KR20040025592A - 배선 기판 제조 방법 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 13
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 57
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 34
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 34
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 31
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 15
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 10
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 7
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 abstract description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 68
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 16
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
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- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4857—Multilayer substrates
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
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- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
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- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68345—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used as a support during the manufacture of self supporting substrates
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0556—Disposition
- H01L2224/05568—Disposition the whole external layer protruding from the surface
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05573—Single external layer
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
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- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
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- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0364—Conductor shape
- H05K2201/0367—Metallic bump or raised conductor not used as solder bump
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- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0376—Etching temporary metallic carrier substrate
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- H05K2203/07—Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing
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- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
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- H05K3/4644—Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
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- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49126—Assembling bases
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- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
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Abstract
기판 표면으로부터 돌출하는 범프를 구비한 배선 기판을 제조하는 방법에 관한 것으로, 이 방법은 전기적으로 절연인 막으로 금속 베이스의 한쪽 측면을 덮고 베이스의 하부에서 노출하도록 절연막 내에 개구를 형성하는 단계와, 마스크로서 형성된 개구를 가진 절연막을 사용하여 베이스를 에칭하여 베이스 내에 오목부를 형성하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부의 내측면을 전해 도금하여 각각의 오목부의 내측면 상에 배리어 금속막을 형성하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 전해 도금을 수행하여 범프용 재료로 오목부를 충전하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부 내에 충전된 범프용 재료의 표면 상에 배리어층을 형성하는 단계와, 절연막 상에 소정 갯수의 배선 패턴의 적층(stack)을 형성하는 단계를 포함하며, 적층 내의 인접한 배선 패턴은 중간 절연층에 의해서 각각으로부터 분리되며, 중간 절연층 내에 형성된 비아(via)를 통해서 서로 접속되며, 배선 패턴은 오목부 내에 충전된 범프용 재료에 전기적으로 접속되며, 각각 배리어 금속막을 가진 범프를 가진 배선 패턴의 적층으로부터 베이스를 제거하는 단계와, 각각의 범프로부터 배리어 금속막을 제거하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 배선 기판 제조 방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로 본 발명은 금속으로 형성된 베이스(base)를 사용한 접속 범프(bump) 및 배선 패턴을 구비한 배선 기판을 제조하는 방법에 관한 것이다.
배선 기판을 제조하는 방법으로는, JP 2000-323613 A 및 JP 2002-83893 A에 기재된 바와 같이 반도체 소자의 전극에 범프를 연속적으로 접속시키고, 전형적으로는 구리인 금속으로 형성되는 베이스의 한쪽 측면 상에 범프에 접속된 배선 패턴을 형성하며, 이후에 베이스를 용해 제거하여 배선 기판을 제조하는 방법이 있다.
베이스 상에 배선 패턴(wiring pattern)을 형성하기 위해서는 배선 기판을 제조하기 위한 공통적인 방법을 적용할 수 있다. 예를 들어, 베이스 상에 절연층을 형성하여 소정의 패턴을 가진 배선층(wiring layer)을 형성하고, 절연층에 비아 홀(via hole)을 형성하고, 이어서 절연층의 표면 상에 및 비아 홀의 내면 상에 도금 핵층(seed layer)을 형성하고, 도금하기 위해서 베이스를 전원 공급층으로 하여 전해 도금을 수행하여 절연층의 표면 상에 및 비아 홀의 내면 상에 도체층(conductor layer)을 형성하고, 이 도체층을 에칭하는 방법을 사용할 수 있다.
베이스를 사용하여 배선 기판의 제조 중에 도금에 의해서 반도체 소자의 전극에 접속되는 범프(bump)를 형성하는 방법으로는, 범프에 대응하는 위치에서 베이스의 표면을 오목하게 에칭하여 돌출 땜납 범프를 형성하고, 도금하기 위해서 베이스를 전원 공급층으로 사용하여 땜납의 전해 도금을 수행하여 베이스 내에 형성된 오목부를 땜납으로 충전하고, 이후에 베이스를 용해 제거하는 방법이 있다.
베이스를 사용하여 배선 기판을 제조하기 위해서 반도체 소자의 전극에 대응하는 위치에서 기판 내에 땜납 범프를 형성할 때, 전극의 크기가 작고 인접한 전극 사이의 거리가 작기 때문에 고정밀도로 범프를 형성할 필요가 있으며, 전극과 결합될 범프가 매우 작기 때문에 기판과의 접촉 면적도 작아서 땜납 범프와 기판을 결합할 때 문제를 초래할 수도 있다.
상술한 바와 같이, 베이스를 사용하여 배선 기판을 제조함에 있어서, 예를 들어서 베이스 상에 절연층과 배선 패턴을 형성하는 중에 절연층을 가열하고 경화(cure)시키기 위해서 열처리를 수행한다. 땜납 범프를 구비한 배선 기판을 형성하는 경우에, 땜납 범프의 표면이 열처리 중에 변색되는 문제가 있다. 이는 베이스용으로 사용된 구리(Cu)와 땜납 내의 주석(Sn)이 서로 확산하여 땜납과 베이스 사이에서의 계면(interface)에 화합물상이 형성되기 때문이라고 판단된다. 이 변색된 땜납 범프 표면은 범프의 외양을 손상시키며, 또한, 예를 들어 땜납 범프와 전극 사이의 전기적인 접속의 신뢰성을 감소시킨다는 문제점을 초래한다.
본 발명의 일 목적은 기판과 반도체 소자 사이의 전기적인 접속을 확실하게 하고, 용이하게 제조할 수 있고 고신뢰도를 가진 배선 기판을 제조하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 기판 표면으로부터 돌출하는 범프를 구비한 배선 기판을 제조하는 방법에 관한 것으로, 이 방법은 전기적으로 절연인 막으로 금속 베이스의 한쪽 측면을 덮고 베이스의 하부에서 노출하도록 절연막 내에 개구를 형성하는 단계와, 마스크로서 형성된 개구를 가진 절연막을 사용하여 베이스를 에칭하여 베이스 내에 오목부를 형성하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부의 내측면을 전해 도금하여 각각의 오목부의 내측면 상에 배리어 금속막을 형성하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 전해 도금을 수행하여 범프용 재료로 오목부를 충전하는 단계와, 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부 내에 충전된 범프용 재료의 표면 상에 배리어층을 형성하는 단계와, 절연막 상에 소정 갯수의 배선 패턴의 적층(stack)을 형성하는 단계를 포함하며, 적층 내의 인접한 배선 패턴은 중간 절연층에 의해서 각각으로부터 분리되며, 중간 절연층 내에 형성된 비아(via)를 통해서 서로 접속되며, 배선 패턴은 오목부 내에 충전된 범프용 재료에 전기적으로 접속되며, 각각 배리어 금속막을 가진 범프를 가진 배선 패턴의 적층으로부터 베이스를 제거하는 단계와, 각각의 범프로부터 배리어 금속막을 제거하는 단계를 포함하는 기판 표면으로부터 돌출하는 범프를 구비한 배선 기판을 제조하는 방법이 제공된다.
바람직하게는, 복수의 배선 기판을 동시에 제조하기 위해서 대형 금속박을 베이스로 사용한다.
바람직하게는, 주변부를 접합하여 적층된 두 개의 금속 베이스를 사용하고, 이 적층의 대향면을 전기적 절연막으로 덮는다.
바람직하게는, 개구는 베이스를 노출하는 하부에서 보다 개구측에서의 직경이 더 크도록 테이퍼진 내측면을 가지도록 절연막 내에 형성된다.
바람직하게는, 오목부를 형성하기 위해 베이스를 에칭하는데 사용되는 에칭은 등방성이며, 각각의 오목부는 절연막과의 계면에서 절연막 내에 형성된 홀(hole)의 하부 직경 보다 큰 직경을 가지도록 형성된다.
바람직하게는, 오목부는 범프용 재료로 충전되어 재료가 오목부를 완전하게 충전하고, 절연막 내의 개구 내로 부분적으로 돌출한다.
바람직하게는, 베이스는 구리로 형성된다.
바람직하게는, 베이스는 구리박이다.
바람직하게는, 베이스는 에칭에 의해서 제거된다.
바람직하게는, 범프는 땜납(solder) 또는 금(gold)으로 형성된다.
바람직하게는, 배리어 금속막은 니켈 또는 코발트로 형성된다.
바람직하게는, 각각의 오목부 내에 충전된 범프용 재료 표면 상의 배리어층은 니켈로 형성된다.
도 1a 내지 도 1m은 본 발명의 배선 기판 제조 방법의 일 실시예를 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 방법에 따라서 제조된 배선 기판 상에 반도체 소자를 장착시킨 반도체 장치의 도면.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 베이스
12: 절연층
12a : 개구
16 : 오목부
18 : 배리어 금속막
20 : 땜납
26 : 비아 홀
32 : 랜드
32a : 보호막
40 : 배선 기판
52 : 전극
상술한 본 발명의 목적과 다른 목적 및 장점은 첨부한 도면을 참고하여 작성된 이하의 발명의 상세한 설명을 고려하면 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 충분히 이해하고 파악할 수 있을 것이다.
도 1a 내지 도 1m은 본 발명의 일 실시예를 도시한 것으로, 반도체 소자가 장착되어지는 땜납 범프를 구비한 배선 기판의 제조를 나타내고 있다.
본 실시예에서는 금속으로 형성된 두 개의 시트 형상의 베이스를 적층하고, 각 베이스의 측면 중의 한쪽면 상에 땜납 범프와 배선 패턴을 형성하고, 적층된 베이스를 두 개로 분할하고, 이후에 각각의 베이스를 용해하여 제거하여 배선 기판을 제조한다. 이하 배선 기판의 제조 공정을 설명하기로 한다.
도 1a에 나타낸 바와 같이, 코어(core)를 형성하는 적층된 두 개의 베이스(10)의 대향 측면은 전기적으로 절연 특성을 나타내는 절연층(12)으로 각각 덮혀 있다. 절연층(12)은 전기적으로 절연인, 예를 들어 폴리이미드(polyimide) 막과 같은 수지막(resin film)을 베이스(10)에 적층하는 것에 의해서 형성될 수 있다.
본 실시예에서, 대형 구리박(copper foil)을 베이스(10)로 사용하고, 두 개의 대형 베이스(10)를 지지부로 사용하였다. 베이스(10)는 접착제를 사용하여 서로에 대해서 각각 베이스(10)의 주변부를 따라서 좁은 곳을 연결하여 적층하였다. 그 후에 서로에 대해서 각각 베이스(10)를 분리할 때는 접착된 곳의 내부를 절단한다.
도 1b에 나타낸 바와 같이, 개구(12a, open hole)는 절연층(12)에 형성되어 있다. 개구(12a)는 최종 배선 기판 상에 장착되어지는 반도체 소자의 전극에 대응하는 위치에 위치하게 되도록 형성되고, 전극에 결합하게 되는 땜납 범프의 직경에 적합한 크기를 가지도록 형성된다. 개구(12a)는 절연층(12)을 레이저 가공하거나 에칭하여 형성할 수도 있다. 개구(12a)는, 도면에서 도시한 바와 같이, 절연층(10) 상에 위치한 하부에서 보다 개구측에서의 직경이 더 크도록 내측면이테이퍼지게 형성하는게 바람직하다.
도 1c에 나타낸 바와 같이, 개구(12a)를 가진 절연층(12)을 마스크로 사용하는 경우에, 베이스(10)를 화학적으로 에칭하여 범프 형성을 위한 오목부(16)를 생성한다. 도면에 도시한 바와 같이, 단면이 원형(circular)인 개구(12a)의 하부로부터 베이스(10)를 등방성 에칭을 하는 것에 의해서, 각각의 오목부는 반원형 내측면을 가지도록 형성되고, 절연층(12)과의 계면(interface)에서 절연층(12)에 형성된 개구(12a)의 하부 직경 보다 직경이 더 크도록 형성한다.
도 1d에 나타낸 바와 같이, 베이스(10)를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각 오목부(16)의 내측면 상에 배리어 금속막(18)을 전해 도금하여 형성한다. 배리어 금속막(18)은 오목부(16)의 전체 내측면을 덮고, 구리로 된 베이스(10)와 땜납 범프 사이의 계면에서 화합물상의 형성을 차단하도록 형성한다. 배리어 금속막(18)은 니켈 또는 코발트를 도금하여 형성할 수도 있다. 배리어 금속막(18)으로는 땜납(solder)을 에칭하지 않고도 에칭으로 용이하게 제거되는 금속이 사용되는데, 이는 후속 공정에서 배리어 금속막(18)이 에칭으로 제거되기 때문이다.
도 1e에 나타낸 바와 같이, 베이스(10)를 도금 전원 공급층으로 사용하여 전해 도금하여 배리어 금속막(18, 도 1d)을 구비한 내측면을 가진 오목부(16)를 땜납(20)으로 충전한다. 도시한 바와 같이, 땜납(20)이 오목부(16)를 완전하게 충전하도록 하고, 절연층(12) 내의 개구(12a) 내로 일부 돌출하도록 땜납 도금을 수행한다. 개구(12a) 내로 땜납(20)을 돌출시키면 배선 기판으로부터 땜납 범프가 제거되기 어렵게 된다.
베이스(10) 상에 복수 층의 배선 패턴을 형성하는 공정을 도 1f 내지 도 1i에서 설명하기로 한다.
도 1f에 나타낸 바와 같이, 도금 전원 공급층으로서 베이스(10)를 사용하여 전해 도금하여 오목부(16, 도 1d)를 충전한 땜납(20) 표면에 배리어층(22)을 형성하고, 이후에 개구(12a, 도 1c)를 충전하는 구리층(24)을 배리어층(22) 상에 형성하고 구리로 무전해 도금과 전해 도금을 하여 절연층(12)의 표면을 덮는다. 배리어층(22)은 도금된 니켈로 형성되며, 땜납(20)과 구리층(24) 사이에서 화합물상의 형성을 차단하는 기능을 한다. 이후에 도 1g에 나타낸 바와 같이, 절연층(12) 상의 구리층(24)을 에칭하여 소정의 패턴을 가진 배선 패턴(24a, 제 1 배선 패턴)을 형성한다.
이어서 도 1h에 나타낸 바와 같이, 수지막(resin film)을 절연층(12) 상에 적층하여 배선 패턴(24a)을 덮는 제 2 절연층(13)을 형성하고, 레이저 가공에 의해서 절연층(13) 내에 비아 홀(26)을 형성한다. 절연층(13) 내의 비아 홀(26)은 절연층을 감광성 수지막으로 형성하고, 이후에 노광·현상하여 형성하는 방법으로도 형성할 수 있다.
도 1i에 나타낸 바와 같이, 제 2 배선 패턴(24b)은 절연층(13) 표면 상에 및 비아 홀(26, 도 1h)의 내측면 상에 도금 핵층(도시하지 않음)을 형성하고, 도금 전원 공급층으로서 베이스(10)를 사용하여 구리로 전해 도금하여 비아 홀(26)을 충전하고 절연층(13)을 덮는 구리층을 형성하고, 소정의 패턴을 형성하도록 구리층을 에칭하여 형성한다. 비아 홀(26) 내에 충전된 구리 재료는 비아(28, via)를 형성하며, 이 비아를 통해서 제 1 배선 패턴(24a)이 제 2 배선 패턴(24b)과 전기적으로 접속된다. 절연층(13) 상에 및 비아 홀(26)의 내측면에 형성되는 도금 핵층은, 예를 들어 무전해 도금 또는 스퍼터링 공정으로 형성할 수도 있다.
도 1j에 나타낸 바와 같이, 외부 접속 단자가 결합하게 되는 랜드(32, land)는, 예를 들어 땜납 레지스트(resist)로 된 보호층(30)으로 절연층(13)과 제 2 배선 패턴(24b)을 코팅하고, 상기 보호층(30)을 패터닝하여 하부의 배선층(24b)의 일부를 노출시켜서 형성한다. 랜드(32)는 니켈, 금 등으로 형성되는 보호 도금막(32a)을 구비한다.
도 1k는 두 개의 베이스를 접합하고 있었던 곳의 내부를 따라서 적층체를 절단한, 두 개의 대형 베이스로 형성된 적층체로부터 분리된 베이스(10) 중의 하나를 나타낸 것으로, 분리된 베이스(10)는 그 한쪽 면에 배선 패턴의 상부층 내의 배선 패턴과 랜드의 층을 소정 갯수(도면에 도시된 실시예에서는 두 개) 구비하고 있다.
이후에 도 1l에 나타낸 바와 같이, 베이스(10)를 에칭하여 제거한다. 본 발명에서 설명한 실시예에서, 베이스(10)는 구리 재료로 형성하며, 배리어 금속막(18)은 베이스(10)용 에칭액으로는 에칭이 되지 않는 니켈 또는 코발트 재료로 형성한다. 따라서 베이스(10)만 에칭으로 제거되며, 이에 의해서 배리어 금속막(18)으로 덮혀져 있는 땜납(20)이 노출된다.
도 1m에 나타낸 바와 같이, 이후에 땜납(20, 도 1l) 상의 배리어 금속막(18)을 선택적으로 에칭하여 제거하고, 대형 베이스(10) 상에 일체적으로 제조된 일단의 배선 기판을 형성하며, 상기 배선 기판은 절연층(12)의 표면으로부터 돌출한 구형상(spherical) 땜납 범프(20a)를 가지고 있다. 배리어 금속막(18)은 에칭에 의해서 선택적으로 제거할 수 있다.
배리어 금속막(18)을 제거한 이후에, 소정의 라인을 따라서 일체적으로 제조된 배선 기판을 개별적인 배선 기판으로 절단한다.
도 2는 이렇게 해서 획득한 배선 기판(40) 상에 반도체 소자(50)가 장착된 반도체 장치를 나타내고 있다. 본 반도체 장치에 있어서, 반도체 소자(50)는 반도체 소자(50) 상에 제공된 전극(52)을 기판(40) 상의 땜납 범프(20a)에 결합시키는 것에 의해서 배선 기판(40) 상에 장착되어 있으며, 예를 들어서 땜납 볼(solder ball)로 형성된 외부 접속 단자(42)는 보호막(32a)을 가진 랜드(32)에 접합되며, 이때 외부 접속 단자는 반도체 소자(50)와 전기적으로 접속된다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 베이스(10)를 지지부로 사용하여 땜납 범프(20a)를 형성하고, 상기 베이스(10)를 또한 지지부로 사용하여 복수 층의 배선 패턴(24a, 24b)을 형성하여 배선 기판을 제조한다. 이 때문에 땜납 범프(20a) 및 배선 패턴(24a, 24b)이 제 위치에 확실하게 유지되도록 형성되어 제조 중에 변위되지 않게 되므로, 고정밀도로 배선 기판을 제조할 수 있게 된다. 땜납 범프가 형성된 경우에, 크기가 작고 작은 피치(pitch)로 배치되어 있는 반도체 소자의 전극을 사용하여 정렬할 때는 고정밀도의 위치 정렬(alignment)이 필요하다. 베이스 재료로 배선 기판을 형성하는 본 발명에 따르면 용이하게 소정의 정밀도로 배선 기판을 제조할 수 있다.
본 발명은 베이스의 한쪽 측면 상에 중간 절연층을 구비한 배선 패턴의 적층을 형성하고, 이후에 베이스를 용해하여 제거하는 것에 의해서 효율적이고 용이하게 소정의 배선 패턴 및 땜납 범프를 구비한 배선 기판을 얻을 수 있음을 장점으로 한다.
본 발명의 방법에 따르면, 배리어 금속막은 베이스 내에서 범프 형성을 위한 오목부의 내측면 상에 형성되고, 배선 기판의 제조 중에 열처리를 수행하더라도 베이스와 오목부 내에 충전된 땜납 범프 사이에서 화합물상이 형성되지 않는다. 이 때문에 배선 기판의 제조 중에 땜납 범프가 변색하는 문제점은 확실하게 해결되며, 따라서 배선 기판 상에 장착될 반도체 소자의 전극으로의 땜납 범프의 접합 신뢰도가 증가하게 된다.
또한 본 발명의 방법에 따르면, 땜납 범프는 이후에 최종 배선 기판에서 제거되는 베이스 내에 형성된 오목부 내에 및 부분적으로는 베이스 상에 위치한 절연층 내의 홀(hole)에 땜납 재료를 충전하여 형성되며, 각각의 오목부는 개구를 가지고 있고, 이 개구를 통해서 오목부는 홀(hole)과 연통하며, 이 개구의 직경은 절연층과의 계면에서의 오목부의 직경보다는 작다. 따라서 본 발명의 방법에 따라서 제조된 배선 기판은 절연층으로부터 돌출한 반구 형상의 범프부와 절연층의 홀(hole) 내에 매립된 땜납 재료의 일부와의 사이에서의 경계면(boundary)에서 수축에 의해서 땜납 범프가 견고하게 지지되고, 따라서 범프는 기판의 본체에 견고하게 결합하게 되며, 범프와 기판의 본체와의 사이에서의 접촉 면적이 불충분하더라도 배선 기판으로부터의 분리나 박탈을 예방할 수 있다는 장점이 있다.
상술한 본 발명의 실시예에서는 두 개의 베이스의 적층체를 지지부로 사용하여 적층체의 양쪽 측면 상에 동시에 효율적으로 배선 기판을 제조하였지만, 본 발명에 따른 배선 기판의 제조에 적합한 단일 베이스를 사용하는 것 또한 가능하다.
또한 베이스 내에 범프를 형성하기 위해 상술한 실시예에서 사용한 것과 같은 도금된 땜납 대신에 도금된 금(gold) 등을 사용하여 오목부를 충전하여, 기판에 확실하게 고정되는 땜납 이외의 재료로 형성된 범프를 가지는 배선 기판을 제공할 수도 있다.
또한 상술한 실시예에서 배선 패턴을 형성하기 위해 감법(subtractive process, 減法)을 사용하였으나, 배선 패턴 형성 방법은 이에만 제한되지 않으며, 가법(additive process, 加法) 또는 반가법(半加法) 등을 사용하여 절연층 상에 배선 패턴을 형성할 수도 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 배선 기판 제조 방법에 따르면, 땜납으로 오목부를 충전하여 범프를 형성하기 전에 베이스 내의 오목부의 내측면 상에 배리어 금속막을 형성하여 베이스와 땜납 범프 사이의 계면에서 화합물상의 형성을 방지하고, 범프의 변색 또한 방지하며, 따라서 접합 신뢰도가 높은 범프를 구비한 배선 기판을 제공하게 된다. 또한 본 발명의 방법에 따르면, 베이스 내의 땜납 범프의 형성에 사용된 수지막을 배선 패턴을 형성하기 위한 절연층에도 사용하므로, 중간 절연층을 구비한 복수층의 배선 패턴을 가진 배선 기판을 용이하게 제조할 수 있게 된다.
Claims (13)
- 기판 표면으로부터 돌출하는 범프를 구비한 배선 기판을 제조하는 방법에 있어서,전기적으로 절연인 막으로 금속 베이스의 한쪽 측면을 덮고 상기 베이스의 하부에서 노출하도록 상기 절연막 내에 개구를 형성하는 단계와,마스크로서 형성된 개구를 가진 상기 절연막을 사용하여 상기 베이스를 에칭하여 베이스 내에 오목부를 형성하는 단계와,상기 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부의 내측면을 전해 도금하여 각각의 오목부의 내측면 상에 배리어 금속막을 형성하는 단계와,상기 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 전해 도금을 수행하여 범프용 재료로 상기 오목부를 충전하는 단계와,상기 베이스를 도금 전원 공급층으로 사용하여 각각의 오목부 내에 충전된 범프용 재료의 표면 상에 배리어층을 형성하는 단계와,절연막 상에 소정 갯수의 배선 패턴의 적층(stack)을 형성하는 단계를 포함하며,상기 적층 내의 인접한 배선 패턴은 중간 절연층에 의해서 각각으로부터 분리되며, 상기 중간 절연층 내에 형성된 비아(via)를 통해서 서로 접속되며,상기 배선 패턴은 오목부 내에 충전된 범프용 재료에 전기적으로 접속되며,각각 상기 배리어 금속막을 가진 범프를 가진 배선 패턴의 적층으로부터 상기 베이스를 제거하는 단계와,상기 각각의 범프로부터 상기 배리어 금속막을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,복수의 배선 기판을 동시에 제조하기 위해서 대형 금속박을 베이스로 사용하는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 2 항에 있어서,주변부를 접합하여 적층된 두 개의 금속 베이스를 사용하고, 이 적층의 대향면을 전기적 절연막으로 덮는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 개구는 베이스를 노출하는 하부에서 보다 개구측에서의 직경이 더 크도록 테이퍼진 내측면을 가지도록 절연막 내에 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,오목부를 형성하기 위해 베이스를 에칭하는데 사용되는 에칭은 등방성이며, 각각의 오목부는 절연막과의 계면에서 절연막 내에 형성된 홀(hole)의 하부 직경보다 큰 직경을 가지도록 형성된 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 오목부는 범프용 재료로 충전되어 상기 재료가 오목부를 완전하게 충전하고, 절연막 내의 개구(open hole) 내로 부분적으로 돌출하는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 베이스는 구리로 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 베이스는 구리박(foil)인 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 베이스는 에칭에 의해서 제거되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 범프는 땜납(solder) 또는 금(gold)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 범프는 땜납(solder)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 배리어 금속막은 니켈 또는 코발트로 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서,각각의 오목부 내에 충전된 범프용 재료 표면 상의 배리어층은 니켈로 형성되는 것을 특징으로 하는 배선 기판 제조 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002269962A JP3990962B2 (ja) | 2002-09-17 | 2002-09-17 | 配線基板の製造方法 |
JPJP-P-2002-00269962 | 2002-09-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040025592A true KR20040025592A (ko) | 2004-03-24 |
KR101005504B1 KR101005504B1 (ko) | 2011-01-04 |
Family
ID=32024825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030064168A KR101005504B1 (ko) | 2002-09-17 | 2003-09-16 | 배선 기판의 제조 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7093356B2 (ko) |
JP (1) | JP3990962B2 (ko) |
KR (1) | KR101005504B1 (ko) |
CN (1) | CN100435299C (ko) |
TW (1) | TWI286359B (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101068539B1 (ko) * | 2004-07-23 | 2011-09-30 | 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 | 전해 도금을 이용한 배선 기판의 제조 방법 |
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Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20040060174A1 (en) | 2004-04-01 |
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TWI286359B (en) | 2007-09-01 |
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Legal Events
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