KR950001777A - 반도체 기억 장치 - Google Patents
반도체 기억 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950001777A KR950001777A KR1019940014422A KR19940014422A KR950001777A KR 950001777 A KR950001777 A KR 950001777A KR 1019940014422 A KR1019940014422 A KR 1019940014422A KR 19940014422 A KR19940014422 A KR 19940014422A KR 950001777 A KR950001777 A KR 950001777A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- change
- semiconductor memory
- address
- detection means
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1018—Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
- G11C7/1027—Static column decode serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled bit line addresses
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
본 발명의 반도체 기억장치에는 통상 액세스모드와 고속 액세스모드가 제공된다. 본 반도체 기억장치는 어드레스신호의 변화를 검출하기 위해 어드레스 신호의 일부인 각 비트신호를 위해 제공되는 변화검출수단; 상기 변화검출수단이 어드레스 신호의 변화를 검출할때 소정의 시간 동안 어드레스의 변화를 나타내는 신호를 발생하기 위한 타이머 수단; 및 각 액세스 모드에 있어서 액세스의 웨이트를 제어하는 신호로서 상기 타이머 수단에 의해 발생되는 신호를 출력하기 위한 출력수단을 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 어드레스변화 검출회로의 구성을 도시한 블럭도, 제2도는 본 발명의 1실시예에 따른 반도체 기억장치의 구성을 도시한 블럭도.
Claims (3)
- 어드레스신호의 변화를 검출하기 위해 어드레스 신호의 일부인 각 비트신호를 위해 제공되는 변화검출수단; 상기 변화검출수단이 어드레스 신호의 변화를 검출할때 소정의 시간 동안 어드레스의 변화를 나타내는 신호를 발생하기 위한 타이머 수단; 및 상기 타이머 수단에 의해 발생되는 신호를 각 액세스 모드에 있어서 액세스의 웨이트를 제어하는 신호로서 출력하기 위한 출력수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 변화검출수단은 비트신호가 입력되는 지연회로, 및 상기 비트신호와 상기 지연회로에서 소정 시간만큼 지연되는 비트 신호를 비교하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 고속 액세스 모드는 페이지 모드인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-150852 | 1993-06-22 | ||
JP15085293A JPH07141889A (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950001777A true KR950001777A (ko) | 1995-01-03 |
KR0148430B1 KR0148430B1 (ko) | 1998-11-02 |
Family
ID=15505787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940014422A KR0148430B1 (ko) | 1993-06-22 | 1994-06-21 | 반도체 기억장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5483498A (ko) |
JP (1) | JPH07141889A (ko) |
KR (1) | KR0148430B1 (ko) |
TW (1) | TW262557B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102503728B1 (ko) * | 2022-12-26 | 2023-02-27 | 한전케이피에스 주식회사 | 노즐 부분 교체방법 |
KR102503724B1 (ko) * | 2022-12-26 | 2023-02-27 | 한전케이피에스 주식회사 | 노즐 전체교체방법 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5526320A (en) * | 1994-12-23 | 1996-06-11 | Micron Technology Inc. | Burst EDO memory device |
US5675549A (en) * | 1994-12-23 | 1997-10-07 | Micron Technology, Inc. | Burst EDO memory device address counter |
US5640364A (en) * | 1994-12-23 | 1997-06-17 | Micron Technology, Inc. | Self-enabling pulse trapping circuit |
US5721859A (en) * | 1994-12-23 | 1998-02-24 | Micron Technology, Inc. | Counter control circuit in a burst memory |
US5610864A (en) | 1994-12-23 | 1997-03-11 | Micron Technology, Inc. | Burst EDO memory device with maximized write cycle timing |
US5682354A (en) * | 1995-11-06 | 1997-10-28 | Micron Technology, Inc. | CAS recognition in burst extended data out DRAM |
US6525971B2 (en) | 1995-06-30 | 2003-02-25 | Micron Technology, Inc. | Distributed write data drivers for burst access memories |
JPH0982085A (ja) * | 1995-09-13 | 1997-03-28 | Sharp Corp | 半導体記憶装置 |
US5729504A (en) * | 1995-12-14 | 1998-03-17 | Micron Technology, Inc. | Continuous burst edo memory device |
US7681005B1 (en) * | 1996-01-11 | 2010-03-16 | Micron Technology, Inc. | Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation |
US6981126B1 (en) | 1996-07-03 | 2005-12-27 | Micron Technology, Inc. | Continuous interleave burst access |
US6401186B1 (en) | 1996-07-03 | 2002-06-04 | Micron Technology, Inc. | Continuous burst memory which anticipates a next requested start address |
US5812470A (en) * | 1996-09-10 | 1998-09-22 | Micron Technology, Inc. | Apparatus, system and method for identifying semiconductor memory access modes |
JPH1145594A (ja) * | 1997-07-30 | 1999-02-16 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体記憶装置 |
JP3016230B1 (ja) * | 1999-04-01 | 2000-03-06 | 株式会社ビーコンインフォメーションテクノロジー | デ―タ管理方法及び装置、記録媒体 |
US7927948B2 (en) | 2005-07-20 | 2011-04-19 | Micron Technology, Inc. | Devices with nanocrystals and methods of formation |
KR100798795B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2008-01-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 어드레스 생성장치 및 그의 구동방법 |
US7558146B2 (en) | 2005-09-29 | 2009-07-07 | Hynix Semiconductor, Inc. | Internal address generator for use in semiconductor memory device |
US7972974B2 (en) | 2006-01-10 | 2011-07-05 | Micron Technology, Inc. | Gallium lanthanide oxide films |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59221891A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-13 | Toshiba Corp | スタテイツク型半導体記憶装置 |
FR2619939B1 (fr) * | 1987-09-01 | 1989-12-08 | Thomson Semiconducteurs | Circuit de detection de transitions d'adresses |
KR930006970B1 (ko) * | 1990-11-30 | 1993-07-24 | 현대전자산업 주식회사 | 어드레스 천이 검출회로 |
JPH0541088A (ja) * | 1991-08-06 | 1993-02-19 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体集積回路 |
JP2696026B2 (ja) * | 1991-11-21 | 1998-01-14 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JPH05159577A (ja) * | 1991-12-10 | 1993-06-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | アドレス入力遷移検出回路およびこれを形成する連想メモリセル回路 |
-
1993
- 1993-06-22 JP JP15085293A patent/JPH07141889A/ja active Pending
-
1994
- 1994-06-17 TW TW083105517A patent/TW262557B/zh active
- 1994-06-21 KR KR1019940014422A patent/KR0148430B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-06-22 US US08/263,819 patent/US5483498A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102503728B1 (ko) * | 2022-12-26 | 2023-02-27 | 한전케이피에스 주식회사 | 노즐 부분 교체방법 |
KR102503724B1 (ko) * | 2022-12-26 | 2023-02-27 | 한전케이피에스 주식회사 | 노즐 전체교체방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW262557B (en) | 1995-11-11 |
KR0148430B1 (ko) | 1998-11-02 |
JPH07141889A (ja) | 1995-06-02 |
US5483498A (en) | 1996-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR950001777A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR880011801A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960002354A (ko) | 반도체 메모리 장치의 비트라인 센싱회로 및 그 방법 | |
KR890012385A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR880005746A (ko) | 반도체집적회로 | |
KR960025791A (ko) | 센스 앰프회로 | |
KR940027318A (ko) | 단열의 동적 예비충전 부스터 회로 | |
KR890016677A (ko) | 반도체메모리 | |
KR930020443A (ko) | 데이타 리텐션(dr)모드 컨트롤 회로 | |
KR970060222A (ko) | 동기형 반도체 메모리 장치 | |
KR840003159A (ko) | 인버어터 제어회로 | |
KR940026965A (ko) | 컬럼 어드레스 천이 검출회로 | |
KR890015285A (ko) | 반도체집적회로의 오동작방지회로 | |
KR930022173A (ko) | 마이크로컴퓨터 | |
KR950024433A (ko) | 데이타 출력 회로 및 반도체 기억 장치 | |
KR930024018A (ko) | 반도체 장치 | |
KR910001772A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR970055529A (ko) | 메모리의 데이타 입력버퍼회로 | |
KR960038980A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR920003769A (ko) | 서라운드 제어회로 | |
KR930702763A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR950012457A (ko) | 반도체 기억소자의 어드레스 입력장치 | |
KR960025773A (ko) | 칼럼 어드레스 스트로브 신호 래치 업 방지회로 | |
KR960003090A (ko) | 전압변화 대응 시간 지연회로 | |
KR920018562A (ko) | 리셋회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20080508 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |