KR910009477B1 - 고체 전해질 캐패시터 - Google Patents
고체 전해질 캐패시터 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910009477B1 KR910009477B1 KR1019870015438A KR870015438A KR910009477B1 KR 910009477 B1 KR910009477 B1 KR 910009477B1 KR 1019870015438 A KR1019870015438 A KR 1019870015438A KR 870015438 A KR870015438 A KR 870015438A KR 910009477 B1 KR910009477 B1 KR 910009477B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive polymer
- capacitor
- polymer layer
- solid electrolyte
- polypyrrole
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 49
- 239000007787 solid Substances 0.000 title claims description 4
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 claims description 25
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 claims description 20
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 16
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 claims description 14
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 14
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 14
- OSVXSBDYLRYLIG-UHFFFAOYSA-N dioxidochlorine(.) Chemical group O=Cl=O OSVXSBDYLRYLIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 claims description 9
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims description 7
- 239000004155 Chlorine dioxide Substances 0.000 claims description 6
- 235000019398 chlorine dioxide Nutrition 0.000 claims description 6
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 19
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 16
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 14
- NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N manganese dioxide Chemical compound O=[Mn]=O NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- -1 halide anions Chemical class 0.000 description 11
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 8
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 8
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N Aniline Chemical compound NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N ammonium peroxydisulfate Substances [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VAZSKTXWXKYQJF-UHFFFAOYSA-N ammonium persulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)OOS([O-])=O VAZSKTXWXKYQJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001870 ammonium persulfate Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 description 3
- 239000011244 liquid electrolyte Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M potassium iodide Chemical compound [K+].[I-] NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N Peracetic acid Chemical compound CC(=O)OO KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N Trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N adipic acid Chemical compound OC(=O)CCCCC(O)=O WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M lithium perchlorate Chemical compound [Li+].[O-]Cl(=O)(=O)=O MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910001486 lithium perchlorate Inorganic materials 0.000 description 2
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N monobenzene Natural products C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 2
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 2
- WFMGQHBNGMIKCM-UHFFFAOYSA-M phenylmethanesulfonate;tetrabutylazanium Chemical compound [O-]S(=O)(=O)CC1=CC=CC=C1.CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC WFMGQHBNGMIKCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- AKEJUJNQAAGONA-UHFFFAOYSA-N sulfur trioxide Chemical compound O=S(=O)=O AKEJUJNQAAGONA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XTHPWXDJESJLNJ-UHFFFAOYSA-N sulfurochloridic acid Chemical compound OS(Cl)(=O)=O XTHPWXDJESJLNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HZNVUJQVZSTENZ-UHFFFAOYSA-N 2,3-dichloro-5,6-dicyano-1,4-benzoquinone Chemical compound ClC1=C(Cl)C(=O)C(C#N)=C(C#N)C1=O HZNVUJQVZSTENZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-difluorophenoxy)pyridin-3-amine Chemical compound NC1=CC=CN=C1OC1=CC=C(F)C=C1F LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMCHBSMFKQYNKA-UHFFFAOYSA-N 2-aminobenzenesulfonic acid Chemical class NC1=CC=CC=C1S(O)(=O)=O ZMCHBSMFKQYNKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 4-(3,5-dimethylphenyl)-1,3-thiazol-2-amine Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C=2N=C(N)SC=2)=C1 MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000001361 adipic acid Substances 0.000 description 1
- 235000011037 adipic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004996 alkyl benzenes Chemical class 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- LEURJORLFXXDGJ-UHFFFAOYSA-N dodecapotassium fluoro(dioxido)borane Chemical compound [K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[K+].[O-]B([O-])F.[O-]B([O-])F.[O-]B([O-])F.[O-]B([O-])F.[O-]B([O-])F.[O-]B([O-])F LEURJORLFXXDGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- UQSQSQZYBQSBJZ-UHFFFAOYSA-N fluorosulfonic acid Chemical compound OS(F)(=O)=O UQSQSQZYBQSBJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- CBEQRNSPHCCXSH-UHFFFAOYSA-N iodine monobromide Chemical compound IBr CBEQRNSPHCCXSH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003002 lithium salt Inorganic materials 0.000 description 1
- 159000000002 lithium salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910001496 lithium tetrafluoroborate Inorganic materials 0.000 description 1
- MIVBAHRSNUNMPP-UHFFFAOYSA-N manganese(2+);dinitrate Chemical compound [Mn+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O MIVBAHRSNUNMPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- LRPCLTPZMUIPFK-UHFFFAOYSA-N methane;sulfuric acid Chemical compound C.OS(O)(=O)=O LRPCLTPZMUIPFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- PDKHNCYLMVRIFV-UHFFFAOYSA-H molybdenum;hexachloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Mo] PDKHNCYLMVRIFV-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N nitrogen dioxide Inorganic materials O=[N]=O JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-M perchlorate Inorganic materials [O-]Cl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N perchloric acid Chemical compound OCl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L persulfate group Chemical group S(=O)(=O)([O-])OOS(=O)(=O)[O-] JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- LFGREXWGYUGZLY-UHFFFAOYSA-N phosphoryl Chemical group [P]=O LFGREXWGYUGZLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000414 polyfuran Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910001499 potassium hexafluoroborate Inorganic materials 0.000 description 1
- USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L potassium persulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 235000009518 sodium iodide Nutrition 0.000 description 1
- BAZAXWOYCMUHIX-UHFFFAOYSA-M sodium perchlorate Chemical compound [Na+].[O-]Cl(=O)(=O)=O BAZAXWOYCMUHIX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001488 sodium perchlorate Inorganic materials 0.000 description 1
- CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L sodium persulfate Substances [Na+].[Na+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 150000003871 sulfonates Chemical class 0.000 description 1
- 125000005207 tetraalkylammonium group Chemical group 0.000 description 1
- PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N tetracyanoquinodimethane Chemical compound N#CC(C#N)=C1C=CC(=C(C#N)C#N)C=C1 PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/022—Electrolytes; Absorbents
- H01G9/025—Solid electrolytes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/30—Electrodes characterised by their material
- H01G11/48—Conductive polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/54—Electrolytes
- H01G11/56—Solid electrolytes, e.g. gels; Additives therein
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/02—Diaphragms; Separators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/022—Electrolytes; Absorbents
- H01G9/025—Solid electrolytes
- H01G9/028—Organic semiconducting electrolytes, e.g. TCNQ
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/13—Energy storage using capacitors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
제1도는 본 발명의 일실시예에 따른 고체 전해질 캐패시터의 구조를 나타낸 부분 단면도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 전극 2 : 유전체 산화물 피막
3,4 : 도전성 폴리머 층
본 발명은 고체 전해질로서 도전성 폴리머를 사용하는 고체 전해질 캐패시터에 관한 것이다.
근년에 이르러서 디지탈 장치의 개발로 우수한 고주파 특성을 갖는 대용량 캐패시터의 수요가 증가하고 있으며, 이에 따라 도전성 폴리머를 이 분야에 적용하는 연구가 집중되고 있다.
우수한 고주파 특성을 갖는 캐패시터로 공지된 것의 예를들면 박막, 운무 및 세라막 캐패시터가 있다. 그러나, 이들 종래의 캐패시터는 1㎌이상의 정전용량을 얻을 수 있는 캐패시터로 제작할 경우, 크기가 증대하게 되고 제조비용 역시 상당히 상승하게 되는 문제점이 있다.
대용량 캐패시터로 공지된 전해질 캐패시터는 두가지형, 즉 액체 전해질이 함침된 액체 전해질 형과 고체 전해질로서 이산화망간을 사용하는 고체 전해질 형이 있다. 전자의 액체 상태의 전해질을 사용하는 전해질 캐패시터는 이온 도전성을 이용하는 것이며, 따라서 고주파 영역에 있어서 저항이 현저하게 증대하게 되므로 이로 인해 캐패시터의 임피이던스가 바람직하지 않게 증가하게 된다. 후자의 전해질 캐패시터의 경우 고체 전해질로서 이산화망간 및 7,7,8,8-테트라시아노퀴노디메탄(이후 TCNQ라함)과 전자 도우너와의 조합물로된 전하전달 착체가 사용된다.
고체 전해질로서 이산화망간을 사용하는 전해질 캐패시터는 이산화망간이 불용성 고체물질이기 때문에 질산망간을 열분해하여 수득한다. 이 전해질 캐패시터 또한 한편으로는 이산화망간의 비저항이 비교적 높고, 또 한편으로는 이산화망간을 수득하는데 있어서 여러번 열분해를 하기 때문에 임피이던스가 비교적 높다. 또 이 전해질 캐패시터상에 형성한 유전체산화물 피막이 손상되기 쉬우며 이에 따라 캐패시터의 전류손실량이 현저하게 증대하게 된다.
고체전해질로서 TCNQ와 전자 도우너의 조합물로된 전하전달 착체를 사용하는 전해질 캐패시터는 이미 제안이 되어 있다(참조:일본국 공개 특허공보 제191414/1983, 동 제17609/1983호). 그러나, 이러한 전도성이 높은 TCNQ전하 전달 착체는 열적 안정성이 전열체가 되도록 캐패시터를 제조하는 동안 분해되는 위험이 따르게 된다.
고체 전해질로서 전기화학적 중합 방법으로 얻는 헤테로시클릭 폴리머를 사용하는 전해질 캐패시터는 근래에 제안되었다[참조 : 일본국 공개 특허공보 제244017/1985호, 제2315/1986호].
상기한 전해질 캐패시터는 유전체 산화물피막이 있는 전극과 전기화화적 산화법에 의해 형성된 도전성 헤테로시클릭 폴리머로된 고체 전해질로 구성되어 있다. 그러나, 유전체 산화물 피막이 절연체이기 때문에, 유전체 산화물 피막에 도전성 헤테로시클릭 폴리머를 형성시키는 것은 불가능하거나 최소한의 어려움이 따른다.
통상적으로, 도전성 폴리머는 화학적 산화법 또는 전기화학적 산화법으로 형성시킨다. 전자의 방법으로 얻는 폴리머는 기계적 강도가 낮으며, 후자의 방법은 유전체 산화물 피막이 절연체이기 때문에 유전체 산화물 피막상에서 폴리머가 형성되지 않는다.
본 발명의 제 1의 목적은 캐패시터용 고체전해질로서 도전성 폴리머를 사용함으로써 전해질 캐패시터를 제공하는데 있다.
본 발명은 제 2의 목적은 종래의 캐패시터에 비해 전기적 특성 및 열적 안정성이 뛰어난 전해질 캐패시터를 제공하는데 있다.
본 발명의 기타의 목적 및 잇점은 당해 기술분야에 통상의 지식을 가진자에게는 후술하는 상세한 설명으로부터 자명하게 될 것이다.
본 발명자들은 상기한 목적을 달성하기 위해 광범위한 연구를 하여 점착성 유전체 산화물 피막이 있는 전극과, 모노머를 산화제와 접촉반응시키는 화화적 산화법으로 형성시킨 도전성 폴리머 층(Ⅰ) 및 전기화화적 산화법으로 형성시킨 도전성 폴리머 층(Ⅱ)으로 이루어진 고체 전해질을 결합하여 구성시킨 고체전해질 캐패시터를 제공함으로써 상기한 선행 기술의 단점을 해소시킬 수 있다는 것을 알아내었다.
본 발명은 구체화한 캐패시터의 구조를 나타내는 첨부된 도면에 의거하여 본 발명을 더욱 잘 이해할 수 있을 것이다.
전기화학적 처리로 거칠게한 전극(1)의 표면을 전기화학적 산화처리 또는 공기 산화처리로 산화시켜서 유전체 산화물피막(2)을 전극에 형성시킨다.
0.001몰/ℓ 내지 2몰/ℓ농도로 산화제를 함유한 용액을 침지, 도포 또는 분무에 의해 유전체 산화물 피막위에 균일하게 분산시킨 다음 도전성 폴리머의 모노머(Ⅰ) 또는 농도 0.01몰/ℓ이상의 모노머 용액과 접촉반응시킨다. 이에 따라 화학적 산화법에 의해 수득된 도전성 폴리머 층(3)이 유전체 산화물 피막(2)에 형성된다. 도전성 폴리머 층(3)은 모노머를 산화제와 접촉반응시키는 역 방법으로 형성할 수 있다.
도전성 폴리머 층(3)은 전기중합용 양극으로서 사용된다. 전기화학적 산화법으로 수득한 도전성 폴리머층(4)은 0.01몰/ℓ 내지 5몰/ℓ농도의 도전성 폴리머(Ⅱ)의 모노머 용액과 농도 0.01몰/ℓ 내지 2몰/ℓ의 전해질 염을 함유하는 전지내에서 형성된다. 따라서, 도전성 폴리머 층(4)은 도전성 폴리머 층(3)위에 형성된다. 대향 전극은 도전성 점착제(Ag페이스트 등)를 사용하여 도전성 폴리머 층(4)과 접촉 반응시킨다. 본 발명의 캐패시터는 상기한 과정에 의해 완성시킨 후 에폭시수지로 성형된다.
본 발명의 캐패시터에서 사용되는 전극은 일반적으로 알루미늄 또는 탄탈륨중에서 선택한다.
통상적으로 사용되는 산화제는 요오드, 브롬 및 요오드화 브롬과 같은 할로겐 ; 5플루오르화 안티몬, 5-플루오르화 비소, 4플루오르화 실리콘, 5염화 인, 5플루오르화 인, 염화제2철, 염화알루미늄 및 염화몰리브덴과 같은 할로겐화물, 황산, 질산, 플루오르황산, 트리플루오로메탄 황산 및 클로로황산과 같은 프로톤산: 3산화황, 이산화질소 및 이산화 염소와 같은 산소함유 화합물: 과황산 나트륨, 과황산 칼륨 및 과황산 암모늄과 같은 과황산염 및 과산화수소, 과아세트산 및 과산화 디플루오로설포닐과 같은 과산화물이 포함된다.
상기한 산화제중 바람직한 것은 이산화염소 및 과황산암모늄이다.
상기의 화학적 산화법에 의해 형성된 도전성 폴리머 층(Ⅰ)은 일반적으로 폴리피롤, 폴리티오펜, 폴리아닐린 및 폴리퓨란중에서 선택된다. 상기한 도전성 폴리머 층(Ⅰ)의 바람직한 폴리머는 폴리피롤 또는 폴리아닐린이다.
상기한 전해질염은 음이온과 양이온으로 이루어진다. 통상적으로 사용되는 음이온은 헥사플루오로포스페이트, 헥사플루오로아르센에이트, 테트라플루오로보레이트 및 퍼클로레이트와 같은 할로겐화 음이온 : 클로라이드, 브로마이드 및 요다이드와 같은 할라이드 및 알킬벤젠설포네이트, 아미노벤젠설포네이트, 벤젠설포네이트 및/ β-나프탈렌설포네이트와 같은 설포네이트가 포함된다. 가장 바람직한 음이온은 설포네이트이다.
통상적으로 사용되는 양이온은 리튬, 나트륨 및 칼륨과 같은 알카리 금속 양이온과 암모늄 및 테트라알킬암모늄과 같은 암모늄 양이온이 포함된다.
적합한 전해질 염은 헥사플루오로인산리튬, 헥사플루오로비산리튬, 과염소산리튬, 요오드화나트륨, 헥사플루오로인산나트륨, 과염소산나트륨, 요오드화칼륨, 헥사플루오로인산칼륨, 헥사플루오로비산칼륨, 과염소칼륨, 테트라플루오로붕산리튬 및 테트라부틸암모늄 톨루엔 설포네이트가 포함된다.
전기화학적 산화법에 의해 형성된 도전성 폴리머 층(Ⅱ)은 일반적으로 폴리피롤, 폴리티오펜, 폴리아닐린 및 폴리튜란중에서 선택된다. 가장 바람직한 도전성 폴리머 층(Ⅱ)은 폴리피롤 또는 폴리아닐린이다.
전해질로서 TCNQ전하 전달 착체를 함유하는 전기 캐패시터가 우수한 고주파 특성을 갖고 있다는 것은 공지되어 있다. 그러나, TCNQ전하 전달 착체는 열적안정성이 열화되기 때문에 이 착체는 절연체가 되도록 캐패시터를 제작하는 동안에 분해하는 위험이 따르게 된다. 더욱이, 유전체 산화물 피막이 절연체이기 때문에, 이 피막을 갖는 전극상에 전기화학적 산화법으로 기계적 강도가 뛰어난 도전성 헤테로시클릭 폴리머를 형성시키는 것은 불가능하다.
상기한 여러단점은 본 발명의 고체 전해질 캐패시터로 해소시킬 수 있다. 고체 전해질로서 유기 반도체를 갖는 이고체 전해질 캐패시터는 전기적 특성 및 열적 안정성이 모두 우수하다.
본 발명을 다음 실시예로 더욱 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 이들 실시예로 제한되는 것은 아니다.
[실시예 1]
표면에 전기화학적 산화처리하여 형성된 유전체 산화 알루미늄 피막을 갖는 알루미늄 양극박(두께 60㎛)을 0.04몰/ℓ의 과황산 암모늄을 함유하는 수용액에 감압하 10분간 침지한 후 건조한다.
양극박을 2.0몰/ℓ의 피롤모노머를 함유하는 아세토니트릴에 감압하 10분간 침지한 다음, 화학적 산화법으로 유전체 산화 알루미늄 피막상에 폴리피롤의 박층을 형성한다.
연속적으로, 양극박을 피롤모노머 0.2몰/ℓ, 옥살산 0.02몰/ℓ 및 테트라부틸 암모늄 톨루엔설포네이트0.05몰/1의 전해질을 함유하는 수용액에 침지한다. 양극박을 양극으로, 스테인레스 스틸판을 음극으로 사용한다. 전류밀도 0.5㎃/㎠하에서 150분간 인가하여 양극박상에 갈바노정적으로(galvano-statically)폴리피롤의 균일한 블랙층을 형성한다. Ag페이스트를 사용하여 대향 전극을 폴리피롤의 블랙층과 접촉시켜 캐패시터를 형성하고, 에폭시 수지로 성형한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[실시예 2]
표면에 전기화학적 산화처리하여 형성된 유전체 산화 알루미늄 피막을 갖는 알루미늄 양극박(두께 60㎛)상에 0.1몰/ℓ의 요오드를 함유하는 에틸에테르를 분사한 후 건조한다.
양극박을 피롤모노머에 감압하 30분간 침지한 후, 화학적 산화법으로 유전체 산화알루미늄 피막상에 폴리피롤의 블랙층을 형성한다. 이후 공정은 실시예 1과 유사한 방법으로 실시한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[실시예 3]
표면에 유전체 산화 알루미늄 피막을 갖는 알루미늄 양극박(두께 60㎛)을 0.02몰/ℓ의 염화제이철을 함유하는 수용액에 감압하 2시간 침지한 후 건조한다.
양극박을 0.1몰/ℓ의 피롤모노머를 함유하는 수용액에 30분간 침지한후, 화학적 산화법으로 유전체 산화알류미늄 피막상에 폴리피롤의 블랙층을 형성한다. 이후 공정은 실시예 1과 유사한 방법으로 실시한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[실시예 4]
표면에 전기화학적 산화법으로 형성된 유전체 산화 알루미늄 피막을 갖는 알루미늄 양극박(두께 60㎛)을 피롤모노머에 침지한다. 5용량%의 이산화염소를 함유하는 가스상 혼합물을 양극박과 5분간 접촉시킨후, 화학적 산화법으로 유전체 산화 알류미늄 피막상에 폴리피롤의 블랙층을 형성한다. 이후 공정은 실시예 1과 유사한 방법으로 실시한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[비교예 1]
화학적 산화법으로 유전체 산화알루미늄 피막상에 폴리피롤층이 형성되는 것을 제외하고는 실시예 1과 유사하게 전기화학적 산화처리를 실시한다. 유전체 산화알루미늄 부분상에만 폴리피롤이 형성되고, 폴리피롤의 균일한 층이 형성되지는 않는다.
[실시예 5]
표면에 전기화학적 산화처리하여 형성된 유전체 산화알류미늄 피막을 갖는 알루미늄 양극박(두께 60㎛)을 아닐린 모노머에 침지한다.
5용량%의 이산화 염소를 함유하는 가스상 혼합물을 양극박과 10분간 접촉시킨 후, 화학적 산화법으로 유전체 산화알루미늄 피막상에 폴리아닐린 층을 형성한다.
연속적으로, 양극박을 아닐린 모노머 1.0몰/ℓ 및 황산 1.0몰/ℓ의 전해질을 함유하는 수용액에 침지한다. 양극박을 양극으로, 백금판을 음극으로 사용한다. 전류밀도 0.5mA/㎠하에서 150분간 인가하여 갈바노정적으로 양극박에서 폴리아닐린의 균일한 암록색 층을 형성한다. Ag페이스트를 사용하여 대향 전극을 폴리아닐린의 암록색 층과 첩촉시켜 캐패시터를 형성하고, 에폭시 수지로 성형한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
표면에 전기화학적 산화처리하여 형성된 유전체 산화탄탈륨 피막을 갖는 소결 탄탈륨 양극펠릿을 0.04몰/ℓ의 과황산 암모늄을 함유하는 수용액에 감압하 5분간 침지한 후 건조한다.
양극펠릿을 피롤모노머 2.0몰/ℓ 및 아디프산 0.02몰/ℓ을 함유하는 수용액에 감압하 10분간 침지한다.
화학적 산화법으로 유전체 산화탄탈륨상에 폴리피롤을 박층을 형성한다.
연속적으로, 양극펠릿을 피롤모노머 0.2몰/ℓ, 옥살산 0.02몰/ℓ 및 과염화리튬 0.05몰/ℓ의 전해질을 함유하는 수용액에 침지한다.
양극펠릿을 양극으로, 스테인레스 스틸판으로 음극으로 사용한다. 전류밀도 0.5mA/㎠하에서 150분간 인가하여 갈바노정적으로 양극펠릿상에 폴리피롤의 균일한 블랙층을 형성한다. Ag페이스트를 사용하여 대향 전극을 폴리피롤의 블랙층과 접촉시켜 캐패시터를 형성하고, 에폭시 수지로 성형한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[실시예 7]
표면에 전기화학적 산화처리하여 형성된 유전체 산화탄탈륨 피막을 갖는 소결 탄탈륨 양극펠릿을 피롤모노머에 침지한다.
5용량%의 이산화염소를 함유하는 가스상 혼합물을 양극 펠릿과 5분간 접촉시킨 후, 화학적 산화법으로 유전체 산화탄탈륨상에 폴리피롤의 블랙층을 형성한다.
이후 공정은 실시예 6과 유사한 방법으로 실시한다.
형성된 캐패시터의 특성은 표 1에 나타낸 바와 같다.
[표 1]
표 1에서, Cap는 120Hz에서의 정전 용량을 나타내고, tan δ는 120Hz에서의 유전체 소실각을 나타낸다. 실시예에서 사용한 알루미늄 양극박 및 탄탈륨 펠릿의 정전용량은 붕산g/ℓ, 구연산 50g/ℓ 및 암모니아수 50ml/ℓ의 액체 전해질을 함유하는 수용액을 사용하는 경우, 각각 2.0㎌/㎠ 및 0.1㎌를 나타낸다.
Claims (5)
- 점착성 유전체 산화물 피막을 갖는 전극과, 모노머를 산화제와 접촉반응시키는 화학적 산화법에 의해 형성된 도전성 폴리머 층(Ⅰ) 및 전기화학적 산화법에 의해 도전성 폴리머 층(Ⅰ)상에 형성된 도전성 폴리머 층(Ⅱ)으로된 고체 전해질을 결합하여 구성시킨 전기적 특성 및 열적안정성을 갖는 고체 전해질 캐패시터.
- 제1항에 있어서, 전극을 알루미늄 또는 탄탈륨으로 제조한 고체전해질 캐패시터.
- 제1항에 있어서, 도전성 폴리머 층(Ⅰ)이 폴리피롤 또는 폴리아닐린인 고체 전해질 캐패시터.
- 제1항에 있어서, 산화제가 이산화 염소인 고체 전해질 캐패시터.
- 제1항에 있어서, 도전성 폴리머 층(Ⅱ)이 폴리피롤 또는 폴리아닐린인 고체전해질 캐패시터.
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP87-4053 | 1987-01-13 | ||
JP62-4053 | 1987-01-13 | ||
JP62004053A JPS63173313A (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 固体電解コンデンサ |
JP87-28197 | 1987-02-12 | ||
JP62028197A JPS63197319A (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | 固体電解コンデンサ |
JP62-28197 | 1987-02-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR880009402A KR880009402A (ko) | 1988-09-15 |
KR910009477B1 true KR910009477B1 (ko) | 1991-11-16 |
Family
ID=26337759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870015438A KR910009477B1 (ko) | 1987-01-13 | 1987-12-30 | 고체 전해질 캐패시터 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4780796A (ko) |
EP (1) | EP0274755B1 (ko) |
KR (1) | KR910009477B1 (ko) |
DE (1) | DE3773166D1 (ko) |
Families Citing this family (87)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4934033A (en) * | 1987-01-23 | 1990-06-19 | Nitsuko Corporation | Method of manufacturing a solid electrolytic capacitor |
DE3814730A1 (de) * | 1988-04-30 | 1989-11-09 | Bayer Ag | Feststoff-elektrolyte und diese enthaltende elektrolyt-kondensatoren |
DE68925437T2 (de) * | 1988-05-20 | 1996-08-14 | Sanyo Electric Co | Verfahren zum Herstellen einer Elektrode für einen Festelektrolytkondensator |
US4959753A (en) * | 1988-09-09 | 1990-09-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same |
KR0184637B1 (ko) * | 1989-06-20 | 1999-05-15 | 이우에 사또시 | 고체 전해 콘덴서의 제조 방법 |
US5119274A (en) * | 1989-12-29 | 1992-06-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solid capacitor |
JP3036027B2 (ja) * | 1990-08-31 | 2000-04-24 | 日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
US5223002A (en) * | 1991-10-31 | 1993-06-29 | Sprague Electric Company | Method of making polyaniline solid electrolyte capacitor |
JP3396894B2 (ja) * | 1992-05-14 | 2003-04-14 | ソニー株式会社 | 音響再生装置 |
US5357399A (en) * | 1992-09-25 | 1994-10-18 | Avx Corporation | Mass production method for the manufacture of surface mount solid state capacitor and resulting capacitor |
US5672377A (en) * | 1992-12-17 | 1997-09-30 | Nec Corporation | Method of forming a solid electrolytic capacitor |
US5469325A (en) * | 1993-03-22 | 1995-11-21 | Evans Findings Co. | Capacitor |
US5982609A (en) * | 1993-03-22 | 1999-11-09 | Evans Capacitor Co., Inc. | Capacitor |
US5394295A (en) * | 1993-05-28 | 1995-02-28 | Avx Corporation | Manufacturing method for solid state capacitor and resulting capacitor |
JP2765462B2 (ja) * | 1993-07-27 | 1998-06-18 | 日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
JPH0745481A (ja) * | 1993-07-29 | 1995-02-14 | Nec Corp | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
JP3694038B2 (ja) * | 1993-09-09 | 2005-09-14 | 日東電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
JP2580980B2 (ja) * | 1993-10-20 | 1997-02-12 | 日本電気株式会社 | タンタル固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
JPH07135126A (ja) * | 1993-11-10 | 1995-05-23 | Nec Corp | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
JP2937716B2 (ja) * | 1993-11-18 | 1999-08-23 | 日本電気株式会社 | タンタル固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
GB9412633D0 (en) * | 1994-06-23 | 1994-08-10 | Aromascan Plc | Semiconducting organic polymers |
JP2536458B2 (ja) * | 1994-08-16 | 1996-09-18 | 日本電気株式会社 | ジスルホン酸化合物、それをド―パントとする導電性高分子、導電材およびそれを用いた固体電解コンデンサ |
US5812367A (en) * | 1996-04-04 | 1998-09-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solid electrolytic capacitors comprising a conductive layer made of a polymer of pyrrole or its derivative |
US5731948A (en) * | 1996-04-04 | 1998-03-24 | Sigma Labs Inc. | High energy density capacitor |
JP3235475B2 (ja) † | 1996-07-16 | 2001-12-04 | 日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
JP3251208B2 (ja) * | 1997-07-24 | 2002-01-28 | 富山日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
US6168639B1 (en) | 1997-10-09 | 2001-01-02 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Solid electrolyte capacitor, and process and apparatus for producing same |
US6328874B1 (en) | 1998-01-05 | 2001-12-11 | Mcdonnell Douglas Corporation | Anodically formed intrinsically conductive polymer-aluminum oxide composite as a coating on aluminum |
JPH11283874A (ja) | 1998-01-28 | 1999-10-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサ |
US6185091B1 (en) * | 1998-02-09 | 2001-02-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Four-terminal capacitor |
US6351370B1 (en) * | 1998-03-19 | 2002-02-26 | Showa Denko K.K. | Solid electrolytic capacitor and method for producing the same |
US6344966B1 (en) | 1998-09-08 | 2002-02-05 | Showa Denko K.K. | Solid electrolytic capacitor and method for producing the same |
US6466421B1 (en) | 1998-05-21 | 2002-10-15 | Showa Denko K.K. | Solid electrolytic capacitor and method for producing the same |
DE69939262D1 (de) * | 1998-06-25 | 2008-09-18 | Nichicon Corp | Verfahren zur herstellung eines festelektrolytkondensators |
KR100548919B1 (ko) * | 1998-07-06 | 2006-02-20 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 도전성중합체, 고체전해콘덴서 및 그의 제조방법 |
US6208502B1 (en) | 1998-07-06 | 2001-03-27 | Aerovox, Inc. | Non-symmetric capacitor |
JP3667531B2 (ja) * | 1998-07-07 | 2005-07-06 | 松下電器産業株式会社 | 電解コンデンサの製造方法 |
US6663796B1 (en) | 1998-12-25 | 2003-12-16 | Showa Denko K.K. | Electrical conducting polymer, solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof |
JP2000235937A (ja) * | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
US6660188B1 (en) | 1999-04-13 | 2003-12-09 | Showa Denko K.K. | Electrical conducting polymer, solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof |
JP2001044080A (ja) * | 1999-07-30 | 2001-02-16 | Nec Corp | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
WO2001016972A1 (en) | 1999-08-31 | 2001-03-08 | Vishay Intertechnology, Inc. | Conductive polymer capacitor and method for making same |
EP1294021A1 (de) * | 2001-08-31 | 2003-03-19 | Infineon Technologies AG | Kondensatoreinrichtung für eine Halbleiterschaltungsanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
KR100861500B1 (ko) * | 2001-10-09 | 2008-10-02 | 에스케이케미칼주식회사 | 고체 전해커패시터의 제조방법 |
TWI254333B (en) | 2002-03-18 | 2006-05-01 | Sanyo Electric Co | Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing same |
JP2004200000A (ja) * | 2002-12-18 | 2004-07-15 | Nippon Paint Co Ltd | 固体電解質及びそれを用いた蓄電素子 |
US7151538B2 (en) * | 2003-02-28 | 2006-12-19 | Sony Corporation | Display device and projection type display device |
JP4383204B2 (ja) * | 2003-03-31 | 2009-12-16 | 三洋電機株式会社 | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
US6972473B2 (en) * | 2003-08-12 | 2005-12-06 | Tessera, Inc. | Structure and method of making an enhanced surface area capacitor |
ATE549728T1 (de) * | 2003-10-20 | 2012-03-15 | Showa Denko Kk | Verfahren zur herstellung eines kondensators |
US20050278915A1 (en) * | 2004-06-18 | 2005-12-22 | Vannatta Guy C Jr | Spray coating of cathode onto solid electrolyte capacitors |
US8238350B2 (en) | 2004-10-29 | 2012-08-07 | Emc Corporation | Message batching with checkpoints systems and methods |
US8055711B2 (en) | 2004-10-29 | 2011-11-08 | Emc Corporation | Non-blocking commit protocol systems and methods |
JP4553770B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2010-09-29 | 三洋電機株式会社 | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
JP4804235B2 (ja) * | 2005-08-29 | 2011-11-02 | 三洋電機株式会社 | 固体電解コンデンサ素子、その製造方法および固体電解コンデンサ |
US7797283B2 (en) * | 2005-10-21 | 2010-09-14 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for maintaining distributed data |
US7788303B2 (en) * | 2005-10-21 | 2010-08-31 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for distributed system scanning |
TWI479509B (zh) * | 2006-02-09 | 2015-04-01 | 信越聚合物股份有限公司 | 導電性高分子溶液、導電性塗膜、電容器,以及電容器之製造方法 |
US7848261B2 (en) | 2006-02-17 | 2010-12-07 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for providing a quiescing protocol |
TWI404090B (zh) * | 2006-02-21 | 2013-08-01 | Shinetsu Polymer Co | 電容器及電容器之製造方法 |
US7563290B2 (en) * | 2006-07-06 | 2009-07-21 | Kemet Electronics Corporation | High voltage solid electrolytic capacitors using conductive polymer slurries |
US7822932B2 (en) | 2006-08-18 | 2010-10-26 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for providing nonlinear journaling |
US7899800B2 (en) | 2006-08-18 | 2011-03-01 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for providing nonlinear journaling |
US7882071B2 (en) | 2006-08-18 | 2011-02-01 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for a snapshot of data |
JP4730908B2 (ja) * | 2006-11-28 | 2011-07-20 | Necトーキン株式会社 | 固体電解コンデンサ |
US8286029B2 (en) | 2006-12-21 | 2012-10-09 | Emc Corporation | Systems and methods for managing unavailable storage devices |
US8057553B2 (en) * | 2007-03-15 | 2011-11-15 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing solid electrolytic capacitor and solid electrolytic capacitor |
US7900015B2 (en) | 2007-04-13 | 2011-03-01 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods of quota accounting |
US8966080B2 (en) | 2007-04-13 | 2015-02-24 | Emc Corporation | Systems and methods of managing resource utilization on a threaded computer system |
JP2009009998A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | コンデンサ及びその製造方法 |
US7882068B2 (en) | 2007-08-21 | 2011-02-01 | Isilon Systems, Inc. | Systems and methods for adaptive copy on write |
JP2009267232A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | コンデンサ及びその製造方法 |
JP4547466B2 (ja) | 2008-12-15 | 2010-09-22 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
JP2011082313A (ja) * | 2009-10-06 | 2011-04-21 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 固体電解キャパシタ及びその製造方法 |
JP2012129293A (ja) | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体電解コンデンサおよびその製造方法 |
CN103733286B (zh) | 2011-08-17 | 2017-02-08 | 三菱丽阳株式会社 | 固体电解电容器及其制造方法 |
JPWO2014050077A1 (ja) * | 2012-09-26 | 2016-08-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
TWI597313B (zh) | 2015-12-24 | 2017-09-01 | 財團法人工業技術研究院 | 導電組成與電容器 |
CN107017087B (zh) | 2015-12-28 | 2019-05-14 | 财团法人工业技术研究院 | 电容结构 |
US10381165B2 (en) | 2016-05-20 | 2019-08-13 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor for use at high temperatures |
US10475591B2 (en) | 2016-11-15 | 2019-11-12 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor for use in a humid atmosphere |
US10504657B2 (en) | 2016-11-15 | 2019-12-10 | Avx Corporation | Lead wire configuration for a solid electrolytic capacitor |
US10643797B2 (en) | 2016-11-15 | 2020-05-05 | Avx Corporation | Casing material for a solid electrolytic capacitor |
US11004615B2 (en) | 2017-12-05 | 2021-05-11 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor for use at high temperatures |
CN112136194B (zh) | 2018-06-21 | 2022-05-31 | 京瓷Avx元器件公司 | 在高温下具有稳定电性质的固体电解质电容器 |
CN113678217B (zh) | 2019-05-17 | 2023-06-23 | 京瓷Avx元器件公司 | 抗分层固体电解电容器 |
US11404220B2 (en) | 2019-09-18 | 2022-08-02 | KYOCERA AVX Components Corporation | Solid electrolytic capacitor containing a barrier coating |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3574072A (en) * | 1968-04-03 | 1971-04-06 | Universal Oil Prod Co | Polymerization of heterocyclic compounds |
JPS5065859A (ko) * | 1973-10-12 | 1975-06-03 | ||
US3884777A (en) * | 1974-01-02 | 1975-05-20 | Hooker Chemicals Plastics Corp | Electrolytic process for manufacturing chlorine dioxide, hydrogen peroxide, chlorine, alkali metal hydroxide and hydrogen |
US4001655A (en) * | 1974-01-10 | 1977-01-04 | P. R. Mallory & Co., Inc. | Compressible intermediate layer for encapsulated electrical devices |
US4728589A (en) * | 1980-03-11 | 1988-03-01 | University Patents, Inc. | Reversible electrochemical doping of conjugated polymers and secondary batteries based thereon |
JPS5817609A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-01 | 三洋電機株式会社 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
JPS58191414A (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-08 | 三洋電機株式会社 | 固体電解コンデンサ |
DE3318857A1 (de) * | 1983-05-25 | 1984-11-29 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Verfahren zur herstellung von polypyrrolen und nach diesem verfahren erhaltene filmfoermige produkte |
US4609971A (en) * | 1983-08-11 | 1986-09-02 | North American Philips Corporation | Electrolytic capacitor with polymer conductor |
JPS60244017A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | 日通工株式会社 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
JPS612315A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-08 | 日通工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
US4717673A (en) * | 1984-11-23 | 1988-01-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Microelectrochemical devices |
-
1987
- 1987-12-28 US US07/138,591 patent/US4780796A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-30 DE DE8787119399T patent/DE3773166D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-30 KR KR1019870015438A patent/KR910009477B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-12-30 EP EP87119399A patent/EP0274755B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR880009402A (ko) | 1988-09-15 |
DE3773166D1 (de) | 1991-10-24 |
US4780796A (en) | 1988-10-25 |
EP0274755B1 (en) | 1991-09-18 |
EP0274755A2 (en) | 1988-07-20 |
EP0274755A3 (en) | 1988-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR910009477B1 (ko) | 고체 전해질 캐패시터 | |
US4803596A (en) | Solid-state capacitor with an electroconductive polymer as constituent of the solid electrolyte | |
US6154358A (en) | Solid electrolytic capacitor using a conducting polymer | |
EP0637043B1 (en) | Solid electrolytic capacitor and method for manufacturing the same | |
JPH0474853B2 (ko) | ||
EP0358239B1 (en) | Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same | |
JPH0362298B2 (ko) | ||
JP2700420B2 (ja) | アルミニウム焼結体固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH0682588B2 (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JP2621087B2 (ja) | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 | |
JPH03291909A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
KR970005086B1 (ko) | 전도성 고분자 화합물을 음극으로 사용한 고체 전해 콘덴서 및 그의 제조법 | |
JPH06112094A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH1050561A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JP3175747B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
KR100753612B1 (ko) | 고체 전해 커패시터 및 그 제조방법 | |
JPH05159979A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH033220A (ja) | タンタル固体電解コンデンサ | |
JPH04111407A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH0361331B2 (ko) | ||
JPS63174223A (ja) | 表面導電化方法 | |
JPH06112095A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JP3211846B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH0423410B2 (ko) | ||
JPH0636361B2 (ja) | 二次電池 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20071114 Year of fee payment: 17 |
|
EXPY | Expiration of term |