KR920702533A - 초기화 셋팅 회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치 - Google Patents

초기화 셋팅 회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치

Info

Publication number
KR920702533A
KR920702533A KR1019920700991A KR920700991A KR920702533A KR 920702533 A KR920702533 A KR 920702533A KR 1019920700991 A KR1019920700991 A KR 1019920700991A KR 920700991 A KR920700991 A KR 920700991A KR 920702533 A KR920702533 A KR 920702533A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power supply
level
circuit
voltage
initialization setting
Prior art date
Application number
KR1019920700991A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950010566B1 (ko
Inventor
다까시 고께쓰
데루오 세끼
Original Assignee
세끼사와 요시
후지쓰 가부시끼가이샤
하요시 도시유끼
후지쓰 브이 엘 에스 아이 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세끼사와 요시, 후지쓰 가부시끼가이샤, 하요시 도시유끼, 후지쓰 브이 엘 에스 아이 가부시끼가이샤 filed Critical 세끼사와 요시
Publication of KR920702533A publication Critical patent/KR920702533A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950010566B1 publication Critical patent/KR950010566B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/1093Input synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/1087Data input latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/20Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

초기화 셋팅 회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명에 따른 초기화 셋팅회로의 일실시예 구성을 보여주는 회로도이다. 제7도는 전원 공급의 온-셋트시 제6도에 나타낸 회로의 동작을 예시하는 신호 파형을 나타내는 챠트이다.

Claims (11)

  1. 설정된 레벨에 이르는 전원전압(Vcc)을 검출하기 위하여 전원 공급의 온-셋트에 응답하여 활성되는 검출회로(TR1,TR2,R,21)와 고전위 레벨로 초기화 셋팅회로의 출력신호(Vout)를 신장하거나, 저전위 레벨로 출력신호를 낮추기 위하여 상기 검출회로로부터의 검출신호(V1)출력에 응답하는 출력레벨 제어 회로를 구비함을 특징으로 하는 전원 공급의 온-셋트시 반도체 메모리 장치에서 래치회로(30)의 초기 상태를 셋팅하기 위한 초기화 셋팅 회로(20)).
  2. 제1항에 있어서, 상기 검출회로는 전원 공급의 온-셋트에 응답하여 활성되고, 설정된 문턱 레벨에 의해 상기 전원전압(Vcc)보다 낮은 레벨을 갖는 전압(V0)을 출력하는 반도체 소자(TR1)와, 상기 반도체 소자의 출력전압에 응답하고 상기 전원 전압을 수취하기 위한 인버터(21), 전원 공급의 온-셋트 후에 상기 인버터의 문턱 레벨에 비례된 상기 반도체 소자의 레벨 관계를 유지하기 위한 전압 유지회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  3. 제2항에 있엇, 상기 출력 레벨 제어회로(22)는 저전위의 전원 라인(Vss)과 고전위의 전원라인(Vcc)사이에 접속된 p채널 트랜지스터(TR5)와 n 채널 트랜지스터(TR6)를 포함하는 제1CMOS 인버터(22)를 구비함을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  4. 제3항에 있어서, 상기 반도체 소자의 출력전압에 응답하는 인버터는 저전위의 전원 라인(Vss)과 고전위의 전원라인(Vcc)사이에 접속된 p채널 트랜지스터(TR3)와 n채널 트랜지스터(TR4)를 포함하는 제2의 CMOS 인버터를 구비함을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 반도체 소자는 인헨스먼트형 n채널 트랜지스터이고 트랜지스터의 게이트는 그것의 드레인에 접속되는 것을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  6. 제4항에 있어서, 상기 반도체 소자는 p채널 트랜지스터이고, 이 트랜지스터의 게이트는 그것의 드레인에 접속되는 것을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  7. 제5항에 있어서, 상기 인헨스컨트형 n채널 트랜지스터(TR1)의 문턱 레벨은 상기 제2CMOS 인버터의 p채널 트랜지스터의 문턱 레벨 보다 높게 셋트되는 것을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  8. 제7항에 있어서, 상기 전압 유지 회로는 상기 제2 CMOS 인버터의 입력단자와 상기 고전위 전원 라인사이에 접속되는 p채널 트랜지스터(TR2)와, 상기 제2 CMOS 인버터의 입력단자와 상기 저전위 전원 라인(Vss)사이에 접속된 저항(R)을 구비하고, 상기 p채널 트랜지스터는 상기 제2 CMOS 인버터의 입력 전압레벨을 유지하기 위한 턴온 및 턴 오프 되어지도록 상기 제2CMOS 인버터의 출력 전압 레벨에 응답하는 것임을 특징으로 하는 초기화 셋팅 회로.
  9. 메모리 셀 어레이(1), 각 내부 회로의 동작을 동기시키기 위하여 클럭 신호를 발생시키는 회로(2), 상기 클럭 신호에 응답하여 외부 어드레스 신호와 데이타 및 제어신호를 수취하고, 수치된 상태를 유지하기 위한 래치 수단(30)과 전원 공급의 온 셋트 상기 래치 수단의 초기 상태를 셋팅하기 위한 초기화 셋팅 수단을 포함하는 레지스터 수단(4-7), 상기 레지스터를 통해 상기 어드레스 신호와 데이터 및 제어신호를 토대로 상기 메모리 셀 어레이에서 메모리의 엑세스와 데이터 리딩 및 라이팅을 제어하기 위한 주변 회로(8-13)를 구비하고, 상기 초기화셋팅 수단은 설정된 레벨에 이르는 전원전압(Vcc) 을 검출하기 위한 전원 공급의 온-셋트에 응답하여 활성되는 검출회로(TR1,TR2,R,21), 고전위 레벨로 초기화 셋팅 회로의 출력신호(Vout)를신장시키거나 또는 저전위 레벨로 출력신호를 낮추기 위하여 상기 검출회로로부터의 검출신호(V1)출력에 응답하는 출력레벨 제어 회로, 전원 전압으로서 상기 래치회로에 공급되는 것으로 상기 출력 레벨 제어회로에 의해 제어되는 출력 신호를 구비함을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 검출회로는 전원 공급의 온-셋트에 응답하여 활성되며, 설정된 문턱 레벨에 의해 상기 전원 전압(Vcc)보다 낮은 레벨을 갖는 전압(V0)을 출력하는 반도체소자(TR1)와, 상기 전원 전압을 수취하고 상기 반도체 소자의 출력 전압에 응답하는 인버터(21), 전원 공급의 온-셋트 후에 상기 인버터의 문턱 레벨에 비례한 상기 반도체 소자의 출력 전압의 레벨 관계를 유지하는 전압유지 회로(TR2,R)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 레제스터 수단은 상기 외부 어드레스 신호, 데이터 및 제어신호에 상응하여 각각 제공되는 복수개의 레지스터(4-7)를 포함하고, 복수개의 각 레지스터는 상기 래치수단을 갖으며, 복수개의 레지스터중 적어도 하나는 상기 초기화 셋팅 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920700991A 1990-08-28 1991-08-28 초기화 셋팅회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치 KR950010566B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP90-227215 1990-08-28
JP2227215A JPH04106784A (ja) 1990-08-28 1990-08-28 半導体集積回路
PCT/JP1991/001143 WO1992003825A1 (en) 1990-08-28 1991-08-28 Initializing circuit and semiconductor device using thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920702533A true KR920702533A (ko) 1992-09-04
KR950010566B1 KR950010566B1 (ko) 1995-09-19

Family

ID=16857301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920700991A KR950010566B1 (ko) 1990-08-28 1991-08-28 초기화 셋팅회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5307319A (ko)
EP (1) EP0500958A4 (ko)
JP (1) JPH04106784A (ko)
KR (1) KR950010566B1 (ko)
WO (1) WO1992003825A1 (ko)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0721778A (ja) * 1993-07-06 1995-01-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置とチェインメモリ装置及びデータ処理装置
JPH09512910A (ja) * 1994-05-04 1997-12-22 マウント・サイナイ・ホスピタル・コーポレイション TGF−βスーパーファミリーのサイトカインの変調因子およびそのアッセイ方法
JP2914870B2 (ja) * 1994-05-25 1999-07-05 株式会社東芝 半導体集積回路
DE69630108D1 (de) * 1996-04-29 2003-10-30 St Microelectronics Srl Zur Erreichung von Minimal-Funktionalitätsbedingungen von Speicherzellen und Leseschaltungen, insbesondere für nichtflüchtige Speicher, synchronisierte Speicherleseaktivierungsschaltung
US6115312A (en) * 1997-10-16 2000-09-05 Altera Corporation Programmable logic device memory cell circuit
DE19829287A1 (de) * 1998-06-30 2000-01-05 Siemens Ag Dynamische Halbleiter-Speichervorrichtung und Verfahren zur Initialisierung einer dynamischen Halbleiter-Speichervorrichtung
US6231147B1 (en) * 1999-04-19 2001-05-15 Texas Instruments Incorporated Data storage circuits using a low threshold voltage output enable circuit
US6369630B1 (en) * 1999-11-24 2002-04-09 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Single-event upset hardened reconfigurable bi-stable CMOS latch
JP3829041B2 (ja) * 2000-03-08 2006-10-04 株式会社東芝 強誘電体メモリ
JP4351819B2 (ja) * 2001-12-19 2009-10-28 株式会社東芝 半導体装置及び不揮発性半導体記憶装置
EP1324340A1 (en) 2001-12-28 2003-07-02 STMicroelectronics S.r.l. Static RAM with flash-clear function
JP2004062924A (ja) 2002-07-25 2004-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置及びその初期化方法
US7111110B1 (en) 2002-12-10 2006-09-19 Altera Corporation Versatile RAM for programmable logic device
US10191086B2 (en) * 2016-03-24 2019-01-29 Apple Inc. Power detection circuit

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2433328A1 (de) * 1974-07-11 1976-01-29 Philips Patentverwaltung Integrierte schaltungsanordnung
JPS59124075A (ja) * 1982-12-29 1984-07-18 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS60143498A (ja) * 1983-12-29 1985-07-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体入力回路
JPS60180216A (ja) * 1984-02-28 1985-09-14 Fujitsu Ltd 電圧検知回路
JPS6171714A (ja) * 1984-09-17 1986-04-12 Nec Corp ラツチ回路
JP2856355B2 (ja) * 1987-06-18 1999-02-10 富士通株式会社 半導体集積回路
US5124951A (en) * 1990-09-26 1992-06-23 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Semiconductor memory with sequenced latched row line repeaters

Also Published As

Publication number Publication date
US5307319A (en) 1994-04-26
EP0500958A1 (en) 1992-09-02
EP0500958A4 (en) 1993-04-07
JPH04106784A (ja) 1992-04-08
KR950010566B1 (ko) 1995-09-19
WO1992003825A1 (en) 1992-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900019039A (ko) 반도체기억장치
KR970023375A (ko) 데이터 유지회로
KR920702533A (ko) 초기화 셋팅 회로와 이것을 이용한 반도체 메모리 장치
KR910014955A (ko) 테스트 회로 내장 반도체 메모리
KR930003146A (ko) 어드레스 천이 검출회로 (atd)를 내장한 반도체 메모리장치
KR870002589A (ko) 센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치
US5724299A (en) Multiport register file memory using small voltage swing for write operation
KR960025777A (ko) 프리챠지 회로를 갖는 반도체 메모리 디바이스
KR910006997A (ko) 기생용량에 의해 야기된 오동작을 방지하기 위한 eprom의 디코더 회로
KR950001862A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR950007141B1 (ko) 의사 스태틱 ram의 제어회로
KR0177763B1 (ko) 비트라인 프리차아지회로
KR960025011A (ko) 메모리장치의 데이타 입출력 감지회로
JP2738782B2 (ja) 半導体集積回路
US5402010A (en) Semiconductor device including internal circuit having both states of active/precharge
KR930018584A (ko) 워드선(Word line)구동회로와 이를 이용한 반도체 기억장치
KR870007511A (ko) 데이타 판독회로
KR940018975A (ko) 반도체 메모리
KR930001422A (ko) 스태틱 반도체 메모리 디바이스
KR900005442A (ko) 반도체 기억장치
KR100572839B1 (ko) 한 쌍의 상보 신호선 상의 불필요하게 된 전하를 이용하는 반도체 장치
KR970049568A (ko) 순차엑세스를 위한 메모리장치
KR960012725A (ko) 반도체 메모리 장치의 출력 버퍼 회로용 제어 회로
KR0172761B1 (ko) 과전압 보호 회로를 갖는 메모리 소자
KR950009726A (ko) 반도체기억장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee