KR970060222A - 동기형 반도체 메모리 장치 - Google Patents

동기형 반도체 메모리 장치 Download PDF

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KR970060222A
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히사시 아보
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가네코 히사시
닛폰 덴키 가부시끼가이샤
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Abstract

동기형 반도체 메모리 장치가 개시되며 그것은 두 전도 제어 신호 중 하나인 DIT를 활성화 시키고 출력 제어 신호 MSK2B 또는 OEB에 따라 전도 제어 신호 둘 다를 비능동화하시킴으로써, 출력 신호 D2T 및 D2N을 출력하도록 채용된 출력 제어 회로(14)를 가지며, 데이터 출력 단자(DQ)가 작용되거나 또는 높은 임피던스로 세트 되는지의 여부를 제어하고 출력 회로(17)는 한 쌍의 래치 회로(15 및 16)가 제공되고 그 각각은 내부 동기 신호(∮3)에 동기하여 대응하는 전도 제어 신호를 개별적으로 래치하고 출력하도록 채용된다. 또한 내부 동기 신호(∮3)의 인버트된 신호에 응답하여 출력 제어 신호를 래칭하는 부가적 래치 회로(13)가 제공된다.

Description

동기형 반도체 메모리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치의 한 실시예를 도시하는 블럭도.
제2도는 제1도에 도시된 반도체 메모리 장치 동작의 한 예시를 도시하는 파형도

Claims (3)

  1. 반도체 메모리 장치에 있어서, 데이터 출력 단자와, 제1 및 제2 데이터 신호가 제1 상태를 취할 때 제1 논리 레벨에서, 상기 제1 및 제2 데이터 신호가 제2 상태를 취할 때 제2 논리 레벨에서 상기 출력 단자를 구동하고, 상기 제1 및 제2 데이터 신호가 제3 상태를 취할 때 고임피던스 상태로 상기 출력 단자를 이끌도록 상기 출력 단자에 연결되고 상기 제1 및 제2 데이터 신호에 응답하는 출력회로와, 래치 인에이블한 신호에 응답하여 상기 출력 회로에 상기 제1 데이터 신호를 래치하여 공급하는 제1 래치 회로와, 상기 래치 인에이블 신호에 응답하여 상기 출력 회로에 상기 제2 데이터 신호를 래치하여 공급하는 제2 래치 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 선택된 메모리 셀에 저장된 데이터에 대응하는 데이터 신호를 수신하고 상기 데이터 신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 데이터 신호를 생성하는 출력 제어 회로를 더 포함하며, 상기 출력 제어 회로는 제어 신호를 수신하고 상기 제어 신호가 소정의 레벨에 있을 때 상기 데이터 신호에 상관없이 상기 제3 상태를 취하도록 상기 제1 및 제2 데이터 신호를 제어하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 출력 제어 회로는 상기 래치 인에이블한 신호의 인버트된 신호에 응답하여 상기 제어 신호를 래칭하는 제3 래치 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
    ※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970002807A 1996-01-30 1997-01-30 동기형 반도체 메모리 장치 KR100260071B1 (ko)

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3922765B2 (ja) * 1997-07-22 2007-05-30 富士通株式会社 半導体装置システム及び半導体装置
JP3244035B2 (ja) * 1997-08-15 2002-01-07 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JP3716080B2 (ja) * 1997-08-28 2005-11-16 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置の出力回路
JPH11162174A (ja) * 1997-11-25 1999-06-18 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
KR100252054B1 (ko) * 1997-12-04 2000-04-15 윤종용 웨이브 파이프라이닝 제어구조를 가지는 동기식 반도체 메모리장치 및 데이터 출력방법
US6122203A (en) * 1998-06-29 2000-09-19 Cypress Semiconductor Corp. Method, architecture and circuit for writing to and reading from a memory during a single cycle
US5986970A (en) * 1998-06-29 1999-11-16 Cypress Semiconductor Corp. Method, architecture and circuit for writing to a memory
US6301188B1 (en) * 1999-08-11 2001-10-09 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for registering free flow information
JP4607444B2 (ja) * 2002-11-18 2011-01-05 三星電子株式会社 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法
JP4104634B2 (ja) * 2006-05-23 2008-06-18 シャープ株式会社 半導体装置
JP5876271B2 (ja) 2011-11-01 2016-03-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 メモリ制御装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61148692A (ja) * 1984-12-24 1986-07-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 記憶装置
JPH02137189A (ja) * 1988-11-17 1990-05-25 Hitachi Ltd メモリ回路およびディジタル装置
JPH0344890A (ja) * 1989-07-12 1991-02-26 Toshiba Corp 半導体記憶装置のデータ出力制御回路
JP2534782B2 (ja) * 1989-11-10 1996-09-18 株式会社東芝 半導体装置
JP2573392B2 (ja) * 1990-03-30 1997-01-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH0485792A (ja) * 1990-07-27 1992-03-18 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP3178859B2 (ja) * 1991-06-05 2001-06-25 株式会社東芝 ランダムアクセスメモリ装置およびそのパイプライン・ページモード制御方法
JP2830594B2 (ja) * 1992-03-26 1998-12-02 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
JPH06202933A (ja) * 1992-12-28 1994-07-22 Toshiba Corp 同期式大規模集積回路記憶装置
JPH07192470A (ja) * 1993-03-08 1995-07-28 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリの出力回路
US5488581A (en) * 1993-10-28 1996-01-30 Fujitsu Limited Semiconductor memory device
JP3013714B2 (ja) 1994-09-28 2000-02-28 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US5666071A (en) * 1995-12-01 1997-09-09 Advanced Micro Devices, Inc. Device and method for programming high impedance states upon select input/output pads

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