KR910013285A - 불휘발성 반도체메모리 - Google Patents
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- G11C16/28—Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells
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- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 불휘발성 반도체메모리의 개략적인 회로구성을 도시한 블럭도,
제2도는 상기 실시예의 회로를 상세히 나타낸 회로도.
Claims (4)
- 복수개의 불휘발성 메모리셀 및 이들 메모리셀과는 전기적 특성이 다른 더미셀이 동일 비트선에 접속된 선충전 및 방전방식의 제1메모리어레이(10)와, 이 제1메모리어레이와 동일한 구성인 제2메모리어레이(13), 상기 제1, 제2메모리어레이내의 메모리셀을 선택함과 더불어 제1메모리어레이내의 메모리셀을 선택할 때에는 제2메모리 어레이내의 더미셀을 선택하고 제2메모리어레이내의 메모리 셀을 선택할 때에는 제1메모리어레이내의 더미셀을 선택하는 선택 수단(16∼18), 상기 선택수단에 의해 선택된 메모리셀 및 더미셀로부터 독출전위를 비교하여 메모리셀의 기억데이터를 출력하는 데이터검출수단(19)을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 데이터검출수단(19)을 상기 제1, 제2메모리 어레이의 사이에 배치한 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 데이터검출수단이 상기 제1, 제2메모리어레이의 선충전기간에 출력상태가 초기설정되고, 방전기간에 상기 선택수단에 의해 선택된 메모리셀 및 더미셀로부터의 독출전위의 비교를 행하는 CMOS형 플립플롭회로로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 제1, 제2메모리어레이내의 더미셀의 기화학적 크기가 메모리셀과는 다르게 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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