JPH10513588A - フラッシュ・メモリのためのフィルタリングされたシリアルイベント制御型コマンド・ポート - Google Patents
フラッシュ・メモリのためのフィルタリングされたシリアルイベント制御型コマンド・ポートInfo
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- JPH10513588A JPH10513588A JP8524411A JP52441196A JPH10513588A JP H10513588 A JPH10513588 A JP H10513588A JP 8524411 A JP8524411 A JP 8524411A JP 52441196 A JP52441196 A JP 52441196A JP H10513588 A JPH10513588 A JP H10513588A
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 多数の選択的に配列された浮動ゲート・メモリ装置から構成されるメモ リ・アレイを有する電気的に消去可能でプログラム可能なメモリのための内部コ マンド・アーキテクチャであって、 メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実行 の命令が、所定時間よりも短い送出制御信号によって開始されないようにするフ ィルタリング・クロック・ジェネレーション回路と、 メモリ・アレイに作動的に結合され、コマンド・アーキテクチャ内で、外部的 に生成されたコマンドと、メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連した一連 のデータとを転送するデータ・バスと、 前記データ・バスおよび前記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回 路に作動的に結合され、前記データ・バスから外部的に生成されたコマンドおよ び一連のデータを連続的に読み出して、各データのために前記フィルタリング・ クロック・ジェネレーション回路からの信号の受け取りに付随した一連のデータ の各データに対するコマンド実行を命令するコマンド・レジスタとを具備する、 内部コマンド・アーキテクチャ。 2. 前記一連のデータがメモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連した単 一データである、請求項1に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 3. 前記一連のデータが複数のデータからなり、これら各データがメモリ・ アレイ内の特定のメモリ装置に関連する、請求項1に記載の内部コマンド・アー キテクチャ。 4. 外部で生成可能な信号の受け取りに付随して前記フィルタリング・クロ ック・ジェネレーション回路への制御信号を送出するため、該フィルタリング・ クロック・ジェネレーション回路に作動的に結合された、イネーブル制御回路を 更に備える、請求項1に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 5. 前記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回路によって、メモ リ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実行の命令 が、実質的に20ナノ秒(ns)よりも短い時間の制御信号によって開始されな いようする、請求項1に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 6. 前記データ・バスが複数の制御ピンおよびデータ・ピンを備える、請求 項1に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 7. 前記イネーブル制御回路が、外部で生成された書き込み可能(WE)な 信号および外部で生成されたチップ可能な(CE)信号の受け取りに付随した前 記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回路手段に制御信号を送出する 、請求項4に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 8. 前記イネーブル制御回路が、高電圧のプログラミング電圧の受け取りに 付随した前フィルタリング・クロック・ジェネレーション回路手段に制御信号を 送出する、請求項4に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 9. 前記イネーブル制御回路が、高電圧の消去電圧の受け取りに付随した前 記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回路に制御信号を送出する、請 求項4に記載の内部コマンド・アーキテクチャ。 10. 電気的に消去可能でプログラム可能なメモリ装置であって、 選択的に配列された複数の浮動ゲート・メモリ装置から構成されるメモリ・ア レイと、 該メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実 行の命令が、所定の時間よりも短い送出制御信号によって開始されないようにす るフィルタリング・クロック・ジェネレーション回路と、 メモリ・アレイに作動的に結合され、コマンド・アーキテクチャ内で、外部的 に生成されたコマンドと、メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連した一連 のデータとを転送するデータ・バスと、 前記データ・バスおよび前記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回 路に作動的に結合され、前記データ・バスから外部的に生成されたコマンドおよ び一連のデータを連続的に読み出して、各データのために前記フィルタリング・ クロック・ジェネレーション回路からの信号の受け取りに付随した一連のデータ の各データに対するコマンド実行を命令するコマンド・レジスタとを具備する、 メモリ装置。 11. メモリ装置がフラッシュEPROMからなる、請求項10に記載のメ モリ装置。 12. マイクロプロセッサと、 タイミングユニットと、 I/Oインタフェース・モジュールと、 揮発性メモリ・アレイと、 選択的に配列された複数の浮動ゲート・メモリ装置からなる不揮発性メモリ・ アレイと、 メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実行 の命令が、所定の時間よりも短い送出制御信号によって開始されないようにする フィルタリング・クロック・ジェネレーション回路と、 不揮発性メモリ・アレイに作動的に接続され、コマンド・アーキテクチャ内で 、外部的に生成されたコマンドと、不揮発性メモリ・アレイ内の特定のメモリ装 置に関連した一連のデータとを転送するデータ・バスと、 前記データ・バスおよび前記フィルタリング・クロック・ジェネレーション回 路へ動作的に結合され、前記データ・バスから外部的に生成されたコマンドと一 連のデータとを連続的に読み出し、各データのために前記フィルタリング・クロ ック・ジェネレーション回路からの信号の受け取りに付随した一連のデータの各 データに対するコマンド実行を命令するコマンド・レジスタとを具備する、コン ピュータ。 13. 選択的に配列された多数の浮動ゲート・メモリ装置から構成されたメ モリ・アレイを有する電気的に消去可能でプログラム可能なメモリ内のコマンド の実行を処理する方法であって、 メモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実行 を開始するために制御信号を送出する工程と、 メモリ内の特定のメモリ装置に関連したデータに対するコマンド実行の意図し ない命令を妨げるために制御信号をフィルタリングする工程と、 外部的に生成されたコマンドおよびメモリ・アレイ内の特定のメモリ装置に関 連した一連のデータを連続的に転送する工程とを具備する、コマンド実行の処理 方法。 14. 一連の各データに体する外部的に生成されたコマンド実行を命令する 工程を備える、請求項13に記載のコマンド実行の管理方法。 15. シリコン基板上に形成された電気的に消去可能でプログラム可能なメ モリ装置であって、 メモリ・アレイと、 該メモリ・アレイに結合され、メモリ・アレイに関してメモリ動作を実行する コマンド・コントローラと、 アドレス・ピンを介して外部プロセッサからのアドレスを受け取り、かつ、デ ータ・ピンを介してメモリ・アレイからのデータを外部プロセッサへ供給するメ モリ・アレイに結合された、複数のアドレス・ピンとデータ・ピンと、 前記複数のデータ・ピンに結合され、外部プロセッサからデータ・ピンを介し てコマンドを受け取るコマンド・ラッチ手段と、 該コマンド・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのコマンドを解読す るコマンド・デコーダと、 前記コマンド・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのコマンドをコマ ンド・ラッチ手段へラッチするためのコマンド・タイミング信号を生成するコマ ンド・クロック・ジェネレータと、 該コマンド・クロック・ジェネレータに結合され、外部プロセッサからのコマ ンドのコマンド・ラッチ手段へのコマンド・タイミング信号によるラッチ完了後 に、状態タイミング信号を生成する状態クロック・ジェネレータと、 前記コマンド・デコーダおよび状態クロック・ジェネレータに結合され、コマ ンドのシーケンスをトラッキングして所定の制御信号をコマンド・コントローラ へ送る状態ラッチ手段とを具備する、メモリ装置。 16. 前記メモリ動作が読み出し動作、プログラミング動作、および消去動 作からなる、請求項15に記載のメモリ装置。 17. 前記メモリ装置がフラッシュEPROMからなる、請求項15に記載 のメモリ装置。 18. 前記状態ラッチ手段が、所定の状態に従って外部プロセッサからのコ マンドの解読を選択的に阻止する、請求項15に記載のメモリ装置。 19. データ・ピンに結合され、外部プロセッサからデータを受け取るデー タ・ラッチ手段と、 該データ・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのデータをデータ・ラ ッチ手段へラッチするためのデータ・タイミング信号を生成するデータ・クロッ ク・ジェネレータと、 前記アドレス・ピンに結合され、外部プロセッサからのアドレスを受け取るア ドレス・ラッチ手段と、 該アドレス・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのアドレスをアドレ ス・ラッチ手段へラッチするアドレス・クロック・ジェネレータとを具備する、 請求項18に記載のメモリ装置。 20. シリコン基板上に形成された電気的に消去可能でプログラム可能なメ モリ装置であって、 メモリ・アレイと、 該メモリ・アレイに結合され、メモリ・アレイに関してメモリ動作を実行する コマンド・コントローラと、 アドレス・ピンを介して外部プロセッサからのアドレスを受け取り、かつ、デ ータ・ピンを介してメモリ・アレイからのデータを外部プロセッサへ供給するメ モリ・アレイに結合された、複数のアドレス・ピンとデータ・ピンと、 制御ピンへ結合され、無効条件を検出し第1のイネーブル信号を生成する無効 検出手段と、 該無効検出手段に結合され、第1のイネーブル信号が所定時間よりも長いとき に第2のイネーブル信号を生成するパルス幅検出手段とを具備する、メモリ装置 。 21. 第1のイネーブル信号が第1の電圧レベルと第2の電圧レベルからな り、第2のイネーブル信号が第3の電圧レベルと第4の電圧レベルからなり、第 1のイネーブル信号が第1の電圧レベルから第2の電圧レベルへ変化するとき、 第2のイネーブル信号が、第3の電圧レベルから第4の電圧レベルへ変化するよ うになっており、第1のイネーブル信号が第2の電圧レベルから第1の電圧レベ ルへ変化するとき、第2の能動信号が、第4の電圧レベルから第3の電圧レベル への変化を所定時間だけ遅延される、請求項20に記載のメモリ装置。 22. 複数のデータ・ピンに結合され、外部プロセッサからのコマンドをデ ータ・ピンを介して受け取るコマンド・ラッチ手段と、 該コマンド・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのコマンドを解読す るコマンド・デコーダと、 前記コマンド・ラッチ手段に結合され、外部プロセッサからのコマンドをコマ ンド・ラッチ手段へラッチするためのコマンド・タイミング信号を生成するコマ ンド・クロック・ジェネレータと、 該コマンド・クロック・ジェネレータに結合され、外部プロセッサからのコマン ドのコマンド・ラッチ手段へのコマンド・タイミング信号によるラッチ完了後に 、状態タイミング信号を生成する状態クロック・ジェネレータと、 前記コマンド・デコーダおよび状態クロック・ジェネレータに結合され、コマ ンドのシーケンスをトラッキングし所定の制御信号をコマンド・コントローラへ 送る状態ラッチ手段とを具備する、請求項21に記載のメモリ装置。 23. データ・ピンに結合され、外部プロセッサからのデータを受け取るデ ータ・ラッチ手段と、 該データ・ラッチ手段およびパルス幅検出手段に結合され、外部プロセッサか らのデータをデータ・ラッチ手段へラッチするためのデータ・タイミング信号を 生成するデータ・クロック・ジェネレータと、 アドレス・ピンに結合され、外部プロセッサからのアドレスを受け取るアドレ ス・ラッチ手段と、 該アドレス・ラッチ手段およびパルス幅検出手段に結合され、外部プロセッサ からのアドレスをアドレス・ラッチ手段へラッチするアドレス・クロック・ジェ ネレータとを具備する、請求項22に記載のメモリ装置。 24. メモリ動作が読み出し動作、プログラミング動作、および消去動作か らなる、請求項22に記載のメモリ装置。 25. コマンド・コントローラが高電圧のプログラミング電圧を受け取った ときに、コマンド・コントローラがイネーブル化される、請求項15に記載のメ モリ装置。 26. コマンド・コントローラが高電圧の消去電圧を受け取ったときに、コ マンド・コントローラをイネーブル化する手段を備える、請求項15に記載のメ モリ装置。 27. コマンド・コントローラが高電圧のプログラミング電圧を受け取った ときに、コマンド・コントローラがイネーブル化される、請求項22に記載のメ モリ装置。 28. コマンド・コントローラが高電圧の消去電圧を受け取ったときに、コ マンド・コントローラがイネーブル化される、請求項22に記載のメモリ装置。 29. メモリ装置が消去可能でプログラム可能なフラッシュ読み出し専用メ モリからなる、請求項22に記載のメモリ装置。 30. パルス幅検出手段が連続的に結合された複数のバッファを備え、連続 的に結合されたバッファの第1段への入力と、連続的に結合されたバッファの第 2段からの出力とが、別個の入力としてゲートに結合され、連続的に結合された バッファによって生じた遅延が最小のパルス幅を決定する、請求項20に記載の メモリ装置。 31. 第2のイネーブル手段の遅延が連続的に結合された複数のバッファに よって生じ、連続的に結合されたバッファの第1段への入力と、順次に結合され たバッファの第2段からの出力とが、別個の入力としてゲートへ結合され、連続 的に結合されたバッファによって生じた遅延が第2のイネーブル手段の遅延を決 定する、請求項21に記載のメモリ装置。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/386,688 US5682496A (en) | 1995-02-10 | 1995-02-10 | Filtered serial event controlled command port for memory |
US386,688 | 1995-02-10 | ||
US08/386,688 | 1995-02-10 | ||
PCT/US1996/001671 WO1996024935A1 (en) | 1995-02-10 | 1996-02-08 | Filtered serial event controlled command port for flash memory |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10513588A true JPH10513588A (ja) | 1998-12-22 |
JP3241386B2 JP3241386B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=23526629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52441196A Expired - Lifetime JP3241386B2 (ja) | 1995-02-10 | 1996-02-08 | フラッシュ・メモリのためのフィルタリングされたシリアルイベント制御型コマンド・ポート |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5682496A (ja) |
EP (1) | EP0808501B1 (ja) |
JP (1) | JP3241386B2 (ja) |
KR (1) | KR100260278B1 (ja) |
AT (1) | ATE173858T1 (ja) |
DE (1) | DE69601030T2 (ja) |
WO (1) | WO1996024935A1 (ja) |
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE69601030T2 (de) | 1999-04-22 |
EP0808501B1 (en) | 1998-11-25 |
JP3241386B2 (ja) | 2001-12-25 |
EP0808501A1 (en) | 1997-11-26 |
KR19980702131A (ko) | 1998-07-15 |
DE69601030D1 (de) | 1999-01-07 |
WO1996024935A1 (en) | 1996-08-15 |
US6578124B1 (en) | 2003-06-10 |
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ATE173858T1 (de) | 1998-12-15 |
KR100260278B1 (ko) | 2000-07-01 |
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