JPH11305317A

JPH11305317A - カメラ

Info

Publication number: JPH11305317A
Application number: JP10115489A
Authority: JP
Inventors: Hisaaki Ishimaru; 寿明石丸; Hiroshi Yamada; 浩山田
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1998-04-24
Filing date: 1998-04-24
Publication date: 1999-11-05
Also published as: CN1188744C; CN1233770A; HK1022958A1; US6148154A

Abstract

(57)【要約】【課題】液晶表示装置を見るだけでカメラの動作に異常
があったことを確実に判断できるカメラを提供する。【解決手段】透過率が可変のＬＣＤ４を有するカメラに
おいて、カメラの異常を検出する動作異常検出手段１０
と、レリーズ信号待機状態ではＬＣＤ４の液晶を透過状
態にし、カメラの異常が検出された際にはＬＣＤ４の液
晶透過率を変更するＣＰＵ１とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置（以
下、ＬＣＤと呼ぶ）を有するカメラに関する。

【０００２】

【従来の技術】カメラのファインダ内の表示に液晶を用
いることは従来から提案されている。このようなＬＣＤ
では、ＡＦのターゲットマークや各種モードの表示、パ
ノラマやノーマル等の画角の切替えの表示などが行われ
る。液晶の種類としては、いわゆるゲスト・ホストＬＣ
ＤやＴＮ（ツイステッドネマチック）型ＬＣＤ等のポジ
ティブ・タイプのＬＣＤが従来より広範に使用されてい
る。

【０００３】また、最近では、特開平５−１６５０１７
号公報に開示されているように、高分子分散型液晶をカ
メラのファインダ内ＬＣＤに使用することが提案されて
いる。この公報に開示されている高分子分散型液晶は、
電圧の印加時に非透過になり、非印加時には透過にな
る、いわゆるポジティブ・タイプの液晶である。一方、
電圧の印加時に透過になり、非印加時には非透過にな
る、いわゆるネガティブ・タイプの液晶も知られてい
る。

【０００４】このような高分子分散型液晶によるＬＣＤ
は、散乱の度合いが大きいので、カメラのファインダに
使用すると瞳に到達する光線が非常に小さくなり、ＴＮ
型やゲストホスト型に比較しても、コントラストの大き
いファインダを構成することが可能である。また、従来
からあるＴＮ型のＬＣＤにおいてもネガティブ・タイプ
やポジティブ・タイプがあり、カメラのファインダに使
用できる液晶の種類も近年豊富になっている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た液晶表示装置を有する従来のカメラでは、カメラの動
作に異常があっても液晶表示は変わらないので、ユーザ
は液晶表示装置を見ていてカメラの動作に異常があった
ことを判断できなかった。

【０００６】本発明のカメラはこのような課題に着目し
てなされたものであり、その目的とするところは、液晶
表示装置を見るだけでカメラの動作に異常があったこと
を確実に判断できるカメラを提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明に係るカメラは、透過率が可変の液晶
表示装置を有するカメラにおいて、カメラ動作の異常を
検出する検出手段と、レリーズ信号待機状態では上記液
晶表示装置の液晶を透過状態にし、カメラ動作に異常が
検出された際には上記液晶表示装置の液晶透過率を変更
する液晶制御手段とを具備する。

【０００８】また、第２の発明に係るカメラは、第１の
発明に係るカメラにおいて、上記液晶表示装置は、液晶
透過率を周期的に変更する。また、第３の発明に係るカ
メラは、第１又は第２の発明に係るカメラにおいて、上
記カメラは、測光手段、ストロボ発光手段、又は測距手
段の少なくとも１つを有していて、前記検出手段は、こ
の測光手段、ストロボ発光手段、又は測距手段の少なく
とも１つの前面に障害物があるか否かを検出する。ま
た、第４の発明に係るカメラは、第１〜第３のいずれか
一つに記載のカメラにおいて、上記検出手段は、ストロ
ボが押し下げられたか否かを検出する。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態を詳細に説明する。図１は本発明の一実施形態
に係るカメラの概念図である。図１において、ＣＰＵ１
は、カメラの各種の動作を制御するものであり、内部に
はタイマ手段２が設けられている。このＣＰＵ１には、
スイッチ手段としてのパワー・スイッチ（バリア・スイ
ッチ）７、レリーズスイッチ（レリーズＳＷ）８、指か
かり検出手段９、動作異常検出手段１０、セルフモード
スイッチ（セルフモードＳＷ）１１、バッテリチェック
手段１２、アトブタスイッチ（アトブタＳＷ）１３、シ
ャッタ手段６、ポップアップスイッチ（ポップアップＳ
Ｗ）８１、ＥＥＰＲＯＭ１４、パノラマスイッチ（パノ
ラマＳＷ）５９などが接続されている。さらに、ＣＰＵ
１にはＬＣＤ駆動手段５を介してファインダ３が接続さ
れている。このファインダ３内にはＬＣＤ（以下、Ｆ内
ＬＣＤと呼ぶ）４が設けられている。

【００１０】本実施形態では、上記したユーザからの各
種の入力や、指かかり等の検出結果に応じて、ＣＰＵ１
の制御を基にＦ内ＬＣＤ４の透過率を変更することによ
り、表示をブラックアウト（Ｆ内ＬＣＤ４を非透過状態
にする）して各種の表示や警告を行うことを特徴として
いる。例えば、１）パワー・スイッチ７のオンに同期して、Ｆ内ＬＣ
Ｄ４をブラックアウトから透過状態にし、パワースイッ
チ７がオフ、又は所定時間経過したらブラックアウト表
示にする。これによって、ユーザは、Ｆ内ＬＣＤ４を見
るだけで撮影可能状態と撮影不能状態とを判断すること
ができる。２）露出が行われるときにＦ内ＬＣＤ４の表示をブラ
ックアウトにする。これによって、ユーザは、Ｆ内ＬＣ
Ｄ４を見るだけで露出が行われたことがわかる。３）測距手段や、測光手段、ストロボ手段に障害物と
してのユーザの指がかかって正常な測距、測光、ストロ
ボ動作ができないことを指かかり検出手段９によって検
出すると、Ｆ内ＬＣＤ４の表示をブラックアウトし、ス
トロボ手段がユーザによって押し下げられたことをポッ
プアップスイッチ８１によって検出した時も、Ｆ内ＬＣ
Ｄ４の表示をブラックアウトにする。あるいは、液晶透
過率を周期的に変更する。これによって、ユーザは、Ｆ
内ＬＣＤ４を見るだけでカメラに指がかかっていること
がわかるとともに、ストロボ手段が押し下げられたこと
がわかる。４）セルフモードスイッチ１１を操作してカメラをセ
ルフモードにしたときに、Ｆ内ＬＣＤ４の表示をブラッ
クアウトにする。これによってユーザは、Ｆ内ＬＣＤ４
を見るだけで通常の露出状態でないことがわかる。５）バッテリチェック手段１２によって電池電圧を検
出し、電池電圧が所定の電圧よりも低い場合にはＦ内Ｌ
ＣＤ４の表示をブラックアウトにする。これによって、
ユーザはＦ内ＬＣＤ４を見るだけで電源がなくなりつつ
あることを知ることができる。６）レリーズスイッチ８に同期してＦ内ＬＣＤ４の表
示をブラックアウトにする。これによってユーザは、撮
影が行われたか否かを判断することができる。７）動作異常検出手段１０によりカメラの異常動作が
検出されて正常なカメラ動作を保証できないときに、レ
リーズスイッチ８の受け付けを禁止するとともに、Ｆ内
ＬＣＤ４をブラックアウトするようにする。これによっ
てユーザは、Ｆ内ＬＣＤ４を見るだけでカメラが異常で
あることがわかる。８）カメラの種々の動作、例えば、アトブタスイッチ
１３が閉じられてオートロード動作を行っているとき
に、レリーズスイッチ８の受け付けを禁止するととも
に、Ｆ内ＬＣＤ４の表示をブラックアウトにする。これ
によってユーザは、Ｆ内ＬＣＤ４を見るだけで露出可能
でないことがわかる。また、ユーザが後述するパノラマ
スイッチ５９を操作したときには、画面サイズを変更し
て変更後の画面を透過にし、それ以外の部分を非透過に
することにより、ユーザはＦ内ＬＣＤ４を見るだけでパ
ノラマ表示がなされたことがわかる。

【００１１】図２（Ａ）は本実施形態に係るカメラ１０
０の正面図であり、図２（Ｂ）はカメラの１００の上面
図である。カメラ前面には、その中央上部にＡＦ窓５
３、ファインダ５４、測光窓５５、セルフＬＥＤ５２が
設けられており、かつ、それらの下部にはカメラの光学
系を収納している繰り出し可能な鏡筒５１が設けられて
いる。また、正面左側にはバリア５０が設けられてい
る。また、カメラ上面の中央には外部液晶表示部７０が
設けられており、日付や、各種のカメラモード、駒数な
どを表示可能である。また、カメラ正面から見て上面左
側には、レリーズＳＷ５８やズームＳＷ５７が設けら
れ、上面右側には、ストロボ発光部を内蔵したポップア
ップ部５６が設けられている。さらに、カメラの後部に
は、スライド式のパノラマＳＷ５９が設けられている。

【００１２】以下に、上記した指かかり検出手段９によ
る指かかり検出の詳細について説明する。図３はカメラ
の斜視図において、ユーザがセルフＬＥＤ５２からの光
を指で遮ったときのようすを示しており、指により遮ら
れた光は測光窓５５から入射される。測光窓５５から入
射された光は図４（Ａ）に示すように、集光レンズ６１
により集光されて測光センサ６２により検出される。測
光センサ６２は図４（Ｂ）に示すように、通常の測光を
行なう測光部６２−１と、指かかり検出用受光部６２−
２とから構成される。セルフＬＥＤ５２の代わりに赤外
ＬＥＤを用いても良い。

【００１３】図５（Ａ）は指かかり検出手段９の回路構
成を示す図である。セルフＬＥＤ５２はＣＰＵ１からの
信号ＳLED により発光される。図５（Ｂ）はこの信号Ｓ
LEDの波形を示している。指かかりがない場合には、指
かかり検出用受光部６２−２には光が入射されないの
で、この受光部６２−２からＣＰＵ１のＡ／Ｄ変換部６
３に入力される信号ＡＤ０の波形は図５（Ｂ）に示すよ
うになる。一方、指かかりがあった場合には、指６０に
より遮られたセルフＬＥＤ５２からの光が指かかり検出
用受光部６２−２に入射されるので、ＣＰＵ１のＡ／Ｄ
変換部６３に入力される信号ＡＤ０の波形は図５（Ｃ）
に示すようなものになる。このようにして、指かかりが
検出される。

【００１４】図６は指かかり検出の変形例を説明するた
めの図であり、指かかり検出のための赤外ＬＥＤ７０と
受光部７１とがポップアップ部５６に設けられている。
ユーザの指６０’が赤外ＬＥＤ７０からの光を遮った場
合には当該光は受光部７１に入射されて検出される。検
出の詳細は、前記したセルフＬＥＤ５２からの光を遮っ
た場合の実施形態と同様であるので、ここでの説明は省
略する。

【００１５】図７はストロボ発光動作中にユーザがポッ
プアップ部５６を押し下げてしまったことを検出する方
法を説明するための図である。図７に示すように、カメ
ラ１００の前部には、ポップアップＳＷ８１と金属切片
８０とが設けられており、ユーザがポップアップ部５６
を押し下げた場合にはポップアップＳＷ８１がオフす
る。また、ポップアップ部５６が上がっている場合には
ポップアップＳＷ８１はオンしている。したがって、ポ
ップアップＳＷ８１の状態を検出することによりポップ
アップ部５６が押し下げられたことを検出することがで
きる。

【００１６】図８は本実施形態において用いられるネガ
ティブタイプの高分子分散型ＬＣＤの構成を示す図であ
る。図８に示すように、高分子粒子１１３を間に挟ん
で、一対の配光膜１１２−１、１１２−２と、一対の電
極１１１−１、１１１−２と、一対のガラス基板１１０
−１，１１０−２とが順に配置されている。図８（Ａ）
はパルス電圧を印加しないときの非透過の状態を示して
おり、入射光１０７は散乱光１０８となって出力され
る。また、図８（Ｂ）はパルス電圧を印加したときの透
過の状態を示しており、入射光１０７は出射光１２０と
して出力される。

【００１７】図８（Ｃ）はＬＣＤの駆動パルス電圧と透
過率との関係を示す図である。図に示すように、印加電
圧が大きくなるにつれて透過率が増大するという関係が
ある。本実施形態では第１の透過率を有する非透過状態
と、第３の透過率を有する透過状態と、それらの中間の
透過率である第２の透過率を用いる。

【００１８】なお、本実施形態ではネガティブタイプの
ＬＣＤを採用したが、例えば特開平５−１６５０１７号
公報に開示されているような、ポジティブタイプの高分
子分散型ＬＣＤを使用してもよい。

【００１９】図９（Ａ）は下側のガラス基板１１０−２
上のセグメントパターンを示しており、ＳＥＧ１電極に
関連するパターン１２１と、ＳＥＧ２電極に関連するパ
ターン１２０と、ＣＯＭ電極に関連するパターン１２２
とから構成されている。パターン１２１には３つの開口
部１２０Ａ，１２０Ｂ，１２０Ｃが設けられている。１
２３は接続部である。図９（Ｂ）は上側のガラス基板１
１０−１上のコモンパターンを示しており、上記した接
続部１２３と接続される接続部１２３’を有する。

【００２０】図９（Ｃ）は、通常のファインダ表示を示
す図であり、上記した図９（Ａ）に示す３つのセグメン
トパターンと開口部が表示されている。また、図９
（Ｄ）はパノラマ表示を示しており、パターン１２０及
び１２２が非透過（遮光）状態にされ、パターン１２１
は透過（透光）状態を示している。また、図９（Ｅ）は
ブラックアウト表示を示しており、全パターンが非透過
（遮光）状態になって真っ暗になる。

【００２１】以下に図１０のカメラのメインフローの詳
細を説明する。バリア又は、アトブタが変化することで
割り込みが発生し、ステップＳ０（ＰＷＲＳＴ）からの
処理が行なわれる。スタックポインタをクリアし（ステ
ップＳ１）、次に、Ｆ内ＬＣＤ４をオンして、非透過状
態から透過状態にする（ステップＳ２）。次に、ＥＥＰ
ＲＯＭ１４からアトブタ状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳ
と、カメラ状態データＣＮＤＴと、ダメージフラグを読
み出す（ステップＳ３）。ここで、アトブタ状態フラグ
Ｆ＿ＢＫＣＬＯＳは０でアトブタが閉、１でアトブタが
開であることを示している。また、カメラ状態データＣ
ＮＤＴは、０で通常状態（レリーズ可能）、１で１コマ
巻上げ中、２でオートロード中、３でリワインド中であ
ることを示している。また、ダメージフラグには、１コ
マ巻上げ失敗を意味するＦ＿ＷＮＤＤＭＧと、オートロ
ード失敗を意味するＦ＿ＡＬＤＤＭＧと、リワインド失
敗を意味するＦ＿ＲＷＤＤＭＧとの３種類のフラグがあ
る。

【００２２】次に、アトブタ状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯ
Ｓの状態によりアトブタが変化したか否かを判断する
（ステップＳ４）。ここでＹＥＳの場合には、アトブタ
が閉か否かを判断する（ステップＳ５）。ここでＹＥＳ
の場合には、アトブタ状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳに０
を代入する（ステップＳ６）とともに、カメラ状態デー
タＣＮＤＴに２を代入して（ステップＳ７）、ステップ
Ｓ８に進む。

【００２３】また、ステップＳ５においてＮＯの場合に
は、アトブタ状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳに１を代入す
る（ステップＳ１２）とともに、カメラ状態データＣＮ
ＤＴに０を代入して（ステップＳ１３）、ステップＳ８
に進む。

【００２４】ステップＳ８では、ダメージフラグＦ＿Ｗ
ＮＤＤＭＧをクリアし、次にステップＳ９でダメージフ
ラグＦ＿ＡＬＤＤＭＧをクリアし、ステップＳ１０でダ
メージフラグＦ＿ＲＷＤＤＭＧをクリアする。次にステ
ップＳ１１に進んで、ＥＥＰＲＯＭ１４にアトブタ状態
フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳ、カメラ状態データＣＮＤＴ、
ダメージフラグを書き込む。

【００２５】ステップＳ１１を実行した後、あるいはス
テップＳ４においてＮＯの場合にはステップＳ１４に進
む。このステップＳ１４において、カメラ状態データＣ
ＮＤＴ＝２（オートロード中）になっているか否かを判
断し、ＹＥＳの場合にはステップＳ１６に進んでオート
ロードを実行する。オートロードの成否によりダメージ
フラグＦ＿ＲＷＤＤＭＧがステップＳ１６の中でセット
される。次に、ダメージフラグＦ＿ＡＬＤＤＭＧ＝０か
否かを判断する（ステップＳ１７）。ここでＮＯの場合
にはステップＳ１１０に進んで後述する異常処理（ＤＡ
ＭＡＧ）を行なう。また、ステップＳ１７でＹＥＳの場
合には、カメラ状態データＣＮＤＴに０を代入（ステッ
プＳ１８）レリーズ可能とした後、ダメージフラグＦ＿
ＷＮＤＤＭＧをクリア（ステップＳ１９）するととも
に、ダメージフラグＦ＿ＲＷＤＤＭＧをクリアする（ス
テップＳ２０）。次にステップＳ２１に進んで、ＥＥＰ
ＲＯＭ１４にアトブタ状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳ、カ
メラ状態データＣＮＤＴ、ダメージフラグを書き込む。

【００２６】一方、ステップＳ１４においてＮＯの場合
にはステップＳ１５に進んでダメージフラグＦ＿ＡＬＤ
ＤＭＧ＝１か否かを判断する。ここでＹＥＳの場合には
オートロードが失敗しているので、再度オートロードさ
せるためにステップＳ１６に進んで上記したステップを
実行する。

【００２７】ステップＳ２１を実行した後、あるいはス
テップＳ１５でＮＯの場合には図１１のステップＳ２３
に進む。このステップＳ２３でカメラ状態データＣＮＤ
Ｔ＝１か否かを判断し、ＹＥＳの場合にはステップＳ２
５に進む。また、ステップＳ２３でＮＯの場合にはステ
ップＳ２４に進んでダメージフラグＦ＿ＷＮＤＤＭＧ＝
１になっているか否かを判断する。ここでＮＯの場合に
はステップＳ２５に進む。

【００２８】ステップＳ２５では１コマ巻上げを行な
う。１コマ巻上げの成否により、ダメージフラグＦ＿Ｗ
ＮＤＤＭＧがステップＳ２５の中でセットされる。次に
ダメージフラグＦ＿ＷＮＤＤＭＧ＝０になっているか否
かを判断する（ステップＳ２６）。ここでＮＯの場合に
はステップＳ１１１に進んで後述する異常処理（ＤＡＭ
ＡＧ）を行なう。ＹＥＳの場合には、ダメージフラグＦ
＿ＲＷＤＤＭＧをクリアする（ステップＳ２８）。次に
ステップＳ２９に進んで、ＥＥＰＲＯＭ１４にアトブタ
状態フラグＦ＿ＢＫＣＬＯＳ、カメラ状態データＣＮＤ
Ｔ、ダメージフラグを書き込む。

【００２９】ステップＳ２９を実行した後、あるいはス
テップＳ２４でＮＯの場合には、ステップＳ３０に進ん
でカメラ状態データＣＮＤＴ＝３か否かを判断する。こ
こでＹＥＳの場合にはステップＳ３２に進む。また、Ｎ
Ｏの場合にはステップＳ３１でダメージフラグＦ＿ＲＷ
ＤＤＭＧ＝１か否かを判断し、ＹＥＳの場合にはステッ
プＳ３２に進む。ステップＳ３２ではリワインドを行
い、次にダメージフラグＦ＿ＲＷＤＤＭＧ＝０か否かを
判断する。ここでＮＯの場合には、リワインドに失敗し
ているので、再度リワインドさせるために、ステップＳ
１１２に進んで後述する異常処理（ＤＡＭＡＧ）を行な
う。

【００３０】また、ステップＳ３１でＮＯの場合、ある
いはステップＳ３３でＹＥＳの場合には、図１２のステ
ップＳ３４に進んでスタックポインタをクリアし、次に
ステップＳ３５でバリアが開か否かを判断する。ここで
ＮＯの場合にはステップＳ５４に跳ぶ。ＹＥＳの場合に
はズームをワイド位置にする（ステップＳ３６）。次に
ステップＳ３６のズーム動作が正常だったか否かを判断
する（ステップＳ３７）。ここでＮＯの場合にはステッ
プＳ１１３に進んで後述する異常処理（ＤＡＭＡＧ）を
行なう。ＹＥＳの場合にはステップＳ３８に進んで４分
タイマをスタートする。

【００３１】次に、ステップＳ３９に進んでバリアが変
化したか否かを判断し、ＹＥＳの場合にはステップＳ１
１４（ＰＷＲＳＴ）に移行する。ＮＯの場合には、次に
ステップＳ４０に進んでアトブタが変化したか否かを判
断し、ＹＥＳの場合にはステップＳ１１５（ＰＷＲＳ
Ｔ）に移行する。ＮＯの場合には、次にステップＳ４１
に進んでズームＳＷが操作されたか否かを判断する。こ
こでＹＥＳの場合にはズーム制御を行ない（ステップＳ
４２）、次にステップＳ４２のズーム動作が正常だった
か否かを判断する（ステップＳ４３）。ここでＮＯの場
合には、ステップＳ１１６に進んで異常処理（ＤＡＭＡ
Ｇ）を行なう。

【００３２】ステップＳ４１でＮＯの場合、あるいはス
テップＳ４３でＹＥＳの場合にはステップＳ４４に進ん
で、レリーズＳＷが操作されたか否かを判断する。ここ
でＹＥＳの場合にはレリーズ処理（Ｒ１）を行ない（ス
テップＳ４５）、次にステップＳ２３（図１１）に跳
ぶ。また、ステップＳ４４でＮＯの場合には、図１３の
ステップＳ４６に進んでモードに応じた外部ＬＣＤ表示
を行なう。次にストロボに指がかかったか否かを判断し
（ステップＳ４７）、ＹＥＳの場合にはＦ内ＬＣＤをブ
ラックアウト状態にする（ステップＳ４８）。ここで
は、ＬＣＤの駆動パルス電圧を下げて、透過と非透過の
中間の透過率にしてもよい。あるいは、透過と非透過を
交互に繰り返しても良い。透過と非透過を交互に繰り返
す回路を設けて、ソフトウェアでその回路のオン／オフ
を行なえばよい。

【００３３】ステップＳ４８の実行後、あるいはステッ
プＳ４７でＮＯの場合にはステップＳ４９に進んでポッ
プアップ部５６が押し下げられてポップアップＳＷがオ
フになっているか否かを判断する。ここでＹＥＳの場合
にはＦ内ＬＣＤをブラックアウト状態にする（ステップ
Ｓ５０）。

【００３４】ステップＳ５０の実行後、あるいはステッ
プＳ４９でＮＯの場合にはステップＳ５１に進んで測距
部や測光部に指がかかったか否かを判断する（ステップ
Ｓ５１）。ここでＹＥＳの場合にはＦ内ＬＣＤをブラッ
クアウトする（ステップＳ５２）。

【００３５】ステップＳ５２の実行後、あるいはステッ
プＳ５１でＮＯの場合にはステップＳ５３に進んで４分
経過したか否かを判断する。ここでＮＯの場合には図１
２のステップＳ３９に戻る。ＹＥＳの場合には、Ｆ内Ｌ
ＣＤをオフして、透過状態から非透過状態にする（ステ
ップＳ５４）。次に、ステップＳ５５に進んで外部ＬＣ
Ｄの表示をオフするとともに、ズームを沈胴状態にする
（ステップＳ５６）。次にステップＳ５７に進んでズー
ム動作が正常か否かを判断し、ＮＯの場合にはステップ
Ｓ１１７に進んで後述する異常処理（ＤＡＭＡＧ）を行
なう。ＹＥＳの場合には、ステップＳ５８に進んでカメ
ラ動作を停止する。

【００３６】次に図１４のフローチャートを参照して上
記したレリーズ処理（Ｒ１）の詳細を説明する。まず、
測距及び測光を行い（ステップＳ６０）、次にセルフモ
ードになっているか否かを判断する（ステップＳ６
１）。ここでＹＥＳの場合には、Ｆ内ＬＣＤをオフして
透過状態から非透過状態にし（ステップＳ６２）、次
に、ＬＣＤを点滅させてセルフ表示を行い（ステップＳ
６３）、次に、Ｆ内ＬＣＤをオンして非透過状態から透
過状態にする（ステップＳ６４）。

【００３７】ステップＳ６４の実行後、あるいはステッ
プＳ６１の判断がＮＯの場合には、ステップＳ６５に進
んで測距に応じたピントにレンズを駆動する。次にステ
ップＳ６６に進んでステップＳ６５のレンズ動作が正常
だったか否かを判断し、ここでＮＯの場合には、ステッ
プＳ１１８に進んで後述する異常処理（ＤＡＭＡＧ）を
行なう。ＹＥＳの場合には、ステップＳ６７に進んで、
赤目低減モードか否かを判断する。ここでＹＥＳの場合
には、赤目低減の為のプリ発光を行なう（ステップＳ６
８）。

【００３８】ステップＳ６８の実行後、あるいはステッ
プＳ６７でＮＯの場合には、図１５のステップＳ６９に
進んで、Ｆ内ＬＣＤを非透過状態にする。あるいは、透
過率を下げてもよい。次にステップＳ７０で５０ｍｓタ
イマをスタートさせた後、ステップＳ７１でシャッタ制
御を行なう。次にシャッタ動作が正常か否かを判断し
（ステップＳ７２）、ここでＮＯの場合にはステップＳ
１１９に進んで後述する異常処理（ＤＡＭＡＧ）を行な
う。ＹＥＳの場合には、ステップＳ７３に進んで５０ｍ
ｓタイマが終了か否かを判断し、ＮＯの場合には終了に
なるまで待機して、終了になったらステップＳ７４に進
んでＦ内ＬＣＤを透過状態にする。ステップＳ７３で５
０ｍｓ待つことで、シャッタが高速の時でも最低５０ｍ
ｓはブラックアウトするので、露光したことが確実に分
かる。次にレンズをリセット駆動して（ステップＳ７
５）、次にレンズ動作がステップＳ７５で正常だったか
否かを判断する（ステップＳ７６）。ここでＮＯの場合
には、ステップＳ１２０に進んで後述する異常処理（Ｄ
ＡＭＡＧ）を行なう。ＹＥＳの場合には、次にアトブタ
が閉か否かを判断し（ステップＳ７７）、ＹＥＳの場合
には、フィルムが入っているか否かを判断する（ステッ
プＳ７８）。ここでＹＥＳの場合には、次にカメラ状態
データＣＮＤＴに１を代入（ステップＳ７９）し、１コ
マ巻上げ中とした後、ＥＥＰＲＯＭ１４にアトブタ状態
フラグ、カメラ状態データ、ダメージフラグを書き込み
（ステップＳ８０）、その後、リターンする。また、ス
テップＳ７７及びステップＳ７８でＮＯの場合にはリタ
ーンする。

【００３９】次に図１６のフローチャートを参照して上
記した異常時処理の詳細を説明する。まず、スタックポ
インタをクリアして（ステップＳ１００）、Ｆ内ＬＣＤ
を１Ｈｚで点滅開始する（ここでは、Ｆ内ＬＣＤの非透
過と透過を繰り返す）（ステップＳ１０１）。次に、４
分タイマをスタート（ステップＳ１０２）した後、バリ
アが変化したか否かを判断する（ステップＳ１０３）。
ここでＮＯの場合には、アトブタが変化したか否かを判
断する（ステップＳ１０４）。ここでＮＯの場合には、
４分経過したか否かを判断し（ステップＳ１０５）、Ｙ
ＥＳの場合には、Ｆ内ＬＣＤをオフして非透過状態にす
る（ステップＳ１０６）。ＮＯの場合にはステップＳ１
０３に戻る。次にステップＳ１０７に進んで外部ＬＣＤ
表示をオフした後、カメラ動作を停止する（ステップＳ
１０８）。また、ステップＳ１０３又はＳ１０４でＹＥ
Ｓの場合には、ステップＳ１２１、１２２により、“Ｐ
ＷＲＳＴ”に戻る。

【００４０】上記した実施形態では、カメラの各機能が
異常であった場合にＦ内ＬＣＤ４を点滅するようにして
いるが、点滅させずに常に透過率を下げるようにしても
よい。また、異常の時に限らず、被写体が近すぎたり、
パッシブ形ＡＦにおいてはローコントラストであったり
して、ＡＦできないような場合もＬＣＤ点滅や透過率を
下げるようにしてもよい。その他、フィルム装填ミスや
ストロボ未充電の時、ＡＥ可能範囲を越えている場合
等、故障ではないが正常な写真が撮れない場合はＬＣＤ
点滅や透過率を下げるようにしてもよい。

【００４１】なお、上記した具体的実施形態には、以下
のような構成の発明が含まれている。１）透過率を変更可能な液晶をファインダ内に配置し
たカメラにおいて、レリーズスイッチ手段と、カメラ動
作手段と、このカメラ動作手段の異常を検出する検出手
段を有し、カメラが動作された後、レリーズスイッチ手
段の入力待ちの時には前記液晶は透過状態であり、前記
カメラ動作手段の異常を検出したら、前記液晶の透過率
を低下、または、透過率を周期的に変化させることを特
徴とするカメラ。２）前記カメラ動作手段は被写体までの距離を測定す
る測定手段であり、前記カメラ動作手段の異常を検出す
る検出手段は、前記測距手段の前に障害物が存在するか
否かを検出する検出手段であることを特徴とする１）に
記載のカメラ。３）前記カメラ動作手段は被写体の輝度を測定する測
光手段であり、前記カメラ動作手段の異常を検出する検
出手段は、前記測光手段の前に障害物が存在するか否か
を検出する検出手段であることを特徴とする１）に記載
のカメラ。４）前記カメラ動作手段は被写体を照射するストロボ
手段であり、前記カメラ動作手段の異常を検出する検出
手段は、前記ストロボ手段の前に障害物が存在するか否
かを検出する検出手段であることを特徴とする１）に記
載のカメラ。５）前記カメラ動作手段は被写体を照射するストロボ
手段であり、前記カメラ動作手段の異常を検出する検出
手段は、前記ストロボ手段が押し下げられたか否かを検
出する検出手段であることを特徴とする１）に記載のカ
メラ。６）カメラの電池電圧を検出するバッテリチェック手
段を有し、電池電圧が所定電圧よりも低いことを検出し
たときには、前記液晶の透過率を低下、又は、透過率を
周期的に変化させることを特徴とする１）に記載のカメ
ラ。７）ズーム手段及び給送手段の少なくともいずれかを
備えたカメラ動作手段を有し、このカメラ動作手段の動
作異常が検出されたときには、前記液晶の透過率を低
下、又は、透過率を周期的に変化させることを特徴とす
る１）に記載のカメラ。８）アトブタＳＷが閉じられオートロードを行ってい
るときに、レリーズＳＷの受付けを禁止するとともに、
前記液晶の透過率を低下、又は、透過率を周期的に変化
させることを特徴とする１）に記載のカメラ。９）前記液晶はネガティブ・タイプの高分子分散型液
晶であることを特徴とする１）に記載のカメラ。

【００４２】

【発明の効果】本発明によれば、ユーザは、液晶表示装
置を見るだけでカメラの動作に異常があったことを確実
に判断できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るカメラの概念図であ
る。

【図２】（Ａ）は本実施形態に係るカメラ１００の正面
図であり、（Ｂ）はカメラ１００の上面図である。

【図３】ユーザがセルフＬＥＤ５２からの光を指で遮っ
たときのようすを示す図である。

【図４】ユーザの指により遮られた光が測光センサによ
り検出されるようすを示す図である。

【図５】（Ａ）は指かかり検出手段９の回路構成を示す
図であり、（Ｂ）、（Ｃ）はセルフＬＥＤ駆動用の信号
波形と、検出される信号波形を示す図である。

【図６】指かかり検出の変形例を説明するための図であ
る。

【図７】ユーザがストロボ発光動作中にポップアップ部
５６を下げたことを検出する方法を説明するための図で
ある。

【図８】本実施形態において用いられるネガティブタイ
プの高分子分散型ＬＣＤの構成を示す図である。

【図９】（Ａ）はセグメントパターン、（Ｂ）はコモン
パターン、（Ｃ）は、通常のファインダ表示、（Ｄ）は
パノラマ表示、（Ｅ）はブラックアウト表示を示す図で
ある。

【図１０】カメラのメインフローの一部を説明するため
のフローチャートである。

【図１１】カメラのメインフローの他の一部を説明する
ためのフローチャートである。

【図１２】カメラのメインフローの他の一部を説明する
ためのフローチャートである。

【図１３】カメラのメインフローの他の一部を説明する
ためのフローチャートである。

【図１４】レリーズ処理の詳細を説明するためのフロー
チャートの前部である。

【図１５】レリーズ処理の詳細を説明するためのフロー
チャートの後部である。

【図１６】異常時処理の詳細を説明するためのフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１…ＣＰＵ、２…タイマ手段、３…ファインダ、４…ＬＣＤ、５…ＬＣＤ駆動手段、６…シャッタ手段、７…パワー・スイッチ、８…レリーズＳＷ、９…指かかり検出手段、１０…動作異常検出手段、１１…セルフモードＳＷ、１２…バッテリチェック手段、１３…アトブタＳＷ、１４…ＥＥＰＲＯＭ、５９…パノラマＳＷ、８１…ポップアップＳＷ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】透過率が可変の液晶表示装置を有するカメ
ラにおいて、カメラ動作の異常を検出する検出手段と、レリーズ信号待機状態では上記液晶表示装置の液晶を透
過状態にし、カメラ動作に異常が検出された際には上記
液晶表示装置の液晶透過率を変更する液晶制御手段と、を具備したことを特徴とするカメラ。
【請求項２】上記液晶表示装置は、液晶透過率を周期
的に変更することを特徴とする請求項１記載のカメラ。
【請求項３】上記カメラは、測光手段、ストロボ発光
手段、又は測距手段の少なくとも１つを有していて、前
記検出手段は、この測光手段、ストロボ発光手段、又は
測距手段の少なくとも１つの前面に障害物があるか否か
を検出することを特徴とする請求項１又は２記載のカメ
ラ。
【請求項４】上記検出手段は、ストロボが押し下げら
れたか否かを検出することを特徴とする請求項１〜３の
いずれか一つに記載のカメラ。