JPH10504061A - ジェットプラズマ蒸着方法及び装置 - Google Patents

ジェットプラズマ蒸着方法及び装置

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JPH10504061A JP8507297A JP50729796A JPH10504061A JP H10504061 A JPH10504061 A JP H10504061A JP 8507297 A JP8507297 A JP 8507297A JP 50729796 A JP50729796 A JP 50729796A JP H10504061 A JPH10504061 A JP H10504061A
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ミネソタ・マイニング・アンド・マニュファクチュアリング・カンパニー
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Abstract

(57)【要約】 基板(75)にカーボンリッチコーティングのプラズマ蒸着を施すための方法及び装置(10)を提供する。この方法は、真空室に基板(75)を用意し、互いに平行に配置された2つの電極プレートからなるカソードを含む中空カソードスロットシステム(40)にプラズマガスを噴出することで上記真空室にカーボンリッチプラズマ(160)を形成し、中空カソードスロットシステム(40)にカーボンリッチプラズマ(160)を形成し維持するために十分な電圧を供給し、プラズマ(160)を維持するために必要な真空を真空室に維持する工程を含む。プラズマは基板に蒸着されてカーボンリッチコーティングが形成される。

Description

【発明の詳細な説明】 ジェットプラズマ蒸着方法及び装置 発明の分野 本発明はカーボンコーティング、特に、カーボンリッチコーティングのプラズ マ蒸着方法及び装置に関する。 発明の背景 カーボンリッチコーティングは、非常に硬く、化学的に不活性で、腐食に対し て抵抗があり、水蒸気や酸素を通さない。したがって、種々の基材の機械的及び 化学的な保護コーティングとして使用されている。例えば、カーボンリッチコー ティングは、ハードディスクやフレキシブルディスクの磁気媒体に用いられてい る。これらは、音響ダイヤフラム、光学的レンズや眼鏡レンズに使用される高分 子基材、及び静電写真ドラムにも用いられている。 ここで使用されているカーボンリッチコーティングは、少なくとも50原子パ ーセントのカーボンと、一般には約70〜95原子パーセントのカーボン、0. 1〜20原子パーセントの窒素、0.1〜15原子パーセントの酸素、及び0. 1〜40原子パーセントの水素を含む。そのようなカーボンリッチコーティング は、それらの物理的及び化学的な特性に応じて、“アモルファス”カーボンコー ティング、“水素添加アモルファス”カーボンコーティング、“グラフィック” コーティング、“i−カーボン”コーティング、“ダイヤモンド状”コーティン グなどに分類される。これらコーティングの分子構造は必ずしも容易に区別でき ないが、それらは一般に2種類の炭素−炭素結合、すなわち三方晶系結合(sp 2)と正四面体結合(sp3)を含む。それらはまた、炭素−水素結合及び炭素 −酸素結合なども含む。非カーボン原子の量やsp3/sp2結合の比率の比率 に応じて、異なる構造及び物理的特性が得られる。 ダイヤモンド状カーボンリッチコーティングはダイヤモンドに似た特性を有し 、 高硬度、極小導電性、低摩擦係数、広範囲の波長に対して光学的に透明である。 これらは水素添加物である場合もあれば非水素添加物でない場合もある。ダイヤ モンド状カーボンコーティングは、正四面体ダイヤモンド結合(sp3)が支配 的であると考えられているが、一般に三方晶系グラファイト結合(sp2)と正 四面体ダイヤモンド結合(sp3)の両方を有する非結晶材料を含む。通常、ダ イヤモンド状コーティングは、グラファイトカーボンコーティングよりも硬く、 それは水素含有量の多いカーボンコーティング(すなわち、炭化水素分子又はそ の部分を有するコーティング)よりも硬い。 プラズマ蒸着によりコーティングを形成する方法(すなわち、プラズマにより 促進された化学的蒸着)が知られているが、これらのいくつかの方法は欠点があ った。例えば、特定の方法では、高いガス流、圧力、及び電力を用いた場合には 、所望の平滑で硬いカーボンフィルムではなく、炭素粉末を生じることがある。 米国特許第5,232,791号(コーラー等、1993年8月3日)及び第5 ,286,534号(コーラー等、1994年2月15日)は、これらの欠点の いくつかを解消する、カーボンリッチコーティングのプラズマ蒸着プロセスを開 示している。このプロセスではカーボンリッチプラズマに使用されており、これ は、メタン、エチレン、ヨードメタン、シアン化メチル、テトラメチルシランの ようなガスから、細長い中空カソード(すなわち、一般に長さと直径が15:1 から1:1の比率を有する管状カソード)で生成される。プラズマは高周波バイ アスに晒されている基板に向けて加速される。このプロセスは当業界では極めて 進歩的なものであるが、低エネルギーで使用できる広範囲なカーボンリッチコー ティングの蒸着に対して、他のプロセス蒸着プロセスが必要とされている。 発明の概要 本発明は、基板上にカーボンリッチコーティングのプラズマ蒸着を施す方法を 提供するもので、 (a)真空室に基板を準備し、 (b)(1)互いに平行に配置された2つの電極プレートからなるカソードを含 む中空カソードスロットシステムにプラズマガスを導入し、(2)十分な電圧を 印加して上記中空カソードスロットシステム内でカーボンリッチプラズマを作り そして維持し、(3)上記プラズマを維持するために必要な真空を真空室内で維 持することにより、上記真空室内でカーボンリッチプラズマを形成し、 (c)上記基板上にカーボンリッチプラズマを蒸着してカーボンリッチコーティ ングを形成する、工程を含むものである。 中空カソードスロットシステムは、2つの平行に配置されたプレートを含む。 これらのプレートはスロットを形成し、そこには安定したプラズマが形成される 。したがって、この形態をここでは中空カソードスロットという。スロットは概 ね長方形をしており、幅に対する長さの比率が1:1以下である。すなわち、プ レート間の空間は長さよりも広く、直径に対する長さの比率が少なくとも1:1 で一般にはそれよりも大きい“チューブ”又は長尺の中空のカソードと区別され る。この形状は、以下に説明するように、いくつかの点で都合の良いものである 。本文中では、カソードの長さは、ガスの入口とプラズマの出口の間の距離であ る。 中空カソードスロットシステムは、中空カソードチューブを有する第1の部屋 と、上記第1の部屋に接続された第2の部屋と、2つの平行プレートを有し、上 記第2の部屋に接続された第3の部屋を含むのが好ましい。プラズマガスは、フ ィードガス、好ましくはフィードガスとキャリアガスとを組み合わせたものを含 む。上記キャリアガスは第1の部屋に噴出され、上記フィードガスが第2の部屋 に噴出されてキャリアガスと混合される。 電圧は、非パルスの濾波された直流電源又は直流パルス電源を用いて供給して もよいが、特定の好適な実施形態では、電圧は中空カソードチューブに接続され た第1の直流パルス電源と2つの電極プレート(すなわち、中空カソードスロッ ト)に接続された直流パルス電源から供給される。 上記基板を高周波バイアス手段の極近傍に置いた状態でプラズマを基板に蒸着 するのが好ましい。基板を高周波バイアス手段に接触させた状態で行うのがさら に好ましい。高周波バイアス手段は基板に向けてプラズマを吸引し、これにより 基板に向かうプラズマが加速されて効率的かつ素早く蒸着が行われる。高周波バ イアス手段はまた、硬質なカーボンリッチコーティングの形成に貢献する。高周 波バイアス手段としてはチルロールが好ましい。 好適な実施形態では、プラズマはアノードシステムを通って基板に進む。アノ ードシステムは、直流パルス電源に接続するのが好ましい。特定の好適な実施形 態では、プラズマは調節可能なアノードシステムを通過して進む。 本発明はまた、プラズマを形成するカソードシステムと、アノードシステムと 、を備えたジェットプラズマ蒸着装置を提供する。カソードシステムは、互いに 平行に配置された2つの電極プレートを有するカソードを収容する部屋を含む中 空カソードスロットシステムである。中空カソードスロットシステムは、中空カ ソードチューブを有する第1の部屋と、上記第1の部屋に接続された第2の部屋 と、第2の部屋に接続され、2つの平行な電極プレートを有する第3の部屋とを 含むのが好ましい。このカソードシステムは、アノードシステムと2つの直流パ ルス電源と組み合わせて使用するのが好ましく、上記中空カソードチューブは第 1の直流パルス電源に接続され、2つの電極プレートは第2の直流パルス電源に 接続される。アノードシステムは、アノードとして機能する任意の形式のシステ ムであればよい。それは以下に説明する調節可能なアノードシステムであるのが 好ましい。 また、本発明は、プラズマを形成するカソードシステム(好ましくは中空カソ ードシステム)と、動作中にプラズマが移動する通路の下に実質的に配置された 調節可能なアノードシステムとを備えたプラズマ蒸着装置を提供する。このシス テムは、上記パラグラフで説明したシステムと同様にバイアス電極を有し、調節 可能なアノードは、動作中にカソードとバイアス電極との間をプラズマが移動す る際にプラズマ通路の下になるように、中空カソードスロットシステムとバイア ス電極とを結ぶ仮想線の下に実質的に配置される。 図面の簡単な説明 図1は本発明のプラズマ蒸着装置の概略図である。 図2は本発明の好適な中空カソードスロットシステムの側部断面図である。 図3は中空カソードチューブ(直径2.5cm)の必要電力と蒸着速度を示す 図である。 図4は調節可能なアノードシステムを有するジェットプラズマ蒸着装置の一部 を除去した図である。 図5A〜Fは、ポリエステルフィルム(左端からmm)の幅に沿ったコーティ ング厚をオングストローム単位で示す図で、(A)特別なアノードシステムでは ない場合、(B)調節可能なアノードシステムのスロット開口部=1〜2cm、 (C)150mmのアノードスロットの中央部を遮蔽した場合、(D)アノード スロットの右半分を閉鎖し、カソードスロットを閉鎖していない場合、(E)カ ソードスロットの右半分を閉鎖し、アノードスロットを閉鎖していない場合、( F)カソードスロットとアノードスロットの右半分を閉鎖した場合、である。 発明の詳細な説明 本発明は、ジェットプラスマ蒸着によりカーボンリッチコーティングを蒸着す る方法と装置を提供する。概略、本発明のプロセスではカーボンリッチプラズマ (イオン化された中性炭化水素断片の膨張反応ガス)を使用している。このプラ ズマは、基板に向かうジェット気流に乗って送られる。一般に、基板は、高周波 バイアスに晒されて負極性に帯電される。カーボンリッチプラズマは、中空カソ ードシステム、すなわち“中空カソードチューブ”又は“中空カソードスロット ”、好ましくはスロットと直線上のチューブを用いてプラズマガスから生成され 、アノードに向けて該アノードを通り送られる。これは、プラズマがカソードと アノードの間で生成されてジェット気流がカソード/アノード装置から送られる 従来の“プラズマジェット”システムと異なる。 プラズマガスは、ガス又は蒸発した液体である。これはフィードガスと任意的 にアルゴンのようなキャリアガスを含む。プラズマガスは、フィードガスとキャ リアガスの両方を含むのが好ましい。フィードガスは、カーボンリッチコーティ ングの所望の組成に適した任意の源である。カーボンリッチプラズマで蒸着され るカーボンリッチコーティングは、実質的に水蒸気や酸素に対して不浸透の障壁 となる。また、コーティングは一般に機械的及び化学的劣化に対して抵抗となる 。例えば、これらは十分な弾性を有し、例えば磁気媒体や包装フィルムに使用さ れる一般のフレキシブル基板上で使用され得る。 図1において、カーボンリッチコーティングの蒸着に特に好適なジェットプラ ズマ装置が符号10で示してある。この装置は、フィードガス源20とキャリア ガス源22を含み、これらはフローコントローラ24、25を介してそれぞれイ ンレットチューブ26、27に接続されている。ガス源22からのキャリアガス (例えばアルゴン)は、インレットポート28を介して、真空室30及び中空カ ソードシステム40に供給される。ガス源20からのフィードガス(例えば、ア セチレン)は、インレットポート29を介して、真空室30及び中空カソードシ ステム40に供給される。好適な中空カソードシステム40は3つの部屋、すな わち第1の部屋41、第2の部屋42、及び第3の部屋43に分かれている。キ ャリアガスを使用する場合、このキャリアガスは第1の部屋41に供給される。 これに対して、フィードガスは第2の部屋42に供給される。 中空カソードシステム40に加えて、真空室30の内側には、接地システムと しても機能するアノードシステム60(好ましくは調節可能なアノードシステム )、高周波バイアス電極70、及び基板75(例えば、ポリエチレンテレフタレ ート“PET”のようなポリエステルフィルム)が設けてある。基板75は第1 のロール76から繰り出され、第2のロール78に巻き取られる。プラズマガス (すなわち、フィードガスのみ、又はフィードガスとキャリアガスとの混合物) は、中空カソードシステム40内で、カーボンリッチプラズマに変換される。次 に、カーボンリッチプラズマは基板75に向けて送られる。この基板75は、カ ーボンリッチプラズマによるカーボンリッチコーティングの蒸着の間、高周波バ イアス電極70と好適に接触する。基板は、カーボンリッチコーティングでコー ティングされ得るいかなる材料からなるものであってもよい。例えば、それは高 分子、金属、又はセラミックの基板であり得る。好適な実施形態では、基板は薄 く〔すなわち、20ミル(0.05cm)〕以下、フレキシブルな高分子フィル ムである。有益なフィルムの例としては、配向ポリエステル、ナイロン、二軸配 向ポリ プロピレンなどがある。 高周波バイアス電極70は、銅、鋼、ステンレス鋼などの金属からなり、ロー ルの形をしているが、これは必ずしも必要ではない。例えば、板の形をしていて もよい。しかし、ロールは、電極と基板との間の摩擦が小さく、そのためにフィ ルムの歪みが減少するので好都合である。また、高周波バイアス電極70は室温 よりも高くない程度(好ましくは約0〜5℃)まで水冷するのが好ましく、それ は感熱基板を使用する場合に好都合である。高周波バイアス電極は通常約25K Hzから約400KHzの周波数を有する。ただし、周波数範囲をメガヘルツ範 囲を含むところまで広げることも可能である。一般的に、それは約マイナス10 0ボルトから約マイナス1500ボルトまでのバイアス電圧を有する。このバイ アス電圧により、別のプラズマが、マイナス電位を基板に印加する高周波バイア ス電極70の近傍で形成され、プラズマ60を基板75に向けて吸引し、これに より効率的かつ素早く蒸着が行われる。 カーボンリッチプラズマを形成するために、第1の直流電源80が、回路82 を介して中空カソードシステム40の第1の部屋41に電気接続され、また回路 84を介してアノードシステム60に電気接続されている。第1の直流電源80 は、直流パルス電源、非パルス濾過直流電源、又はスパッタリングシステムで使 用されているような適当なアーク抑制部を有するプラズマ形成手段であり得る。 しかし、直流パルス電源が一般に好ましい。また、第2の直流電源85は、回路 87を介して中空カソードシステム40の第3の部屋43に電気接続され、また 回路84を介してアノードシステム60に電気接続されている。第2の直流電源 85は、直流パルス電源、非パルス直流濾過電源、又は適当なアーク抑制部を有 するその他のプラズマ形成手段でよいが、直流パルス電源が好ましい。非パルス 濾過直流電源は25キロワットの濾過された直流電源(ニューヨーク州ニューヨ ーク、ヒッポトロニクス社から販売されているような電源)である。そのような 電源は、約10アンペアまでの高電流、比較的低電圧(すなわち約マイナス10 0ボルト)でプラズマを形成する。 RFバイアス電源90(例えば、ニューヨーク州ロチェスタのENIパワーシ ステムのプラムサロック3電源)が、回路92を介して高周波バイアス電極70 に、回路94を介してアース100に接続されている。直流電源80、85もま たアース100に接続してもよいが、これは好ましい配置ではない。この電気的 な接続が点線105により図1に示されている。したがって、3つの電源がすべ てアース100に接続されている配置では、アノードシステム60がアースされ ている。アノードシステム60がアースされていない前者の配置は、後者の配置 に比べて好都合である。例えば、アノードシステム60がアースされていない場 合、プラズマがアースされた金属室からアノードシステムを区別するために、形 成されたプラズマが一層安定する。また、アノードシステム60がアースされて いない場合、ウェブ断面のコーティング厚(すなわち、基板の幅に沿ったコーテ ィング厚)がさらに均一になる。また、例を用いて後に詳細に説明するように、 アノードシステム60に対するプラズマの接触を変化させることにより、プラズ マが制限されて、蒸着パターンがさらに容易に制御できる。 上述のように、直流電源80と85は直流パルス電源であるのが好ましい。こ れは、直流パルス電源が非パルス直流電源よりも安定したプラズマ状態を提供し 、それは均一なプラズマ蒸着速度、さらに基板長手方向のコーティングの均一性 に貢献できるからである。また、それにより、高電流を使用し、比較的低電圧で 高蒸着速度を達成できるからである。 第1の直流電源80又は第2の直流電源85若しくは両方に利用するのは、一 般に、ゼロ値を約25〜1000回/秒、好ましくは約25〜200回/秒、最 も好ましくは約100〜120回/秒の割合で通過する電圧を供給する直流パル ス電源である。これにより、カソードが所定電圧に達したときに、プラズマが消 えたり再点火されたりする。そのような直流パルス電源としては、カリフォルニ ア州バークレー、エアコ・テメスカルから販売されている、最大出力500mA 、全波整流直流電圧(周波数120Hz、0ボルトから5000ボルト)のエア コ・テメスカル・モデルCL−2A電源が含まれる。この電源の他の形態では2 つのエアコ・テメスカル変換器が並列に使用されており、これにより最大出力が 1アンペアとしてある。これらの直流パルス電源は以下の例のように用いられて いる。 他の電源は10アンペア最大出力としてあり、以下に説明する例で使用されてい る。これは、ミネソタ州ローズビルのマグ・コン社から入手できる大型(1キロ ワット)の漏洩型変換器(直流パルス出力を得るために全波整流器を含む。)。 ここで“漏洩型”変換器とは、負荷に対して安定した操作点を負の動的抵抗に対 して与えるものである。この10アンペア電源の出力は、一般に、電流が0から 10アンペアで、0からマイナス1500VDC(ボルト直流)である。この電 源は電流が制限されており、これによりカソード表面で高強度のアークが形成さ れるのを防止している。大電流が必要な場合、大型の漏洩型変換器を使用しても よいし、又は2個以上の小型変換器を並列に配置してもよい。 特に好適な本発明の実施形態では、電源80と電源85は直流パルス電源であ る。その実施形態では、キャリアガスが中空カソードシステム40の第1の部屋 41に導入され、直流パルス電源(好適には500mAの直流パルス電源)がキ ャリアガスからプラズマを形成するために用いられる。中空カソードシステム4 0の第3の部屋43でプラズマを形成するために直流パルス電源を使用する場合 、最初のキャリアガスプラズマの形成は必ずしも必要ではないが、非パルス濾過 直流電源を使用する場合には第3の部屋でプラズマを励起する必要はない。本発 明の特に好適な実施形態では、キャリアガスプラズマの初期励起後、この初期プ ラズマは中空カソードシステム40の第2の部屋を通過し、そこでフィードガス と混合される。次に、この混合は第3の部屋43を通過し、そこで第2のプラズ マが直流パルス電源を用いて形成される。この直流パルス電源は、フィードガス のフラグメント濃度やカーボンコーティング蒸着速度に応じて、実施形態で使用 されている1アンペアから10アンペアの電源でもよいし、500mA電源、2 0アンペア、30アンペア、50アンペア、100アンペア等の電源でもよい。 中空カソードスロットシステム40の第1の部屋41で形成され且つ維持され る電圧は、約マイナス200から約マイナス1000ボルト(好ましくは、約マ イナス200からマイナス500ボルト)であるのが好ましい。第1の部屋に供 給される電力は、通常約20から10,000ワット、好ましくは20から10 00ワット、さらに好ましくは100から500ワットである。中空カソードス ロットシステム40の第3の部屋43で形成され且つ維持される電圧は、好まし くは約マイナス50から約マイナス500ボルト、さらに好ましくは約マイナス 80から約マイナス120ボルトである。第2の部屋に供給される電力は、通常 、約50〜3000ワット、さらに好ましくは約1000〜3000ワットであ る。2つの直流パルス電源を用いた後述する実験では、第1の部屋の一般的なパ ラメータはプラズマ電流0.5アンペア、プラズマ電圧約マイナス500ボルト 、第3の部屋の一般的なパラメータはプラズマ電流が1又は10アンペア、プラ ズマ電圧がマイナス100ボルトである。 適正な条件を与えることで、安定したジェットプラズマ160が真空室に形成 され、それは中空カソードスロットシステム40の既存スロット形状に似た拡大 パターンでもって広がる。基板75上にカーボンリッチコーティングを高速で蒸 着できるように、好ましいプラズマは高速ガス断片濃度(すなわちフィードガス の断片化が高速で生じる濃度)を有する。すなわち、カーボンリッチコーティン グの蒸着速度が速くなり、コーティングが均一になるほど、より好適なプラズマ が形成され、それはシステムの構成や供給される電流と電圧に依存する。また、 低電力で比較的高速に非常に均一なカーボンリッチコーティングが蒸着できれば 、実用的な配慮(例えば、コスト、安全性、及び過熱防止)の点でシステムはよ り好ましいものとなる。 真空室30の状態をモニターするために、質量型分光計110、放出型分光計 120、及び静電容量式圧力計130が設けることができ、これらは真空室30 に接続してある。真空室30には、真空を形成するために通常使用される任意の 手段によって、真空が形成され且つ維持される。例えば、図1に示す実施形態で は、拡散型ポンプ140、機械式ポンプ150が使用されており、これらは真空 入口142によって部屋30に接続されている。真空室は一般に約1〜300m Torr(0.13〜40Pa)、好ましくは約5〜50mTorr(0.67 〜67Pa)の圧力に保たれる。 上述のように、好適な中空カソードシステム40は、直列に配置された3つの 部屋、すなわち、第1の部屋41、第2の部屋42、及び第3の部屋43からな る。図2において、第1の部屋41は、第2の部屋42に通じる壁44を有する 。壁44は好適には銅で形成されるが、任意の高耐熱導電材料(例えば、グラフ ァイト、又はモリブデン、タングステン、タンタルなどの金属)で作ることがで きる。少なくとも上部と底部の壁は、殆ど又は全く熱膨張しないように、水冷す るのが好ましく、これにより電気的状態がほぼ一定に保たれる。しかし、壁がグ ラファイトで形成されている場合、水冷は不要である。壁は室温又はそれ以下、 さらに好適には約0〜5℃の温度に冷却するのが好ましい。第1の部屋41の大 きさは、一般に、幅、長さ、及び高さが約2〜20cmであるが、特定の大きさ に限定されるものではない。また、形状は長方形として示してあるが、部屋は円 筒形又は所望の形状でよい。 第1の部屋41は、キャリアガス(例えば、アルゴン)のプラズマを維持でき るように設計されている。キャリアガスは第1の部屋41に、中空カソードとし て機能する細長い通路46を介して入る。そこでは、キャリアガスが、必要なら ばプラズマに変換される。したがって、この部屋は、アルゴンプラズマ室と呼ぶ ことができる。この細長い通路はチューブ形状であるのが好ましく、任意の高導 電性の耐火性材料(例えば、グラファイト、モリブデン、タングステン、タンタ ル)で形成することができ、任意の種々の断面形状(例えば、円形、正方形、長 方形など)とすることができる。チューブはグラファイトで作り、長さの直径に 対する比率が約10:1から約5:1の円形断面とするのが好ましい。内径は約 0.3cmから約2.5cm、好ましくは約0.5〜1.5cmである。そのよ うな中空カソードチューブは、米国特許第5,232,791号、第5,286 ,534号(コーラー等)に詳細に記載されている。グラファイトチューブと銅 製の壁は共に同一の直流電源〔すなわち、直流電源80(図1)〕に接続されて いる。図2に示す第1の部屋41のカソードは円筒チューブであるが、これは必 ずしも必要なことでない。ただし、この形状は、安定したプラズマを容易に形成 し維持することができるので有利である。 第1の部屋の中空カソードで形成されたプラズマは第2の部屋42に入る。こ の部屋42は壁45で構成されている。キャリアガスプラズマは、仕切プレート 48に設けた開口部47を介して部屋42に入るのが好ましい。第2の部屋42 では、キャリアガスプラズマはフィードガスと混合され、それはフィードガス入 口チューブ49を介して入る。次に、混合物は第3の部屋43を、好ましくは仕 切プレート51の開口部50を介して通過する。したがって、第2の部屋42は 混合室であり、それは第1の部屋41と第3の部屋43の両方に通じている。壁 45、フィードガス導入チューブ49、仕切プレート48及び51(すなわち第 2の部屋の端部プレート)は、ガラス(例えば、石英)で作るのが好ましく、こ れらは電気絶縁材料(例えば、セラミック)で作ることができる。プレート48 (すなわち、第1と第2の部屋の間の仕切プレート)の開口部47は、直径約0 ,3〜2cm(好ましくは約0.5〜1cm)の円形とするのが好ましい。プレ ート51の開口部50(すなわち、第2と第3の部屋の間の仕切プレート)は、 長円形の卵形又は四角形(すなわち、スロット状)の形で、第3の部屋の電極プ レート間の開口部の大きさ(すなわち、イメージ)を映し出すサイズが好ましい 。フィードガス導入チューブ49は“T”の形をしており、横方向部材の両端部 に出口ポートを有し、横方向部の長さ方向に沿ってフィードガスが良好に分散で きるものが好ましい。第2の部屋42の寸法は、一般に、幅、長さ、及び高さが 約2〜200cmであるが、特定の大きさに限定されるものではない。また、形 状は長方形で示してあるが、部屋は円筒形又はその他の好適な形状とすることが できる。 第3の部屋43は、壁53とフロントプレート54で構成されているが、中空 カソードシステム40が機能するためにフロントプレート54は必ずしも必要な ものではない。フロントプレート54はガラス(例えば、石英)で作るのが好ま しいが、その他の電気絶縁材料(例えば、セラミック)を使用してもよい。壁5 3はグラファイトで作るのが好ましいが、高温に耐える銅や任意の耐火金属(例 えば、モリブデン、タングステン、タルタン)で作ることもできる。壁をグラフ ァイトを作る場合、少なくとも上部と底部の壁は、第1の部屋41について上述 した温度と同一の温度まで水冷するのが好ましい。第3の部屋43の寸法は、一 般に、幅、長さ、及び高さが約5cmから200cmであるが、特定の大きさに 限 定されるものでない。また、形状は長方形で示してあるが、部屋は円筒形又はそ の他の所望形状としてもよい。部屋の一般的な寸法は、高さ10cm、長さ10 cm、幅15〜30cmであるが、それはコーティングする基板の大きさに依存 する。 第3の部屋43はまた、隙間57をもって互いに平行に配置された2つの電極 プレート55と56を有する。これらの電極プレートは第2の直流電源85(図 1)に接続されており、電極プレートの間でプラズマを形成する。プラズマは第 3の部屋43の前部58に噴出され、フロントプレート54のスロット59を介 して基板に向けて送られる。 平行プレート55と56はカソードとして機能し、これらはグラファイト又は 高耐熱導電材料(例えば、銅又は耐火材料)で作られている。プレートのアーク 放出によりプレートが融除することからプレートはグラファイトで好適に作られ ており、それによりプラズマ形成にキャリアガスを使用する場合のみ基板にカー ボンが蒸着される。プラズマガス(例えば、カーボンリッチのフィードガスとキ ャリアガスプラズマとの混合)がスロット50を介して電極プレート55と56 の間の空間(すなわち、隙間57)内に直接導入されるように、電極プレート5 5と56は仕切プレート51に堅く設けてある。電極プレートの長さ(すなわち 、スロット51においてガスが入るプレートの端部と、プレートが前部58に出 るプレートの端部との寸法)は、安定したプラズマが形成され、殆ど又は全くカ ーボンがプレート自体に付着しないように選択される。一般に、それは、ガスの 圧力によって変化することがあるが、約0.3〜10cmである。電極プレート の長さは幅よりも小さい。電極プレートの長さは、第3の部屋の長さの約半分で ある。電極プレート55と56の厚みは、一般に約0.05〜1cm、好ましく は約0.3〜0.6cmである。電極プレート55と56の幅はプラズマの形成 に影響ないが、コーティングされる基板の幅に応じて選択される。したがって、 電極プレートの幅は約2〜200cm以上とすることができる。プレート55と 56の間の隙間57の大きさは、安定したプラズマが形成されるが、塞がること がないように選択される。すなわち、電極プレート55と56の距離は、プレー ト が形成できないほど大きくなく、カーボン付着によって隙間が塞がるほど小さく もない。一般に、電極プレート55と56の間の隙間57は約0.3〜2cm、 好ましくは約0.6cmである。プレート51の開口部50(すなわち、スロッ ト50)の大きさは、一般に、隙間57のそれと同一の大きさ(すなわち、約0 .3〜2cm)、好ましくは高さ約0.6cm、幅約2〜200cmで、基板の 幅に応じて決まる。 したがって、第3の部屋のカソードは、ここでは中空カソード“スロット”と いう。また、中空カソードスロットを有する中空カソードシステム(それ単独、 又はその他の中空カソードスロット又は中空カソードチューブとの組み合わせ) を、ここでは中空カソードスロットシステムという。中空カソードスロットは、 プラズマの制限性と方向性を与えるので好都合である。また、“スロット”形状 はほぼ一定の低電圧でもって広範囲な電流でプラズマを維持し、これにより過熱 を生じることなく高速蒸着を達成できる。 図1に示す装置には、ここで説明するカーボンリッチプラズマを形成する、一 以上の別の中空カーボンスロットシステムを設けてもよいと、理解すべきである 。別のカソードは、基板上に一以上の層を形成し、カーボンリッチ層の蒸着速度 を高めることができる。 本発明にかかる中空カソードスロットシステムと組み合わされた、電流が制限 された直流パルス電源を使用するのが好都合である。これは長時間に亘り極めて 安定したプラズマを作り、それにより高速蒸着及びウェブ方向に均一なコーティ ング厚が得られるからである。プラズマは、両電極の表面でランダムにかつ定常 的に動く低強度アークによって生じ、電極プレートの間で均等に分布する。した がって、電極プレートの使用による生じる放電はアーク放電で、米国特許第5, 232,791号と第5,286,534号(コーラー等)で記載されているよ うな、チューブの使用により生じるグロー放電と異なる。このプラズマモードは 、一定したプラズマの消滅と再発生の結果であると思われ、アークのフリージン グを防止すると共に多様なアークが過度に形成されるのを好適に処理する。 米国特許第5,232,791号と第5,286,534号(コーラー等)に 記載されている中空カソードチューブ又は2つのそのような中空カソードチュー ブの組み合わせと対照的に、ここで説明する中空カソードスロット、又は中空カ ソードチューブと中空カソードスロットとの組み合わせでは、10アンペアほど の電流、約マイナス100ボルトで、プラズマが維持される。中空カソードチュ ーブは一般に効率的方法で優れたカーボンリッチコーティングを得ることができ るが、ここで説明する中空カソードスロットシステムの作用は意外で且つ好都合 なものである。グロー放電に必要な電力及びカーボンリッチコーティングにおけ る中空カソードチューブの蒸着速度が図3に示してある。実験の手順は実施例2 (比較例)に説明してある。これによれば、グロー放電を用いた中空カソードチ ューブでは、著しく電圧を上昇させる必要があるし、その結果、高電流の電力が 高速の蒸着速度を得るために必要であることが理解できる。しかし、中空カソー ドスロットシステムの場合、高プラズマ電流及びそれによる蒸着速度は限界値( すなわち、約100ボルト)で得られ、プラズマ電圧は変化しない。実施例1を 参照。その結果、電力はプラズマ電流に比例して増加するだけである。適度な電 力要求と低電圧の使用が、中空カソードスロットシステムを独特で且つ大量処理 に対して実用的なものにしている。これは、本発明の中空カソードスロットシス テムでは、所定電圧で、高電流が使用できることにより、低電力で炭化水素のフ ィードガスを高度に断片化でき、それにより高速蒸着速度を得ることができるか らである。したがって、本発明の中空カソードスロットシステムにより、著しい プラズマ安定性、広範囲は蒸着、及び高速蒸着を達成するための高プラズマ電流 の使用が得られる。 本発明にかかるシステムを用いたカーボンコーティングの蒸着速度は印加され る電流に比例する。それらの蒸着速度は、多くの以前に報告された蒸着速度(例 えば10〜80Å/秒)よりも概ね約1〜2オーダー高いもので、米国特許第5 ,182,132号(ムライ等)で報告されている蒸着速度250Å/秒よりも 極めて高い。例えば、本発明の中空カソードスロットシステム及び実施例1で説 明する手順を使用することにより、約750Å/秒までの蒸着速度が得られる。 より高い電流電源やより高いガス流速により、さらに高い蒸着速度が得られると 思 われる。 上述した中空カソードスロットシステム及び直流パルス電源に加えて、本発明 の特に好適な実施形態はアノードシステム60(図1)、好ましくは調節可能な アノードシステム(図4)を有する。アノードシステム、特に調節可能なアノー ドシステムは、安定したプラズマの維持、形成すべきカーボンリッチコーティン グの均一性に貢献する。ここでは、本発明にかかる中空カソードスロットシステ ムとの組み合わせとして調節可能なアノードシステムを説明するが、これは必ず しも必要なことではない。調節可能なアノードシステムは、中空カソードスロッ トに代えて、例えば、米国特許第5,232,791号と第5,286,534 号(コーラー等)に示してある中空カソードチューブと共に好適に使用すること もできる。また、プラズマがカソード内で形成されると共にそれがアノードに向 けてまたアノードを通過する限り、好適なカソードスロットシステムと共に任意 のアノードを使用することができる。 図4において、調節可能なアノードシステム60は導電性ロッド61を有し、 これはカソードスロット59と平行に配置されている。ロッド61の長さはスロ ット59の長さを、好ましくは最大約30cmまで越えてもよい。さらに好まし くは、ロッド61とカソード59は、ロッドがスロットの端部を約5cmから約 15cm越えて伸びるように整列させる。アノードシステムロッド61は、中空 カソードスロット59と基板75との間のほぼ中間に、プラズマが進行する通路 の下に十分な距離(例えば、約2〜30cm、一般には約5cm)を置き、操業 中にスロットから基板への通路上でプラズマが遮断されるのを防止するように配 列される。一般に、これは、中空カソードスロット59の中心とバイアス電極7 0の中心を結ぶ仮想線から約2〜30cm下である。 アノードシステムロッド61は、グラファイト、タングステン、又は任意の耐 火金属、好ましくはグラファイトからなる。それは、直径約0.5〜2mmであ るのが好ましい。これは、好ましくは直径約1〜3cmのスペーサ62の両端に 堅く固定される。アノードシステムは、導電材料(例えば、銅、アルミニウムな ど、好ましくは銅)からなるスペーサを用いて、金属ベースプレート63〔通常 はコーティング室(すなわち、真空室30(図1))のベースプレート〕上にス ペーサ62を直接設けることでアースすることができる。これに代えて、スペー サ62を、アノードシステムから絶縁するために、絶縁材料で作ることもできる 。 アノードシステムロッド61はガラスボックス64に収容されている。箱の上 側65には、アノードシステムロッド61と平行にスロット66が設けてある。 スロット66は幅を変化させることができ、それは通常約0.5〜3cmである 。スロット幅の変更は、中空カソードスロットシステム40とアノードシステム ロッド61との間の適正な相互作用を得るために用いられる。すなわち、スロッ ト幅を調節して、カソードとアノード(“調節可能なアノードシステム”)との 間の相互作用を変化させ、これによりカーボンの蒸着速度とカーボンコーティン グのウェブ断面方向の均一性だけでなく、プラズマの安定性に影響を与えること ができる。カソードとアノードとの間の最適な相互作用は、部屋のアース部分に 通じる通路にプラズマがアースされるのを防止するために好ましい。 プラズマの操作中、アノードシステムロッド61は、付随的に付着したプラズ マカーボンを導電グラファイトに変換し、それによりアノードロッドの適正な導 電性を維持するために、約750〜1250℃、好ましくは約1000℃の温度 とする。高プラズマ電流で十分な加熱が行われるが、低プラズマ電流でロッドを 補助的に抵抗加熱するのが望ましい。実施例3で以下に示すように、ウェブ断面 方向のコーティング厚は、アノードシステムロッド61に対するプラズマの露光 量を変化させることで変化させることができる。これは、カソードとアノードと の間の電場を制御し(すなわち、アノードシステム60のスロット66の一部を 遮蔽し)、閉鎖されていない場所に沿ってプラズマを送ることで行われる。この 場合、アノードシステムは調節可能で、ウェブ断面のコーティング厚を操作する ことができる。 本発明の方法と装置は、アモルファスコーティングなどの種々のカーボンリッ チコーティングを用意するために使用できる。本発明の方法と装置で行われる一 般的なコーティングは、約50原子%(好ましくは約70〜95原子%)以上の カーボンを、微小量の酸素(好ましくは約0.1〜15原子%)、窒素(好まし くは約0.1〜20原子%)、及び水素(好ましくは約0.1〜40原子%)を 含む。しかし、形成されるコーティングは酸素、窒素、又は水素を含む必要はな い。カーボンリッチコーティングの組成は、キャリアガスの圧力、フィードガス の組成、中空カソードの形状、及び直流及び高周波電源から供給される電力によ り制御できる。例えば、キャリアガスの濃度を上げることにより、又はバイアス 電圧を上げることにより、高カーボン含有量のコーティングが形成できる。 上述のように、カーボンリッチプラズマは、フィードガス、又はフィードガス とキャリアガスとの混合から形成される。ここでは、それを“プラズマガス”と いう。キャリアガスの流速は約50〜500標準立方センチメートル(sccm )、好ましくは約50〜100sccmで、フィードガスの流速は約100〜6 0,000sccm、好ましくは300〜2000sccmである。例えば、約 20〜800Å/秒のカーボン蒸着速度の場合、フィードガスの流量は約50〜 350sccmで、キャリアガスが流量は約50〜100sccmで、フィード ガスの流量を大きく、キャリアガスの流量を低くする(通常は高い蒸着率が得ら れる)。通常、コーティングを強くするには、キャリアガス流量を増加し、フィ ードガス流量を減少する。 フィードガス(すなわち、カーボン源)は、任意の飽和又は未飽和炭化水素ガ スである。そのようなガスは、例えば、窒素、酸素、ハロゲン化物、シリコンを 含み得る。適当なフィードガスとしては、限定的ではないが、メタン、エタン、 エチレン、アセチレン、ブタジエン等の飽和及び未飽和炭化水素、メチルアミン やシアン化メチル等の酸素含有炭化水素、ヨードメタンやメチル臭化物等のハロ ゲン含有炭化水素、及びテトラメチルシラン、クロロトリメチルシラン、テトラ メトキシシラン等のシリコン含有炭化水素が含まれる。フィードガスは、使用す る温度と圧力でガス状であるもの、又は容易に気化する液体であり得る。特に好 適な供給ガスはアセチレンである。 上述のように、キャリアガスはフィードガスと一緒に使用することができる。 例えば、キャリアガスからの補助的なプラズマ無しで、直流パルス電源又は濾過 直流電源を用いて直流フィードガスプラズマを約マイナス100ボルトで維持す るのは困難である。例えば、フィードガスだけを使用する場合、1アンペアの直 流パルス電源では、電圧が時折約マイナス100ボルトまで上昇し、非パルスの 濾過した10アンペアの電源では、プラズマは時折消滅する。 キャリアガスは不活性ガス、すなわち本発明にかかる方法の圧力及び温度条件 では、選択したフィードガスと反応しないガスでもよい。好適なキャリアガスに は、限定的ではないが、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、窒素が含ま れる。一般に、高い分子量の分子(例えば、アルゴン)が好ましい。“不活性” と“キャリア”の用語は、そのようなガスが蒸着プロセスにまったく寄与しない ということを意味するものではない。概ね、生成されたキャリアガスイオンは衝 撃粒子としてコーティングの柔らかい部分(例えば、炭化水素を多く含む部分) を取り除くように作用し、これによりコーティングの密度と強度を改良する、と 考えられている。 本発明の方法により形成されるカーボンリッチコーティングの厚みは通常約5 nmよりも大きく、好ましくは10〜100nm、さらに好ましくは約10〜4 0nm、最も好ましくは約10〜20nmである。さらに厚いコーティングの可 能であるが、一般に必要とされない。基板は指定の速度でプラズマを通り、所望 の厚みのコーティングが施される。基板75をロール76からロール78に搬送 する速度は、約10〜4000mm/秒であるが、上述したガス流量と圧力、及 び装置では、一般には約10〜1500mm/秒である。 要約すると、本発明にかかる中空カソードスロットシステムは、直流パルス電 源と組み合わせにおいて、また上述した調節可能なアノードシステムと組み合わ せにおいて優れている。それは、プラズマが制限され且つ指向性を有するからで ある。上記プラズマの制限により、フィルム基板上に専ら集中されて高い蒸着の 歩留まりが得られる。プラズマの指向性(すなわち方向付けられた拡散)は、中 空カソードの内外のガス又は圧力の勾配に一部は帰する。これは、基板に対する プラズマの搬送性を高め、さらに蒸着速度を高める。また、本発明にかかる中空 カソードスロットシステムは、直流パルス電源との組み合わせにおいて、また上 述したアノードシステムとの組み合わせにおいて、有利である。これは、それに より低くほぼ一定の電圧で高電流を使用できるからである。このシステムにより 、中空カソードスロットシステムの内側で、高流量で高圧を採用することにより 、断片化の速度を高くすることができる。特に、高圧に基づくカーボン粉末形成 は観察されない。プラズマが中空カソードスロットシステムから噴出されると、 圧力が十分低くなり、蒸着が高バイアス電圧で可能となる。高バイアス電圧の使 用は、注文仕立ての特別なコーティング特性(例えば、硬度、密着性、導電性) 、及び/又は高いウェブ速度でプロセスを操作するために、使用される。 本発明は、以下の非限定的な例によってさらに説明する。これらの実施例は、 種々の特定のまた好適な実施例及び技術を説明するために提供するものである。 しかし、多くの変形や修正が本発明の範囲内で行い得ると理解すべきである。 実施例 システム寸法 15cmフィルムコーティング用中空カソードスロットシステム 第1の部屋(カソードチューブ付長方形ボックス):内部寸法(高さ2.5c m、幅15.2cm、長さ4.0cm)、外部寸法(高さ6.4cm、幅17. 1cm、長さ5.0cm) 第1と第2の部屋の間のクォーツプレート:高さ5.2cm、幅20.3cm 、長さ0.3cm、円形孔の直径0.6cm。 第2の部屋:内部寸法(高さ5.3cm、幅14.7cm、長さ3.8cm) ;外部寸法(高さ6.0cm、幅15.4cm、長さ3.8cm) 第2と第3の部屋の間のクォーツプレート:高さ11.7cm、幅20.3c m、長さ0.3cm、スロット13.2cm×0.4cm 第3の部屋:内部寸法(高さ8.0cm、幅15.1cm、長さ9.5cm) ;外部寸法(高さ9.1cm、幅20.5cm、長さ9.5cm);電極プレー ト(幅15.1cm、長さ5.5cm)、2つの電極プレート間に形成されたス ロット高さ0.6cm 前クォーツプレート:高さ12.0cm、幅22.7cm、長さ0.3cm、 スロット17.6cm×2.0cm 30cmフィルム用中空カソードスロットシステム 第1の部屋:9.8cmのカソードチューブ(内径4.0cm)の周囲に水冷 コイル(外径6.5cm) 第1と第2の部屋との間のクォーツプレート:高さ7.0cm、幅38.1c m、長さ0.6cm、内径2.3cm×1.5cmの卵形孔 第2の部屋:内部寸法(高さ6.3cm、幅37.5cm、長さ3.9cm) ;外部寸法(高さ6.9cm、幅38.1cm、長さ3.9cm) 第2と第3の部屋の間のクォーツプレート:高さ10.3cm、幅39.6c m、長さ0.3cm、スロット30.1cm×0.5cm 第3の部屋:内部寸法(高さ6.7cm、幅29.1cm、長さ9.5cm) ;外部寸法(高さ10.2cm、幅34.1cm、長さ9.5cm);電極プレ ート(幅11.1cm、長さ4.8cm)、2つの電極プレート間に形成された スロット高さ0.8cm 前クォーツプレート:高さ10.1cm、幅39.5cm、長さ0.3cm、 スロット30.5cm×2.5cm電源仕様 エアコ・テメスカルCL−2A電源は、交流電力を全波ブリッジ整流器に供給 して出力を得る漏洩変圧器からなる。上記出力は、変換出力電圧の絶対値、すな わちゼロボルトから始まり約5000ボルトのピーク負値まで変化する正弦波の 負の絶対値である。100オームの純抵抗負荷の下では、電源は500mAに制 限された電流でマイナス200ボルトの電圧まで上昇する。負荷としてアークプ ラズマが存在する場合、電源の出力電圧は装置のブレークダウン電圧まで上昇し 、500mAに制限された電流でもってアーク定常電圧まで素早く電圧が落ちる 。 したがって、採用されている漏洩変圧器は、一般的なグロー放電システムの抵抗 バラストに似たような負荷又はプラズマを介して流れる電流を制限すべく機能す る。さらに具体的には、電源出力電圧のサイクル(開始T0)が120Hz波形 (ゼロ出力電圧で開始)を通って進むにしたがって、電圧は時間と共にアーク安 定状態電圧よりも遥かに大きい負の電圧値まで上昇する。この時点で、電圧ブレ ークダウンがジェットプラズマ中で発生し、アークが形成され、そして電源出力 が約マイナス100ボルトのアーク安定状態まで低下し、CL−2A電源に対し て変圧器の飽和電流が約500mAまで低下する。サイクル中で時間が進行する にしたがって、電源電圧はアーク電圧以下に低下して、アークが消滅する。電源 出力電圧は低下し続け、T0+1/120(秒)の時点でゼロボルトに到達し、 再び上記プロセスを開始する。この全サイクルの時間周期は1/120(秒)、 又は電源に対する交流入力電圧の周波数の2倍である。1アンペアと10アンペ アの電源の操作は、制限電流がそれぞれ1アンペアと10アンペアという点を除 いて同一である。 実施例1 カーボンリッチコーティングをシリコンチップ上に蒸着した。シリコンチップ は、幅15cmで厚さ1ミル(2.54×10-3cm)のカプトン(商標名)フ ィルム型式100H(ドイツ国ウィルミントンのデュポン・ド・ネムールスから 入手した。)上に置かれた。シリコンチップは約1cm×3cmで、一部がマス クされ、カプトンフィルムを横切って配置された。シリコンチップは、毎秒約5 cmの速度で繰り返しバイアスされたチルロール上をカプロンフィルムによって 搬送した。カプロンフィルムは、バイアスされたチルロールとウェブ駆動システ ムの2つのロール上を環状に搬送した。中空カソードスロットは約幅15cmで 、グラファイトプレート間の隙間は約0.6cmであった。チルロールは、直径 5cm、長さ18cmで、5℃まで冷却され、中空カソードスロットから約6. 5cm離した。アースボックス、すなわちアノード、は、約幅20cmで3mm のグラファイトロッドを有し、このロッドは赤熱温度まで電気的に加熱した。ア ノ ードを含むすべての電源は共通アース(すなわち、図1に示すアース100)に 接続した。真空室を約1mTorr(0.13Pa)まで減圧した後、50sc cmから100sccmの間のアルゴン流をアルゴンプラズマ室(すなわち、こ こで説明する中空カソードスロットの第1の部屋)に導入した。プラズマは、エ アコ・テメスカルの型式CL−2A電源(最大出力0.5アンペア)を用いて、 約マイナス450ボルト、直流パルス電流0.5アンペアで維持した。アセチレ ン流量は50〜336assmの間で変化させ、混合室(すなわち、中空カソー ドスロットシステム)に導入した。中空カソードスロットは、ヒッポトリニック スの25キロワット非パルス濾過直流電源で駆動した。電流は4800mAと1 0,000mAの間で変化させた。しかしながら、1000mAで行った実験で は、最大出力1アンペアをカソードスロットに印加する直流パルス電源を用いて 行った。以下の表は種々の条件での蒸着速度を示す。蒸着速度は、蒸着時間とコ ーティング厚から決定した。蒸着時間は、ウェブ速度と蒸着面積(約5cm×1 5cm)から計算した。コーティング厚はテンコール・インスツルメント(カリ フォルニア州マウンテンビュー)で製造されたステップ・プロフィロメータを用 いて求めた。この装置は、マスクされた領域と繰り返しコーティングされた領域 との間の階段を正確に測定する。 実施例2(比較例) カーボンリッチコーティングを、幅15cm、厚さ1ミル(2.54×10-3 cm)のカプロン(商標名)とシリコンチップに蒸着した。米国特許第5,28 6,534号と第5,232,791号(コーラー等)に記載されたジェットプ ラズマ蒸着を用いた。中空カソードは、直径2.5cm、長さ10cmのグラフ ァイトチューブで、基板から21cm離した。基板は、バイアス電極として機能 する水冷銅プレートに接触させた。アノードは、中空カソードチューブと基板と の間に設けた、ニクロム線ループ(約直径30cm)であった。アルゴン(50 sccm)とアセチレン(150sccm)を中空カソードチューブに導入した 。プラズマは、中空カソードチューブを、1アンペアの最大出力直流パルス電源 で駆動して形成した。蒸着時間は、安定したサンプルを得るために1分とした。 図3に示すように、蒸着速度は、電圧の著しい上昇と共に増加する電流にしたが って増加した。 実施例3 幅30cm、厚さ0.56ミルで、SiO2の滑剤(ドイツ国デグッサ社のO X−50)を約1%以下含む、ビデオグレードのポリエチレンテレフタレートフ ィルム上にカーボンリッチコーティングを蒸着した。まず、フィルムはコロナ処 理して保管用にラップし、2つの直流パルス電源(最大出力が1アンペアと10 アンペア)を用いて、蒸気遮断特性を有するパッキングフィルム(ミネソタ州セ ントポールのミネソタ・マイニング・マニュファクチャリングで製造)の中で扱 った。中空カソードスロットは幅10cmで、銅プレートの間には約0.8cm の隙間を設けた。チルロールは直径48cm、幅32cmで、約5℃まで冷却し 、中空カソードスロットの前から9cm離した。アノードシステムは、チルロー ルと中空カソードスロットとの間の仮想線下に設け、2つの直流パルス電源に接 続した。真空室を約1mTorrに吸引した後、40sccmのアルゴンをアル ゴンプラズマ室(すなわち、本発明にかかる好適な中空カソードスロットシステ ムの第1の部屋)に細長い通路を介して導入した。プラズマは、最大出力1アン ペ アの直流パルス電源を用いて、1アンペア、マイナス200ボルトで形成し維持 した。アセチレン(460sccm)を混合室(本発明にかかる中空カソードス ロットシステムの第2の部屋)に導入した。中空カソードプレートを含む中空カ ソードスロットシステムの第3の部屋を、10アンペアの最大出力直流パルス電 源に接続した。マイナス100ボルトで、10アンペアの電流を使用して安定し たプラズマが形成された。バイアス電圧はマイナス720ボルトに維持した。圧 力は約6mTorr(0.80Pa)であった。ウェブ速度約15m/分では、 100〜200Åのカーボンリッチコーティングが得られ、それは縦横断面方向 に均一であった。それは、水蒸気浸透値約1.3〜1.6g/m2−日ASTM 試験方法F129−90〔アルミニウム膜標準測定−サンプルは脱イオン水を半 分満たしたセルで夜中に調整され、15psi(1.0×105Pa)で60分 間テスト〕を用いて、ミネソタ州ミネアポリスのモダン・コントロールズ社製造 のパーマトランW−6浸透試験器を用いて測定した。 実施例4 実施例3で用いた10アンペア最大出力直流パルス電源を、ヒッポトロニクス (型式No.803−8.8A)から販売されている高電流25キロワット非パ ルス濾過直流電源に代えた。この装置構成、ガス流量、及び圧力は、実施例3で 説明したものと同一である。アルゴンプラズマは、マイナス500ボルト、電流 1アンペアで維持した。中空カソードスロットは、電圧マイナス95ボルト、電 流9アンペアを有する。バイアス電圧はマイナス900ボルトに維持した。実施 例3で使用したPETフィルムからなる600mのウェブ(約20m/分の速度 )をカーボンリッチコーティングでコーティングした。コーティングは厚さ10 0〜200Åで、蒸気透過値が1〜2g/m2−日(実施例3で説明のように測 定)であった。ヒートラミネーション(すなわち、テキサス州ヒューストンのエ クソン・ケミカル・カンパニーから商標名EXACT3027で販売されている コロナ処理されたエチレンブテン共重合体を約1ミル(2.54×10-3)コー バーコート)の後、水蒸気透過値は1g/m2−日以下であった。一連の試験に おい て、カーボンをコーティングしラミネートしたサンプルを複数回折り畳んだ。カ ーボンコーティングだけを含む2回折りしたPETフィルムは、水蒸気透過値が 約10g/m2−日まで増加した。ただし、この値は、PETフィルムだけ(3 0g/m2−日)又はカーボンコーティング(18g/m2−日)無しでポリマー をラミネートしたPETフィルムよりも依然として低いものである。カーボンコ ーティングとエチレンブテンのオーバーコートを含むラミネートサンプルは6回 折りしたが、高度のフレキシビリティを示し、これにより低いバリア特性の劣化 が得られる。すなわち、水蒸気透過値は僅かに増加したが、約2g/m2−日以 下に保たれた。したがって、本発明の方法により得られるカーボンコーティング はフレキシブルな基板に対しても使用でき、例えば、高分子コーティングと組み 合わせて使用することにより、包装への適用に対して特に有利である。 実施例5 幅15cm、厚さ0.56ミル(1.4×10-3cm)を有するビデオグレー ド2層ポリエチレンテレフタレート上にカーボンコーティングを蒸着した。一方 の層は約1%のSiO2滑剤(ドイツ国デグッサのOX−50−保管用に予めラ ップされ、水蒸気遮断特性を有する包装フィルム内で扱われる)を含み、ミネソ タ州セントポールのミネソタ・マイニング・マニュファクチャリング・カンパニ ーで製造されたものである。中空カソードスロットは約幅15cmでグラファイ トプレートは約0.6cmの隙間を有する。チルロールは直径5cm、長さ18 cmで、5℃まで冷却され、中空カソードスロットから約6.5cm離した。ア ノードボックスは幅23cmで、赤熱温度まで電気加熱された3mmのグラファ イトロッドを含む。アノードボックスを含むすべての電源は共通アースに接続し た。約1mTorr(0.13Pa)の圧力に真空室を吸引した後、50scc mのアルゴンをアルゴンプラズマ室に導入し、そこでアエコ・テメスカル型式C L−2電源(最大出力0.5アンペア)を用いて、マイナス450ボルト、0. 5アンペアの直流パルス電流でプラズマを維持した。アセチレン(258scc m)を混合室に導入した。中空カソードスロットを、ヒッポトロニクスの25キ ロワッ ト非パルス濾過直流電源で駆動した。僅かに不安定なプラズマが、マイナス10 0ボックス、約4.2アンペアで維持された。バイアス電圧はマイナス700ボ ルトに維持した。圧力は11mTorr(1.43Pa)であった。ウェブ速度 6m/分では、ウェブ上下方向の均一性を変化させながらカーボンリッチコーテ ィングが得られた。PETフィルムは、SiO2滑剤を含まない側にコーティン グした。PETの長さ方向に沿って種々のサンプルをバリア特性について評価し た。水蒸気透過値は、0.5g/m2−日から3g/m2−日の間で変化した。こ の変動は、おそらくアセチレンの断片化の変動に基づくものである。事実、質量 分光計はアセチレンフィードガスの非断片化部分における時間的変化を示した。 したがって、カーボンリッチコーティングの厚み変化によりバリア特性が変化す ることが証明された。対照的に、質量分光計は、直流パルス電源を使用したとき は、一定速度でアセチレンが時間的に断片化することを示した。 実施例6 非パルス濾過直流電源に代えて、1アンペア最大出力直流電源により、実施例 5で説明した15cmコーティング装置を用いて一連の実験を行った。図5Aは 、実施例5で使用したPETフィルム上に、非常に不均一なコーティング厚を示 す。プラズマ室そのものをグランドとして使用し、コーティングを得た。また、 カソードに対する対称配置を考慮せずに、中空カソードの前にグランドワイヤル ープを配置した。図5Aと5Bの比較により、アノードシステムを使用する場合 に、ウェブ断面の均一性が改良されることを示している。蒸着パターンが対称( 中央部に最大蒸着を有する)であることは、最終的に電場の配置や蒸着状態に影 響を及ぼすと思われる対称的なカソードグランド配置の重要性を示している。図 5Cは、アノードシステムにおける対称性の僅かな変化が、蒸着パターンの変化 に重要な影響を及ぼすことを示している。図5Cは、全蒸着幅にわたる均一なコ ーティングが、グランドスロット開口部を僅かに変更すること(すなわち、グラ ンドスロットの中心をガラスのスライドで遮蔽すること)で達成できることを示 している。図5Dと図5Eは、電場パターンのあらゆる歪みや部分的遮蔽により 蒸着パ ターンが変化することを示している。図5Dにおいて、グランドスロットの右半 分を遮蔽すると、右半分のコーティング厚が減少する。実験条件は著しく相違す る(すなわち、グランドスロットに対向するカソードスロットの右側が遮蔽され ている)が、図5Eにおける蒸着パターンは似ている。蒸着パターンと図5Dと 5Eにおける蒸着カーボン量の類似性は、遮蔽が中空カソードのスロット又はア ノードシステムのスロットのいずれで生じるかに拘わらず、カソードとアノード (グランド)の間に形成された電場パターンの強度に応じて、蒸着が制御又は少 なくとも著しく影響を受ける、ことを示している。図5Fは、グランドスロット とカソードスロットの右半分を遮蔽した場合の、蒸着パターンを示す。 実施例7 種々の幅15cmのポリマーフィルム基板上にカーボンリッチコーティングを 蒸着した。中空カソードスロットは幅が約15cmで、グラファイトプレートは 0.6cmの隙間を有する。高周波バイアス電極は水冷銅プレート(20cm× 25cm)で、これは中空カソードスロットから5.5cm離して設けた。グラ ンドワイヤループ(約直径35cm)を、中空カソードボックスと基板の間に設 けた。中空カソードスロットは、1アンペア最大出力直流パルス電源により、1 000mA、約マイナス100ボルトで起動した。フィルム基板は、バイアス電 極プレートに接触している間は安定して、又は一定速度でプレート上を連続的に スライドさせながら、コーティングした。以下の表は、カーボン蒸着前(基板) とカーボン蒸着後(サンプル)の水蒸気透過値を示す。透過値は、パーマトラン W−6透過試験器を用いて、実施例3で説明した方法により測定した。優れたバ リア値が、4ミル(1.0×10-2cm)のPETフィルムを含むすべての基板 に対して得られた。このフィルムは、コロナやその他のプラズマ(アルゴン)処 理にょって前処理しなかったし、水吸収を避けるために特別に包装又は滑剤が施 されていなかった。 実施例8 実施例3で使用した中空カソードシステムを、内径0.6cm、長さ15cm のグラファイトチューブ(米国特許第5,286,534号と第5,232,7 91号に記載)に代えた。フィードガスとキャリアガス(460sccmのC22と40sccmのアルゴン)を混合してチューブに導入した。その他、アノ ードシステムの配置とカソードチューブオリフィスの基板までの距離を含めた装 置の構成は実施例3に記載されているものと同一である。カーボンリッチコーテ ィングを、幅30cm、0.56ミル(1.4×10-3cm)のビデオグレード 2層PETフィルム(実施例5で説明)上に、パルス型10アンペア最大出力電 源を用いてプラズマアーク電流10アンペア、電圧マイナス75ボルトで、速度 14m/分で蒸着した。圧力は約8mTorr(1.0Pa)で、バイアス電圧 はマイナス600ボルトであった。水蒸気透過試験(実施例3で説明した方法で 測定)は、ウェブ断面の均一性の点で、外側部分の約8g/m2−日から中心部 分の約0.5g/m2−日までの変化を示した。非均一性は、小さなカソードチ ューブオリフィスから生じるカーボンぶらず間によるもので、それは点源と考え られる。これらの結果に基づいて、ウェブ断面の一層優れた均一性が、アノード システムの形状を適当に変更することで期待できる。 実施例9 1ミル(2.54×10-3cm)カプトン(商標)フィルム(デュポン、H1 00)と、1ミル(2.54×10-3cm)アルミニウム箔(共に幅15cm) を、実施例5で説明した装置構成及び処理条件にしたがってカーボンおコーティ ングした。中空カソードスロットプラズマは、約マイナス100ボルト、6アン ペアで維持した。圧力は約8〜10mTorr(1.0〜1.3Pa)とした。 カーボンをコーティングしたカプトン(商標)フィルムはESCAで、透光性と 水蒸気の透過性について評価した。カーボンは、固定状態でアルミニウム箔上に 2〜3分間蒸着し、ラマン分光計による分析で使用するために掻き取った。また 、アルミニウム箔は、Ge−FTIRクリスタルやシリコンチップの基板ホルダ として使用し、蒸着カーボンの厚みと硬度を測定した。 サンプルAについて、以下のIR(赤外線)吸収率のピークを測定した。 本来、サンプルAは、非飽和の酸化炭素の多くの部分と共に高濃度の炭化水素 族を含んでいた。サンプルAの吸収ピーク高さを、サンプルB(マイナス300 ボルトで処理)のそれと比較すると、サンプルBの炭化水素部分は約40%減少 し、酸化炭素は約10〜20%減少した。しかし、非飽和炭素部分は約15〜2 0%上昇した。サンプルC、サンプルAと同様であったが、幾分強いプラズマ条 件を用いることにより、僅かに大きな組成変化が得られた。サンプルBではC= 0ピークはほぼゼロまで減少し、サンプルCでは完全に無くなった。これらの結 果は、異なる蒸着条件を用いることで、異なる形式のカーボンリッチコーティン グが蒸着され、サンプルBとCの方法ではダイヤモンド状コーティングが得られ た。 サンプルBとCのラマンスペクトルは、1330〜1334cm-1におけるピ ークと、1580〜1583cm-1の大きな鋭いピークを除いて実質的に平坦で 、上記ピークはグラファイト成分の存在を示している。サンプルBとCのモース 硬度値はダイヤモンドのそれに近かった(約10)。 種々の特定の好適な実施形態と技術を参照して本発明を説明した。しかし、本 発明の精神及び範囲内において、多くの変更や修正をなし得ると理解すべきであ る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 カーク,セス・エム アメリカ合衆国55133−3427ミネソタ州 セント・ポール、ポスト・オフィス・ボッ クス 33427(番地の表示なし) (72)発明者 フォレット,ゲイリー・ジェイ アメリカ合衆国55133−3427ミネソタ州 セント・ポール、ポスト・オフィス・ボッ クス 33427(番地の表示なし)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. (a)真空室に基板を用意し、 (b)上記真空室にカーボンリッチプラズマを形成するために、(1)互いに平 行に配置された2つの電極プレートを有するカソードを含む中空カソードスロッ トシステム内にプラズマガスを噴出し、(2)上記中空カソードスロットシステ ムにカーボンリッチプラズマを形成し維持するために十分な電圧を印加し、(3 )上記プラズマを維持するために必要な真空を上記真空室内に維持し、 (c)カーボンリッチコーティングを形成するために上記基板にカーボンリッチ プラズマを蒸着する、 基板上にカーボンリッチコーティングを施すプラズマ蒸着方法。 2. 上記カーボンリッチプラズマを蒸着する工程は、上記基板を高周波バイア ス手段の近傍に設けて基板をプラズマに晒し、これにより上記プラズマが基板に 向けて加速されてその上にカーボンリッチコーティングとして蒸着される、請求 項1の方法。 3. 上記中空カソードスロットシステムが、中空カソードチューブを有する第 1の部屋と、上記第1の部屋に接続された第2の部屋と、上記2つの平行プレー トを有し、上記第2の部屋に接続された第3の部屋を有する請求項1の方法。 4. 上記中空カソードチューブに接続された第1の直流パルス電源と、第2の 電極プレートに接続された第2の直流パルス電源により電力が供給される、請求 項3の方法。 5. 上記直流パルス電源の両方に接続されたアノードシステムを通り、上記基 板に向けて上記プラズマが加速される、請求項4の方法。 6. 上記第2の直流パルス電圧電源は10アンペアの最大電流を有する、請求 項4の方法。 7. 上記プラズマガスを噴出する工程は、キャリアガスを第1の部屋に噴出し 、フィードガスを第2の部屋に噴出する工程を含む、請求項3の方法。 8. プラズマが上記第1の部屋でキャリアガスから形成される、請求項7の方 法。 9. プラズマが上記第3の部屋でキャリアガスとフィードガスから形成される 、請求項8の方法。 10. 上記フイードガスが、飽和及び不飽和の、炭化水素、窒素含有炭化水素 、酸素含有炭化水素、ハロゲン含有炭化水素、及びシリコン含有炭化水素からな る群から選択される、請求項9の方法。 11. 上記フィードガスがアセチレンである、請求項10の方法。 12. 上記高周波バイアス手段がチルロールで、上記基板はカーボンリッチコ ーティングの蒸着の間上記チルロールに接触する、請求項1の方法。 13. 上記プラズマがアノードシステムを通り上記基板に向けて加速される、 請求項1の方法。 14. 上記カーボンリッチコーティングが、約750Å/秒の蒸着速度で蒸着 される、請求項1の方法。 15. プラズマを形成するカソードシステムと、アノードシステムとを、有す るジェットプラズマ蒸着装置において、上記カソードシステムは、互いに平行に 配置された2つの電極プレートを有するカソードを内部に収容する部屋を備えた 中空カソードスロットシステムを含む装置。 16. 上記中空カソードスロットシステムは、中空カソードチューブを有する 第1の部屋と、上記第1の部屋に接続された第2の部屋と、2つの平行な電極プ レーとを有し第2の部屋に接続された第3の部屋とを含む請求項15のジェット プラズマ蒸着装置。 17. 上記中空カソードチューブが第1の直流パルス電源に接続され、上記2 つの電極プレートは第2の直流パルス電源に接続されている、請求項16のジェ ットプラズマ蒸着装置。 18. バイアス電極を有する、請求項15のジェットプラズマ蒸着装置。 19. 上記アノードシステムは、動作中に上記カソードとバイアス電極との間 を通過するプラズマの通路の下になるように、上記中空カソードスロットシステ ムのスロットとバイアス電極とを結ぶ仮想線よりも実質的に下に配置された調節 可能なアノードシステムである、請求項18のジェットプラズマ蒸着装置。 20. プラズマを形成するカソードシステムと、動作中にプラズマが移動する 通路の実質的に下に配置された調節可能なアノードシステムとを有する、ジェッ トプラズマ蒸着装置。 21. バイアス電極をさらに備えた、請求項20のジェットプラズマ蒸着装置 。 22. 上記カソードシステムは中空カソードスロットシステムで、該中空カソ ードスロットシステムは、 (a)中空カソードチューブを有する部屋であって、上記部屋とチューブは第1 の直流パルス電源に接続されている第1の部屋と、 (b)上記第1の部屋に接続された第2の部屋と、 (c)上記第2の部屋に接続され、互いに平行に配置された2つの電極プレート を有するカソードを収容し、上記カソードが第2の直流パルス電源に接続されて いる第3の部屋とを備えた、請求項20のジェットプラズマ蒸着装置。 23. 第2の直流パルス電源は10アンペアの最大電流を有する、請求項22 のジェットプラズマ蒸着装置。
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