JPS62146490A - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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JPS62146490A
JPS62146490A JP60288320A JP28832085A JPS62146490A JP S62146490 A JPS62146490 A JP S62146490A JP 60288320 A JP60288320 A JP 60288320A JP 28832085 A JP28832085 A JP 28832085A JP S62146490 A JPS62146490 A JP S62146490A
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JP
Japan
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data
ram
column address
input
line
Prior art date
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Pending
Application number
JP60288320A
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English (en)
Inventor
Toshio Wada
和田 俊男
Noritoshi Abe
安部 文紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP60288320A priority Critical patent/JPS62146490A/ja
Publication of JPS62146490A publication Critical patent/JPS62146490A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 くイ)産業上の利用分野 本発明は、半導体メモリに関し、特にコンデンサに蓄積
された電荷をセンスアップで読み出すダイナミックメモ
リに関する。
(ロ)従来の技術 従来のダイナミックメモリは第2図の如く構成されてい
る。第2図に於いて、センスアップ(1)の一対のセン
スノードにはビット線BL及びBLが設けられ、各々の
ビット線BL及びBLには、ローアドレスデコーダ(図
示せず)から出力される複数のワードBwによって選択
されるメモリセル(2)が複数接続されると共にローア
ドレスデコーダから出力されるダミーワード線DW及び
DW゛で選択されるダミーセル(3)か接続される。
また、カラムアドレスデコーダ(図示せず)のカラム線
φ、によって制御されるMOSFET<4>(5)が、
出力回路(図示せず)の入力に接続された出力ll10
及び局とビット線BL及び11の間に設けられている。
第2図に示された回路に於いて、ビット線BL及び1t
のプリチャージ後、ワード線Wの一木、及び、ダミーワ
ード線DWあるいはDW’が出力されることにより、ビ
ット線BL及び11にメモリセル(2)・とダミーセル
(3)が接続される。そこで、タイミング信号φs1が
“1゛′となるとセンスアップ(1)のセンス動作が開
始され、更に、タイミング信号φ、2が“1゛′となる
ことによりセンス動作が急速に進み、ビット線BL及び
肌に接続されたメモリセル(2)とダミーセル(3)に
蓄積された電荷の差によって発生する微弱な電位差がセ
ンスアップ(1〉によって増幅され、ビット線BL及び
11の電位差が拡大する。そして、センス動作の終了し
たタイミングに於いて、カラムアドレスデコーダからカ
ラム線φアの一本が“1″となることにより、一対のM
 OS F E T(4)(5)がオンとなり、このM
 OS F E T(4)(5)を介してビット線BL
及び11のデータが出力線I10及び刀に送出きれ、出
力回路から出力される。
上述の如く構成されたD−RAMは、昭和58年7月1
8日に発行された日経エレクトロニクスの第169頁か
ら第192頁に記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 ところで、第2図に示されたD−RAMに於いて、ロー
アトし・スデータを印加した後、カラムアドレスデータ
を印加する読み出し方法が通常の方法であるが、読み出
しスピードを速くするために、ローアドレスデータを印
加した後、カラムアドレスデータを印加する毎に、ビッ
ト線BL及びBLを選択しデータを読み出すベージモー
ドがあるが、この場合、ワード線は電荷のチャージの型
で選択きれているため、ワード線が選択きれている期間
は一定時間(10μs〉以内であり、カラムアドレスの
アクセスは一定時間以上はできないものである。そこで
、スタティックにカラムアドレスのアクセスが行えるス
タティックカラム方式が実現されている。
しかしながら、ベージモード及びスタティックカラム方
式のいずれにしても、リフレッシュタイミングに於いて
は、アクセスを止めてリフレッシュ動作を行わなければ
ならず、リフレッシュ後に再度ローアドレス及びカラム
アドレスを印加してアクセスを行わなければならない欠
点があった。
(ニ)問題点を解決するための手段 本発明は、上述した点に鑑みて為されたものであり、複
数のセンスアップのセンスノードに接続されたビット線
と複゛数のワード線との間にダイナミックメモリセルを
配置し、前記ビット線に読み出されたデータをカラムア
ドレスデコーダからの選択信号で制御されるゲートを介
して複数の入出力線に伝達する半導体メモリに於いて、
前記複数の入出力線を延在し、該入出力線とカラムアド
レスデコーダからの選択信号線との交点に、その選択信
号線によって制御されるスタティックメモリセルを配置
して成るスタティックメモリを設けたものであり、D−
RAMと5−RAMとが半導体のワンチップ上に形成き
れたメモリを提供するものである。
(ホ)作用 上述の手段によれば、ローアドレスデータが先ず印加さ
れるとワード線Wによって選択されたダイナミックメモ
リセルの電荷量に応じた電位差がセンスアップのセンス
動作によってビット線BL及びBLに発生する。次に、
カラムアドレスデータを印加するとカラムアドレスデコ
ーダからの選択信号線Yの一本が励起され、その選択さ
れた一本に接続されたゲートを介してビット線BL及び
BLに読み出されたデータが、複数ビット単位、例えば
4ビツトあるいは8ビツトで入出力信号線110に送出
され、外部のデータ端子に印加されると共に、入出力信
号線I10に送出されたデータは、選択信号線Yの一本
によって選択されたスタティックメモリセルに記憶保持
される。その後、同一カラムアドレスデータを印加する
ことにより、スタティックメモリセルに記憶保持された
データが入出力信号線I10に読み出きれ、外部のデー
タ端子から取り出される。
(へ)実施例 第1図は本発明の実施例を示すブロック図である。D−
RAM部(6)は、複数のセンスアップ(7)と、セン
スアップ(7)のセンスノードに各々接続された複数の
ビット線BLi及びB Li(i= 1〜m)と、ロー
アドレスデコーダ(8)から出力される複数のワード線
Wi(i=1 、2 、・・・)と各々のピント線BL
i及びBLiとの交点に配置されたダイナミックメモリ
セル(9)とから構成される。センスアップ(7)は、
周知のゲーテイツトフリップフロップ型のセンスアップ
であり、タイミング信号φ、1及びφ、2が印加された
MOS F ET<10)及び(11)によって、セン
ス動作が制御される。即ち、ローアドレスデコーダ<8
)にローアドレスデータが印加されると、そのデータに
従ったワード線Wi及びダミーワード線DWあるいはD
W’が励起され、各々に接続されたダイナミックメモリ
セル(9)とダミーセル(12)との蓄積電荷量の差に
応した微少電位差が各々のビット線BLi及びBLi間
に生じ、その電位差は、タイミング信号必。
1及びφ、2によって制御されるセンスアップ(7)の
センス動作により拡大する。
また、D−RAM部(6)の各々のビット線BLi及び
「口と複数の入出力線l10i、l10i(i = 1
〜8)との間には、タイミング信号≠、3で制御される
MOS F ET(13)と、カラムアドレスデコーダ
(14)から出力される選択信号線Yi(i = l〜
n)で制御されるMOS F ET(15)が設けられ
る。入出力信号線l10i及びl10iは、入出力/ス
ッファ(16)を介して8個のデータ入出力端子<17
)と接続されると共に、5−RAM部(18)に延在き
れる。
5−RAM部(18)は、延在された入出力信号線l1
0i及び110iと、カラムアドレスデコーダ(14)
から出力される選択信号線Yiとの交点に各々配置きれ
たスタティックメモリセル(19)が設けられて成る。
スタティックメモリセル(19)は、C−MO8あるい
はシングルチャンネルMO3から成る2個のインバータ
の入出力を互いにクロス接続し、その接続点と入出力信
号線l10i及びl10iとの間に選択信号線Yiがゲ
ートに接続されたMOS F ETが接続されて構成さ
れる。即ち、5−RAM部(18)の容量は、選択信号
線Yiの数nと入出力信号線l10i及びl10iの数
r8」との積、8nであり、この容量は、D−RAM部
(6)に於いて、一本のワード線Wiで選択され読み出
されるビット数1m」と等しい。
前述の如く、ローアドレスデータを印加することによっ
てD−RAM部(6)の各々のビット線BL1及びBL
iにデータが読み出された状態に於いて、タイミング信
号φ3.が“1゛′となってMOSFET(13)がオ
ンとなり、更に、カラムアドレスデータの印加によりカ
ラムアドレスデコーダ(14)の選択信号Yiが一本励
起されると、その選択信号線Yiに接続ぴれた16個の
MOS F ET(15)がオンとなるため、ビット線
BLi及びBLiに読み出されたデータが8ビット単位
でMOSFET(13)及び(15)を介して入出力信
号線l10i及びx1cy=に送出される。このとき、
励起された選択信号線Y1に接読された8個のスタティ
ックメモリセル(19)のMOS F ETがオンとな
るため、入出力信号線l10i及びσ市に伝達されたデ
ータは、8個のスタティックメモリセル(19)に記憶
保持される。
その後、タイミング信号φ53が“0“′となることに
よってMOSFET(13)がオフとなると、D−RA
M部(6)は入出力信号線l10i及びl10iと切り
離される。従って、この状態ではD−RAM部(6〉の
リフレッシュが自由に行え、また、リフレッシュ中に前
記と同じ力ラムアドレスブータラ印加するとすでにデー
タの記憶保持をしている8個のスタティックメモリセル
(19)が選択信号線Yiによって選択され、入出力信
号線l10i及び四に記憶きれたデータが8ビット単位
で送出される。
一方、ワード線WiによってD−RAM部(6)のビッ
ト線BLi及び「口にデータが読み出された状態に於い
て、選択信号Y1、Y2、・・・Ynが順次励起される
ようにカラムアドレスを印加すれば、D−RAM部(6
)で読み出きれたデータはすべて5−RAM部(18)
に記憶されることになり、その後、任意のカラムアドレ
スデータを印加することによっていつでもデータを取り
出すことができる。
(ト)発明の効果 上述の如く本発明によれば、D−RAMと5−RAMと
がワンチップ上に内蔵され、完全スタティックカラム方
式の半導体メモリが得られるものであり、カラムアドレ
スのアクセス時間がD−RAMの場合に比へ太幅に短く
なる利点を有している。また、5−RAMのカラムアド
レスデコーダとD−RAMOカラムアドレスデコーダと
が同一であるため、デコーダ数を増加する必要がない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す回路図、第2図は従来例
を示す回路図である。 (6)・・・D−RAM部、 (7)・・・センスアッ
プ、(8)・・・ローアドレスデコーダ、(9)ダイナ
ミックメモリセル、(12>・・・ダミーセノ呟(13
)・=MO3FET、  (14)・・・カラムアドレ
スデコーダ、<15)・・・MOS F ET、 (1
6)・・・入出力バッファ、(17)・・・データ入出
力端子、 (18)・・・5−RAM部、(19)・・
・スタティックメモリセル。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士  佐 野 静 夫 第1図       6

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数のセンスアップのセンスノードに接続されたビ
    ット線と複数のワード線との間にダイナミックメモリセ
    ルを配置し、前記ビット線に読み出されたデータを、カ
    ラムアドレスデコーダからの選択信号で制御されるゲー
    トを介して複数の入出力線に伝達する半導体メモリに於
    いて、前記複数の入出力線が延在され、該入出力線と前
    記カラムアドレスデコーダからの選択信号線との交点に
    スタティックメモリセルを配置し、前記複数のビット線
    に読み出されたデータを前記スタティックメモリセルに
    保持し、前記カラムアドレスデータに基いて前記スタテ
    ィックメモリセルに保持されたデータを複数ビット単位
    で読み出すことを特徴とする半導体メモリ。
JP60288320A 1985-12-20 1985-12-20 半導体メモリ Pending JPS62146490A (ja)

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