KR970060247A - 파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스의 데이타 출력 제어회로 - Google Patents

파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스의 데이타 출력 제어회로 Download PDF

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Abstract

파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스를 테스트하는 방법에서는 동일한 데이타가 미리 복수의 메모리 셀내에 저장된다. 상기 저장된 데이타는 데이타 신호를 생성하기 위해 복수의 메모리 셀로부터 판독되고 데이타 신호로서 증폭된다. 판정부는 판정결과 신호를 발생하기 위해 모든 데이타 신호가 동일한가를 판정한다. 판정 결과 신호에 따라서, 증폭된 데이타 신호 및 소정의 신호와 관련된 하나의 신호가 동기신호에 동기하여 출력부로 전송된다. 출력부는 전송된 신호 각각에 응답하여 로 레벨신호, 하이 레벨신호 및 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호 중 하나를 표시신호로서 제공하는 복수의 출력회로를 포함한다. 그러므로, 최소한 하나의 표시신호를 사용하여 복수의 메모리 셀이 올바르게 작동하는지를 테스트할 수 있다.

Description

파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스의 데이타 출력 제어회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 제1 실시에에 따른 반도체 메모리 디바이스의 구조를 도시한 회로도.

Claims (20)

  1. 파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스에 있어서, 복수의 데이타 원으로부터의 데이타 신호를 증폭하기 위한 증폭기 수단, 판정결과 신호를 발생하기 위해 상기 모든 데이타 신호가 동일한지를 판정하는 판정 수단, 동기신호를 발생하기 위한 동기신호 발생 수단, 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 동기신호에 동기하여 상기 증폭된 데이타 신호 및 소정의 신호와 관련된 하나의 신호를 선택적으로 전송하기 위한 전송 수단, 및 복수의 출력회로를 포함하며, 상기 각각의 데이타 신호에 대하여, 동일한 출력신호가 상기 복수의 출력회로로부터 출력되도록 상기 전송된 신호에 응답하여 로 레벨신호, 하이 레벨신호 및 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호들중 하나를 제공하기 위한 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전송수단은 래치된 신호를 발생하기 위해서 상기 동기신호에 응답하여 상기 증폭된 데이타 신호를 래치하기 위한 래치 수단, 및 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 래치된 신호 및 상기 소정의 신호와 관련된 하나의 신호를 상기 출력 수단으로 선택적인 전송을 하기 위한 출력제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  3. 제2항에 있어서, 상기 출력제어 수단은 상기 판정 수단에 의해 모든 상기 데이타 신호가 동일하다고 판정될 때 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 래치된 시호와 관련된 신호를 상기 출력 수단으로 출력하고, 상기 출력 수단은 상기 래치된 신호와 관련된 신호를 기초로 상기 하이 레벨신호 및 상기 로 레벨시호중 하나를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  4. 제2항에 있어서, 상기 출력제어 수단은 상기 판정 수단에 의해 모든 상기 데이타 신호가 동일하지 않다고 판정될 때 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 래치된 시호와 관련된 신호를 상기 출력 수단으로 출력하고, 상기 출력 수단은 상기 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  5. 제2항에 있어서, 상기 판정 수단은 상기 판정결과 신호를 발생하기 위해 상기 증폭된 데이타 신호를 기초로 모든 상기 데이타 신호가 동일한지를 판정하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  6. 제5항에 있어서, 상기 래치 수단이 상기 출력제어 수단으로 래치된 판정결과 신호를 출력하기 위해 상기 동기신호에 응답하여 상기 판정결과 신호를 래치하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  7. 제1항에 있어서, 상기 전송 수단은 래치된 신호를 발생하기 위해 상기 동기신호에 응답하여 상기 증폭된 데이타 신호를 래치하기 위한 래치 수단, 상기 래치된 신호를 지연하기 위한 지연 수단, 및 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 지연된 신호 및 소정의 신호와 관련된 하나의 신호를 상기 출력 수단에 선택적으로 전송하기 위한 출력제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  8. 제7항에 있어서, 상기 출력제어 수단은 상기 판정 수단에 의해 모든 데이타가 동일하다고 판정될 때 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 지연된 신호와 관련된 신호를 출력하고, 상기 출력 수단은 상기 래치된 신호를 기초로 상기 하이 레벨신호 및 로 레벨신호 중 하나를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  9. 제7항에 있어서, 상기 출력제어 수단은 상기 판정 수단에 의해 모든 상기 데이타가 동일하지 않다고 판정될 때 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 소정의 신호를 상기 출력 수단으로 출력하고, 상기 출력 수단은 상기 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  10. 제7항에 있어서, 상기 판정 수단이 상기 판정결과 신호를 발생하기 위해 상기 래치된 신호를 기초로, 모든 데이타가 동일한지를 판정하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스.
  11. 파이프라인 구조를 가지는 반도체 메모리 디바이스를 테스트하는 방법에 있어서, 복수의 메모리 셀에 동일한 데이타를 저장하는 단계, 데이타 신호를 발생하기 위해 복수의 메모리 셀로부터의 데이타를 판독하여 이 데이타 신호를 증폭하는 단계, 판정결과 신호를 발생하기 위해 모든 데이타 신호가 동일한지의 여부를 판정하는 단계, 상기 판정결과 신호에 따라서 그리고 동기신호에 동기하여 상기 증폭된 신호 및 소정의 신호와 관련된 하나의 신호를 선택적으로 전송하는 단계, 상기 전송된 신호 각각에 응답하여 로 레벨신호, 하이 레벨신호 및 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호중 하나를 표시 신호로서 제공하는 단계, 및 최소한 하나의 표시 신호를 사용하여, 복수의 메모리 셀이 올바르게 동작하는지의 여부를 판정하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 전송단계는, 래치된 신호를 발생하기 위해 상기 동기신호에 응답하여 상기 증폭된 데이타 신호를 래치하는 단계, 및 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 래치된 신호 및 상기 소정의 신호와 관련된 하나의 신호를 선택적으로 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 선택적인 출력 단계는 모든 상기 데이타 신호가 동일하다고 판정될 때 상기 판정 결과 신호에 따라서 상기 래치된 신호를 출력하여, 상기 래치된 신호를 기초로 상기 하이 레벨신호 및 상기 로 레벨신호중 하나를 출력하는 단게를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  14. 제12항에 있어서, 상기 선택적인 출력 단계는 모든 상기 데이타 신호가 동일하지 않다고 판정될 대 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 소정의 신호를 출력하여, 상기 하이 임피던스 상태를 나타내는 신호를 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  15. 제12항에 있어서, 상기 판정 단계는 상기 판정결과 신호를 발생하기 위해 상기 증폭된 데이타 신호를 기초로, 모든 데이타가 동일한지를 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 래치 단계는 상기 동기신호에 응답하여 상기 판정결과 신호를 래치하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  17. 제11항에 있어서, 상기 전송단계는, 래치된 신호를 발생하기 위해서 상기 동기신호에 응답하여 상기 증폭된 데이타 신호를 래치하는 단계, 상기 래치된 신호를 지연하는 단계, 상기 판정결과 신호에 따라서 상기 래치된 신호와 상기 소정의 신호중 하나를 선택적으로 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  18. 제17항에 있어서, 상기 선택적인 출력 단계는 모든 상기 데이타 신호가 동일하다고 판정될 때 상기 판정결과 신호에 따라서 지연된 신호를 출력하여, 상기 래치된 신호를 기초로 상기 하이 레벨신호 및 상기 로 레벨신호중 하나를 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 디바이스 테스팅 방법.
  19. 데이타 출력 제어회로에 있어서, 복수의 데이타 신호를 수신하는 복수의 데이타 증폭기, 모든 상기 데이타가 동일한지를 판정하여 일치 혹은 불일치를 표시하는 판정신호를 출력하는 비교회로, 동기신호를 발생하는 동기신호 발생기, 상기 동기신호가 발생되는 시간에 상기 판정신호를 전송하는 제1 동기회로와 상기 동기신호가 발생되는 시간에 복수의 데이타 신호를 전송하는 복수의 제2 동기회로로서, 상기 동기신호를 공통으로 공급받는, 상기 제1 동기회로 및 상기 다수의 제2 동기회로, 및 상기 제1 동기회로로부터는 상기 판정 신호를 수신하고 상기 제2 동기회로들로부터는 상기 데이타 신호를 수신해서 상기 판정 신호에 응답하여 상기 복수의 데이타 신호를 출력하는 복수의 출력회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 데이타 출력 제어회로.
  20. 제19항에 있어서, 상기 복수의 출력회로는 상기 제1 동기회로로부터는 상기 판정 신호를 수신하고 복수의 상기 제2 동기회로로부터는 상기 데이타 시호를 수신하여 상기 동기신호가 상기 일치를 표시할때는 일치를 나타내는 복수의 출력신호를 출력하고, 상기 동기신호가 상기 불일치를 표시할때는 불일치를 나타내는 상기 복수의 출력신호중 최소한 하나의 출력신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 데이타 출력 제어회로.
    ※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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