KR870002589A - 센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치 - Google Patents

센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치 Download PDF

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미쓰오 히구찌
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야마모도 다꾸마
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Abstract

내용 없음

Description

센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명을 첫번째로 실시하는 기억장치의 구성도.
제4도는 본 발명을 첫번째로 실시하는 기억장치의 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터와 칼럼 디코우더에 관한 부분을 나타내는 구성도.
제5도는 본 발명을 두번째로 실시하는 기억장치의 구성도.
제6도는 본 발명을 두번째로 실시하는 기억장치의 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터와 칼럼 디코우더에 관한 부분을 나타내는 구성도이다.

Claims (3)

  1. 기억장치의 외부로부터 주어지는 데이타는 상기 기억장치가 데이타를 상기 기억장치에 프로그램하는 프로그래밍 모우드에 있을 때, 상기 기억장치의 외부로부터 주어지는 프로그래밍 어드레스 신호에 의하여 프로그램되고, 상기 기억장치에 저장된 데이타는 상기 기억장치가 데이타를 상기 기억장치로 부터 독출하는 리딩모우드에 있을때, 상기 기억장치의 외부로부터 주어지는 리딩 어드레스 신호에 의하여 상기 기억장치의 외부로 독출되는 반도체 기억장치에 있어서,다수의 워드선,
    다수의 교차점을 형성하도록 상기 워드선을 교차하여 연장하는 다수의 비트선,
    상기 교차점에 형성된 다수의 메모리 셀,
    상기 기억장치가 상기 프로그래밍 모우드에 있으때 상기 프로그래밍 어드레스 신호에 응하는 첫번째 칼럼 선택신호와 상기 기억장치가 상기 리딩 모우드에 있을 때, 상기 리딩 어드레스 신호에 응하는 두번째 칼럼 선택신호를 제공하기 위한 칼럼 디코우더 수단,
    상기 기억장치가 상기 프로그래밍 모우드에 있을 때, 상기 기억장치의 외부로부터 주어지는 상기 데이타에 대응하는 데이타 신호를 선택된 메모리셀을 제공하기 위한 프로그래밍 회로,
    상기 기억장치가 상기 리딩 모우드에 있을 때, 선택된 메모리셀로부터 독출된 상기 데이타로부터 얻어지는 데이타 신호를 증폭하기 위한 셀스증폭기,
    상기 프로그래밍 모우드에 있는 동안에 상기 첫번째 칼럼 선택신호에 응하여 상기프로그래밍 회로에 선택된 비트선을 선택적으로 연결하기 위한 그리고 상기 리딩 모우드에 있는 동안에 비도전상태로 되는 다수의 첫번째 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터.
    상기 리딩 모우드에 있는 동안에 상기 두번째 칼럼 선택신호에 응하여, 상기 센스증폭기에 선택된 비트선을 선택적으로 연결하기 위한 다수의 두번째 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치
  2. 청구범위 제1항에 있어서,
    상기 첫번째 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터가 상기 비트선에 연결된 드레인, 상기 프로그래밍 회로에 연결된 소오스와 상기 칼럼 디코우더 수단에 연결된 게이트를 갖는 금속 산화 반도체 트랜지스터로 구성되는 반도체 기억장치.
  3. 청구범위 제1항 또는 2항에 있어서,
    상기 두번째 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터가 상기 비트선에 연결된 드레인, 상기 센스 증폭기에 연결된 소오스와 상기 칼럼 디코우더 수단에 연결된 게이트를 갖는 금속 산화 반도체 트랜지스터로 구성되는 반도체 기억장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860006516A 1985-08-16 1986-08-07 센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜지스터 게이트 트랜스터 그룹을 갖게한 반도체 기억장치 KR900004327B1 (ko)

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JP179442 1985-08-16
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5448517A (en) * 1987-06-29 1995-09-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically programmable nonvolatile semiconductor memory device with NAND cell structure
US6034899A (en) * 1987-06-29 2000-03-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory cell of nonvolatile semiconductor memory device
US6545913B2 (en) 1987-06-29 2003-04-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory cell of nonvolatile semiconductor memory device
JPH0793018B2 (ja) * 1988-03-14 1995-10-09 株式会社東芝 不揮発性半導体メモリ
US5022008A (en) * 1989-12-14 1991-06-04 Texas Instruments Incorporated PROM speed measuring method
FR2665972B1 (fr) * 1990-08-17 1992-10-16 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de precharge de lecture pour memoire en circuit integre.
KR970005645B1 (ko) * 1994-10-01 1997-04-18 삼성전자 주식회사 불휘발성 반도체 메모리의 부분 프로그램을 위한 데이터 로딩회로
US5867430A (en) * 1996-12-20 1999-02-02 Advanced Micro Devices Inc Bank architecture for a non-volatile memory enabling simultaneous reading and writing
US5847998A (en) * 1996-12-20 1998-12-08 Advanced Micro Devices, Inc. Non-volatile memory array that enables simultaneous read and write operations
US5841696A (en) * 1997-03-05 1998-11-24 Advanced Micro Devices, Inc. Non-volatile memory enabling simultaneous reading and writing by time multiplexing a decode path
DE60323202D1 (de) * 2003-02-21 2008-10-09 St Microelectronics Srl Phasenwechselspeicheranordnung
US9431111B2 (en) 2014-07-08 2016-08-30 Ememory Technology Inc. One time programming memory cell, array structure and operating method thereof
US10684709B2 (en) 2015-12-22 2020-06-16 Shenzhen Royole Technologies Co., Ltd. Electronic bags

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4158720A (en) * 1977-12-28 1979-06-19 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Lithium-aluminum-iron electrode composition
JPS5828679B2 (ja) * 1979-04-25 1983-06-17 富士通株式会社 半導体記憶装置の書込み回路
JPS5836504B2 (ja) * 1980-02-22 1983-08-09 富士通株式会社 半導体記憶装置
DE3030867A1 (de) * 1980-08-14 1982-03-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung fuer einen in zeilen und spalten organisierten festwertspeicher zur vermeidung des absinkens von bitleitunspotenialen
DE3177270D1 (de) * 1980-10-15 1992-02-27 Toshiba Kawasaki Kk Halbleiterspeicher mit datenprogrammierzeit.
JPS6059677B2 (ja) * 1981-08-19 1985-12-26 富士通株式会社 半導体記憶装置
US4432070A (en) * 1981-09-30 1984-02-14 Monolithic Memories, Incorporated High speed PROM device
EP0088815B1 (de) * 1982-03-17 1985-12-18 Deutsche ITT Industries GmbH Elektrisch löschbare Speichermatrix (EEPROM)
US4535259A (en) * 1982-06-18 1985-08-13 Seeq Technology, Inc. Sense amplifier for use with a semiconductor memory array
JPS59120597U (ja) * 1983-01-31 1984-08-14 カ−ル事務器株式会社 パンチ
NL8400326A (nl) * 1984-02-03 1985-09-02 Philips Nv Geintegreerde schakeling met veldeffecttransistoren en een programmeerbaar leesgeheugen.
JPS60182174A (ja) * 1984-02-28 1985-09-17 Nec Corp 不揮発性半導体メモリ
JPH0793009B2 (ja) * 1984-12-13 1995-10-09 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPS61160898A (ja) * 1985-01-05 1986-07-21 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置

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