 검사 대상 셀(7)로 출력되는 과정에서 게이트 구동기(6)에서 출력되는 행 주사 신호로 제어된다. 검사 대상 셀(7)에서의 각 화소의 화소 전극은, 소스 구동기(5)가 극성 반전 신호와 표시 데이터 신호에 기초하여 생성한 화소 전압 신호를 수신한다. 구체적으로는 극성 반전 신호는 화소 전압 신호의 극성을 제어할 수 있으며 검사 대상 셀(7)에 다른 극성 반전 모델, 예를 들면 2행마다 반전되는 모델과 1행마다 반전되는 모델을 형성시킨다. 도 3은 종래 기술에 관한 2행마다 반전되는 모델의 모식도이고, 도 4는 종래 기술에 관한 1행마다 반전되는 모델의 모식도이다. 도 3과 도 4에 도시한 것처럼, 도 3에 도시한 행 반전 모델은 2행마다 반전되는 모델로서, 즉, 검사 대상 셀이 수신한 화소 전압 신호는 2행마다 1회의 극성 변화를 발생하는 신호이다. 도 4에 도시한 행 반전 모델은 1행마다 반전되는 모델로서, 즉, 검사 대상 셀이 수신하는 화소 전압 신호는 1행마다 1회의 극성 변화를 발생하는 신호이다. 동시에, 도 4에 도시한 각 화소의 극성은 모두 해당 화소에 인접한 화소의 극성과 상반되기 때문에, 이 경우에 도 4에 도시한 극성 반전 모델은 점 반전 모델이라고 불리기도 한다. 화소 전압 신호의 극성에 대한 극성 반전 신호의 제어에 대해서 도 5를 참조할 수 있다. 도 5는, 입력된 극성 반전 신호의 파형과 출력된 화소 전압 신호의 파형의 모식도이다. 극성 반전 신호는 주기적인 구형파 신호로서 화소 전압 신호의 극성을 제어할 수 있으며 이로써 도 3에 도시한 2행마다 반전되는 모델을 형성한다. 입력된 극성 반전 신호가 하이(high) 레벨 신호인 경우, 출력되는 신호는 양극성 화소 전압 신호, 즉 전압 값이 공통 전극 신호보다 높은 화소 전압 신호이며, 입력된 극성 반전 신호가 로우(low) 레벨 신호인 경우, 출력된 신호는 음극성 화소 전압 신호로서, 즉 전압 값이 공통 전극 신호보다 낮은 화소 전압 신호이다.
그러나 일반적으로는 배향막 파손이 아주 적은 영역, 예를 들면, 도 1에 도시한 9개의 서브 화소의 영역에서 발생하고, 그리고 해당 영역에서의 액정 분자와 주변의 정상적인 영역에서의 액정 분자 사이에 점성 작용 또는 신호의 크로스토크 작용이 존재하며, 및 상하 편광 필름의 광에 대한 선택성(편광 방향이 서로 수직하는)이 존재하기 때문에 배향막이 파손되는 영역과 정상적인 영역의 표시 효과를 구별하기 힘들다는 문제가 존재한다. 예를 들면, 상술하는 2행마다 반전되는 모델과 1행마다 반전되는 모델에서 파손되는 영역과 정상적인 영역의 표시 효과를 좀처럼 구별하기 힘들다. 따라서 검사 과정에서 배향막이 파손되는 영역의 흰 점을 조작자가 식별하기 힘들어 누락하는 경우가 자주 발생한다.
본 발명은 종래 기술의 문제를 감안하여 이루어진 것으로서, 그 목적은 종래 기술에서 존재한, 배향막이 파손되는 영역에서의 흰 점을 조작자가 식별하기 힘들어 누락하는 경우가 자주 발생하는 문제를 해결할 수 있는 액정 디스플레이 검사 회로와 검사 방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명은 액정 디스플레이에 사용되는 검사 회로를 제공한다. 해당 검사 회로는, 검사 대상 셀에 행 주사 신호를 제공하는 게이트 구동기, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 소스 구동기에 제공하는 신호원, 및 사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호를 기초로, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행함으로써 화소 전압 신호를 생성하여 상술한 검사 대상 셀에 출력하고, 상기 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델인 소스 구동기를 포함한다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명은 또 액정 디스플레이에 사용되는 검사 방법을 제공한다. 상기 검사 방법은, 신호원이 소스 구동기에, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하고, 소스 구동기가, 사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행함으로써 화소 전압 신호를 생성하고, 검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공하고, 상술한 행 주사 신호의 제어로 소스 구동기가 상술한 검사 대상 액정 셀에 화소 전압 신호를 송신하고, 상기 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델이다.
본 발명의 기술안에서 신호원으로부터의 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호에 의해 열 반전 극성 반전 모델을 형성할 수 있는 화소 전압 신호를 생성하고, 종래 기술에 관한 행 반전 극성 반전 모델과 비교하면, 본 실시예는 인접한 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하여 검사 과정에서 형성하는 계조 화면 중 배향막이 파손되는 영역에서의 흰 점 표시를 더욱 돌출시킴으로써 조작자에 의해 용이하게 식별되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
도 1은 러빙 배향 공정후에 형성한 배향막의 모식도이다.
도 2는 종래 기술에 관한 셀을 검사하기 위한 회로의 구성 모식도이다.
도 3은 종래 기술에 관한 2행마다 반전되는 모델의 모식도이다.
도 4는 종래 기술에 관한 1행마다 반전되는 모델의 모식도이다.
도 5는 입력된 극성 반전 신호의 파형과 출력된 화소 전압 신호의 파형의 모식도이다.
도 6은 배향막이 파손되는 영역에서의 휘도 분포도이다.
도 7은 본 발명에 관한 액정 디스플레이에서의 검사 회로의 제1 실시예의 구성 모식도이다.
도 8은 본 발명에 관한 1열마다 반전되는 모델의 모식도이다.
도 9는 본 발명에 관한 1열마다 반전되는 모델과 종래 기술에 관한 행 반전 모델에서 흰 점의 표시 효과의 비교도이다.
도 10은 본 발명에 관한 2열마다 반전되는 모델의 모식도이다.
도 11은 본 발명에 관한 액정 디스플레이에서의 검사 회로의 제2 실시예의 구성 모식도이다.
도 12는 본 발명에 관한 액정 디스플레이의 검사 방법의 제1 실시예의 흐름도이다.
도 13은 본 발명에 관한 액정 디스플레이의 검사 방법의 제2 실시예의 흐름도이다.
이하, 도면과 실시예에 의해 본 발명의 기술안에 대해서 더욱 상세히 설명하기로 한다.
해석 결과가 표명한 것처럼 정상적인 화소는 화소 양단의 전압으로 제어되고 또한 표시 효과가 정상이며, 배향막이 파손되는 영역에서의 화소는 결코 완전히 화소 양단의 전압으로 제어되지 않는 것은 아니지만, 제어되는 상태가 정상적인 화소와는 달리 주로 주변의 액정 분자의 상호 작용과 신호의 크로스토크에 영향을 받는다. 도 6은 배향막이 파손되는 영역에서의 휘도 분포도이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 배향막이 파손되는 영역의 표시 효과를 해석함으로써 얻을 수 있는 것처럼, 배향막이 파손되는 영역(즉, 배향 이상 영역)에서의 휘도는 정상적인 영역에서의 휘도보다 높고, 그리고 배향막이 파손되는 영역의 휘도 분포는 중심이 높고 주변은 낮은, 즉 흰 점이 위치하는 곳의 휘도가 정상 영역에서의 휘도보다 높다는 특징을 가진다.
상술한 해석 결과에 기초하여 본 발명에 관한 검사 회로는, 극성 반전 신호를 변경하여 극성 반전 모델을 변경함으로써 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크의 변경을 실현한다. 이와 같이 하여 검사 과정에서 배향막이 파손되는 영역에서의 흰 점 표시를 더욱 돌출시킬 수 있어 조작자에게 용이하게 식별되는 목적이 달성되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
도 7은 본 발명에 관한 액정 디스플레이에서의 검사 회로의 제1 실시예의 구성 모식도이다. 도 7에 도시한 것처럼, 해당 검사 회로는 소스 구동기(source driver)(5), 게이트 구동기(gate driver)(6) 및 신호원(signal source)(8)을 구비한다. 본 실시예의 기술안을 보다 확실하게 설명하기 위해 도 7에서 검사 회로에 접속되는 검사 대상 셀(7)도 도시한다. 게이트 구동기(6)는 검사 대상 셀(7)에 행 주사 신호를 제공한다. 신호원(8)은 소스 구동기(5)에 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공한다. 소스 구동기(5)는, 사전에 설정된 참고 전압과 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행하고 화소 전압 신호를 생성하여 검사 대상 셀(7)에 출력한다. 그 중, 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델이다.
참고 전압은 검사 대상 셀(7)의 타입에 기초하여 사전에 설정될 수 있고, 다른 타입의 검사 대상 셀(7)에 다른 참고 전압을 설정할 수 있다. 표시 데이터 신호는 검사 대상 셀(7)에 표시할 필요가 있는 신호로서, 검사용 계조 화면을 검사 대상 셀(7)에 표시하기 위해 사용된다. 구체적으로는, 소스 구동기(5)가 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 생성된 화소 전압 신호를 검사 대상 셀(7)에 송신한 경우, 검사 대상 셀(7)에서 하나의 계조 화면이 표시될 수 있다. 화소 전압 신호가 양극성 화소 전압 신호와 음극성 화소 전압 신호를 포함하고 검사 대상 셀(7)에서의 화소 전극마다 하나의 화소 전압 신호가 대응된다.
본 실시예의 검사 회로는 액정 디스플레이의 배향막 파손에 의한 흰 점을 검사하기 위해 사용될 수 있다. 흰 점의 검사가 필요한 경우, 신호원(8)은 소스 구동기(5)에, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공한다. 검사 대상 셀(7)에서의 화소에 대해서, 인접한 2개의 열의 화소에 대응하는 극성 반전 신호가 다르다. 예를 들면, 하나의 열의 화소에 대응하는 극성 반전 신호가 연속하는 하이 레벨 신호라면, 해당 열의 화소와 인접한 1열의 화소에 대응하는 극성 반전 신호가 연속하는 로우 레벨 신호가 된다. 소스 구동기(5)는, 사전에 설정되는 참고 전압과 신호원(8)이 제공하는 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성한다. 극성 반전 신호가 연속하는 하이 레벨 신호인 경우, 생성된 화소 전압 신호는 양극성 화소 전압 신호, 즉 공통 전극 신호보다 높은 전압 신호이고, 극성 반전 신호가 연속하는 로우 레벨 신호인 경우, 생성된 화소 전압 신호는 음극성 화소 전압 신호, 즉 공통 전극 신호보다 낮은 전압 신호이다. 게이트 구동기(6)는 검사 대상 셀(7)에 행 주사 신호를 제공하고, 구체적으로는 게이트 구동기(6)는 검사 대상 셀(7)에 1행씩 행 주사 신호를 제공한다. 검사 대상 셀(7)이 있는 행의 화소에 대해 게이트 구동기(6)는 해당 행 화소에 행 주사 신호를 제공하여 행 주사 신호가 화소의 채널 게이트에 도달할 경우, 채널이 온(on)되어 소스 구동기(5)는 해당 행의 각 화소에 대응하는 화소 전압 신호를 해당 화소의 화소 전극에 송신한다. 인접한 2개의 화소 전극이 수신하는 화소 전압 신호는 다르며, 예를 들면, 하나의 화소가 수신하는 것이 양극성 화소 전압 신호라면, 다른 화소가 수신하는 것은 음극성 화소 전압 신호이다. 그래서 검사 대상 셀(7)의 화소의 극성 반전 모델은 열 반전 모델로서, 구체적으로는 해당 열 반전 모델은 1열마다 반전되는 모델이다. 도 8은 본 발명에 관한 1열마다 반전되는 모델의 모식도이다. 도 8에 도시한 것처럼, 검사 대상 셀(7)의 화소가 1열 건너 1회의 화소 전압 신호의 극성 변경이 발생하기 때문에 그것을 1열마다 반전되는 모델이라고 부른다.
상술한 검사 회로를 사용하여 검사 대상 셀(7)을 검사하는 경우, 검사 대상 셀(7)에 표시되는 계조 화면에서 현저히 밝은 영역이 존재하면 해당 밝은 영역이 흰 점으로 판정되고, 검사 대상 셀(7)에 표시되는 계조 화면에서 현저히 밝은 영역이 존재하지 않으면 흰 점이 없다고 판정된다. 신호원(8)이 소스 구동기(5)에, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하는 경우, 검사 대상 셀(7)위의 극성 반전 모델은 도 8에 도시한 1열 마다 반전되는 모델이다. 도 9에 도시한 것처럼, 도 3과 도 4의 종래 기술의 행 반전 모델과 비교하면, 본 실시예의 열 반전 모델은 인접한 화소의 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하여 배향막 파손 영역에서의 흰 점을 더욱 돌출시킨다. 도 9는 본 발명에 관한 1열마다 반전되는 모델과 종래 기술에 관한 행 반전 모델에서 흰 점의 표시 효과의 비교도이다. 도 9로부터 알 수 있듯이, 본 발명의 1열마다 반전되는 모델을 채용하면, 표시되는 흰 점은 종래 기술의 행 반전 모델에서의 흰 점보다 더욱 돌출된다.
아울러 도 10에 도시한 것처럼, 본 실시예의 열 반전 모델은 2열마다 반전되는 모델이어도 좋다. 도 10은 본 발명에 관한 2열마다 반전되는 모델의 모식도로서, 도 10에서 검사 대상 셀(7)의 화소에서 2열 건너 1회의 화소 전압 신호의 극성 변경이 발생하기 때문에 그것을 2열마다 반전되는 모델이라고 부른다. 해당 반전 모델과 종래 기술에 관한 행 반전 모델과 비교하면 표시되는 흰 점이 더욱 돌출된다.
본 실시예의 검사 회로에서, 신호원의 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호에 의해 화소 전압 신호를 생성하고, 해당 화소 전압 신호가 열 반전 극성 반전 모델을 형성할 수 있어, 종래 기술에 관한 극성 반전 모델과 비교하면, 본 실시예는 인접한 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하고, 검사 공정에서 배향막 파손 영역에서의 흰 점을 더욱 돌출시켜 흰 점이 조작자에 의해 용이하게 식별되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
도 11은 본 발명에 관한 액정 디스플레이에서의 검사 회로의 제2 실시예의 구성 모식도이다. 도 11에 도시한 것처럼, 본 실시예는 제1 실시예에 기초하여 시퀀스 제어기(4)와 제어 스위치(9)를 포함한다. 제어 스위치(9)는 시퀀스 제어기(4), 신호원(8) 및 소스 구동기(5)에 각각 접속되고 신호원(8)을 소스 구동기(5)에 접속하고 또는 시퀀스 제어기(4)를 소스 구동기(5)에 접속하도록 제어한다. 구체적으로는, 제어 스위치(9)는 멀티 채널 선택 스위치로서, 검사 회로가 흰 점을 검사할 필요가 있는 경우, 핀(2)을 핀(3)에 접속하도록 제어하여 신호원(8)을 소스 구동기(5)에 접속시키고, 그리고 신호원(8)이 제어 스위치(9)에 의해 소스 구동기(5)에 극성 반전 신호를 출력할 수 있다. 검사 회로가 다른 항목을 검사할 필요가 있는 경우, 제어 스위치(9)는 핀(1)을 핀(3)에 접속하도록 제어하여 시퀀스 제어기(4)를 소스 구동기(5)에 접속시키고, 그리고 시퀀스 제어기(4)가 제어 스위치(9)에 의해 소스 구동기(5)에 각종 신호를 출력할 수 있다. 흰 점을 검사할 때 검사 회로에서의 각 모듈의 기능 및 검사 공정에 대한 기술은 제1 실시예를 참고할 수 있어 여기에서는 중복되는 설명을 생략한다.
도 11의 제어 스위치(9)는 멀티 채널 선택 스위치로서, 그 주요 기능은 해당 스위치가 눌리지 않으면 그 핀(1)과 핀(3)이 접속되고, 해당 스위치가 눌리면 핀(2)와 핀(3)이 접속된다. 일반적으로는 제어 스위치(9)의 핀(1)과 핀(3)이 접속되고, 이때 시퀀스 제어기(4)와 소스 구동기(5)가 접속되어 검사 회로가 검사 대상 셀(7)에 대해 각종 항목을 검사할 수 있다. 검사 대상 셀(7)에 대해 흰 점을 검사할 필요가 있을 때, 제어 스위치(9)가 눌려 신호원(8)과 소스 구동기(5)를 접속시키고, 이때 신호원(8)에서 출력되는 극성 반전 신호를 이용하여 검사 대상 셀(7)에 대해 흰 점을 검사할 수 있다.
검사 대상 셀(7)에 대해 흰 점을 검사하는 과정은 이하와 같이 기술된다. 소스 구동기(5)는 참고 전압과 시퀀스 제어기(4)에서 출력된 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하고, 생성된 화소 전압 신호를 검사 대상 셀(7)로 송신하고, 이로써 검사 대상 셀(7)에 하나의 계조 화면을 재치한다. 예를 들면, 해당 계조 화면의 레벨(Level)은 60 내지 100 사이로 설정될 수 있다. 조작자가 제어 스위치(9)를 누를 경우, 신호원(8)은 소스 구동기(5)와 접속되어 소스 구동기(5)에 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공한다. 소스 구동기(5)는 참고 전압과 신호원(8)에서 출력된 극성 반전 신호에 기초하여 표시 데이터 신호에 대해 새롭게 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하고, 생성된 화소 전압 신호를 검사 대상 셀(7)로 송신하여 검사 대상 셀(7)에 새롭게 하나의 계조 화면을 재치한다. 이 경우, 검사 대상 셀(7)의 화소의 극성 반전 모델은 열 반전 모델이다. 조작자가 눈으로 계조 화면을 검사하여 현저히 밝은 영역이 있으면 현저히 밝은 영역을 흰 점으로 판정하고, 현저히 밝은 영역이 없으면 검사 대상 셀(7)에 흰 점이 없다고 판정한다. 만일 해당 검사 대상 셀(7)에서 배향막이 파손되는 영역이 있으면, 신호원(8)에서 출력된 극성 반전 신호에 기초하여 새로 재치한 계조 화면에서의 흰 점은 더욱 돌출된다.
본 실시예는 종래 기술에 기초하여 간단히 개선하여 신호원과 제어 스위치를 증가시킨다. 검사 회로가 흰 점을 검사할 필요가 없는 경우, 시퀀스 제어기와 소스 구동기가 접속되고, 이때 해당 검사 회로가 다른 항목의 검사에 사용될 수 있다. 검사 회로가 흰 점을 검사할 필요가 있는 경우 신호원과 소스 구동기가 접속되고, 이 때 해당 검사 회로가 흰 점의 검사에 사용될 수 있다. 본 실시예에 관한 검사 회로는 검사 대상 셀에 대한 흰 점의 검사와 다른 항목의 검사에 동시에 사용될 수 있고, 흰 점을 검사할 경우 제어 스위치를 누르기만 하면 되므로 조작이 간단하여 대량의 검사에 적용될 경우 아주 좋은 효과를 나타낼 수 있다.
본 실시예에 관한 검사 회로에서, 신호원으로부터의 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호에 의해 열 반전 극성 반전 모델을 형성할 수 있는 화소 전압 신호가 생성되어 종래 기술에 관한 행 반전 극성 반전 모델과 비교하면, 본 실시예가 인접한 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하고, 검사 과정에서 배향막 파손 영역에서의 흰 점 표시를 더욱 돌출시켜 조작자에게 용이하게 식별되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
도 12는 본 발명에 관한 액정 디스플레이의 검사 방법의 제1 실시예의 흐름도이다. 도 12에 도시한 것처럼, 본 실시예에 관한 검사 방법은 도 7의 검사 회로에 기초하며, 구체적으로는,
신호원이 소스 구동기에, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하는 단계(101)와,
소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하는 단계(102)와,
검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공함과 동시에 소스 구동기가 검사 대상 액정 셀에 화소 전압 신호를 송신하는 단계(103)를 포함하고,
그 중 해당 화소 전압 신호가 형성한 극성 반전 모델은 열 반전 모델이다.
본 실시예에 관한 검사 방법에서, 신호원으로부터의 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호에 의해 열 반전 극성 반전 모델을 형성할 수 있는 화소 전압 신호를 생성하여, 종래 기술에 관한 행 반전 극성 반전 모델과 비교하면, 본 실시예가 인접한 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하고 검사 과정에서 배향막 파손 영역에서의 흰 점 표시를 더욱 돌출시켜 조작자에게 용이하게 식별되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
도 13은 본 발명에 관한 액정 디스플레이의 검사 방법의 제2 실시예의 흐름도이다. 도 13에 도시한 것처럼 본 실시예에 관한 검사 방법은 도 11의 검사 회로에 기초하며, 구체적으로는 본 실시예에 관한 검사 방법은, 시퀀스 제어기가 소스 구동기에 주기적인 구형파 신호인 극성 반전 신호를 제공하고, 이때 제어 스위치가 눌리지 않고 시퀀스 제어기와 소스 구동기가 접속된 상태가 되는 단계(201)와,
소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 시퀀스 제어기에서 제공되는 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하는 단계(202)와,
검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공함과 동시에 소스 구동기가 상술한 행 주사 신호의 제어에 의해 생성된 화소 전압 신호를 검사 대상 액정 셀에 송신하는 단계(203)로서, 본 실시예에서 재치된 계조 화면의 레벨은 60 내지 100 사이로 설정될 수 있으며, 본 단계에서의 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 행 반전 모델 또는 점 반전 모델일 수 있는 단계(203)와,
제어 스위치가 신호원과 소스 구동기와 접속되는 상태가 되도록 제어하는 단계(204)와,
제어 스위치가 눌린 후 시퀀스 제어기와 소스 구동기가 차단됨과 동시에 신호원과 소스 구동기가 접속되고,
신호원이 소스 구동기에 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하는 단계(205)와,
소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 신호원이 제공하는 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하는 단계(206)와,
검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공함과 동시에 소스 구동기가 검사 대상 액정 셀에 화소 전압 신호를 송신하는 단계(207)와,
해당 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델로서, 구체적으로는 1열마다 반전되는 모델 또는 2열마다 반전되는 모델일 수 있고, 재치된 계조 화면의 레벨은 60 내지 100 사이로 설정될 수 있고,
조작자가 눈으로 계조 화면을 검사하여 현저히 밝은 영역이 있으면 해당 현저히 밝은 영역을 흰 점으로 판정하고, 현저히 밝은 영역이 없으면 검사 대상 셀에서 흰 점이 없다고 판정하는 단계(208)를 포함한다.
해당 검사 대상 셀에서 배향막 파손 영역이 있으면, 신호원으로부터 출력된 극성 반전 신호에 기초하여 새롭게 재치한 계조 화면에서의 흰 점은 더욱 돌출된다.
본 실시예에 관한 검사 방법에서, 신호원으로부터의 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호에 의해 열 반전 극성 반전 모델을 형성할 수 있는 화소 전압 신호를 생성하여 종래 기술에 관한 행 반전 극성 반전 모델과 비교하면, 본 실시예가 인접한 액정 분자끼리의 상호 작용과 신호의 크로스토크를 변경하여 검사 과정에서 형성하는 계조 화면 중 배향막 파손 영역에서의 흰 점 표시를 더욱 돌출시켜 조작자에 의해 용이하게 식별되어 누락하는 문제를 피할 수 있다.
마지막으로 설명해야 할 것은, 이상의 실시예는 본 발명의 기술적 제안을 설명하기 위한 것으로서 제한의 목적은 없다. 적합한 실시예를 참조하여 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명의 기술안을 개정하거나 그 부분적인 기술적 특징을 동등하게 교환할 수 있으며, 그 개정이나 교환은 해당하는 기술적 제안의 본질이 본 발명의 실시형태의 기술적 제안의 취지와 범위를 벗어나지는 않는다는 것은 당업자라면 이해할 수 있을 것이다.

Claims (17)

  1. 액정 디스플레이에 사용되는 검사 회로로서,
    검사 대상 셀(cell)에 행 주사(row scan) 신호를 제공하는 게이트 구동기;
    연속하는 하이(high) 레벨 신호와 연속하는 로우(low) 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 소스 구동기에 제공하는 신호원; 및
    사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행하고, 화소 전압 신호를 생성하여 상술한 검사 대상 셀에 출력하고, 상기 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델인 소스 구동기를 구비하는 것을 특징으로 하는 검사 회로.
  2. 제1항에 있어서,
    시퀀스 제어기; 및
    상술한 시퀀스 제어기, 상술한 신호원 및 상술한 소스 구동기에 각각 접속되는 제어 스위치를 더 구비하고,
    상술한 제어 스위치는 상술한 신호원 또는 상술한 시퀀스 제어기를 상술한 소스 구동기에 접속시키도록 제어하는 것을 특징으로 하는 검사 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상술한 제어 스위치는 멀티 채널 선택 스위치인 것을 특징으로 하는 검사 회로.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상술한 열 반전 모델은 1열마다 반전되는 모델인 것을 특징으로 하는 검사 회로.
  5. 제1항 내지 제3항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상술한 열 반전 모델은 2열마다 반전되는 모델인 것을 특징으로 하는 검사 회로.
  6. 액정 디스플레이에 사용되는 검사 방법으로서,
    신호원이 소스 구동기에, 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하는 단계;
    소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 상술한 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 수행하여 화소 전압 신호를 생성하는 단계; 및
    검사 대상 액정 셀에 계조 화면(gray picture)을 재치하도록(load) 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공하고, 상술한 행 주사 신호의 제어에 의해 소스 구동기가 상술한 검사 대상 액정 셀에 상술한 화소 전압 신호를 송신하는 단계를 포함하고,
    상술한 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상술한 신호원이 소스 구동기에 극성 반전 신호를 제공하기 전에 제어 스위치가 상술한 신호원을 상술한 소스 구동기와 접속시키도록 제어하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  8. 제6항에 있어서, 상술한 계조 화면의 레벨이 60 내지 100 사이로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  9. 제6항 내지 제8항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상술한 열 반전 모델은 1열마다 반전되는 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  10. 제6항 내지 제8항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상술한 열 반전 모델은 2열마다 반전되는 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  11. 제7항에 있어서, 상술한 제어 스위치는 멀티 채널 선택 스위치인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  12. 액정 디스플레이에 사용되는 검사 방법으로서,
    시퀀스 제어기가 소스 구동기에 주기적인 구형파 신호인 극성 반전 신호를 제공하는 201 단계;
    소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 시퀀스 제어기가 제공하는 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하는 202 단계;
    검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공하고 해당 행 주사 신호의 제어로 소스 구동기가 생성된 화소 전압 신호를 검사 대상 액정 셀에 송신하는 203 단계;
    제어 스위치가 신호원과 소스 구동기와 접속되는 상태가 되도록 제어하는 204 단계;
    신호원이 소스 구동기에 연속하는 하이 레벨 신호와 연속하는 로우 레벨 신호를 포함한 극성 반전 신호를 제공하는 205 단계;
    소스 구동기가 사전에 설정된 참고 전압과 신호원이 제공하는 극성 반전 신호에 기초하여, 수신된 표시 데이터 신호에 대해 디지털―아날로그 변환을 하여 화소 전압 신호를 생성하는 206 단계;
    검사 대상 액정 셀에 계조 화면을 재치하도록 게이트 구동기가 검사 대상 액정 셀에 행 주사 신호를 제공함과 동시에 소스 구동기가 검사 대상 액정 셀에 화소 전압 신호를 송신하는 207 단계; 및
    계조 화면에서 현저히 밝은 영역이 있는지 여부에 기초하여 검사 대상 셀에서 흰 점이 있는지 여부를 판정하는 208 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상술한 계조 화면의 레벨은 60 내지 100 사이로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  14. 제12항에 있어서, 202 단계에서 생성된 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 행 반전 모델 또는 점 반전 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  15. 제12항에 있어서, 206 단계에서 생성된 화소 전압 신호가 형성하는 극성 반전 모델은 열 반전 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상술한 열 반전 모델은 1열마다 반전되는 모델 또는 2열마다 반전되는 모델인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  17. 제12항에 있어서, 상술한 제어 스위치는 멀티 채널 선택 스위치인 것을 특징으로 하는 검사 방법.
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