KR960038980A - 반도체 메모리장치 - Google Patents

반도체 메모리장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960038980A
KR960038980A KR1019950009793A KR19950009793A KR960038980A KR 960038980 A KR960038980 A KR 960038980A KR 1019950009793 A KR1019950009793 A KR 1019950009793A KR 19950009793 A KR19950009793 A KR 19950009793A KR 960038980 A KR960038980 A KR 960038980A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
detection signal
delayed
master
predetermined time
Prior art date
Application number
KR1019950009793A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0147633B1 (ko
Inventor
임성민
이철규
배명호
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950009793A priority Critical patent/KR0147633B1/ko
Publication of KR960038980A publication Critical patent/KR960038980A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0147633B1 publication Critical patent/KR0147633B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40611External triggering or timing of internal or partially internal refresh operations, e.g. auto-refresh or CAS-before-RAS triggered refresh
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로서, 특히 파워 온 동작을 검출신호를 발생하는 파워 온검출수단 ; 검출신호에 응답하여 인에이블되어 로우 어드레스 스트로브 신호를 입력하여 제1소정시간 지연된 신호를 제1마스터 신호로 출력하는 제1입력버퍼 ; 검출신호를 제2소정시간 지연시켜서 제1지연된 검출신호를 발생하는 제1지연수단 ; 제1지연된 검출신호에 응답하여 인에이블되어 컬럼어드레스 스트로브 신호를 입력하여 제3소정시간 지연된 신호를 제2마스터 신호로 출력하는 제2입력버퍼 ; 제1 및 제2마스터 신호를 입력하여/CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 트리거시키는 제3마스터 신호를 발생하기 리프레쉬 트리거수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명에는 파워 온시 클럭 업 스큐에 의한 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드의 세팅을 방지할 수 있다.

Description

반도체 메모리장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 의한 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 가지는 반도체 메모리 장치의 일부 구성을 나타낸 블럭도, 제7도는 제4도의 /CAS 입력버퍼의 구성을 나타낸 회로도, 제8도는 제4도의 리프레쉬 트리거수단의 구성을 나타낸 회로도.

Claims (3)

  1. 파워 온 동작을 검출하여 검출신호를 발생하는 파워 온 검출수단 ; 상기 검출신호에 응답하여 인에이블되어 로우 어드레스 스트로브 신호를 입력하여 제1소정시간 지연된 신호를 제1마스터 신호로 출력하는 제1입력버퍼 ; 상기 검출신호를 제2소정시간 지연시켜서 제1지연된 검출신호를 발생하는 제1지연수단 ; 상기 제1지연된 검출신호에 응답하여 인에이블되어 컬럼 어드레스 스트로브 신호를 입력하여 제3소정시간 지연된 신호를 제2마스터 신호로 출력하는 제2입력버퍼 ; 상기 제1 및 제2마스터 신호를 입력하여 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 트리거시키는 제3마스터 신호를 발생하기 리프레쉬 트리거수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 가진 반도체 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 장치는 상기 제1지연된 검출신호를 제4소정 시간 지연시켜서 제2지연된검출신호를 발생시키는 제2지연수단 ; 및 상기 제2지연된 검출신호에 응답하여 인에이블되어 외부제어신호들을 입력하여 제3소정시간 지연된 신호를 내부 제어신호들로 출력하는 제3입력버퍼를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 가진 반도체 메모리 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2소정 지연시간은 상기 제1마스터 신호가 활성화되기 전에 제2마스터신호가 활성화되는 것을 방지할 수 있을 정도의 지연시간인 것을 특징으로 하는 /CAS-before-/RAS 리프레쉬 모드를 가진 반도체 메모리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950009793A 1995-04-25 1995-04-25 반도체 메모리장치 KR0147633B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950009793A KR0147633B1 (ko) 1995-04-25 1995-04-25 반도체 메모리장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950009793A KR0147633B1 (ko) 1995-04-25 1995-04-25 반도체 메모리장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960038980A true KR960038980A (ko) 1996-11-21
KR0147633B1 KR0147633B1 (ko) 1998-11-02

Family

ID=19412906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950009793A KR0147633B1 (ko) 1995-04-25 1995-04-25 반도체 메모리장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0147633B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100487484B1 (ko) * 1997-06-24 2005-07-29 삼성전자주식회사 반도체메모리장치의리프래시제어회로

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100487484B1 (ko) * 1997-06-24 2005-07-29 삼성전자주식회사 반도체메모리장치의리프래시제어회로

Also Published As

Publication number Publication date
KR0147633B1 (ko) 1998-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940010082A (ko) 반도체메모리장치의 데이타출력버퍼
KR950001777A (ko) 반도체 기억 장치
KR940010083A (ko) 동기식 반도체메모리장치의 데이타출력버퍼
KR940010102A (ko) 어드레스 전이 검출기를 포함하는 개선된 반도체 기억장치
KR910001771A (ko) 반도체 메모리 장치
KR940022561A (ko) 반도체 메모리의 출력회로
KR900002304A (ko) 반도체 기억장치
KR970071799A (ko) 메모리제어회로
KR900017291A (ko) 지연 회로
KR960038980A (ko) 반도체 메모리장치
KR970029812A (ko) 컬럼 선택 신호 제어회로
KR960025707A (ko) 반도체메모리소자의 활성싸이클에서 사용되는 승압회로
KR960043523A (ko) 클램프기능을 가지는 데이타 출력버퍼
KR950015368A (ko) 반도체 메모리 소자의 데이타 출력장치
KR960039000A (ko) 기입 사이클 시간을 감소시키기 위해 펄스 발생기를 갖는 반도체 스태틱 메모리 장치
KR960038966A (ko) 반도체장치의 내부 승압회로
KR970012755A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970051226A (ko) 버스트 모드를 지원하는 내부 컬럼 어드레스 발생 회로
KR960025747A (ko) 최소 라스 액티브구간을 보장하는 자동 프리차아지기능을 가진 동기식 반도체메모리 장치
KR20010045945A (ko) 반도체 메모리의 어드레스 천이 검출 회로
KR930702763A (ko) 반도체 기억장치
KR970051225A (ko) 다이나믹 로우어드레스버퍼의 제어방법
KR970023423A (ko) 반도체 메모리장치의 워드라인 구동방법
KR960025734A (ko) 반도체 장치의 리프레쉬 제어방법 및 그 장치
KR19980037820A (ko) 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100429

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee