JP3829041B2 - 強誘電体メモリ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、強誘電体キャパシタとトランジスタによりメモリセルが構成される強誘電体メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】
強誘電体メモリ(FRAM)は、強誘電体キャパシタのヒステリシス特性を利用してデータを不揮発に記憶することが可能で且つ、電気的書き換えが可能である。不揮発にデータを記憶する電気的書き換え可能な半導体メモリとして、スタックトゲート構造の不揮発性メモリセルを用いたEEPROMがあるが、FRAMはEEPROMに比べて、書き換え可能回数が多い、書き込み時間が短い、低電圧動作が可能で低消費電力である、といった利点を有する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
一方、EEPROMはデータ読み出し動作が非破壊読み出しであるのに対し、FRAMは破壊読み出しであるという違いがある。即ち、FRAMの場合、読み出しのために電圧が強誘電体キャパシタに印加されたとき、データ“0”,“1”の必ず一方は、自発分極の反転を伴う。従って、読み出し後には、読み出しデータによって、反転した自発分極を再度反転させるという再書き込み動作が必要になる。
【0004】
図4を参照して具体的に説明すると、次のようになる。強誘電体キャパシタのヒステリシス特性の自発分極Pr1,Pr2が例えば、データ“1”,“0”の記憶状態である。この強誘電体キャパシタに、図4の正方向の電圧(例えばプレート電圧)を印加することにより、“0”データについては破線で示したように大きな信号電荷量を発生し、電圧を元に戻すと自発分極が反転した“1”データ状態になる。即ち、破壊読み出しがなされる。“1”データは信号電荷量が小さく、分極反転も生じない。その後、強誘電体キャパシタに負方向の電圧(例えば、ビット線から端子電極に供給される電圧)を印加することによって、破線で示したように“0”データの再書き込みがなされる。
【0005】
この様な破壊読み出しが行われるFRAMにおいては、電源投入直後等に、内部電圧が安定しない状態で読み出しが行われ強誘電体キャパシタに電圧が印加されると、例えば破壊読み出しがなされたまま正しい値が再書き込みされずに、保持データが破壊されるといったおそれがある。
DRAMにおいては、電源投入後、メモリ内各部の電圧が動作保証範囲になるまで待つように、ダミーサイクルと称して疑似アクセスを行うことを仕様上要求している。しかし、FRAMの場合は単にダミーサイクルを設ければよいというものではなく、ダミーサイクルを設けた場合でも、その間に正常に動作しない強誘電体キャパシタに電圧が印加されデータ破壊を生じる可能性がある。
【0006】
この発明は、上記事情を考慮してなされたもので、電源投入直後等のデータ破壊を確実に防止することを可能とした強誘電体メモリを提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る強誘電体メモリは、1つの強誘電体キャパシタと1つのトランジスタとを並列接続したメモリセル単位を複数個直列に接続して構成されるメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、このメモリセルアレイのメモリセル選択を行うデコード回路と、前記メモリセルアレイの選択されたメモリセルのデータを検知増幅するセンスアンプ回路と、電源投入後所定の猶予期間を経過せず且つ所定の内部状態に達する前においては、少なくとも前記メモリセルのワード線の全てを電源電位にして前記強誘電体キャパシタの両端を短絡した状態を保ち、電源投入後所定の猶予期間経過するか所定の内部状態に達した後に前記メモリセルアレイへのアクセスを許可するアクセス許可信号を出力するアクセス許可回路とを有することを特徴としている。
【0008】
この発明によるFRAMでは、アクセス許可回路を備えて、電源投入後ある猶予期間の間はメモリセルアレイに対するアクセスを禁止する。これにより、強誘電体キャパシタへの不安定状態の電圧印加によるデータ破壊を防止することができる。
【0009】
この発明において具体的には、外部から供給されるチップイネーブル信号をカウントするカウンタを備え、アクセス許可回路は、前記カウンタのカウント値が所定の値に達したことを検知して前記アクセス許可信号を出力するものとする。これにより、チップ内部状態を正常な状態に初期化してデータ破壊を防止するダミーサイクルが設定される。
【0010】
この発明において好ましくは、更に外部電源電圧が供給されて内部電源電圧を発生する内部電源回路を有し、アクセス許可回路は、内部電源回路が出力する内部電源電圧が所定の値に達したことを検知してアクセス許可信号を出力するものとする。これにより内部電源が不安定な状態での動作によるデータ破壊を防止することができる。
【0011】
この発明において好ましくは、外部電源電圧が供給されて内部電源電圧を発生するための、消費電流の切り換え機能を有する内部電源回路を有し、内部電源回路は、前記アクセス許可信号出力前においては低消費電流であり、前記アクセス許可回路から出力されるアクセス許可信号によりその出力前に比べて消費電流の大きい状態に設定されるようにする。これにより、アクセス許可信号出力前の消費電力を抑えながら、電源投入時の内部電圧の初期化を高速化し、アクティブ動作に入ったときの信頼性を確保することができる。
【0012】
この発明において、アクセス禁止の具体的な態様は、メモリセルアレイとセンスアンプ回路の間に選択ゲートがある場合に、選択ゲート駆動回路がアクセス許可回路から出力されるアクセス許可信号により活性化されるものとする。更に、前記アクセス許可信号出力前においては活性とされてメモリセルアレイのビット線を所定電位にイコライズするイコライズ回路を、アクセス許可回路から出力される許可信号により非活性化されるようにする。これらの態様の適当な組み合わせにより、データ破壊を防止することが可能になる。
【0013】
更にこの発明において、メモリセルアレイが、アクセス許可回路からのアクセス許可信号の有無に拘わらずアクセス可能なテスト領域が設定されており、アクセス許可回路は、テスト領域に対するテスト書き込みデータとその読み出しデータの一致を判定して前記アクセス許可信号を出力するものとすることができる。これにより、データ破壊のない電圧安定状態を確認してアクセス可能とすることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態を説明する。
[実施の形態1]
図1は、実施の形態1によるFRAMのブロック構成を示している。メモリセルアレイ1は、強誘電体キャパシタとトランジスタとからなるメモリセルMが配列されて構成される。メモリセルMは、ワード線WL及びプレート線PLとビット線BLの各交差部に配置される。このメモリセルアレイ1のワード線WLを選択駆動するのが、ロウデコーダ2であり、プレート線PLを選択駆動するのがプレート線デコーダ3である。
【0015】
メモリセルアレイ1は、1ビット線対BL,BBLについて示すと図2のように構成されている。ここでは、メモリセルMi(i=0〜n)が一つのトランジスタTiと一つの強誘電体キャパシタCiにより構成される1トランジスタ/1キャパシタ構成の例を示している。トランジスタTiのゲートはワード線WLiに接続され、強誘電体キャパシタCiの端子(プレート電極)はプレート線PLiに接続されている。
【0016】
ワード線WLiを駆動するワード線駆動回路23は、ロウデコーダ2に含まれる。プレート線PLiを駆動するプレート線駆動回路24は、プレート線デコーダ2に含まれる。ビット線BL,BBLは、セルアレイ内部とセンスアンプ回路4の領域の間で、選択ゲート22のNMOSトランジスタQN6,QN7により分離されている。この選択ゲート22は、例えばチェーン型FRAMの場合のブロック選択ゲート、或いは共有センスアンプの接続切り換えを行うための選択ゲート等である。選択ゲート22がブロック選択ゲートである場合、これを駆動する選択ゲート駆動回路25は例えば、ロウ系制御回路8−1に含まれるブロックデコーダにより選択的に活性化される。
【0017】
選択ゲート22の外のビット線BL,BBLにはビット線イコライズ回路21及び、ビット線センスアンプ回路4が設けられている。イコライズ回路21は、ビット線BL,BBL間を短絡するイコライズ用NMOSトランジスタQN10と、各ビット線BL,BBLに一端が接続されたプリチャージ用NMOSトランジスタQN11,QN12を有する。これらのトランジスタのゲートは共通にイコライズ信号EQLにより制御される。センスアンプ回路4は、NMOSトランジスタQN1,QN2からなるNMOSフリップフロップと、PMOSトランジスタQP1,QP2からなるPMOSフリップフロップにより構成される。
【0018】
ビット線BL,BBLは、カラムゲート5を構成するNMOSトランジスタQN4,QN5を介してデータ線DQ,BDQに接続される。カラムゲート5は、カラムデコーダ6により制御される。
読み出しデータは、データバッファ7を介してI/O端子に出力される。またI/O端子から入力される書き込みデータはデータバッファ7を介し、カラムゲート5により選択されたカラムのセンスアンプ回路4に転送されて、メモリセルアレイ1の選択メモリセルに書き込みがなされる。
【0019】
メモリセルアレイ1の読み出し書き込みの制御を行う制御回路8は、ロウ系制御回路8−1、カラム系制御回路8−2及び、リード/ライト制御回路8−3を有する。ロウ系制御回路8−1は、ロウアドレスを取り込んで、ロウデコーダ2やプレート線デコーダ3を制御する。カラム系制御回路8−2は、カラムアドレスを取り込んでカラムデコーダ6を制御する。リード/ライト制御回路8−3は、ビット線イコライズ信号EQL、センスアンプ活性化信号SAP,BSAN等を発生する。
メモリチップ内には、外部電源電圧Vextが供給されて、内部電源電圧Vintを発生する内部電源回路9も設けられている。この内部電源回路9は、必要に応じて昇圧電圧を発生する昇圧回路を含むものであっても良い。
【0020】
チップ外部から供給されるチップイネーブル信号/CEがメモリチップをアクティブ状態に設定するものである。即ち通常は、外部電源が投入され、チップイネーブル信号/CEが“L”となることにより、制御回路8によりメモリセルアレイのアクセス可能な状態になる。
但しこの実施の形態においては、電源が投入され、チップイネーブル信号/CEが“L”になっても直ちにはメモリセルアレイ1に対するアクセスが開始されないようにしている。
【0021】
具体的にこの実施の形態では、チップイネーブル信号/CEの立ち下がりをカウントするカウンタ10が設けられ且つ、このカウンタ10のカウント値がある定められた値になったことを検出してアクセス許可信号EN(EN0〜EN4)を発生するアクセス許可回路11が設けられている。このアクセス許可回路11により、電源投入後に所定の猶予期間を設定し、その猶予期間経過後に初めてメモリセルアレイ1に対するアクセスを可能としている。
【0022】
アクセス許可回路11は、内部電源回路9が出力する内部電源電圧Vintも監視している。これによりアクセス許可回路11は、内部電源電圧Vintがある定められたレベルに達した場合にアクセス許可信号ENを出力するようになっている。具体的に、アクセス許可回路11によるカウンタ10のカウント値の判定と、内部電源電圧Vintの判定とは、アクセス許可信号ENを発生するためのAND条件としてもよいし、或いはいずれか一方のみの判定を用いるようにしてもよい。
【0023】
アクセス許可信号ENとして、図の例では、ロウ系制御回路8−1に入る信号EN1、カラム系制御回路8−2に入る信号EN2、リード/ライト制御回路8−3に入る信号EN3、内部電源回路9に入る信号EN4、及び外部にフラグとして出力する信号EN0を示している。これらの信号EN0〜EN4は、一つの信号でもよいし、あるいは制御対象回路に応じて少しずつタイミングがずれた別々の信号としてもよい。
【0024】
図3は、カウンタ10によりチップイネーブル信号/CEの立ち下がりを3カウントした後に、アクセス許可回路11からアクセス許可信号ENが発生される様子を示している。図示のように、アクセス許可信号ENは、チップイネーブル信号/CEを所定数カウントした後の、チップイネーブル信号/CEが“H”の期間に発生させることが好ましい。これにより、制御回路はアクセス許可信号ENが“H”になった後のチップイネーブル信号/CEの立ち下がりを検出してアクティブ動作に入ることができる。具体的なアクセス許可信号の発生条件として、カウント値は1以上の任意の値を選択することができる。
図3ではまた、アクセス許可信号ENによりイコライズ信号EQLが“L”とされること、即ちイコライズ回路21によるイコライズ動作が解除されることを示している。
【0025】
アクセス許可信号ENによる各制御回路8−1,8−2,8−3に対する具体的な制御態様は、次のようになる。ロウ系制御回路8−1は、アクセス許可信号EN=“H”が入るまでは、ワード線WLを駆動するロウデコーダ2及びプレート線PLを駆動するプレート線デコーダ3を非活性に保つ。具体的に、アクセス許可信号ENによる制御は、ロウ系制御回路801が活性化信号を出力する出力段ゲートを非活性に保つことものであることが好ましい。
【0026】
これにより、アクセス禁止の猶予期間にはプレート線PLが駆動されず、従って強誘電体キャパシタに電圧が印加されず、データ破壊が防止される。またこの間、ワード線が駆動されないため、プレート線にノイズがのり、電位が上昇したとしても、強誘電体キャパシタのプレート電極と対向するセルノード電極はプレート線のノイズと同期して変動する。従って、強誘電体キャパシタに印加される電圧がプレート線のノイズより小さく抑えられる。例えば、強誘電体キャパシタの容量をCcell、セルノード電極の寄生容量をCparaとし、プレート線電位変動をVnoiseとしたとき、強誘電体キャパシタに印加されるノイズ電圧は、Vnoise×Cpara/Ccellに抑制される。ワード線が駆動されてトランジスタがオンしている場合には、最悪Vnoiseの電圧が強誘電体キャパシタに印加されることを考えると、電源が不安定な状態でのデータ破壊防止の効果が得られる。
【0027】
また、カラム系制御回路8−2は、アクセス許可信号EN2が“L”であるアクセス禁止の期間、カラムデコーダ6を非活性に保つ。リード/ライト制御回路8−3は、アクセス禁止の期間、イコライズ信号EQLを“H”(活性)に保ち、ビット線電位をプリチャージ電位VBLP(この場合、0V)に保つ。またセンスアンプ活性化信号SAP,BSANも非活性に保つ。これにより、プレート線電位とビット線電位が同電位に保たれるから、ワード線が誤って駆動され、或いはワード線にリークがあった場合にも、強誘電体キャパシタには電圧がかからず、データ破壊が防止される。
【0028】
更に、ロウ系制御回路8−1或いはカラム系制御回路8−2のいずれかは、メモリセルアレイ1の共有センスアンプ回路との結線の選択を行うデコーダを含み、このデコーダもアクセス許可信号EN=“H”により活性化される。これにより、アクセス許可信号ENが“L”であるアクセス禁止の期間、選択ゲート駆動回路25は非活性に保たれ、選択ゲートがオフに保たれる。この場合、メモリセルアレイ1のブロック選択ゲートの外側のイコライズ回路21やセンスアンプ回路4等の領域で電位変動等があったとしても、メモリセルには電位変動が伝達されず、やはりデータ破壊が防止される。
【0029】
なお、アクセス禁止の期間、プレート線、ワード線、選択ゲート等の駆動を禁止し、またイコライズ回路を活性に保つという全ての制御を行うことは、必ずしも必要ではない。少なくとも、プレート線、ワード線のいずれかがオフに保たれれば、強誘電体キャパシタの両端にかかる電圧は小さく、データ破壊を防止することができる。アクセス禁止の間、センスアンプ回路とビット線の間の選択ゲートがオフに保たれていれば、或いはプレート線やワード線の駆動が禁止されていれば、イコライズが解除されてもセルアレイには直接影響がないので差し支えない。
【0030】
この実施例ではまた、アクセス許可信号EN4が“L”の間、内部電源回路9は活性であるが低消費電流状態に保たれるようにしている。これにより、アクセス可能となったときの内部電源の所定電位への到達が速やかになり、第1回目のアクセスの信頼性向上が図られる。また第1回目のアクセスが可能となるまでの時間を待機電流を増加させることなく短縮することが可能になる。
【0031】
図5は具体的に、待機時とアクティブ時とで消費電流を切り換えるようにした内部電源回路9の構成例である。カレントミラー型差動回路51の差動トランジスタQN53,QN54の共通ソースに接続される基準電流源は、NMOSトランジスタQN51の経路と、抵抗R0を介在させたNMOSトランジスタQN52の2系統が用意されている。
【0032】
電源出力段は、差動回路51の出力によりゲートが制御されるPMOSトランジスタQP53と負荷回路からなる。負荷回路は、抵抗R1,R2の系統と、抵抗R3,R4の系統の2系統がある。抵抗R1,R2は例えば共に10MΩ程度の高抵抗である。抵抗R4,R5は例えば共に100kΩ程度の低抵抗であり、この系統には、アクセス許可信号/EN4,EN4によりそれぞれ制御されるPMOSトランジスタQP54、NMOSトランジスタQN55が挿入されている。これらの抵抗R1,R2の接続ノード及び抵抗R3,R4の接続ノードは、差動回路51のNMOSトランジスタQN54のゲートに帰還接続されており、これにより出力安定化が図られている。
【0033】
この内部電源回路9では、待機状態では、差動回路51の基準電流源は小さいゲート電圧で駆動されるNMOSトランジスタQN52側のみオンであり、小さい消費電流値に抑えられている。アクセス許可信号EN4が“H”になることにより、NMOSトランジスタQN51がオンして、消費電流値が大きくなる。消費電流値が大きくなると、応答速度の高速化が可能になる。出力段についても、待機状態では抵抗R1,R2の経路が負荷となり、低電流状態に保持され、アクセス許可信号EN4が“H”になると、抵抗R3,R4が負荷となって、消費電流の大きい状態になる。
以上のように内部電源回路9の消費電流を、アクセス禁止期間とその後のアクセス時とで切り換えることにより、待機時消費電力が抑えられ、且つ電源投入時即ちアクセス禁止期間に内部電位が待機時より高速に所望の値に達するため、1回目のアクセスの信頼性が向上する。
【0034】
また、図1の構成では、アクセス許可信号EN0をフラグとして外部に出力するようにしている。これにより、内部電源電位が所定値に達していない等により、アクセスが禁止されていることをシステム側に通知することが可能になる。この場合、アクセス許可信号EN0は、直接外部に出力してもよいし、適当な手順例えばコマンド等により他の共有ピンから単一ビット或いはコード等により読み出されるようにしてもよい。
【0035】
[実施の形態2]
図6は、別の実施の形態によるFRAMのブロック構成を示している。基本的なFRAM構成は、図1と同じであり、図1と対応する部分には図1と同じ符号を付してある。この実施の形態では、図7に示すように、メモリセルアレイ1には、アクセス許可回路11からのアクセス許可信号の有無に拘わらずアクセス可能な、例えば特定のロウアドレスで選択されるテスト用セルアレイ領域(以下、単にテスト領域という)101が設定されている。テスト領域101は、テストデータの書き込みと読み出しが可能な領域であり、通常動作ではアドレスが割り付けられない冗長領域であってもよい。
【0036】
この実施の形態の場合、アクセス許可回路11は、テスト領域101に対するテスト書き込みデータと、書き込まれたデータを読み出した読み出しデータとの一致を判定して、アクセス許可信号ENを出力するものとする。
具体的には、図6に示すように、データバッファ7の部分に、書き込みデータを保持するライトデータラッチ回路71と読み出しデータを保持するリードデータラッチ回路72が設けられている。予備テスト時、アクセス許可回路11によりアクセスが禁止されていない、テスト領域101に対応する制限されたロウアドレス領域に対して、予備的データ書き込みと読み出しを行う。そして、アクセス許可回路11は、ライトデータラッチ回路71の保持データとリードデータラッチ72の保持データの一致を検出して、アクセス許可信号ENを出力する。
【0037】
即ちこの実施の形態の場合、アクセス許可回路11は、アクセス可能幅を変更する機能を持ち、狭いアドレス空間への書き込みデータとその読み出しデータの比較により、アクセス可能幅を切り換え制御することになる。
この実施の形態によっても、電源投入後、データ破壊が許されない領域へのアクセスを禁止してデータ破壊を防止し、データの読み書きが保証されてからアクセス可能とすることができる。
【0038】
この実施の形態において、テスト時の読み書きデータは好ましくは複数ビットとする。これにより、アクセス許可の判定の信頼性を高いものとすることができる。
なおこの実施の形態では、オンチップでアクセス制限及びデータ比較を行うようにしているが、これらの機能をチップに設けず、システム側に用意してもよい。これによりFRAMチップのコスト低減が可能になる。但し、システム側にアドレス特定等のアクセス制限を施した場合、その機能が達成されるのはチップに与えるアドレス等がチップで正しく解釈された場合のみであるので、上記実施の形態のようにオンチップでアクセス制限を用いる方がはるかに信頼性は向上する
。
【0039】
ここまでの実施の形態では、1トランジスタ/1キャパシタのメモリセル構造を持つFRAMを説明したが、この発明はこれに限られない。例えば、図8に示すように、2トランジスタ/2キャパシタにより1ビット記憶を行うメモリセルMを構成するFRAMにも同様にこの発明を適用できる。また、図9に示すように、1トランジスタ/1キャパシタのメモリセルMを複数個(図の場合、8個)直列にチェーン接続したチェーン型FRAMにも同様にこの発明を適用することができる。このチェーン型FRAMの場合、待機状態では全ワード線WLを“H”として、強誘電体キャパシタの両端を短絡した状態を保ち、選択されたワード線を“L”として読み出し書き込みを行う。従って、アクセス許可回路11による制御は、▲1▼アクセス許可信号ENが“H”になるまで、全ワード線を“H”とした待機状態に保つ、▲2▼プレート線を駆動しない、▲3▼ブロック選択線をオン駆動としない、の少なくとも一つを満たすものとする。
【0040】
【発明の効果】
以上述べたようにこの発明によるFRAMでは、アクセス許可回路を備えて、電源投入後ある猶予期間の間はメモリセルアレイに対するアクセスを禁止することにより、強誘電体キャパシタへの不安定状態の電圧印加によるデータ破壊を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態によるFRAMのブロック構成を示す図である。
【図2】同実施の形態によるメモリセルアレイの構成を示す図である。
【図3】同実施の形態のアクセス許可信号を示す図である。
【図4】同実施の形態の強誘電体キャパシタのヒステリシス特性を示す図である。
【図5】同実施の形態の内部電源回路の構成を示す図である。
【図6】この発明の他の実施の形態によるFRAMのブロック構成を示す図である。
【図7】同実施の形態のメモリセルアレイの構成を示す図である。
【図8】この発明が適用される他のメモリセルアレイ構成を示す図である。
【図9】この発明が適用される他のメモリセルアレイ構成を示す図である。
【符号の説明】
1…メモリセルアレイ、2…ロウデコーダ、3…プレート線デコーダ、4…センスアンプ回路、5…カラムゲート、6…カラムデコーダ、7…データバッファ、8…制御回路、9…内部電源回路、10…カウンタ、11…アクセス許可回路、21…イコライズ回路、22…ブロック選択ゲート、23…ワード線駆動回路、24…プレート線駆動回路、25…ブロック選択ゲート駆動回路。
Claims (8)
- 1つの強誘電体キャパシタと1つのトランジスタとを並列接続したメモリセル単位を複数個直列に接続して構成されるメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、
このメモリセルアレイのメモリセル選択を行うデコード回路と、
前記メモリセルアレイの選択されたメモリセルのデータを検知増幅するセンスアンプ回路と、
電源投入後所定の猶予期間を経過せず且つ所定の内部状態に達する前においては、少なくとも前記メモリセルのワード線の全てを電源電位にして前記強誘電体キャパシタの両端を短絡した状態を保ち、電源投入後所定の猶予期間経過するか所定の内部状態に達した後に前記メモリセルアレイへのアクセスを許可するアクセス許可信号を出力するアクセス許可回路と
を有することを特徴とする強誘電体メモリ。 - 外部から供給されるチップイネーブル信号をカウントするカウンタを備え、
前記アクセス許可回路は、前記カウンタのカウント値が所定の値に達したことを検知して前記アクセス許可信号を出力するものである
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 外部電源電圧が供給されて内部電源電圧を発生する内部電源回路を有し、
前記アクセス許可回路は、前記内部電源回路が出力する内部電源電圧が所定の値に達したことを検知して前記アクセス許可信号を出力するものである
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 外部電源電圧が供給されて内部電源電圧を発生するための、消費電流の切り換え機能を有する内部電源回路を有し、
前記内部電源回路は、前記アクセス許可信号出力前においては低消費電流であり、前記アクセス許可回路から出力されるアクセス許可信号によりその出力前に比べて消費電流の大きい状態に設定される
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 前記デコード回路は、メモリセルアレイを前記センスアンプ回路に接続するための選択ゲートを駆動する選択ゲート駆動回路を有し、
前記選択ゲート駆動回路が前記アクセス許可回路から出力されるアクセス許可信号により活性化される
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 前記アクセス許可信号出力前においては活性とされて前記メモリセルアレイのビット線を所定電位にイコライズするイコライズ回路を有し、
前記イコライズ回路は、前記アクセス許可回路から出力される許可信号により非活性化される
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 前記メモリセルアレイは、前記アクセス許可回路からのアクセス許可信号の有無に拘わらずアクセス可能なテスト領域が設定されており、
前記アクセス許可回路は、前記テスト領域に対するテスト書き込みデータとその読み出しデータの一致を判定して前記アクセス許可信号を出力するものである
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - 前記メモリセルアレイのテスト領域に書き込むテスト用データを保持する書き込みデータラッチ回路と、前記メモリセルアレイのテスト領域に書き込まれたデータを読み出して保持する読み出しデータラッチ回路とを備え、
前記アクセス許可回路は、前記書き込みデータラッチ回路と読み出しデータラット回路の保持データを比較して一致検出がされたときに前記アクセス許可信号を出力するものである
ことを特徴とする請求項7記載の強誘電体メモリ。
Priority Applications (4)
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