JP5352047B2 - 表示装置及び電子機器 - Google Patents

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Description

本発明は、EL(エレクトロルミネッセンス)素子や有機EL素子その他の自発光タイプの表示素子を搭載した表示装置に関する。また、その駆動方法に関する。また、その表示装置を表示部に備えた電子機器に関する。
近年、画素を発光ダイオード(LED)などの発光素子で形成した、いわゆる自発光型の表示装置が注目を浴びている。このような自発光型の表示装置に用いられる発光素子としては、有機発光ダイオード(OLED(Organic Light Emitting Diode)、有機EL素子、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:EL)素子などとも言う)が注目を集めており、ELディスプレイなどに用いられるようになってきている。OLEDなどの発光素子は自発光型であるため、液晶ディスプレイに比べて画素の視認性が高く、バックライトが不要で応答速度が速い等の利点がある。
自発光型の表示装置は、画素部と、画素部に信号を入力する周辺駆動回路を有している。画素部は発光素子を画素毎に配置し、それらの発光素子の発光を制御することによって、画像の表示を行う。
画素部の各画素には、薄膜トランジスタ(以下、TFT(Thin Film Transistor)と表記する)が配置されている。ここでは、画素毎に2つのTFTを配置し、各画素の発光素子の発光を制御する画素構成について説明する(特許文献1参照)。
図39に、画素部の画素構成を示す。画素部10には、データ線(ソース信号線ともいう)S1〜Sx、走査線(ゲート信号線ともいう)G1〜Gy、電源線(給電線ともいう)V1〜Vxが配置され、x(xは自然数)列y(yは自然数)行の画素が配置されている。各画素は、スイッチング用TFT(選択トランジスタ、スイッチトランジスタ、SWTFT、スイッチング用薄膜トランジスタともいう)11と、駆動用TFT(駆動トランジスタ、駆動用薄膜トランジスタともいう)12と、容量素子13と、発光素子14をそれぞれ有している。
画素部10の駆動方法について簡単に述べる。アドレス期間において、走査線が選択されるとスイッチング用TFT11がオンし、その時のデータ線の電位がスイッチング用TFT11を介して駆動用TFT12のゲート電極(ゲート端子ともいう)に書き込まれる。選択期間が終了してから次の選択期間までは、容量素子13により、駆動用TFT12のゲート電極の電位が保持される。
ここで、図39の構成において、駆動用TFTのゲート・ソース間の電圧の絶対値(|VGS|)と駆動用TFT12のしきい値電圧の絶対値(|Vth|)の関係が、|VGS|>|Vth|であると駆動用TFT12がオンし、電源線と発光素子14の対向電極との間の電圧によって電流が流れ、発光素子14が発光状態となる。また、|VGS|<|Vth|であると駆動用TFT12がオフし、発光素子14の両端に電圧が印加されない状態となり、発光素子14が非発光状態(消灯状態)となる。
図39の構成の画素において、階調を表現するには、大きくわけて、アナログ階調方式とデジタル階調方式とがある。
アナログ階調方式には、さらに表示素子の発光強度をアナログ制御する方式と表示素子の発光時間をアナログ制御する方式がある。アナログ階調方式では、表示素子の発光強度をアナログ制御する方式がよく用いられている。一方、デジタル階調方式は、画素に入力される信号によるスイッチング素子のオン、オフのみの制御で発光素子の発光、非発光を制御し、階調を表現している。
アナログ階調方式と比べて、デジタル階調方式は、TFTのばらつきに強く、階調表現をより正確にし易いなどの利点がある。但し、デジタル階調では、発光と非発光の2つの状態しかないため、別の手法と組み合わせて多階調化を図る必要がある。
デジタル階調方式の多階調化の表現方法として、時間階調方式や面積階調方式などがある。面積階調方式は、各画素の発光面積を制御することによって、階調表示を行う方式である。一方、時間階調方式は、表示装置の各画素が発光する期間を制御することによって、階調を表現する方式である。デジタル階調方式の場合、高精細化に適している時間階調方式が用いられることが多い。また、特許文献1で開示されているように、デジタル時間階調方式で各画素に、駆動用TFT、スイッチング用TFTの他に消去トランジスタ(消去TFTともいう)を用いることでさらに高精度の多階調表示を実現することが出来る。
特開2001−343933号公報
しかしながら、このようなデジタル時間階調方式では、画面全体の平均輝度によって、ある階調の輝度や、最大輝度が変わることはなかった。そのため、コントラストの高いメリハリのある表示をすることができなかった。
上記課題に鑑み、本発明はEL発光装置において、コントラストの高いメリハリのある表示を行うことが可能となる表示装置の提供を課題とする。さらに本発明は、該表示装置を表示部に備えた電子機器に関する。
本発明は、画面全体の平均輝度によって、デューティー比を変える。そのために、発光素子の駆動を制御するTFTのゲートに入力する信号を消去するTFT(以下、消去用TFTと呼ぶ。)を設け、消去用TFTの消去動作のタイミングを制御する。又は、画面全体の平均輝度によって、カソード電圧又はアノード電圧を変える。又は、1フレーム期間を複数に分割したサブフレームの数を変える。又は、時間階調方式を変える。なお、消去用TFTに関しては、実施の形態2で詳しく説明する。本明細書において、デューティー比とは、階調を表示するために用いられる期間が1フレーム期間に占める割合を意味する。また、サブフレームとは、1フレーム期間を複数の期間に分割したそれぞれの期間のことを意味し、サブフレーム数とは、1フレームを複数の期間に分割したその個数をさす。
本発明の表示装置の構成の一は、アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換するアナログデジタル変換回路と、前記アナログデジタル変換回路に接続され、1フレームの平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路と、前記1フレーム平均階調計算回路に接続され、前記平均階調レベルによって、サブフレーム数を増減させるサブフレーム数制御回路と、前記平均階調レベルによって、発光素子の一対の電極間にかかる電圧を変える電位制御回路とを有することを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、発光素子と、当該発光素子への電流の供給を制御する駆動用TFTと、スイッチング用TFTを有する複数の画素が配置された表示部と、画素にビデオ信号を出力する信号線駆動回路と、前記ビデオ信号を書き込む画素を選択する走査線駆動回路と、前記発光素子に電圧あるいは電流を供給する電源線と、1フレームの平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路と、前記平均階調レベルに応じて、1フレーム期間におけるサブフレーム数を増減させるサブフレーム数制御回路と、前記平均階調レベルに応じて、前記発光素子の一対の電極間にかかる電圧を変える電位制御回路とを有することを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換するアナログデジタル変換回路と、前記アナログデジタル変換回路に接続され、1フレームの平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路と、前記1フレーム平均階調計算回路に接続され、前記平均階調レベルによって、階調方式を変える重ね合せ時間階調方式/2進法デジタル時間階調方式変換回路と、前記平均階調レベルによって、発光素子の一対の電極間にかかる電圧を変える電位制御回路とを有することを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、発光素子と、当該発光素子への電流の供給を制御する駆動用TFTと、スイッチング用TFTを有する複数の画素が配置された表示部と、画素にビデオ信号を出力する信号線駆動回路と、前記ビデオ信号を書き込む画素を選択する走査線駆動回路と、前記発光素子に電圧あるいは電流を供給する電源線と、1フレームの平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路と、前記平均階調レベルに応じて、重ね合せ時間階調方式又は2進法デジタル時間階調方式に階調方式を変える重ね合せ時間階調方式/2進法デジタル時間階調方式変換回路と、前記平均階調レベルに応じて、前記発光素子の一対の電極間にかかる電圧を変える電位制御回路とを有することを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、平均階調レベルが所定の値よりも低くなったときに、サブフレーム数を減少させることを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、平均階調レベルが所定の値よりも低くなったときに、階調方式を重ね合せ時間階調方式から2進法デジタル時間階調方式に変更することを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、電位制御回路は、平均階調レベルが所定の値よりも高くなったときに、発光素子の一対の電極間にかかる電圧を低めることを特徴とする。
本発明の表示装置の構成の一は、電位制御回路は、平均階調レベルが所定の値よりも低くなったときに、発光素子の一対の電極間にかかる電圧を高めることを特徴とする。
本発明の表示装置の駆動方法の一は、表示装置に入力されたアナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換し、1フレームの平均階調レベルを計算し、前記平均階調レベルによって、サブフレーム数を増減させ、前記平均階調レベルによって、発光素子の一対の電極間にかかる電圧やデューティー比を変えることを特徴とする。
本発明の表示装置の駆動方法の一は、表示装置に入力されたアナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換し、1フレームの平均階調レベルを計算し、前記平均階調レベルによって、重ね合せ時間階調方式又は2進法デジタル時間階調方式に階調方式を変換し、前記平均階調レベルによって、発光素子の一対の電極間にかかる電圧やデューティー比を変えることを特徴とする。
なお、本発明において、接続されているとは、電気的に接続されている場合と機能的に接続されている場合と直接接続されている場合とを含むものとする。したがって、本発明が開示する構成において、所定の接続関係以外のものも含むものとする。例えば、ある部分とある部分との間に、電気的な接続を可能とする素子(例えば、スイッチやトランジスタや容量素子やインダクタや抵抗素子やダイオードなど)が1個以上配置されていてもよい。また、機能的な接続を可能とする回路(例えば、論理回路(インバータやNAND回路やNOR回路など)や信号変換回路(DA変換回路やAD変換回路やガンマ補正回路など)や電位レベル変換回路(昇圧回路や降圧回路などの電源回路やH信号やL信号の電位レベルを変えるレベルシフタ回路など)や電圧源や電流源や切り替え回路や増幅回路(オペアンプや差動増幅回路やソースフォロワ回路やバッファ回路など、信号振幅や電流量などを大きく出来る回路など)や信号生成回路や記憶回路や制御回路など)が間に1個以上配置されていてもよい。あるいは、間に他の素子や他の回路を挟まずに、直接接続されて、配置されていてもよい。
なお、素子や回路を間に介さずに接続されている場合のみを含む場合は、直接接続されている、と記載するものとする。また、電気的に接続されている、と記載する場合は、電気的に接続されている場合(つまり、間に別の素子を挟んで接続されている場合)と機能的に接続されている場合(つまり、間に別の回路を挟んで接続されている場合)と直接接続されている場合(つまり、間に別の素子や別の回路を挟まずに接続されている場合)とを含むものとする。
なお、本発明に示すスイッチは、様々な形態のものを用いることができ、一例として、電気的スイッチや機械的なスイッチなどがある。つまり、電流の流れを制御できるものであればよく、特定のものに限定されず、様々なものを用いることができる。例えば、トランジスタでもよいし、ダイオード(PNダイオード、PINダイオード、ショットキーダイオード、ダイオード接続のトランジスタなど)でもよいし、それらを組み合わせた論理回路でもよい。よって、スイッチとしてトランジスタを用いる場合、そのトランジスタは、単なるスイッチとして動作するため、トランジスタの極性(導電型)は特に限定されない。ただし、オフ電流が少ない方が望ましい場合、オフ電流が少ない方の極性のトランジスタを用いることが望ましい。オフ電流が少ないトランジスタとしては、LDD領域を設けているものやマルチゲート構造にしているもの等がある。また、スイッチとして動作させるトランジスタのソース端子の電位が、低電位側電源(Vss、GND、0Vなど)に近い状態で動作する場合はNチャネル型を、反対に、ソース端子の電位が、高電位側電源(Vddなど)に近い状態で動作する場合はPチャネル型を用いることが望ましい。なぜなら、ゲートソース間電圧の絶対値を大きくできるため、スイッチとして、動作しやすいからである。なお、Nチャネル型とPチャネル型の両方を用いて、CMOS型のスイッチにしてもよい。CMOS型のスイッチにすると、スイッチを介して出力する電圧(つまりスイッチへの入力電圧)が、スイッチの制御信号の電圧に対して、高かったり、低かったりして、状況が変化する場合においても、適切に動作させることが出来る。
なお、本発明において、トランジスタは、様々な形態のトランジスタを適用させることが出来る。よって、適用可能なトランジスタの種類に限定はない。したがって、例えば、非晶質シリコンや多結晶シリコンに代表される非単結晶半導体膜を有する薄膜トランジスタ(TFT)などを適用することが出来る。これらにより、製造温度が高くなくても製造できたり、低コストで製造できたり、大型基板上に製造できたり、透明基板上に製造できたり、トランジスタで光を透過させたりすることが出来る。また、半導体基板やSOI基板を用いて形成されるMOS型トランジスタ、接合型トランジスタ、バイポーラトランジスタなどを適用することが出来る。これらにより、バラツキの少ないトランジスタを製造できたり、電流供給能力の高いトランジスタを製造できたり、サイズの小さいトランジスタを製造できたり、消費電力の少ない回路を構成したりすることが出来る。また、ZnO、a−InGaZnO、SiGe、GaAsなどの化合物半導体を有するトランジスタや、さらに、それらを薄膜化した薄膜トランジスタなどを適用することが出来る。これらにより、製造温度が高くなくても製造できたり、室温で製造できたり、耐熱性の低い基板、例えばプラスチック基板やフィルム基板に直接トランジスタを形成したりすることが出来る。また、インクジェットや印刷法を用いて作成したトランジスタなどを適用することが出来る。これらにより、室温で製造したり、真空度の低い状態で製造したり、大型基板で製造したりすることができる。また、マスク(レチクル)を用いなくても製造することが可能となるため、トランジスタのレイアウトを容易に変更することが出来る。また、有機半導体やカーボンナノチューブを有するトランジスタ、その他のトランジスタを適用することができる。これらにより、曲げることが可能な基板上にトランジスタを形成することが出来る。なお、非単結晶半導体膜には水素またはハロゲンが含まれていてもよい。また、トランジスタが配置されている基板の種類は、様々なものを用いることができ、特定のものに限定されることはない。従って例えば、単結晶基板、SOI基板、ガラス基板、石英基板、プラスチック基板、紙基板、セロファン基板、石材基板、ステンレス・スチル基板、ステンレス・スチル・ホイルを有する基板などに配置することが出来る。また、ある基板でトランジスタを形成し、その後、別の基板にトランジスタを移動させて、別の基板上に配置するようにしてもよい。これらの基板を用いることにより、特性のよいトランジスタを形成したり、消費電力の小さいトランジスタを形成したり、壊れにくい装置にしたり、耐熱性を持たせたりすることが出来る。
なお、トランジスタとは、それぞれ、ゲートと、ドレインと、ソースとを含む少なくとも三つの端子を有する素子であり、ドレイン領域とソース領域の間にチャネル領域を有する。ここで、ソースとドレインとは、トランジスタの構造や動作条件等によって変わるため、いずれがソースまたはドレインであるかを限定することが困難である。そこで、本発明においては、ソース及びドレインとして機能する領域を、ソースもしくはドレインと呼ばない場合がある。その場合、一例としては、それぞれを第1端子、第2端子と表記する場合がある。
なお、ゲートとは、ゲート電極とゲート配線(ゲート線またはゲート信号線等とも言う)とを含んだ全体、もしくは、それらの一部のことを言う。ゲート電極とは、チャネル領域やLDD(Lightly Doped Drain)領域などを形成する半導体と、ゲート絶縁膜を介してオーバーラップしている部分の導電膜のことを言う。ゲート配線とは、各画素のゲート電極の間を接続したり、ゲート電極と別の配線とを接続したりするための配線のことを言う。
ただし、ゲート電極としても機能し、ゲート配線としても機能するような部分も存在する。そのような領域は、ゲート電極と呼んでも良いし、ゲート配線と呼んでも良い。つまり、ゲート電極とゲート配線とが、明確に区別できないような領域も存在する。例えば、延伸して配置されているゲート配線とオーバーラップしてチャネル領域がある場合、その領域はゲート配線として機能しているが、ゲート電極としても機能していることになる。よって、そのような領域は、ゲート電極と呼んでも良いし、ゲート配線と呼んでも良い。
また、ゲート電極と同じ材料で形成され、ゲート電極とつながっている領域も、ゲート電極と呼んでも良い。同様に、ゲート配線と同じ材料で形成され、ゲート配線とつながっている領域も、ゲート配線と呼んでも良い。このような領域は、厳密な意味では、チャネル領域とオーバーラップしていなかったり、別のゲート電極と接続させる機能を有してなかったりする場合がある。しかし、製造マージンなどの関係で、ゲート電極やゲート配線と同じ材料で形成され、ゲート電極やゲート配線とつながっている領域がある。よって、そのような領域もゲート電極やゲート配線と呼んでも良い。
また、例えば、マルチゲートのトランジスタにおいて、1つのトランジスタのゲート電極と、別のトランジスタのゲート電極とは、ゲート電極と同じ材料で形成された導電膜で接続される場合が多い。そのような領域は、ゲート電極とゲート電極とを接続させるための領域であるため、ゲート配線と呼んでも良いが、マルチゲートのトランジスタを1つのトランジスタであると見なすことも出来るため、ゲート電極と呼んでも良い。つまり、ゲート電極やゲート配線と同じ材料で形成され、それらとつながって配置されているものは、ゲート電極やゲート配線と呼んでも良い。
また、例えば、ゲート電極とゲート配線とを接続してさせている部分の導電膜も、ゲート電極と呼んでも良いし、ゲート配線と呼んでも良い。
なお、ゲート端子とは、ゲート電極の領域や、ゲート電極と電気的に接続されている領域について、その一部分のことを言う。
なお、ソースとは、ソース領域とソース電極とソース配線(ソース線またはソース信号線等とも言う)とを含んだ全体、もしくは、それらの一部のことを言う。ソース領域とは、P型不純物(ボロンやガリウムなど)やN型不純物(リンやヒ素など)が多く含まれる半導体領域のことを言う。従って、少しだけP型不純物やN型不純物が含まれる領域、いわゆる、LDD(Lightly Doped Drain)領域は、ソース領域には含まれない。ソース電極とは、ソース領域とは別の材料で形成され、ソース領域と電気的に接続されて配置されている部分の導電層のことを言う。ただし、ソース電極は、ソース領域も含んでソース電極と呼ぶこともある。ソース配線とは、各画素のソース電極の間を接続したり、ソース電極と別の配線とを接続したりするための配線のことを言う。
しかしながら、ソース電極としても機能し、ソース配線としても機能するような部分も存在する。そのような領域は、ソース電極と呼んでも良いし、ソース配線と呼んでも良い。つまり、ソース電極とソース配線とが、明確に区別できないような領域も存在する。例えば、延伸して配置されているソース配線とオーバーラップしてソース領域がある場合、その領域はソース配線として機能しているが、ソース電極としても機能していることになる。よって、そのような領域は、ソース電極と呼んでも良いし、ソース配線と呼んでも良い。
また、ソース電極と同じ材料で形成され、ソース電極とつながっている領域や、ソース電極とソース電極とを接続する部分も、ソース電極と呼んでも良い。また、ソース領域とオーバーラップしている部分も、ソース電極と呼んでも良い。同様に、ソース配線と同じ材料で形成され、ソース配線とつながっている領域も、ソース配線と呼んでも良い。このような領域は、厳密な意味では、別のソース電極と接続させる機能を有していたりすることがない場合がある。しかし、製造マージンなどの関係で、ソース電極やソース配線と同じ材料で形成され、ソース電極やソース配線とつながっている領域がある。よって、そのような領域もソース電極やソース配線と呼んでも良い。
また、例えば、ソース電極とソース配線とを接続してさせている部分の導電膜も、ソース電極と呼んでも良いし、ソース配線と呼んでも良い。
なお、ソース端子とは、ソース領域の領域や、ソース電極や、ソース電極と電気的に接続されている領域について、その一部分のことを言う。なお、ドレインについては、ソースと同様である。
なお、本明細書において表示素子や表示装置や発光装置は、様々な形態を用いたり、様々な素子を有したりすることが出来る。例えば、EL素子(有機EL素子、無機EL素子又は有機物及び無機物を含むEL素子)、電子放出素子、液晶素子、電子インク、グレーティングライトバルブ(GLV)、プラズマディスプレイ(PDP)、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、圧電セラミックディスプレイ、カーボンナノチューブ、など、電気磁気的作用によりコントラストが変化する表示媒体を適用することができる。なお、EL素子を用いた表示装置としてはELディスプレイ、電子放出素子を用いた表示装置としてはフィールドエミッションディスプレイ(FED)やSED方式平面型ディスプレイ(SED:Surface−conduction Electron−emitter Disply)など、液晶素子を用いた表示装置としては液晶ディスプレイ、透過型液晶ディスプレイ、半透過型液晶ディスプレイ、反射型液晶ディスプレイ、電子インクを用いた表示装置としては電子ペーパーがある。なお、表示素子は、単色発光のものでもよいし、赤(R)、緑(G)、青(B)等複数色の発光が可能なものであってもよい。また、発光を取り出すために少なくともどちらか一方の電極が透明であれば良い。
本発明において、適用可能なトランジスタの種類に限定はなく、非晶質シリコンや多結晶シリコンに代表される非単結晶半導体膜を用いた薄膜トランジスタ(TFT)、半導体基板やSOI基板を用いて形成されるMOS型トランジスタ、接合型トランジスタ、バイポーラトランジスタ、有機半導体やカーボンナノチューブを用いたトランジスタ、その他のトランジスタを適用することができる。
なお、本発明におけるトランジスタの構成は、様々な形態をとることができる。特定の構成に限定されない。例えば、ゲート電極が2個以上になっているマルチゲート構造を用いてもよい。マルチゲート構造にすると、チャネル領域が直列に接続されるような構成となるため、複数のトランジスタが直列に接続されたような構成となる。マルチゲート構造にすることにより、オフ電流を低減したり、トランジスタの耐圧を向上させて信頼性を良くしたり、飽和領域で動作する時に、ドレイン・ソース間電圧が変化しても、ドレイン・ソース間電流があまり変化せず、フラットな特性にすることなどができる。また、チャネルの上下にゲート電極が配置されている構造でもよい。チャネルの上下にゲート電極が配置されている構造にすることにより、チャネル領域が増えるため、電流値を大きくしたり、空乏層ができやすくなってS値をよくしたりすることができる。チャネルの上下にゲート電極が配置されると、複数のトランジスタが並列に接続されたような構成となる。
また、チャネルの上にゲート電極が配置されている構造でもよいし、チャネルの下にゲート電極が配置されている構造でもよいし、正スタガ構造であってもよいし、逆スタガ構造でもよいし、チャネル領域が複数の領域に分かれていてもよいし、並列に接続されていてもよいし、直列に接続されていてもよい。また、チャネル(もしくはその一部)にソース電極やドレイン電極が重なっていてもよい。チャネル(もしくはその一部)にソース電極やドレイン電極が重なっている構造にすることにより、チャネルの一部に電荷がたまって、動作が不安定になることを防ぐことができる。また、LDD領域があってもよい。LDD領域を設けることにより、オフ電流を低減したり、トランジスタの耐圧を向上させて信頼性を良くしたり、飽和領域で動作する時に、ドレイン・ソース間電圧が変化しても、ドレイン・ソース間電流があまり変化せず、フラットな特性にすることができる。
なお、本発明におけるトランジスタは、どのような基板上に形成されていてもよい。したがって、回路の全てがガラス基板上に形成されていてもよいし、プラスチック基板に形成されていてもよいし、単結晶基板に形成されていてもよいし、SOI基板上に形成されていてもよい。あるいは、回路の一部が、ある基板に形成されており、回路の別の一部が、別の基板に形成されていてもよい。つまり、回路の全てが同じ基板上に形成されていなくてもよい。例えば、回路の一部は、ガラス基板上にTFTを用いて形成し、回路の別の一部は、単結晶基板上に形成し、そのICチップをCOG(Chip On Glass)で接続してガラス基板上に配置してもよい。あるいは、そのICチップをTAB(Tape Automated Bonding)やプリント基板を用いてガラス基板と接続してもよい。このように、回路の一部が同じ基板に形成されていることにより、部品点数を減らしてコストを低減したり、回路部品との接続点数を減らして信頼性を向上させたりすることができる。また、駆動電圧が高い部分や駆動周波数が高い部分は、消費電力が大きくなってしまうので、そのような部分は同じ基板に形成しないようにすれば、消費電力の向上を防ぐことができる。
なお、本発明においては、一画素とは、明るさを制御できる要素一つ分を示すものとする。よって、一例としては、一画素とは、一つの色要素を示すものとし、その色要素一つで明るさを表現する。従って、そのときは、R(赤)G(緑)B(青)の色要素からなるカラー表示装置の場合には、画像の最小単位は、Rの画素とGの画素とBの画素との三画素から構成されるものとする。なお、色要素は、三色に限定されず、それ以上の数を用いても良いし、RGB以外の色を用いても良い。例えば、白色を加えて、RGBW(Wは白)としてもよい。また、RGBに、例えば、イエロー、シアン、マゼンタなどを一色以上追加したものでもよい。また、例えばRGBの中の少なくとも一色について、類似した色を追加してもよい。例えば、R、G、B1、B2としてもよい。B1とB2とは、どちらも青色であるが、少し周波数が異なっている。このような色要素を用いることにより、より実物に近い表示を行うことができたり、消費電力を低減したりすることが出来る。また、別の例としては、1つの色要素について、複数の領域を用いて明るさを制御する場合は、その領域一つ分を一画素とする。よって、一例としては、面積階調を行う場合、一つの色要素につき、明るさを制御する領域が複数あり、その全体で階調を表現するわけであるが、明るさを制御する領域の一つ分を一画素とする。よって、その場合は、一つの色要素は、複数の画素で構成されることとなる。また、その場合、画素によって、表示に寄与する領域の大きさが異なっている場合がある。また、一つの色要素につき複数ある、明るさを制御する領域において、つまり、一つの色要素を構成する複数の画素において、各々に供給する信号を僅かに異ならせるようにして、視野角を広げるようにしてもよい。
なお、一画素(三色分)と記載する場合は、RとGとBの三画素分を一画素と考える場合であるとする。一画素(一色分)と記載する場合は、一つの色要素につき、複数の画素がある場合、それらをまとめて一画素と考える場合であるとする。
なお、本明細書において、画素は、マトリクス状に配置(配列)されている場合を含んでいる。ここで、画素がマトリクスに配置(配列)されているとは、縦方向もしくは横方向において、直線上に並んで配置されている場合や、ギザギザな線上に並んでいる場合を含んでいる。よって、例えば三色の色要素(例えばRGB)でフルカラー表示を行う場合に、ストライプ配置されている場合や、三つの色要素のドットがいわゆるデルタ配置されている場合も含むものとする。さらに、ベイヤー配置されている場合も含んでいる。なお、色要素は、三色に限定されず、それ以上でもよく、例えば、RGBW(Wは白)や、RGBに、イエロー、シアン、マゼンタ、エメラルドグリーン、朱色などを一色以上追加したものなどがある。また、色要素のドット毎にその表示領域の大きさが異なっていてもよい。これにより、消費電力を低下させたり、表示素子の寿命を延ばしたりすることが出来る。
なお、本明細書において、半導体装置とは半導体素子(トランジスタやダイオードなど)を含む回路を有する装置をいう。また、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般でもよい。また、表示装置とは、表示素子(液晶素子や発光素子など)を有する装置のことを言う。なお、基板上に液晶素子やEL素子などの表示素子を含む複数の画素やそれらの画素を駆動させる周辺駆動回路が形成された表示パネル本体のことでもよい。さらに、フレキシブルプリントサーキット(FPC)やプリント配線基盤(PWB)が取り付けられたもの(ICや抵抗素子や容量素子やインダクタやトランジスタなど)も含んでもよい。さらに、偏光板や位相差板などの光学シートを含んでいても良い。さらに、バックライト(導光板やプリズムシートや拡散シートや反射シートや光源(LEDや冷陰極管など)を含んでいても良い)を含んでいても良い。また、発光装置とは、特にEL素子やFEDで用いる素子などの自発光型の表示素子を有している表示装置をいう。液晶表示装置とは、液晶素子を有している表示装置をいう。
なお、本明細書において、配線や電極は、アルミニウム(Al)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、ネオジウム(Nd)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、白金(Pt)、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、マグネシウム (Mg) 、スカンジウム (Sc)、 コバルト( Co) 、ニッケル (Ni) 、亜鉛( Zn) 、ニオブ( Nb) 、シリコン(Si)、リン(P)、ボロン(B)、ヒ素(As)、ガリウム(Ga)、インジウム (In )、錫 (Sn )、酸素(O)で構成された群から選ばれた一つ又は複数の元素、もしくは、前記群から選ばれた一つ又は複数の元素を成分とする化合物や合金材料(例えば、インジウム錫酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化珪素を添加したインジウム錫酸化物(ITSO)、酸化亜鉛(ZnO)、アルミネオジウム(Al−Nd)、マグネシウム銀(Mg−Ag)など)、もしくは、これらの化合物を組み合わせた物質などを有して形成される。もしくは、それらとシリコンの化合物(シリサイド)(例えば、アルミシリコン、モリブデンシリコン、ニッケルシリサイドなど)や、それらと窒素の化合物(例えば、窒化チタン、窒化タンタル、窒化モリブデン等)を有して形成される。
なお、シリコン(Si)には、n型不純物(リンなど)やp型不純物(ボロンなど)を多く含んでいてもよい。これらの不純物を含むことにより、導電率が向上したり、通常の導体と同様な振る舞いをするので、配線や電極として利用しやすくなったりする。なお、シリコンは、単結晶でもよいし、多結晶(ポリシリコン)でもよいし、非晶質(アモルファスシリコン)でもよい。単結晶シリコンや多結晶シリコンを用いることにより、抵抗を小さくすることが出来る。非晶質シリコンを用いることにより、簡単な製造工程で配線又は電極を形成できる。
なお、アルミニウムや銀は、導電率が高いため、信号遅延を低減することができ、エッチングしやすいので、所望の形状に加工(パターニング)しやすく、微細加工を行うことが出来る。なお、銅は、導電率が高いため、信号遅延を低減することが出来る。なお、モリブデンは、ITOやIZOなどの酸化物半導体や、シリコンと接触しても、材料が不良を起こすなどの問題が生じることなく製造できたり、パターニングやエッチングがしやすかったり、耐熱性が高いため、望ましい。なお、チタンは、ITOやIZOなどの酸化物半導体や、シリコンと接触しても、材料が不良を起こすなどの問題が生じることなく製造できたり、耐熱性が高いため、望ましい。なお、タングステンは、耐熱性が高いため、望ましい。なお、ネオジウムは、耐熱性が高いため、望ましい。特に、ネオジウムとアルミニウムとの合金にすると、耐熱性が向上し、アルミニウムがヒロックをおこしにくくなるため、望ましい。なお、シリコンは、トランジスタが有する半導体層と同時に形成できたり、耐熱性が高いため、望ましい。なお、インジウム錫酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化珪素を添加したインジウム錫酸化物(ITSO)、酸化亜鉛(ZnO)、シリコン(Si)は、透光性を有しているため、光を透過させるような部分に用いることができるため、望ましい。たとえば、画素電極や共通電極として用いることができる。
なお、これらが単層で配線や電極を形成していてもよいし、多層構造になっていてもよい。単層構造で形成することにより、製造工程を簡略化することができ、工程日数を少なくでき、コストを低減することが出来る。また、多層構造にすることにより、それぞれの材料のメリットを生かし、デメリットを低減させ、性能の良い配線や電極を形成することが出来る。たとえば、抵抗の低い材料(アルミニウムなど)を多層構造の中に含むようにすることにより、配線の低抵抗化を図ることができる。また、耐熱性が高い材料を含むようにすれば、例えば、耐熱性が弱いが、別のメリットを有する材料を、耐熱性が高い材料で挟むような積層構造にすることにより、配線や電極全体として、耐熱性を高くすることが出来る。例えば、アルミニウムを含む層を、モリブデンやチタンを含む層で挟んだような形にした積層構造にすると望ましい。また、別の材料の配線や電極などと直接接するような部分がある場合、お互いに悪影響を及ぼすことがある。例えば、一方の材料が他方の材料の中に入っていって、性質を変えてしまい、本来の目的を果たせなくなったり、製造するときに、問題が生じて、正常に製造できなくなったりすることがある。そのような場合、ある層を別の層で挟んだり、覆ったりすることにより、問題を解決することが出来る。例えば、インジウム錫酸化物(ITO)と、アルミニウムを接触させたい場合は、間に、チタンやモリブデンを挟むことが望ましい。また、シリコンとアルミニウムを接触させたい場合は、間に、チタンやモリブデンを挟むことが望ましい。
なお、本発明において、ある物の上に形成されている、あるいは、〜上に形成されている、というように、〜の上に、あるいは、〜上に、という記載については、ある物の上に直接接していることに限定されない。直接接してはいない場合、つまり、間に別のものが挟まっている場合も含むものとする。従って例えば、層Aの上に(もしくは層A上に)、層Bが形成されている、という場合は、層Aの上に直接接して層Bが形成されている場合と、層Aの上に直接接して別の層(例えば層Cや層Dなど)が形成されていて、その上に直接接して層Bが形成されている場合とを含むものとする。また、〜の上方に、という記載についても同様であり、ある物の上に直接接していることに限定されず、間に別のものが挟まっている場合も含むものとする。従って例えば、層Aの上方に、層Bが形成されている、という場合は、層Aの上に直接接して層Bが形成されている場合と、層Aの上に直接接して別の層(例えば層Cや層Dなど)が形成されていて、その上に直接接して層Bが形成されている場合とを含むものとする。なお、〜の下に、あるいは、〜の下方に、の場合についても、同様であり、直接接している場合と、接していない場合とを含むこととする。
画面全体の平均輝度が低いときに、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示が可能な表示装置を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。但し、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
(実施の形態1)
図1に、本発明の表示装置の基本的な画素マトリクス回路を示す。この画素マトリクス回路は、信号線駆動回路101、走査線駆動回路102、画素部103を有し、画素部103には、複数の画素104を備えている。また、行方向に配置された走査線(G1〜Gm)と列方向に配置された信号線(S1〜Sn)及び電源線107に対応して画素104がマトリクス状に配置されている。
信号線駆動回路101は、ビデオ信号を信号線S1〜Snに出力する。走査線駆動回路102は、行方向に配置された画素104を選択するための信号を走査線G1〜Gmに出力する。そして、走査線駆動回路102から出力された信号により選択された画素行のそれぞれの画素104には、信号線駆動回路101からのビデオ信号がそれぞれ書き込まれる。なお、信号線駆動回路101から信号線S1〜Snに入力される信号はビデオ信号に限られない。例えば、全ての列の画素に、画素を強制的に非点灯とする信号(消去信号)を入力しても構わない。
次いで、表示装置の動作について説明する。
各画素104への信号書き込み動作時には、走査線駆動回路102により、信号を書き込む画素行を選択する。そして、信号線駆動回路101から信号線S1〜Snを介して、この選択された画素行のそれぞれの列の画素104へ信号が書き込まれる。なお、画素104へ信号が書き込まれると、各画素は書き込まれた信号を保存する。
同様に、次々と画素104を選択し、それらの画素104に信号を書き込む。そして、画素部103の全ての画素104に信号の書き込みが行われると画素104への書き込み期間が終了する。
そして、画素104は書き込まれた信号を一定期間保存しているため、画素の発光動作時には、画素へ書き込まれた信号に応じた各画素の状態(点灯又は非点灯)を維持することができる。
そして、書き込み動作と発光動作をくり返し行うことにより、動画を表示することができる。
次に、図1に示す画素マトリクス回路の1画素の回路構成について図4を用いて説明する。1画素は、駆動用TFT401、スイッチング用TFT(SW用TFT、SWTFTなどともいう)402、容量素子403、発光素子404、走査線405、信号線406、電源線407、対向電極408とを有している。
スイッチング用TFT402のゲート電極は、走査線405に接続されている。スイッチング用TFT402のソース領域とドレイン領域は、一方が信号線406に接続され、もう一方は駆動用TFT401のゲート電極及び容量素子403に接続されている。
容量素子403は、対向して設けられた一方の電極が電源線407に、もう一方の電極がスイッチング用TFT402のソース領域又はドレイン領域、及び駆動用TFT401のゲート電極に接続されている。容量素子403は、スイッチング用TFT402が非選択状態(オフ状態)にある時に、駆動用TFT401のゲート電位を保持するために設けられている。したがって、容量素子403は、駆動用TFT401のゲート電位を保持できるように配置されていればよいので、図4の配置に限定されない。なお、駆動用TFT401のゲート容量などを用いて、駆動用TFT401のゲート電位を保持できる場合は、容量素子403を省いても良い。
駆動用TFT401のソース領域又はドレイン領域に接続された電極のうち、一方の電極が電源線407に、もう一方の電極が発光素子404に接続されている。
発光素子404は、陽極と、陰極と、陽極と陰極との間に設けられた有機化合物層とからなる。発光素子404において、駆動用TFT401のソース領域またはドレイン領域に接続している電極を画素電極といい、発光素子404のもう一方の電極を対向電極という。発光素子404の陽極と陰極は、対向電極と、電源線407とに入力する電位によって決定され、電位が高い方の電極が陽極となり、電位が低いほうの電極が陰極となる。なお、ここでは発光素子404の対向電極には低電源電位を設定している。低電源電位とは、電源線407に設定される高電源電位を基準にして低電源電位<高電源電位を満たす電位であり、低電源電位としては例えばGND、0Vなどが設定されていても良い。
次に、図4を用いて画素の動作方法について説明する。走査線405を選択して、スイッチング用TFT402をオン状態にして、信号線406からの信号を駆動用TFT401のゲートに入力する。その入力信号に応じて、駆動用TFT401のオン又はオフが制御され、駆動用TFT401がオンのときに電源線407から発光素子404に電流が流れる。なお、このとき、信号線406から入力される信号に相当する電位は容量素子403で保持される。
発光素子404を発光させるには、電源線407に設定される高電源電位と発光素子404の対向電極に設定される低電源電位との電位差を発光素子404に印加して発光素子404に電流を流す。このとき、高電源電位と低電源電位との電位差が発光素子404の順方向しきい値電圧以上となるようにそれぞれの電位を設定する。
本発明において、画面全体の平均輝度が低く、一部の画素において高階調が表示されているときには、電源線407に設定される高電源電位をさらに高く設定する。その結果、発光素子404に印加する電位差がさらに大きくなり、発光素子404に流れる電流量が増え、高階調を表示している画素のピーク輝度を高めることができる。または、電源線407に設定される高電源電位を変えずに、発光素子404の対向電極に設定される低電源電位をさらに低く設定することにより、発光素子404に印加する電位差を大きくしてもよい。また、電源線407に設定される電位を高くすると同時に発光素子404の対向電極に設定される電位を低くして、発光素子404に印加する電位差を大きくしてもよい。
次いで、信号線406に入力される信号と電源線407の電位との関係について説明する。信号線406に、Hレベルの信号が入力された場合、このHレベルの電位は、電源線407に入力される電位から駆動用TFT401のしきい値の絶対値分の電位を引いた電位よりも高くなるように設定する。すると、駆動用TFT401は、オフ状態となり、発光素子404に電流は流れない。これを式を用いて表すと、駆動用TFT401のしきい値電圧をVth、電源線407の電位をVdd、駆動用TFT401をオフとする(発光素子を非発光とする)信号をVhdとすると、Vhdは、Vhd>Vdd−|Vth|を満たす電位となる。なお、Vhdは、高くしすぎると、消費電力が大きくなってしまうため、例えば、Vddよりも1〜3V程高い電位とすることが好ましい。
また、信号線406に、Lレベル(Low Level)の信号が入力された場合、このLレベルの電位は、電源線407に入力される電位から駆動用TFT401のしきい値の絶対値分の電位を引いた電位より低くなるように設定する。すると、駆動用TFT401は、オン状態となり、発光素子404に電流が流れる。駆動用TFT401のゲートには、駆動用TFT401が十分にオンするかオフするかの2つの状態となるような信号を入力することが好ましい。従って、駆動用TFT401のゲートに入力されるLレベルの信号の電位は、駆動用TFT401を線形領域で動作させる電位とする。よって、電源線407に入力される電位は、駆動用TFT401が線形で動作するため、理想的にはそのまま発光素子404の電極に印加されることになる。
ここで、走査線405に入力される信号と、信号線406に入力される信号との関係について説明する。走査線405がオン(選択される)のとき、走査線405に入力されるHレベルの信号(Vhswとする)は、駆動用TFT401をオフとする信号線406に入力されるHレベルの信号(Vhdとする)よりも、スイッチング用TFT402のしきい値電圧(Vthとする)以上高い電位とする。もしも、Vhd>Vhsw−Vthであれば、駆動用TFT401のゲートに入力される信号はVhsw−Vthとなり、駆動用TFT401を完全にオフとするHレベルの信号を、駆動用TFT401のゲートに入力することができなくなる。したがって、完全に駆動用TFT401をオフすることができなくなり、その結果、発光素子404が発光してしまうおそれがある。一方、走査線405に入力されるHレベルの信号の電位が高すぎると、消費電力が大きくなる。従って、走査線405に入力されるHレベルの信号は、信号線406に入力されるHレベルの信号よりも1〜3Vほど高く設定することが好ましい。
また、走査線405がオフ(選択されない)のとき、走査線405に入力されるLレベルの信号(VLSWとする)は、信号線406に入力されるLレベルの信号よりも低い電位とすることが望ましい。その理由について、走査線405に入力されるLレベルの信号と、信号線406に入力されるLレベルの信号の電位が等電位である場合について説明する。例えば、Nチャネル型のスイッチング用TFT402がディプレション型(ノーマリーオン)である場合、スイッチング用TFT402のしきい値電圧は負の値となる。そのため、走査線405に入力されるLレベルの信号と、信号線406に入力されるLレベルの信号の電位が等電位であれば、スイッチング用TFT402は、オンしてしまう。その結果、他の行の画素への書き込みのため信号線406に入力されたLレベルの信号が、すでに信号書き込みを完了した画素の駆動用TFT401のゲートに入力され、駆動用TFT401が動作してしまう。
図4では、スイッチング用TFT402、駆動用TFT401は、シングルゲート構造であるが、この構造に限らず、デュアルゲート構造やトリプル(トライ)ゲート構造などのマルチゲート構造を有していても良い。シングルゲート構造とは、1つのTFTが1つのゲート電極を有する構造である。マルチゲート構造とは、複数のゲートを持つ構造のことであり、2つ以上のTFTが直列に接続され、各TFTのゲート電極は接続されている構造をいう。マルチゲート構造とすることでシングルゲート構造と比較してオフ電流を低減することができる。
また、スイッチング用TFT402はNチャネル型TFT、駆動用TFT401はPチャネル型TFTを用いているが、この構成に限られず、Nチャネル型、Pチャネル型のどちらでも用いることができる。例えば、駆動用TFTにNチャネル型を用いた場合、信号線にHレベルの信号が入力されたときに、駆動用TFTはオンとなり、信号線にLレベルの信号が入力されたときに、駆動用TFTはオフする。
次に、タイミングチャートを用いて1フレーム期間のサブフレームの選択により階調を表すことについて図7を用いて説明する。図7において、横方向は時間経過を表し、縦方向は走査線の走査段数を表している。
本発明の表示装置を用いて画像表示を行うとき、表示期間においては、画面の書き換え(アドレス)動作と表示(サスティン)動作とが繰り返し行われる。この書き換え回数について特に限定はないが、画像を見る人がちらつき(フリッカ)を感じないように少なくとも1秒間に60回程度とすることが好ましい。ここで、一画面(1フレーム)の書き換え動作と表示動作を行う期間を1フレーム期間という。また、サスティン(点灯)期間とは、アドレス期間において画素に書き込まれた信号に基づいて発光素子が発光する期間である。nビット階調を表現する際は、n個のサスティン期間の長さの比は、2:2:・・・:2n−2:2n−1としている。そして、どのサスティン期間で発光素子が発光するかによって、1フレーム期間あたりの各画素が発光する時間の長さが決定し、これによって階調表現を行う。
図7に、4ビットの場合のタイミングチャートを示す。1フレームは、アドレス期間701a、702a、703a、704aとサスティン期間701b、702b、703b、704bとを含む4つのサブフレーム701、702、703、704に時分割されている。発光するための信号を与えられた発光素子は、サスティン期間において発光状態となっている。各々のサブフレームにおけるサスティン期間の長さの比は、第1のサブフレーム701:第2のサブフレーム702:第3のサブフレーム703:第4のサブフレーム704=2:2:2:2=8:4:2:1となっている。これによって4ビット階調を表現することができる。但し、ビット数及び階調数はここに記すものに限定されずにいくつあってもよく、例えば8つのサブフレームを設け8ビット階調を行えるようにしてもよい。
1フレームにおける動作について説明する。まず、サブフレーム701において、1行目から最終行まで順に書き込み動作が行われる。従って、行によってアドレス期間の開始時間が異なる。アドレス期間701aが終了した行から順にサスティン期間701bへと移る。当該サスティン期間において、発光するための信号を与えられている発光素子は発光状態となっている。また、サスティン期間701bが終了した行から順に次のサブフレーム702へ移り、サブフレーム701の場合と同様に1行目から最終行まで順に書き込み動作が行われる。サブフレーム704のサスティン期間704b迄、以上のような動作を繰り返し、サブフレーム704における動作を終了する。サブフレーム704における動作を終了したら次のフレームへ移る。このように、各サブフレームにおいて発光した時間の積算時間が、1フレームにおける各々の発光素子の発光時間となる。この発光時間を発光素子ごとに変えて一画素内で様々に組み合わせることによって、明度および色度の異なる様々な表示色を形成することができる。
なお、本実施の形態では、サブフレーム701乃至704はサスティン期間の長いものから順に並んでいるが、必ずしもこのような並びにする必要はなく、例えばサスティン期間の短いものから順に並べられていてもよいし、またはサスティン期間の長いものと短いものとがランダムに並んでいてもよい。また、サブフレームは、さらに複数のサブフレームに分割されていてもよい。
次いで、平均輝度について説明する。平均輝度とは、1フレーム期間における各々の画素の発光時間を全画素分足し合わせ、それを全画素数で割って得られる輝度のことをいう。なお、普通の自然画像を表示したときは、平均輝度は30%くらいとなる。
本実施の形態において、画面全体の平均輝度が低い場合、具体的には1フレーム期間における全画素の発光時間が最大のときの平均輝度を100%としたときに平均輝度が0%より大きく、10%以下(好ましくは5%以下)の場合には、電源線407にかかる電位を上げる。または、発光素子404の対向電極408の電位を下げることにより発光素子404の両端にかかる電圧を高める。若しくは、電源線407と対向電極408の両方の電位を変えてもよい。その結果、画面全体が暗く、一部において明るい画像を表示している時にはコントラストの高いメリハリのついた画像表示が可能となる。なお、平均輝度が低い場合と判断する平均輝度は、これらの値に限定されるものではない。
なお、画面全体の平均輝度が高い場合、具体的には1フレーム期間における全画素の発光時間が最大のときの平均輝度を100%としたときに平均輝度が90%以上(好ましくは95%以上)、100%以下の場合には、電源線407の電位を下げる。または、発光素子404の対向電極408の電位を上げることにより、発光素子404の両端にかかる電圧を低くする。若しくは、電源線407と対向電極408の両方の電位を変えてもよい。このように、画面全体が明るい画像を表示している時には、平均輝度を多少落としても全体として明るい表示を保つことができるため、消費電力を低減することができる。なお、平均輝度が高い場合と判断する平均輝度は、これらの値に限定されるものではない。
ここで、画素へビデオ信号を書き込む方式について説明する。
画素へのビデオ信号の書き込みには、行方向に選択された画素に一斉に信号を書き込む線順次方式と、選択された画素行の一つずつの画素に書き込む点順次方式とがある。
図2(a),(b)を用いて図1の信号線駆動回路101についてさらに詳しく説明する。図2(a)に示す信号線駆動回路は、パルス出力回路201、第1のラッチ回路202および第2のラッチ回路203を有している。図2(a)に示す信号線駆動回路の動作について、図2(b)に示した詳しい構成を用いて説明する。
パルス出力回路201はフリップフロップ回路(FF)215等を複数段用いて構成され、クロック信号(S−CLK)、クロック反転信号(S−CLKB)、スタートパルス信号(S−SP)が入力される。そして、これらの信号のタイミングに従って順次サンプリングパルスが出力される。
パルス出力回路201から出力されたサンプリングパルスは、第1のラッチ回路202に入力される。第1のラッチ回路202には、ビデオ信号(video data)が入力されており、サンプリングパルスが入力されるタイミングに従って、各段にビデオ信号を保持する。サンプリングパルスによって、第1のラッチ回路202の各段のラッチ回路が動作する。
第1のラッチ回路202において、最終段までデジタルビデオ信号の保持が完了すると、水平帰線期間中に、第2のラッチ回路203にラッチパルス(Latch Pulse)が入力され、第1のラッチ回路202に保持されていたデジタルビデオ信号は、一斉に第2のラッチ回路203に転送される。その後、第2のラッチ回路203に保持されたデジタルビデオ信号は1行分が同時に信号線S1〜Snへ出力される。
第2のラッチ回路203に保持されたデジタルビデオ信号により画素に書き込みが行われている間、パルス出力回路201からは、再度サンプリングパルスが出力される。そして、上述した動作を繰り返し、1フレーム分のビデオ信号の処理を行う。
図3(a),(b)を用いて点順次方式の信号線駆動回路について説明する。図3(a)に示す信号線駆動回路は、パルス出力回路301及びスイッチ群302からなる。スイッチ群302は複数の段のスイッチを有する。この複数の段のスイッチは、それぞれ信号線に対応している。図3(a)に示す信号線駆動回路の動作について、図3(b)に示した詳しい構成を用いて説明する。
スイッチ群302のそれぞれの段のスイッチの一方の端子はビデオ信号が入力される配線に接続され、他方の端子はそれぞれ信号線に接続されている。
パルス出力回路301はフリップフロップ回路(FF)314等を複数段用いて構成され、クロック信号(S−CLK)、クロック反転信号(S−CLKB)、スタートパルス信号(S−SP)が入力される。これらの信号のタイミングに従って順次サンプリングパルスが出力される。
パルス出力回路301により出力されたサンプリングパルスは、スイッチ群302に入力される。スイッチ群302には、ビデオ信号が入力されており、サンプリングパルスが入力されるタイミングに従って、各スイッチがオンして、信号線にビデオ信号が入力される。
なお、本実施の形態ではスイッチング用TFTがNチャネル型、駆動用TFTがPチャネル型の画素回路構成を用いて説明した。
次に、スイッチング用TFTと駆動用TFTがともにPチャネル型である場合について図5を用いて説明する。
図4と同じ構成のものについては同じ符号を付してある。スイッチング用TFTには、図4に示すNチャネル型のスイッチング用TFT402の代わりにPチャネル型のスイッチング用TFT502を用いる。接続関係については、図4の説明を参照するとよい。
駆動方法について以下に説明する。
走査線405と、信号線406の関係について説明する。走査線405には、スイッチング用TFT502をオンとするLレベルの信号又はオフとするHレベルの信号が入力される。一方、信号線406には、駆動用TFT401をオンとするLレベルの信号又はオフとするHレベルの信号が入力される。
ここで、走査線405に入力されるLレベルの信号は、信号線406に入力されるLレベルの信号より低い電位であることが望ましい。理由については、図4の信号線406と走査線405の関係を参照するとよい。従って、例えば、走査線405に入力されるLレベルの信号と信号線406に入力されるLレベルの信号の電位が等電位とする。すると、P型のスイッチング用TFT502がエンハンスメント型(ノーマリーオフ)である場合、駆動用TFT401のゲートに信号線406に入力されたLレベルの信号より高い電位が入力されてしまうことがある。
また、走査線405に入力されるHレベルの信号は、信号線406に入力されるHレベルの信号より高い電位であることが望ましい。理由については、上記と同様図4の信号線406と走査線405の関係を参照するとよい。従って、例えば、走査線405に入力されるHレベルの信号と信号線406に入力されるHレベルの信号の電位が等電位とする。すると、P型のスイッチング用TFT502がディプレション型(ノーマリーオン)である場合、しきい値電圧Vthは正の値をとるので、スイッチング用TFT502はオンとなり、駆動用TFT401のゲートに信号線406に入力されたHレベルの信号の電位が入力されてしまう。
一方、走査線405に入力される信号の電位を高くしすぎると、消費電力が大きくなってしまうため、例えば、信号線406に入力されるHレベルの信号より、1〜3V程高い電位とすることが好ましい。
図4、図5では、電圧入力電圧駆動方式について説明したが、この他に、図6に示す電圧入力電流駆動方式の画素回路構成としてもよい。
図6の画素回路構成のうち、図4と同じ構成のものには、図4と同じ符号を付してある。駆動用TFT401の第1の端子は、発光素子404と接続され、第2の端子は、定電流源609の出力端子に接続されている。定電流源609の入力端子は、電源線407と電気的に接続されている。なお、発光素子404の第2の端子は、対向電極408と接続されている。
駆動用TFT401と定電流源609の動作について説明する。駆動用TFT401をオンするLレベルの信号を、信号線406から駆動用TFT401のゲートに入力する。すると、定電流源609から一定の電流が発光素子404の対向電極408に流れ、発光素子404は発光する。
(実施の形態2)
本実施の形態の動作方法について図8に示す4ビットの階調を表したタイミングチャートを用いて説明する。1行目からm行目まで信号の書き込み動作が行われる。そして、書き込み動作が終了した行からサスティン期間へと移行する。サスティン期間が終了すると順に次のサブフレームへ移行し、再び1行目から信号書き込み動作が行われる。ここでは、ある信号書き込み動作とその次の信号書き込み動作の間に信号消去動作が行われ、非点灯期間が設けられる。このように信号消去動作を設けることにより、サスティン期間を制御する。
上記の動作をする画素の回路構成を図9に示す。駆動用TFT901、スイッチング用TFT902、容量素子903、発光素子904、第1の走査線905、信号線906、電源線907、対向電極908、消去用TFT909、第2の走査線910とを有している。
スイッチング用TFT902のゲート電極は、第1の走査線905に接続され、ソース領域とドレイン領域は、一方が信号線906に接続され、もう一方は駆動用TFT901のゲート電極、容量素子903、及び消去用TFT909のソース領域又はドレイン領域に接続されている。
容量素子903は、一方が電源線907に接続され、他方がスイッチング用TFT902のソース領域又はドレイン領域、駆動用TFT901のゲート電極、及び消去用TFT909のソース領域又はドレイン領域に接続されている。容量素子903は、スイッチング用TFT902が非選択状態(オフ状態)にある時に、駆動用TFT901のゲート電位を保持するために設けられている。
駆動用TFT901のソース領域又はドレイン領域に接続された電極のうち、一方が電源線907に、もう一方が発光素子904に接続されている。
発光素子904は、陽極と、陰極と、陽極と陰極との間に設けられた有機化合物層とからなる。発光素子904において、駆動用TFT901のソース領域またはドレイン領域に接続している電極を画素電極といい、発光素子904のもう一方の電極を対向電極という。発光素子904の陽極と陰極は、対向電極と、電源線907の電位によって決定され、電位が高い方の電極が陽極となり、電位が低いほうの電極が陰極となる。
消去用TFT909のソース領域とドレイン領域のうち、駆動用TFT901のゲート電極に接続されていない方は、電源線907に接続されている。そして消去用TFT909のゲート電極は、消去用の第2の走査線910に接続されている。
続いて、図9の回路の動作について説明する。まず、第1の走査線905を選択して、スイッチング用TFT902をオン状態にして、信号線906からの信号を容量素子903に入力する。すると、その信号に応じて、駆動用TFT901の電流が制御され、電源線907から、発光素子904を通って発光素子904の対向電極に電流が流れる。
信号を消去したい場合は、第2の走査線910を選択して、消去用TFT909をオン状態にして、電源線907の電位を駆動用TFT901のゲートへ入力する。その結果、駆動用TFT901がオフ状態になる。すると、発光素子904に電流が流れないようになる。その結果、非点灯期間を作ることができ、サスティン期間の長さを自由に制御することができる。
図9では、スイッチング用TFT902、消去用TFT909はNチャネル型TFT、駆動用TFT901はPチャネル型TFTを用いているが、この構成に限られず、それぞれNチャネル型、Pチャネル型のどちらでも用いることができ、どのように組み合わせてもよい。ただし駆動用TFT901のソース領域またはドレイン領域が発光素子904の陽極と接続されている場合、駆動用TFT901はPチャネル型TFTであることが望ましい。また、駆動用TFT901のソース領域またはドレイン領域が発光素子904の陰極と接続されている場合、駆動用TFT901はNチャネル型TFTであることが望ましい。
またスイッチング用TFT902、駆動用TFT901、消去用TFT909は、シングルゲート構造だけではなく、デュアルゲート構造、やトリプルゲート構造などのマルチゲート構造を有していても良い。
また、容量素子903は、駆動用TFT901のゲート電位を保持できるように配置されていればよいので、図9の配置に限定されない。なお、駆動用TFT901のゲート容量などを用いて、駆動用TFT901のゲート電位を保持できる場合は、容量素子903を省いても良い。
以上のように、各行において信号を書き込み、次の信号書き込み動作が来る前に画素の信号を消去する。このようにして、サスティン期間の長さを制御する。
画面全体の平均輝度が高い場合、全部の消去動作のタイミングを早める、つまり、書き込み動作と重なっていない期間においても消去動作を行うことにより、各サブフレームごとのサスティン期間を狭め、画面全体の平均輝度を下げる。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、平均輝度が低い場合は、全部の消去動作のタイミングを遅くすることで、デューティー比を上げて、画面全体の平均輝度を上げる。その結果、コントラストの高いメリハリのついた画面表示が可能となる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、実施の形態2とは異なる画素構成により画素の信号を消去する動作を行う場合について説明する。
図10に駆動用TFTを強制的にオフにする場合の画素構成の例を示す。スイッチング用TFT1002、駆動用TFT1001、消去ダイオード1009、発光素子1004が配置されている。スイッチング用TFT1002のソース領域とドレイン領域は、一方が信号線1006に接続され、もう一方は駆動用TFT1001のゲート電極、容量素子1003及び消去ダイオード1009に接続されている。スイッチング用TFT1002のゲート電極は、第1の走査線1005に接続されている。駆動用TFT1001のソース領域とドレイン領域は、一方が電源線1007に接続され、もう一方は発光素子1004に接続されている。消去ダイオード1009の入力端子は、第2の走査線1010に接続され、出力端子は、駆動用TFT1001のゲート電極、容量素子1003及びスイッチング用TFT1002のソース領域又はドレイン領域に接続されている。
容量素子1003は、対向して設けられた一方の電極が電源線1007に、もう一方の電極がスイッチング用TFT1002のソース領域又はドレイン領域、駆動用TFT1001のゲート電極及び消去ダイオード1009の出力端子に接続されている。容量素子1003は、駆動用TFT1001のゲート電位を保持する役目をしている。よって、駆動用TFT1001のゲート電極と電源線1007の間に接続されているが、これに限定されない。駆動用TFT1001のゲート電位を保持できるように配置されていればよい。また、駆動用TFT1001のゲート容量などを用いて、駆動用TFT1001のゲート電位を保持できる場合は、容量素子1003を省いても良い。
駆動用TFT1001のソース領域又はドレイン領域に接続された電極のうち、一方の電極が電源線1007に、もう一方の電極が発光素子1004に接続されている。
動作方法としては、第1の走査線1005を選択して、スイッチング用TFT1002をオン状態にして、信号線1006から信号を容量素子1003に入力する。すると、その信号に応じて、駆動用TFT1001のオン、オフが制御され、電源線1007から、発光素子1004に電流が流れる。
信号を消去したい場合は、第2の走査線1010を選択(ここでは、高い電位にする)して、消去ダイオード1009をオンにする。そして、第2の走査線1010から駆動用TFT1001のゲートへ電流が流れるようにする。その結果、駆動用TFT1001がオフ状態になる。すると、電源線1007から、発光素子1004には、電流が流れないようになる。その結果、非点灯期間を作ることができ、点灯期間の長さを自由に制御できるようになる。
このとき、第2の走査線1010の電位を十分高くすれば、駆動用TFT1001がエンハンスメント型のときはもちろん、ディプレション型であっても、駆動用TFT1001を正常にオフ状態にすることが出来る。例えば、駆動用TFT1001をオフとするHレベルのビデオ信号よりも消去ダイオード1009のしきい値分高い電位であればよい。
信号を保持しておきたい場合は、第2の走査線1010を非選択(ここでは、ビデオ信号の信号Lと同じかそれ以下)にしておく。すると、消去ダイオード1009がオフするので、駆動用TFT1001のゲート電位は保持される。
なお、消去ダイオード1009は、整流性がある素子であればなんでもよい。PN接合ダイオードでもよいし、PIN接合ダイオードでもよいし、ショットキーバリアダイオードでもよいし、ツェナーダイオードでもよい。
また、ダイオードとして、TFTを用いてダイオード接続(ゲートとドレインを接続)して用いても良い。その場合の回路図を図11に示す。消去ダイオード1011として、ダイオード接続したTFTを用いている。ここでは、Nチャネル型TFTを用いているが、これに限定されない。Pチャネル型を用いても良い。
このように、非点灯期間を作る場合、強制的に非発光状態をつくればよいので、発光素子に電流が供給されないようにすればよい。よって、電源線1007から、発光素子1004に電流が流れる経路のどこかにスイッチを配置して、そのスイッチのオンオフを制御して非点灯期間を作ればよい。あるいは、駆動用TFT1001のゲート・ソース間電圧を制御して、駆動用TFTが強制的にオフになるようにすればよい。
なお、サブフレームの出現順序は、時刻によって変化してもよい。例えば、1フレーム目と2フレーム目とで、サブフレームの出現順序が変わっても良い。また、サブフレームの出現順序は、場所によって変わっても良い。例えば、画素Aと画素Bとで、サブフレームの出現順序が変わっても良い。また、それらを組み合わせて、サブフレームの出現順序が、時刻によって変化して、かつ、場所によって変化してもよい。また、サブフレームの出現順序は、順序よく並んでいても良いし、ランダムな順序で並んでいても良い。
なお、本実施の形態において、1フレーム期間内に、サスティン期間やアドレス期間や非点灯期間が設けられていたが、これに限定されない。それ以外の動作期間が設けられていてもよい。例えば、発光素子に加える電圧を、通常とは逆の極性のものにするような期間、いわゆる、逆バイアス期間を設けても良い。逆バイアス期間を設けることにより、表示素子の信頼性が向上する場合がある。
以上のように、各行において信号を書き込み、次の信号書き込み動作が来る前に画素の信号を消去することによりサスティン期間の長さを制御する。
画面全体の平均輝度が高い場合、全部の消去動作のタイミングを早めることで、サブフレーム毎にあるサスティン期間を狭め、画面全体の平均輝度を下げる。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、平均輝度が低い場合は、全部の消去動作のタイミングを遅くすることで、デューティー比を上げて、画面全体の平均輝度を上げる。その結果、コントラストの高いメリハリのついた画面表示が可能となる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、実施の形態2、3とは異なる画素構成により画素の信号を消去する動作を行う場合について図12、図13に示す。
図12は、画素構成の上面図である。画素部1211と、信号線駆動回路1212と、書込用走査線駆動回路1213と、消去用走査線駆動回路1214とが設けられている。画素部1211には、複数の信号線と電源線が列方向に並んで配列している。また、画素部1211には、複数の走査線が行方向に並んで配列している。また、画素部1211には、発光素子を含む一組の回路が複数配列している。
図13は、一画素の構成を表した図である。図13に示す回路には、第1のトランジスタ1301と第2のトランジスタ1302と発光素子1303とが含まれている。
第1のトランジスタ1301と、第2のトランジスタ1302とは、それぞれ、ゲート電極と、ドレイン領域と、ソース領域とを含む三端子の素子であり、ドレイン領域とソース領域の間にチャネル領域を有する。ここで、ソース領域とドレイン領域とは、トランジスタの構造や動作条件等によって変わるため、いずれがソース領域またはドレイン領域であるかを限定することが困難である。そこで、本形態においては、ソースまたはドレインとして機能する領域を、それぞれトランジスタの第1電極、トランジスタの第2電極と表記する。
走査線1311と、書込用走査線駆動回路1313とはスイッチ1318によって電気的に接続または非接続の状態になるように設けられている。また、走査線1311と、消去用走査線駆動回路1314とはスイッチ1319によって電気的に接続または非接続の状態になるように設けられている。また、信号線1312は、スイッチ1320によって信号線駆動回路1315または電源1316のいずれかに電気的に接続するように設けられている。そして、第1のトランジスタ1301のゲートは走査線1311に電気的に接続している。また、第1のトランジスタ1301の第1電極は信号線1312に電気的に接続し、第2電極は第2のトランジスタ1302のゲート電極と電気的に接続している。第2のトランジスタ1302の第1電極は電源線1317と電気的に接続し、第2電極は発光素子1303に含まれる一の電極と電気的に接続している。なお、スイッチ1318は、書込用走査線駆動回路1313に含まれていてもよい。また、スイッチ1319についても消去用走査線駆動回路1314の中に含まれていてもよい。また、スイッチ1320についても信号線駆動回路1315の中に含まれていてもよい。なお、第2のトランジスタ1302のゲートと電源線1317との間に容量素子を有していてもよい。
また、画素におけるトランジスタや発光素子等の配置について特に限定はないが、例えば図14の上面図に表すように配置することができる。図14において、第1のトランジスタ1401の第1電極は信号線1404に接続し、第2の電極は第2のトランジスタ1402のゲート電極に接続している。また、第2のトランジスタの第1電極は電源線1405に接続し、第2電極は発光素子の電極1406に接続している。走査線1403の一部は第1のトランジスタ1401のゲート電極として機能する。第2のトランジスタ1402のゲート配線と電源線1405とが重なっている領域1407は容量素子としての役割を有する。
次に、駆動方法について説明する。図15は時間経過に伴ったフレームの動作について説明する図である。図15において、横方向は時間経過を表し、縦方向は走査線の走査段数を表している。
1フレームは、図15に示すように、アドレス期間1501a、1502a、1503a、1504aとサスティン期間1501b、1502b、1503b、1504bとを含む4つのサブフレーム1501、1502、1503、1504に時分割されている。発光するための信号を与えられた発光素子は、サスティン期間において発光状態となっている。各々のサブフレームにおけるサスティン期間の長さの比は、第1のサブフレーム1501:第2のサブフレーム1502:第3のサブフレーム1503:第4のサブフレーム1504=2:2:2:2=8:4:2:1となっている。これによって4ビット階調を表現することができる。但し、ビット数及び階調数はここに記すものに限定されずにいくつあってもよく、例えば16つのサブフレームを設け16ビット階調を行えるようにしてもよい。
1フレームにおける動作についての説明は、実施の形態1の図7の説明を参照するとよい。
サブフレーム1504のように、最終行目までの書込が終了する前に、既に書込を終え、サスティン期間に移行した行におけるサスティン期間を強制的に終了させたいときは、サスティン期間1504bの後に消去期間1504cを設け、強制的に非発光の状態となるように制御することが好ましい。そして、強制的に非発光状態にした行については、一定期間、非発光の状態を保つ(この期間を非発光期間1504dとする。)。そして、最終行目のアドレス期間が終了したら直ちに、一行目から順に次のサブフレーム(またはフレーム)のアドレス期間に移行する。これによって、サブフレーム1504のアドレス期間と、その次のサブフレームのアドレス期間とが重畳することを防ぐことができる。
なお、本実施の形態では、サブフレーム1501乃至1504はサスティン期間の長いものから順に並んでいるが、必ずしも本実施形態のような並びにする必要はなく、例えばサスティン期間の短いものから順に並べられていてもよいし、またはサスティン期間の長いものと短いものとがランダムに並んでいてもよい。また、サブフレームは、さらに複数のサブフレームに分割されていてもよい。つまり、同じビデオ信号を与えている期間、走査線の走査を複数回行ってもよい。
ここで、アドレス期間および消去期間における、図13で示す回路の動作について説明する。
まずアドレス期間における動作について説明する。書込期間において、n行目(nは自然数)の走査線1311は、スイッチ1318を介して書込用走査線駆動回路1313と電気的に接続し、消去用走査線駆動回路1314とは非接続である。また、信号線1312はスイッチ1320を介して信号線駆動回路1315と電気的に接続している。ここで、n行目(nは自然数)の走査線1311に接続した第1のトランジスタ1301のゲートに信号が入力され、第1のトランジスタ1301はオンとなる。そして、この時、1列目から最終列目迄の信号線に同時にビデオ信号が入力される。なお、各列の信号線1312から入力されるビデオ信号は互いに独立したものである。信号線1312から入力されたビデオ信号は、各々の信号線に接続した第1のトランジスタ1301を介して第2のトランジスタ1302のゲート電極に入力される。この時第2のトランジスタ1302に入力された信号によって発光素子1303は発光または非発光が決まる。例えば、第2のトランジスタ1302がPチャネル型である場合は、第2のトランジスタ1302のゲート電極にLレベルの信号が入力されることによって発光素子1303が発光する。一方、第2のトランジスタ1302がNチャネル型である場合は、第2のトランジスタ1302のゲート電極にHレベルの信号が入力されることによって発光素子1303が発光する。
次に消去期間における動作について説明する。消去期間において、n行目(nは自然数)の走査線1311は、スイッチ1319を介して消去用走査線駆動回路1314と電気的に接続し、書込用走査線駆動回路1313とは非接続である。また、信号線1312はスイッチ1320を介して電源1316と電気的に接続している。ここで、n行目の走査線1311に接続した第1のトランジスタ1301のゲートに信号が入力され、第1のトランジスタ1301はオンとなる。そして、この時、1列目から最終列目迄の信号線に同時に消去信号が入力される。信号線1312から入力された消去信号は、各々の信号線に接続した第1のトランジスタ1301を介して第2のトランジスタ1302のゲート電極に入力される。この時、第2のトランジスタ1302に入力された信号によって、電源線1317から発光素子1303への電流の供給が阻止される。そして、発光素子1303は強制的に非発光となる。例えば、第2のトランジスタ1302がPチャネル型である場合は、第2のトランジスタ1302のゲート電極にHレベルの信号が入力されることによって発光素子1303は非発光となる。一方、第2のトランジスタ1302がNチャネル型である場合は、第2のトランジスタ1302のゲート電極にLレベルの信号が入力されることによって発光素子1303は非発光となる。
なお、消去期間では、n行目(nは自然数)については、以上に説明したような動作によって消去する為の信号を入力する。しかし、前述のように、n行目が消去期間であると共に、他の行(m行目(mは自然数)とする。)については書込期間となる場合がある。このような場合、同じ列の信号線を利用してn行目には消去の為の信号を、m行目には書込の為の信号を入力する必要があるため、以下に説明するような動作をさせることが好ましい。
先に説明した消去期間における動作によって、n行目の発光素子1303が非発光となった後、直ちに、走査線1311と消去用走査線駆動回路1314とを非接続の状態とすると共に、スイッチ1320を切り替えて信号線1312と信号線駆動回路1315と接続させる。そして、信号線1312と信号線駆動回路1315とを接続させると共に、走査線1311と書込用走査線駆動回路1313とを接続させる。そして、書込用走査線駆動回路1313からm行目の走査線に選択信号が入力され、第1のトランジスタ1301がオンすると共に、信号線駆動回路1315からは、1列目から最終列目迄の信号線1312にビデオ信号が入力される。このビデオ信号によって、m行目の発光素子は、発光または非発光となる。
以上のようにしてm行目についてアドレス期間を終えたら、直ちに、n+1行目の消去期間に移行する。その為に、走査線1311と書込用走査線駆動回路1313を非接続とすると共に、スイッチ1320を切り替えて信号線1312を電源1316と接続する。また、走査線1311と書込用走査線駆動回路1313を非接続とすると共に、走査線1311については、消去用走査線駆動回路1314と接続状態にする。そして、消去用走査線駆動回路1314からn+1行目の走査線1311に選択的に信号を入力して第1のトランジスタ1301に信号をオンすると共に、電源1316から消去信号が入力される。このようにして、n+1行目の消去期間を終えたら、直ちに、m+1行目のアドレス期間に移行する。以下、同様に、消去期間とアドレス期間とを繰り返し、最終行目の消去期間まで動作させればよい。
なお、ここでは、n行目の消去期間とn+1行目の消去期間との間にm行目のアドレス期間を設ける態様について説明したが、これに限らず、n−1行目の消去期間とn行目の消去期間との間にm行目のアドレス期間を設けてもよい。
次いで、アドレス期間及び消去期間のタイミングについて図16(A),(B)に示すタイミングチャートを用いて説明する。ここでは、簡単のため、3ビットの階調(8階調)を表現する場合について説明する。
図16(A),(B)に示すように1フレーム期間を3つのサブフレーム期間SF1〜SF3に分割する。SF1〜SF3の各長さは、2のべき乗で決定される。つまりこの場合、SF1:SF2:SF3=4:2:1(2:2:2)となる。
まず、最初のサブフレーム期間において、1段づつ画素に信号を入力していく。ただしこの場合、実際に走査線が選択されるのは、前半のサブ走査線選択期間のみである。後半のサブ走査線選択期間には、走査線の選択は行われず、画素への信号の入力も行われない。この動作を、1段目から最終段まで行う。ここで、アドレス期間は、1段目の走査線が選択されてから、最終段の走査線が選択されるまでの期間である。よって、アドレス期間の長さは、どのサブフレーム期間においても同一である。
続いて、第2のサブフレーム期間に入る。ここでも同様に、1段づつ画素に信号が入力される。この場合も、前半のサブ走査線選択期間においてのみ行われる。この動作を、1段目から最終段まで行う。
この時、全画素の陰極配線には、一定電圧が印加されている。よって、あるサブフレーム期間における画素のサスティン期間は、あるサブフレーム期間において画素に信号が書き込まれてから、次のサブフレーム期間において画素に信号が書き込まれ始めるまでの期間となる。よって、各段におけるサスティン期間は、時期が異なり長さが等しい。
続いて、第3のサブフレーム期間について説明する。まず、第1、第2のサブフレーム期間と同様に、前半のサブ走査線選択期間において走査線を選択し、画素に信号を書き込む場合について考えてみる。この場合、最終段付近の画素への信号の書き込みが始まる時には、すでに次のフレーム期間での1段目の画素への書き込み期間、つまりアドレス期間に入ってしまっている。その結果、第3のサブフレーム期間における最終段付近の画素への書き込みと、次のフレーム期間の第1のサブフレーム期間における前半のある画素への書き込みが重複することになるわけである。同時に異なる2段分の信号を異なる2段の画素に正常に書き込むことはできない。そこで、第3のサブフレーム期間においては、後半のサブ走査線選択期間に走査線を選択していくことにする。すると、第1のサブフレーム期間(このサブフレーム期間は次のフレーム期間に属している)では走査線の選択は前半のサブ走査線選択期間において行われているから、同時に異なる2段の画素に信号を書き込みが行われることを回避することができる。
以上のように、あるサブフレーム期間におけるアドレス期間が、別のサブフレーム期間におけるアドレス期間と重複する場合、複数のサブ走査線選択期間を利用してアドレス期間の割り当てを行うことにより、実際に走査線の選択タイミングが重複しないようにするため、画素に正常に信号を書き込むことができる。その結果、ある行でアドレス期間にある瞬間に、別の行ではEL素子を点灯させることが階調のビット数に関わらず可能となる。したがって、サスティン期間の長さを自由に制御可能となる。
画面全体の平均輝度が高い場合、全部の消去動作のタイミングを早めることで、サブフレームごとにあるサスティン期間を狭め、画面全体の平均輝度を下げる。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、平均輝度が低い場合には、全部の消去動作のタイミングを遅くすることで、デューティー比を上げて、画面全体の平均輝度を上げる。その結果、コントラストの高いメリハリのついた画面表示が可能となる。
(実施の形態5)
次に、EL表示装置の1フレーム期間におけるサスティン期間を三角波の角度を変化させることによって制御する方法について説明する。
まず、図17を用いて本発明の表示装置の画素構成について説明する。画素はインバータ1701と、容量素子1702と、第1のスイッチ1703と、第2のスイッチ1704と、発光素子1705と、信号線1707と、第1の走査線1708と、第2の走査線1709とを有している。なお、インバータ1701は、N型とP型の2つのトランジスタからなるCMOSインバータである。
容量素子1702の一方の電極は信号線1707と接続され、もう一方の電極は、第2のスイッチ1704の一方の端子及びインバータ1701を構成するN型とP型のトランジスタのゲート電極に接続されている。発光素子1705は、インバータ1701を構成するN型とP型のそれぞれのトランジスタのソース領域又はドレイン領域及び第2のスイッチ1704のもう一方の端子と接続されている。高電位側電源Vddとインバータ1701を構成するP型トランジスタのソース領域又はドレイン領域の間には、第1のスイッチ1703が接続されている。第1のスイッチ1703は、第1の走査線1708によって制御され、第2のスイッチ1704は、第2の走査線1709によって制御されている。低電位側電源Vssは、インバータ1701を構成するN型トランジスタのソース領域又はドレイン領域に接続されている。高電位側電源Vddは、低電位側電源Vssよりも高く設定されている。
図18に、図17の画素のタイミングチャートを示す。アドレス期間中において当画素を含む行が選択されているときは、図17に示す第1のスイッチ1703及び第2のスイッチ1704をオン状態とする。すると、信号線1707からアナログビデオ信号Vsが入力される。また、第2のスイッチ1704がオンとなっているため、インバータ1701の入力側と出力側が接続される。このとき、点Aの電位は、Vkとなる。したがって、容量素子1702には、(Vk−Vs)となる電圧分の電荷が蓄積される。ここでVkとは、インバータ1701の入力と出力の電位が等しくなるときの電位(「論理しきい値電位」という)である。なお、他の行が選択されているときは第1のスイッチ1703と第2のスイッチ1704はともにオフにして発光素子1705に電流が流れないようにする。
サスティン期間中では、第1のスイッチ1703はオン状態であり、第2のスイッチ1704はオフ状態とする。そして、信号線1707より三角波電位が入力される。このとき、容量素子1702にはアナログビデオ信号と論理しきい値電位との電位差を保持しているため、三角波により発光素子1705のオンとオフを制御する。例えば、点Aにおいて、Vkよりも高い電位になると、インバータ1701の出力側にはVssの電位が出力される。このとき、発光素子1705は、非点灯となる。逆に、点Aにおいて、Vkよりも低い電位になると、インバータ1701の出力側にはVddの電位が出力される。このとき、発光素子1705は点灯する。
こうして、表示時間は、アドレス期間に信号線1707に入力したビデオ信号とサスティン期間に信号線1707に入力した三角波との電位差によって制御できる。なお、インバータ1701と接続されている発光素子1705の反対側の対向電位1706は、アドレス期間中は論理しきい値電位とほぼ同じ又は論理しきい値電位以上に設定することで、発光素子1705に電流が流れないようにすることが好ましい。
図19に、発光期間中に画素回路に入力する三角波電位の波形を示す。ここで、三角波電位とは、高電位から低電位へ傾きをもって直線的に下降し、低電位から高電位へ傾きをもって直線的に上昇するような波形のことをいう。もちろん、低電位から高電位へ傾きをもって直線的に上昇し、高電位から低電位へ傾きをもって直線的に下降するような三角波電位を設定しても良い。画面全体の平均輝度が低く、一部のみが明るく表示されている場合には、三角波の角度を大きくして白表示の点灯期間を長くする。逆に、画面全体の平均輝度が高い場合には、三角波の角度を小さくして白表示の点灯期間を短くする。このように、三角波の角度を変えることによって、最高輝度の高低を制御してコントラストの高いメリハリのある映像表示が可能となる。また、平均輝度が高いときに、入力ビデオ信号に対する表示輝度を下げることができるため、表示品位を保ちながら有機EL素子の長寿命化を図ることができる。
有機EL素子において、各色ごとに材料特性が異なり、その劣化の進行具合も異なるため、同じ電圧を印加しても発光素子から得られる輝度が各色ごとに異なることがある。そのため、色要素の異なる画素を有する表示装置において、各色の画素ごとに印加する電位を変えてもよい。また、三角波の傾きや波形を変えてもよい。
例えば、R(Red)、G(Green)、B(Blue)の3色の色要素ごとに信号線に入力されるビデオ信号の電位の幅を変えた場合を図20(A)〜(C)に示す。Rの色要素の画素を基準として、Gの色要素の画素の発光素子から得られる輝度が高いとき、Gのビデオ信号の階調に対応する電位を低くする。また、Bの色要素の画素の発光素子から得られる輝度が低いとき、Bのビデオ信号の階調に対応する電位を高くする。こうして、同じ階調であっても画素の色要素ごとに点灯時間を変えることができる。
次いで、RGBの3色の色要素ごとに三角波の角度を変えた場合を図20(D)〜(F)に示す。Rの色要素となる画素の発光素子の輝度特性を基準として、Gの色要素の画素の発光素子から得られる輝度が高いとき、Gの信号線に入力される三角波電位をRの信号線に入力される三角波電位よりも急勾配とする。つまり、三角波電位の振幅を大きくする。また、Bの色要素の画素の発光素子から得られる輝度が低いとき、Bの信号線に入力される三角波電位をRの信号線に入力される三角波電位よりも緩勾配とする。つまり、三角波電位の振幅を小さくする。こうして、同じ階調であっても画素の色要素ごとに点灯時間を変更することができる。なお、RGBの三色の組合せの他に、エメラルドグリーンを加えて4色の色要素ごとに三角波の角度を変えてもよい。また、エメラルドグリーンの代わりとして朱色を加えてもよい。また、白色発光するEL素子を含む画素を組み合わせても良い。このように、色要素を増やすことにより、画質や色再現性も向上させることができる。もちろんRGBの3色に組合せる4色目の色要素は上記にかぎらず、他の補色を用いてもよい。
なお、本実施の形態では、三角波電圧の波形を用いて説明したが、この波形に限定しない。例えば、図21(A)の波形2101のように直線的に電位が上昇するようにしてもよい。
また、高電位から低電位へアナログ的に変化する電位を設定してもよい。例えば、波形2102のように直線的に電位が下降するようにしてもよい(図21(B))。
また、波形2103のように、低電位から高電位へ直線的に上昇し、高電位から低電位へ下降する三角波電位にしてもよい(図21(C))。
また、波形は、直線的な変化でなくともよい。波形2104のように、高電位から低電位へ曲線的に下降し、低電位から高電位へ曲線的に上昇するようにしてもよい(図21(D))。波形2105のように全波整流回路の出力波形の1周期に相当する波形2105の電位を設定してもよいし(図21(E))、その波形を上下反転させた波形2106の電位を設定してもよい(図21(F))。
このような波形にすることにより、ビデオ信号に対する発光時間を自由に設定することができる。よって、ガンマ補正などを行うことも可能となる。ここで、ガンマ補正とは、階調数が増えると、非線形で点灯期間が増えていくようにしたものを指す。人間の目は、輝度が線形に比例して大きくなっても、比例して明るくなっているとは感じない。輝度が高くなるほど、明るさの差を感じにくくなっている。よって、人間の目で、明るさの差を感じるようにするためには、階調数が増えていくにしたがって、点灯期間をより長くとる、つまり、ガンマ補正を行う必要がある。
また、画素の発光期間において、上記の波形2101〜2106のパルスを複数連続して設定してもよい。例えば、波形2107に示すように、波形2101のパルスを画素の発光期間において、2回連続して設定してもよい(図21(G))。
このように、発光時間を1フレーム内で分散させることができる。その結果、フレーム周波数が見かけ上は向上したようになり、画面のちらつきを防止することができる。
以上のように、アナログ時間階調方式においてサスティン期間を三角波の角度を変化させて制御することにより、コントラストの高いメリハリのある画像表示が可能となる。
なお、図17において発光素子1705にかかる電圧を変化させてメリハリのある画像表示を行ってもよい。例えば、発光素子の陰極側の電位を下げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。また、発光素子の陽極側の電位を上げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。また、発光素子の陰極側の電位を下げると同時に陽極側の電位を上げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。さらに、発光素子の両極間にかかる電圧と三角波の角度の両方を変化させてもよい。その結果、よりコントラストの高いメリハリのある画像表示が可能となる。
(実施の形態6)
本実施の形態では、サブフレーム数又はビット数を平均輝度に合わせて増減させることにより、最大輝度を変化させる方法について説明する。ここでは、5ビットと3ビットの例で説明するが、もちろんこのビット数に限定されることはない。
本発明の表示装置の駆動方法を示すタイミングチャートを図22(A)、(B)に示す。図22(A)は、5ビットの信号を入力して、2階調を表現する場合を示す。
1フレーム期間F1を構成するサブフレーム期間SF1〜SF5のそれぞれにおいて、各画素の発光(サスティン期間)Ts1〜Ts5もしくは非発光状態(アドレス期間)Ta1〜Ta5が選択される。ここで、図4に示すように、発光素子404の対向電位は、アドレス期間中は電源線407の電位とほぼ同じに設定され、電流が発光素子404に流れないようにする。サスティン期間においては、電源電位と発光素子404の対向電位との間に発光素子404が発光する程度の電位差を有するように発光素子404の対向電位を変化させる。
図22(B)に、3ビットの信号を用いて階調を表現する場合のタイミングチャートを示す。各サブフレームには、アドレス期間とサスティン期間がある。アドレス期間は発光に寄与しない非発光期間であるので、1フレーム期間からアドレス期間を除いた期間が実質的なサスティン期間となる。サスティン期間を増やして輝度を向上させるためには、このアドレス期間を減らせばよい。したがって、花火のような画面全体が暗い中に、一部白い物体がある映像のときには、例えば5ビットから3ビットのようにビット数を減らすことによりサスティン期間を増加させればよい。このように、画像の平均輝度に応じてビット数を増減し、最大輝度を変化させることで、EL表示装置において、コントラストの高いメリハリのある画像表示が可能となる。
次いで、同じビット数においてサブフレーム数を増減させる場合について説明する。同じビット数であっても擬似輪郭を抑制する目的などで上位ビットを分割している場合がある。例えば、8ビットで上位2ビットをそれぞれ2つのサブフレームに分割する。すると、上位ビットから順に各サブフレーム期間の長さの比は、64:64:32:32:32:16:8:4:2:1となり10個に分けられる。なお、上位ビットから順に並べなくてもよい。
各サブフレーム期間には、アドレス期間とサスティン期間があるので、サスティン期間を増やしたい場合には、サブフレーム数を減らしてアドレス回数を減らせばよい。したがって、表示画面の平均輝度が低く、一部のみが明るく表示されている場合には、例えば同じ8ビットにおいて、サブフレーム数を10から8のように減らすことによりサスティン期間を増加させ、つまりデューティー比を上げることにより表示画面全体の平均輝度を上げる。その結果、コントラストの高いメリハリのある画像表示が可能となる。
(実施の形態7)
本実施の形態では、2進法デジタル時間階調方式と重ね合わせ時間階調方式を組み合わせる方法について説明する。
ここで、重ね合わせ時間階調方式とは、各サブフレームにおける点灯期間を足し合わせていくことにより階調を表現する方式である。階調が大きくなるに従い、点灯するサブフレームが増加していくため、階調が低いときに点灯するサブフレームは、階調が高いときにおいても点灯することとなる。その結果、重ね合わせ時間階調方式は、離散的なサブフレームを用いないため、原理的に擬似輪郭の発生を抑制することができる。
図23に、2進法デジタル時間階調方式(図23(A))と重ね合わせ時間階調方式(図23(B))のタイミングチャートを示す。それぞれ1フレーム期間中のサスティン期間とアドレス期間を示す。例えば、16階調を表示する場合には、図23(A)の2進法デジタル時間階調方式では、各サブフレームの重み付けを2の累乗倍とし、8:4:2:1の比率に各サブフレームの輝度が定められる。図23(B)の重ね合わせ時間階調方式では、各サブフレームは全て同じ比率の重み付けにより輝度が定められる。なお、重ね合わせ時間階調方式においてガンマ補正をしてもよい。その場合、各サブフレームの重み付けを視感度に応じて行っており、階調間の輝度差を視感度に対して配分することにより、すべての輝度領域でのスムースな階調表示を実現できる。
本実施の形態において、通常の方式として重ね合わせ時間階調方式を用いる。ガンマ補正を行った場合、視感度に応じた重み付けをしているため、低階調から高階調までスムースなグラデーションを実現できる。表示画面の平均輝度が低く、一部のみが明るく表示されている場合には、2進法デジタル時間階調方式に切り替える。同等の階調表示をする場合、2進法デジタル時間階調方式は、重ね合わせ時間階調方式と比較して、アドレス回数を減らせることができる。例えば、図23(B)に示すように重ね合わせ時間階調方式の場合、16階調を表すのに15回のアドレスが必要である。一方、図23(A)に示すように2進法デジタル時間階調方式の場合、4回のアドレスで済む。そのため、表示画面の平均輝度が低く、一部のみが明るく表示されている場合に2進法デジタル時間階調方式に切り替えることで、一部明るい表示をしている領域はさらに明るい表示ができコントラストの高いメリハリのついた画像表示が可能となる。また、アドレス回数が減るため消費電力の低減にもつながる。
(実施の形態8)
本実施の形態において、平均輝度が低く、一部の領域のみ明るい場合に、電位とサブフレーム数の両方を変化させることにより、コントラストの高いメリハリのある表示を可能とする構成について説明する。
図24は、本発明の表示装置を表すブロック図である。アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換するアナログデジタル変換回路2401、デジタルビデオ信号を用いて1フレームの平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路2402、平均階調レベルによってサブフレーム数を増減させるサブフレーム数制御回路2403、サブフレーム数制御回路2403から出力された信号を駆動回路の入力仕様に変換するディスプレイコントローラ2404、ディスプレイコントローラ2404から出力された信号により画像を表示するディスプレイ2407、ディスプレイコントローラ2404からの出力信号の電位から平均輝度の高低によって電位を変動させる電位制御回路2406から構成される。なお、本実施形態でいうディスプレイ2407とは、少なくとも複数の画素が配置された表示部を有するものとし、さらに発光素子と、発光素子への電流の供給を制御する駆動用薄膜トランジスタと、スイッチング用薄膜トランジスタとを有していてもよい。例えば、図1の構成であってもよいものとする。
1フレーム平均階調計算回路2402で計算された平均階調レベルが任意のレベルより低いときはサブフレーム数制御回路2403によりサブフレーム数を減らし、電位制御回路2406は、ディスプレイ内部の陽極と陰極の電位差が大きくなるように電位を変える。
サブフレーム数が減少すると実施の形態6で述べたようにアドレス期間が減少するので、その分表示時間を長くできる。したがって、平均輝度が低く、画像表示のうち一部明るい表示をする際に明るい表示部分の輝度を高めることができる。さらに、電位制御回路2406により電圧が高くなるように設定されるので、一部明るい領域はよりいっそう明るく発光させることができる。なお、平均階調レベルが任意のレベルよりも高いときには、サブフレーム数を増大させることもできる。
本発明は、上記構成に限らず、電位制御回路2406は、ディスプレイコントローラ2404に組み込まれていてもよい。
また、本実施の形態において、平均輝度が高く画面全体が明るい表示をしているときには、実施の形態2で述べたように、各サブフレームの消去動作のタイミングを早めることで、サブフレームごとにある表示時間を狭め、画面全体の平均輝度を下げる。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、ディスプレイ2407内の発光素子にかかる電圧ストレスの期間を短くすることにより、発光素子の劣化も軽減できる。
上記構成とすることで、例えば、花火や刃物の一瞬の煌きの映像を表示する場合にコントラストの高いメリハリのある表示が可能となる。
(実施の形態9)
図25に、実施の形態8と異なる構成を示す。
アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換するアナログデジタル変換回路2401、デジタルビデオ信号の各画素の階調を1フレーム分全画面で平均化した平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路2402、平均階調レベルによってサブフレーム数を増減させるサブフレーム数制御回路2403、サブフレーム数制御回路2403から出力された信号を駆動回路の入力仕様に変換するディスプレイコントローラ2404、ディスプレイコントローラ2404から出力された信号により画像を表示するディスプレイ2407は、図24と同じ構成である。本実施形態では電位制御回路2406の変わりに、ディスプレイ2407の画面の平均輝度を測定する電流測定回路2508、電流測定回路2508の測定結果に応じて発光輝度を制御する電圧制御回路2506から構成される。なお、本実施形態でいうディスプレイ2407とは、少なくとも複数の画素が配置された表示部を有するものとし、さらに発光素子と、発光素子への電流の供給を制御する駆動用薄膜トランジスタと、スイッチング用薄膜トランジスタとを有していてもよい。例えば、図1の構成であってもよいものとする。
例えば、図4の発光素子404の対向電極から流れる電流を電流測定回路2508で測定し、その電流値からディスプレイ2407の平均輝度の情報を得て、その平均輝度の情報及び発光素子404の対向電極と電源線407間の電位差を元に電圧制御回路2506を制御して、図4における発光素子404の対向電極の電位を変動させる。
1フレーム平均階調計算回路2402で計算された平均階調レベルが任意のレベルより低いときはサブフレーム数制御回路2403によりサブフレーム数を減らし、電圧制御回路2506は、ディスプレイ内部の陽極と陰極の電位差が大きくなるように電位を変える。サブフレーム数が減少すると実施の形態6で述べたようにアドレス期間が減少するので、その分表示時間を長くできる。したがって、平均輝度が低く、画像表示のうち一部明るい表示をする際に明るい表示部分の輝度を高めることができる。さらに、電圧制御回路2506によりディスプレイ内部の陽極と陰極間の電圧が高くなるように設定されるので、一部明るい領域はよりいっそう明るく発光させることができる。
本発明は上記構成に限らず、電圧制御回路2506及び電流測定回路2508は、ディスプレイコントローラ2404に組み込まれていてもよい。
また、本実施の形態において、平均輝度が高く画面全体が明るい表示をしているときには、実施の形態2で述べたように、各サブフレームの消去動作のタイミングを早めることで、サブフレームごとにある表示時間を狭め、画面全体の平均輝度を下げる。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、ディスプレイ2407内の発光素子にかかる電圧ストレスを小さくできるため、発光素子の劣化も軽減できる。
上記構成とすることで、例えば、花火や刃物の一瞬の煌きの映像を表示する場合にコントラストの高いメリハリのある表示が可能となる。
(実施の形態10)
本実施形態において、平均輝度が低く、一部の領域のみ明るい場合に、電位及び時間階調方式を変化させることにより、コントラストの高いメリハリのある表示を可能とする構成について説明する。
図26は、本発明の表示装置を表すブロック図である。アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換するアナログデジタル変換回路2601、デジタルビデオ信号の各画素の階調を1フレーム分全画面で平均化した平均階調レベルを計算する1フレーム平均階調計算回路2602、平均階調レベルがある一定の値以下になると、重ね合せ時間階調から2進法デジタル時間階調に方式を変換する重ね合せ/2進法デジタル時間階調方式変換回路2603、重ね合せ/2進法デジタル時間階調方式変換回路2603から出力された信号を駆動回路の入力仕様に変換するディスプレイコントローラ2604、ディスプレイコントローラ2604から出力された信号により画像を表示するディスプレイ2607、ディスプレイコントローラ2604からの出力信号の電位を測定し、平均輝度の高低によって電位を変動させる電位制御回路2606から構成されるなお、本実施形態でいうディスプレイ2607とは、少なくとも複数の画素が配置された表示部を有するものとし、さらに発光素子と、発光素子への電流の供給を制御する駆動用薄膜トランジスタと、スイッチング用薄膜トランジスタとを有していてもよい。例えば、図1の構成であってもよいものとする。
通常の表示の際は重ね合わせ時間階調方式を用いており、実施の形態7で述べたように、視感度に合わせて各サブフレームの幅が設定されている。1フレーム平均階調計算回路2602で計算された平均階調レベルが任意のレベルより低い(平均輝度が低く、画面全体が暗く、一部のみ明るい表示をしている)ときに、重ね合せ/2進法デジタル時間階調方式変換回路2603により、重ね合せ時間階調変換方式を2進法デジタル時間階調方式に変換する。このように、平均階調レベルが任意のレベルより高いときには、重ね合せ時間階調方式を用いているので、動画を表示していても擬似輪郭の発生が抑制され、高精細な画像表示ができる。また、平均階調レベルが任意のレベルより低いときには、2進法デジタル時間階調方式を用いるため、1フレーム期間におけるアドレス期間が少なくでき、階調の高い明るい画素をより明るくすることができる。
2進法デジタル時間階調方式に変換された場合、電位制御回路によってディスプレイ2607内の発光素子にかかる電圧を高める。例えば、発光素子の陰極側の電位を下げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。また、発光素子の陽極側の電位を上げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。また、発光素子の陰極側の電位を下げると同時に陽極側の電位を上げ、発光素子の両極間にかかる電圧を高める。このように電位を制御することで、階調の高い画素をより高輝度で発光させ、ピーク輝度を高めることができる。ピーク輝度を高めることで画面表示にコントラストの高いメリハリをつけることができる。
上記のように、階調方式を変えつつ、さらに階調方式に合わせて電位も変動させることにより、ピーク輝度をさらに高めることができ、よりいっそうコントラストの高いメリハリのある画面表示が可能となる。
なお、本実施例において、平均階調レベルが任意のレベルより高く、画面全体が明るい表示をしているときには、実施の形態2で述べたように、各サブフレームの消去動作のタイミングを早めることで、サブフレームごとにある表示時間を狭め、画面全体の平均輝度を下げてもよい。その結果、画面表示の明るさを殆ど変えることなく、消費電力を低下させることができる。また、ディスプレイ2607内の発光素子にかかる電圧ストレスを小さくできるため、発光素子の劣化も軽減できる。
(実施の形態11)
本実施形態では、実施の形態1〜10で示した駆動方法で動作する表示パネルの構成について図27(a)、(b)を用いて説明する。
なお、図27(a)は、表示パネルを示す上面図、図27(b)は図27(a)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された信号線駆動回路1801、画素部1802、走査線駆動回路1806を有する。また、封止基板1804、シール材1805を有し、シール材1805で囲まれた内側は、空間1807になっている。
なお、配線1808は、走査線駆動回路1806及び信号線駆動回路1801に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1809からビデオ信号、クロック信号、スタート信号等を受け取る。FPC1809と表示パネルとの接合部上にはICチップ1819(メモリ回路や、バッファ回路などが形成された半導体チップ)がCOG(Chip On Glass)等で実装されている。なお、ここではFPCしか図示されていないが、このFPCにはプリント配線基盤(PWB)が取り付けられていても良い。
次に、断面構造について図27(b)を用いて説明する。基板1810上には画素部1802とその周辺駆動回路(走査線駆動回路1806及び信号線駆動回路1801)が形成されているが、ここでは、信号線駆動回路1801と、画素部1802が示されている。
なお、信号線駆動回路1801にはPチャネル型TFT1820とNチャネル型TFT1821とでCMOSを構成してもよい。なお、本実施例では、基板上に周辺駆動回路を一体形成した表示パネルを示すが、必ずしもその必要はなく、周辺駆動回路の全部若しくは一部をICチップなどに形成し、COGなどで実装しても良い。
また、画素部1802はスイッチング用TFT1811と、駆動用TFT1812とを含む画素を構成する複数の回路を有している。なお、駆動用TFT1812のソース電極又はドレイン電極は第1の電極1813と接続されている。また、第1の電極1813の端部を覆って絶縁物1814が形成されている。ここでは、ポジ型の感光性アクリル樹脂膜を用いることにより形成する。
後に形成する電極や有機化合物を含む発光層のカバレッジを良好なものとするため、絶縁物1814の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。例えば、絶縁物1814の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、絶縁物1814の上端部のみに曲率半径(0.2μm〜3μm)を有する曲面を持たせることが好ましい。また、絶縁物1814として、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができる。
第1の電極1813上には、有機化合物を含む層(電界発光層)1816、および第2の電極1817がそれぞれ形成されている。ここで、陽極として機能する第1の電極1813に用いる材料としては、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、ITO(インジウムスズ酸化物)膜、インジウム亜鉛酸化物(IZO)膜、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、Pt膜などの単層膜の他、窒化チタンとアルミニウムを主成分とする膜との積層、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造等を用いることができる。なお、積層構造とすると、配線としての抵抗も低く、良好なオーミックコンタクトがとれる。
また、有機化合物を含む層1816は、蒸着マスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法によって形成される。有機化合物を含む層1816には、元素周期表第4族金属錯体をその一部に用いることとし、その他、組み合わせて用いることのできる材料としては、低分子系材料であっても高分子系材料であっても良い。また、有機化合物を含む層に用いる材料としては、通常、有機化合物を単層もしくは積層で用いる場合が多いが、本実施の形態においては、有機化合物からなる膜の一部に無機化合物を用いる構成も含めることとする。さらに、公知の三重項材料を用いることも可能である。
さらに、有機化合物を含む層1816上に形成される第2の電極(陰極)1817に用いる材料としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF、またはCa)を用いればよい。なお、電界発光層1816で生じた光が第2の電極1817を透過させる場合には、第2の電極(陰極)1817として、膜厚を薄くした金属薄膜と、透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いるのが良い。
さらにシール材1805で封止基板1804を基板1810と貼り合わせることにより、基板1810、封止基板1804、およびシール材1805で囲まれた空間1807に発光素子1818が備えられた構造になっている。なお、空間1807には、不活性気体(窒素やアルゴン等)が充填される場合の他、シール材1805で充填される構成も含むものとする。
なお、シール材1805にはエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、これらの材料はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。また、封止基板1804に用いる材料としてガラス基板や石英基板の他、FRP(Fiberglass−Reinforced Plastics)、PVF(ポリビニルフロライド)、マイラー、ポリエステルまたはアクリル等からなるプラスチック基板を用いることができる。
以上のようにして、本発明の駆動方法で動作する表示パネルを得ることができる。
図27に示すように、信号線駆動回路1801、画素部1802、走査線駆動回路1806を基板上に一体形成することで、表示装置の低コスト化が図れる。また、信号線駆動回路1801、画素部1802、走査線駆動回路1806に用いられるトランジスタの半導体層にアモルファスシリコンを適用することでさらなる低コスト化を図ることができる。
なお、表示パネルの構成としては、図27(a)に示したように信号線駆動回路1801、画素部1802、及び走査線駆動回路1806を基板上に一体形成した構成に限られず、信号線駆動回路1801に相当する図28に示す信号線駆動回路1901をICチップ上に形成して、COG、TAB等で表示パネルに実装した構成としても良い。なお、図28の基板1900、画素部1902、走査線駆動回路1903、FPC1905、ICチップ1906、封止基板1908、シール材1909は図27(a)の基板1810、画素部1802、走査線駆動回路1806、FPC1809、ICチップ1819、封止基板1804、シール材1805に相当する。
つまり、駆動回路の高速動作が要求される信号線駆動回路のみを、COG等を用いてICチップ上に形成する。ICチップはシリコンウエハ等の半導体チップとすることで、より高速動作且つ低消費電力化を図れる。もちろん、信号線駆動回路の代わりに走査線駆動回路のみをICチップ上に形成して表示パネルに実装した構成としてもよい。
こうして作製した表示パネルは、本発明の駆動方法を用いているため、例えば、花火や刃物の一瞬の煌きの映像のような画面全体が暗く一部のみ明るい表示をする場合にコントラストの高いメリハリのある表示が可能となる。
さらに、発光素子1818に適用可能な発光素子の例を図29に示す。つまり、実施の形態1〜10で示した画素に適用可能な発光素子の構成について図29を用いて説明する。
基板2901の上に陽極2902、正孔注入材料からなる正孔注入層2903、その上に正孔輸送材料からなる正孔輸送層2904、発光層2905、電子輸送材料からなる電子輸送層2906、電子注入材料からなる電子注入層2907、そして陰極2908を積層させた素子構造である。ここで、発光層2905は、一種類の発光材料のみから形成されることもあるが、2種類以上の材料から形成されてもよい。また本発明の素子の構造は、この構造に限定されない。
また、図29で示した各機能層を積層した積層構造の他、高分子化合物を用いた素子、発光層に三重項励起状態から発光する三重項発光材料を利用した高効率素子など、バリエーションは多岐にわたる。ホールブロック層によってキャリヤの再結合領域を制御し、発光領域を二つの領域にわけることによって得られる白色発光素子なども応用可能である。
図29に示す本発明の素子作製方法は、まず、陽極2902(ITO)を有する基板2901に正孔注入材料、正孔輸送材料、発光材料を順に蒸着する。次に電子輸送材料、電子注入材料を蒸着し、最後に陰極2908を蒸着で形成する。
次に、正孔注入材料、正孔輸送材料、電子輸送材料、電子注入材料、発光材料として好適な材料を以下に列挙する。
正孔注入材料としては、有機化合物でればポルフィリン系の化合物や、フタロシアニン(以下「HPc」と記す)、銅フタロシアニン(以下「CuPc」と記す)などが有効である。また、使用する正孔輸送材料よりもイオン化ポテンシャルの値が小さく、かつ、正孔輸送機能をもつ材料であれば、これも正孔注入材料として使用できる。導電性高分子化合物に化学ドーピングを施した材料もあり、ポリスチレンスルホン酸(以下「PSS」と記す)をドープしたポリエチレンジオキシチオフェン(以下「PEDOT」と記す)や、ポリアニリンなどが挙げられる。また、絶縁体の高分子化合物も陽極の平坦化の点で有効であり、ポリイミド(以下「PI」と記す)がよく用いられる。さらに、無機化合物も用いられ、金や白金などの金属薄膜の他、酸化アルミニウム(以下「アルミナ」と記す)の超薄膜などがある。
正孔輸送材料として最も広く用いられているのは、芳香族アミン系(すなわち、ベンゼン環−窒素の結合を有するもの)の化合物である。広く用いられている材料として、4,4’−ビス(ジフェニルアミノ)−ビフェニル(以下、「TAD」と記す)や、その誘導体である4,4’−ビス[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニル−アミノ]−ビフェニル(以下、「TPD」と記す)、4,4’−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(以下、「α−NPD」と記す)がある。4,4’,4”−トリス(N,N− ジフェニルアミノ)トリフェニルアミン(以下、「TDATA」と記す)、4,4’,4”−トリス[N−(3−メチルフェニル)−N− フェニルアミノ]トリフェニルアミン(以下、「MTDATA」と記す)などのスターバースト型芳香族アミン化合物が挙げられる。
電子輸送材料としては、金属錯体がよく用いられ、先に述べたAlq、BAlq、トリス(4−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(以下、「Almq」と記す)、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]−キノリナト)ベリリウム(以下、「Bebq」と記す)などのキノリン骨格またはベンゾキノリン骨格を有する金属錯体などがある。また、ビス[2−(2−ヒドロキシフェニル)ベンゾオキサゾラト]亜鉛(以下、「Zn(BOX)」と記す)、ビス[2−(2−ヒドロキシフェニル)ベンゾチアゾラト]亜鉛(以下、「Zn(BTZ)」と記す)などのオキサゾール系、チアゾール系配位子を有する金属錯体もある。さらに、金属錯体以外にも、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(以下、「PBD」と記す)、OXD−7などのオキサジアゾール誘導体、TAZ、3−(4−tert−ブチルフェニル)−4−(4−エチルフェニル)−5−(4−ビフェニリル)−1、2、4−トリアゾール(以下、「p−EtTAZ」と記す)などのトリアゾール誘導体、バソフェナントロリン(以下、「BPhen」と記す)、BCPなどのフェナントロリン誘導体が電子輸送性を有する。
電子注入材料としては、上で述べた電子輸送材料を用いることができる。その他に、フッ化カルシウム、フッ化リチウム、フッ化セシウムなどの金属ハロゲン化物や、酸化リチウムなどのアルカリ金属酸化物のような絶縁体の、超薄膜がよく用いられる。また、リチウムアセチルアセトネート(以下、「Li(acac)」と記す)や8−キノリノラト−リチウム(以下、「Liq」と記す)などのアルカリ金属錯体も有効である。
発光材料としては、先に述べたAlq、Almq、BeBq、BAlq、Zn(BOX)、Zn(BTZ)などの金属錯体の他、各種蛍光色素が有効である。蛍光色素としては、青色の4,4’−ビス(2,2 − ジフェニル−ビニル)−ビフェニルや、赤橙色の4−(ジシアノメチレン)−2−メチル−6−(p−ジメチルアミノスチリル)−4H−ピランなどがある。また、三重項発光材料も可能であり、白金ないしはイリジウムを中心金属とする錯体が主体である。三重項発光材料として、トリス(2−フェニルピリジン)イリジウム、ビス(2−(4’−トリル)ピリジナト−N,C2’)アセチルアセトナトイリジウム(以下「acacIr(tpy)」と記す)、 2,3,7,8,12,13,17,18−オクタエチル−21H,23Hポルフィリン−白金などが知られている。
以上で述べたような各機能を有する材料を、各々組み合わせ、高信頼性の発光素子を作製することができる。
また、図30に示すように、図29とは逆の順番に基板上に層を形成した発光素子を用いることもできる。つまり、基板2901の上に陰極2908、電子注入材料からなる電子注入層2907、その上に電子輸送材料からなる電子輸送層2906、発光層2905、正孔輸送材料からなる正孔輸送層2904、正孔注入材料からなる正孔注入層2903、そして陽極2902を積層させた素子構造である。
また、発光素子は発光を取り出すために少なくとも陽極又は陰極の一方が透明であればよい。そして、基板上にTFT及び発光素子を形成し、基板とは逆側の面から発光を取り出す上面射出や、基板側の面から発光を取り出す下面射出や、基板側及び基板とは反対側の面から発光を取り出す両面射出構造の発光素子があり、本発明の画素構成はどの射出構造の発光素子にも適用することができる。
上面射出構造の発光素子について図31(a)を用いて説明する。
基板2800上に駆動用TFT2801が形成され、駆動用TFT2801のソース電極に接して第1の電極2802が形成され、その上に有機化合物を含む層2803と第2の電極2804が形成されている。
また、第1の電極2802は発光素子の陽極である。そして第2の電極2804は発光素子の陰極である。つまり、第1の電極2802と第2の電極2804とで有機化合物を含む層2803が挟まれているところが発光素子となる。
また、ここで、陽極として機能する第1の電極2802に用いる材料としては、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、Pt膜などの単層膜の他、窒化チタンとアルミニウムを主成分とする膜との積層、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造等を用いることができる。なお、積層構造とすると、配線としての抵抗も低く、良好なオーミックコンタクトがとれ、さらに陽極として機能させることができる。光を反射する金属膜を用いることで光を透過させない陽極を形成することができる。
また、陰極として機能する第2の電極2804に用いる材料としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF、またはCa)からなる金属薄膜と、透明導電膜(ITO(インジウムスズ酸化物)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いるのが良い。こうして薄い金属薄膜と、透明性を有する透明導電膜を用いることで光を透過させることが可能な陰極を形成することができる。
こうして、図31(a)の矢印に示すように発光素子からの光を上面に取り出すことが可能になる。つまり、図27の表示パネルに適用した場合には、封止基板1804側に光が射出することになる。従って上面射出構造の発光素子を表示装置に用いる場合には封止基板1804は光透過性を有する基板を用いる。
また、光学フィルムを設ける場合には、封止基板1804に光学フィルムを設ければよい。
なお、図4の画素構成の場合には、第1の電極2802を陰極として機能するMgAg、MgIn、AlLi等の仕事関数の小さい材料からなる金属膜を用いることができる。そして、第2の電極2804にはITO(インジウムスズ酸化物)膜、インジウム亜鉛酸化物(IZO)などの透明導電膜を用いることができる。よって、この構成によれば、上面射出の透過率を高くすることができる。
また、下面射出構造の発光素子について図31(b)を用いて説明する。射出構造以外は図31(a)と同じ構造の発光素子であるため同じ符号を用いて説明する。
ここで、陽極として機能する第1の電極2802に用いる材料としては、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、ITO(インジウムスズ酸化物)膜、インジウム亜鉛酸化物(IZO)膜などの透明導電膜を用いることができる。透明性を有する透明導電膜を用いることで光を透過させることが可能な陽極を形成することができる。
また、陰極として機能する第2の電極2804に用いる材料としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF、またはCa)からなる金属膜を用いることができる。こうして、光を反射する金属膜を用いることで光が透過しない陰極を形成することができる。
こうして、図31(b)の矢印に示すように発光素子からの光を下面に取り出すことが可能になる。つまり、図27の表示パネルに適用した場合には、基板1810側に光が射出することになる。従って下面射出構造の発光素子を表示装置に用いる場合には基板1810は光透過性を有する基板を用いる。
また、光学フィルムを設ける場合には、基板1810に光学フィルムを設ければよい。
両面射出構造の発光素子について図31(c)を用いて説明する。射出構造以外は図31(a)と同じ構造の発光素子であるため同じ符号を用いて説明する。
ここで、陽極として機能する第1の電極2802に用いる材料としては、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、ITO(インジウムスズ酸化物)膜、インジウム亜鉛酸化物(IZO)膜などの透明導電膜を用いることができる。透明性を有する透明導電膜を用いることで光を透過させることが可能な陽極を形成することができる。
また、陰極として機能する第2の電極2804に用いる材料としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF、またはCa)からなる金属薄膜と、透明導電膜(ITO(インジウムスズ酸化物)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いるのが良い。こうして薄い金属薄膜と、透明性を有する透明導電膜を用いることで光を透過させることが可能な陰極を形成することができる。
こうして、図31(c)の矢印に示すように発光素子からの光を両面に取り出すことが可能になる。つまり、図27の表示パネルに適用した場合には、基板1810側と封止基板1804側に光が射出することになる。従って両面射出構造の発光素子を表示装置に用いる場合には基板1810および封止基板1804は、ともに光透過性を有する基板を用いる。
また、光学フィルムを設ける場合には、基板1810および封止基板1804の両方に光学フィルムを設ければよい。
こうして作製した表示パネルは、本発明の駆動方法を用いているため、例えば、花火や刃物の一瞬の煌きの映像のような画面全体が暗く一部のみ明るい表示をする場合にコントラストの高いメリハリのある表示が可能となる。
(実施の形態12)
本発明は様々な電子機器に適用することができる。具体的には電子機器の表示部に適用することができる。そのような電子機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、コンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機又は電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。
図32(A)はディスプレイであり、筐体15001、支持台15002、表示部15003、スピーカー部15004、ビデオ入力端子15005等を含む。本発明を表示部15003に用いたディスプレイは、平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。なお、ディスプレイは、パーソナルコンピュータ用、TV放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用表示装置が含まれる。
図32(B)はカメラであり、本体15101、表示部15102、受像部15103、操作キー15104、外部接続ポート15105、シャッター15106等を含む。本発明を表示部15102に用いたカメラは平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(C)はコンピュータであり、本体15201、筐体15202、表示部15203、キーボード15204、外部接続ポート15205、ポインティングマウス15206等を含む。本発明を表示部15203に用いたコンピュータは平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(D)はモバイルコンピュータであり、本体15301、表示部15302、スイッチ15303、操作キー15304、赤外線ポート15305等を含む。本発明を表示部15302に用いたモバイルコンピュータは平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体15401、筐体15402、表示部A15403、表示部B15404、記録媒体(DVD等)読み込み部15405、操作キー15406、スピーカー部15407等を含む。表示部A15403は主として画像情報を表示し、表示部B15404は主として文字情報を表示することができる。本発明を表示部A15403や表示部B15404に用いた画像再生装置は平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(F)はゴーグル型ディスプレイであり、本体15501、表示部15502、アーム部15503を含む。本発明を表示部15502に用いたゴーグル型ディスプレイは平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(G)はビデオカメラであり、本体15601、表示部15602、筐体15603、外部接続ポート15604、リモコン受信部15605、受像部15606、バッテリー15607、音声入力部15608、操作キー15609等を含む。本発明を表示部15602に用いたビデオカメラは平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
図32(H)は携帯電話機であり、本体15701、筐体15702、表示部15703、音声入力部15704、音声出力部15705、操作キー15706、外部接続ポート15707、アンテナ15708等を含む。本発明を表示部15703に用いた携帯電話は平均輝度が低く、一部で高階調が表示されている場合のピーク輝度を高め、コントラストの高いメリハリのついた画像表示ができる。
このように本発明は、あらゆる電子機器に適用することが可能である。
本発明に係るEL駆動方法に用いる表示装置の製造方法について、図面を参照して以下に説明する。本実施例では、画素が配列されて構成される表示部と、走査信号と映像信号を制御する駆動回路とを薄膜トランジスタで構成する態様について例示する。
図33(A)で示す半導体層510、511はシリコン若しくはシリコンを成分とする結晶性の半導体で形成することが好ましい。例えば、シリコン膜をレーザアニールなどによって結晶化された多結晶シリコン、単結晶シリコンなどが適用される。その他にも半導体特性を示す、金属酸化物半導体、アモルファスシリコン、有機半導体を適用することも可能である。
いずれにしても、最初に形成する半導体層は絶縁表面を有する基板の全面若しくは一部(トランジスタの半導体領域として確定されるよりも広い面積を有する領域)に形成する。そして、フォトリソグラフィー技術によって、半導体層上にマスクパターンを形成する。そのマスクパターンを利用して半導体層をエッチング処理することにより、TFTのソース及びドレイン領域及びチャネル形成領域を含む特定形状の島状の半導体層510、511を形成する。その半導体層510、511はレイアウトの適切さを考慮して決められる。
図33(A)で示す半導体層510、511を形成するためのフォトマスクは、図33(B)に示すマスクパターン530を備えている。このマスクパターン530は、フォトリソグラフィー工程で用いるレジストがポジ型かネガ型かで異なる。ポジ型レジストを用いる場合には、図33(B)で示すマスクパターン530は、遮光部として作製される。マスクパターン530は、多角形の頂部を削除した形状となっている。また、屈曲部においては、その角部が直角とならないように複数段に渡って屈曲する形状となっている。このフォトマスクのパターンは、例えば、パターンの角部であって(直角三角形)の一辺が10μm以下の大きさに角部を削除している。
図33(B)で示すマスクパターン530は、その形状が、図33(A)で示す半導体層510、511に反映される。その場合、マスクパターン530と相似の形状が転写されても良いが、マスクパターン530の角部がさらに丸みを帯びるように転写されていても良い。すなわち、マスクパターン530よりもさらにパターン形状をなめらかにした、丸め部を設けても良い。
半導体層510、511の上には、酸化シリコン若しくは窒化シリコンを少なくとも一部に含む絶縁層が形成される。この絶縁層を形成する目的の一つはゲート絶縁層である。そして、図34(A)で示すように、半導体層と一部が重なるようにゲート配線512、513、514を形成する。ゲート配線512は半導体層510に対応して形成される。ゲート配線513は半導体層510、511に対応して形成される。また、ゲート配線514は半導体層510、511に対応して形成される。ゲート配線は、金属層又は導電性の高い半導体層を成膜し、フォトリソグラフィー技術によってその形状を絶縁層上に作り込む。
このゲート配線を形成するためのフォトマスクは、図34(B)に示すマスクパターン531を備えている。このマスクパターン531は、角部であって、(直角三角形)の一辺が10μm以下、または、配線の線幅の1/2以下で、線幅の1/5以上の長さに角部を削除している。図34(B)で示すマスクパターン531は、その形状が、図34(A)で示すゲート配線512、513、514に反映される。その場合、マスクパターン531と相似の形状が転写されても良いが、マスクパターン531の角部がさらに丸みを帯びるように転写されていても良い。すなわち、マスクパターン531よりもさらにパターン形状をなめらかにした、丸め部を設けても良い。すなわち、ゲート配線512、513、514の角部は、線幅の1/2以下であって線幅の1/5以上の長さにコーナー部に丸みをおびるパターンを有せしめる。即ち、上面からみたコーナー部におけるゲート配線512、513、514の外周は曲線を形成するようにする。具体的には、コーナー部の外周縁に丸みを帯びさせるため、コーナー部を挟む互いに垂直な2つの第1直線と、これら2つの第1直線と約45度の角度をなす一つの第2直線と、で形成される直角2等辺三角形の部分に相当するゲート配線の一部を除去する。除去すると新たに2つの鈍角の部分がゲート配線に形成されるが、マスク設計や、エッチング条件を適宜設定することにより、各鈍角部分に第1直線と第2直線との両方に接する曲線が形成されるようにゲート配線をエッチングすることが好ましい。なお、前記直角2等辺三角形の互いに等しい2辺の長さは、配線幅の1/5以上1/2以下とする。またコーナー部の内周についても、コーナー部の外周に沿って内周が丸みを帯びるよう形成する。このようなゲート配線は、凸部はプラズマによるドライエッチの際、異常放電による微粉の発生を抑え、凹部では、洗浄のときに、たとえできた微粉であっても、それが角に集まりやすいのを洗い流す結果として歩留まり向上が甚だしく期待できるという効果を有する。
層間絶縁層はゲート配線512、513、514の次に形成される層である。層間絶縁層は酸化シリコンなどの無機絶縁材料若しくポリイミドやアクリル樹脂などを使った有機絶材料を使って形成する。この層間絶縁層とゲート配線512、513、514の間には窒化シリコン若しくは窒化酸化シリコンなどの絶縁層を介在させても良い。また、層間絶縁層上にも窒化シリコン若しくは窒化酸化シリコンなどの絶縁層を設けても良い。この絶縁層は、外因性の金属イオンや水分などTFTにとっては良くない不純物により半導体層やゲート絶縁層を汚染するのを防ぐことができる。
層間絶縁層には所定の位置に開孔が形成されている。例えば、下層にあるゲート配線や半導体層に対応して設けられる。金属若しくは金属化合物の一層若しくは複数層で形成される配線層は、フォトリソグラフィー技術によってマスクパターンが形成され、エッチング加工により所定のパターンに形成される。そして、図35(A)で示すように、半導体層と一部が重なるように配線515〜520を形成する。配線はある特定の素子間を連結する。配線は特定の素子と素子の間を直線で結ぶのではなく、レイアウトの制約上屈曲部が含まれる。また、コンタクト部やその他の領域において配線幅が変化する。コンタクト部では、コンタクトホールが配線幅と同等若しくは大きい場合には、その部分で配線幅が広がるように変化する。
この配線515〜520を形成するためのフォトマスクは、図35(B)に示すマスクパターン532を備えている。この場合においても、配線は、L字形に折れ曲がった各コーナー部であって直角三角形の一辺が10μm以下、または、配線の線幅の1/2以下で、線幅の1/5以上の長さに角部を削除し、コーナー部を丸みをおびるパターンを有せしめる。即ち、上面からみたコーナー部における配線の外周は曲線を形成するようにする。具体的には、コーナー部の外周縁に丸みを帯びさせるため、コーナー部を挟む互いに垂直な2つの第1直線と、これら2つの第1直線と約45度の角度をなす一つの第2直線と、で形成される直角2等辺三角形の部分に相当する配線の一部を除去する。除去すると新たに2つの鈍角の部分が配線に形成されるが、マスク設計や、エッチング条件を適宜設定することにより、各鈍角部分に第1直線と第2直線との両方に接する曲線が形成されるように配線をエッチングすることが好ましい。なお、前記直角2等辺三角形の互いに等しい2辺の長さは、配線幅の1/5以上1/2以下とする。またコーナー部の内周についても、コーナー部の外周に沿って内周が丸みを帯びるよう形成する。このような配線は、凸部はプラズマによるドライエッチの際、異常放電による微粉の発生を抑え、凹部では、洗浄のときに、たとえできた微粉であっても、それが角に集まりやすいのを洗い流す結果として歩留まり向上が甚だしく期待できるという効果を有する。配線の角部がラウンドをとることにより、電気的にも伝導させることが期待できる。また、多数の平行配線では、ゴミを洗い流すのにはきわめて好都合である。さらに、図35(A)には、Nチャネル型トランジスタ521〜524、Pチャネル型トランジスタ525、526が形成されている。Nチャネル型トランジスタ523とPチャネル型トランジスタ525及びNチャネル型トランジスタ524とPチャネル型トランジスタ526はインバータ527、528を構成している。なお、この6つのトランジスタを含む回路はSRAMを形成している。これらのトランジスタの上層には、窒化シリコンや酸化シリコンなどの絶縁層が形成されていてもよい。
なお、本実施例は上記実施の形態と自由に組み合わせて行うことができる。
本実施例では、本発明の表示装置を構成するTFTの構造について説明する。本実施例では、TFTの半導体層にアモルファスシリコン(a−Si:H)膜を用いた場合について説明する。図36にはトップゲートのTFT、図37及び図38にはボトムゲートのTFTの場合について示す。
アモルファスシリコンを半導体層に用いたトップゲート構造のTFTの断面を図36(A)に示す。図36(A)に示すように、基板3801上に下地膜3802が形成されている。さらに下地膜3802上に画素電極3803が形成されている。また、画素電極3803と同層に同じ材料からなる第1の電極3804が形成されている。
基板はガラス基板、石英基板、セラミック基板などを用いることができる。また、下地膜3802としては、窒化アルミ(AlN)や酸化珪素(SiO)、酸化窒化珪素(SiO)などの単層やこれらの積層を用いることができる。
また、下地膜3802上に配線3805及び配線3806が形成され、画素電極3803の端部が配線3805で覆われている。配線3805及び配線3806の上部にN型の導電型を有するN型半導体層3807及びN型半導体層3808が形成されている。また、配線3806と配線3805の間であって、下地膜3802上に半導体層3809が形成されている。そして、半導体層3809の一部はN型半導体層3807及びN型半導体層3808上にまで延長されている。なお、この半導体層はアモルファスシリコン(a−Si:H)、微結晶半導体(μ−Si:H)等の非結晶性を有する半導体膜で形成されている。また、半導体層3809上にゲート絶縁膜3810が形成されている。また、ゲート絶縁膜3810と同層の同じ材料からなる絶縁膜3811が第1の電極3804上にも形成されている。なお、ゲート絶縁膜3810としては酸化珪素膜や窒化珪素膜などが用いられる。
また、ゲート絶縁膜3810上に、ゲート電極3812が形成されている。また、ゲート電極と同層に同じ材料でなる第2の電極3813が第1の電極3804上に絶縁膜3811を介して形成されている。第1の電極3804及び第2の電極3813で絶縁膜3811を挟まれた容量素子3819が形成されている。また、画素電極3803の端部、駆動TFT3818及び容量素子3819を覆い、層間絶縁膜3814が形成されている。
層間絶縁膜3814及びその開口部に位置する画素電極3803上に有機化合物を含む層3815及び対向電極3816が形成され、画素電極3803と対向電極3816とで有機化合物を含む層3815が挟まれた領域では発光素子3817が形成されている。
また、図36(A)に示す第1の電極3804を図36(B)に示すように第1の電極3820で形成してもよい。第1の電極3820は配線3805及び3806と同層の同一材料で形成されている。
また、アモルファスシリコンを半導体層に用いたボトムゲート構造のTFTを用いた表示装置のパネルの部分断面を図37に示す。
基板3901上に下地膜3902が形成されている。さらに下地膜3902上にゲート電極3903が形成されている。また、ゲート電極と同層に同じ材料からなる第1の電極3904が形成されている。ゲート電極3903の材料にはリンが添加された多結晶シリコンを用いることができる。多結晶シリコンの他に、金属とシリコンの化合物であるシリサイドでもよい。
また、ゲート電極3903及び第1の電極3904を覆うようにゲート絶縁膜3905が形成されている。ゲート絶縁膜3905としては酸化珪素膜や窒化珪素膜などが用いられる。
また、ゲート絶縁膜3905上に、半導体層3906が形成されている。また、半導体層3906と同層に同じ材料からなる半導体層3907が形成されている。
基板はガラス基板、石英基板、セラミック基板などを用いることができる。また、下地膜3902としては、窒化アルミ(AlN)や酸化珪素(SiO)、酸化窒化珪素(SiO)などの単層やこれらの積層を用いることができる。
半導体層3906上にはN型の導電性を有するN型半導体層3908、3909が形成され、半導体層3907上にはN型半導体層3910が形成されている。
N型半導体層3908、3909上にはそれぞれ配線3911、3912が形成され、N型半導体層3910上には配線3911及び3912と同層の同一材料からなる導電層3913が形成されている。
半導体層3907、N型半導体層3910及び導電層3913からなる第2の電極が構成される。なお、この第2の電極と第1の電極3904でゲート絶縁膜3905を挟み込んだ構造の容量素子3920が形成されている。
また、配線3911の一方の端部は延在し、その延在した配線3911上部に接して画素電極3914が形成されている。
また、画素電極3914の端部、駆動TFT3919及び容量素子3920を覆うように層間絶縁膜3915が形成されている。
画素電極3914及び層間絶縁膜3915上には有機化合物を含む層3916及び対向電極3917が形成され、画素電極3914と対向電極3917とで有機化合物を含む層3916が挟まれた領域では発光素子3918が形成されている。
容量素子の第2の電極の一部となる半導体層3907及びN型半導体層3910は設けなくてもよい。つまり第2の電極は導電層3913とし、第1の電極3904と導電層3913でゲート絶縁膜が挟まれた構造の容量素子としてもよい。
なお、図37(A)において、配線3911を形成する前に画素電極3914を形成することで、図37(B)に示すような、画素電極3914からなる第2の電極3921と第1の電極3904でゲート絶縁膜3905が挟まれた構造の容量素子3922を形成することができる。
なお、図37では、逆スタガ型のチャネルエッチ構造のTFTについて示したが、もちろんチャネル保護構造のTFTでもよい。チャネル保護構造のTFTの場合について、図38(A)、(B)を用いて説明する。
図38(A)に示すチャネル保護型構造のTFTは図37(A)に示したチャネルエッチ構造の駆動TFT3919の半導体層3906のチャネルが形成される領域上にエッチングのマスクとなる絶縁物4025が設けられている点が異なり、他の共通しているところは共通の符号を用いている。
また、同様に、図38(B)に示すチャネル保護型構造のTFTは図37(B)に示したチャネルエッチ構造の駆動TFT3919の半導体層3906のチャネルが形成される領域上にエッチングのマスクとなる絶縁物4025が設けられている点が異なり、他の共通しているところは共通の符号を用いている。
本発明の画素を構成するTFTの半導体層(チャネル形成領域やソース領域やドレイン領域など)に非晶質半導体膜を用いることで、製造コストを削減することができる。
なお、本発明の画素構成の適用することができるTFTの構造や、容量素子の構造は上述した構成に限られず、さまざまな構成のTFTの構造や、容量素子の構造のものを用いることができる。
例えば、本実施例では、TFTの半導体層にアモルファスシリコン(a−Si:H)膜を用いた場合について説明したが、これに限定されない。半導体層にポリシリコン(p−Si)膜を用いてもよい。
なお、本実施例は、実施形態1〜12、実施例1と自由に組み合わせて実施することが可能である。
本発明の画素構成を有する表示装置を説明する図。 本発明の線順次方式の信号線駆動回路を示す図。 本発明の点順次方式の信号線駆動回路を示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素構成の上面図。 本発明の一画素構成を示す図。 本発明の画素構成を有する画素部の上面図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の画素構成を示す図。 本発明の画素回路の駆動電圧波形を示す図。 本発明の画素回路の駆動電圧波形を示す図。 本発明の画素回路の駆動電圧波形を示す図。 本発明の画素回路の駆動電圧波形を示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置のタイミングチャートを示す図。 本発明の主要な構成を示すブロック図。 本発明の主要な構成を示すブロック図。 本発明の主要な構成を示すブロック図。 本発明が適用される表示パネルの構成を説明する図。 本発明が適用される表示パネルの構成を説明する図。 本発明の画素構成を有する表示装置に適用可能な発光素子の例を示す図。 本発明の画素構成を有する表示装置に適用可能な発光素子の例を示す図。 発光素子の射出構造を説明する図。 本発明が適用される電子機器を説明する図。 本発明の半導体装置の構成を示す図。 本発明の半導体装置の構成を示す図。 本発明の半導体装置の構成を示す図。 本発明の表示装置を構成するTFTの構造を示す図。 本発明の表示装置を構成するTFTの構造を示す図。 本発明の表示装置を構成するTFTの構造を示す図。 従来の画素構成を説明する図。
符号の説明
101 信号線駆動回路
102 走査線駆動回路
103 画素部
104 画素
107 電源線
201 パルス出力回路
202 ラッチ回路
203 ラッチ回路
215 フリップフロップ回路(FF)
301 パルス出力回路
302 スイッチ群
314 フリップフロップ回路(FF)
401 駆動用TFT
402 スイッチング用TFT
403 容量素子
404 発光素子
405 走査線
406 信号線
407 電源線
408 対向電極
2401 アナログデジタル変換回路
2402 フレーム平均階調計算回路
2403 サブフレーム数制御回路
2404 ディスプレイコントローラ
2406 電位制御回路
2407 ディスプレイ
2506 電圧制御回路
2508 電流測定回路
2601 アナログデジタル変換回路
2602 フレーム平均階調計算回路
2603 重ね合わせ/2進法デジタル時間階調方式変換回路
2604 ディスプレイコントローラ
2606 電位制御回路
2607 ディスプレイ

Claims (4)

  1. アナログビデオ信号をデジタルビデオ信号に変換する機能を有する第1の回路と、
    前記第1の回路に電気的に接続され、1フレームの平均階調レベルを計算する機能を有する第2の回路と、
    前記第2の回路に電気的に接続され、前記平均階調レベルに応じて、重ね合せ時間階調方式又は2進法デジタル時間階調方式に階調方式を変える機能を有する第3の回路と、
    前記平均階調レベルに応じて、発光素子の一対の電極間にかかる電圧を変える機能を有する第4の回路とを有し、
    前記平均階調レベルが所定の値よりも低くなったときに、前記重ね合せ時間階調方式から前記2進法デジタル時間階調方式に変更することを特徴とする表示装置。
  2. 請求項1において、
    前記平均階調レベルが所定の値よりも高くなったときに、前記発光素子の一対の電極間にかかる電圧を低めることを特徴とする表示装置。
  3. 請求項1又は請求項において、
    前記平均階調レベルが所定の値よりも低くなったときに、前記発光素子の一対の電極間にかかる電圧を高めることを特徴とする表示装置。
  4. 請求項1乃至請求項のいずれか一に記載の表示装置と、操作キーとを備えた電子機器。
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