KR101223098B1 - 표시장치 및 이의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
상판 및 하판의 미스 얼라인을 방지하여 표시품질을 향상시키기 위한 표시장치 및 이의 제조방법이 개시된다. 표시장치는 제1 기판, 제2 기판, 제1 얼라인 키 및 제2 얼라인 키를 포함한다. 제1 기판은 제1 표시영역 및 제1 주변영역을 가지고, 제2 기판은 제2 표시영역 및 제2 주변영역을 갖는다. 제1 얼라인 키는 제1 주변영역에 형성되고, 제1 금속패턴 및 제2 금속패턴을 포함하고, 제2 얼라인 키는 제1 얼라인 키에 대응하도록 제2 기판의 제2 주변영역에 형성된다. 따라서, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않고서 제1 및 제2 얼라인 키가 형성되어, 제1 기판과 제2 기판의 얼라인 미스 발생을 방지할 수 있다.
Description
도 1은 본 발명에 따른 액정표시장치를 개념적으로 나타낸 단면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 나타낸 평면도이다.
도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ' 선에 따른 단면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 컬러필터 기판을 나타낸 평면도이다.
도 5는 도 4의 Ⅱ-Ⅱ' 선에 따른 단면도이다.
도 6은 도 2 및 도 4에 도시된 제1 및 제2 얼라인 키의 얼라인 상태를 나타낸 도면이다.
도 7a 내지 도 7f는 도 1에 도시된 박막 트랜지스터 기판의 제조공정을 나타낸 단면도들이다.
도 8a 내지 도 8d는 도 1에 도시된 컬러필터 기판의 제조 공정을 나타낸 단면도들이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
100 : 박막 트랜지스터 기판 200 : 컬러필터 기판
700 : 제1 얼라인 키 702 : 제1 금속패턴
704 : 제1 투명 전극패턴 710 : 제2 얼라인 키
712 : 제2 금속패턴 714 : 제2 투명 전극패턴
본 발명은 표시장치 및 이의 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 상판 및 하판의 미스 얼라인을 방지하여 표시품질을 향상시키기 위한 표시장치 및 이의 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치는 박막 트랜지스터 기판, 상기 박막 트랜지스터 기판에 대향하는 컬러필터 기판, 그리고 양 기판 사이에 개재되어 전기적인 신호가 인가됨에 따라 광의 투과 여부를 결정하는 액정을 갖는 액정표시패널을 구비한다. 또한, 액정표시장치는 상기 액정표시패널의 하부에 구성되어 상기 액정표시패널에 광을 제공하는 백라이트 어셈블리를 포함한다.
여기서, 상기 박막 트랜지스터 기판에는 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor) 및 화소전극이 형성되고, 상기 컬러필터 기판에는 블랙 매트릭스, 컬러필터 및 상기 화소전극에 대향하는 공통전극이 형성된다.
또한, 상기 박막 트랜지스터 기판과 상기 컬러필터 기판에는 두 기판의 합착시 얼라인을 위한 얼라인 키가 각각 형성된다. 즉, 상기 박막 트랜지스터 기판 상의 얼라인 키는 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극, 소오스 또는 드레인 전극을 형성하기 위한 금속막이 패터닝되어 형성된다. 또한, 상기 컬러필터 기판 상의 얼라인 키는 상기 블랙 매트릭스를 형성하기 위한 절연막이 패터닝되어 형성된다.
따라서, 상기한 구성의 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판은 상기 얼라인 키에 의해 실제 구동영역인 화소전극과 공통전극의 정확한 대응을 위한 얼라인 공정을 수행한 후 합착된다.
그러나, 상기 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판의 제조시 노광 장치 등에 의한 오차에 의해 각 레이어들 간의 오버레이(Overlay) 틀어짐이 발생하고, 기판의 대형화에 따른 박막 트랜지스터 및 컬러필터 공정 중에 기판의 변형이 커짐으로 인해, 상기 얼라인 키들에 의해 상기 화소전극과 공통전극의 정확한 대응을 위한 얼라인 공정을 수행하는 경우 상기 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판간의 얼라인 미스가 발생한다.
상기한 얼라인 미스를 해결하기 위하여, 상기 화소전극과 공통전극 형성을 위한 투명전극에 의해 얼라인 키를 형성하는 경우, 상기 투명전극에 의해 형성된 상기 얼라인 키를 얼라인 계측장치가 인식하지 못하여 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판간의 얼라인 공정을 제대로 수행할 수 없는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 표시패널의 상판과 하판간의 정확한 얼라인을 수행할 수 있는 얼라인 키를 갖는 표시장치를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 상기한 표시장치를 제조하기 위한 제조방법을 제공함에 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표시장치는 제1 기판, 제2 기판, 제1 얼라인 키 및 제2 얼라인 키를 포함한다. 상기 제1 기판은 제1 표시영역 및 상기 제1 표시영역을 둘러싸는 제1 주변영역을 가지고, 제2 기판은 상기 제1 기판에 대향하고, 상기 제1 표시영역에 대향하는 제2 표시영역 및 상기 제1 주변영역에 대향하는 제2 주변영역을 갖는다. 상기 제1 얼라인 키는 상기 제1 기판의 제1 주변영역에 형성되고, 제1 금속패턴 및 제2 금속패턴을 포함하고, 상기 제2 얼라인 키는 상기 제1 얼라인 키에 대응하도록 상기 제2 기판의 제2 주변영역에 형성된다.
여기서, 상기 제1 금속패턴은 불투명하고, 상기 제2 금속패턴은 투명하다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여 제1 패턴을 표시영역 및 상기 표시영역을 둘러싸는 주변영역을 갖는 제1 기판상의 상의 상기 주변영역에 형성하고, 상기 제1 패턴 상에 제2 패턴을 형성한다. 이어, 상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴을 동시에 패터닝하여 얼라인 키를 상기 제1 기판의 주변영역에 형성하고, 상기 얼라인 키에 의해 상기 제1 기판과 상기 제1 기판에 대향하는 제2 기판을 상호 얼라인시킨다.
이러한 표시장치 및 이의 제조방법에 따르면, 제1 기판의 마지막 레이어인 화소전극 형성시 제1 얼라인 키가 형성되고, 제2 기판의 마지막 레이어인 공통전극 형성시 제2 얼라인 키가 형성되므로, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않고서 제1 및 제2 얼라인 키가 형성되어, 제1 기판과 제2 기판의 얼라인 미스 발생을 방지할 수 있다.
여기서, 상기 제1 금속패턴은 불투명하고, 상기 제2 금속패턴은 투명하다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여 제1 패턴을 표시영역 및 상기 표시영역을 둘러싸는 주변영역을 갖는 제1 기판상의 상의 상기 주변영역에 형성하고, 상기 제1 패턴 상에 제2 패턴을 형성한다. 이어, 상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴을 동시에 패터닝하여 얼라인 키를 상기 제1 기판의 주변영역에 형성하고, 상기 얼라인 키에 의해 상기 제1 기판과 상기 제1 기판에 대향하는 제2 기판을 상호 얼라인시킨다.
이러한 표시장치 및 이의 제조방법에 따르면, 제1 기판의 마지막 레이어인 화소전극 형성시 제1 얼라인 키가 형성되고, 제2 기판의 마지막 레이어인 공통전극 형성시 제2 얼라인 키가 형성되므로, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않고서 제1 및 제2 얼라인 키가 형성되어, 제1 기판과 제2 기판의 얼라인 미스 발생을 방지할 수 있다.
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이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 표시장치 및 이의 제조방법을 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 액정표시장치를 개념적으로 나타낸 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치는 박막 트랜지스터 기판(100), 컬러필터 기판(200), 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200) 사이에 형성된 액정층(300)으로 이루어져 영상을 표시하는 액정표시패널(400)을 포함한다. 또한, 본 발명에 따른 액정표시장치는 박막 트랜지스터 기판(100)의 하부에 구성되어 박막 트랜지스터 기판(100) 및 컬러필터 기판(200)에 광을 제공하는 광 발생장치(500)를 더 포함한다.
여기서, 액정표시패널(400)은 영상이 표시되는 표시영역(DA)과, 상기 표시영역(DA)을 외곽에서 둘러싸는 실라인 영역(SA)으로 구분된다.
상기 박막 트랜지스터 기판(100)은 제1 절연기판(110) 상의 표시영역(DA)에 형성되는 다수의 박막 트랜지스터(도시되지 않음)가 형성된 박막 트랜지스터층(120), 박막 트랜지스터층(120) 상에 형성된 보호막(130) 및 보호막(130) 상에 형성되고, 박막 트랜지스터층(120)에 전기적으로 연결되는 화소전극(140)을 포함한다.
여기서, 박막 트랜지스터층(140)에 형성된 상기 박막 트랜지스터는 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 포함하고, 상기 드레인 전극은 화소전극(140)과 전기적으로 연결된다. 이때, 상기 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극은 크롬(Cr)과 같은 금속물질에 의해 형성된다.
한편, 컬러필터 기판(200)은 제2 절연기판(210) 상에 형성된 컬러필터층(220) 및 컬러필터층(220) 상에 형성된 공통전극(230)을 포함한다. 이때, 컬러필터층(220)은 적색, 녹색, 청색 색화소 및 상기 적색, 녹색, 청색 색화소 사이로 광이 누설되는 것을 차단하기 위한 블랙 매트릭스를 포함한다. 상기 블랙 매트릭스는 크롬(Cr) 및 크롬 산화물 등의 무기 절연막에 의해 형성된다.
상기 컬러필터 기판(200)은 상기 블랙 매트릭스가 무기 절연막에 의해 형성되므로, 상기 적색, 녹색, 청색 색화소 간의 단차를 줄이기 위한 별도의 평탄화막이 불필요하다.
상기 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200)은 실라인 영역(SA)에 형성되는 결합부재(600)에 의해 견고하게 결합된다. 이때, 결합부재(600)는 실런트가 소정 두께로 도포되어 형성되는 실라인으로, 이하에서는 실라인이라 칭한다.
상기 실라인(600)은 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200) 사이에 소정 높이의 셀 갭(Cell Gap)을 유지하기 위한 소정 높이를 가지도록 형성된다. 상기 셀 갭 내에 액정층(300)이 형성된다.
또한, 박막 트랜지스터 기판(100)의 실라인 영역(SA)에는 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200)의 얼라인을 위한 제1 얼라인 키(700)가 형성되고, 컬러필터 기판(200)의 실라인 영역(SA)에는 제1 얼라인 키(700)에 대응하는 제2 얼 라인 키(710)가 형성된다.
상기 제1 얼라인 키(700)는 제1 금속패턴(702) 및 제1 금속패턴(702) 상에 형성된 제1 투명 전극패턴(704)으로 이루어진다. 이때, 제1 금속패턴(702)은 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극, 소오스 전극 또는 드레인 전극 형성 공정시 동일 물질에 의해 형성된다. 또한, 제1 투명 전극패턴(704)은 화소전극(140) 형성 공정시 동일 물질에 의해 형성된다.
여기서, 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극, 소오스 전극 또는 드레인 전극은 크롬(Cr)에 의해 형성되고, 화소전극(140)은 인듐 틴 옥사이드(Indium Tin Oxide ; 이하 ITO 라 칭함) 또는 인듐 징크 옥사이드(Indium Zinc Oxide ; 이하 IZO 라 칭함)에 의해 형성된다. 상기 크롬은 상기 ITO 또는 IZO를 식각하는 식각액에 의해 식각된다.
즉, 제1 금속패턴(702)은 크롬에 의해 형성되고, 제1 투명 전극패턴(704)은 ITO 또는 IZO에 의해 형성되므로, 제1 금속패턴(702)은 상부에 형성된 제1 투명 전극막(704)의 식각시 동시에 식각된다.
상기 제2 얼라인 키(710)는 제2 금속패턴(712) 및 제2 금속패턴(712) 상에 형성된 제2 투명 전극패턴(714)으로 이루어진다. 이때, 제2 금속패턴(712)은 컬러필터층(220)의 블랙 매트릭스 형성 공정시 동일 물질에 의해 형성된다. 또한, 제2 투명 전극패턴(714)은 공통전극 형성시 동일 물질에 의해 형성된다.
여기서, 컬러필터층(220)의 블랙 매트릭스는 크롬(Cr)에 의해 형성되고, 공 통전극(230)은 ITO 또는 IZO에 의해 형성된다. 상기 크롬은 ITO 또는 IZO를 식각하는 식각액에 의해 식각된다.
즉, 제2 금속패턴(712)은 크롬에 의해 형성되고, 제2 투명 전극패턴(714)은 ITO 또는 IZO에 의해 형성되므로, 제2 금속패턴(712)은 상부에 형성된 제2 투명 전극패턴(714)의 식각시 동시에 식각된다.
여기서는 제1 투명 전극막(704) 및 제2 투명 전극막(714) 식각시 동일 식각액에 의해 식각되는 제1 금속패턴(702) 및 제2 금속막(712)이 크롬으로 형성된 경우를 예로 들었으나, 제1 금속패턴(702) 및 제2 금속막(712)이 ITO 또는 IZO의 식각액에 의해 동시에 식각되는 다른 물질로 형성될 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ' 선에 따른 단면도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 박막 트랜지스터 기판(100)의 네 개의 모서리 영역 즉, 실라인 영역(SA)에는 제1 얼라인 키(700)가 형성된다. 상기 제1 얼라인 키(700)는 소정 두께를 갖는 정사각형의 고리 형상을 갖는다.
또한, 박막 트랜지스터 기판(100)의 표시영역(DA)에는 박막 트랜지스터(310)가 형성된다. 상기 박막 트랜지스터(310)는 제1 절연기판(110) 상에 순차적으로 형성되는 게이트 전극(311), 게이트 절연막(312), 액티브층(313), 소오스 전극(314) 및 드레인 전극(315)으로 이루어진다.
상기 박막 트랜지스터(310) 상부에는 보호막(130)이 형성되고, 보호막(130) 상부에는 ITO 또는 IZO에 의한 화소전극(140)이 형성된다. 이때, 게이트 절연막 (312), 보호막(130) 및 화소전극(140)은 박막 트랜지스터 기판(100) 전면에 형성된다. 즉, 게이트 절연막(312), 보호막(130) 및 화소전극(140)은 표시영역(DA) 뿐만 아니라 실라인 영역(SA)에도 형성된다. 상기 게이트 절연막(312) 및 보호막(130)은 전극 패드 형성시 실라인 영역(SA)에 형성된 부분이 제거된다. 또한, 화소전극(140)은 소정의 콘택홀을 통해 박막 트랜지스터(310)의 드레인 전극(315)과 전기적으로 연결된다.
한편, 실라인 영역(SA)에는 박막 트랜지스터(310)의 게이트 전극(311) 형성 공정시 또는 소오스 전극(314) 및 드레인 전극(315) 형성 공정시 동일한 금속물질 즉, 크롬이 정사각형 형태로 패터닝되어 제1 금속패턴(702)이 형성된다.
또한, 표시영역(DA) 및 제1 금속패턴(702)이 형성된 실라인 영역(SA)에는 화소전극(140) 형성 공정시 동일한 금속물질 즉, ITO 또는 IZO에 의한 제1 투명 전극패턴(704)이 형성된다. 이어, 제1 투명 전극패턴(704)은 정사각형의 고리 형상을 갖도록 패터닝된다. 이때, 제1 투명 전극패턴(704)의 패터닝을 위한 식각 공정시 제1 금속패턴(702)도 식각되므로, 제1 금속패턴(702)도 제1 투명 전극막(704)과 동일한 정사각형의 고리 형상을 갖는다.
따라서, 제1 얼라인 키(700)는 제1 금속패턴(702) 및 제1 투명 전극패턴(704)에 의해 형성된다. 이때, 제1 얼라인 키(700)의 제1 투명 전극패턴(704)은 하부에 형성된 제1 금속패턴(702)에 의해 인식이 가능하다.
이처럼, 박막 트랜지스터 기판(100)의 마지막 레이어인 화소전극(140) 형성 공정시 제1 얼라인 키(700)가 형성되므로, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따 른 영향을 받지 않는 제1 얼라인 키(700)를 형성할 수 있다.
도 4는 도 1에 도시된 컬러필터 기판을 나타낸 평면도이고, 도 5는 도 4의 Ⅱ-Ⅱ' 선에 따른 단면도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 컬러필터 기판(200)의 네 개의 모서리 영역 즉, 실라인 영역(SA)에 제2 얼라인 키(710)가 형성된다. 상기 제2 얼라인 키(710)는 도 2의 제1 얼라인 키(700)에 대응하는 정사각형 형상을 갖는다. 이때, 제2 얼라인 키(710)는 제1 얼라인 키(700)에 의해 둘러싸이는 형상을 갖는다.
또한, 컬러필터 기판(200)의 표시영역(DA)에는 컬러필터층(220)이 형성된다. 상기 컬러필터층(220)은 제2 절연기판(210) 상에 순차적으로 형성된 블랙 매트릭스(222) 및 컬러필터(224)로 이루어진다. 이때, 컬러필터(224)는 적색, 녹색, 청색 색화소들을 포함한다. 상기 블랙 매트릭스(222)는 크롬 및 크롬 산화물 등의 무기 절연물질에 의해 형성된다.
상기 컬러필터(224) 상부에는 ITO 또는 IZO에 의한 공통전극(230)이 형성된다. 이때, 공통전극(230)은 표시영역(DA) 및 실라인 영역(SA)에 형성된다.
한편, 실라인 영역(SA)에는 블랙 매트릭스(222) 형성 공정시 동일한 금속물질 즉, 크롬에 의한 제2 금속패턴(712)이 형성된다.
또한, 표시영역(DA) 및 제2 금속패턴(712)이 형성된 실라인 영역(SA)에는 공통전극(230) 형성 공정시 동일한 금속물질 즉, ITO 또는 IZO에 의한 제2 투명 전극패턴(714)이 형성된다. 이어, 제2 투명 전극패턴(714)은 정사각형 형상을 갖도록 패터닝된다. 이때, 제2 투명 전극막(714)의 패터닝을 위한 식각 공정시 제2 금속패턴(712)도 식각되므로, 제2 금속패턴(712)도 제2 투명 전극패턴(714)과 동일한 정사각형 형상을 갖는다.
따라서, 제2 얼라인 키(710)는 제2 금속패턴(712) 및 제2 투명 전극패턴(714)에 의해 형성된다. 이때, 제2 얼라인 키(710)의 제2 투명 전극패턴(714)은 하부에 형성된 제2 금속패턴(712)에 의해 인식이 가능하다.
이처럼, 컬러필터 기판(200)의 마지막 레이어인 공통전극(230) 형성 공정시 제2 얼라인 키(710)가 형성되므로, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않는 제2 얼라인 키(710)를 형성할 수 있다.
상기한 바와 같이, 제1 및 제2 얼라인 키(700,710)는 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않도록 형성되므로, 제1 및 제2 얼라인 키(700,710)에 의해 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200)의 얼라인 공정시 실제 구동영역인 화소전극(140)과 공통전극(230)의 얼라인이 정확히 이루어질 수 있다. 이때, 제1 및 제2 얼라인 키(700,710)는 하부에 형성된 제1 및 제2 금속패턴(702,712)에 의해 얼라인 계측장치에 의한 인식이 가능하다.
도 6은 도 2 및 도 4에 도시된 제1 및 제2 얼라인 키의 얼라인 상태를 나타낸 도면이다.
도 6을 참조하면, 제1 얼라인 키(700)는 소정 두께를 갖는 정사각형 띠 형상을 가지고, 제2 얼라인 키(710)는 정사각형 형상을 가지며, 제1 얼라인 키(700)의 중심 영역에 형성된다.
여기서, 소정의 얼라인 계측장치는 제2 얼라인 키(710)가 제1 얼라인 키 (700)의 중심 영역에서 어느 정도를 벗어나는 지를 계측함에 따라 박막 트랜지스터 기판(100)과 컬러필터 기판(200)의 얼라인 정도를 판단한다.
본 발명은 제1 얼라인 키(700)가 정사각형의 띠 형상을 가지고, 제2 얼라인 키(710)가 제1 얼라인 키(700)의 내부에 위치하는 정사각형 형상을 가지는 경우를 예로 설명하였으나, 다양한 형상을 가질 수 있음은 자명하다.
상기한 구성의 제1 및 제2 얼라인 키를 갖는 박막 트랜지스터 기판 및 컬러필터 기판의 제조공정을 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 7a 내지 도 7f는 도 1에 도시된 박막 트랜지스터 기판의 제조공정을 나타낸 단면도들이다.
도 7a를 참조하면, 제1 절연기판(110) 전면에 크롬(Cr)으로 이루어진 제1 금속층(도시되지 않음)을 스퍼터링 방법에 의해 증착한 후, 패터닝하여 게이트 전극(311) 및 제1 금속패턴(702)을 형성한다. 이때, 게이트 전극(311)은 표시영역(DA)에 형성되고, 제1 금속패턴(702)은 제1 얼라인 키(700)가 형성되는 실라인 영역(SA)에 형성된다. 여기서, 제1 금속패턴(702)은 추후에 형성되는 소오스 전극(314) 및 드레인 전극(315) 형성 공정에서 형성될 수 있다.
도 7b를 참조하면, 게이트 전극(411)이 형성된 제1 절연기판(110)의 전면에 실리콘 질화물을 증착하여 게이트 절연막(312)을 형성한다. 이어, 게이트 절연막(312) 상에 비정질실리콘막 및 n+ 도핑된 비정질실리콘막을 증착한 후 패터닝하여 액티브층(313)을 형성한다.
상기 결과물의 전면에 크롬(Cr)으로 이루어진 제2 금속층(도시되지 않음)을 스퍼터링 방법에 의해 증착한 후, 상기 제2 금속층을 패터닝하여 소오스 전극(314)과 드레인 전극(315)을 형성한다. 이로써, 제1 절연기판(110) 상의 표시영역(DA)에 게이트 전극(311), 게이트 절연막(312), 액티브 층(313), 소오스 전극(314) 및 드레인 전극(315)을 포함하는 박막 트랜지스터(310)가 형성된다.
도 7c를 참조하면, 박막 트랜지스터(310)가 형성된 제1 절연기판(400)의 전면에는 실리콘 질화막(SiNx)과 같은 무기물질을 스핀-코팅 방법이나 화학 기상 증착 방법 (chemical vapor deposition, CVD)을 통해 도포하여 보호막(130)을 형성한다. 즉, 보호막(130)은 표시영역(DA) 및 실라인 영역(SA)에 형성된다.
도 7d에 도시된 바와 같이, 보호막(120) 상에는 소정의 패턴이 형성되어 있는 제1 마스크(800)가 형성된다. 이때, 제1 마스크(800)는 드레인 전극(315)의 일부분을 노출시키기 위한 제1 개구부(810) 및 제1 금속패턴(702)과 이에 인접하는 영역을 노출시키기 위한 제2 개구부(820)를 갖는다.
이어, 보호막(130)을 노광한 후 소정의 현상액을 이용하여 현상한다. 그러면, 보호막(130)에는 제1 개구부(165)에 의해 노광된 영역에 콘택홀(320)이 형성된다. 또한, 제2 개구부(820)에 의해 실라인 영역(SA)에 형성된 제1 금속패턴(702) 상부 및 이에 인접하는 영역의 게이트 절연막(312) 및 보호막(130)이 제거되어, 제1 금속패턴(702)과 제1 절연기판(110)의 일부가 노출된다.
도 7e를 참조하면, 콘택홀(320)을 갖는 보호막(130)이 형성된 제1 절연기판(110) 전면에 ITO 또는 IZO와 같은 투명 도전막을 균일한 두께로 증착하여 제1 투 명전극층(830)을 형성한다. 상기 제1 투명전극층(830)은 표시영역(DA) 및 실라인 영역(SA)에 형성된다. 또한, 화소전극(140)은 콘택홀(320)을 통해 박막 트랜지스터(310)의 드레인 전극(315)과 전기적으로 접속된다.
도 7f에 도시된 바와 같이, 제1 투명전극층(830)이 형성된 제1 절연기판(110) 상에는 소정의 패턴을 갖는 제2 마스크(850)가 형성된다. 이때, 제2 마스크(850)는 화소영역에만 화소전극(140)을 형성하기 위한 제1 폐쇄부(860), 제1 얼라인 키(700)를 형성하기 위한 제2 폐쇄부(870)를 포함한다. 이때, 제2 폐쇄부(870)는 제1 얼라인 키(700)의 형상에 대응하는 정사각형의 띠 형상을 갖는다.
이어, 제1 투명전극층(830)을 노광한 후 소정의 현상액을 이용하여 현상한다. 그러면, 제1 투명전극층(140)이 식각되어 표시영역(DA) 중 화소영역에만 화소전극(140)이 형성된다. 또한, 실라인 영역(SA)에서는 제2 폐쇄부(870)에 대응하는 영역에만 제1 투명전극층(830)이 남아서 정사각형의 고리 형상을 갖는 제1 투명 전극패턴(704)이 형성된다.
이때, 제1 금속패턴(702)도 제1 투명전극층(140)을 현상하는 현상액에 의해 식각되므로, 제1 투명 전극막(704)과 동일한 형상 즉, 정사각형의 고리 형상을 갖도록 식각된다. 따라서, 제1 금속패턴(702) 및 제1 금속패턴(702) 상에 형성된 제1 투명 전극패턴(704)에 의한 제1 얼라인 키(700)가 형성된다.
도 8a 내지 도 8d는 도 1에 도시된 컬러필터 기판의 제조 공정을 나타낸 단면도들이다.
도 8a에 도시된 바와 같이, 제2 절연기판(210)의 전면에 크롬(Cr) 또는 크롬 산화물로 이루어진 제3 금속층(도시되지 않음)을 스퍼터링 방법에 의해 증착한 후, 상기 제3 금속층을 패터닝하여 블랙 매트릭스(222) 및 제2 금속패턴(712)을 형성한다. 이때, 블랙 매트릭스(222)는 표시영역(DA)에 형성되고, 제2 금속패턴(712)은 실라인 영역(SA)에 형성된다.
도 8b를 참조하면, 블랙 매트릭스(222)가 형성된 제2 절연기판(210) 상의 표시영역(DA)에 적색 염료 또는 적색 안료가 포함된 제1 포토 레지스터(도시되지 않음)가 균일한 두께로 도포된다. 이후, 상기 제1 포토 레지스터를 패터닝하여 적색 색화소 패턴을 형성한다.
다음, 녹색 염료 및 녹색 안료가 포함된 제2 포토 레지스터(도시되지 않음)를 제2 절연기판(210) 상에 형성한 후 상기 제2 포토 레지스터를 패터닝하여 녹색 색화소 패턴을 형성한다.
이어, 청색 염료 및 청색 안료가 포함된 제3 포토 레지스터(도시되지 않음)를 제2 절연기판(210) 상에 형성한 후, 상기 제3 포토 레지스터를 패터닝하여 청색 색화소 패턴을 형성한다.
상기 적색, 녹색, 청색 색화소 패턴은 인접하는 색화소 패턴과 블랙 매트릭스(222) 상에서 소정의 간격으로 이격되어 있다. 이로써, 제2 절연기판(210) 상에 블랙 매트릭스(222) 및 적색, 녹색, 청색 색화소 패턴을 갖는 컬러필터(224)로 이루어진 컬러필터층(220)이 완성된다.
도 8c를 참조하면, 컬러필터층(220)이 형성된 제2 절연기판(210) 전면에 ITO 또는 IZO와 같은 투명 도전막을 균일한 두께로 증착하여 제2 투명전극층(900)을 형 성한다. 상기 제2 투명전극층(900)은 표시영역(DA) 및 실라인 영역(SA)에 형성된다.
도 8d에 도시된 바와 같이, 제2 투명전극층(900)이 형성된 제2 절연기판(210) 상에는 소정의 패턴을 갖는 제3 마스크(910)가 형성된다. 이때, 제3 마스크(910)는 화소영역에만 공통전극(230)을 형성하기 위한 제3 폐쇄부(920) 및 제2 얼라인 키(710)를 형성하기 위한 제4 폐쇄부(930)를 포함한다. 이때, 제4 폐쇄부(930)는 제2 얼라인 키(710)의 형상에 대응하는 정사각형 형상을 갖는다.
이어, 제2 투명전극층(900)을 노광한 후 소정의 현상액을 이용하여 현상한다. 그러면, 제2 투명전극층(900)이 식각되어 표시영역(DA)에서는 화소영역에만 공통전극(230)이 형성된다. 또한, 실라인 영역(SA)에서는 제4 폐쇄부(930)에 대응하는 영역에만 제2 투명전극층(900)이 남아서 정사각형 형상을 갖는 제2 투명 전극패턴(714)이 형성된다. 이때, 제2 금속패턴(712)도 제2 투명전극층(900)을 현상하는 현상액에 의해 식각되므로, 제2 투명 전극패턴(714)과 동일한 형상 즉, 정사각형 형상을 갖도록 식각된다. 따라서, 제2 금속패턴(712) 및 제2 금속패턴(712) 상에 형성된 제2 투명 전극패턴(714)에 의한 제2 얼라인 키(710)가 형성된다.
본 발명에서는 컬러필터 기판(200) 상에 오버코팅층이 없는 경우를 예로 들었으나, 컬러필터(222)의 R,G,B 색화소 패턴간의 단차를 줄이기 위한 오버코팅층이 형성된 경우에도 적용될 수 있다.
즉, 컬러필터 기판(200)의 에지쪽에 형성되는 포토레지스트층을 제거하는 공정(EBR)에 의해 컬러필터 기판(200)의 실라인 영역에서의 오버코팅층이 제거된다. 따라서, 컬러필터 기판(200)의 실라인 영역 즉, 제2 얼라인 키가 형성되는 영역에는 제2 금속패턴(712)과 제2 투명 전극패턴(714) 만이 위치하므로, 제2 투명 전극패턴(714)을 식각하는 공정시 제2 금속패턴(712)도 동시에 식각되어 제2 얼라인 키(710)가 형성된다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판간의 얼라인을 위한 제1 및 제2 얼라인 키를 포함한다. 상기 제1 얼라인 키는 화소전극 형성을 위한 제1 투명전극층에 의해 형성된 제1 투명 전극패턴 및 제1 투명 전극패턴 하부에 형성된 제1 금속패턴으로 이루어된다. 제2 얼라인 키는 공통전극 형성을 위한 제2 투명전극층에 의해 형성된 제2 투명 전극패턴 및 제2 투명 전극패턴 하부에 형성된 제2 금속패턴으로 이루어진다.
그러므로, 본 발명은 박막 트랜지스터 기판의 마지막 레이어인 화소전극 형성시 제1 얼라인 키가 형성되고, 컬러필터 기판의 마지막 레이어인 공통전극 형성시 제2 얼라인 키가 형성되므로, 이전 레이어들의 오버레이 틀어짐에 따른 영향을 받지 않고서 제1 및 제2 얼라인 키가 형성된다.
따라서, 본 발명은 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판의 제조 공정시 발생하는 레이어들 간의 오버레이 틀어짐에 영향을 받지 않는 제1 및 제2 얼라인 키에 의해 실제 구동영역인 화소전극과 공통전극을 대응시키는 얼라인 공정을 수행하므로, 얼라인 미스의 발생을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 제1 및 제2 투명 전극패턴 하부에 형성된 제1 및 제2 금속패턴에 의해 소정의 얼라인 계측장치에 의해 인식이 가능하므로, 박막 트랜지스터 기판과 컬러필터 기판간의 얼라인 공정을 정확히 수행할 수 있어, 표시장치의 표시품질을 향상시킬 수 있다.
본 발명은 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
Claims (28)
- 제1 표시영역 및 상기 제1 표시영역을 둘러싸는 제1 주변영역을 갖는 제1 기판;상기 제1 기판에 대향하고, 상기 제1 표시영역에 대향하는 제2 표시영역 및 상기 제1 주변영역에 대향하는 제2 주변영역을 갖는 제2 기판;상기 제1 기판의 제1 주변영역에 형성되고, 제1 금속패턴 및 상기 제1 금속 패턴 상에 배치된 제2 금속패턴을 포함하는 제1 얼라인 키; 및상기 제1 얼라인 키에 대응하도록 상기 제2 기판의 제2 주변영역에 형성된 제2 얼라인 키를 포함하고,상기 제1 및 제2 금속패턴들은 동시에 식각되어 상기 제1 얼라인 키가 형성되고,상기 제1 금속패턴은 불투명하고, 상기 제2 금속패턴은 투명한 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 제1 기판은 게이트 전극, 드레인 전극 및 소오스 전극을 갖는 스위칭 소자를 포함하고, 상기 게이트 전극은 상기 제1 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제3항에 있어서, 상기 제1 기판은 상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 투명전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 금속패턴 및 상기 제2 금속패턴은 동일한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 금속패턴은 크롬(Cr)로 이루어지고, 상기 제2 금속패턴은 ITO 또는 IZO로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 기판은 게이트 전극, 드레인 전극 및 소오스 전극을 갖는 스위칭 소자를 포함하고, 상기 소오스 전극은 상기 제1 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 기판은 상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되는 투명전극을 더 포함하고, 상기 투명전극은 상기 제2 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2 얼라인 키는 불투명한 제3 금속패턴 및 투명한 제4 금속패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제9항에 있어서, 상기 제2 기판은 컬러필터 및 상기 컬러필터 사이에 형성된 광 차단층으로 이루어진 컬러필터층을 포함하고, 상기 광 차단층은 상기 제3 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제10항에 있어서, 상기 제2 기판은 상기 제4 금속패턴과 동일한 물질로 이루어진 투명 공통전극을 더 포함하는 표시장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 얼라인 키 및 상기 제2 얼라인 키 중에서 선택된 얼라인 키는 선택되지 않은 키에 의해 실질적으로 둘러싸이는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제12항에 있어서, 상기 선택된 얼라인 키는 개구된 프레임 형상을 가지고, 상기 선택되지 않은 얼라인 키는 상기 개구에 대응하는 동일한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제1 기판 및 상기 제1 기판에 대향하는 제2 기판을 포함하고, 표시영역 및 상기 표시영역을 둘러싸는 주변영역을 갖는 디스플레이 패널; 및상기 주변영역에 형성되고, 불투명한 제1 패턴 및 상기 제1 패턴 상에 배치되고 투명한 제2 패턴을 가지며, 상기 제1 기판과 상기 제2 기판을 얼라인 시키기 위한 얼라인 키부를 포함하고,상기 제1 및 제2 패턴들은 동시에 식각되어 상기 얼라인 키부가 형성되는 표시장치.
- 제14항에 있어서, 상기 제1 기판은게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 갖는 스위칭 소자; 및상기 드레인 전극과 전기적으로 연결된 투명전극을 포함하고,상기 제1 패턴은 상기 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나의 전극을 이루는 물질을 포함하고,상기 제2 패턴은 상기 투명전극을 이루는 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제15항에 있어서, 상기 제1 패턴은 크롬(Cr)으로 이루어지고, 상기 제2 패턴은 ITO 또는 IZO로 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제14항에 있어서, 상기 제2 기판은 광 차단층, 컬러필터 및 공통전극을 포함하고,상기 제1 패턴은 상기 광 차단층을 이루는 물질을 포함하고,상기 제2 패턴은 상기 공통전극을 이루는 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제14항에 있어서, 상기 제1 패턴과 상기 제2 패턴은 동일한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제18항에 있어서, 상기 제1 패턴은 크롬(Cr)을 포함하고, 상기 제2 패턴은 ITO 또는 IZO를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제14항에 있어서, 상기 얼라인 키부는상기 제1 기판 상에 형성된 제1 얼라인 키; 및상기 제1 얼라인 키에 대응하도록 상기 제2 기판 상에 형성된 제2 얼라인 키를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제20항에 있어서, 상기 제2 얼라인 키는 상기 제1 얼라인 키를 둘러싸는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제1 패턴을 표시영역 및 상기 표시영역을 둘러싸는 주변영역을 갖는 제1 기판상의 상의 상기 주변영역에 형성하는 단계;상기 제1 패턴 상에 제2 패턴을 형성하는 단계;상기 제1 패턴 및 상기 제2 패턴을 동시에 패터닝하여 얼라인 키를 상기 제1 기판의 주변영역에 형성하는 단계; 및상기 얼라인 키에 의해 상기 제1 기판과 상기 제1 기판에 대향하는 제2 기판을 상호 얼라인시키는 단계를 포함하는 표시장치의 제조방법.
- 제22항에 있어서, 상기 얼라인 키는상기 표시영역에 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 갖는 스위칭 소자를 형성하고, 상기 주변영역에 상기 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나의 전극을 이루는 물질을 포함하는 상기 제1 패턴을 형성하는 단계;상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되고, 광학적으로 투명하고 전기적으로 도전성을 갖는 층을 형성하는 단계; 및상기 광학적으로 투명하고 전기적으로 도전성을 갖는 층과 상기 제1 패턴을 동시에 식각하는 단계에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.
- 제23항에 있어서, 상기 얼라인 키는상기 표시영역에 광 차단층을 형성하고, 상기 주변영역에 상기 제1 패턴을 형성하는 단계;상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되고 광학적으로 투명하고 전기적으로 도전성을 갖는 층을 형성하는 단계; 및상기 광학적으로 투명하고 전기적으로 도전성을 갖는 층과 상기 제1 패턴을 동시에 패터닝하는 단계에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.
- 제22항에 있어서, 상기 제1 패턴과 상기 제2 패턴은 동일한 식각액에 의해 식각되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.
- 제1 표시영역 및 상기 제1 표시영역을 둘러싸는 제1 주변영역을 가지고, 상기 제1 주변영역에 형성되며 불투명한 제1 패턴 및 투명한 제2 패턴을 갖는 제1 얼라인 키를 갖는 제1 기판을 형성하는 단계;제2 표시영역 및 상기 제2 표시영역을 둘러싸는 제2 주변영역을 가지고, 상기 제2 주변영역에 형성되며 불투명한 제3 패턴 및 투명한 제4 패턴을 갖는 제2 얼라인 키를 갖는 제2 기판을 형성하는 단계; 및상기 제1 및 제2 얼라인 키에 의해 제1 표시영역과 상기 제1 주변영역에 상기 제2 표시영역과 상기 제2 주변영역이 각각 대향하도록 상기 제1 기판과 상기 제2 기판을 얼라인시키는 단계를 포함하고,상기 제1 및 제2 패턴들은 동시에 식각되어 상기 제1 얼라인 키가 형성되는 표시장치의 제조방법.
- 제26항에 있어서, 상기 제1 기판은상기 제1 표시영역에 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 갖는 스위칭 소자를 형성하고, 상기 제1 주변영역에 상기 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나의 전극을 이루는 물질을 포함하는 상기 제1 패턴을 형성하는 단계;상기 제1 표시영역에 상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되는 투명전극을 형성하고, 상기 제1 주변영역에 상기 투명전극을 이루는 물질을 포함하는 상기 제2 패턴을 상기 제1 주변영역에 형성하는 단계; 및상기 제1 및 제2 패턴을 동시에 식각하여 상기 제1 얼라인 키를 형성하는 단계에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.
- 제26항에 있어서, 상기 제2 기판은상기 제2 표시영역에 광 차단층을 형성하고, 상기 제2 주변영역에 상기 광 차단층을 이루는 물질을 포함하는 상기 제3 패턴을 형성하는 단계;상기 제2 표시영역에 투명전극을 형성하고, 상기 제2 주변영역에 상기 투명전극을 이루는 물질을 포함하는 상기 제4 패턴을 형성하는 단계; 및상기 제3 및 제4 패턴을 동시에 식각하여 상기 제2 얼라인 키를 형성하는 단계에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.
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