KR890010916A - 반도체 기억장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 제1실시예에 관한 반도체기억장치를 도시해 놓은 회로도.
제5도는 제4도에 도시된 반도체기억장치의 데이터재기록동작을 설명하기 위한 타이밍챠트.
제6도는 본 발명의 제2실시예에 관한 반도체기억장치를 도시해 놓은 회로도.
제7도는 본 발명의 제3실시예에 관한 반도체기억장치를 도시해 놓은 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 감지증폭기 12 : 열선택회로
MC1, MC2 : 메모리셀
Q10, Q11 : 데이터재기록용 MOS트랜지스터
BL1,: 열선 WL0, WL1 : 행선
WL10, WL11 : 데이터재기록용 행선
I/O,: 공통데이터선: 행어드레스스트로브신호
: 열어드레스스트로브신호 ADR : 어드레스
CSL : 열선택신호
Q1∼Q4, Q7, Q8, Q21, Q22 : N챈널 MOS트랜지스터
A1 : 인버터
Claims (9)
1쌍의 열선(BL1)()과, 이 열선(BL1)()에 접속되는 메모리셀(MC1)(MC2), 상기 열선(BL1)()에 접속되는 감지증폭기(10), 행어드레스신호에 따라 상기 메모리셀(MC1)(MC2)을 선택해 주는 행선(WL0)(WL1)및, 정전원전위 또는 접지전위가 공급되는 공정전위공급단(14)과 상기 1쌍의 열선(BL1)()사이에 각각 전류통로가 각각 접속되는 제1 및 제2트랜지스터(Q10)(Q11)를 구비해서, 이들 제1 및 제2트랜지스터(Q10)(Q11)의 게이트가 상기 행선(WL0)(WL1)과 독립적으로 선택할 수 있는 데이터재기록용 제1 및 제2행선(WL10)(WL11)에 각각 접속된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제1항에 있어서, 상기 메모리셀(MC1)(MC2)이 각각 1개의 트랜지스터와 1개의 캐패시터로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제1항에 있어서, 데이터기록시에는 턴온되고 그이외에는 턴오프되는 스위칭트랜지스터(Q7)(Q8)와, 이 스위칭트랜지스터를 거쳐 기록데이터공급단(IN)()에 접속된 상기 메모리셀(MC1)(MC2)에 접속되어진 상기 열선(BL1)()으로 이루어질때 상기 메모리셀(MC1)(MC2)에 모든 데이터 "1" 또는 "0"을 기록시켜 주는 기록수단으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제3항에 있어서, 상기 메모리셀(MC1)(MC2)이 각각 1개의 트랜지스터와 1개의 캐패시터로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제3항에 있어서, 상기 기록데이터공급단(IN)()이 접지되고 또는 정전원단에 접속되도록 된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제3항에 있어서, 상기 기록데이터공급단(IN)()의 한쪽이 입력기록데이터가 공급되는 인버터(A1)를 거쳐 상기 스위칭트랜지스터(Q7)(Q8)에 접속되고, 상기 기록데이터공급단(IN)()의 다른쪽이 전기적으로 부유상태인 부분에 접속된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제3항에 있어서, 상기 공통신호선(F/WG)이 상기 스위칭트랜지스터(Q7)(Q8)의 게이트에 접속된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제7항에 있어서, 상기 공통신호가 상기 열 및 행선을 선택한 다음에 미리 정해진 레벨로 되면 상기 열선의 전위가 미리 정해진 레벨로 되고, 상기 감지증폭기(10)는 미리 정해진 데이터 "0" 또는 "1"이 허용되는 미리 정해진 레벨로 상기 메모리셀(MC1)(MC2)에 기록되도록 상기 열선의 상기 전위를 설정하도록 된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
제3항에 있어서, 미리 정해진 레벨의 입력신호를 공급받고 그때 상기 행선의 모든 메모리셀(MC1)(MC2)로 미리 정해진 데이터"0" 또는 "1"를 기록하는 버퍼가 구비된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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