JPH03241598A - シグネチャー回路 - Google Patents
シグネチャー回路Info
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- JPH03241598A JPH03241598A JP2037582A JP3758290A JPH03241598A JP H03241598 A JPH03241598 A JP H03241598A JP 2037582 A JP2037582 A JP 2037582A JP 3758290 A JP3758290 A JP 3758290A JP H03241598 A JPH03241598 A JP H03241598A
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 101100004933 Arabidopsis thaliana CYP79F1 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/20—Initialising; Data preset; Chip identification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はシグネチャー回路に関し、不揮発性メモリのデ
バイス機能を格納するシグネチャー回路に関する。
バイス機能を格納するシグネチャー回路に関する。
プログラマブルROM等の不揮発性メモリでは各デバイ
スで書込み等のデバイス機能が異なり、これをユーザに
対して明確にするため、デバイス機能を説明する情報つ
まりシグネチャーを予め格納している。
スで書込み等のデバイス機能が異なり、これをユーザに
対して明確にするため、デバイス機能を説明する情報つ
まりシグネチャーを予め格納している。
従来より半導体メモリチップのボンディングワイヤ配線
を変えて別種の半導体装置を構成する如く、単一チップ
に2種以上のデバイス機能を持たせる場合、上記半導体
メモリチップに夫々のデバイス機能を説明するシグネチ
ャーを格納する必要があり、従来は第4図に示す如く構
成していた。
を変えて別種の半導体装置を構成する如く、単一チップ
に2種以上のデバイス機能を持たせる場合、上記半導体
メモリチップに夫々のデバイス機能を説明するシグネチ
ャーを格納する必要があり、従来は第4図に示す如く構
成していた。
第4図において、b0〜bηはビット線であり、ビット
線選択信号Y。〜YTI夫々で選択されたnチャンネル
FETQo〜Qηのビット線がバス線BUSを介してセ
ンスアンプS/Aに接続される。
線選択信号Y。〜YTI夫々で選択されたnチャンネル
FETQo〜Qηのビット線がバス線BUSを介してセ
ンスアンプS/Aに接続される。
Wo〜Wn+2はワード線であり、ワード線選択信号X
o〜Xn+2夫々が供給される。なお、実際の情報を記
憶するメモリセルに接続されたワード線Wo〜WT+に
ついては1本のワード線及びメモリセルM S o〜M
Sηだけを図示している。書込みを行なったメモリセル
はそのワード線を選択したとき電流を流しく値v1v)
、書込みを行なってないメモリセルはワード線を選択し
たとき電流を流さない(値’O’)。
o〜Xn+2夫々が供給される。なお、実際の情報を記
憶するメモリセルに接続されたワード線Wo〜WT+に
ついては1本のワード線及びメモリセルM S o〜M
Sηだけを図示している。書込みを行なったメモリセル
はそのワード線を選択したとき電流を流しく値v1v)
、書込みを行なってないメモリセルはワード線を選択し
たとき電流を流さない(値’O’)。
ワード線Wn+1には第1シグネチヤーを格納する複数
のROMセルが接続され、ワード線Wn+2には第2シ
グネチヤーを格納する複数のROMセルが接続されてい
る。ここではドレインをビット線との間をショート(図
中○印で示す)としたROMセルに値v1vを記憶し、
ドレインとビット線との間をオープン(図中X印で示す
)としたROMセルに値vOvを記憶して、第1.第2
シグネチヤーを格納する。シグネチャー記憶用のROM
セルにはワード線W o ” W oのメモリセルMS
の如き書込みは行なわない。
のROMセルが接続され、ワード線Wn+2には第2シ
グネチヤーを格納する複数のROMセルが接続されてい
る。ここではドレインをビット線との間をショート(図
中○印で示す)としたROMセルに値v1vを記憶し、
ドレインとビット線との間をオープン(図中X印で示す
)としたROMセルに値vOvを記憶して、第1.第2
シグネチヤーを格納する。シグネチャー記憶用のROM
セルにはワード線W o ” W oのメモリセルMS
の如き書込みは行なわない。
この従来回路ではワード線選択信号X。−XTI。
X n+2夫々をしレベルでワード線選択信号Xn+1
だけをHレベルとして選択し、かつビット線す。
だけをHレベルとして選択し、かつビット線す。
〜bTl夫々を順次選択して第1シグネチヤーを読出し
、また、ワード線選択信号X n+2だけをHレベルと
し、かつ、ビット線b0〜l)t+夫々を順次選択して
第2シグネチヤーを読出す。
、また、ワード線選択信号X n+2だけをHレベルと
し、かつ、ビット線b0〜l)t+夫々を順次選択して
第2シグネチヤーを読出す。
従来のシグネチャー回路は、デバイス機能の数つまり格
納しようとするシグネチャーの数だけワード線Xn+1
、 Xn+2の本数が必要とされ、ワード線本数が増
加してその配線面積が増加するという問題があった。
納しようとするシグネチャーの数だけワード線Xn+1
、 Xn+2の本数が必要とされ、ワード線本数が増
加してその配線面積が増加するという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、複数のシグ
ネチャーを1本のワード線に接続したROMセルに格納
し、ワード線の本数が少なくて済みその配線面積が小さ
くて済むシグネチャー回路を提供することを目的とする
。
ネチャーを1本のワード線に接続したROMセルに格納
し、ワード線の本数が少なくて済みその配線面積が小さ
くて済むシグネチャー回路を提供することを目的とする
。
本発明のシグネチャー回路は、
単一の不揮発性メモリが持つ複数のデバイス機能夫々を
説明する複数のシグネチャーを格納したシグネチャー回
路において、 複数のビット線毎にブロック化されたビット線ブロック
の各ビット線、又は各ビット線ブロックのバス線夫々に
設けられて単一のワード線に接続されたROMセルに該
ビット線ブロック単位で該複数のシグネチャーを格納し
、 単一のワード線を選択すると共に各ビット線ブロックを
選択して所望のシグネチャーを読出す。
説明する複数のシグネチャーを格納したシグネチャー回
路において、 複数のビット線毎にブロック化されたビット線ブロック
の各ビット線、又は各ビット線ブロックのバス線夫々に
設けられて単一のワード線に接続されたROMセルに該
ビット線ブロック単位で該複数のシグネチャーを格納し
、 単一のワード線を選択すると共に各ビット線ブロックを
選択して所望のシグネチャーを読出す。
本発明においては、複数のシグネチャーを単一のワード
線に接続されたROMセルに格納し、このワード線を選
択し各ビット線ブロックを選択して所望のシグネチャー
を読出すため、ワード線の本数が少なくて済み、それだ
け配線面積が小さくて済む。
線に接続されたROMセルに格納し、このワード線を選
択し各ビット線ブロックを選択して所望のシグネチャー
を読出すため、ワード線の本数が少なくて済み、それだ
け配線面積が小さくて済む。
第1図は本発明回路の第1実施例の回路図を示す。同図
中、第4図と同一部分には同一符号を付し、その説明を
省略する。
中、第4図と同一部分には同一符号を付し、その説明を
省略する。
第1図において、ビット線bO〜b2ト1は2つのブロ
ックに分けられている。ビット線bo〜bmはビット線
選択信号Yo”Ym夫々を供給されるFETQo=QT
r+を介してバス線BtJS1に接続され、ビット線b
g++1〜b 2m+1夫々はビット線選択信号Y。〜
Ym夫々を供給されるFETQ+a+1〜Q2ト1を介
してバス線BUS2に接続されている。バス線BUS1
.8US2夫々はバス線選択信号Zo、Z+を供給され
るnチャンネルFETQx、Qx+1夫々を介してバス
線BUS3よりセンスアップS/Aに接続されている。
ックに分けられている。ビット線bo〜bmはビット線
選択信号Yo”Ym夫々を供給されるFETQo=QT
r+を介してバス線BtJS1に接続され、ビット線b
g++1〜b 2m+1夫々はビット線選択信号Y。〜
Ym夫々を供給されるFETQ+a+1〜Q2ト1を介
してバス線BUS2に接続されている。バス線BUS1
.8US2夫々はバス線選択信号Zo、Z+を供給され
るnチャンネルFETQx、Qx+1夫々を介してバス
線BUS3よりセンスアップS/Aに接続されている。
ワード線選択信号XO”XTI夫々が供給されるワード
線Wo”−Wt夫々にはメモリセルMSo〜H82園+
1か接続され、ワード線選択信号Xn+1が供給される
ワード線Wn+1には第1及び第2のシグネチャーを格
納するROMセルセルS o〜S S 2m+1が接続
されている。このうちビット線す。−bTnに対応する
ROMセルセルS o −S S mには第1シグネチ
ヤーが格納され、ビット線bg++1〜b2m++1に
対応するROMセルSSm+1〜332m+1には第2
シグネチヤーが格納されている。
線Wo”−Wt夫々にはメモリセルMSo〜H82園+
1か接続され、ワード線選択信号Xn+1が供給される
ワード線Wn+1には第1及び第2のシグネチャーを格
納するROMセルセルS o〜S S 2m+1が接続
されている。このうちビット線す。−bTnに対応する
ROMセルセルS o −S S mには第1シグネチ
ヤーが格納され、ビット線bg++1〜b2m++1に
対応するROMセルSSm+1〜332m+1には第2
シグネチヤーが格納されている。
ここで、第1シグネチヤーを読出す場合にはワード線選
択信号x0〜Xn+1のうちXn÷1だけをHレベルと
し、バス線選択信号Zo 、Z+のうち7oだけをHレ
ベルとしてFETQxを導通させ、ビット線選択信号Y
。−Ymによりビット線す。
択信号x0〜Xn+1のうちXn÷1だけをHレベルと
し、バス線選択信号Zo 、Z+のうち7oだけをHレ
ベルとしてFETQxを導通させ、ビット線選択信号Y
。−Ymによりビット線す。
〜bT11を順次選択してROMセルSSo−85mに
格納された第1シグネチヤーを読出す。第2シグネチヤ
ーはワード線選択信号Xn+1及びバス線選択信号Z1
だけをHレベルとしてビット線b1m+1〜l) 2m
+1を順次選択してROMセルSSs+ 1〜$32+
+++1より読出す。
格納された第1シグネチヤーを読出す。第2シグネチヤ
ーはワード線選択信号Xn+1及びバス線選択信号Z1
だけをHレベルとしてビット線b1m+1〜l) 2m
+1を順次選択してROMセルSSs+ 1〜$32+
+++1より読出す。
上記のバス線選択信号Zo 、Z+は第2図に示すアド
レスバッフ7回路で生成される。同図中、端子20には
スタンバイ時にHレベルとなる信号PDが入来し、端子
21にはメモリアクセス時にZo、Z+のいずれかをH
レベルとするためのアドレス信号Ainが入来してノア
回路22に供給される。ノア回路22の出力はインバー
タ23゜24を通してバッファ部25に供給される。バ
ッファ部25はメモリアクセス時に信号AがLレベル、
信号BがHレベルとされており、インバータ24の出力
信号はFETP+ 、N+の構成するインバータで反転
され、この後インバータ26を通して端子27よりバス
線選択信号Zoが出力され、インバータ28.29を通
して上記信号Z。を反転したバス線選択信号Z1が端子
30より出力される。
レスバッフ7回路で生成される。同図中、端子20には
スタンバイ時にHレベルとなる信号PDが入来し、端子
21にはメモリアクセス時にZo、Z+のいずれかをH
レベルとするためのアドレス信号Ainが入来してノア
回路22に供給される。ノア回路22の出力はインバー
タ23゜24を通してバッファ部25に供給される。バ
ッファ部25はメモリアクセス時に信号AがLレベル、
信号BがHレベルとされており、インバータ24の出力
信号はFETP+ 、N+の構成するインバータで反転
され、この後インバータ26を通して端子27よりバス
線選択信号Zoが出力され、インバータ28.29を通
して上記信号Z。を反転したバス線選択信号Z1が端子
30より出力される。
第1シグネチヤーを読出す場合には信号A、Bを共にH
レベルとしてFETP2 、P3をオフさせFETN2
、N3をオンさせて信号ZoをHレベル、信号Z1を
Lレベルとする。第2シグネシヤーを読出す場合には信
号A、Bを共にLレベルとしてFETP2 、P3をオ
ンさせFETN2 。
レベルとしてFETP2 、P3をオフさせFETN2
、N3をオンさせて信号ZoをHレベル、信号Z1を
Lレベルとする。第2シグネシヤーを読出す場合には信
号A、Bを共にLレベルとしてFETP2 、P3をオ
ンさせFETN2 。
N3をオフさせて信号ZoをLレベル、信号Z1をHレ
ベルとする。
ベルとする。
このように、複数のシグネチャーを単一のワードl1l
Wn+1に接続されたROMセルに格納し、このワード
線を選択し各ビット線ブロックをバス線選択信号Zo
、Z+で選択して所望のシグネチャーを読出すため、ワ
ード線の本数が少なくて済み、それだけ配線面積が小さ
くて済む。
Wn+1に接続されたROMセルに格納し、このワード
線を選択し各ビット線ブロックをバス線選択信号Zo
、Z+で選択して所望のシグネチャーを読出すため、ワ
ード線の本数が少なくて済み、それだけ配線面積が小さ
くて済む。
第3図は本発明回路の第2実施例の回路図を示す。同図
中、第1図と同一部分には同一符号を付しその説明を省
略する。
中、第1図と同一部分には同一符号を付しその説明を省
略する。
第3図において、2つにブロック化されたビット線bo
〜b 2m+1が複数組設けられ、各ブロックのバス線
BUS1a、BUS2a 〜BUS1x。
〜b 2m+1が複数組設けられ、各ブロックのバス線
BUS1a、BUS2a 〜BUS1x。
BUS2x夫々はバス線選択信号Zo 、Z+を供給さ
れるFETを介してバス線BLJS3a〜BLIS3x
に接続されると共に、シグネチャー格納用のROMセル
としてFETTla、T2a 〜T1x、■’2X夫々
が設けられている。バス線BUS3a−BUS3x夫々
はバス線選択信号Z2゜Z3を供給されるFETを介し
てバス線BUS4よりセンスアンプS/Aに接続されて
いる。
れるFETを介してバス線BLJS3a〜BLIS3x
に接続されると共に、シグネチャー格納用のROMセル
としてFETTla、T2a 〜T1x、■’2X夫々
が設けられている。バス線BUS3a−BUS3x夫々
はバス線選択信号Z2゜Z3を供給されるFETを介し
てバス線BUS4よりセンスアンプS/Aに接続されて
いる。
シグネチャー格納用のFETTla、T2a〜T1X、
T2X夫々はゲートをワード線Xn+1に接続され、夫
々のドレインとバス線BUS1a。
T2X夫々はゲートをワード線Xn+1に接続され、夫
々のドレインとバス線BUS1a。
BUS2a 〜BUS1x、BUS2xとの間をショー
ト(図中○印)又はオーブン(図中X印)とすることに
よりシグネチャーを格納している。ここではバス線選択
信号Zoに対応するROMセルのFETT1 a−Tl
xに第1シグネチヤーを格納し、バス線選択信号Z1
に対応するROMセルのFETT2a−T2xに第2シ
グネチヤーを格納している。
ト(図中○印)又はオーブン(図中X印)とすることに
よりシグネチャーを格納している。ここではバス線選択
信号Zoに対応するROMセルのFETT1 a−Tl
xに第1シグネチヤーを格納し、バス線選択信号Z1
に対応するROMセルのFETT2a−T2xに第2シ
グネチヤーを格納している。
ここで、第1シグネチヤーを読出す場合にはワード線選
択信号Xn+1だけをHレベルとし、バス線選択信号Z
o、Z+のうちZoだけけをHレベルとしてFETQX
を導通させ、バス線選択信号Z2 、Z3によりバス線
BUS3a、BUS3xを順次選択して第1シグネチヤ
ーを読出す。第2シグネチヤーはワード線選択信号Xn
+1及びバス線選択信号Z1だけをHレベルとしてバス
線BUS3a、BUS3xを順次選択して読出す。
択信号Xn+1だけをHレベルとし、バス線選択信号Z
o、Z+のうちZoだけけをHレベルとしてFETQX
を導通させ、バス線選択信号Z2 、Z3によりバス線
BUS3a、BUS3xを順次選択して第1シグネチヤ
ーを読出す。第2シグネチヤーはワード線選択信号Xn
+1及びバス線選択信号Z1だけをHレベルとしてバス
線BUS3a、BUS3xを順次選択して読出す。
この実施例でも複数のシグネチャーを単一のワード線W
n+1のROMセルに格納し、上記の如く所望のシグネ
チャーを読出すことができ、ワード線の本数が少なくて
済み、それだけ配線面積が小さくて済む。
n+1のROMセルに格納し、上記の如く所望のシグネ
チャーを読出すことができ、ワード線の本数が少なくて
済み、それだけ配線面積が小さくて済む。
上述の如く、本発明のシグネチャー回路によれば、ワー
ド線の本数が少なくて済み、それだけ配線面積が小さく
て済み、半導体チップを一コンパクト化することができ
、実用上きわめて有用である。
ド線の本数が少なくて済み、それだけ配線面積が小さく
て済み、半導体チップを一コンパクト化することができ
、実用上きわめて有用である。
第1図、第3図夫々は本発明回路の各実施例の回路図、
第2図はアドレスバッファ回路の回路図、第4図は従来
回路の一例の回路図である。 図において、 bo〜b2m+1はビット線、 BUS1〜BUS4はバス線、 MSo〜MS2m+1はメモリセル、 SSo 〜552m+1.T 1 a、T2a−T1
X。 T2xはROMセル、 WO〜Wn+1はワード線 を示す。
回路の一例の回路図である。 図において、 bo〜b2m+1はビット線、 BUS1〜BUS4はバス線、 MSo〜MS2m+1はメモリセル、 SSo 〜552m+1.T 1 a、T2a−T1
X。 T2xはROMセル、 WO〜Wn+1はワード線 を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 単一の不揮発性メモリが持つ複数のデバイス機能夫々
を説明する複数のシグネチャーを格納したシグネチャー
回路において、 複数のビット線毎にブロック化されたビット線ブロック
の各ビット線(b_0〜b_2_m_+_1)、又は該
各ビット線ブロックのバス線(BUS1_a、BUS2
_a〜BUS1_x、BUS2_x)夫々に設けられて
単一のワード線(W_n_+_1)に接続されたROM
セル(SS_0〜SS_2_m_+_1、T1_a、T
2_a〜T1_x、T2_x)に該ビット線ブロック単
位で該複数のシグネチャーを格納し、 該単一のワード線(W_n_+_1)を選択すると共に
各ビット線ブロックを選択して所望のシグネチャーを読
出すことを特徴とするシグネチャー回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2037582A JPH03241598A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シグネチャー回路 |
EP91301196A EP0443775B1 (en) | 1990-02-19 | 1991-02-14 | Signature circuit for non-volatile memory device |
DE69125876T DE69125876T2 (de) | 1990-02-19 | 1991-02-14 | Kennzeichenschaltung für nichtflüchtige Speicheranordnung |
US07/656,501 US5280451A (en) | 1990-02-19 | 1991-02-19 | Signature circuit for non-volatile memory device |
KR1019910002602A KR950010305B1 (ko) | 1990-02-19 | 1991-02-19 | 비휘발성 메모리장치의 시그네쳐(signature)회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2037582A JPH03241598A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シグネチャー回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03241598A true JPH03241598A (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=12501536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2037582A Pending JPH03241598A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | シグネチャー回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5280451A (ja) |
EP (1) | EP0443775B1 (ja) |
JP (1) | JPH03241598A (ja) |
KR (1) | KR950010305B1 (ja) |
DE (1) | DE69125876T2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100378182B1 (ko) * | 1999-09-27 | 2003-03-29 | 삼성전자주식회사 | 병렬 연결된 다수의 개별 시그너쳐 회로를 포함하는반도체 장치의 입력 회로 및 개별 시그너쳐 회로 |
JP2006196159A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Samsung Electronics Co Ltd | 個別チップのデバイス情報を直接読み取り可能なシグネチャー識別装置を有するマルチチップパッケージ |
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KR960006748B1 (ko) * | 1993-03-31 | 1996-05-23 | 삼성전자주식회사 | 고속동작 및 저전원공급전압에 적합한 쎌구조를 가지는 불휘발성 반도체 집적회로 |
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US5561632A (en) * | 1994-01-26 | 1996-10-01 | Sony Corporation | Nonvolatile semiconductor flash memory |
US5598569A (en) * | 1994-10-17 | 1997-01-28 | Motorola Inc. | Data processor having operating modes selected by at least one mask option bit and method therefor |
US5499211A (en) * | 1995-03-13 | 1996-03-12 | International Business Machines Corporation | Bit-line precharge current limiter for CMOS dynamic memories |
JP2002329396A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-15 | Fujitsu Ltd | バンク構成を変更可能なフラッシュメモリ |
KR100901963B1 (ko) * | 2001-06-29 | 2009-06-10 | 엔엑스피 비 브이 | 비휘발성 메모리 및 비휘발성 메모리의 테스트 방법 |
FR2831315B1 (fr) | 2001-10-22 | 2004-01-30 | St Microelectronics Sa | Memoire eeprom comprenant des moyens de lecture simultanee de bits speciaux d'un premier et d'un second type |
FR2844090A1 (fr) | 2002-08-27 | 2004-03-05 | St Microelectronics Sa | Cellule memoire pour registre non volatile a lecture rapide |
FR2884329A1 (fr) * | 2005-04-11 | 2006-10-13 | St Microelectronics Sa | Protection de donnees d'une memoire associee a un microprocesseur |
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KR101882854B1 (ko) * | 2011-12-21 | 2018-07-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 전달회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
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