KR100623797B1

KR100623797B1 - 표시 장치 및 표시 장치 제어 방법

Info

Publication number: KR100623797B1
Application number: KR1020027014354A
Authority: KR
Inventors: 가사하라미쓰히로; 이시가와유이치; 모리타도모코
Original assignee: 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤
Priority date: 1997-12-10
Filing date: 1998-12-07
Publication date: 2006-09-18
Also published as: EP0958572B1; CN1127050C; US6388678B1; DE69811636T2; US6690388B2; KR100366035B1; EP0958572A1; KR20000070948A; EP1162594A2; KR20020089530A; CN1246950A; EP1162594A3; DE69841466D1; JPH11231833A; WO1999030308A1; JP2994631B2; DE69811636D1; EP1162594B1; TW514851B; US20020036650A1

Abstract

표시 장치는 화상 휘도 데이터를 획득해서, 휘도 데이터를 근거로 가중배수(N)를 조정하는 조정장치를 포함한다. 상기 가중배수(N)는 양의 정수부 및 소수부를 가진다. 이에 따라, 가중배수(N)가 변해도, 휘도의 급격한 변화가 발생하지 않아서, 화면을 시청하는 사람은 부자연스러움을 느끼지 못한다.

표시 장치, 서브필드, 디더 회로, 곱셈기, 오차 확산 회로

Description

표시 장치 및 표시 장치 제어 방법{PLASMA DISPLAY PANEL DRIVE PULSE CONTROLLER}

도 1A 내지 도 1H는 서브필드(SF1-SF8)의 다이어그램.

도 2는 서브필드(SF1-SF8)가 중첩된 상태를 나타내는 다이어그램.

도 3은 PDP 화면 휘도 분포에 대한 일례를 나타내는 다이어그램.

도 4는 PDP 구동 신호의 표준형을 나타내는 파형도.

도 5는 도 3의 상기 PDP 화면 휘도 분포로부터 1 화소 이동된 경우를 나타내는 다이어그램.

도 6은 PDP 구동신호의 2배 모드를 나타내는 파형도.

도 7은 PDP 구동신호의 3배 모드를 나타내는 파형도.

도 8A는 PDP 구동신호의 표준형에 대한 파형도.

도 8B는 도 8A에서 1만큼 서브필드가 증가한 파형도.

도 9는 제1 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 10은 제1 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵(MAP)의 전개도.

도 11은 제2 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵의 전개도.

도 12는 제3 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵의 전개도.

도 13은 제1 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵의 변형도.

도 14는 제2 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵의 변형도.

도 15는 제3 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵의 변형도.

도 16은 제4 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 17은 제5 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 18은 제6 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 19는 제7 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 20은 제8 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

도 21은 디더 회로의 블록도.

도 22A, 22B, 22C, 22D, 22E, 22F, 22G 및 22H는 디더 회로의 동작을 나타내는 다이어그램.

도 23은 오차확산 회로의 블록도.

도 24A 및 도 24B는 오차 누적(error accumulation) 및 오차 확산을 나타내는 다이어그램.

도 25A, 25B 및 25C는 오차확산 회로의 동작을 나타내는 다이어그램.

도 26은 제9 실시예의 표시 장치에 대한 블록도.

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로써, 특히, 플라즈마 표시 패널(plasma display panel)(PDP) 및 디지털 마이크로미러 장치(digital micromirror device)(DMD) 표시 구동 펄스 제어기에 관한 것이다.

PDP 및 DMD의 표시 장치는 서브필드(subfield) 방법을 이용하여 만드는데, 이것은 2진 메모리를 가지고 있고, 각각 가중된 복수의 2진 화상을 일시적으로 이중 인화(superimposing)함으로써 중간조(half tone) 처리한 동적 화상을 표시한다. 아래에서는 PDP를 예로 하여 설명하지만, 마찬가지로 DMD에도 동일하게 적용된다.

PDP 서브필드 방법을 도 1, 도 2 및 도 3을 이용하여 설명한다.

도 3에 도시된 바와 같이 가로 10 및 세로 4로 정렬된 화소를 가진 PDP를 고려해 보자. 각 화소의 R, G, B 각각을 8 비트로 그 휘도가 표현되고, 256 계조(gradation)(256 회색 기준)의 휘도의 표현이 가능하다고 가정한다. 이하에서는 G 신호에 대해 설명하지만, 이러한 설명은 마찬가지로 R, B에 대해서도 동일하게 적용된다.

도 3의 A에 지시된 부분은 128의 휘도 신호 레벨을 갖는다. 이것을 2진수로 표시하면, A로 표시된 부분의 각 화소에 (1000 0000) 신호 레벨이 부가된다. 마찬가지로, B로 표시된 부분은 127의 휘도를 가지며, (0111 1111) 신호 레벨이 각 화소에 부가된다. C로 표시된 부분은 126의 휘도를 가지며, (0111 1110) 신호 레벨이 각 화소에 부가된다. D로 표시된 부분은 125의 휘도를 가지며, (0111 1101) 신호 레벨이 각 화소에 부가된다. E로 표시된 부분은 0의 휘도를 가지며, (0000 0000) 신호 레벨이 각 화소에 부가된다. 각 화소에 대한 8 비트 신호를, 각 화소의 위치에서 수직으로 나란히 정렬하고 비트마다 수평으로 슬라이싱(slicing) 한 것을 서브필드라고 한다. 즉, 1 필드를 가중된 서로 다른 복수의 2진 화상으로 나누고, 시 간적으로 중첩 표시(superimposing)하는 소위 서브필드법을 사용한 화상 표시 방법에 있어서, 분할된 하나의 2진 화상을 서브필드라 한다.

도 2에 도시된 바와 같이, 각 화소는 8 비트를 이용하여 표시하기 때문에, 8개의 서브필드가 이루어질 수 있다. 각 화소의 8 비트 신호의 최하위 비트를 모아서, 이것을 10×4 매트릭스로 정렬한 것을 서브필드 SF1이라 한다(도 2). 상기 최하위 비트로부터 두 번째 비트를 모아서, 마찬가지로 매트릭스로 정렬한 것을 서브필드 SF2라 한다. 이렇게 하여 서브필드 SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7, SF8이 만들어진다. 말할 필요 없이, 서브필드 SF8은 최상위 비트를 모아서 정렬한 것이다.

도 4는 1 필드만큼의 PDP 구동신호의 표준형을 나타낸다. 도 4에 도시된 바와 같이, PDP 구동신호의 표준형에서는 8개의 서브필드 SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7, SF8이 있고, 서브필드 SF1 내지 SF8은 순서대로 처리되고, 이 모든 처리는 1 필드기간 내에 실행된다.

각 서브필드의 처리에 대해 도 4를 이용하여 설명한다. 각 서브필드의 처리는 설정기간(P1), 기록기간(P2) 및 유지기간(P3)으로 이루어진다. 설정기간(P1)에서, 유지전극(sustaining electrode)에 하나의 펄스가 인가되고, 또한 각 주사전극(scanning electrode)에 하나의 펄스가 인가된다(도 4에서 주사전극이 4개만 표시된 것은, 도 3의 예에서 단지 4개의 주사 라인만 표시되었기 때문이며, 실제로는 다수의 주사전극, 예를 들면 480개가 있다). 이에 따라, 예비 방전이 실행된다.

기록기간(P2)에서, 수평 방향의 주사전극이 순차적으로 주사되고, 데이터 전극으로부터 펄스를 받은 화소에만 소정의 기록을 실행한다. 예를 들어, 서브필드 SF1을 처리할 때, 도 2에 도시된 서브필드 SF1 내에서 "1" 로 표시된 화소에 대해서는 기록이 실행되고, "0"으로 표시된 화소에 대해서는 기록이 실행되지 않는다.

유지기간(P3)에서, 유지펄스(구동 펄스)는 각 서브필드의 가중치에 따라 출력된다. "1"로 표시된 기록 화소는 각 유지펄스에 대하여 플라즈마 방전이 수행되고, 1회의 방전으로 소정의 화소 휘도를 얻을 수 있다. 서브필드 SF1에서는, 가중이 "1"이기 때문에, "1"의 휘도 레벨이 얻어진다. 서브필드 SF2에서는, 가중이 "2"이기 때문에, "2"의 휘도 레벨이 얻어진다. 즉, 기록기간(P2)은 광을 방출할 화소를 선택하는 기간이고, 유지기간(P3)은 가중량에 대응하는 횟수로 광을 방출하는 기간이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 서브필드 SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7, SF8는 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128로 각각 가중된다. 따라서, 각 화소의 휘도 레벨은 0에서 255까지의 256 계조를 이용하여 조정될 수 있다.

도 3의 영역 B에서, 서브필드 SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7에서는 광을 방출하지만, 서브필드 SF8에서는 광을 방출하지 않는다. 따라서, "127"(=1＋2＋4＋8＋16＋32＋64) 레벨의 휘도가 얻어진다.

도 3의 영역 A에서, 서브필드 SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7에서는 광을 방출하지 않지만, 서브필드 SF8에서는 광을 방출한다. 따라서, "128"의 레벨의 휘도가 얻어진다.

전체적으로 밝은 휘도를 가진 화면에서, 화상신호로부터 얻어지는 구동 펄스를 그대로 이용할 경우에도 밝은 화상을 만들 수 있지만, 전체적으로 화상이 어두우면, 화상신호로부터 얻은 구동 펄스를 그대로 이용할 경우, 매우 어두운 화면이 되고 빈약한 화상의 표현(rendition)이 된다. 인간의 눈의 구조는 밝을 때는 동공(瞳孔)이 작아져서 들어오는 빛의 양을 줄이지만, 어두울 때는 동공이 연속적으로 커져서 더 많은 빛을 취하게 된다. 이와 같은 효과를 얻기 위해서, 화면이 전체적으로 어두워질 때는 전체의 화면 상에 동일한 비율로 구동 펄스수를 증가시킴으로써 전체 화면을 밝게 하고, 어두운 분위기를 유지하는 동안은 견실한 화상을 표현하는 방법이 알려져 있다.

전체의 화면의 휘도에 대하여, 밝은 경우에서 어두운 경우로 단계적으로, 다수의 단계, 예를 들어 밝음, 다소 밝음, 어두움의 3단계로 나누어서, 밝은 경우에는 구동 펄스를 그대로 이용하는 1배 모드(도 4)를 이용하고, 다소 밝은 경우에는 2배 모드(도 6)를 이용하고, 어두운 경우에는 구동 펄스를 3배로 한 3배 모드(도 7)를 이용하는 것이 알려져 있다. 예컨대, 이것은 일본 특허 출원 제1996-286636호(대응 미국 특허 출원 제5,757,343호)에 기술되어 있다.

따라서, 구동 펄스가 단계적으로 변하기 때문에, 어느 단계에서 다른 단계로, 예를 들어, 다소 밝음에서 어두움으로 화면이 변할 때, 화면에 급격한 변화를 표시하게 되어 부조화의 느낌을 갖게 한다.

이러한 화면의 급격한 변화를 없애고 연속적인 휘도 조정을 위하여, 이득의 일정 곱셈인자(fixed multiplication factor)를 조정하는 것이 널리 공지되어 있다(예컨대, 일본 출원번호 제1996-286636(대응 미국특허 출원 제5,757,343호). 상기 문제점은 이득의 일정 곱셈인자를 변경하더라도, 구동 펄스가 2배, 3배로 단계적으로 변화하기 때문에, 이러한 변화가 발생하는 시점에서는 화면의 부조화 느낌은 완전히 제거시킬 수 없다.

본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 구동펄스를 정수배 뿐만 아니라 소수점을 포함한 값의 배수로서 변화시켜 조정하여, 더욱 연속적인 휘도의 조정을 실행할 수 있는, PDP 표시 펄스 구동 제어기를 제공하는 것을 제1 목적으로 한다.

화상의 휘도를 나타내는 파라메터(parameter)로는 휘도의 평균 레벨, 피크 레벨, PDP 소비 전력, 패널 온도, 콘트라스트(contrast)와 같은 것이 이용된다.

구동펄스를 정수배 뿐만 아니라 소수점을 포함하는 값의 배수로 변화시켜 조정함으로써, 단속(斷續)적으로 밝게 하는 것이 아니고 연속적으로 밝게 할 수 있기 때문에, 화면을 보고 있는 사람이 화면 휘도의 변화를 감지하지 않게 한다.

또한, 본 발명은 화상(동화상 및 정지화상을 포함)의 휘도에 따라 서브필드 개수를 조정할 수 있는 PDP 표시 구동 펄스 제어기를 제공하는 것을 제2 목적으로 한다.

서브필드 개수를 증가함으로써, 의사 윤곽선(pseudo-contour lines)을 제거할 수 있는데 이것에 대해서는 이 후에 설명한다. 한편, 서브필드 개수를 감소시킴으로써 의사 윤곽선이 발생할 가능성이 있으나, 보다 선명한 화상을 만들 수 있다.

의사 윤곽 잡음에 대해 설명한다.

도 5에 도시된 바와 같이, 도 3의 상태로부터의 A, B, C, D 영역이 오른쪽으로 1 화소폭(pixel width) 이동한다고 가정하면, 화면을 바라보는 사람 눈의 시점도 A, B, C, D 영역을 따라 오른쪽으로 이동한다. 그러면, B 영역의 3 수직 화소(도 3의 B1 부분)는 1 필드 뒤에 A 영역(도 5의 A1 부분)의 3 수직 화소와 대체될 것이다. 이 때, 사람의 눈은, 도 3에서 도 5로 표시 화상이 변하는 시점에서, B1 영역 데이터(0111111)와 A1 영역 데이터(10000000)의 논리곱(AND)의 형태, 즉 (00000000)로서 B1 영역을 인식한다. 즉, 상기 B1 영역은 원래의 휘도 레벨 127로 표시되지 않고, 오히려, 휘도 레벨 0으로 표시된다. 그러면, B1 영역에 외관상 어두운 윤곽선이 나타난다. 이와 같이 상위 비트에 대해 "1"에서 "0"으로 외관상의 변경이 가해지면, 명백하게 어두운 윤곽선이 나타난다.

반대로, 화상이 도 5에서 도 3으로 변하는 경우, 도 3으로 변하는 시점에서, A1 영역의 데이터(10000000)와 B1 영역 데이터(01111111)의 논리합(OR)의 형태, 즉, (11111111)로서 A1 영역을 인식한다. 즉, 최상위 비트가 "0"에서 "1"로 강제적으로 변경됨으로써, 상기 A1 영역이 원래의 128 휘도 레벨로 표시되지 않고, 오히려, 약 2배의 255의 휘도 레벨로 표시된다. 그러면, A1 영역에 외관상의 휘도 윤곽선이 나타난다. 이와 같이 상위 비트에 대해, "0"에서 "1"로 외관상의 변경이 가해지면, 외관상 밝은 윤곽선이 나타난다.

동화상의 경우에, 화면상에 나타나는 이와 같은 윤곽선을 의사 윤곽 잡음("펄스폭 변조 동화상 표시에 나타나는 의사 윤곽 잡음": Television Society Technical Report, Vol. 19, No. 2, IDY95-21 pp. 61∼66)이라고 하며, 이것은 화질을 떨어뜨린다.

본 발명에 따르면, 각 화상에 대하여, 각 화소의 Z 비트 표현에 따라 첫 번째에서 Z번째까지의 서브필드(Z)의 수, 각 서브필드에 대한 가중치, 화상신호를 증폭하는 곱셈인자(A) 및 다수의 계조 표시점(K)을 생성하는 표시 장치에 있어서,

화상 휘도 데이터를 얻는 휘도 검출수단과

상기 휘도 데이터를 토대로 상기 가중치를 곱하는 가중배수(N)를 조정하는 조정수단을 포함하고,

상기 가중배수(N)는 양의 정수부와 소수부 값을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은, 화상 휘도의 평균 레벨(average level)(Lav)을 검출하는 평균 레벨 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은, 화상 휘도의 피크 레벨(peak level)(Lpk)을 검출피크 레벨 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 조정수단은 화상신호를 증폭하여 화상 전체의 휘도를 밝게 하거나 어둡게 하는 일정 곱셈인자(A)(fixed multiplication factor)를 결정하는 화상 특성 판정수단과, 일정 곱셈인자(A)를 토대로 화상신호를 A배 증폭하는 곱셈 수단(12)을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 조정 수단은 총계조수(K)를 결정하는 화상 특성 판정수단과, 총계조수(K)를 토대로 화상신호를 가장 근접한 계조 레벨로 변화시키는 표시 계조 조정수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 조정수단은 서브필드 개수(Z)를 결정하는 화상 특성 판정수단 및 상기 서브필드 개수(Z)를 토대로 각 서브필드의 가중치를 결정하는 대응 수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 가중배수(N)는 상기 평균 휘도 레벨(Lav)이 감소하는 만큼 증가한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 서브필드 개수(Z)는 상기 평균 휘도 레벨(Lav)이 감소하는 만큼 감소된다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 일정 곱셈인자(A)는 상기 평균 휘도 레벨(Lav)이 감소하는 만큼 증가된다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 일정 곱셈인자(A)와 가중배수(N)의 곱셈 결과는 상기 평균 휘도 레벨(Lav)이 감소하는 만큼 증가된다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 가중배수(N)는 상기 휘도 피크 레벨(Lpk)이 감소하는 만큼 줄어든다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 서브필드 개수(Z)는 상기 휘도 피크 레벨(Lpk)이 감소하는 만큼 증가된다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 일정 곱셈인자(A)는 상기 휘도 피크 레벨(Lpk)이 감소하는 만큼 증가된다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은 화상의 콘트라스트를 검출하는 콘트라스트 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은 표시 장치가 위치하고 있는 주위의 조도(illumination)를 검출하는 주위 조도 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은 표시 장치의 표시 패널 소비전력을 검출하는 소비전력 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 휘도 검출수단은 표시 장치의 표시 패널 온도를 검출하는 온도 검출수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 각 서브필드(Q)의 가중치는 각 서브필드의 가중배수(N)에 의해 곱해지고, 이 곱의 소수점 이하를 반올림하여 얻은 정수값을 각 서브필드의 발광 횟수로 한다.

바람직한 한 실시예에 따르면, 상기 장치는 표시될 화상의 휘도와 각 서브필드의 발광 횟수에 따라 표시 가능한 휘도와의 오차에 대응하는 보정 데이터를 각 계조에 대해 발생시키는 수단과, 이러한 보정 데이터에 따라 표시되는 계조의 공간 밀도를 변경하는 수단을 포함한다.

바람직한 한 실시예에 따라, 상기 보정 데이터 발생수단은, 각 계조에 대해 보정 데이터가 대응되는 보정 데이터 변환표로 구성된다.

바람직한 한 실시예에 따라, 상기 공간밀도 변경수단은 낮은 휘도부분만을 동작시킨다.

바람직한 한 실시예에 따라, 상기 공간밀도를 변경하는 수단은 디더 회로(dither circuit)로 이루어진다.

바람직한 한 실시예에 따라, 상기 공간밀도를 변경하는 수단은 오차확산 회 로로 이루어진다.

[실시예]

본 발명의 실시예를 설명하기 전에, 도 4에 나타낸 PDP 구동신호의 표준형에 대한 많은 변형례에 대해 설명한다.

도 6은 가중배수 N이 2인 2배 모드 PDP 구동신호를 나타낸다. 또한, 도 4에 나타낸 PDP 구동신호는 1배 모드이다. 도 4의 1배 모드로써, 서브필드 SF1 내지 SF8의 유지기간(P3)에 포함된 유지펄스(sustaining pulse)의 개수, 즉, 가중치가 각각 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128이지만, 도 6의 2배 모드에서는, 서브필드 SF1 내지 SF8에 대하여 유지기간(P3)에 포함된 유지펄스의 개수는 2배로 가중되고, 구체적으로 가중치는 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128, 256이 된다. 이에 따라, 1배 모드인 표준형 PDP 구동신호와 비교하여, 2배 모드 PDP 구동신호는 휘도가 2배인 화상 표시를 만들 수 있다.

도 7은 가중배수 N이 3인, 3배 모드 PDP 구동신호를 나타낸다. 따라서, 서브필드 SF1 내지 SF8에 대하여 유지기간(P3)에 포함된 유지펄스의 개수는 모든 서브필드에 대하여 각각 3배인 3, 6, 12, 24, 48, 96, 192, 384가 된다.

이러한 방법으로, 1 필드에서의 여유도(margin)에 의존하더라도, 최대 6배 모드 PDP 구동신호를 생성할 수 있다. 이에 따라, 화상 표시의 휘도를 6배로 할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 기술한 정수배(整數倍) 모드에 더하여, 가중배수 N은 소수점 이하를 포함하는 값의 모드, 예컨대, 1.25배 모드, 1.50배 모드, 1.75배 모드도 가능하다. 상기 모드에 대해서는 이후에 상세히 설명된다.

도 8(A)는 표준형의 PDP 구동신호를 나타내고, 도 8(B)는 1개의 서브필드가 추가되어, 서브필드 SF1 내지 SF9를 갖는 변형 PDP 구동신호를 나타낸다. 이러한 표준형에서는, 최종 서브필드 SF8은 128 유지펄스만큼 가중되지만, 도 8(B)의 변형에서는, 최종 2개의 서브필드 SF8, SF9는 각각 64의 유지펄스만큼 가중된다. 예컨대, 130 레벨의 휘도를 표시하는 경우 도 8(A)의 표준형에서는, 서브필드 SF2(가중 2) 및 서브필드 SF8(가중 128)을 이용하여 이루어질 수 있는 반면, 도 8(B)의 변형에서는, 3 서브필드, 서브필드 SF2(가중 2), 서브필드 SF8(가중 64) 및 서브필드 SF9(가중 64)를 이용하여 이러한 레벨의 휘도가 이루어질 수 있다. 이러한 방법으로 서브필드의 개수를 증가시킴으로써, 가장 큰 가중치를 가진 서브필드의 가중치를 감소시킬 수 있다. 이러한 방법으로 가중치를 감소시키는 것에 비례하여 의사 윤곽 잡음(pseudo-contour noise)을 감소할 수 있다.

이 후에 표시한 표 1, 표 2, 표 3, 표 4는 각 PDP 구동신호의 가중배수(N)가 1.00배 모드, 1.25배 모드, 1.50배 모드, 1.75배 모드, 2.00배 모드, 2.25배 모드, 2.50배 모드, 2.75배 모드, 3.00배 모드일 때, 서브필드의 가중치, 서브필드의 발광 횟수, 인접모드 사이의 발광 횟수의 차 및 이러한 차이에 의한 백분율을 표시한다.

또한, 가중치(Q), 가중배수(N)(N배 모드의 N), 발광 횟수(E) 사이의 관계식은 다음과 같다.

E = Q ×N

본 발명에서는, 가중배수(N)가 2.75와 같은 소수점 이하 값을 포함하는 경우도 있기 때문에, 예컨대, 발광 횟수(E)는 정수값이 아니라, 오히려 소수점 이하의 값을 갖는 경우도 있다. 이 경우에, 발광 횟수의 소수점 이하의 값에 대해 반올림, 버림, 올림 중에 하나를 실행한다. 따라서, 발광 횟수는 항상 정수값을 갖는다.

[표 1]

N	K	가중치 Q
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12	합계
1.00	255	1	1	1	4	8	13	19	26	35	42	49	56	255
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	255	-	1	2	4	8	12	19	26	35	42	49	57	255
1.50	255	-	1	2	3	6	10	18	27	35	43	51	59	255
1.75	255	-	1	1	2	5	9	17	28	36	44	52	60	255
2.00	255	-	1	1	1	4	8	16	28	36	45	53	62	255
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	255	-	-	1	2	4	8	16	27	36	45	53	63	255
2.50	255	-	-	1	2	4	8	16	26	35	45	54	64	255
2.75	255	-	-	1	2	4	8	16	25	35	44	55	65	255
3.00	255	-	-	1	2	4	8	16	25	34	44	55	66	255

[표 2]

N	K	발광 횟수 E
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12	합계
1.00	255	1	1	1	4	8	13	19	26	35	42	49	56	255
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	255	-	1	3	5	10	15	24	33	44	53	61	71	320
1.50	255	-	2	3	5	9	15	27	41	53	65	77	89	386
1.75	255	-	2	2	4	9	16	30	49	63	77	91	105	448
2.00	255	-	2	2	2	8	16	32	56	72	90	106	124	510
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	255	-	-	2	5	9	18	36	61	81	101	119	142	574
2.50	255	-	-	3	5	10	20	40	65	88	113	135	160	639
2.75	255	-	-	3	6	11	22	44	69	96	121	151	179	702
3.00	255	-	-	3	6	12	24	48	75	102	132	165	198	765

[표 3]

N	K	발광 횟수의 차이
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12
1.00	255	-	0	2	1	2	2	5	7	9	11	12	15
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	255	-	1	0	0	-1	0	3	8	9	12	16	18
1.50	255	-	0	-1	-1	0	1	3	8	10	12	14	16
1.75	255	-	0	0	-2	-1	0	2	7	9	13	15	19
2.00	255	-	-	0	3	1	2	4	5	9	11	13	18
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	255	-	-	1	0	1	2	4	4	7	12	16	18
2.50	255	-	-	0	1	1	2	4	4	8	8	16	19
2.75	255	-	-	0	0	1	2	4	6	6	11	14	19
3.00	255	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-

[표 4]

N	K	차이의 백분율
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12
1.00	255	-	0.0	0.8	0.4	0.8	0.8	2.0	2.7	3.5	4.3	4.7	5.9
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	255	-	0.3	0.0	0.0	-0.3	0.0	0.9	2.5	2.8	3.8	5.0	5.6
1.50	255	-	0.0	-0.3	-0.3	0.0	0.3	0.8	2.1	2.6	3.1	3.6	4.1
1.75	255	-	0.0	0.0	-0.4	-0.2	0.0	0.4	1.6	2.0	2.9	3.3	4.2
2.00	255	-	-	0.0	0.6	0.2	0.4	0.8	1.0	1.8	2.2	2.5	3.5
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	255	-	-	0.2	0.0	0.2	0.3	0.7	0.7	1.2	2.1	2.8	3.1
2.50	255	-	-	0.0	0.2	0.2	0.3	0.6	0.6	1.3	1.3	2.5	3.0
2.75	255	-	-	0.0	0.0	0.1	0.3	0.6	0.9	0.9	1.6	2.0	2.7
3.00	255	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-

이러한 표를 읽는 방법은 다음과 같다. 예컨대, 1.00배 모드에서는, 서브필드가 SF1 내지 SF12까지이고 서브필드 SF1 내지 SF12의 가중치는 각각 1, 1, 1, 4, 8, 13, 19, 26, 35, 42, 49, 56이다. 이러한 모든 가중치를 가산한 합계는 255이고, 최대의 휘도 레벨을 나타낸다. 또한, 표1∼표4에 대한 상기 계조 표시점 개수 (K)는 모두 256이다, 즉, 0에서 255까지이다.

1.00배 모드의 경우, 레벨 1의 휘도를 낼 때 서브필드 SF1만이 선택된다. 레 벨 2의 휘도를 낼 때, 서브필드 SF1, SF2가 선택된다. 레벨 3의 휘도를 낼 때, 서브필드 SF1, SF2, SF3이 선택된다. 레벨 4의 휘도를 낼 때, 서브필드 SF4만이 선택된다. 이러한 방법으로 서브필드를 결합함으로써, 레벨 1에서 레벨 255까지의 미소한 단계로 휘도를 변화시킬 수 있다.

그 다음 단계의 1.25배 모드에서는, 서브필드가 SF1에서 SF11까지 있고, 서브필드 SF1 내지 SF11의 가중치는 1, 2, 4, 8, 12, 19, 26, 35, 42, 49, 57이다. 이러한 모든 것을 합한 합계는 255이다. 표1∼표4에 있어서, 가장 큰 가중치를 갖는 최종 서브필드는 오른쪽 가장자리에 위치된다. 따라서, 예컨대, 1.00배 모드 서브필드 SF12에 가중된 "56" 은 1.25배 모드 서브필드 SF11에 가중된 "57"과 인접하고 있다.

이하에서도 마찬가지로 하여, 1.50배 모드, 1.75배 모드, 2.00배 모드에 대한 서브필드 SF1 내지 SF11의 가중치는 전체 합계가 255로 된다.

또한, 2.25배, 2.50배, 2.75배, 3.00배에 대한 서브필드 SF1 내지 SF10의 가중치는 전체 합계가 255가 되도록 결정된다.

표 2는 다음과 같이 읽는다. 1.00배 모드에서는, 서브필드 SF1 내지 SF12의 발광 횟수 각각을, 표 1의 1.00배 모드로 표시된 가중치에 1을 곱한 값으로 설정한다. 1.25배 모드에서는, 서브필드 SF1 내지 SF11의 발광 횟수 각각을 표 1의 1.25배 모드에 표시된 가중치에 1.25를 곱한 값으로 하고, 반올림한 정수값으로 설정한다. 반올림하지 않고, 소수점 이하에 대해 버림, 올림 또는 이들을 조합한 것을 이용하여 처리할 수도 있다. 이것은 다른 배수 모드에 대하서도 마찬가지이다. 말할 필요도 없이, 이러한 소수점 이하를 버리는 것은 플라즈마 방전의 발광 횟수를, 소수점 이하 값으로 제어할 수 없기 때문이다. 각 서브필드가 반올림된 정수값을 이용했을 때에도, 복수의 서브필드를 결합함으로써 발광 횟수가 가산된다면, 약 1.25배의 발광 횟수가 된다. 예컨대, 서브필드 SF1에서 SF11까지의 발광 횟수를 모두 더하면, 320이 되고, 이 값은 255를 1.25배인 318.75에 근접한 값이 된다.

1.50배 모드에 대해서도, 서브필드 SF1에서 SF11까지의 발광 횟수를, 표 1의 1.50배 모드에 표시된 가중치에 1.50을 곱한 값으로 하고, 반올림된 정수값으로 설정한다. 다른 모드에 대해서도 동일한 방법으로 발광 횟수를 설정한다.

도 3은 다음과 같이 읽는다. 표 2에 표시된 1.00배 모드의 행의 발광 횟수를 그 다음 행의 배수 모드(즉, 1.25배 모드)의 발광 횟수로 하고, 인접한 위치에 있는 값으로부터 감산하여 얻은 값을, 표 3의 1.00배 모드의 행에 표시한다. 예컨대, 표 2의 1.25배 모드 서브필드 SF11의 발광 횟수 "71"에서, 표 2의 1.00배 모드 서브필드 SF12의 발광 횟수 "51"을 감산함으로써 얻은 값 "15"를, 표 3의 1.00배 모드 서브필드 SF12에 발광 횟수의 차로 표시한다. 다시 말해서, 표 3은 표 2의 인접한 2개의 셀(상 및 하) 사이에서의 발광 횟수의 차이를 나타낸다.

표 4는 다음과 같이 읽는다. 표 2에 표시된 발광 횟수에 관하여, 표 3에 표시된 발광 횟수에 대한 차이의 백분율이 표 4에 표시된다. 예컨대, 표 3에서 1.00배 모드 서브필드 SF12에 표시된 발광 횟수의 차이 "15"는, 표 2에서 1.00배 모드 전체의 서브필드의 총 발광횟수 "255"에 대해서는 5.9%이고, 이 값은 표 4의 1.00배 모드 서브필드 SF12에 표시되어 있다. 표 4의 모든 값은 6% 이하이다. 다시 말 해서, 표 2의 발광 횟수와 표 1의 가중치는 표 4의 6% 이하가 되도록 설정된다.

이와 같이, 인접한 배수 모드 사이에서, 가중치가 가장 큰 것으로부터 차례로 정렬된 서브필드 사이의 발광 횟수의 차를 6% 이하로 줄였기 때문에, 어떤 화상으로부터 다음 화상으로 이동할 때, 배수 모드가 변해도 각 서브필드의 발광 횟수는 크게 변하지 않으므로, 부드럽게 휘도를 변화시킬 수 있다.

또한, 종래 알려진 방법에서는, 배수 모드의 변화가 정수값으로 변화하기 때문에, 인접한 배수 모드가 변할 때, 예컨대, 1배 모드와 2배 모드가 변할 때, 일정 곱셈인자는 1에서 1/2까지 크게 변하고, 2배 모드와 3배 모드가 변할 때, 일정 곱셈인자는 1에서 2/3까지 크게 변한다. 결과적으로, 화상신호의 진폭은 크게 변한다. 이와 같이, 화상 진폭이 크게 변한 화상신호를 서브필드에 할당하여 표시하는 경우, 배수 모드의 윤곽선 주위에서는 실제적으로 동일한 휘도를 나타내는 화상이지만, 발광을 표시하는 서브필드는 크게 변화하게 된다. 즉, 실제적으로 동일한 휘도를 나타내는 화상에서도, 발광하는 서브필드의 시간적 위치와 발광 가중치는 크게 변하기 때문에, 1 서브필드 기간 내에서의 시간적인 발광 위치가 크게 변하게 된다. 이와 같은 화상을 관측하면, 1 필드기간 내에서의 시간적 발광 위치가 변하기 때문에, 화면의 휘도가 변화하게 된다.

그러나, 본 발명에서는, 배수 모드로 소수점 배수를 설정할 수 있도록 하기 때문에, 배수 모드가 변하는 때에도, 발광하는 서브필드의 시간적 위치와 발광 가중치의 변화를 줄일 수 있고, 배수 모드가 변할 때에 관측된 휘도의 변화를 극히 작게 할 수가 있다.

또한, PDP 패널에서는, 정수배 만의 배수 모드로 구동할 때에는, 형광체의 포화 현상 등에 의해, 전체 발광 횟수가 동일해도 1배 모드, 2배 모드, 3배 모드 사이의 휘도는 동일하지 않다. 이러한 문제점에 관하여, 본 발명에서는 배수 모드에 소수점 배수를 설정할 수 있도록 했기 때문에, 인접한 배수 모드 사이에서의 서브필드의 발광 횟수가 유사하여, 실제적으로 동일한 휘도를 표시할 수 있다. 배수 모드를 소수점 이하의 값으로 설정할 수 있는 본 발명은, 부드럽게 휘도를 변화시키면서, 휘도의 평균 레벨이 작은 화상에서 화상의 휘도를 올릴 수 있고, CRT와 동등한 정도로 충분한 콘트라스트 느낌이 있는 아름다운 화상을 재생할 수 있다.

제1 실시예

도 9는 제1 실시예의 표시 장치에 대한 블록도를 나타낸다. 입력(2)은 R, G, B 신호를 받는다. 수직 동기 신호 및 수평 동기 신호가 입력단자(VD, HD)로부터 타이밍 펄스 발생기(6)에 입력된다. A/D 변환기(8)는 R, G, B 신호를 받아서, A/D 변환을 수행한다. A/D 변환된 R, G, B 신호는 역감마 보정장치(reverse gamma correcting device)(10)를 통해 역감마 보정이 실행된다. 역감마 보정 이전에, R, G, B 신호 각각은 8 비트 신호에 의해 최저 0에서 최고 255까지의 레벨을, 한 차례에 256개의 선형적으로 다른 레벨(0, 1, 2, 3, 4, 5,......,255)로 표시한다. 역감마 보정 다음에, 상기 R, G, B 신호는 16 비트 신호에 의해 최저 0에서 최고 255까지의 레벨을, 약 0.004의 정확도로 256의 비선형적으로 다른 레벨로 표시된다.

역감마 보정 후의 R, G, B 신호는, 1 필드 지연기(11)로 보내지고, 또한, 피크레벨 검출기(26) 및 평균레벨 검출기(28)로도 보내진다. 상기 1 필드 지연기(11) 로부터 1 필드 지연된 신호는 곱셈기(12)에 가해진다.

피크레벨 검출기(26)로는, 1 필드의 데이터에서 R 신호 피크레벨(Rmax), G 신호 피크레벨(Gmax) 및 B 신호 피크레벨(Bmax)이 검출되고, Rmax, Gmax 및 Bmax 내의 피크레벨(Lpk)도 검출된다. 즉, 상기 피크레벨 검출기(26)로써, 1 필드 내의 가장 밝은 값이 검출된다. 상기 평균 레벨 검출기(28)로는, 1 필드 데이터의 R 신호 평균값(Rav), G 신호 평균값(Gav) 및 B 신호 평균값(Bav)이 구해지고, Rav, Gav 및 Bav의 평균 레벨(Lav)도 구해진다. 즉, 평균레벨 검출기(28)로써, 1 필드의 휘도의 평균값이 구해진다.

화상 특성 판정장치(30)는, 평균레벨(Lav)과 피크레벨(Lpk)을 수신하여, 평균레벨과 피크레벨을 조합함으로써 4개의 파라메터, 즉, N배 모드값(N), 곱셈기(12)의 일정 곱셈인자(A), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)를 결정한다.

도 10은 상기 제1 실시예에 이용된 파라메터를 결정하는 맵이고, 화상 특성 판정장치(30)에 이용된다. 도 10의 파라메터 결정 맵을 이용할 경우, 피크레벨 신호는 이용되지 않기 때문에, 상기 피크레벨 검출기(26)를 생략할 수 있다.

도 10의 맵은 수평축에 평균레벨(Lav)을 나타내고, 수직축에 일정 곱셈인자(A)를 나타낸다. 도 10의 맵은, 상기 수직축에 평행한 선으로 복수의 칼럼(column)으로 분할되고, 도 10의 예에서는, 상부 레벨로부터 약 10 % 피치에서 9개의 칼럼(C1, C2, C3, C4, C5, C6, C7, C8, C9)으로 나뉘어 진다. 상기 언급한 4개의 파라메터, N배 모드값(N), 곱셈기(12)의 일정 곱셈인자(A), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)는 각 칼럼에 대하여 특정된다. 다른 도면에 표시된 맵에 대해서도 상기 4개 파라메터의 숫자 값은 마찬가지로 표시된다.

도 10에 나타낸 바와 같이, 칼럼 C1에서의 설정은 서브필드 개수 12, 1.00 배 모드, 225 계조 표시점으로 고정되고, 상기 일정 곱셈인자는 1에서 0.76/ 1.00까지, 즉, 왼쪽 가장자리에서 오른쪽 가장자리까지 변한다. 칼럼 C2의 설정은 서브필드 개수 11, 1.25배 모드, 225 계조 표시점으로 고정되고, 일정 곱셈인자는 1에서 1.00/1.25, 즉, 왼쪽 가장자리에서 오른쪽 가장자리까지 변한다. 또한, 다른 칼럼의 설정은 도 10에 나타낸 것과 같다.

도 10의 맵으로부터 알 수 있는 바와 같이, 상기 평균레벨(Lav)이 떨어지고, 그 칼럼이 변할 때 마다, 상기 서브필드 개수(Z)는 동일하거나 감소하며, 상기 가중배수(N)는 0.25피치로 증가한다. 또한, 일정 곱셈인자(A)는, 각 칼럼에서 1 이하 값으로부터 1까지, 즉, 오른쪽 가장자리에서 왼쪽 가장자리로 연속적으로 변하도록 되어 있다. 상기 일정 곱셈인자(A)는, 각 칼럼의 경계 전후에서, 상기 일정 곱셈인자(A)와 가중배수(N)를 곱한 결과가 같은 값, 즉, 발광 횟수가 같은 값이 되도록 설정된다.

도 10의 맵을 이용할 경우, 예컨대, 어느 화상 i에서 다음 화상 i＋1로 변할 때, 화상 i의 표시가 칼럼 C1의 파라메터에 의해 제어되고, 화상 i＋1의 표시가 칼럼 C2의 파라메터에 의해 제어되면, 상기 PDP 구동신호는 1.00배 모드로부터 1.25배 모드로 변하기 때문에, 화상 휘도는 적지만 단차(段差)적으로 변한다. 이러한 휘도의 단차적 변화를 고치기 위하여, 일정 곱셈인자(A)의 변화가 이용된다. 상기 예에 있어서, 화상 i의 표시가 칼럼 C1의 왼쪽 가장자리 근처에서 실행된다고 가정하면, 휘도는 N ×A에 비례하기 때문에, 1 ×1＝1에 비례한다. 또한, 화상 i＋1의 명도가 칼럼 C2의 오른쪽 가장자리 근처에서 실행된다고 가정하면, 휘도가 N ×A에 비례하기 때문에, 1.25 ×1.00/1.25＝1에 비례한다. 따라서, 화상 i와 화상 i＋1이 1배 휘도로 구동되고, 상기 휘도의 단차적 변화는 사라진다. 또한, 화상의 평균레벨이 보다 밝은 방향으로 변하는 경우, 예컨대, 칼럼 C2내의 오른쪽 가장자리에서 왼쪽 가장자리로 변할 때, PDP 구동은 1.25배 모드를 이용하여 실행되지만, 상기 일정 곱셈인자(A)가 1.00/1.25에서 1로 연속적으로 변하기 때문에, 그 휘도도 1배(1.25 ×1.00/1.25)에서 1.25배(1.25 ×1)까지 연속적으로 변한다. 이러한 방법으로, 상기 평균레벨이 감소할 경우, 칼럼(C9)의 휘도도 2.75배(3.00 ×2.75/3.00)에서 3.00배(3.00×1)까지 연속적으로 변한다.

도 10에 나타낸 예에 있어서, 상기 칼럼은 약 10% 피치에서 분할되지만, 더욱 미세하게 분할될 수도 있다. 예컨대, 칼럼이 1% 피치에서 분할된다고 가정하면, 도 10의 칼럼 C1은 칼럼 C1₁에서 칼럼 C1₁₀까지(도시하지 않음) 10 부분으로 분할된다. 상기 가중배수(N)는 칼럼 C1₁에서는 1.000, 칼럼 C1₂에서는 1.025, 칼럼 C1₃에서는 1.050으로 0.025 피치로 증가될 것이고, 예컨대, 상기 일정 곱셈인자(A)는 칼럼 C1₂에서는 왼쪽에서 오른쪽까지 1.000/1.025에서 1까지, 칼럼 C1₃에서는 1.025/1.050에서 1까지 변할 것이다. 따라서, 일정 곱셈인자(A)가 극히 작게 변하기 때문에, 변화없이 일정한 값으로 1을 이용할 수 있다. 즉, 미세하게 칼럼을 분 할하여, 일정 곱셈인자(A)를 변경시키지 않고 소수점 이하의 값을 이용하여 각 칼럼마다 가중배수를 미세하게 설정함으로써, 평균레벨 전체에 걸쳐 휘도를 연속적으로 변경할 수 있다.

상기 화상 특성 판정장치(30)는 상기 기술한 바와 같이 평균레벨(Lav)을 수신하여, 미리 기억된 맵(도 10)을 이용하여 상기 4개의 파라메터(N, A, Z, K)를 특정한다. 맵을 이용하는 것과는 달리, 상기 4개의 파라메터는 산술 및 컴퓨터 처리에 의해 특정될 수도 있다.

곱셈기(12)는 일정 곱셈인자(A)를 받아서, 상기 R, G, B 신호를 A배한다. 이에 따라, 상기 화면 전체가 A배 휘도가 된다. 또한, 상기 곱셈기(12)는 각각의 R, G, B 신호에 대하여 소수점 이하 세 번째 자리까지 표시된 16 비트 신호를 수신하고, 소정의 연산처리에 의해, 소수점 이하에서의 자리올림 처리를 실행한 후, 다시 16 비트 신호를 출력한다.

표시 계조 조정장치(14)는 계조 표시점 개수(K)를 수신한다. 상기 표시 계조 조정장치(14)는 상기 소수 세 번째 자리로 상세히 표시된 휘도 신호(16 비트)를, 가장 근사(近似)한 계조 표시점(8 비트)으로 변경한다. 예컨대, 상기 곱셈기(12)로부터 출력된 값이 153.125이었다고 가정하면, 일례로서, 상기 계조 표시점 개수(K)가 128이면, 계조 표시점은 짝수만을 취하기 때문에, 153.125를 가장 근사한 계조표시점인 154로 변경한다. 다른 예로서, 상기 계조 표시점 개수(K)가 64이면, 계조 표시점이 4의 배수만을 취하기 때문에, 153.125를 가장 근사한 계조 표시점인 152(＝4×38)로 변경한다. 이러한 방법으로, 상기 표시 계조 조정장치(14)에 의해 수신 된 16 비트 신호는 계조 표시점 개수(K)의 값을 토대로 가장 근사한 계조 표시점으로 변경되고, 이러한 16 비트 신호는 8 비트 신호로 출력된다.

화상신호-서브필드 대응장치(16)는 서브필드 수(Z), 계조 표시점 개수(K) 및 가중배수(N)를 받아서, 상기 표시 계조 조정장치(14)로부터 송신된 상기 8비트 신호를 Z비트 신호로 변경한다. 상기 화상신호-서브필드 대응장치(16)는 표 1을 기억하고, 소정의 계조로 출력될 서브필드 조합을 설정한다. 예컨대, 소정의 계조로서 계조 6이 입력된다고 가정해 보자. 표준 2진수로 6을 표현하면, (0000 0110)이 된다. PDP 구동신호가 표준형인 경우, 서브필드 SF2, SF3이 이용된다. 그러나, 표 1에 표시된 1.00배 모드 PDP 구동신호의 경우에는, 계조 6을 표시하기 위해 서브필드 SF1, SF2, SF4(또는 SF2, SF3, SF4, 또는 SF1, SF3, SF4가 가능)가 이용된다. 또한, 표 1에 표시된 1.25배 모드 PDP 구동신호의 경우에는 계조 6을 표시하기 위해 서브필드 SF2, SF3이 이용되며, 1.50배 모드의 경우에는 서브필드 SF4만(또는, SF1, SF2, SF3도 가능) 이용된다. 표 1 외에, 화상신호-서브필드 대응장치(16)에서는, 화상특성 판정장치(30)에서 설정된 배수 모드 N을 근거로, 어느 서브필드를 조합시켜 원하는 계조를 발생시킬 것인가를 나타내는 대조표(배수 N에 대한 모든 계조와 이에 대한 서브필드 조합한 표)도 기억되어 있다.

서브필드 처리기(18)는 서브필드 단위 펄스수 설정장치(34)로부터 데이터를 수신하여, 유지기간(P3)에 만들어진 유지펄스의 개수를 결정한다. 서브필드 단위 펄스수 설정장치(34)에는, 표 2가 기억되고, 발광 횟수에 대응하는 유지펄스가 설정된다. 상기 서브필드 단위 펄스수 설정장치(34)는 화상특성 판정장치(30)로부터 N배 모드 값(N), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)를 수신하여, 각 서브필드에 필요한 유지펄스의 수를 특정한다.

설정기간(P1), 기록기간(P2) 및 유지기간(P3)에 필요한 펄스신호가 상기 서브필드 처리기(18)로부터 주어져서, PDP 구동신호가 출력된다. 상기 PDP 구동신호는 데이터 구동기(20) 및 주사/유지/소거 구동기(scanning/holding/erasing driver)(22)에 제공되고, 플라즈마 표시 패널(24) 상에 표시된다.

상기 표시 계조 조정장치(14), 화상신호-서브필드 대응장치(16), 서브필드 단위 펄스수 설정장치(6) 및 서브필드(18)에 관한 세부사항은, 일본특허출원 제1998-271030호(제목: 휘도에 따라 서브필드 개수를 조정할 수 있는 표시 장치)의 명세서에 공개되어 있다.

상기 설명된 바와 같이, 4개의 파라메터, 즉 N배 모드값(N), 곱셈기(12)의 일정 곱셈인자(A), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)는 1 필드의 평균 레벨(Lav)에 의해 결정될 수 있고, 휘도도 연속적으로 변할 수 있기 때문에, 휘도가 변할 때에도 부자연스럽지 않다.

도 13은 도 10에 표시된 파라메터-결정 맵의 변형이다. 도 10은 표 1, 표 2, 표 3 및 표 4에 따라 전개된 맵이고, 도 13은 표 5, 표 6, 표 7, 표 8에 따라 전개된 맵으로서 이것은 이후에 설명한다. 도 10에서, 상기 일정 곱셈인자(A)는 각 칼럼마다 어떤 소수값에서 1로 변하지만, 도 13의 변형례에서는, 상기 일정 곱셈인자(A)를 복수의 칼럼에 걸쳐 어떤 소수값에서 1로 변한다. 이와 같이 함으로써, 상기 일정 곱셈인자(A)의 데이터량을 감소시킬 수 있다.

제2 실시예

도 11은 제2 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵으로서, 도 9에 표시된 블록 다이어그램의 화상특성 판정장치(30)에서 이용된다. 도 11의 파라메터 결정 맵을 이용할 경우, 상기 평균레벨 신호(Lav)를 이용하지 않기 때문에, 도 9의 블록 다이어그램에서 평균레벨 검출기(28)는 생략할 수 있다.

도 11의 맵은 수평축에 피크레벨을, 수직축에 일정 곱셈인자(A)를 나타낸다. 도 11의 맵에서, 수직축과 평행인 선으로 복수의 칼럼을 분할하는데, 도 11의 예에서, 상부 레벨에서 2.75/3.00까지를 C11, 여기서부터 2.50/3.00까지를 C12, 여기서부터 2.25/3.00까지를 C13, 여기서부터 2.00/3.00까지를 C14, 여기서부터 1.75/3.00까지를 C15, 여기서부터 1.50/3.00까지를 C16, 여기서부터 1.25/3.00까지를 C17, 여기서부터 1.00/3.00까지를 C18, 그 이하를 C19로, 분할한다. 상기한 4개의 파라메터, 즉, N배 모드값(N), 곱셈기(12)의 일정 곱셈인자(A), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)는 각 칼럼에 대하여 특정된다.

도 11에 표시된 바와 같이, 칼럼 C11에서의 설정은 서브필드 개수 11, 3.00배 모드, 계조 표시점 개수 225, 일정 곱셈인자 3.00/3.00이다. 상기 칼럼 C12에서의 설정은 서브필드 개수 11, 2.75배 모드, 계조 표시점 개수 225, 일정 곱셈인자 3.00/2.75이다. 다른 칼럼에 대한 설정은 도 11에 표시된 바와 같다.

도 11로부터 알 수 있는 바와 같이, 상기 피크레벨이 떨어지고, 상기 칼럼이 변할 때마다, 상기 서브필드 개수(Z)는 동일하거나 증가하고, 상기 가중배수(N)는 0.25 피치로 감소한다. 또한, 상기 일정 곱셈인자(A)는, 각 칼럼의 경계 전후에서, 상기 일정 곱셈인자(A)와 가중배수(N)를 곱한 결과가 같도록, 즉 발광 횟수가 같은 값이 되도록 설정된다. 피크레벨이 변함으로써, 어느 칼럼의 데이터에 의해 표시된 화상이 다른 칼럼의 데이터에 의해 표시된 화상으로 변해도, 휘도의 단차적 변화는 발생하지 않는다.

상기 제2 실시예에 대한 피크레벨(Lpk)이 큰 경우에는, 가중배수(N)를 증가시키고, 화면 전체의 휘도를 증가시킴으로써, 피크레벨의 광을 더욱 강조할 수 있다. 또한, 상기 피크레벨(Lpk)이 작을 경우, 가중배수(N)를 감소시키고, 상기 화면 전체의 휘도를 표준화하여, 특별한 강조는 하지 않는 형태로 한다.

상기 휘도의 피크레벨이 낮을 때는, 화상 전체에 할당된 계조수는 감소한다. 본 발명에 의하면, 상기 일정 곱셈인자(A)를 증가시키고, 상기 가중배수(N)를 감소시키기 때문에, 화상 전체에 할당된 계조수를 증가시킬 수 있다. 그러나, 인접한 배수 모드가 변할 때, 예컨대, 1배 모드와 2배 모드가 변할 때는 일정 곱셈인자가 1에서 1/2로 크게 변하고, 2배 모드와 3배 모드가 변할 때는 일정 곱셈인자가 1에서 2/3로 크게 변한다. 결과적으로, 화상신호의 진폭은 크게 변한다. 따라서, 화상의 진폭이 크게 변한 화상신호가 서브필드에 할당되고 표시될 경우, 배수 모드의 경계 주위에서는, 거의 동일한 휘도를 표시하는 화상이 되지만, 발광을 표시하는 서브필드는 크게 변화하게 된다. 즉, 거의 동일한 휘도를 표시하고 있는 화상에서도, 1 필드기간 내에서의 시간적 위치와 발광 가중치는 크게 변하기 때문에, 이와 같은 화상이 관측될 때, 1 필드기간 내의 시간적 발광위치가 변화하여 화면 휘도에 주목할 만한 변화가 있게 된다.

그러나, 본 발명에서는, 배수 모드로써 소수점배(少數点培)를 설정할 수 있기 때문에, 배수 모드가 변화한 때에도 발광하는 서브필드의 시간적 위치와 발광 가 가중치의 변화를 줄일 수 있어서, 배수 모드가 변할 때 관측되는 휘도의 변화를 매우 작게 할 수 있다.

또한, PDP 패널에서는, 정수배 만의 배수 모드로 구동될 경우, 형광체의 포화 현상에 의해, 전체 발광 횟수가 동일하더라도, 1배 모드, 2배 모드, 3배 모드 사이의 휘도가 동일하게 되지 않는다. 이와 같은 문제점에 대해서도, 본 발명에서는, 배수 모드에 소수점배를 설정할 수 있도록 하여, 인접한 배수 모드 사이에서의 서브필드의 발광 횟수가 비슷하도록 했기 때문에, 실제적으로 동일한 휘도를 표시할 수 있다. 게다가, 피크 휘도가 낮은 전체적으로 어두운 화상에 대해서도, 화상 전체에 충분한 계조를 줄 수 있기 때문에, 아름다운 화상을 재생할 수 있다. 배수 모드를 소수점 이하의 값으로 설정할 수 있는 본 발명은, 실제적인 관점에서 극히 유용하다.

도 14는 도 11에 나타낸 파라메터 결정 맵의 변형이다. 도 11은 표 1, 표 2, 표 3, 표 4에 따라 전개된 맵이고, 도 14는 표 5, 표 6, 표 7, 표 8에 따라 전개된 맵으로서 이것에 대하여는 이후에 설명된다. 도 11에 있어서, 일정 곱셈인자(A)는 각 칼럼마다 설정되지만, 도 14의 변형에서는, 일정 곱셈인자(A)는 복수의 칼럼에 걸쳐 설정된다. 이와 같이 함으로써, 상기 일정 곱셈인자(A)의 데이터량을 감소시킬 수 있다.

제3 실시예

도 12는 제3 실시예에 이용된 파라메터 결정 맵이고, 도 9에 표시된 블록도의 화상특성 판정장치(30)에서 이용된다. 도 13의 상기 파라메터 결정 맵을 이용할 경우, 평균레벨 신호(Lav)와 피크레벨 신호(Lpk)를 이용하기 때문에, 도 9의 블록도에서 상기 평균레벨 검출기(28)와 피크레벨 검출기(26) 둘 다가 이용된다. 상기 제3 실시예는 제1 및 제2 실시예를 조합한 것이다.

도 12의 맵은, 수평축에 평균레벨(Lav)을 나타내고, 수직축에 피크레벨을 나타낸다. 도 12의 맵은, 상기 수직축에 평행한 선으로 복수의 칼럼으로 분할되고, 상기 수평축에 평행한 선으로 복수의 행으로 분할된다. 도 12의 예에서, 상기 맵은 수평축을 따라 상위 레벨로부터 약 10% 피치로 9개의 칼럼으로 분할되고, 수직축을 따라 상위 레벨로부터 0.25 피치로 10개의 횡으로 분할된다. 따라서, 전체적으로 90개의 세그먼트가 생성된다. 상기 각 세그먼트에 대해, 상기한 4개의 파라메터, 즉, N배 모드값(N), 피크레벨에 따른 일정 곱셈인자(Ap), 서브필드 개수(Z) 및 계조 표시점 개수(K)의 값이 설정된다. 또한, 각 칼럼에 대해, 일정 곱셈인자(Ah)가 지정된다. 최종적인 곱셈인자(A)는 Ap ×Ah로 결정된다.

도 12에 나타낸 바와 같이, 상부의 왼쪽 모서리의 세그먼트에서의 설정은, 한 피크에 따라, 서브필드 개수 10, 3.00배 모드, 일정 곱셈인자(3.00/3.00)이다. 상기 계조 표시점 개수(K)는, 도 12에는 도시하지 않았지만, 모든 세그먼트에 대하여 225이다. 상기 상부 왼쪽 모서리 우측의 세그먼트에서의 설정은, 한 피크에 따라 서브필드 개수 10, 2.75배 모드, 일정 곱셈인자(2.75/2.75)이다. 다른 세그먼트에 대한 설정은 도 12에 표시된 바와 같다.

도 12로부터 알 수 있는 바와 같이, 피크레벨(Lpk)이 떨어지고, 행이 변할 때 마다, 상기 서브필드(Z)는 동일하거나 증가하고, 상기 가중배수(N)는 0.25 피치로 감소한다. 또한, 평균 레벨(Lav)이 떨어지고 칼럼이 변할 때마다, 상기 서브필드 개수(Z)는 동일하거나 감소하고, 상기 가중배수(N)는 0.25 피치로 증가한다. 또한, 각 세그먼트의 경계 전후에서, 피크레벨에 의한 일정 곱셈인자(Ap)와 평균레벨에 의한 일정 곱셈인자(Ah)의 곱인 일정 곱셈인자(A)와, 가중배수(N)의 승산결과가 동일한 값이 되는데, 즉 발광횟수가 동일하게 되도록 설정된다. 피크레벨의 변화와, 평균 레벨의 변화에 의해, 어떤 세그먼트의 데이터에 의해 표시된 화상이, 다른 세그먼트의 데이터에 의해 표시된 화상으로 변하는 경우에도, 휘도의 단차적 변화는 발생하지 않는다.

이러한 제3 실시예에서는, 상기 제1 실시예와 제2 실시예를 조합했기 때문에, 휘도의 평균레벨이 변화하여 인접한 배수모드로 이행하는 경우에도, 휘도의 변화가 미세하고, 부드럽게 휘도를 변화시키며, 휘도의 평균레벨이 작은 화상에 대해서도 휘도를 올릴 수 있고, CRT와 같은 정도로 충분한 콘트라스트를 가진 아름다운 화상을 재생할 수 있다. 또한, 피크 휘도가 낮은 어두운 화상에 대해서도, 화상 전체에 충분한 계조를 줄 수 있기 때문에, 아름다운 화상을 재생할 수 있다.

도 15는 도 12에 표시된 파라메터 결정 맵의 변형이다. 도 12는 표 1, 표 2,표 3, 표 4에 따라 전개된 맵이고, 도 15는 표 5, 표 6, 표 7, 표 8에 따라 전개된 맵인데 이것은 이후에 설명된다. 도 12에서, 평균레벨에 따른 일정 곱셈인자(A)를 각 칼럼마다에 어떤 소수값에서 1로 변화시켰지만, 도 15의 변형에서는, 평균 레벨 에 따른 일정 곱셈인자(A)를 복수의 칼럼에 걸쳐 어떤 소수값에서 1로 변화시킨다.

이와 같이 함으로써, 일정 곱셈인자(A)의 데이터량을 감소시킬 수 있다.

표 1, 표 2, 표 3, 표 4의 변형례

아래에 도시된 표 5, 표 6, 표 7, 표 8은 표 1, 표 2, 표 3, 표 4의 변형례를 나타낸다.

[표 5]

N	K	가중치 Q
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12	합계
1.00	255	1	2	4	6	10	14	19	25	32	40	48	54	255
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	159	0	1	2	4	6	9	12	15	21	26	30	33	159
1.50	191	-	1	2	4	6	7	14	20	27	32	37	41	191
1.75	223	-	1	1	3	4	8	15	25	32	38	45	51	223
2.00	255	-	1	2	3	4	6	15	28	36	45	53	62	255
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	191	-	-	1	2	2	6	12	20	27	34	40	47	191
2.50	213	-	-	1	2	4	6	13	22	29	38	45	53	213
2.75	235	-	-	1	2	4	7	15	23	32	40	50	60	234
3.00	255	-	-	1	2	4	8	16	25	34	44	55	66	255

[표 6]

N	K	발광 횟수 E
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12	합계
1.00	255	1	2	4	6	10	14	19	25	32	40	48	54	255
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	159	-	2	4	8	12	18	24	30	42	52	60	66	318
1.50	191	-	2	4	8	12	14	28	40	54	64	74	82	382
1.75	223	-	2	2	6	8	16	30	50	64	76	90	102	446
2.00	255	-	2	4	6	8	12	30	56	72	90	106	124	510
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	191	-	-	3	6	6	18	36	60	81	102	120	141	573
2.50	213	-	-	3	6	12	18	39	66	87	114	135	159	639
2.75	234	-	-	3	6	12	21	45	69	96	120	150	180	702
3.00	255	-	-	3	6	12	24	48	75	102	132	165	198	765

[표 7]

N	K	발광 횟수의 차이
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12
1.00	255	-1	0	0	2	2	4	5	5	10	12	12	12
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	159	-	0	0	0	0	-4	4	10	12	12	14	16
1.50	191	-	0	-2	-2	-4	2	2	10	10	12	16	20
1.75	223	-	0	2	0	0	-4	0	6	8	14	16	22
2.00	255	-	-2	-1	0	-2	6	6	4	9	12	14	17
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	191	-	-	0	0	6	0	3	6	6	12	15	18
2.50	213	-	-	0	0	0	3	6	3	9	6	15	21
2.75	234	-	-	0	0	0	3	3	6	6	12	15	18
3.00	255	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-

[표 8]

N	K	차이의 백분율
		SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11	SF12
1.00	255	-0.4	0.0	0.0	0.8	0.8	1.6	2.0	2.0	3.9	4.7	4.7	4.7
			SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10	SF11
1.25	159	-	0.0	0.0	0.0	0.0	-1.3	1.3	3.1	3.8	3.8	4.4	5.0
1.50	191	-	0.0	-0.5	-0.5	-1.0	0.5	0.5	2.6	2.6	3.1	4.2	5.2
1.75	223	-	0.0	0.4	0.0	0.0	-0.9	0.0	1.3	1.8	3.1	3.6	4.9
2.00	255	-	-0.4	-0.2	0.0	-0.4	1.2	1.2	0.8	1.8	2.4	2.7	3.3
				SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF10
2.25	191	-	-	0.0	0.0	1.0	0.0	0.5	1.0	1.0	2.1	2.6	3.1
2.50	213	-	-	0.0	0.0	0.0	0.5	0.9	0.5	1.4	0.9	2.3	3.3
2.75	234	-	-	0.0	0.0	0.0	0.4	0.4	0.9	0.9	1.7	2.1	2.6
3.00	255	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-

표 5는 다음과 같이 읽는다. 1.00배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF12까지가 있고, 서브필드 SF1 내지 SF12의 가중치는 1, 2, 4, 6, 10, 14, 19, 25, 32, 40, 48, 54이다. 이러한 모든 가중치를 합한 합계는 255이고, 이것은 최대의 휘도레벨을 나타낸다.

그 다음 단계의 1.25배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF11까지가 있고, 서브필드 SF1 내지 SF11의 가중치는 1, 2, 4, 6, 9, 12, 15, 21, 26, 30, 33이다. 이 모든 것의 합계는 159이다. 이러한 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 1.25배 하여 2로 나눈 것과 같다.

그 다음 단계의 1.50배 모드에서는 서브필드 SF10부터 SF11까지가 있고, 서브필드 SF1 내지 SF11의 가중치는 1, 2, 4, 6, 7, 20, 27, 32, 37, 41이다. 이 모든 것은 합한 합계는 191이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 1.50배 하여 2로 나눈 것과 같다.

그 다음 단계의 1.75배 모드에서는 서브필드 SF1부터 SF11까지가 있고 서브필드 SF1 내지 SF11의 모든 가중치를 합한 합계는 223이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 1.75배 하여 2로 나눈 것과 같다.

그 다음 단계의 2.00배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF11까지가 있고, 서브필드 SF1 내지 SF11의 모든 가중치의 합계는 255이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 2.00배 하여 2로 나눈 값과 같다.

그 다음 단계의 2.25배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF10까지가 있고 서브필드 SF1 내지 SF10의 모든 가중치 합계는 191이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 2.25배 한 다음, 1/3을 곱한 값과 같다.

그 다음 단계의 상기 2.50배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF10까지가 있고 서브필드 SF1 내지 SF10의 모든 가중치를 합한 합계는 213이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 2.50배 한 다음 1/3을 곱한 값과 같다.

그 다음 단계의 2.75배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF10까지가 있고 서브필드 SF1 내지 SF10의 모든 가중치를 합한 합계는 191이다. 이 값은 1배 모드 의 최대 휘도레벨 255를 2.75배 한 다음 1/3을 곱한 값과 같다.

그 다음 단계의 3.00배 모드에 대해서는 서브필드 SF1부터 SF10까지가 있고 서브필드 SF1 내지 SF10의 모든 가중치를 합한 합계는 255이다. 이 값은 1배 모드의 최대 휘도레벨 255를 3.00배 한 다음, 1/3을 곱한 값과 같다.

상기 언급한 수치의 의미에 대해서는, 표 6에서 설명한다.

표 1 내지 표 4와 마찬가지로, 표 5 내지 표 8에서도 가장 큰 가중치를 가진 마지막 서브필드가 가장 오른쪽에 배치된다.

표 6은 다음과 같이 읽는다. 1.00배 모드에 대해서, 서브필드 SF1 내지 SF12의 각 발광 횟수는, 표 5의 1.00배 모드에 표시된 가중치를 1배 한 값으로 설정된다. 1.25배 모드에 대해서, 서브필드 SF1 내지 SF11의 발광 횟수는 표 5의 1.25배 모드에 표시된 가중치를 2배 한 값으로 설정된다. 마찬가지로, 1.50배 모드, 1.75배 모드, 2.00배 모드에 대하여, 서브필드 SF1 내지 SF11의 발광 횟수는 표 5의 배수 모드에 표시된 가중치를 2배 한 값으로 설정된다.

2.25배 모드에 대하여, 서브필드 SF1 내지 SF10의 발광 횟수는 표 5의 1.25배 모드에 표시된 가중치를 3배 한 값으로 설정된다. 마찬가지로, 2.50배 모드, 2.75배 모드, 3.00배 모드에 대하여, 서브필드 SF1 내지 SF10의 발광 횟수는 표 5의 배수 모드에 표시된 가중치를 3배 한 값으로 설정된다.

이와 같이, 표 5에서 가중치를 상기한 바와 같은 값으로 선택함으로써, 1.25배 모드, 1.50배 모드, 1.75배 모드, 2.00배 모드에 대해서는, 표 5의 가중치를 단순히 2배 함으로써, 반올림 등의 처리 없이, 각각의 배수 모드에 대응하는 발광 횟 수가 설정된다. 또한, 2.25배 모드, 2.50배 모드, 2.75배 모드, 3.00배 모드에 대해서는, 표 5의 가중치를 단순히 3배 함으로써, 반올림 등의 처리를 하지 않고, 각 배수 모드에 해당하는 발광 횟수가 설정될 수 있다.

표 7은 표 3과 동일하게 읽는다. 즉, 표 6에 지시된 1.00배 모드의 행에서의 발광 횟수를, 다음 행의 배수 모드(즉, 1.25배 모드)의 발광 횟수로 하고, 인접한 위치에 있는 값으로부터 감산한 값을, 표 7의 1.00배 모드의 행으로 표시한다.

표 8은 표 4와 동일하게 읽는다. 즉, 표 6에 표시된 총 발광횟수에 대한, 표 7에 표시된 발광 횟수의 차이에 대한 백분율이, 표 8에 표시되었다. 표 8에서 모든 값이 6% 이하가 되도록, 표 6의 발광 횟수 및 표 5의 가중치가 설정되어 있다.

따라서, 인접한 배수 모드 사이에서, 가장 큰 가중치를 갖는 순서대로 정렬된 서브필드 사이의 발광 횟수 차이는 6% 이하로 작아지기 때문에, 어느 화상으로부터 다음 화상으로 이동될 경우에, 배수 모드가 변하여도 발광 횟수는 커다란 변화가 없어서, 휘도를 부드럽게 변화시킬 수 있다.

이러한 표 5 내지 표 8은 상기 실시예 중 어느 것에서도 이용될 수 있다.

제4 실시예

도 16은 제4 실시예의 표시 장치에 대한 블록도를 나타낸다. 이러한 실시예는, 도 9의 실시예에서 평균레벨 검출기(28)와 평행하게 콘트라스트 검출기(50)를 더 설치한 것이다. 화상특성 판정장치(30)는 피크레벨(Lpk)과 평균 레벨(Lav)에 더해서 혹은 그 대용으로서, 화상의 콘트라스트에 근거하여 4개의 파라메터를 결정한다. 예컨대, 콘트라스트가 강할 때에는, 일정 곱셈인자(A)를 감소시킬 수 있다.

제5 실시예

도 17은 제5 실시예의 표시 장치의 블록도를 나타낸다. 이러한 실시예는, 도 9의 실시예에서 주위조도(周圍照度) 검출기(52)를 더 설치한 것이다. 상기 주위조도 검출기(52)는 주위 조도(53)로부터 신호를 받아서, 주위 조도에 해당하는 신호를 출력하며, 이 출력 값을 화상특성 판정장치(30)에 제공한다. 상기 화상특성 판정장치(30)는 상기 피크레벨(Lpk)과 평균레벨(Lav)에 더해서 혹은 그 대용으로서, 주위 조도에 근거하여 4개 파라메터를 결정한다. 예컨대, 주위 조도가 어두울 때, 이러한 실시예는 상기 일정 곱셈인자(A)를 감소시킬 수 있다.

제6 실시예

도 18은 제6 실시예의 표시 장치에 대한 블록도를 나타낸다. 이러한 실시예는 도 9의 실시예에 소비전력 검출기(54)를 더 설치한 것이다. 이 소비전력 검출기(54)는 플라즈마 표시 패널(24) 및 구동기(20, 22)의 소비 전력에 해당하는 신호를 출력하여, 그 출력신호를 화상특성 판정장치(30)에 제공한다. 이 화상특성 판정장치(30)는 피크레벨(Lpk)과 평균레벨(Lav)에 더하여 혹은 그 대용으로서 , 플라즈마 표시 패널(24)의 소비 전력에 근거하여 4개의 파라메터를 결정한다. 예컨대, 소비 전력이 클 때, 이러한 실시예는 일정 곱셈인자(A)를 감소시킬 수 있다.

제7 실시예

도 19는 제7 실시예의 표시 장치에 대한 블록도를 나타낸다. 또한, 이러한 실시예는 도 9의 실시예에서 패널온도 검출기(56)를 더 설치한 것이다. 상기 패널온도 검출기(56)는 플라즈마 표시 패널(24)의 온도에 해당하는 신호를 출력하고, 그 출력된 신호를 화상특성 판정장치(30)에 제공한다. 상기 화상특성 판정장치(30)는 피크레벨(Lpk)과 평균레벨(Lav)에 더하여 혹은 그 대용으로서, 플라즈마 표시 패널(24)의 온도에 근거하여 4개 파라메터를 결정한다. 예컨대, 온도가 높을 때, 이러한 실시예는 일정 곱셈인자(A)를 감소시킬 수 있다.

제8 실시예

상기한 실시예에 대하여, 각 화소의 휘도를 1.25배, 1.50배, 1.75배, 2.00배, 2.25배, 2.50배, 2.75배, 3.00배 할 때, 각 화소에 대한 발광 횟수(E)를 설정하는 방법은 다음과 같은 공식을 이용한다.

E＝Q ×N

발광 횟수(E)에 대한 계산 결과에서 소수점 이하의 값을 포함하는 경우, 반올림 등을 이용해서, 발광횟수(E)가 항상 정수로 설정되도록 한다.

이러한 제8 실시예에서는, 각 화소에 대한 휘도를 1.25배, 1.50배, 1.75배, 2.00배, 2.25배, 2.50배, 2.75배, 3.00배로 한 경우에 해당하는 각 화소와, 각 화소의 주변 화소에서의 발광횟수(E)를 설정한다. 즉, 어느 주목되는 화소의 발광횟수(E)의 계산결과가 3.75라고 가정하면, 3.75의 위 아래로 가능한 근사값으로서 발광횟수는 3회 및 4회이기 때문에, 주목되는 화소를 포함하는 주변화소에 3회 및 4회를 계산된 비율로 나눔으로써, 주목되는 화소 주변의 휘도를 발광횟수가 3.75이 되는 휘도로 설정할 수 있다. 이와 같이, 주목되는 화소에서의 오차를 주변 화소로 분산시키고, 오차를 줄이는 방법을 오차확산 방법이라고 한다. 즉, 오차확산 방법은 이러한 제8 실시예에 이용된다.

도 20은 제8 실시예의 블록도이다. 60은 데이터 변환기이고, 61은 표입력 회로이고, 62는 공간밀도 변경회로이며, 이러한 60, 61, 62는 서브필드 처리기(18)에 포함된다.

가중배수(N)가 표입력 회로(61)에 입력되고, 각각의 다른 배수(N)(1.25배, 1.50배, 1.75배, 2.00배, 2.25배, 2.50배, 2.75배, 3.00배)에 대한 보정 데이터 변환표를 보유한다. 입력된 배수(N)에 해당하는 보정 데이터 변환표를 출력한다. 여기서 보정 데이터 변환표의 생성에 대해 설명한다.

지금부터, 배수(N)가 1.25배인 경우를 고려해 보자. 표 1, 표 2에 표시된 경우를 예로 하면, 서브필드 SF1-SF11의 발광횟수(E) 및 가중치(Q)는 아래의 표 9와 같다.

[표 9]

	SF1	SF2	SF3	SF4	SF5	SF6	SF7	SF8	SF9	SF1	SF1
Q	1	2	4	8	12	19	26	35	42	49	57
E	1	3	5	10	15	24	33	44	53	61	71

또한, 0 계조로부터 10 계조까지 표시되는 휘도, 발광횟수, 보정 데이터를 표시하면, 아래의 표 10과 같다.

[표 10]

L	D	E	C
0	0.00	0	0.000
1	1.25	1	1.125
2	2.50	3	1.750
3	3.75	4	2.750
4	5.00	5	4.000
5	6.25	6	5.125
6	7.50	8	5.750
7	8.75	9	6.750
8	10.00	10	8.000
9	11.25	11	9.125
10	12.50	13	9.750

여기서, L은 계조(gradation)이고, D는 표시될 휘도이고, E는 발광횟수이며, C는 보정 데이터이다. 표시될 휘도(D)는 L ×N이 된다(상기한 예에 대해서는, N=1.25). 또한, 발광 횟수는, 표 9로부터 하나 또는 복수의 서브필드의 가중치를 가산해서 계조(L)를 구해서, 이에 대응하는 발광횟수를 가산한 것이다. 예를 들어, 계조 10은 서브필드 SF2, SF4를 가산하여 생성되고, 이 시점의 발광횟수는 서브필드 SF2, SF4의 발광 횟수를 더한 값, 즉, 13이 된다. 또한, 어떠한 계조 La에 대한 보정 데이터(C)는 다음과 같이 결정된다.

계조 La에 대해 표시할 휘도 (La ×N)에 대하여, 상측에 가장 근접한 발광횟수(Fu) 및 하측에 가장 근접한 발광횟수(Fd)를 구하고, 표시될 휘도(La ×N)에 대하여, Fu와 Fd 사이의 내부 분할 비율 x:(1-x)을 구한다.

이것을 공식으로 표현하면,

Fu(x＋Fd((1－x)＝(La ×N) (1)

즉,

x＝{(La ×N)－Fd}/(Fu－Fd) 이다. (2)

또한, 발광횟수(Fd)에 대한 계조를 L(Fd)라 하면, 보정 데이터(C)는 다음과 같은 공식으로 결정된다.

C＝L(Fd)＋x (3)

이 공식의 의미는, 계조 L(Fd)의 발광횟수(Fu)에 대해서는, 주변 부분의 x100(%) 영역에서 실행되고, 계조 L(Fd)의 발광횟수(Fd)에서는 주변 부분의 (1-x)100(%) 영역에서 실행된다는 것이다.

계조 5 대한 보정 데이터(C)를 구한다.

계조 5에 대하여 표시될 휘도는 6.25(= 5 ×1.25)이다. 6.25에 대해서, 상측에 가장 근접한 발광횟수(Fu)는 8(계조 6에 해당)이고, 하측에 가장 근접한 발광횟수(Fd)는 6(계조 5에 해당)이다. 표시될 휘도(6.25)에 대하여, 8과 6사이의 내부 분할 비율 x:(1-x)가 구해진다.

이것을 공식으로 나타내면,

8x＋6(1－x)＝6.25

즉,

x＝(6.25－6)/2＝0.125 이다.

또한, 발광횟수 Fd 즉, 발광 횟수 6에 대한 계조가 5이므로, 보정 데이터(C)는 다음과 같은 공식에 의해 결정된다.

C＝L(Fd)＋x＝5＋0.125＝5.125

이 공식의 의미는, 계조 L(Fu)[즉, 계조 6]의 발광 횟수(Fu)[즉, 8]가 주변 부분의 x100(%)[즉, 12.5%] 영역에서 실행되고, 계조 L(Fd)[즉, 계조 5]의 발광횟수(Fd)[즉, 6]가 주변 부분의 (1－x)100(%)[즉, 87.5%] 영역에서 실행되다는 것이다.

다른 예로써, 계조 6에 대한 보정 데이터(C)를 구한다. 계조 6에 대하여 표시될 휘도는 7.50(＝6 ×1.25)이다. 7.50에 대하여 상측에 가장 근접한 발광횟수(Fu)는 8(계조 6에 해당)이고, 하측에 가장 근접한 발광횟수(Fd)는 6(계조 5에 해당)이다. 표시될 휘도 7.50에 대하여, 8과 6 사이의 내부 분할 비율 x:(1-x)을 구한다.

이것을 공식으로 표현하면,

8x＋6(1－x)＝7.50

즉,

x＝(7.50－6)/2＝0.750 이다.

또한, 발광횟수(Fd)[즉, 6]에 대한 계조가 5이기 때문에, 보정 데이터(C)는 다음과 같은 공식에 의해 결정된다.

C＝L(Fd)＋x＝5＋0.750＝5.750

이 공식의 의미는, 계조 L(Fu)[즉, 계조 6]의 발광횟수(Fu)[즉, 8]에 대해, 주변 부분의 x100(%)[즉, 75%] 영역에서 실행되고, 계조 L(Fd)[즉, 계조 5]의 발광횟수(Fu)[즉, 6]에 대해서는, 주변 부분의 (1-x)100%[즉, 25%] 영역에서 실행된다는 것이다.

따라서, 1.25배 가중 배수에서, 모든 계조(0-255)에 대하여 보정 데이터(C) 가 구해지고, 이것을 표 11에 나타내었다.

1.25배 가중 배수에 대한 보정 데이터 변환표

[표 11]

L	C
0	0.000
1	1.125
2	1,750
3	2.750
4	4,000
5	5.125
60	5,750
7	6,750
8	8.000
9	9.125
10	9.750
:	:
:	:
255	254.750

또한, 동일한 방법으로 1.50배, 1.75배, 2.00배, 2.25배, 2.50배, 2.75배, 3.00배 가중배수(N)에 대해 보정 데이터 변환표가 주어질 수 있다. 따라서, 작성된 복수의 보정 데이터 변환표 중에서, 입력된 배수(N)에 따라 표입력 회로(61)에서 적절한 하나를 선택하여, 데이터 변환기(60)로 보낸다.

상기 데이터 변환기(60)는 Z 비트로 나타낸 계조 신호로 된 화상 신호를 받아서, 변환표에 따라 보정 데이터로 변환하여, (Z＋4) 비트로 된 보정 데이터를 출력한다. 상위 Z 비트는 정수부로 표시하고, 하위 4 비트는 소수점 이하 부분을 나타낸다. 이 보정 데이터는 공간밀도 변경회로(62)로 보내져서, 보정 데이터를 근거로 주변화소와의 조정이 실행된다. 상기 공간밀도 변경회로(62)를 구현하는 회로로서, 디더 회로(dither circuit)를 이용하는 경우와 오차확산 회로를 이용하는 경우 가 있다. 먼저, 디더 회로를 설명한다.

도 21은 공간밀도 변경회로(62)의 한 형태인 디더 회로(62')의 블록도를 나타낸다. 디더 회로(62')는 비트 분할기(bit splitter) 62a, 가산기 62b, 가산기 62c, 베이어 패턴(Bayer pattern) 62d로 이루어진다. 베이어 패턴(62d)은 4 ×4 블록의 16화소에서 0(0000)에서 15(1111)까지의 숫자가 랜덤하게 배치되고, 수직 방향과 수평 방향으로 동일한 패턴을 반복하여 전체의 화면에 전개한다.

비트 분할기(62a)는 입력된 보정 데이터를 상위 Z 비트 및 하위 4 비트로 분할한다. 상기 하위 4 비트는 가산기(62c)로 보내지고, 상기 베이어 패턴(62d)으로부터 보내진 대응 위치의 화소의 4 비트 데이터에 가산된다. 가산한 결과, 하위 4 비트를 5 번째 비트로 자리올림하면, 올림수(carry)가 생겨서, 가산기(62b)에서 Z 비트의 최하위 비트에 "1"이 가산된다.

예를 들어, 상기 입력된 화상신호가 부분적으로 일정한 휘도 레벨, 예컨대, 레벨 5라고 하고, 그 시점에서 가중 배수(N)가 1.25라고 가정하자. 이러한 경우, 이러한 일정한 부분에 대해, 모든 보정 데이터로서 5.125가 비트 분할기(62a)로 입력된다. 여기서, 0.125는 도 22B에 표시된 바와 같이 4비트 표시로 (0010)이 된다. 이러한 4 비트는 하위 4 비트로서 가산기(62c)로 보내져서, 상기 화면 상의 각 화소로부터 보내진 베이어 패턴(62d)의 4 비트 데이터와 가산된다.

보정 데이터의 소수점 이하가 0.125일 때, 이것을 베이어 패턴 4 비트 데이터와 가산한 결과의 올림수는, 도 22B에 표시된 바와 같이, 4 ×4의 16 화소 블록에서 2 화소("1"로 표시된 부분)에서 발생된다. 상기한 예에 있어서, 이러한 2 화 소 부분은, 가산기(62b)에서 "1"이 가산되고, 상기 Z 비트 부분은 5에서 6으로 이동한다. 따라서, 표 10으로부터, 상기 2 화소 부분은 발광 횟수가 8이 된다. 나머지 14 화소(도 22B에서 "0"으로 나타낸 부분)는, 가산기(62b)에서 올림수가 없기 때문에, 상기 Z 비트 부분은 5가 그대로 남는다. 따라서, 표 10으로부터, 상기 14 화소 부분은 발광 횟수가 6이 된다. 그 결과, 4 ×4의 16 화소 블록에 대한 전체 휘도는 6.25로 된다.

도 22(A) 내지 (H)에 있어서, 보정 데이터의 소수점 이하 값이 0.000, 0.125, 0.250, 0.375, 0.500, 0.625, 0.750, 0.875일 때의 올림수 위치는 "1"로 표시된다.

도 23은 공간밀도 변경회로(62)의 다른 형태로서, 오차확산 회로(62")의 블록도를 나타낸다. 오차확산 회로(62")는 가산기(62e), 비트 분할기(62f), 1 화소 지연기(62g, 62j, 62l), (1 수평기간 - 1 화소) 지연기(62h), 곱셈기(62i, 62k, 62m, 62n), 가산기(62o)로 이루어진다. 곱셈기(62i, 62k, 62m, 62n)에서, 피승수는 k1, k2, k3, k4에 의해 곱해진다. k1, k2, k3, k4의 값은, k1＋k2＋k3＋k4=1을 만족하는 값을 취하는데, 예컨대, k1=k2=k3=k4=1/4이다.

곱셈기(62i)에서는, 현재의 화소에 관하여 (1 수평기간-1화소) 기간 지연된 화소의 보정 데이터의 소수점 이하 값에 k1(= 1/4)을 곱한다. 도 24A에 있어서, 현재의 화소를 e로 표시한다면, k1에서의 화소에 대해서 보정 데이터의 소수점 이하 값에 k1(= 1/4)을 곱한 것이 된다.

곱셈기(62k)에서는, 현재의 화소에 대한 1 수평기간 지연된 화소, 즉 도 24A 에서 k2 화소의 보정 데이터의 소수점 이하 값에 k2(=1/4)를 곱한다. 곱셈기(62m)에서는, 현재 화소에 대해 (1 수평기간＋1 화소) 지연된 화소, 즉, 도 24에서 k3의 화소의 소수점 이하의 값에 k3(=1/4)을 곱한다. 곱셈기(62n)에서는, 현재의 화소에 대하여, 1 화소 기간 지연된 화소, 즉, 도 24A에서 k4의 화소의 보정 데이터의 소수점 이하 값에 k4(=1/4)를 곱한다.

이러한 방법으로, k1, k2, k3, k4로 곱해진 데이터는 ,가산기(62o)에서 가산되고, 그 합계(4 비트 데이터)는, 가산기(62e)에서, 새롭게 입력된 보정 데이터의 하위 4 비트에 가산된다.

예컨대, 입력된 화상신호가 부분적으로 일정한 휘도 레벨을 갖고, 이 때의 보정 데이터의 소수점 이하 값이 0.500(16 진법으로 8)이라고 하자. 이러한 경우, 도 25A에 표시된 바와 같이, 화면 상의 각 화소에 대해, 가산기(62e)에 입력된 보정 데이터의 하위 4 비트는 8이 된다. 이러한 하위 4 비트 8은, 가산기(62e)에서 가산되고, 대부분의 경우에, 상기 비트 분할기(62f)로부터 다른 값이 되어 출력된다. 상기 비트 분할기(62f)에 의해 출력된 값을 도 25B에 표시하였다.

도 25C에서, (X,Y)=(3,2) 위치의 가산 후의 하위 4 비트의 값은 16이다. 이것은 가산기(62o)에서 다음과 같이 계산된다.

11/4＋14/4＋17/4＋14/4＝2＋3＋0＋3＝8

여기서, 각 항목에 대하여 소수점 이하는 버려진다. 또한, 17/4은 자리 올림 부분의 16이 감산되어서 1/4이 되고, 소수점 이하를 버림으로써 0이 된다. 또한, 가산기(62e)에서, 새로 입력된 보정 데이터의 하위 4 비트인 8과 가산기(62e)로부 터의 계산 결과 8을 가산하여, 16이 된다.

이와 같이 모든 화소에 대해 하위 4 비트의 계산이 실행되고, 이러한 계산 결과가 16 이상이면, 자리올림이 실행되어 "1"이 올라가고, 이러한 결과가 16 미만이면, "0"이 그대로 남는다. 도 25C에서, 자리올림이 실행되는 부분에 "1", 자리올림이 없는 부부에 "0"이 표시된다. 도 25B로부터 알 수 있는 바와 같이, 보정 데이터의 소수점 이하 값이 0.500일 때, "0"과 "1"의 비율이 약 50 대 50이 된다.

도 24A에 표시된 바와 같이, 오차확산 회로(62")를 이용하면, 어떠한 특정한 화소(e)에 대해, 계산처리가 끝난 주변 화소로부터의 오차가 특정한 화소에 누적된다. 역으로, 도 24B에 나타낸 바와 같이, 어떠한 계산처리가 끝난 화소(e')의 오차는, 이 후에 계산될 화소에 확산된다.

제9 실시예

도 26은 도 20의 제8 실시예를 개량한 제9 실시예를 나타낸다. 60'는 데이터 변환기이고, 61'는 표입력 회로이며, 이러한 2개의 회로는 도 20의 회로와 약간 다르다. 62는 공간밀도 변경회로이고, 도 20의 회로와 동일하다. 도 20의 표입력 회로(61)에서는, 표 11에 표시한 바와 같이, 각각의 배율에 대해, 계조 1에서 계조 255까지에 대해 보정 데이터가 준비되지만, 도 26의 실시예에서는, 각각의 배율에 대해, 계조 1에서 계조 31까지에 대해서만 보정데이터가 준비된다. 이에 따라, 표의 크기가 크게 줄어들 수 있다. 또한, 데이터 변환기(60')에 대해서도, 소형 메모리로 데이터를 유지할 수 있다.

도 26에서 새로 부가된 부분은, 데이터 분리회로(63), 데이터 지연회로(64. 65), 데이터 동기화회로(66), 판정회로(67), 스위칭회로(68)이다.

입력된 Z 비트 휘도 신호는 데이터 지연회로(64)로 보내져서, 블록(63, 60', 62, 66)에서 실행되는 처리 시간과 동일한 시간의 지연이 실행된다.

판정회로(67)에서는, 상위 (Z-5) 비트들이 모두 0인지의 여부를 판정한다. 모두 0일 경우, 즉, 입력된 Z 비트 휘도 신호가 계조 32 이상인지, 또는, 계조 32미만인지를 판정한다. 상기 상위(Z-5) 비트가 모두 0일 경우(계조 32 미만일 때), 상기 스위칭 회로(68)는 실선으로 표시된 접속으로 스위칭하고, 상기 상위(Z-5) 비트 중 어느 하나가 1일 경우(계조 32 이상일 때)는, 상기 스위칭 회로(68)는 점선으로 표시된 접속으로 스위칭한다.

데이터 지연회로(65)에서는, 블록(60', 62)에서 실행된 처리 시간과 동일한 시간의 지연이 실행된다.

상기 데이터 분리회로(63)는, 입력된 Z 비트 휘도신호를 상위 (Z-5) 비트와 하위 5 비트로 분리한다. 데이터 변환기(60')는 하위 5 비트를 계조 1 에서 계조 31에 대한 9 비트 보정 데이터로 변환한다. 9 비트로 변환된 보정 데이터는, 오차 확산 등에 의해 공간밀도가 변할 때, 공간밀도 변경회로(62)에서 5 비트로 다시 변환된다. 상기 데이터 동기회로(66)에서는, 데이터 지연회로(65)에 의해 지연된 상위 (Z-5) 비트 데이터와, 공간밀도 변경회로(62)로부터의 하위 5 비트 데이터가 합성되어, Z 비트 데이터가 발생된다.

스위칭 회로(68)에 의해, 계조 1에서 계조 31까지의 휘도 신호에 대해서는, 데이터 동기회로(66)로부터의 Z 비트 데이터가 선택되고, 계조 32 이상의 휘도 신 호에 대해서는, 데이터 지연회로(64)로부터의 Z 비트 데이터가 선택된다.

데이터 지연회로(65)에 의해 지연되고, 유효하게 이용된 데이터는, (Z-5) 비트의 0만의 데이터이기 때문에, 데이터 지연회로(65)는 생략되고, (Z-5) 비트의 0만의 데이터를 발생하는 회로를 설치하여, 데이터 동기회로(66)에 접속할 수도 있다.

도 26에 나타낸 구성에 따라, 보정을 낮은 휘도 부분(실시예에서 31 계조 이하)에 제한함으로써, 데이터 변환표의 용량을 줄일 수 있고, 또한, 데이터 처리도 줄일 수 있다. 휘도가 32 계조 이상일 경우, 표시될 휘도와 발광 횟수에 의해 표시할 수 있는 휘도의 차이가 3% 이하로 되기 때문에, 보정 데이터를 이용하지 않고서도 충분한 성능을 얻을 수 있다.

상기 상세히 기술된 바와 같이, 본 발명에 따른 표시 장치는, 화면의 휘도 정보에 의해 N배 모드 값(N)을 정수배 뿐만 아니라, 소수점을 포함하는 값의 배수로서 변화시켜 조정함으로써, 화면 휘도의 조정이 단속적으로 밝아지는 것이 아니고, 연속적으로 밝게 할 수 있어서, 화면을 시청하는 사람에게 휘도의 변화가 감지되지 않도록 할 수 있다.

또한, 공간밀도 변경회로를 이용함으로써, 주변 화소에 오차를 확산시킬 수 있다. 이에 따라, N배 모드 값(N)을 정수배 뿐만 아니라, 소수점을 포함하는 배수로 변화시켜 조정할 때에 매우 미세하게 남아 있는 휘도 변화를 보정할 수 있기 때문에, 특히 낮은 휘도 부분에 남아 있는 극히 미세한 휘도 변화를 더 줄일 수 있 다.

Claims

밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치에 있어서,

상기 화상의 피크 휘도 레벨을 검출하는 피크 휘도 레벨 검출 수단과,

상기 피크 휘도 레벨에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 화상 특성 판정 수단과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하여, 상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하고, 상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 펄스 수 설정 수단을 포함하며,

상기 화상 특성 판정 수단은 상기 피크 휘도 레벨이 감소함에 따라 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치에 있어서,

상기 화상의 콘트라스트를 검출하는 콘트라스트 검출 회로와,

상기 콘트라스트에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 화상 특성 판정 수단과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하여, 상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하고, 상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 펄스 수 설정 수단을 포함하며,

상기 화상 특성 판정 수단은 상기 콘트라스트가 강한 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치에 있어서,

상기 주위의 조도를 검출하는 조도 검출 회로와,

상기 주위의 조도에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 화상 특성 판정 수단과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하여, 상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하고, 상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 펄스 수 설정 수단을 포함하며,

상기 화상 특성 판정 수단은 상기 조도가 낮은 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치에 있어서,

상기 표시 패널의 소비 전력을 검출하는 소비 전력 검출 회로와,

상기 소비 전력에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 화상 특성 판정 수단과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하여, 상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하고, 상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 펄스 수 설정 수단을 포함하며,

상기 화상 특성 판정 수단은 상기 소비 전력이 큰 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치에 있어서,

상기 표시 패널의 온도를 검출하는 온도 검출 회로와,

상기 표시 패널의 온도에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 화상 특성 판정 수단과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하여, 상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하고, 상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 펄스 수 설정 수단을 포함하며,

상기 화상 특성 판정 수단은 상기 온도가 높은 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 1 내지 5 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 펄스 수 설정 수단은 상기 곱의 소수값을 가장 인접한 정수값으로 반올림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 1 내지 5 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 펄스 수 설정 수단은 상기 곱의 소수값을 인접한 가장 작은 정수값으로 내림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 1 내지 5 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 펄스 수 설정 수단은 상기 곱의 소수값을 인접한 가장 큰 정수값으로 올림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 1 내지 5 항중 어느 한 항에 있어서,

각 계조에 대해, 각 서브필드에 대한 구동 펄스수에 의해 결정된 표시 가능한 조도와, 표시될 화상의 조도 간의 오차에 대한 보정 데이터를 발생하는 시스템과,

상기 보정 데이터에 의해, 표시될 계조의 공간 밀도를 변경하는 시스템

을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 9 항에 있어서,

상기 공간 밀도를 변경하는 시스템은 디더 회로(dither circuit)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 9 항에 있어서,

상기 공간 밀도를 변경하는 시스템은 오차 확산 회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
제 9 항에 있어서,

각 계조에 대해 표시될 화상의 조도는 상기 가중 배수에 각 계조를 승산하여 판정되며,

표시가능한 조도는 원하는 계조를 얻기 위해 적어도 하나의 서브필드의 가중치를 선택하고, 상기 적어도 하나의 서브필드에 해당하는 구동 펄스들을 합하는 것에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치 제어 방법에 있어서,

상기 화상의 피크 휘도 레벨을 검출하는 스텝과,

상기 피크 휘도 레벨에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 스텝과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하는 스텝과,

상기 곱에 인접한 정수값로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하는 스텝과,

상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 스텝을 포함하며,

상기 가중 배수를 결정하는 스텝은 상기 피크 휘도 레벨이 감소함에 따라 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치 제어 방법에 있어서,

상기 화상의 콘트라스트를 검출하는 스텝과,

상기 콘트라스트에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 스텝과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하는 스텝과,

상기 곱에 인접한 정수값로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하는 스텝과,

상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 스텝을 포함하며,

상기 가중 배수를 결정하는 스텝은 상기 콘트라스트가 강한 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치 제어 방법에 있어서,

상기 주위의 조도를 검출하는 스텝과,

상기 주위의 조도에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 스텝과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하는 스텝과,

상기 곱에 인접한 정수값로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하는 스텝과,

상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 스텝을 포함하며,

상기 가중 배수를 결정하는 스텝은 상기 조도가 낮은 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치 제어 방법에 있어서,

상기 표시 패널의 소비 전력을 검출하는 스텝과,

상기 소비 전력에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 스텝과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하는 스텝과,

상기 곱에 인접한 정수값로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하는 스텝과,

상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 스텝을 포함하며,

상기 가중 배수를 결정하는 스텝은 상기 소비 전력이 큰 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
밝기에 관한 가중치를 갖는 서브필드를 복수 중첩시켜 표시 패널에 화상을 표시하는 표시 장치 제어 방법에 있어서,

상기 표시 패널의 온도를 검출하는 스텝과,

상기 표시 패널의 온도에 근거하여, 정(正)의 정수부와 소수부를 포함하는 가중 배수를 결정하는 스텝과,

각 서브필드의 상기 가중치에 상기 가중 배수를 승산하여 정의 정수부와 소수부를 모두 가질 수 있는 곱을 구하는 스텝과,

상기 곱에 인접한 정수값으로부터 상기 표시 패널을 발광시키는 유지 펄스 수를 결정하는 스텝과,

상기 유지 펄스 수에 기초한 구동 펄스를 상기 표시 패널로 출력하는 스텝을 포함하며,

상기 가중 배수를 결정하는 스텝은 상기 온도가 높은 때는 상기 가중 배수를 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 13 내지 17 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 유지 펄스 수를 결정하는 스텝은 상기 곱의 소수값을 가장 인접한 정수값으로 반올림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 13 내지 17 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 유지 펄스 수를 결정하는 스텝은 상기 곱의 소수값을 인접한 가장 작은 정수값으로 내림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 13 내지 17 항중 어느 한 항에 있어서,

상기 유지 펄스 수를 결정하는 스텝은 상기 곱의 소수값을 인접한 가장 큰 정수값으로 올림하여, 상기 정수값을 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 13 내지 17 항중 어느 한 항에 있어서,

각 계조에 대해, 표시될 화상의 조도를 판정하는 스텝과,

각 계조에 대해, 각 서브필드에 대한 구동 펄스수에 의해 표시 가능한 조도를 결정하는 스텝과,

각 계조에 대해, 상기 표시될 화상의 조도와 상기 표시 가능한 조도 간의 오차에 대한 보정 데이터를 발생하는 스텝과,

상기 보정 데이터에 의해, 표시될 계조의 공간 밀도를 변경하는 스텝

을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 21 항에 있어서,

상기 공간 밀도를 변경하는 스텝은 디더 회로(dither circuit)를 이용하여 상기 공간 밀도를 변경하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 21 항에 있어서,

상기 공간 밀도를 변경하는 스텝은 오차 확산 회로를 이용하여 상기 공간 밀도를 변경하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.
제 21 항에 있어서,

상기 표시될 화상의 조도를 판정하는 스텝은, 상기 가중 배수에 각 계조를 승산하여, 표시될 화상의 조도를 판정하며,

상기 표시 가능한 조도를 결정하는 스텝은 원하는 계조를 얻기 위해, 적어도 하나의 서브필드의 가중치를 선택하고, 상기 적어도 하나의 서브필드에 해당하는 구동 펄스들을 합하는 것에 의해, 상기 표시 가능한 조도를 결정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 제어 방법.