JPS61160898A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS61160898A
JPS61160898A JP60000313A JP31385A JPS61160898A JP S61160898 A JPS61160898 A JP S61160898A JP 60000313 A JP60000313 A JP 60000313A JP 31385 A JP31385 A JP 31385A JP S61160898 A JPS61160898 A JP S61160898A
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JP
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column decoder
pointer
data
speed
sri
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JP60000313A
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Masaaki Noguchi
正明 野口
Junji Ogawa
淳二 小川
Yoshihiro Takemae
義博 竹前
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1075Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for multiport memories each having random access ports and serial ports, e.g. video RAM
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体記憶装置特に高速読出し回路を備える
ダイナミックRAMに関する。
〔従来の技術〕
ダイナミックRAMは第2図に示すように多数のビット
線BL、BL (i、i+1.・・・・・・は相互を区
別する符号であり、以下適宜省略する)、ワード線(図
示しない)、これらのビット線とワード線の各交点に配
設されたメモリセル(図示しない)を備え、ビット線B
L、BLをプリチャージし、ワード線及びダミーワード
線を選択して該ワード線に連なるメモリセル群をビット
線BL、百[に接続してその記憶データに従う電位差付
けを行ない、センスアンプSAをアクティブにして該電
位差を拡大し、一方をH(ハイ)レベル一般には電源V
 CC%他方をL(ロー)レベル一般にはグランドレベ
ルVssにする。次いでコラムデコーダCDIを動作さ
せ、ゲー)Gl開放により選択したビット線例えばB 
L 11 B L 1をデータバスDB、DBへ接続し
、選択メモリセルの記憶データを外部へ取出す。こうし
て読出しは(書込みも同様であるが)、ワード線選択及
びビット線選択により1メモリセルずつ行なわれる。
1メモリセルずつのアクセスでは、多数のメモリセルに
アクセスする場合は所要時間が大になるので高速読出し
/書込みが考えられている。第2図のゲート群G2より
左側がそのための回路で、ラッチとして慟らくフリップ
フロップFFt、p’F it l r ・・・・・・
これらを高速読出し用データバスSDBへ接続するゲー
ト群G3、該ゲート群G3を構成するMOSトランジス
タにゲート制御電圧を与えるポインタ(シフトレジスタ
) S Ri 、  S R1+1・・・・・・、該ポ
インタへスキャン用データを入力するコラムデコーダC
D2よりなる。これらはポインタ型シフトレジスタと呼
ばれるもので、コラムデコーダ(CD2)によりポイン
タの各段SRi。
SR1+1.・・・・・・に1つのみ1で残りは0のデ
ータをセットし、該ポインタにシフトクロックを入力す
ると、該データ1がポインタの各段SRi、SR1÷1
.・・・・・・を順次移動し、ゲート群G3を順次開放
する。
そこでRAM部の続出しを行ない、即ちビット線プリチ
ャージ、ワード線選択、センスアンプのアクティブ化を
行なってビット線BL、BLを、選択ワード線上のメモ
リセル記憶データに従ってR2またはLレベルにし、次
に転送りロックTCLKによりゲート群G2を開いてビ
ット線BLi。
BL1+1.・・・・・・のH,LレベルをラッチFF
i。
FF、+1.・・・・・・に取込ませ、か\る状態で上
記のようにポインタにデータを与えかつシフトクロ・7
りを入力するとゲート群G3の各ゲートが逐次間、き、
ラッチFF t、FF+++ 、・・・・・・に取込ま
れたビット線BL it  BL、十+ + ・・・・
・・のデータをデータバスSDBを通してシリアルに外
部へ取出すことができる。この方式ではワード線選択を
1回行なうだけでその選択ワード線上の全メモリセルの
記憶データを取出すことができるから、lメモリセルず
つアクセスする方式に比べて所要時間を著しく短縮する
ことができる。
ラッチFF t、FF、+1 、・・・・・・とポイン
タSRi。
S R、+ 1 + ・・・・・・の代りに通常のシフ
トレジスタを用いてもよいが、ラッチとポインタの方が
構成が簡単である(ポインタもシフトレジスタではある
が、1つのみ1 (H)で残りは0(L)のデータをシ
フトするだけなので構造が簡単になる)。但しポインタ
にスキャン用のデータをセットする必要があり、そして
指定したビット線以降からデータを取出すことも望まれ
るので、ポインタにセットするデータ中の1の位置(こ
れは高速読出し開始番地を示す)が選択できなければな
らない。コラムデコーダCD2を用いるのはこの理由で
、所望ビット線に対応するポインタの段に対し1を、他
の段にはOを入力することができる。このコラムデコー
ダCD2は、ビット線BL、BLをデータバスDB、D
Bへ接続するコラムデコーダCDIと同じ構造であり、
一般的には第3図伽)の如き構成を有する。AO,Al
、・・・・・・はアドレスの各ビット、AO,Al、・
・・・・・はその反転信号である。
これらはMOSトランジスタQ1.Q2.・・・・・・
のゲートに加えられ、これらのトランジスタは2つずつ
並列にかつ全体も線II+、12間に並列に接続される
。対のトランジスタQ1とQ2.Q3とQ4.・・・・
・・はいずれか一方が切り離される。X印は切離を示し
ており、本例ではトランジスタQ2゜Q3.Q5.・・
・・・・が切り離され、Ql、Q4.Q6、・・・・・
・が有効である。この有効なトランジスタQ1.Q4.
Q6.・・・・・・に加わるア・ドレス信号へ〇、A了
、に7.・・・・・・のいずれも0従ってL(ロー)レ
ベルのときトランジスタは全てオフで線1+。
12間は開放、いずれか1つでも1従ってH(ハイ)レ
ベルのときいずれかのトランジスタがオンで線11+、
l12間は該オンのトランジスタにより短絡される。
線1+、ly間が短絡状態であると12はVssのため
IIはLになり、オンであるトランジスタQ21を通し
てトランジスタQ20のゲートをディスチャージする。
Q20はゲートがしてあるためONせず、選択信号CD
が入力しても出力CLはLである。線Ill、12間が
開放状態であるとトランジスタQ20はオン(線11は
電源高電位側Vccヘリセット時にプルアップされてい
る)、出力CLはHである。第3図(blの回路は各ビ
ット線毎に設けられ、出力CLがHになるのは多数のビ
ット線のうちの1つのみで、他はLになる。この機能に
より第2図のコラムデコーダCDIはビット線BLiと
W工i、BL、++  とB L 、+ l + ・・
・・・・のうちの1組のみをデータバスDB、DBへ接
続し、コラムデコーダCD2は1つ(選択したビット線
)のみ1で他はOのデータをポインタSRi。
S Ri+ l + ・・・・・・に与えることができ
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら第2図の従来装置ではコラムデコーダをC
D1.CD2の2つ必要とする。コラムデコーダはdビ
ット線に対し第3図世)の如き回路を必要とし、ビット
線が256本なら第3図世)の回路を256個備える。
従ってか\るコラムデコーダを2つ設けるのは得策でな
い。即ち2倍のスペースを必要とし、両回路を駆動する
からアドレス線などの負荷が大になり、動作時の消費電
力も増す。
本発明はコラムデコーダを1つで済ませ、集積度の向上
、低コスト化などを図ろうとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、ビット線の各々に接続されるラッチ及び、該
ラッチを高速読出し用データバスへ接続制御するポイン
タからなる高速読出し回路を備える半導体記憶装置にお
いて、ビット線を通常読出し用データバスへ接続制御す
るコラムデコーダの各出力端と該ポインタの各段とを接
続して、該ポインタへ与える高速読出し開始番地指定用
データを該コラムデコーダより与えるようにしてなるこ
とを特徴とするものである。
〔実施例〕
第1図に示すように本発明はコラムデコーダを1つとし
、これによりビット線BL、BLのデータバスDB、D
Bへの接続の制御及び、ポインタSRi、SJ+1 、
・・・・・・への前記データ付与を行なう。全図を通し
てそうであるが、第1図では第2図と同じ部分には同じ
符号が付してあり、そして第1図ではRAM(II(セ
ルアレイ側)のコラムデコーダCDIが設けられ、ポイ
ンタSRi、SR,+1.・・・・・・側のコラムデコ
ーダが省略され、RAM側コラムデコーダCDIより前
記データがポインタS Rk +  S R1+ 1+
 ・・・・・・ヘロードされるように配線L i+  
Li+l + ・・・・・・が設けられる。
コラムデコーダCDIはダイナミックRAMの通常読出
し即ち1メモリセルのアクセスに用いられ、高速読出し
即ちワード線単位のメモリセル群−斉読出しには用いら
れず、休止伏態にある(つまり、このときは、コラムデ
コーダCD2が働いている)から、このコラムデコーダ
CDIを高速読出し時にも動作させてポインタ用データ
を発生することは時間的に可能である。
第1図および第2図のダイナミックRAMはセンスアン
プの両側にビット線BL、BLが延びるのでオープンビ
ット線型と呼ばれるが、センスアンプの一例にのみビッ
ト線BL、BLが延びる、又はビット線がセンスアンプ
で折り返すフォルデッドビット線型もある。またデータ
バスは一対でなく、複数本備えるものもあり、か−る型
のダイナミックRAMに本発明を通用した例を第4図に
示す。ビット線BLIと肌+、BL2と「12・・・・
・・はセンスアンプSA1.SA2.・・・・・・の左
側にのみあり、データバスはDBI−DB4の4本に分
けられている。WL+、WL+、・・・・・・はローデ
コーダLDにより選択されるワード線、MCはこれらの
ワード線とビット線の各交点に接続されるメモリセル、
RAo〜RATはローアドレス、CAo〜CAsはコラ
ムアドレスである。コラムアドレスもローアドレスと同
じに8ビツトであるが、2ビツトはデータバスDBI〜
DB4の選択に用いられる。ここでは簡単のためデータ
バスを相補対DB、DBで考えず単線データバスで考え
る。コラムデコーダの出力はビット線数だけ、従って本
例では256個必要であるが、本回路のようにデータバ
スを4本にすると該出力は1/4の64で済む。即ちこ
のコラムデコーダCDIの出力CL l、 CL 2.
−・・・・・は4重重位でビット線を選択し、該4本内
の1本の選択はデータバスDB1〜DB4を選択するこ
とにより行なわれる。コラムアドレスが2ビツト減ると
コラムデコーダCDIは第3図(a)のように簡単化さ
れる。
このようなダイナミックRAMでは高速読出し回路のデ
ータバスも同数の4本とするのがよい。
5DBI〜4がそれであり、これに合せてラッチ回路F
FI、FF2.・・・・・・も4偏重位でポインタSR
1,SR2,・・・・・・により選択される。ポインタ
の各段SR1,SR2,・・・・・・はラッチFF 1
゜FF2.・・・・・・と同数従って本例では256個
必要であるが、データバス5DBI、5DB2.・・・
・・・を4本にするとその1/4.64(ifで済む。
このようにするとコラムデコーダCDIからポインタS
RI、SR2,・・・・・・へ前記データをロードする
配線Ll、L2・・・・・・も1/4の64本で済む。
第5図はフォルデッドビット線を備えるがデータバスは
1本のみのダイナミックRAMに対する本発明の適用例
を示す。この場合はポインタの各段SRI、SR2,・
・・・・・はビット線と同数本例では256段必要にな
り、コラムデコーダCDIの出力cLtTct、z、・
・・・・・をポインタの各段ヘロードする配線L+、L
2.・・・・・・も同数、本例では256本必要になる
第6図はオーブンビット線型でデータバスを4本持つダ
イナミックRAMに本発明を通用した例を示す。DB+
〜DBaがその4本のデータバスで、コラムデコーダC
DIの1出力はセンスアンプを4偏重位SA+〜SA4
.・・・・・・でこれらのデータバスへ接続する。この
場合もポインタはビット線数の1/4、本例では64段
でよ(、コラムデコーダ出力をポインタヘロードする配
線し+。
L2・・・・・・も64本でよい。
セルアレイは1チツプに複数個設けることもある。第7
図は2ブロック設けた例を飛し、この場合は同図(a)
に示すように第1.第2のセルアレイCAYI、CAY
2をチップの両側に、そして中央に各セルアレイに対す
るラッチとポインタからなる高速読出し回路及びコラム
デコーダを設けてもよく、或いは同図(blに示すよう
に各セルアレイに対するコラムデコーダを共通の1つの
コラムデコーダにしてもよい。(′b)の方が集積度の
一層向上が図れる。
なおラッチとポインタからなるこの高速読出し回路は高
速書込みも可能なものである。例えば第1図でデータバ
スSDBにシリアル書込みデータを与え、該データと同
期してポインタSRi、SRi+l+ ・・・・・・を
シフトしてゲート群G3のゲートを逐次開き、第i、第
i+1.・・・・・・番目の書込みデータをラッチFF
 i、FF、+1 、・・・・・・に逐次取り込ませ、
こうして1ワ一ド線分の書込みデータをラッチF F 
i、  F F++i 、・・・・・・に取込ませたら
、RAM書込みモードに入り、ゲートG2を開いてビッ
ト線BL t、BLt+t +  ・・・・・・をラッ
チFF i。
F F 、+ 1 + ・・・・・・のデータに従がう
H,Lレベルにし、か\る状態で1ワード線を選択すれ
ば、当該ワード線に連なるメモリセル群に各々のビット
線電位が一斉に書込まれる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明ではラッチとポインタからな
る高速読出し回路を備えるダイナミックRAMの、読出
し開始番地−を指定するため該ポインタにロードするデ
ータを、ビット線とデータバスとの接続を制御するコラ
ムデコーダより得るようにしたので、該データを作成す
るための第2のコラムデコーダを必要とせず、メモリの
集積度向上、コスト低減、消費電力低減など、寄与する
所は大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す説明図、第2図は従来例
の説明図、第3図はコラムデコーダの回路図、第4図〜
第7図は本発明の他の実施例の説明図である。 図面で、B L t、 B L++1.・・・・・・は
ビット線、F F i、  F F++x *・・・・
・・はラッチ、SDBは高速読出し用データバス、SR
i、SRt++ 、・・・・・・はポインタ、DB、D
Bは通常読出し用データバス、CDIはコラムデコーダ
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  ビット線の各々に接続されるラッチ及び、該ラッチを
    高速読出し用データバスへ接続制御するポインタからな
    る高速読出し回路を備える半導体記憶装置において、 ビット線を通常読出し用データバスへ接続制御するコラ
    ムデコーダの各出力端と該ポインタの各段とを接続して
    、該ポインタへ与える高速読出し開始番地指定用データ
    を該コラムデコーダより与えるようにしてなることを特
    徴とする半導体記憶装置。
JP60000313A 1985-01-05 1985-01-05 半導体記憶装置 Pending JPS61160898A (ja)

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JP60000313A JPS61160898A (ja) 1985-01-05 1985-01-05 半導体記憶装置
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JP (1) JPS61160898A (ja)
KR (1) KR900008935B1 (ja)
CA (1) CA1246741A (ja)
DE (1) DE3584241D1 (ja)
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