KR910015057A - 반도체집적회로 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 반도체집적회로에 설치된 모니터회로의 1실시예를 나타낸 블록도, 제2도는 제1도중 모니터 회로의 1구체예를 나타낸 회로도, 제3도는 각각 제2도에 나타낸 모니터회로를 사용한 불휘발성 반도체메모리의 일부를 나타낸 회로도.
Claims (7)
- 동일 칩상에 제어전압입력패드(11)와, 피측정소자(1)에 접속되면서 상기 제어전압입력패드(11)를 매개로 집적회로칩외부로부터 공급되는 제어전압에 따라 전류공급능력의 제어가 가능한 부하소자(12) 및, 상기 피측정소자(1)와 부하소자(12)의 접속점의 전위를 검지하는 전위검지회로(14)를 구비하여 구성되어 상기 전위검지회로(14)의 검지출력을 집적회로칩외부로부터 취출하도록 된 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 피측정소자(1)는 불휘발성 반도체메모리소자인 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제어전압입력패드(11)에 공급되는 제어전압에 따라 상기 부하소자(12)의 전류공급능력을 제어하는 부하제어소자(13)가 더 설치되고, 상기 부하소자(12)및 상기 부하제어소자(13)는 전류미러회로(CM)를 형성하도록 된 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 부하소자(12)및 그 전류공급능력을 제어하는 부하제어소자(13)는 MOS 트랜지스터로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항에 있어서, 테스트모드시에만 상기 부하소자(12)의 전류공급능력을 제어하도록 된 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제어전압입력패드(11)는 집적회로의 통상 동작 모드시에는 이용되는 다른 패드와 공용되도록 된 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.
- 제1항과 제2항, 제5항 및 제6항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전위검지회로는 상기 불휘발성 메모리소자의 데이터를 독출하기 위한 전위검지회로와 공용되도록 된 것을 특징으로 하는 반도체집적회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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