JPH09121019A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法

Info

Publication number
JPH09121019A
JPH09121019A JP27758795A JP27758795A JPH09121019A JP H09121019 A JPH09121019 A JP H09121019A JP 27758795 A JP27758795 A JP 27758795A JP 27758795 A JP27758795 A JP 27758795A JP H09121019 A JPH09121019 A JP H09121019A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
case
main current
current terminals
main
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27758795A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3396566B2 (ja
Inventor
Masatoshi Matsuki
正敏 松木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP27758795A priority Critical patent/JP3396566B2/ja
Priority to US08/635,767 priority patent/US5751058A/en
Priority to EP96107392A priority patent/EP0772235B1/en
Priority to DE1996635440 priority patent/DE69635440T2/de
Publication of JPH09121019A publication Critical patent/JPH09121019A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3396566B2 publication Critical patent/JP3396566B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49111Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting two common bonding areas, e.g. Litz or braid wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Casings For Electric Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 主電流端子の高い耐圧とインダクタンスの低
減とを両立して実現する。 【解決手段】 パワー基板30に搭載されたIGBT素
子27の主電極に電気的に結合する主電流端子31,3
2は、ケース21の側壁から外部へと突出している。主
電流端子31,32は、主要部において同一平面視輪郭
を有する平板状であって、互いに平行にしかも重なり合
うように配設されている。このため、主電流端子31,
32のインダクタンスが低く抑えられる。ケース21か
ら外部へ突出する主電流端子31,32の部分には絶縁
部材33が介挿され、しかも絶縁部材33は主電流端子
31,32の平面視輪郭から外方へと張り出している。
このため、主電流端子31,32におけるこの部分の耐
圧が高く維持される。ケース21の内部には電気絶縁性
の充填材43が充填されるので、ケース21内に収納さ
れる主電流端子31,32の部分の耐圧も高く維持され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、パワースイッチ
ング素子を備えたパワー半導体装置に好適な、半導体装
置、及びその製造方法に関し、特に、主電流端子の耐圧
の向上とインダクタンスの低減とを両立的に実現するた
めの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】図14は従来のパワー半導体装置の正面
断面図である。この装置では、電気絶縁性の箱状のケー
ス1の底部に、放熱板として機能する金属ベース板2が
はめ込まれており、これらのケース1と金属ベース板2
とによって、内部に収納室3が形成されている。金属ベ
ース板2の上面すなわち収納室3に面する主面には、絶
縁基板4が固定されている。
【0003】絶縁基板4の下面すなわち金属ベース板2
に対向する主面には、図示しない銅箔が形成されてお
り、この銅箔と金属ベース板2とをハンダ付けすること
によって、絶縁基板4は金属ベース板2へと固定されて
いる。絶縁基板4の上面、すなわち金属ベース板2へ対
向する側とは反対側の主面には、パターニングされた銅
箔すなわち配線パターン5が形成されている。そして、
この配線パターン5に、ベアチップ(樹脂モールドされ
ない半導体チップ)状のパワースイッチング素子(図示
を略する)が接続されている。
【0004】ケース1には、電気良導性の一対の主電流
端子6,7が固定されている。そして、主電流端子6,
7の上端部はケース1の外部に露出し、下端部は配線パ
ターン5に接続されている。主電流端子6,7は、配線
パターン5を介して、パワースイッチング素子の主電極
(例えば、トランジスタ素子のエミッタ電極とコレクタ
電極)と電気的に結合している。すなわち、主電流端子
6,7は、外部とパワースイッチング素子の主電極とを
中継する役割を果たしている。したがって、一対の主電
流端子6,7には、パワースイッチング素子によってス
イッチングされる主電流が流れる。
【0005】主電流端子6,7は、ケース1の上面に開
口する溝8に介挿され、この溝8を蓋9で閉塞すること
によって、ケース1へと固定される。そして、外部に露
出する上端部を除く、主電流端子6,7の主要部は、収
納室3に収納される。収納室3は、電気絶縁性の充填材
10で満たされており、そのことによって、収納室3内
におけるパワースイッチング素子等の保護を行うととも
に、一対の主電流端子6,7の相互間の耐圧を高めてい
る。
【0006】収納室3が充填材10で満たされているた
めに十分な耐圧が得られるので、主電流端子6,7は、
ケース1の上面近傍を除く収納室3内では、互いに平行
となるようにしかも近接して配設される。そのことによ
って、主電流端子6,7に寄生的に発生するインダクタ
ンスが低く抑えられている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ケース
1の外部に露出する主電流端子6,7の上端部は、それ
らの間の耐圧を高く保証するために、互いに広い間隔を
もってケース1へ固定されている。このために、収納室
3内においても、ケース1の近傍では、主電流端子6,
7の互いの間隔は広く設定せざるを得なくなっている。
すなわち、ケース1に近接する部分すなわち上端部近傍
11では、主電流端子6,7の相互の間隔が広くなって
おり、この部分でインダクタンスが高くならざるを得な
いという問題点があった。
【0008】主電流の経路として機能する主電流端子
6,7のインダクタンスが高いと、主電流の高速スイッ
チングができないばかりでなく、スイッチング動作にと
もなって高いサージ電圧が発生するので、インダクタン
スの高い主電流端子6,7は、大きな主電流を高速でス
イッチングする半導体装置には適しない。
【0009】この発明は、従来の装置における上記した
問題点を解消するためになされたもので、主電流端子相
互間の耐圧を確保しつつ、しかも主電流端子のインダク
タンスを低減して、高耐圧、大電流、かつ高速スイッチ
ングに適した半導体装置を得ることを目的としており、
さらにこの半導体装置の製造に適した方法を提供するこ
とを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】第1の発明の装置は、主
面に沿って配線パターンが配設されるとともに、一対の
主電極を有するスイッチング素子が搭載された回路基板
と、前記回路基板を収納するケースと、一対の一端部の
一方と他方とが、前記一対の主電極の一方と他方とにそ
れぞれ電気的に結合するように前記配線パターンに接続
され、一対の他端部が前記ケースの外部へと突出する、
電気良導性の一対の主電流端子と、前記ケースの内部に
充填される電気絶縁性の充填材と、を備えた半導体装置
において、前記一対の主電流端子を、互いの電気的絶縁
を保ちつつ、互いに固定的に連結する電気絶縁性の絶縁
部材をさらに備え、前記一対の主電流端子は、前記一対
の一端部を除き前記一対の他端部を含むそれぞれの主要
部において、互いに同一平面視輪郭を有しており、前記
絶縁部材は、前記一対の主電流端子のそれぞれの前記主
要部が、互いに平行でしかもそれらの平面視輪郭が互い
に重なり合うように、前記一対の主電流端子を固定的に
連結しており、前記絶縁部材は、前記ケースの外部へと
突出する前記一対の他端部の全領域にわたってそれらの
間に介挿される、電気絶縁性の平板状部材を有してお
り、当該平板状部材は、前記全領域にわたって、それら
の平面視輪郭の外方へと張り出していることを特徴とす
る。
【0011】第2の発明の装置は、第1の発明の半導体
装置において、前記絶縁部材は、前記一対の主電流端子
と一体的にモールドされた電気絶縁性の樹脂から成るこ
とを特徴とする。
【0012】第3の発明の装置は、第1の発明の半導体
装置において、前記ケースは、上面と底面と側面とを有
する箱状であって、前記回路基板は、箱状の前記ケース
の前記底面に平行に設置されており、前記一対の主電流
端子のそれぞれの前記主要部は、前記ケースの前記底面
に平行な平板形状をなしており、前記一対の主電流端子
の前記一対の他端部は、前記ケースの前記側面から外部
へと突出していることを特徴とする。
【0013】第4の発明の装置は、第3の発明の半導体
装置において、前記ケースは、前記上面を含むケース上
部と前記底面を含むケース下部とが接合されて成り、前
記一対の主電流端子が前記絶縁部材とともに、前記ケー
ス上部と前記ケース下部とに挟み込まれることによっ
て、前記一対の他端部が前記ケースの前記側面から外部
へと突出していることを特徴とする。
【0014】第5の発明の装置は、第3の発明の半導体
装置において、前記一対の主電流端子は、それぞれの前
記主要部と前記一対の一端部とをそれぞれ連結する屈曲
した一対の連結部を有し、当該一対の連結部の一方と他
方は、前記一対の主電流端子のそれぞれの主要部の一方
と他方とそれぞれ同一平面内にあって、しかも、それら
の平面視輪郭が互いに重なり合っており、前記充填材
は、少なくとも前記連結部の周囲においては、当該連結
部の変形に干渉しない材料から成ることを特徴とする。
【0015】第6の発明の装置は、第1の発明の半導体
装置において、前記一対の主電流端子は、それぞれの前
記主要部と前記一対の一端部とをそれぞれ連結する屈曲
した一対の連結部を有し、前記充填材は、少なくとも前
記連結部の周囲においては、当該連結部の変形に干渉し
ない材料から成ることを特徴とする。
【0016】第7の発明の製造方法は、主面に沿って配
線パターンが配設される回路基板を準備する工程と、互
いに接合することによって、前記回路基板を収納するケ
ースを上面と底面と側面とを有する箱状に形成可能な2
つの部材、すなわち前記上面を含むケース上部と前記底
面を含むケース下部とを形成するケース準備工程と、電
気良導性の材料を、一対の一端部を除いたそれぞれの主
要部において互いに同一平面視輪郭を有する形状に形作
ることによって、一対の主電流端子を形成する端子形成
工程と、前記一対の主電流端子のそれぞれの前記主要部
が、互いに平行でかつそれらの平面視輪郭が互いに重な
り合うように、しかも、前記一対の主電流端子の相互間
の電気的絶縁を保つように、絶縁部材を用いて、前記一
対の主電流端子を互いに固定的に連結し、その結果、相
互に固定的に連結された当該一対の主電流端子と前記絶
縁部材とで構成される端子ユニットを形成するユニット
形成工程と、一対の主電極を有するスイッチング素子
を、前記配線パターンに固着することによって、当該ス
イッチング素子を前記回路基板へ搭載する工程と、前記
回路基板を前記ケース下部の内側に取り付ける工程と、
前記一対の主電流端子の一対の他端部が前記ケースの外
部へと突出するように前記端子ユニットを挟み込んで、
前記ケース上部と前記回路基板が取り付けられた前記ケ
ース下部とを互いに接合することによって、前記端子ユ
ニットを前記ケースに組み込む接合工程と、当該接合工
程の後または当該接合工程と同時に、前記一対の一端部
の一方と他方とを、前記スイッチング素子の前記一対の
主電極の一方と他方とにそれぞれ電気的に結合するよう
に、前記配線パターンに接続する工程と、前記ケースの
内部に電気絶縁性の充填材を充填する充填工程と、を備
え、前記ユニット形成工程において、前記ケースの外部
へと突出すべき前記一対の他端部の全領域にわたってそ
れらの間に介挿され、しかも、当該全領域にわたってそ
れらの平面視輪郭の外方へと張り出す電気絶縁性の平板
状部材を有するように、前記絶縁部材が形作られること
を特徴とする。
【0017】第8の発明の製造方法は、第7の発明の半
導体装置の製造方法において、前記ユニット形成工程
は、形成すべき前記端子ユニット内での位置関係に前記
一対の主電流端子を保ちつつ、樹脂を前記絶縁部材の形
状にモールドすることによって、前記端子ユニットを一
体的に形成する工程を備えることを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
<1.装置の構成の概要>図1は、実施の形態の半導体
装置の側面断面図である。この装置100は、パワース
イッチング素子とその制御を行うための制御素子とを備
える、いわゆるインテリジェントパワーモジュール(In
teligent Power Module)として構成されている。その
代表的な定格値は、耐圧において4.2kV、主電流の大き
さにおいて1200Aという、先例にない大きさである。
【0019】図1に示すように、底板20を有し、上面
すなわち底板20とは反対側が開口する電気絶縁性の箱
状のケース21と、上面を覆う蓋44とによって、内部
に収納室22が形成されている。ケース21は、例えば
BMC(Bulk Molding Compound)樹脂から成ってい
る。不飽和ポリエステル樹脂に、充填材、ガラス繊維、
その他の添加剤を混成してなる材料であるBMC樹脂
は、熱硬化性であるため金型を用いたモールド加工に適
しており、また、寸法精度、機械的強度、耐熱性、耐水
性にも優れている。すなわち、BMC樹脂は、大電力用
の装置100のケース21の材料として適している。
【0020】底板20の上面すなわち収納室22へ面す
る主面の上に、放熱のための箱状の冷却フィン23が設
置されている。冷却フィン23は銅などの熱良導性の金
属で構成され、その内部には冷媒としての水などの流体
を流すための迷路状の流路(図示を略する)が形成され
ている。さらに、冷却フィン23の側壁には冷媒の流入
口および流出口が開口しており、これらの流入口および
流出口には、冷媒を供給する外部装置との接続を可能に
する一対のプラグ24(図1には一方のみを示してい
る)が、ケース21の側壁から外部へと突出するように
取り付けられている。
【0021】冷却フィン23の上面には、パワー基板
(回路基板)30が固定されている。パワー基板30が
備える電気絶縁性の基板本体(絶縁基板)25の下面す
なわち冷却フィン23に対向する主面には、銅箔(図示
を略する)が配設されており、この銅箔と冷却フィン2
3とをハンダ付けすることによって、パワー基板30は
冷却フィン23の上面へと固定されている。
【0022】基板本体25の上面、すなわち冷却フィン
23へ対向する側とは反対側の主面には、パターニング
された銅箔すなわち配線パターン26が形成されてい
る。そして、この配線パターン26に、パワースイッチ
ング素子としてのベアチップ状のIGBT素子27が、
ハンダ付けによって固着されている。なお、基板本体2
5は、好ましくは、耐熱性に優れるセラミクスから成っ
ている。
【0023】ケース21の側壁には、絶縁部材33を介
して互いに固定された電気良導性の一対の主電流端子3
1,32が固定されている。そして、主電流端子31,
32の内側端部(一端部)は配線パターン26にハンダ
付けされており、外側端部(他端部)はケース21の外
部に露出している。
【0024】主電流端子31,32は、後述するよう
に、配線パターン26を介して、IGBT素子27の主
電極であるエミッタ電極およびコレクタ電極にそれぞれ
電気的に結合している。すなわち、主電流端子31,3
2は、外部とIGBT素子27の主電極とを中継する役
割を果たしている。したがって、これらの主電流端子3
1,32には、IGBT素子27によってスイッチング
される主電流が流れる。
【0025】ケース21の内側には、収納室22を上部
領域と下部領域とに分割するように仕切板36が取り付
けられている。ただし、仕切板36には後述する充填材
43の充填を容易化するための開口部37が設けられて
おり、この開口部を通じて上部領域と下部領域とは互い
に連通している。そして、仕切板36の上面には、制御
基板38が固定されている。所定の配線パターン(図示
を略する)を有するこの制御基板38の上面には、制御
素子39が搭載されている。
【0026】また、制御基板38には、配線パターン2
6との電気的接続を行うための中継ピン40、および、
外部との電気的接続を行うための信号端子41が接続さ
れている。これらの中継ピン40および信号端子41
は、制御基板38を介して制御素子39へと接続されて
いる。信号端子41はケース21の側壁を貫通してお
り、その外側端部が外部へと露出している。
【0027】制御素子39は、信号端子41から入力さ
れる外部信号に応答して、中継ピン40を介してゲート
信号を送出することによってIGBT素子27のスイッ
チング動作を実現する。また、制御素子39は、IGB
T素子27の加熱、過電流等の異常を中継ピン40を介
して検出し、IGBT素子27を緊急遮断するなど、I
GBT素子27を保護する機能をも果たしている。
【0028】収納室22は、電気絶縁性の充填材43で
満たされている。そのことによって、IGBT素子27
などの収納室22内に収納される回路部品を、水分その
他から保護するとともに、一対の主電流端子31,32
の相互間の耐圧を高めている。充填材43のために十分
な耐圧が得られるので、主電流端子31,32は、収納
室22内において、互いに平行となるようにしかも近接
して配設されている。そのことによって、主電流端子
6,7に寄生的に発生するインダクタンスが低く抑えら
れている。
【0029】さらに、ケース21の側壁から外部へ突出
する主電流端子31,32の部分では、後述するよう
に、絶縁部材33によって、これらの主電流端子31,
32の相互間が十分な耐圧をもって電気的に絶縁されて
いるので、この部分においても主電流端子31,32は
互いに平行となるようにしかも近接して配設されてい
る。このため、主電流端子31,32に発生するインダ
クタンスが、主電流端子31,32の全体を通じて低減
される。すなわち、従来装置における主電流端子6,7
に比べて、同一の耐圧の下でインダクタンスがさらに低
く抑えられている。
【0030】充填材43としては、例えば、ゲル状のシ
リコーン樹脂が用いられる。あるいは、仕切板36の下
方の下部領域にはゲル状のシリコーン樹脂が充填され、
上方領域にはエポキシ樹脂が充填されてもよい。この場
合には、蓋44は設けられなくてもよい。あるいは、収
納室22の全体に、六フッ化珪素(SF6)などの絶縁
ガスを充填してもよい。
【0031】装置100では、主電流端子31,32、
信号端子41、プラグ24など、ケース21から外部へ
突出する部材は、すべて側壁に取り付けられている。こ
のため、装置100の形状が、全高の小さい省スペース
化の要請に対応可能な形状となっている。
【0032】<2.端子ユニットの構成>主電流端子3
1,32、およびこれらを互いに電気的に絶縁しつつ固
定的に連結する絶縁部材33は、端子ユニット35を構
成する。ケース21の外部へと突出する端子ユニット3
5の部分には、外部装置としてのコネクタが着脱自在に
嵌合する。そうして、このコネクタに備わる一対の電極
板が、主電流端子31,32の露出面にそれぞれ圧接す
ることによって、電気的な接続が得られる。
【0033】以下に、端子ユニット35の構成について
詳細に説明する。図2は、端子ユニット35の平面図で
ある。図2におけるA−A切断線に沿った端子ユニット
35の断面構造は、図1にすでに描かれている。また、
図3は、図2におけるB−B切断線に沿った断面図であ
る。さらに、図4は、端子ユニット35の部分斜視図で
ある。そして、図5は、図2に示す端子ユニット35の
内側端部付近Fの斜視図である。
【0034】図2〜図5に示すように、一対の主電流端
子31,32は、配線パターン26に固着される内側端
部とこれに連結する限られた部分を除くすべての部分で
ある主要部において、同一平面視輪郭を有する平板状で
ある。そして、これらの主電流端子31,32は、互い
に電気的に絶縁されるとともに、それぞれの主要部にお
いて、主面同士が平行で、しかも互いの平面視輪郭が重
なり合うように、絶縁部材33によって相互に固定され
ている。絶縁部材33は、主電流端子31,32を、ケ
ース21の側壁から外部へ突出する外側端部およびその
近傍において固定している。
【0035】絶縁部材33は、主電流端子31,32の
相互間に介挿され、それらを互いに電気的に絶縁すると
ともに、平行な位置関係を保持するための平板状部材4
5と、この平板状部材45と一体的に連結するとともに
主電流端子31,32のそれぞれを挟み込んで平板状部
材45へと固定する一対の挟持部材46,47とを有し
ている。
【0036】そして、端子ユニット35は、図1に示し
たように、主電流端子31,32だけでなく絶縁部材3
3もケース21を貫通するように、ケース21へと固定
される。すなわち、主電流端子31,32は、ケース2
1の外側だけでなく収納室22内のケース21の近傍に
おいても、平板状部材45によって互いに電気的に絶縁
されている。
【0037】また、平板状部材45の平面視輪郭は、主
電流端子31,32の平面視輪郭の外方に位置するよう
に設定されている。すなわち、平板状部材45は、主電
流端子31,32の外側端部およびその近傍部分にわた
って、それらの平面視輪郭に沿って外方へと張り出して
いる。そのことによって、主電流端子31,32の相互
間の沿面距離を長くして、それらの間の耐圧を高く維持
している。
【0038】さらに、好ましくは、平板状部材45にお
いて主電流端子31,32を横断する端縁面には、この
端縁面に沿って延在するように突起48が形成される。
この突起48は、この端縁面に沿った主電流端子31,
32の間の沿面距離を長くして、主電流端子31,32
の相互間の耐圧をさらに向上させる機能を果たす。
【0039】図5に示すように、主電流端子31,32
は、収納室22に収納される部分において、それらの主
要部と同一平面内で「U字」状に突起したU状屈曲部5
5,56をそれぞれ有している。そして、これらのU状
屈曲部55,56の先端部には、それらと直角に折れ曲
がった脚部53,54が一体的に連結している。さら
に、脚部53,54の先端部には、配線パターン26へ
固着される内側端部51,52が一体的に連結してい
る。
【0040】そして、内側端部51,52および脚部5
3,54を除いて、U状屈曲部55,56を含めた主電
流端子31,32のすべての部分において、互いの主面
同士が平行でしかも互いの平面視輪郭が重なり合ってい
る。このように、主電流端子31,32は、インダクタ
ンスを最小限に抑えるように構成されている。
【0041】主電流端子31,32の平板状の主要部か
ら突起したU状屈曲部55,56、脚部53,54、お
よび内側端部51,52は、配線パターン26との接続
部位に対応して6箇所に設けられている(図2)。U状
屈曲部55,56は、装置100の動作中の発熱にとも
なう熱歪を吸収し、そのことによって、内側端部51,
52と配線パターン26との接続部への熱応力の集中を
解消ないし緩和し、熱応力に起因する接続部の損傷を防
止している。
【0042】U状屈曲部55,56が所定の機能を発揮
し得るように、収納室22の少なくともU状屈曲部5
5,56の周囲、例えば、仕切板36の下方の領域にお
いては、充填材43としてU状屈曲部55,56の変形
に干渉しない材料、例えばゲル状のシリコーン樹脂など
が選択される。
【0043】主電流端子31,32の材料としては、電
気良導性の銅がもっとも適している。また、絶縁部材3
3の材料として、好ましくは、電気絶縁性、機械的強度
に優れるとともにモールド加工が可能で、しかも、モー
ルド加工の過程で気泡ができにくいために耐圧が保証さ
れるとともに、精密なモールド加工に適したエポキシ樹
脂が用いられる。
【0044】端子ユニット35を製造するには、まず、
銅板を打ち抜いて輪郭を形成し、その後、内側端部5
1,52および脚部53,54に相当する部分を折り曲
げ加工することによって、主電流端子31,32を作成
する。その後、主電流端子31,32を一定の間隔をも
って平行に重ねた状態で、所定の金型へ設置する。そし
て、この金型へ、例えばエポキシ樹脂を注入し加熱硬化
させることによって、主電流端子31,32を固定的に
連結する絶縁部材33をモールド加工する。
【0045】このように、平板状部材45および挟持部
材46,47は、互いに一体的に連結したものとして、
同時に形成される。しかも、絶縁部材33がモールド加
工されると同時に、主電流端子31,32は絶縁部材3
3へ固定される。すなわち、端子ユニット35は、銅板
のプレス加工と絶縁部材33のモールド加工とを用い
て、簡単に製造可能である。しかも、主電流端子31,
32の相互間の高い平行度、それらの平面視輪郭の精密
な重なりが、簡単な方法で得られるという利点がある。
【0046】<3.端子ユニットのケースへの組み込み
の構造>つぎに、端子ユニット35のケース21への組
み込みの構造について説明する。図6は、装置100の
正面図である。図6に示すように、ケース21は、底板
20を有し上部が開放されたケース下部61と、底部お
よび上部がともに開放された枠状のケース上部62と
が、互いに接着されて成る。ケース上部62は、その内
部に仕切板36(図1)を有している。
【0047】そして、端子ユニット35は、ケース下部
61とケース上部62の間に形成される間隙に挿入され
ている。言い替えると、端子ユニット35は、ケース下
部61とケース上部62とによって挟まれることによっ
て、ケース21を貫通している。端子ユニット35と、
ケース下部61およびケース上部62との間は、接着剤
によって互いに固定されている。なお、ケース上部62
の正面側壁には、装置100を、外部装置あるいは端子
ユニット35に嵌合する外部のコネクタ等にネジで固定
するための孔64が設けられている。
【0048】図7は、ケース上部62が取り外された装
置100の平面図であり、ケース下部61にパワー基板
30が設置され、ケース下部61およびパワー基板30
のそれぞれに端子ユニット35が固定されている様子を
示している。図7に示すように、端子ユニット35は、
絶縁部材33において、ケース下部61の側壁の上端縁
に固定されている。さらに、端子ユニット35は、6対
の内側端部51,52において、冷却フィン23の上面
に島状に分離して配設される6枚のパワー基板30の所
定の部位に、それぞれ固着されている。
【0049】図8は、冷却フィン23の上面に配設され
たパワー基板30等を示す平面図である。図8におい
て、ハッチングが付された矩形部分は、内側端部51,
52との接続部位を示している。冷却フィン23の上面
には、島状に孤立した6枚のパワー基板30が配設され
ている。各パワー基板30の上には、配線パターン26
を構成する島状に孤立した2枚の配線パターン26a,
26bが配設されている。
【0050】一方の配線パターン26aの上には、ベア
チップ状の2つのIGBT素子27と、同じくベアチッ
プ状の2つのダイオード63とが固着されている。ま
た、配線パターン26a,26bには、それぞれ内側端
部51,52が固着されている。
【0051】冷却フィン23の上面には、さらに、パワ
ー基板30に隣接して4枚の中継用基板(回路基板)7
0が配設されている。中継用基板70は、パワー基板3
0と同様に、セラミクスなどの電気絶縁性の材料から成
る基板本体71の下面に形成されている銅箔(図示を略
する)が冷却フィン23の上面にハンダ付けされること
によって、固定されている。
【0052】基板本体71の上には、銅箔72が形成さ
れている。そして、この銅箔72の上には、その一部領
域を覆うように、電気絶縁性の絶縁板73が固着されて
いる。この絶縁板73の上面には、パターニングされた
銅箔すなわち配線パターン74が形成されている。配線
パターン74には、中継ピン40(図1)の下端部がハ
ンダ付けによって接続される。また、各配線パターン2
6a,26b、74、銅箔72、IGBT素子27、お
よび、ダイオード63の相互間が適宜、ワイヤwによっ
て電気的に接続されている。
【0053】図9は、パワー基板30および中継用基板
70の上に展開される回路、すなわちIGBT素子27
を含むパワー回路の主要部を示す回路図である。図9に
示すように、主電流端子31が接続される配線パターン
26aにはIGBT素子27のコレクタ電極Cが接続さ
れており、主電流端子32が接続される配線パターン2
6bにはIGBT素子27のエミッタ電極Eが接続され
ている。すなわち、一対の主電流端子31,32の間に
は、12個のIGBT素子27が並列に接続されてい
る。
【0054】IGBT素子27の各1には、ダイオード
63が並列に接続されている。ダイオード63のアノー
ド電極がIGBT素子27のエミッタ電極Eに接続さ
れ、カソード電極がコレクタ電極Cに接続される。この
ため、ダイオード63は、IGBT素子27の保護を目
的としたフリーホイールダイオードとして機能する。
【0055】IGBT素子27のゲート電極Gは、ワイ
ヤwを介して配線パターン74へと接続されている。な
お、図示を略するが、IGBT素子27には、その主電
流の大きさを電圧信号に変換して出力するセンス電極が
付随しており、このセンス電極もワイヤwを介して配線
パターン74へと接続されている。
【0056】制御素子39(図1)から送出されるゲー
ト電圧信号が、中継ピン40、配線パターン74、およ
び、ワイヤwを中継してIGBT素子27のゲート電極
Gへと入力される。そうして、ゲート電極Gへ入力され
たゲート電圧信号に応答して、IGBT素子27がスイ
ッチング動作を行う。すなわち、コレクタ電極Cとエミ
ッタ電極Eの間が、ゲート電圧信号に応答してオン(導
通)、およびオフ(遮断)する。その結果、主電流端子
31,32の間には、主電流が断続的に流れる。
【0057】<4.装置の製造方法>つぎに、装置10
0を製造する方法について説明する。図10〜図12
は、装置100の製造工程図である。装置100を製造
するには、はじめに、図10に示すように、モールド加
工によってあらかじめ準備されたケース下部61の上
に、別途あらかじめ準備された冷却フィン23を搭載
し、ネジ止めによって固定する。その後、冷却フィン2
3の上面にパワー基板30および中継用基板70をハン
ダ付けする。
【0058】パワー基板30および中継用基板70に
は、所定の配線パターン26,74があらかじめ形成さ
れており、さらに、半導体素子27,63が搭載されて
いる。あるいは、半導体素子27,63の搭載は、パワ
ー基板30および中継用基板70を冷却フィン23の上
面に固着した後に行われてもよい。パワー基板30と中
継用基板70の固定、ならびに半導体素子27,63の
搭載が完了した後に、ワイヤw(図8)によるボンディ
ングが行われる。
【0059】その後、あるいは、以上の工程と並行し
て、あらかじめ準備されたケース上部62へ、同じくあ
らかじめ準備された端子ユニット35が組み込まれる。
図11は、ケース上部62に端子ユニット35が取り付
けられた様子を示す側面断面図である。ケース上部62
に備わる仕切板36の底面の所定の部位には、端子ユニ
ット35を固定するためのボス81が形成されている。
そして、このボス81にはネジ孔が形成されている。
【0060】このネジ孔へ主電流端子32に形成されて
いる貫通孔を位置合わせして、ネジ止めすることによっ
て、端子ユニット35がケース上部62の所定の位置へ
と固定される。同時に、ケース上部62の側壁あるいは
仕切板36の底面の中で、絶縁部材33に当接する部位
には、接着剤が塗布され、当接し合うそれらの部材が互
いに接着固定される。また、仕切板36には、複数の中
継ピン40があらかじめ嵌挿されている。これらの中継
ピン40も、主電流端子31,32と同様に、「U字」
型の屈曲部を有している(図10を参照)。
【0061】図10に戻って、ワイヤwによるボンディ
ングが終了し、端子ユニット35のケース上部62への
組み込みが終了した後に、ケース上部62とケース下部
61との接合が行われる。このとき、主電流端子31,
32の内側端部51,52と配線パターン26a,26
bとの間のハンダ付け、および、中継ピン40の下端部
と中継用基板70に形成される配線パターン74との間
のハンダ付けが同時に行われる。
【0062】ケース下部61とケース上部62の接合
は、接着剤を用いて行われる。このとき、端子ユニット
35の絶縁部材33とケース下部61との間の当接部に
も、同様に接着が施される。その結果、図12に示すよ
うに、ケース下部61、端子ユニット35、およびケー
ス上部62が一体となる。
【0063】その後、制御素子39および信号端子41
があらかじめ接続された制御基板38がケース上部62
に備わる仕切板36の上面に固定される。このとき、仕
切板36の上面から突出する中継ピン40の上端部と制
御基板38との間のハンダ付けによる接続も、同時に行
われる。
【0064】その後、ケース下部61とケース上部62
とで内部に形成される収納室22(図1)に、例えばゲ
ル状のシリコーン樹脂が注入される。仕切板36には開
口部が形成されており、そのため、シリコーン樹脂はこ
の開口部を通じて仕切板36の下方へと容易に注入され
る。樹脂面が仕切板36に達するまで注入が行われる
と、つづいて、エポキシ樹脂の注入が行われる。ケース
上部62の上面付近まで注入を行った後に、蓋44をケ
ース上部62の上面を覆うように取り付ける。そうし
て、注入されたエポキシ樹脂の加熱硬化を行うと、装置
100が完成する。
【0065】なお、図12に示すように、ケース上部6
2の正面側壁に設けられた孔64へのネジの取付を容易
化するために、ケース上部62の側面側壁には、孔64
へと挿入されるネジを導く細長状の溝82が形成されて
いる。孔64および溝82は、ケース上部62をモール
ド加工する際に、同時に形成される。
【0066】以上のように、装置100は、特別に複
雑、困難な工程を要せず、容易に製造可能である。
【0067】<5.変形例> (1) 装置100では、端子ユニット35はケース2
1の側壁から水平方向すなわち底面に沿った方向に突出
するように取り付けられていた。そうすることで、装置
100を、省スペース化に即した平坦な形状とすること
ができた。しかしながら、省スペース化が特に求められ
ない条件下で使用される装置では、端子ユニット35は
必ずしもケース21の側壁から突出しなくてもよい。
【0068】図13に示す装置200は、このような装
置の一例である。図13において、図1に示した装置1
00と同一部分または相当部分については、同一符号を
付してその詳細な説明を略する。この装置200では、
端子ユニット35は蓋44から外部へと鉛直に(すなわ
ち、底板20あるいは蓋44に直角に)突出している。
すなわち、主電流端子31,32は、絶縁部材33に固
定されない仕切板36よりも下方の部分において直角に
折れ曲がっており、直立する絶縁部材33が、ケース2
1の側壁の代わりに、仕切板36および蓋44に固着さ
れている。
【0069】この装置200においても、主電流端子3
1,32の相互間の耐圧を高く維持したままで、それら
のインダクタンスを低減するという効果は、装置100
と同様に得られる。
【0070】(2) 装置100、200では、パワー
回路が展開されるパワー基板30および中継用基板70
は、冷媒が循環する冷却フィン23の上に設置されてい
た。しかしながら、定格出力が、これらの装置よりも低
い装置では、冷却フィン23の代わりに、図14に示し
た従来装置と同様に金属ベース板2を用いてもよい。こ
の場合には、ケース21に底板20は取り付けられず、
金属ベース板2の底面は外部に露出する。
【0071】
【発明の効果】第1の発明の装置では、一対の主電流端
子のそれぞれの主要部が、互いに同一平面視輪郭を有
し、しかも、それらの平面視輪郭が重なり合うように互
いに平行に配置されるので、これら一対の主電流端子の
インダクタンスが低く抑えられる。そして、これら一対
の主電流端子の間で、ケースの内部においては電気絶縁
性の充填材が介在するので高い耐圧が保証され、一方、
ケースの外部においては、外部に突出する部分の平面視
輪郭の外方に張り出した電気絶縁性の板状部材が介挿さ
れるので、やはり高い耐圧が保証される。すなわち、こ
の装置は、高い耐圧の維持とインダクタンスの低減とを
両立的に実現する。
【0072】第2の発明の装置では、一対の主電流端子
を固定的に連結する絶縁部材が、これら一対の主電流端
子と一体的にモールドされた樹脂から成るので、これら
一対の主電流端子と絶縁部材との連結体である端子ユニ
ットの製造が容易である。
【0073】第3の発明の装置では、一対の主電流端子
の他端部が、箱状のケースの側面から突出し、回路基板
は底面に平行に設置されるので、装置を全高の低いコン
パクトな形状とすることができる。また、一対の主電流
端子のそれぞれの主要部が単純な平板形状であるため、
これら一対の主電流端子の製造が容易である。
【0074】第4の発明の装置では、ケース上部とケー
ス下部とが、一対の主電流端子および絶縁部材を挟み込
んで接合されているので、これら一対の主電流端子の他
端部がケースの側面から突出した構造を容易に構成可能
である。
【0075】第5の発明の装置では、一対の主電流端子
のそれぞれの主要部とそれぞれの一端部とが、屈曲した
一対の連結部のそれぞれによって連結され、その周囲に
は連結部の変形に干渉しない材料が充填されるので、装
置の使用時において、スイッチング素子等の発熱に起因
する熱歪がこれらの連結部で吸収される。その結果、一
対の一端部と配線パターンとの接続部への熱応力の集中
が解消ないし緩和されので、熱応力に起因するこの部分
の破損が防止される。さらに、これら一対の連結部は、
一対の主電流端子のそれぞれの主要部とそれぞれ同一平
面内にあって、それらの平面視輪郭が互いに重なり合っ
ているので、連結部においてもインダクタンスが低く抑
えられる。
【0076】第6の発明の装置では、一対の主電流端子
のそれぞれの主要部とそれぞれの一端部とが、屈曲した
一対の連結部のそれぞれによって連結され、その周囲に
は連結部の変形に干渉しない材料が充填されるので、装
置の使用時において、スイッチング素子等の発熱に起因
する熱歪がこれらの連結部で吸収される。その結果、一
対の一端部と配線パターンとの接続部への熱応力の集中
が解消ないし緩和されので、熱応力に起因するこの部分
の破損が防止される。
【0077】第7の発明の製造方法では、ユニット形成
工程において、一対の主電流端子の主要部同士が平行で
しかも重なり合うように、端子ユニットが形成されるの
で、これら一対の主電流端子のインダクタンスが低減さ
れる。しかも、ケースの内部に電気絶縁性の充填材が充
填されるので、ケースの内部においてこれら一対の主電
流端子の相互間に高い耐圧が得られる。また、ユニット
形成工程で、ケースの外部に突出する一対の主電流端子
の部分の全領域にわたって、電気絶縁性の平板状部材が
介挿され、しかも、この全領域にわたってその平面視輪
郭の外方に張り出すように平板状部材が形成されるの
で、ケースの外部においても一対の主電流端子の相互間
に高い耐圧が得られる。すなわち、高い耐圧の維持とイ
ンダクタンスの低減とを両立的に実現する装置が製造さ
れる。しかも、接合工程において、端子ユニットを挟み
込むようにケース上部とケース下部との接合が行われる
ので、一対の主電流端子の他端部がケースの外部に突出
した構造を容易に得ることができる。
【0078】第8の発明の製造方法では、ユニット形成
工程において、形成すべき端子ユニット内での位置関係
に一対の主電流端子を保ちつつ、樹脂を絶縁部材の形状
にモールドすることによって、端子ユニットが一体的に
形成されるので、端子ユニットの製造が容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態の半導体装置の側面断面図であ
る。
【図2】 図1の装置の端子ユニットの平面図である。
【図3】 図2のB−B切断線に沿った端子ユニットの
断面図である。
【図4】 端子ユニットの部分斜視図である。
【図5】 端子ユニットの内側端部付近の斜視図であ
る。
【図6】 図1の装置の正面図である。
【図7】 図1の装置の分解平面図である。
【図8】 図1の装置のパワー基板等を示す平面図であ
る。
【図9】 図1の装置の電力回路の主要部の回路図であ
る。
【図10】 図1の装置の製造工程図である。
【図11】 図1の装置の製造工程図である。
【図12】 図1の装置の製造工程図である。
【図13】 変形例の半導体装置の側面断面図である。
【図14】 従来の半導体装置の正面断面図である。
【符号の説明】
21 ケース、26,74 配線パターン、27 IG
BT素子(スイッチング素子)、30 パワー基板(回
路基板)、31,32 主電流端子、33 絶縁部材、
35 端子ユニット、43 充填材、45 平板状部
材、55,56U状屈曲部(連結部)、61 ケース下
部、62 ケース上部、70 中継用基板(回路基
板)、100,200 半導体装置、C コレクタ電極
(主電極)、E エミッタ電極(主電極)。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主面に沿って配線パターンが配設される
    とともに、一対の主電極を有するスイッチング素子が搭
    載された回路基板と、 前記回路基板を収納するケースと、 一対の一端部の一方と他方とが、前記一対の主電極の一
    方と他方とにそれぞれ電気的に結合するように前記配線
    パターンに接続され、一対の他端部が前記ケースの外部
    へと突出する、電気良導性の一対の主電流端子と、 前記ケースの内部に充填される電気絶縁性の充填材と、 を備えた半導体装置において、 前記一対の主電流端子を、互いの電気的絶縁を保ちつ
    つ、互いに固定的に連結する電気絶縁性の絶縁部材をさ
    らに備え、 前記一対の主電流端子は、前記一対の一端部を除き前記
    一対の他端部を含むそれぞれの主要部において、互いに
    同一平面視輪郭を有しており、 前記絶縁部材は、前記一対の主電流端子のそれぞれの前
    記主要部が、互いに平行でしかもそれらの平面視輪郭が
    互いに重なり合うように、前記一対の主電流端子を固定
    的に連結しており、 前記絶縁部材は、前記ケースの外部へと突出する前記一
    対の他端部の全領域にわたってそれらの間に介挿され
    る、電気絶縁性の平板状部材を有しており、 当該平板状部材は、前記全領域にわたって、それらの平
    面視輪郭の外方へと張り出していることを特徴とする半
    導体装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置において、 前記絶縁部材は、前記一対の主電流端子と一体的にモー
    ルドされた電気絶縁性の樹脂から成ることを特徴とする
    半導体装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の半導体装置において、 前記ケースは、上面と底面と側面とを有する箱状であっ
    て、 前記回路基板は、箱状の前記ケースの前記底面に平行に
    設置されており、 前記一対の主電流端子のそれぞれの前記主要部は、前記
    ケースの前記底面に平行な平板形状をなしており、 前記一対の主電流端子の前記一対の他端部は、前記ケー
    スの前記側面から外部へと突出していることを特徴とす
    る半導体装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の半導体装置において、 前記ケースは、前記上面を含むケース上部と前記底面を
    含むケース下部とが接合されて成り、 前記一対の主電流端子が前記絶縁部材とともに、前記ケ
    ース上部と前記ケース下部とに挟み込まれることによっ
    て、前記一対の他端部が前記ケースの前記側面から外部
    へと突出していることを特徴とする半導体装置。
  5. 【請求項5】 請求項3に記載の半導体装置において、 前記一対の主電流端子は、それぞれの前記主要部と前記
    一対の一端部とをそれぞれ連結する屈曲した一対の連結
    部を有し、 当該一対の連結部の一方と他方は、前記一対の主電流端
    子のそれぞれの主要部の一方と他方とそれぞれ同一平面
    内にあって、しかも、それらの平面視輪郭が互いに重な
    り合っており、 前記充填材は、少なくとも前記連結部の周囲において
    は、当該連結部の変形に干渉しない材料から成ることを
    特徴とする半導体装置。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の半導体装置において、 前記一対の主電流端子は、それぞれの前記主要部と前記
    一対の一端部とをそれぞれ連結する屈曲した一対の連結
    部を有し、 前記充填材は、少なくとも前記連結部の周囲において
    は、当該連結部の変形に干渉しない材料から成ることを
    特徴とする半導体装置。
  7. 【請求項7】 主面に沿って配線パターンが配設される
    回路基板を準備する工程と、 互いに接合することによって、前記回路基板を収納する
    ケースを上面と底面と側面とを有する箱状に形成可能な
    2つの部材、すなわち前記上面を含むケース上部と前記
    底面を含むケース下部とを形成するケース準備工程と、 電気良導性の材料を、一対の一端部を除いたそれぞれの
    主要部において互いに同一平面視輪郭を有する形状に形
    作ることによって、一対の主電流端子を形成する端子形
    成工程と、 前記一対の主電流端子のそれぞれの前記主要部が、互い
    に平行でかつそれらの平面視輪郭が互いに重なり合うよ
    うに、しかも、前記一対の主電流端子の相互間の電気的
    絶縁を保つように、絶縁部材を用いて、前記一対の主電
    流端子を互いに固定的に連結し、その結果、相互に固定
    的に連結された当該一対の主電流端子と前記絶縁部材と
    で構成される端子ユニットを形成するユニット形成工程
    と、 一対の主電極を有するスイッチング素子を、前記配線パ
    ターンに固着することによって、当該スイッチング素子
    を前記回路基板へ搭載する工程と、 前記回路基板を前記ケース下部の内側に取り付ける工程
    と、 前記一対の主電流端子の一対の他端部が前記ケースの外
    部へと突出するように前記端子ユニットを挟み込んで、
    前記ケース上部と前記回路基板が取り付けられた前記ケ
    ース下部とを互いに接合することによって、前記端子ユ
    ニットを前記ケースに組み込む接合工程と、 当該接合工程の後または当該接合工程と同時に、前記一
    対の一端部の一方と他方とを、前記スイッチング素子の
    前記一対の主電極の一方と他方とにそれぞれ電気的に結
    合するように、前記配線パターンに接続する工程と、 前記ケースの内部に電気絶縁性の充填材を充填する充填
    工程と、 を備え、 前記ユニット形成工程において、前記ケースの外部へと
    突出すべき前記一対の他端部の全領域にわたってそれら
    の間に介挿され、しかも、当該全領域にわたってそれら
    の平面視輪郭の外方へと張り出す電気絶縁性の平板状部
    材を有するように、前記絶縁部材が形作られることを特
    徴とする半導体装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載の半導体装置の製造方法
    において、 前記ユニット形成工程は、形成すべき前記端子ユニット
    内での位置関係に前記一対の主電流端子を保ちつつ、樹
    脂を前記絶縁部材の形状にモールドすることによって、
    前記端子ユニットを一体的に形成する工程を備えること
    を特徴とする半導体装置の製造方法。
JP27758795A 1995-10-25 1995-10-25 半導体装置 Expired - Lifetime JP3396566B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27758795A JP3396566B2 (ja) 1995-10-25 1995-10-25 半導体装置
US08/635,767 US5751058A (en) 1995-10-25 1996-04-22 Semiconductor device having parallel overlapping main current terminals
EP96107392A EP0772235B1 (en) 1995-10-25 1996-05-09 Semiconductor device comprising a circuit substrate and a case
DE1996635440 DE69635440T2 (de) 1995-10-25 1996-05-09 Halbleiteranordnung mit einem Schaltungssubstrat und einem Gehäuse

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27758795A JP3396566B2 (ja) 1995-10-25 1995-10-25 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09121019A true JPH09121019A (ja) 1997-05-06
JP3396566B2 JP3396566B2 (ja) 2003-04-14

Family

ID=17585548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27758795A Expired - Lifetime JP3396566B2 (ja) 1995-10-25 1995-10-25 半導体装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5751058A (ja)
EP (1) EP0772235B1 (ja)
JP (1) JP3396566B2 (ja)
DE (1) DE69635440T2 (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6236110B1 (en) * 1999-04-05 2001-05-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power semiconductor module
JP2001507522A (ja) * 1997-06-28 2001-06-05 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 電子制御装置
JP2004506326A (ja) * 2000-08-04 2004-02-26 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 半導体構成素子を電気構成群と電気接続する方法
JP2007103603A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Nissan Motor Co Ltd 電力変換装置
JP2007221128A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 少なくとも1個のパワー半導体モジュールと冷却部とを備えた構造体および関連する製造方法
JP2007221127A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg パワー半導体モジュールおよび関連する製作方法
JP2007335858A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 互いに電気絶縁された端子要素を備えたパワー半導体モジュール
WO2008078544A1 (ja) * 2006-12-27 2008-07-03 Aisin Aw Co., Ltd. 電子回路装置とその製造方法
JP2008177292A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Toyota Motor Corp 半導体モジュール及びその製造方法
JP2009088000A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Sanyo Electric Co Ltd 回路モジュール
WO2010004802A1 (ja) * 2008-07-10 2010-01-14 三菱電機株式会社 電力用半導体モジュール
WO2015111211A1 (ja) * 2014-01-27 2015-07-30 株式会社日立製作所 パワーモジュール及びその製造方法
CN110164823A (zh) * 2012-11-09 2019-08-23 富士电机株式会社 半导体装置
JP2021141219A (ja) * 2020-03-06 2021-09-16 富士電機株式会社 半導体モジュール
JP2021182604A (ja) * 2020-05-20 2021-11-25 三菱電機株式会社 半導体装置
WO2022158257A1 (ja) * 2021-01-22 2022-07-28 住友電気工業株式会社 半導体装置
WO2022208603A1 (ja) * 2021-03-29 2022-10-06 三菱電機株式会社 半導体装置
US11973015B2 (en) 2020-06-25 2024-04-30 Fuji Electric Co., Ltd. Plurality of overlapping power terminals in a semiconductor module

Families Citing this family (62)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10274111A (ja) * 1997-03-28 1998-10-13 Denso Corp 吸気装置およびその組付け方法
JP3982895B2 (ja) * 1997-04-09 2007-09-26 三井化学株式会社 金属ベース半導体回路基板
WO2000055917A1 (de) * 1999-03-17 2000-09-21 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Leistungshalbleitermodul
DE19924993C2 (de) * 1999-05-31 2002-10-10 Tyco Electronics Logistics Ag Intelligentes Leistungsmodul in Sandwich-Bauweise
DE19942770A1 (de) * 1999-09-08 2001-03-15 Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleiter-Modul
JP2001189416A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JP4027558B2 (ja) * 2000-03-03 2007-12-26 三菱電機株式会社 パワーモジュール
JP2001286039A (ja) * 2000-03-30 2001-10-12 Honda Motor Co Ltd 車両用電気接続ボックス
US6219245B1 (en) * 2000-04-18 2001-04-17 General Motors Corporation Electrically isolated power switching device mounting assembly for EMI reduction
US6845017B2 (en) * 2000-09-20 2005-01-18 Ballard Power Systems Corporation Substrate-level DC bus design to reduce module inductance
US7012810B2 (en) * 2000-09-20 2006-03-14 Ballard Power Systems Corporation Leadframe-based module DC bus design to reduce module inductance
EP1289014B1 (en) * 2001-04-02 2013-06-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power semiconductor device
US6717258B2 (en) 2001-04-02 2004-04-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power semiconductor device
EP1263046A1 (de) * 2001-06-01 2002-12-04 ABB Schweiz AG Kontaktanordnung
JP4540884B2 (ja) * 2001-06-19 2010-09-08 三菱電機株式会社 半導体装置
DE10232566B4 (de) * 2001-07-23 2015-11-12 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleiterbauteil
US7177153B2 (en) 2002-01-16 2007-02-13 Rockwell Automation Technologies, Inc. Vehicle drive module having improved cooling configuration
US7187548B2 (en) * 2002-01-16 2007-03-06 Rockwell Automation Technologies, Inc. Power converter having improved fluid cooling
US6898072B2 (en) * 2002-01-16 2005-05-24 Rockwell Automation Technologies, Inc. Cooled electrical terminal assembly and device incorporating same
US6965514B2 (en) * 2002-01-16 2005-11-15 Rockwell Automation Technologies, Inc. Fluid cooled vehicle drive module
US6972957B2 (en) * 2002-01-16 2005-12-06 Rockwell Automation Technologies, Inc. Modular power converter having fluid cooled support
US7061775B2 (en) * 2002-01-16 2006-06-13 Rockwell Automation Technologies, Inc. Power converter having improved EMI shielding
US7187568B2 (en) 2002-01-16 2007-03-06 Rockwell Automation Technologies, Inc. Power converter having improved terminal structure
US7032695B2 (en) * 2002-01-16 2006-04-25 Rockwell Automation Technologies, Inc. Vehicle drive module having improved terminal design
US7142434B2 (en) * 2002-01-16 2006-11-28 Rockwell Automation Technologies, Inc. Vehicle drive module having improved EMI shielding
JP3847676B2 (ja) * 2002-07-15 2006-11-22 三菱電機株式会社 パワー半導体装置
JP2005142189A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Toyota Industries Corp 半導体装置
JP2007209184A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Mitsubishi Electric Corp 電力変換装置
DE102006008632B4 (de) * 2006-02-21 2007-11-15 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung
TWI402952B (zh) * 2007-09-27 2013-07-21 Sanyo Electric Co 電路裝置及其製造方法
JP4934559B2 (ja) * 2007-09-27 2012-05-16 オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド 回路装置およびその製造方法
JP2009081325A (ja) * 2007-09-27 2009-04-16 Sanyo Electric Co Ltd 回路装置
TW200915970A (en) * 2007-09-27 2009-04-01 Sanyo Electric Co Circuit device, circuit module and outdoor equipment
JP4991467B2 (ja) * 2007-09-27 2012-08-01 オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド 回路モジュールおよびそれを用いた室外機
JP5029900B2 (ja) * 2007-11-20 2012-09-19 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 モータの制御装置
EP2071626A1 (en) * 2007-12-11 2009-06-17 ABB Research Ltd. Semiconductor module and connection terminal device
DE102009035819A1 (de) * 2009-08-01 2011-02-03 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit stromsymmetrischem Lastanschlusselement
JP5481148B2 (ja) * 2009-10-02 2014-04-23 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体装置、およびパワー半導体モジュール、およびパワー半導体モジュールを備えた電力変換装置
ITTO20100064U1 (it) * 2010-04-13 2011-10-14 Gate Srl Unita' elettronica di controllo, in particolare unita' di controllo della velocita' di un elettroventilatore
US8569881B2 (en) * 2010-09-08 2013-10-29 Infineon Technologies Ag Semiconductor device
FR2976762B1 (fr) * 2011-06-16 2016-12-09 Valeo Systemes De Controle Moteur Module electronique de puissance a capacite integree
US9066453B2 (en) * 2012-03-06 2015-06-23 Mission Motor Company Power electronic system and method of assembly
CN104247012B (zh) * 2012-10-01 2017-08-25 富士电机株式会社 半导体装置及其制造方法
KR102034717B1 (ko) 2013-02-07 2019-10-21 삼성전자주식회사 파워모듈용 기판, 파워모듈용 터미널 및 이들을 포함하는 파워모듈
ITTO20140012U1 (it) * 2014-01-23 2015-07-23 Johnson Electric Asti S R L Regolatore di tensione per un elettroventilatore di raffreddamento, in particolare per uno scambiatore di calore di un autoveicolo
JP6573890B2 (ja) * 2014-01-30 2019-09-11 クリー ファイエットヴィル インコーポレイテッド 薄型で高度に構成可能な電流共有並列化広バンドギャップ電力デバイス電力モジュール
CN104850160B (zh) * 2014-02-13 2018-03-20 德昌电机(深圳)有限公司 电压控制器的制造方法
CN108292655B (zh) * 2015-11-12 2021-01-01 三菱电机株式会社 功率模块
DE102016102744B4 (de) * 2015-11-12 2017-11-16 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleiteranordnung mit einer Mehrzahl von Leistungshalbleiter-Schaltelementen und verringerter Induktivitätsasymmetrie und Verwendung derselben
US9917065B1 (en) * 2016-09-09 2018-03-13 GM Global Technology Operations LLC Power module assembly with reduced inductance
RU180437U1 (ru) * 2017-10-31 2018-06-14 Акционерное Общество "Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро По Релейной Технике" (Ао "Сктб Рт") Силовой модуль
CN108418063B (zh) * 2018-05-18 2023-10-17 臻驱科技(上海)有限公司 一种功率半导体模块功率端子
EP3644358B1 (en) * 2018-10-25 2021-10-13 Infineon Technologies AG Power semiconductor module arrangement including a contact element
EP3736854A1 (en) 2019-05-06 2020-11-11 Infineon Technologies AG Power semiconductor module arrangement
EP3736858A1 (en) 2019-05-06 2020-11-11 Infineon Technologies AG Power semiconductor module arrangement
EP3736855A1 (en) 2019-05-06 2020-11-11 Infineon Technologies AG Power semiconductor module arrangement and method for producing the same
US20210175155A1 (en) * 2019-12-06 2021-06-10 Alpha And Omega Semiconductor (Cayman) Ltd. Power module having interconnected base plate with molded metal and method of making the same
JP6960984B2 (ja) * 2019-12-26 2021-11-05 三菱電機株式会社 電子装置及びその絶縁部材
DE102021205632A1 (de) 2021-06-02 2022-12-08 Zf Friedrichshafen Ag Halbbrücke für einen elektrischen Antrieb eines Elektrofahrzeugs oder eines Hybridfahrzeugs, Leistungsmodul für einen Inverter und Inverter
DE102021213724A1 (de) 2021-12-02 2023-06-07 Zf Friedrichshafen Ag Chipanordnung, leistungsmodul, verfahren zur herstellung einer chipanordnung und verfahren zum montieren eines leistungsmoduls
US11870433B2 (en) * 2022-05-04 2024-01-09 GM Global Technology Operations LLC Solid-state multi-switch device
DE102022212606A1 (de) 2022-11-25 2024-05-29 Zf Friedrichshafen Ag Verfahren zur herstellung eines leistungsmoduls

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0666408B2 (ja) * 1987-12-04 1994-08-24 富士電機株式会社 多層形半導体装置
JPH02170597A (ja) * 1988-12-23 1990-07-02 Mazda Motor Corp 車載用制御ユニツト構造
JPH02178954A (ja) * 1988-12-29 1990-07-11 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置
DE3937045A1 (de) * 1989-11-07 1991-05-08 Abb Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul
DE3937130A1 (de) * 1989-11-08 1990-05-31 Asea Brown Boveri Dosenkuehlvorrichtung
EP0516149B1 (en) * 1991-05-31 1998-09-23 Denso Corporation Electronic device
JP2936855B2 (ja) * 1991-12-26 1999-08-23 富士電機株式会社 電力用半導体装置
JP2725952B2 (ja) * 1992-06-30 1998-03-11 三菱電機株式会社 半導体パワーモジュール
JP2956363B2 (ja) * 1992-07-24 1999-10-04 富士電機株式会社 パワー半導体装置

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001507522A (ja) * 1997-06-28 2001-06-05 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 電子制御装置
KR100371116B1 (ko) * 1999-04-05 2003-02-05 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 파워 반도체 모듈
US6236110B1 (en) * 1999-04-05 2001-05-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power semiconductor module
JP4800556B2 (ja) * 2000-08-04 2011-10-26 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 半導体構成素子を電気構成群と電気接続する方法
JP2004506326A (ja) * 2000-08-04 2004-02-26 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 半導体構成素子を電気構成群と電気接続する方法
JP2007103603A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Nissan Motor Co Ltd 電力変換装置
JP2007221128A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 少なくとも1個のパワー半導体モジュールと冷却部とを備えた構造体および関連する製造方法
JP2007221127A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg パワー半導体モジュールおよび関連する製作方法
KR101238542B1 (ko) * 2006-02-13 2013-02-28 세미크론 엘렉트로니크 지엠비에치 앤드 코. 케이지 전력 반도체 모듈 및 이에 대한 제조 방법
JP2007335858A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 互いに電気絶縁された端子要素を備えたパワー半導体モジュール
DE102006027481C5 (de) * 2006-06-14 2012-11-08 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit gegeneinander elektrisch isolierten Anschlusselementen
WO2008078544A1 (ja) * 2006-12-27 2008-07-03 Aisin Aw Co., Ltd. 電子回路装置とその製造方法
US7663886B2 (en) 2006-12-27 2010-02-16 Aisin Aw Co., Ltd. Electric circuit device and the manufacturing method
JP2008166358A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Aisin Aw Co Ltd 電子回路装置とその製造方法
JP2008177292A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Toyota Motor Corp 半導体モジュール及びその製造方法
JP2009088000A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Sanyo Electric Co Ltd 回路モジュール
JP5550553B2 (ja) * 2008-07-10 2014-07-16 三菱電機株式会社 電力用半導体モジュール
US8461623B2 (en) 2008-07-10 2013-06-11 Mitsubishi Electric Corporation Power semiconductor module
WO2010004802A1 (ja) * 2008-07-10 2010-01-14 三菱電機株式会社 電力用半導体モジュール
CN110164823A (zh) * 2012-11-09 2019-08-23 富士电机株式会社 半导体装置
CN110164823B (zh) * 2012-11-09 2023-08-22 富士电机株式会社 半导体装置
WO2015111211A1 (ja) * 2014-01-27 2015-07-30 株式会社日立製作所 パワーモジュール及びその製造方法
US10080313B2 (en) 2014-01-27 2018-09-18 Hitachi, Ltd. Power module and method for manufacturing the same
JP2021141219A (ja) * 2020-03-06 2021-09-16 富士電機株式会社 半導体モジュール
JP2021182604A (ja) * 2020-05-20 2021-11-25 三菱電機株式会社 半導体装置
US11973015B2 (en) 2020-06-25 2024-04-30 Fuji Electric Co., Ltd. Plurality of overlapping power terminals in a semiconductor module
WO2022158257A1 (ja) * 2021-01-22 2022-07-28 住友電気工業株式会社 半導体装置
WO2022208603A1 (ja) * 2021-03-29 2022-10-06 三菱電機株式会社 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69635440D1 (de) 2005-12-22
EP0772235A3 (en) 1999-05-06
EP0772235B1 (en) 2005-11-16
US5751058A (en) 1998-05-12
EP0772235A2 (en) 1997-05-07
DE69635440T2 (de) 2006-08-10
JP3396566B2 (ja) 2003-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3396566B2 (ja) 半導体装置
JP2801534B2 (ja) パワー半導体モジュールおよびそれに使用する絶縁金属基板
JP3357220B2 (ja) 半導体装置
US9136193B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
US5747876A (en) Semiconductor device and semiconductor module
US6101114A (en) Power conversion system having multi-chip packages
JP5369798B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP4691819B2 (ja) インバータ装置
JP2012004543A (ja) 半導体ユニットおよびそれを用いた半導体装置
CN110914975B (zh) 功率半导体模块
US5063434A (en) Plastic molded type power semiconductor device
JP4634714B2 (ja) パワーモジュールおよびパワーモジュールアセンブリ
JP3740329B2 (ja) 部品実装基板
CN111587528B (zh) 功率半导体装置
JP4051027B2 (ja) パワー半導体デバイスモジュール
JP6961784B1 (ja) パワー半導体装置
US11694948B2 (en) Semiconductor device and semiconductor module using same
KR20030063178A (ko) 전기 장치
CN115443531A (zh) 功率模组及其制造方法、转换器和电子设备
JP2004048084A (ja) 半導体パワーモジュール
JPH1050897A (ja) 半導体装置
WO2023093562A1 (zh) 功率模块和电器设备
CN210403714U (zh) 一种功率模块
JPH10303537A (ja) パワー回路実装ユニット
JP2003258466A (ja) 電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080207

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090207

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100207

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100207

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110207

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120207

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130207

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130207

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140207

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term