KR950001777A - 반도체 기억 장치 - Google Patents

반도체 기억 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR950001777A
KR950001777A KR1019940014422A KR19940014422A KR950001777A KR 950001777 A KR950001777 A KR 950001777A KR 1019940014422 A KR1019940014422 A KR 1019940014422A KR 19940014422 A KR19940014422 A KR 19940014422A KR 950001777 A KR950001777 A KR 950001777A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
change
semiconductor memory
address
detection means
Prior art date
Application number
KR1019940014422A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0148430B1 (ko
Inventor
야스히로 호따
Original Assignee
쯔지 하루오
샤프 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 쯔지 하루오, 샤프 가부시끼가이샤 filed Critical 쯔지 하루오
Publication of KR950001777A publication Critical patent/KR950001777A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0148430B1 publication Critical patent/KR0148430B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
    • G11C7/1027Static column decode serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled bit line addresses
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

본 발명의 반도체 기억장치에는 통상 액세스모드와 고속 액세스모드가 제공된다. 본 반도체 기억장치는 어드레스신호의 변화를 검출하기 위해 어드레스 신호의 일부인 각 비트신호를 위해 제공되는 변화검출수단; 상기 변화검출수단이 어드레스 신호의 변화를 검출할때 소정의 시간 동안 어드레스의 변화를 나타내는 신호를 발생하기 위한 타이머 수단; 및 각 액세스 모드에 있어서 액세스의 웨이트를 제어하는 신호로서 상기 타이머 수단에 의해 발생되는 신호를 출력하기 위한 출력수단을 포함한다.

Description

반도체 기억 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 어드레스변화 검출회로의 구성을 도시한 블럭도, 제2도는 본 발명의 1실시예에 따른 반도체 기억장치의 구성을 도시한 블럭도.

Claims (3)

  1. 어드레스신호의 변화를 검출하기 위해 어드레스 신호의 일부인 각 비트신호를 위해 제공되는 변화검출수단; 상기 변화검출수단이 어드레스 신호의 변화를 검출할때 소정의 시간 동안 어드레스의 변화를 나타내는 신호를 발생하기 위한 타이머 수단; 및 상기 타이머 수단에 의해 발생되는 신호를 각 액세스 모드에 있어서 액세스의 웨이트를 제어하는 신호로서 출력하기 위한 출력수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 변화검출수단은 비트신호가 입력되는 지연회로, 및 상기 비트신호와 상기 지연회로에서 소정 시간만큼 지연되는 비트 신호를 비교하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 고속 액세스 모드는 페이지 모드인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940014422A 1993-06-22 1994-06-21 반도체 기억장치 KR0148430B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP93-150852 1993-06-22
JP15085293A JPH07141889A (ja) 1993-06-22 1993-06-22 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950001777A true KR950001777A (ko) 1995-01-03
KR0148430B1 KR0148430B1 (ko) 1998-11-02

Family

ID=15505787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940014422A KR0148430B1 (ko) 1993-06-22 1994-06-21 반도체 기억장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5483498A (ko)
JP (1) JPH07141889A (ko)
KR (1) KR0148430B1 (ko)
TW (1) TW262557B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102503728B1 (ko) * 2022-12-26 2023-02-27 한전케이피에스 주식회사 노즐 부분 교체방법
KR102503724B1 (ko) * 2022-12-26 2023-02-27 한전케이피에스 주식회사 노즐 전체교체방법

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5526320A (en) * 1994-12-23 1996-06-11 Micron Technology Inc. Burst EDO memory device
US5675549A (en) * 1994-12-23 1997-10-07 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device address counter
US5640364A (en) * 1994-12-23 1997-06-17 Micron Technology, Inc. Self-enabling pulse trapping circuit
US5721859A (en) * 1994-12-23 1998-02-24 Micron Technology, Inc. Counter control circuit in a burst memory
US5610864A (en) 1994-12-23 1997-03-11 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device with maximized write cycle timing
US5682354A (en) * 1995-11-06 1997-10-28 Micron Technology, Inc. CAS recognition in burst extended data out DRAM
US6525971B2 (en) 1995-06-30 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Distributed write data drivers for burst access memories
JPH0982085A (ja) * 1995-09-13 1997-03-28 Sharp Corp 半導体記憶装置
US5729504A (en) * 1995-12-14 1998-03-17 Micron Technology, Inc. Continuous burst edo memory device
US7681005B1 (en) * 1996-01-11 2010-03-16 Micron Technology, Inc. Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation
US6981126B1 (en) 1996-07-03 2005-12-27 Micron Technology, Inc. Continuous interleave burst access
US6401186B1 (en) 1996-07-03 2002-06-04 Micron Technology, Inc. Continuous burst memory which anticipates a next requested start address
US5812470A (en) * 1996-09-10 1998-09-22 Micron Technology, Inc. Apparatus, system and method for identifying semiconductor memory access modes
JPH1145594A (ja) * 1997-07-30 1999-02-16 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
JP3016230B1 (ja) * 1999-04-01 2000-03-06 株式会社ビーコンインフォメーションテクノロジー デ―タ管理方法及び装置、記録媒体
US7927948B2 (en) 2005-07-20 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Devices with nanocrystals and methods of formation
KR100798795B1 (ko) * 2005-09-29 2008-01-29 주식회사 하이닉스반도체 내부 어드레스 생성장치 및 그의 구동방법
US7558146B2 (en) 2005-09-29 2009-07-07 Hynix Semiconductor, Inc. Internal address generator for use in semiconductor memory device
US7972974B2 (en) 2006-01-10 2011-07-05 Micron Technology, Inc. Gallium lanthanide oxide films

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59221891A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Toshiba Corp スタテイツク型半導体記憶装置
FR2619939B1 (fr) * 1987-09-01 1989-12-08 Thomson Semiconducteurs Circuit de detection de transitions d'adresses
KR930006970B1 (ko) * 1990-11-30 1993-07-24 현대전자산업 주식회사 어드레스 천이 검출회로
JPH0541088A (ja) * 1991-08-06 1993-02-19 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
JP2696026B2 (ja) * 1991-11-21 1998-01-14 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH05159577A (ja) * 1991-12-10 1993-06-25 Oki Electric Ind Co Ltd アドレス入力遷移検出回路およびこれを形成する連想メモリセル回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102503728B1 (ko) * 2022-12-26 2023-02-27 한전케이피에스 주식회사 노즐 부분 교체방법
KR102503724B1 (ko) * 2022-12-26 2023-02-27 한전케이피에스 주식회사 노즐 전체교체방법

Also Published As

Publication number Publication date
TW262557B (en) 1995-11-11
KR0148430B1 (ko) 1998-11-02
JPH07141889A (ja) 1995-06-02
US5483498A (en) 1996-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950001777A (ko) 반도체 기억 장치
KR880011801A (ko) 반도체 기억장치
KR960002354A (ko) 반도체 메모리 장치의 비트라인 센싱회로 및 그 방법
KR890012385A (ko) 반도체 집적회로
KR880005746A (ko) 반도체집적회로
KR960025791A (ko) 센스 앰프회로
KR940027318A (ko) 단열의 동적 예비충전 부스터 회로
KR890016677A (ko) 반도체메모리
KR930020443A (ko) 데이타 리텐션(dr)모드 컨트롤 회로
KR970060222A (ko) 동기형 반도체 메모리 장치
KR840003159A (ko) 인버어터 제어회로
KR940026965A (ko) 컬럼 어드레스 천이 검출회로
KR890015285A (ko) 반도체집적회로의 오동작방지회로
KR930022173A (ko) 마이크로컴퓨터
KR950024433A (ko) 데이타 출력 회로 및 반도체 기억 장치
KR930024018A (ko) 반도체 장치
KR910001772A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970055529A (ko) 메모리의 데이타 입력버퍼회로
KR960038980A (ko) 반도체 메모리장치
KR920003769A (ko) 서라운드 제어회로
KR930702763A (ko) 반도체 기억장치
KR950012457A (ko) 반도체 기억소자의 어드레스 입력장치
KR960025773A (ko) 칼럼 어드레스 스트로브 신호 래치 업 방지회로
KR960003090A (ko) 전압변화 대응 시간 지연회로
KR920018562A (ko) 리셋회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080508

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee