KR910003677A - 프로그래머블 반도체 메모리 장치 - Google Patents
프로그래머블 반도체 메모리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910003677A KR910003677A KR1019900010466A KR900010466A KR910003677A KR 910003677 A KR910003677 A KR 910003677A KR 1019900010466 A KR1019900010466 A KR 1019900010466A KR 900010466 A KR900010466 A KR 900010466A KR 910003677 A KR910003677 A KR 910003677A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cell array
- semiconductor memory
- identification code
- memory device
- memory cell
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/006—Identification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/20—Initialising; Data preset; Chip identification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/24—Bit-line control circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 RWM의 제1실시예의 회로도.
Claims (17)
- 메모리 셀 어레이, 상기 메모리 셀 어레이에 접속된 복수의 비트라인, 번지신호에 응답하여 상기 비트라인중 하나에 접속되는 버스라인, 상기 버스라인에 접속되어 상기 메모리 셀 어레이로부터 데이터를 독출하는 데이터 감지회로 및 프로그래머블 반도체 메모리 장치를 석별하기 위한 식별 코우드를 기억하며, 상기 버스라인에 접속되어 상기 식별 코우드의 외부 독출이 가능한 수단으로 구성된 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 식별 코우드 기억수단이, 상기 비트라인과 상기 데이터 감지회로 간에 설치된 상기 버스라인에 접속된 것이 특징인 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 버스라인에 스페어 비트라인의 접속됨으로써, 상기 복수의 비트 라인중 결함있는 1비트라인이 상기 스페어 비트라인에 의해 치환되는 것이 특징인 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 식별 코우드가 독출되면 상기 메모리셀 어레이의 모든 워드라인들이 비활성 상태로 되는 것이 특징인 프로그램머블 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 식별코우드 기억수단이, 상기 버스라인에 각각 접속된 제1 및 제2트랜지스터로 구성돼 있고, 상기 제1트랜지스터는 제1임계전압을 갖고 있으며, 상기 제2트랜지스터가 제2임계전압을 갖으며, 상기 제1 및 제2트랜지스터에 게이트 전압이 공급되면, 상기 제1트랜지스터가 도통되고, 상기 제2트랜지스터가 비도통됨으로써, 각각 논리 “1”과“0”을 제공하는 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 식별 코우드 기억수단이 트랜지스터를 포함하며, 상기 트랜지스터는, 그의 드레인과 상기 버스라인간에 설치된 휴즈를 통해서 상기 드레인이 버스라인에 접속했는가의 여부에 따라서 논리 “1”과 논리 “0”을 판정하는 것이 특징인 프로그래머를 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 식별 코우드 기억수단이 상기 데이터 감지회로내에 설치된 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리장치.
- 제1항에서, 상기 식별 코우드 기억수단이 상기 출력 버퍼 회로내에 설치된 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 메모리 셀 어레이, 상기 메모리 셀 어레이에 접속된 복수의 비트라인, 번지신호에 응답하여 상기 비트라인중 하나에 접속되는 버스라인. 상기 버스라인에 접속되어 상기 메모리 셀 어레이로부터 데이터를 독출하는 데이터 감지회로, 프로그래머블 반도체 메모리장치를 식별하기 위한 식별 코우드를 기억하며, 상기 버스라인에 접속되어 상기 식별코우드의 외부독출이 가능한 수단 및 상기 데이터 감지회로에 접속돼 있고, 상기 메모리 셀 어레이로부터 상기 식별 코우드가 독출됐음을 나타내는 사인신호를 수신하고, 데이터 감지회로의 출력과는 무 관하게 식별코우드를 생성하는 개폐수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 프로그래머블 반도 체 메모리 장치.
- 제9항에서, 상기 개폐수단이, 풀업 트랜지스터의 게이트를 제어하여, 상기 데이터 감지회로 부터의 데이터의 출력, 또는 상기 식별 코우드의 출력여부를 결정하는 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 스페어 메모리 셀 어레이 블록, 상기 메모리 셀 어레이 블록으로부터 데이터를 독출하는 데이터 감지회로, 상기 메모리 셀 어레이 블록과 상기 스페어 메모리셀 어레이 블록 양자의 출력단에 접속된 버스라인, 프로그래머블 반도체 메모리 장치를 식별하기 위한 식별 코우드를 기억하며, 상기 버스라인에 접속되어 상기 식별 코우드의 외부독출이 가능한 수단 및 상기 메모리 셀 어레이 블록과 상기 버스라인사이와, 그리고 상기 스페어 메모리 셀어레이 블록과 상기 버스라인 사이에 설치돼 있는, 개폐수단으로 구성돼 있고, 상기 메모리 셀 어레이 블록이 결함있는 것일 경우. 상기 스페어 메모리 셀 어레이 블록이 상기 버스라인에 접속되는 것이특징인 프로그램머블 반도체 메모리 장치.
- 제11항에서, 상기 메모리 셀 어레이 블록이 단일 비트라인을 갖는 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 제11항에서, 상기 시별 코우드 기억 수단이, 상기 버스라인과 상기 데이터 감지회로 간에 설치된 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리 장치.
- 제11항에서, 상기 버스라인에 스페어비트 라인에 접속됨으로써, 상기 복수의 비트 라인중 결함있는 1비트라인이 상기 스페어 비트라인에 의해 치환되는 것이 특징인 반도체 메모리 장치.
- 제11항에서, 상기 식별 코우드가 독출되면, 상기 메모리 셀 어레이블록의 모든 워드라인들이 비활성 상태로 되는 것이 특징인 프로그래머블 반도체 메모리장치.
- 제11항에서, 상기 식별코우드 기억수단이, 상기 버스라인에 각각 접속된 제1 및 제2트랜지 스터로 구성돼있고, 상기 제1트랜지스터는 제1임계전압을 갖고, 있으며 상기 제2트랜지스터가 제2임계전압을 갖으며, 상기 제1 및 제2트랜지스터에 게이트 전압이 공급되면, 상기 제1 트랜지스터가 도통되고 상기 제2트랜지스터가 비도통됨으로써, 각가 논리 “1”과“0”을 제공하는 것이 특징인 프로그래머를 반도체 메모리 장치.
- 제11항에서, 상기 식별코우드 기억수단이, 트랜지스터를 포함하며, 상기 트랜지스터는, 그의 드레인과 상기 버스라인간에 설치된 휴즈를 통해서 상기 드레인이 상기 버스라인에 접속 됐는가의 여부에 따라서 논리 “1”과 논리 “0”을 판정하는 것이 특징인 프로그래머블 반 도체 메모리 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17830489A JP2582439B2 (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | 書き込み可能な半導体記憶装置 |
JP1-178304 | 1989-07-11 | ||
JP89-178304 | 1989-07-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910003677A true KR910003677A (ko) | 1991-02-28 |
KR930009542B1 KR930009542B1 (ko) | 1993-10-06 |
Family
ID=16046133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900010466A KR930009542B1 (ko) | 1989-07-11 | 1990-07-11 | 프로그래머블 반도체 메모리 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4998223A (ko) |
EP (1) | EP0408002B1 (ko) |
JP (1) | JP2582439B2 (ko) |
KR (1) | KR930009542B1 (ko) |
DE (1) | DE69029013T2 (ko) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5680353A (en) * | 1988-09-14 | 1997-10-21 | Sgs-Thomson Microelectronics, S.A. | EPROM memory with internal signature concerning, in particular, the programming mode |
JP2547633B2 (ja) * | 1989-05-09 | 1996-10-23 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5289417A (en) * | 1989-05-09 | 1994-02-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device with redundancy circuit |
US5343406A (en) * | 1989-07-28 | 1994-08-30 | Xilinx, Inc. | Distributed memory architecture for a configurable logic array and method for using distributed memory |
JPH03241598A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Fujitsu Ltd | シグネチャー回路 |
JPH043399A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-01-08 | Sharp Corp | 半導体記憶装置 |
US5204841A (en) * | 1990-07-27 | 1993-04-20 | International Business Machines Corporation | Virtual multi-port RAM |
US5793667A (en) * | 1990-09-19 | 1998-08-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Sense amplifier control system for ferroelectric memories |
JPH04132089A (ja) * | 1990-09-20 | 1992-05-06 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 識別コード内蔵eprom |
JP2724046B2 (ja) * | 1991-02-07 | 1998-03-09 | 富士写真フイルム株式会社 | Icメモリカードシステム |
US5197029A (en) * | 1991-02-07 | 1993-03-23 | Texas Instruments Incorporated | Common-line connection for integrated memory array |
JP3128362B2 (ja) * | 1992-12-04 | 2001-01-29 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
JPH0785685A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-03-31 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JPH07272499A (ja) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5499211A (en) * | 1995-03-13 | 1996-03-12 | International Business Machines Corporation | Bit-line precharge current limiter for CMOS dynamic memories |
JP3531891B2 (ja) * | 1996-01-26 | 2004-05-31 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US6188239B1 (en) * | 1996-08-12 | 2001-02-13 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor programmable test arrangement such as an antifuse to ID circuit having common access switches and/or common programming switches |
US5976917A (en) | 1998-01-29 | 1999-11-02 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuitry fuse forming methods, integrated circuitry programming methods, and related integrated circuitry |
US6609169B1 (en) | 1999-06-14 | 2003-08-19 | Jay Powell | Solid-state audio-video playback system |
JP4645837B2 (ja) * | 2005-10-31 | 2011-03-09 | 日本電気株式会社 | メモリダンプ方法、コンピュータシステム、およびプログラム |
JP4704229B2 (ja) * | 2006-02-02 | 2011-06-15 | 日本無線株式会社 | 受信装置 |
JP4745072B2 (ja) * | 2006-02-02 | 2011-08-10 | 日本無線株式会社 | 受信装置 |
US20110099423A1 (en) * | 2009-10-27 | 2011-04-28 | Chih-Ang Chen | Unified Boot Code with Signature |
KR102532528B1 (ko) * | 2016-04-07 | 2023-05-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 이의 동작 방법 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4055802A (en) * | 1976-08-12 | 1977-10-25 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Electrical identification of multiply configurable circuit array |
CA1158775A (en) * | 1980-06-04 | 1983-12-13 | Thomas L. Phinney | Computer annotation system |
JPS59146498A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US4622653A (en) * | 1984-10-29 | 1986-11-11 | Texas Instruments Incorporated | Block associative memory |
US4667313A (en) * | 1985-01-22 | 1987-05-19 | Texas Instruments Incorporated | Serially accessed semiconductor memory with tapped shift register |
US4744062A (en) * | 1985-04-23 | 1988-05-10 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit with nonvolatile memory |
JPS61258399A (ja) * | 1985-05-11 | 1986-11-15 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置 |
JPS62217498A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-24 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2559028B2 (ja) * | 1986-03-20 | 1996-11-27 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US4789967A (en) * | 1986-09-16 | 1988-12-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Random access memory device with block reset |
JPH0632213B2 (ja) * | 1987-02-26 | 1994-04-27 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ |
JPH01109599A (ja) * | 1987-10-22 | 1989-04-26 | Nec Corp | 書込み・消去可能な半導体記憶装置 |
-
1989
- 1989-07-11 JP JP17830489A patent/JP2582439B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-07-10 US US07/550,786 patent/US4998223A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-07-11 KR KR1019900010466A patent/KR930009542B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-07-11 EP EP90113258A patent/EP0408002B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-07-11 DE DE69029013T patent/DE69029013T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0408002A2 (en) | 1991-01-16 |
JP2582439B2 (ja) | 1997-02-19 |
DE69029013D1 (de) | 1996-12-05 |
DE69029013T2 (de) | 1997-05-28 |
EP0408002B1 (en) | 1996-10-30 |
US4998223A (en) | 1991-03-05 |
EP0408002A3 (en) | 1992-06-03 |
KR930009542B1 (ko) | 1993-10-06 |
JPH0344899A (ja) | 1991-02-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR910003677A (ko) | 프로그래머블 반도체 메모리 장치 | |
KR930013994A (ko) | 플래시 eeprom메모리와 함께 사용된 프로그래밍 회로의 상태를 결정하는 장치 | |
KR890002890A (ko) | 부정방지장치로 이루어진 메모리를 가진 집적회로 | |
KR920704302A (ko) | 반도체 기억장치 | |
US5157634A (en) | Dram having extended refresh time | |
KR960038619A (ko) | 판독전용 메모리 | |
KR880003328A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR870009395A (ko) | 불휘발성 메모리 회로 | |
KR950020749A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치 | |
KR940018871A (ko) | 어드레스 천이 검출 회로를 구비한 비휘발성 반도체 메모리 | |
KR940005697B1 (ko) | 용장 메모리 셀을 갖는 반도체 메모리 장치 | |
KR960012031A (ko) | 반도체기억장치 | |
KR950025777A (ko) | 반도체메모리장치 | |
KR870002589A (ko) | 센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치 | |
KR970017690A (ko) | 과전류를 방지하기 위한 번-인 단축회로를 내장한 반도체 메모리 장치 | |
KR880014574A (ko) | 기준 셋팅회로 | |
KR960025777A (ko) | 프리챠지 회로를 갖는 반도체 메모리 디바이스 | |
KR880008341A (ko) | 특수 모드용 prom 셀들이 있는 반도체장치 | |
KR850004856A (ko) | 프로그래머블 반도체 메모리장치 | |
KR860006875A (ko) | 반도체 장치 | |
KR950015394A (ko) | 스태틱 랜덤 억세스 메모리 | |
US5239207A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR870007511A (ko) | 데이타 판독회로 | |
JP2738782B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
KR960009202A (ko) | 복사 방지 기능을 갖는 반도체 집적회로 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20090925 Year of fee payment: 17 |
|
EXPY | Expiration of term |