JP2001356365A - 液晶表示パネル及びその検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査コストを削減し、かつ、高精度の検査が
可能な液晶表示パネル及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 液晶表示パネル１のゲート信号線２に
は、ゲート信号線２のそれぞれの端子に接触するための
コンタクトプローブ３が設けられたゲート信号線用プロ
ーブ装置４が接続されている。また、ソース信号線５側
には、ソース信号線５のＲ色用の信号線に入力するため
の検査用端子６Ｒ、Ｇ色用の信号線に入力するための検
査用端子６Ｇ、Ｂ色用の信号線に入力するための検査用
端子６Ｂが設けられている。ゲート入力は、実際の動作
と同一の点灯状態を確保するため、全端子にプローブを
接触させて行い、ラインスキャンが可能な駆動信号を入
力できる。ソース入力は、全面べた点灯が可能となる信
号を入力する。ゲート用駆動信号に同期した駆動信号の
発生が可能な信号発生器を使用することで、必要な点灯
画面にて液晶表示パネル１を表示させて精度のよい検査
を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルに
関し、特にアクティブマトリクス方式の薄膜トランジス
タ（ＴＦＴ：Thin-Film Transistor）型液晶表示パネル
とその検査方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、場所を取らず、軽量で、消費電力
の小さい液晶表示装置の需要は、省スペースや携帯性か
ら大幅に増大しており、机上のモニターや携帯機器のデ
ィスプレイ等に多数使用されている。

【０００３】アクティブマトリクス方式のＴＦＴ型液晶
表示装置の液晶表示パネルにおいては、ガラス基板上に
走査信号線及びデータ信号線が交差して形成されてお
り、この交差部にＴＦＴ及び画素電極が形成された構造
になっている。走査信号線はＴＦＴのゲートに、データ
信号線はソースに、また画素電極はドレインに接続さ
れ、通常、それらが縦横に複数個並んでいる。これらを
形成したガラス基板と、透明電極を有する別のガラス基
板は対向しており、両基板間に液晶が注入されている。

【０００４】カラー表示については、前記画素電極に対
向する透明電極に対し、赤、緑、青の３色（以下Ｒ、
Ｇ、Ｂ色と言う）のカラーフィルタを設けることによっ
て実現できる。Ｒ、Ｇ、Ｂの３色をまとめて１画素と呼
ぶが、１画素につき３個のＴＦＴが必要となる。これは
各色の画素電極にＴＦＴを介してデータ信号線より駆動
信号を入力するからである。

【０００５】液晶表示パネルは、通常、外部の駆動回路
等の実装の前に白黒中間表示やカラー表示を行い、点欠
陥、線欠陥並びに表示ムラ等の検査を行う。駆動回路
は、各走査信号線及び各データ信号線に信号を入力でき
るように接続されるが、検査の場合は、走査信号線及び
データ信号線の全端子上に検査用のプローブを接触させ
て検査用の駆動信号を入力している。

【０００６】図２は、従来の検査方法の一例を示す図で
ある。ここでは、液晶パネル２１の走査信号線をゲート
信号線２２、データ信号線をソース信号線２３と言う。
ゲート信号線２２には、ゲート信号線２２のそれぞれの
端子に接触させるためのコンタクトプローブ２４が設け
られたゲート信号線用プローブ装置２５が、また、ソー
ス信号線２３には、ソース信号線２３のそれぞれの端子
に接触させるためのコンタクトプローブ２６が設けられ
たソース信号線用プローブ装置２７が接続されている。
ゲート信号線用プローブ装置２５にはゲート用駆動信号
発生装置２８が、ソース信号線用プローブ装置２７には
ソース用駆動信号発生装置２９がそれぞれ接続されてい
る。これらの信号発生装置は、実際に使用される駆動回
路を使用することができるため、実際の動作時と同様の
駆動を行って、表示品位の高い点灯検査が行える。３０
は、表示領域である。

【０００７】図３に、従来の検査方法の別の例を示す。
これは、駆動信号を全てのゲート信号線及びソース信号
線に個別に入力せずに、ブロック単位で入力する検査方
法である。液晶表示パネル４１には、ゲート信号線４２
の奇数番目の信号線に入力するための検査用端子４４ａ
と偶数番目の信号線に入力するための検査用端子４４ｂ
が設けられている。また、ソース信号線４３のＲ色用の
信号線に入力するための検査用端子４５Ｒ、Ｇ色用の信
号線に入力するための検査用端子４５Ｇ、Ｂ色用の信号
線に入力するための検査用端子４５Ｂも設けられてい
る。

【０００８】検査用端子４４ａ及び４４ｂに接触させる
ためのコンタクトプローブ４６が設けられたゲート信号
線用プローブ装置４８と、検査用端子４５Ｒ、４５Ｇ、
４５Ｂに接触させるためのコンタクトプローブ４７が設
けられたソース信号線用プローブ装置４９を介して、ゲ
ート用駆動信号発生装置５０とソース用駆動信号発生装
置５１から、液晶表示パネル４１にそれぞれの駆動信号
が入力され、検査が行われる。５２は、表示領域であ
る。

【０００９】ゲート信号線及びソース信号線をブロック
化した別の検査方法を、図４及び図５に示す。いずれ
も、図３と同様に各信号線をブロック化するが、駆動信
号の入力端子となる検査用端子４４ａ、４４ｂ及び４５
Ｒ、４５Ｇ、４５Ｂを複数個設けており、ゲート信号線
用プローブ装置４８及びソース信号線用プローブ装置４
９のコンタクトプローブ４６及び４７の数もそれに応じ
て増やしている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】液晶表示パネルの大型
化、高精細化の要求に伴い、画素数の増大及び画素ピッ
チの縮小が進んでいる。例えば、ノートパソコン等で主
流となっている画面サイズ１３”〜２０”クラスの液晶
表示パネルでは、解像度のよいものであれば端子数はゲ
ート信号線で１２００本、ソース信号線で４８００本と
なり、端子ピッチはゲート信号線で７０〜１００μｍ、
ソース信号線で５０〜７０μｍ程度となっている。

【００１１】図２に示したような検査方法においては、
ゲート信号線２２及びソース信号線２３の全端子にプロ
ーブ２４及び２６を接触させているが、上記のような大
型で高精細な液晶表示パネルでは、検査のためのプロー
ブ２４及び２６も数が増えるとともにそれらの間隔の縮
小が求められ、特にソース信号線２３の端子において、
そのような条件を満たすのが非常に厳しくなる。そのた
め、検査装置の構造が複雑かつ高価になってきている。
また、プローブ２４及び２６のピッチが微小となるた
め、プローブ同士が接触するという問題が生じることも
ある。さらに、検査用プローブは、液晶表示パネルの端
子数や端子ピッチの仕様が異なれば、液晶表示パネルの
機種毎に必要となり、その分、検査に費やすコストが増
大し、ひいては液晶表示パネルの製造コストの増大並び
に価格の高騰の原因になってしまう。

【００１２】そこで、図３に示したような、液晶パネル
の全端子の１つ１つにプローブを接触させずに検査を行
う方法が提供されている。この場合、検査に必要なプロ
ーブ４６及び４７の数は、１〜２本の共通電極を含め
て、ゲート信号線４２側で２本、ソース信号線４３側で
３本となるため、合計しても６〜７本と大幅な削減が図
られる。

【００１３】しかし、このような検査方法では、図２に
示した検査のように実際の動作で使用される駆動回路が
使えないため、表示品位は劣る。また、駆動信号がブロ
ック化された検査用端子から入力されるので、配線抵抗
や付加容量によって遅延が生じてしまう。

【００１４】駆動信号の遅延を考慮した検査方法が、図
４及び図５に示された方法である。図４では、検査用端
子４４ａ、４４ｂ及び４５Ｒ、４５Ｇ，４５Ｂをそれぞ
れ信号線４２及び４３の両側に設けるとともに、検査用
端子数を増やしている。また、図５では、ゲート信号線
４２側で、実際のゲート駆動方法である線順次駆動（以
下「ラインスキャン」と言う）に近づけるため、ゲート
信号線４２を奇数番目同士及び偶数番目同士でブロック
化し、その両側に検査用端子４４ａ、４４ａ及び４４
ｂ、４４ｂをそれぞれ設けている。

【００１５】しかしながら、このような改善がなされて
も、液晶パネルの大型化、高精細化が進むと、共通電極
の駆動負荷がより増大し、液晶表示パネル内部での信号
の遅延が増幅されてしまう。そのため、コントラストの
低下やフリッカー（ちらつき）が生じてしまう。特に、
走査信号線となるゲート信号線側における信号遅延が問
題となる。検査時の表示ムラやフリッカーの原因が液晶
表示パネルの不良であるのに、信号の遅延のためである
と判断して見逃されてしまえば、検査漏れとなり、次工
程に不良パネルが流出して回収作業や材料の損失を生む
ことになり、結果として液晶表示パネルの製造コストの
増大になってしまう。

【００１６】本発明は、上記問題に鑑みなされたもの
で、検査コストを削減し、かつ、高精度の検査が可能な
液晶表示パネル及びその検査方法を提供することを目的
とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、走査信号線及びデータ信号線に任意の信号
を入力して点灯表示させる液晶表示パネルであって、前
記データ信号線を入力信号の種類によって複数のブロッ
クに分け、前記ブロック単位に検査信号を入力するため
の検査用端子を有している。

【００１８】この構成によると、データ信号線側で信号
線にブロック単位で駆動信号が入力できるので、プロー
ブ数は検査用端子数だけで対応できる。

【００１９】また本発明は、走査信号線及びデータ信号
線に任意の信号を入力して点灯表示させる液晶表示パネ
ルの検査方法であって、前記走査信号線には全端子から
走査信号線用検査信号を入力し、前記データ信号線は入
力信号の種類によって複数のブロックに分け、前記ブロ
ック単位に設けられた検査用端子からデータ信号線用検
査信号を入力している。

【００２０】この方法によると、走査信号線は全端子か
ら検査用の駆動信号が入力されるので、信号遅延が生じ
ない。データ信号線は、ブロック単位で入力されるの
で、プローブ数が少なく、端子ピッチが小さいにもかか
わらず、プローブの接触不良等が生じない。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図面を参照し
て説明する。図１は、本発明に係る液晶表示パネルとそ
の検査方法を示す図である。液晶表示パネル１のゲート
信号線２には、ゲート信号線２のそれぞれの端子に接触
するためのコンタクトプローブ３が設けられたゲート信
号線用プローブ装置４が接続されている。また、ソース
信号線５側には、ソース信号線５のＲ色用の信号線に入
力するための検査用端子６Ｒ、Ｇ色用の信号線に入力す
るための検査用端子６Ｇ、Ｂ色用の信号線に入力するた
めの検査用端子６Ｂがソース信号線５の両側を含めてそ
れぞれ複数個設けられており、これらの検査用端子６
Ｒ、６Ｇ及び６Ｂに接触させるためのコンタクトプロー
ブ７が設けられたソース信号線用プローブ装置８が接続
されている。１１は、表示エリアである。

【００２２】ゲート入力は、実際の動作と同一の点灯状
態を確保するため、全端子にプローブを接触させて行
い、ラインスキャンが可能な駆動信号を入力できる。こ
のとき、ゲート用駆動信号発生装置９としては、実際の
動作で使用する駆動回路を使用することができるが、種
々の液晶表示パネルに合った駆動条件を設定できる信号
発生器を選択してもよい。

【００２３】液晶表示パネル１の表示エリア１１は、上
述のように、白黒中間表示やカラー表示を行い、点欠
陥、線欠陥ならびに表示ムラ等の検査を行う。従って、
ソース入力は全面べた点灯が可能となる信号が入力でき
ればよく、ＲＧＢ各色でのブロック化により対応可能で
ある。さらに、ソース信号線反転駆動や画素反転駆動に
も対応できる。ソース用駆動信号発生装置１０として
は、ゲート入力に実際の動作で使用されるゲート用駆動
回路や駆動条件を設定できる信号発生器を使用する場合
でも、ゲート用駆動信号に同期した駆動信号の発生が可
能な信号発生器を使用することで、必要な点灯画面にて
液晶表示パネル１を表示させて精度のよい検査を行うこ
とができる。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
ソース信号線を入力信号でブロック化して検査用端子を
設けた構造になっているので、ソース信号側の検査用の
プローブの数を大幅に減少させることができる。従っ
て、端子ピッチのより小さいソース信号側で全端子のプ
ローブ入力が不要となるので、プローブにかかる費用は
ほとんどがゲート信号線用となり、プローブのコストが
約１／３〜１／１０で済むため、大幅なコスト削減が可
能になる。

【００２５】また、本発明の検査方法によると、駆動信
号の遅延が問題になるゲート信号線には全端子プローブ
により駆動信号を入力するため、実動作と同一の点灯検
査が行える。これにより、検査精度の向上が図れ、次工
程への不良流出が防止できることから、液晶表示パネル
の製造コストの削減が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の液晶表示パネルと検査方法を示す図
である。

【図２】 従来のプローブによる検査方法を示す図であ
る。

【図３】 従来の信号のブロック化による検査方法の第
１例を示す図である。

【図４】 従来の信号のブロック化による検査方法の第
２例を示す図である。

【図５】 従来の信号のブロック化による検査方法の第
３例を示す図である。

【符号の説明】

１、２１、４１ 液晶表示パネル ２、２２、４２ ゲート信号線 ３、７、２４、２６、４６、４７ コンタクトプロー
ブ ４、２５、４８ ゲート信号線用プ
ローブ装置 ５、２３、４３ ソース信号線 ８、２７、４９ ソース信号線用プ
ローブ装置 ９、２８、５０ ゲート用駆動信号
発生装置 １０、２９、５１ ソース用駆動信号
発生装置 １１、３０、５２ 表示エリア ４４ａ、４４ｂ 検査用端子（ゲー
ト側） ６Ｒ、６Ｇ、６Ｂ、４５Ｒ、４５Ｇ、４５Ｂ 検査用端
子（ソース側）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H092 GA52 JA24 JA48 JB23 JB32 JB77 MA57 NA25 NA27 NA30 PA06 2H093 NA16 NA80 NC09 NC13 NC34 NC90 ND56 NE03 NE07 5C006 AA02 AC24 AF53 AF78 BB11 BC16 EB01 FA51 5C080 AA10 BB05 DD15 EE25 FF09 GG02 JJ02

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】走査信号線及びデータ信号線に任意の信号
   を入力して点灯表示させる液晶表示パネルであって、 前記データ信号線を入力信号の種類によって複数のブロ
   ックに分け、前記ブロック単位に検査信号を入力するた
   めの検査用端子を有することを特徴とする液晶表示パネ
   ル。
2. 【請求項２】走査信号線及びデータ信号線に任意の信号
   を入力して点灯表示させる液晶表示パネルの検査方法で
   あって、 前記走査信号線には全端子から走査信号線用検査信号を
   入力し、前記データ信号線は入力信号の種類によって複
   数のブロックに分け、前記ブロック単位に設けられた検
   査用端子からデータ信号線用検査信号を入力することを
   特徴とする液晶表示パネルの検査方法。